JP4656779B2

JP4656779B2 - Ｒｆ−ｉｄの検査システム

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Publication number: JP4656779B2
Application number: JP2001269560A
Authority: JP
Inventors: 貢齋藤; 孝之林
Original assignee: Toppan Forms Co Ltd
Current assignee: Toppan Forms Co Ltd
Priority date: 2001-09-05
Filing date: 2001-09-05
Publication date: 2011-03-23
Anticipated expiration: 2021-09-05
Also published as: JP2003076946A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、製造されるＲＦ−ＩＤの良否を検査するＲＦ−ＩＤの検査システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、ＲＦ−ＩＤ（ＲａｄｉｏＦｒｅｑｕｅｎｃｙＩｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）と称される非接触型識別媒体（非接触型ＩＣカード等）に関する技術が急速に進歩してきており、その使用も多岐にわたっている。このようなＲＦ−ＩＤは、リーダ・ライタとの間で性能に応じた通信距離が定められており、通信測定の向上、および歩留りの向上が望まれている。
【０００３】
従来、ＲＦ−ＩＤは、フィルムベース上にアンテナコイルが形成され、これにＩＣモジュールが搭載されたものとして、これらが製造段階で所定大のフィルムベース上に所定数形成されるのが一般的となっている。そして、単体とされる前に検査対象の単一のＩＣモジュールおよびアンテナコイル毎に対して通信距離の測定を行い、製品の良否を検査することが行われている。通信距離の測定は、リーダ・ライタとの間でその性能に応じて定められた通信距離が確保されているか否かで良否判定がなされる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記のような通信距離の検査を行う場合、ＲＦ−ＩＤが単体とされる前の段階で行われることから、ＲＦ−ＩＤリーダ・ライタからの通信に対する応答が、本来の検査対象の検査片からのものと、隣接されたＲＦ−ＩＤからのものとが混在して受信されることとなり、受信データの信頼性がなくなるだけでなく、検査対象の検査片が不良品の場合、隣接されたＲＦ−ＩＤからのデータが受信されて、検査片が本来不良品であるにも拘わらず、良品と判定されることとなり、不良品が流出してしまうという問題がある。
【０００５】
そこで、本発明は上記課題に鑑みなされたもので、確実に対象検査片を特定することで誤検査を防止して不良品流出の防止を図るＲＦ−ＩＤの検査システムを提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明では、検査対象であるＩＣモジュール、アンテナを備えるＲＦ−ＩＤが同一面上に複数形成されたシートの、一のＲＦ−ＩＤを対象とする検査片に対して通信を行い、良否を検査するＲＦ−ＩＤの検査システムであって、通信を行うためのシステム側アンテナと、前記シートにおける検査対象の検査片の周辺に配置される所定数のＲＦ−ＩＤのアンテナ間を短絡させる短絡部材と、前記システム側アンテナを対象の前記検査片に対して通信させるために、当該システム側アンテナおよび前記短絡部材を移動させる駆動部と、前記検査片に前記システム側アンテナを介して所定の情報を送信し、当該検査片からの応答に応じて当該検査片の良否判定を行う処理部と、を有する構成とし、適宜、前記短絡部材を電気的に接地させる構成とする。
【０００７】
このように、一のＲＦ−ＩＤを対象する検査片の周辺に配置されるＲＦ−ＩＤのアンテナ間を短絡部材で短絡させ、システム側アンテナを対象の検査片に対向させてシステム側アンテナより検査片に情報を送信し、その応答に応じて当該検査片の良否を判定する。すなわち、短絡部材によりシステム側アンテナからの送信情報を対象の検査片以外のＲＦ−ＩＤに受信させないことから、対象の検査片のみの応答に対して良否判定を行わせることが可能となり、確実に対象検査片を特定することが可能となって、誤検査が防止されて不良品流出の防止を図ることが可能となるものである。
【０００８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好ましい実施形態を図により説明する。ここで、本発明に係るＲＦ−ＩＤは、非接触型ＩＣカードはもちろん、非接触型のラベル、タグ等の非接触で識別情報等のデータ送受が行える媒体である。
【０００９】
図１に、本発明に係るＲＦ−ＩＤの検査システムにおける基本構成の分解構成図を示す。図１において、ＲＦ−ＩＤの検査システム１１は、大別して、シート１２と、短絡部材１３と、システム側アンテナ１４を搭載する駆動部１５とを備えるものであるが、検査処理を行う処理部は省略してある。上記シート１２は、ＩＣモジュール２１Ａおよびアンテナ２１Ｂを備えるＲＦ−ＩＤ２１が例えばフィルムベース上の同一面上で規則的に複数形成されたもので、各ＲＦ−ＩＤ２１が検査対象の検査片となる。
【００１０】
上記シート１２の製造の方法は種々あるが、例えばポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）上に銅箔をエポキシ系接着剤で接着し、エッチングによりコイル状に巻回された各アンテナ２１Ｂを形成し、各アンテナ２１Ｂに対してそれぞれＩＣモジュール２１Ａをリフローはんだ付けにより接続するもので、その後シート状態またはロール状態とされて駆動装置１５の上方で図示しない搬送手段により長手方向に搬送される。そして、これらＲＦ−ＩＤ２１は、検査後にそれぞれ単体とされて例えばカードに搭載されて非接触型のＩＣカード等とされるものである。
【００１１】
上記短絡部材１３は、金属、導電性樹脂等の導電性物質により形成されるもので、一個の検査片２１を孤立させる空間と、当該検査片２１の周辺に配置した所定数のＲＦ−ＩＤの各アンテナ２１Ｂ間を短絡させる線状または棒状の導体が一体形状に形成されたものである。図示の短絡部材１３は、検査対象である検査片２１の周辺２列分のＲＦ−ＩＤ同士を短絡させる形状としている。なお、この短絡部材１３は、図示しないが、システム側アンテナ１４が搭載される駆動部１５と同期して当該シート１２に対して上下方向、および当該シート１２の幅方向に駆動される。そして、上記駆動部１５は、例えばシート１２の下方に配置されるもので、システム側アンテナ１４を搭載して当該シート１２の幅方向に移動させるＹ駆動と、上下方向に移動させるＺ駆動とを行う。
【００１２】
ここで、図２に、図１のＲＦ−ＩＤの検査システムにおける構成説明図を示す。図２（Ａ）は、シート１２上に短絡部材１３が位置された場合を示している。例えばＲＦ−ＩＤ２１Ｘを検査片とした場合にその周囲２列のＲＦ−ＩＤ２１の各アンテナ２１Ｂ上に短絡部材１３が接触されることで短絡状態とされる。この場合のＡ−Ａ断面の概略図が図２（Ｂ）に示される。すなわち、システム側アンテナ１４がＹ駆動、Ｚ駆動されて検査片２１Ｘの下方に位置されるときに、同期して短絡部材１３が検査片２１Ｘの周囲のＲＦ−ＩＤ２１の各アンテナ２１Ｂ同士を短絡させる。
【００１３】
この場合の寸法関係の一例を図２（Ｃ）により説明すると、シート１２の基材（例えば厚さ５０μｍ）上に、例えばＴ１（＝２ｍｍ）間隔でアンテナ２１Ｂ（ＩＣモジュール２１Ａ）が例えば長手方向Ｒ（＝６０ｍｍ）、幅方向２０ｍｍで形成されており、システム側アンテナ１４は、例えば一辺の長さＡ（＝６０ｍｍ）、幅２０ｍｍ程度のサイズで検査片２１Ｘの下方の距離Ｌ（＝１５ｍｍ）に位置されるものである。
【００１４】
すなわち、ＲＦ−ＩＤ２１は所定の共振周波数を有しており、システム側アンテナ１４からの電波に反応して共振することにより受信を行う。したがって、検査対象の検査片２１Ｘの周囲のＲＦ−ＩＤ間を短絡部材１３で短絡させると、これらのＲＦ−ＩＤは電気特性（インダクタンスＬ、キャパシタンスＣ）が変化して共振周波数が変化することから、システム側アンテナ１４からの電波に反応しなくなり、通信不可能となる。よって、システム側アンテナ１４からの電波に対して検査片２１Ｘのみが反応することとなることから、確実に対象検査片を特定することができることになるものである。
【００１５】
このように、確実に対象検査片を特定できることから、誤検査が防止されて不良品流出の防止が図られるものである。また、ＲＦ−ＩＤ２１を単体とする以前の生産ライン上におけるシート１２の段階で全ＲＦ−ＩＤ２１を検査することができ、不良発生の早期発見、修正が可能となり、全数検査による高精度の品質管理を行うことができるものである。
【００１６】
なお、上記実施形態では、システム側アンテナ１４をシート１２の下方に配置する場合を示したが、短絡部材１３側に配置し、当該短絡部材１３と一体的に移動駆動させてもよい。また、短絡部材１３を電気的に接地しても同様に、検査システムからの電波に対して検査片２１Ｘ以外のＲＦ−ＩＤを反応させなくすることができるものである。
【００１７】
そこで、図３に本発明に係る検査システムのブロック構成図を示すと共に、図４に図３の検査処理部の一例のブロック構成図を示す。図３において、本発明に係る第１形態のＲＦ−ＩＤの検査システム１１Ａは、シート１２の各ＲＦ−ＩＤ２１における検査対象の検査片２１Ｘに対し、駆動構造手段３１および検査処理手段３２を含んで構成される。
【００１８】
上記検査片２１Ｘは、処理部４１、メモリ４２および復調部４３で構成されるＩＣモジュール２１Ａと、アンテナ２１Ｂにより構成される。アンテナ２１Ｂは、上述のように平面上でコイル状に巻回されたもので、検査システム１１Ａからの信号を受信し、または当該検査片２１Ｘより検査システム１１Ａ（システム側アンテナ１４）にデータを送信する役割をなす。
【００１９】
上記ＩＣモジュール２１Ａにおいて、メモリ４２は当該カードとしての種々の情報を記憶するためのものである。上記復調部４３は、アンテナ２１Ｂで受信した電波から制御信号、データを復調し、適宜コード変換する。そして、処理部４１は、プログラムにより、受信した制御信号、データをメモリ４２に記憶させ、またメモリに記憶したデータを送信する処理を行う。
【００２０】
上記駆動構造手段３１は、搬送駆動部５１およびアンテナ駆動部５２で構成され、上記検査片２１Ｘとの通信を行うシステム側アンテナ１４を搭載する。上記搬送駆動部５１は、検査片２１Ｘが製造段階でフィルムベース上に所定数形成されたシート１２状態で当該検査を行う際に、該当の検査片２１Ｘを検査位置に搬送移動させるためのものである。上記アンテナ駆動部５２は、上述のようにシステム側アンテナ１４を検査片２１Ｘの方向に上下動させるＺ移動させ、当該シート１２の幅方向の検査片２１Ｘ間でＹ移動させる。なお、このアンテナ駆動部５２は、上記システム側アンテナ１４を移動させると共に、これらと同期して短絡部材１３をも各検査片２１Ｘ毎に移動させ、当該検査片２１Ｘの周辺のＲＦ−ＩＤに対して接触させるために上下動させるものである。
【００２１】
上記検査処理手段３２は、検査片２１Ｘの良否判定を行う処理部を構成するものとして、制御部６１、検査処理部６２、データメモリ６３を備え、電力増幅部６４、変調部６５、発信部６６、検波部６７、データ変換部６８、搬送駆動制御部６９、アンテナ駆動制御部７０、インターフェース（ＩＦ）部７１および表示手段７２を備える。
【００２２】
上記制御部６１は、この検査処理手段３２の全体を統括制御するもので、これに応じたプログラムがセットされている。上記検査処理部６２は、詳細は図４で説明するが、プログラムによる検査ルーチンで基準片２１Ｘに対する検査処理、判定を行うものある。上記データメモリ６３は、種々のデータを記憶すると共に、適宜検査判定のための一時記憶領域（バッファであって、検査処理部６２に備えさせてもよい）としての役割をもなす。上記種々のデータには、例えば、検査片２１Ｘ毎のメモリ４２に記憶させるための情報（例えば識別情報）や、検査のための種々の設定値等がある。
【００２３】
上記データ変換部６８は、検査片２１Ｘに対して情報を送信する場合の情報を例えば「１」、「０」に変換し、また当該検査片２１Ｘからの送信データを例えば「１」、「０」に変換する。上記変調部６５は、発信部６６からの発信出力に基づいて上記データ変換部６８で変換された情報を例えばＦＳＫ（周波数偏位変調）変調波に変調する。上記電力増幅部６４は、変調部６５で変調された変調波を電力増幅するもので、この増幅された変調波がシステム側アンテナ１４より送信されるものである。そして、検波部６７は、システム側アンテナ１４で受信した検査片２１Ｘからの送信電波を検波して復調する。
【００２４】
一方、上記搬送駆動制御部６９は、検査片２１Ｘを順次検査するために搬送する上述の搬送駆動部５１を駆動させるための制御信号を制御部４１からの指令に基づき生成してＩＦ部７１を介して当該搬送駆動部５１に送出する。また、上記アンテナ駆動制御部７０は、検査片２１Ｘに対してシステム側アンテナ１４を上下方向に移動させ、対象のアンテナ２１Ｂとの距離（通信距離）を制御する信号を制御手段６１の指令に基づいて生成し、ＩＦ部７１を介してアンテナ駆動部５２に送出するものである。また、システム側アンテナ１４と同期させて短絡部材１３を移動させるための制御信号を生成する。
【００２５】
ここで、図４において、検査処理部６２は、プログラム処理の機能として、処理手段８１、受信データ取得手段８２、送信データ取得手段８３、判定手段８４を備える。上記処理手段８１は、当該検査処理部６２全体の処理を統括する。上記受信データ取得手段８２は、検査片２１Ｘから送信されてくるデータが受信されたときに取得するもので、適宜データメモリ６３に記憶させる（当該受信データ取得手段８２がバッファを備える場合にはバッファに一時格納してもよい）。
【００２６】
上記送信データ取得手段８３は、検査片２１Ｘに通信によりメモリ４２に書き込ませる識別情報等をデータメモリ６３より読み出して取得する。そして、判定手段８４は、上記取得されて送信された送信データと、検査片２１Ｘより送信されてきた受信データとを比較し、一致していれば良品と判定し、不一致のときには不良品と判定するもので、送信データが検査片２１Ｘのメモリ４２に実際に書き込まれたか否かをデータ比較による通信状態の良否としてとらえたものである。
【００２７】
次に、図５に、図３および図４の検査システムにおける検査処理のフローチャートを示す。図５において、まず、シート１２における検査対象の幅方向の所定行を検査位置に搬送する搬送量を、制御部６８の指令により搬送駆動制御部６９がＩＦ部７１を介して搬送駆動部５１に出力する（ステップ（Ｓ）１）。また、アンテナ駆動制御部７０では、制御部６１の指令により検査位置の行のうち対象の検査片２１Ｘに対してシステム側アンテナ１４を下方に位置させると共に、短絡部材１３を上方に位置させる駆動量（Ｙ）をアンテナ駆動部５２のＹ方向駆動量とし、また当該システム側アンテナ１４を検査片２１Ｘ（アンテナ２１Ｂ）に対してあらかじめ定められてデータメモリ６３に記憶された距離（Ｌ）とする駆動量（Ｚ）をＺ方向駆動量として出力すると共に、短絡部材１３を当該検査片２１Ｘの周辺のＲＦ−ＩＤの各アンテナ２１Ｂに接触させる駆動量（Ｚ）を出力する（Ｓ２）。
【００２８】
そこで、検査片用の送信データ（識別情報）をデータメモリ６３より取得して検査片２１Ｘに送信し（Ｓ３）、当該検査片２１Ｘからの返信データを受信して、上記のように判定手段８４が送信データと受信データとのマッチングを行う（Ｓ４）。マッチングの結果において（Ｓ５）、一致したときには良品と判定し（Ｓ６）、不一致のときには不良品と判定し（Ｓ７）、これらの判定結果をデータメモリ６３に記憶させる（Ｓ８）。
【００２９】
続いて、同じ行において次の検査片２１Ｘの測定がある場合には、当該同じ行において総ての検査片２１Ｘに対してＳ２〜Ｓ８を繰り返して判定結果をデータメモリ６３に記憶させる（Ｓ９）。そして、次の行の検査片２１Ｘがある場合には、Ｓ１〜Ｓ９を繰り返して総ての行の総ての検査片２１Ｘに対して良否を判定してデータメモリ６３に記憶させる（Ｓ１０）。そして、シート１２における総ての検査片２１Ｘの良否がデータメモリ６３に記憶されたときに、検査結果を適宜表示部７２に表示させるものである（Ｓ１１）。なお、検査結果の表示を、検査片２１Ｘ毎、または所定数の検査片２１Ｘの検査結果毎に行ってもよい。
【００３０】
このように、シート１２段階で、各ＲＦ−ＩＤ（検査片２１Ｘ）に対してデータの送受で検査を行うに際して、短絡部材１３によりシステム側アンテナ１４からの送信情報を対象の検査片２１Ｘ以外のＲＦ−ＩＤに受信させないことから、対象の検査片２１Ｘのみの応答に対して良否判定を行わせることができることで、確実に対象検査片２１Ｘを特定することができ、誤検査が防止されて不良品流出の防止を図ることができるものである。また、上述のように、ＲＦ−ＩＤ（検査片２１）を単体とする以前の生産ライン上におけるシート１２の段階で全ＲＦ−ＩＤ（検査片２１）を検査することができ、不良発生の早期発見、修正が可能となり、全数検査による高精度の品質管理を行うことができるものである。
【００３１】
次に、図６に本発明に係る他の検査システムのブロック構成図を示すと共に、図７に図６の検査処理部の一例のブロック構成図を示す。図６に示す第２形態としてのＲＦ−ＩＤの検査システム１１Ｂは、図３に示す検査システム１１Ａにおける駆動構造手段３１のアンテナ１４の近傍に電波強度としての電界強度を計測するプローブ９１を設けたもので、他の構成は図３と同様であり、説明を省略する。なお、検査処理部６２の構成は図７で説明する。
【００３２】
上記プローブ９１は、検査片２１Ｘからの送信データ出力時の電界強度を検出するもので、検出値はデータ変換部６８により「１」、「０」のデータに変換され、データメモリ６３に記憶される。なお、プローブ９１は、システム側アンテナ１４と同様に、検査片２１Ｘに対してあらかじめ定められてデータメモリ６３に記憶された距離で駆動移動されるもので、電界強度の測定値が、あらかじめ定められてデータメモリ６３に記憶された設定電界強度を基準に照合されて通信可能距離であるか否かとして当該検査片２１Ｘの良否の判定に供されるものである。
【００３３】
また、図７に示す検査処理部４２は、図４に示す検査処理部４２において電界強度データ取得手段９２を備える。この電界強度データ取得手段９２はデータメモリ６３より基準とする設定された電界強度データを取得するものである。また、判定手段８４は、プローブ９１を介して測定された電界強度に基づき、図８で説明するデータメモリ６３に記憶されている基準の電界強度、または図９で説明する段階的な電界強度に対応する通信距離との比較で検査片２１Ｘの良否を判定する。
【００３４】
そこで、図８に、図６および図７の検査システムにおける検査処理のフローチャートを示す。図８において、まず、シート１２における検査対象の幅方向の所定行を検査位置に搬送する搬送量を、制御部６８の指令により搬送駆動制御部６９がＩＦ部７１を介して搬送駆動部５１に出力する（Ｓ２１）。また、アンテナ駆動制御部７０では、制御部６１の指令により検査位置の行のうち対象の検査片２１Ｘに対してシステム側アンテナ１４を下方に位置させると共に、短絡部材１３を上方に位置させる駆動量（Ｙ）をアンテナ駆動部５２のＹ方向駆動量とし、また当該システム側アンテナ１４を検査片２１Ｘ（アンテナ２１Ｂ）に対してあらかじめ定められてデータメモリ６３に記憶された距離（Ｌ）とする駆動量（Ｚ）をＺ方向駆動量として出力すると共に、短絡部材１３を当該検査片２１Ｘの周辺のＲＦ−ＩＤの各アンテナ２１Ｂに接触させる駆動量（Ｚ）を出力する（Ｓ２２）。
【００３５】
そこで、検査片用の送信データ（識別情報）をデータメモリ６３より取得して検査片２１Ｘに送信し（Ｓ２３）、当該検査片２１Ｘからの返信データを受信するときにプローブ９１を介して電界強度を測定する（Ｓ２４）。そして、電界強度データ取得手段９２がデータメモリ６３より基準の電界強度設定値を取得すると共に、判定手段８４が基準の電界強度データの設定値と測定した電界強度を照合し、測定値が当該設定値以上か否かを判定する（Ｓ２５）。判定の結果において、電界強度の測定値が設定値以上のときには良品と判定し（Ｓ２６）、設定値未満のときには不良品と判定し（Ｓ２７）、これらの判定結果をデータメモリ６３に記憶させる（Ｓ２８）。
【００３６】
続いて、同じ行において次の検査片２１Ｘの測定がある場合には、当該同じ行において総ての検査片２１Ｘに対してＳ２〜Ｓ８を繰り返して判定結果をデータメモリ６３に記憶させる（Ｓ９）。そして、次の行の検査片２１Ｘがある場合には、Ｓ１〜Ｓ９を繰り返して総ての行の総ての検査片２１Ｘに対して良否を判定してデータメモリ６３に記憶させる（Ｓ１０）。そして、シート１２における総ての検査片２１Ｘの良否がデータメモリ６３に記憶されたときに、検査結果を適宜表示部７２に表示させるものである（Ｓ１１）。なお、検査結果の表示を、検査片２１Ｘ毎、または所定数の検査片２１Ｘの検査結果毎に行ってもよい。
【００３７】
このようなＲＦ−ＩＤの検査システム１１Ｂの構成とすることによっても、短絡部材１３により、上記同様に確実に対象検査片２１Ｘを特定することができ、誤検査が防止されて不良品流出の防止を図ることができ、不良発生の早期発見、修正が可能となり、全数検査による高精度の品質管理を行うことができるものである。
【００３８】
続いて、図９に、図６および図７の検査システムにおける他の検査処理のフローチャートを示す。ここでは、検査片２１Ｘからの電界強度を距離に応じて段階的に測定して設定電界強度のときの距離により良否の判定を行うもので、段階的な距離および設定電界強度のデータがあらかじめデータメモリ６３に記憶させておくものである。
【００３９】
図９において、まず、シート１２における検査対象の幅方向の所定行を検査位置に搬送する搬送量を、制御部６８の指令により搬送駆動制御部６９がＩＦ部７１を介して搬送駆動部５１に出力する（Ｓ４１）。また、アンテナ駆動制御部７０では、制御部６１の指令により検査位置の行のうち対象の検査片２１Ｘに対してシステム側アンテナ１４を下方に位置させると共に、短絡部材１３を上方に位置させる駆動量（Ｙ）をアンテナ駆動部５２のＹ方向駆動量とし、また当該システム側アンテナ１４を検査片２１Ｘ（アンテナ２１Ｂ）に対してあらかじめ定められてデータメモリ６３に記憶された距離のうち、最初の距離（Ｌ（１））とする駆動量（Ｚ（１））をＺ方向駆動量として出力すると共に、短絡部材１３を当該検査片２１Ｘの周辺のＲＦ−ＩＤの各アンテナ２１Ｂに接触させる駆動量（Ｚ）を出力する（Ｓ４２）。
【００４０】
そこで、検査片用の送信データ（識別情報）をデータメモリ６３より取得して検査片２１Ｘに送信し（Ｓ４３）し、当該検査片２１Ｘからの返信データを受信するときにプローブ９１を介して電界強度を測定する（Ｓ４４）。そして、電界強度データ取得手段９２がデータメモリ６３より基準の電界強度設定値を取得すると共に、判定手段８４が基準の電界強度データの設定値と測定した電界強度を照合し、測定値が当該設定値以上か否かを判定する（Ｓ４５）。判定の結果において、電界強度の測定値が設定された電界強度より小であれば当該システム側アンテナ１４（プローブ９１）の検査片２１Ｘ（アンテナ２１Ｂ）との次の距離（Ｌ（ｘ））をデータメモリ６３より読み出し、これに応じた駆動量（Ｚ（ｘ））をＺ方向駆動機構８５に出力する（Ｓ４６）。
【００４１】
続いて、上記同様に個別の検査片用の送信データ（識別情報）をデータメモリ６３より取得して検査片２１Ｘに送信し（Ｓ４７）、当該検査片２１Ｘからの返信データを受信する際に、プローブ９１により電界強度を測定する（Ｓ４８）。そして、判定手段８４がデータメモリ６３に記憶されている電界強度と、上記測定した電界強度を比較し（Ｓ４９）、設定値の基準となる電界強度より小であれば、総ての設定距離でＳ４６〜Ｓ４９を繰り返し、総ての設定距離で測定した電界強度が基準より小であれば後述の如く当該検査片２１Ｘは不良品と判定される（Ｓ５０）。
【００４２】
一方、Ｓ４５およびＳ４９において、測定した電界強度が基準より大であれば、そのときの通信距離（Ｌ（ｘ））がデータメモリ６３に設定されて基準の距離より大か否かが判断される（Ｓ５１）。そして、通信距離（Ｌ（ｘ））が基準より大であれば当該検査片２１Ｘは良品であると判定され（Ｓ５２）、小であれば不良品と判定されて（Ｓ５３）、これらの判定結果をデータメモリ６３に記憶させる（Ｓ５４）。
【００４３】
続いて、同じ行において次の検査片２１Ｘの測定がある場合には、当該同じ行において総ての検査片２１Ｘに対してＳ４２〜Ｓ５３を繰り返して判定結果をデータメモリ６３に記憶させる（Ｓ５４）。そして、次の行の検査片２１Ｘがある場合には、Ｓ４１〜Ｓ５５を繰り返して総ての行の総ての検査片２１Ｘに対して良否を判定してデータメモリ６３に記憶させる（Ｓ５６）。そして、シート１２における総ての検査片２１Ｘの良否がデータメモリ６３に記憶されたときに、検査結果を適宜表示部７２に表示させるものである（Ｓ５７）。なお、上記同様に、検査結果の表示を、検査片２１Ｘ毎、または所定数の検査片２１Ｘの検査結果毎に行ってもよい。
【００４４】
このようなＲＦ−ＩＤの検査システム１１Ｂの構成で、電界強度を距離に応じて段階的に測定することによっても、短絡部材１３により、上記同様に確実に対象検査片２１Ｘを特定することができ、誤検査が防止されて不良品流出の防止を図ることができ、不良発生の早期発見、修正が可能となり、全数検査による高精度の品質管理を行うことができるものである。
【００４５】
【発明の効果】
以上のように、本発明によれば、シート上に形成された一のＲＦ−ＩＤを対象する検査片の周辺に配置されるＲＦ−ＩＤのアンテナ間を短絡部材で短絡させ、システム側アンテナを対象の検査片に対向させてシステム側アンテナより検査片に情報を送信し、その応答に応じて当該検査片の良否を判定する構成とすることにより、確実に対象検査片を特定することができ、誤検査が防止されて不良品流出の防止を図ることができるものである。また、製造直後のシート状の段階で検査を行うことができ、不良発生の早期発見、修正が可能となり、全数検査による高精度の品質管理を行うことができるものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係るＲＦ−ＩＤの検査システムにおける基本構成の分解構成図である。
【図２】図１のＲＦ−ＩＤの検査システムにおける構成説明図である。
【図３】本発明に係る検査システムのブロック構成図である。
【図４】図３の検査処理部の一例のブロック構成図である。
【図５】図３および図４の検査システムにおける検査処理のフローチャートである。
【図６】本発明に係る他の検査システムのブロック構成図である。
【図７】図６の検査処理部の一例のブロック構成図である。
【図８】図６および図７の検査システムにおける検査処理のフローチャートである。
【図９】図６および図７の検査システムにおける他の検査処理のフローチャートである。
【符号の説明】
１１ＲＦ−ＩＤの検査システム
１２シート
１３短絡部材
１４システム側アンテナ
１５駆動部
２１ＲＦ−ＩＤ
２１ＡＩＣモジュール
２１Ｂアンテナ
２１Ｘ検査片
３１駆動構造手段
３２検査処理手段
６１制御部
６２検査処理部
８４判定手段

Claims

検査対象であるＩＣモジュール、アンテナを備えるＲＦ−ＩＤが同一面上に複数形成されたシートの、一のＲＦ−ＩＤを対象とする検査片に対して通信を行い、良否を検査するＲＦ−ＩＤの検査システムであって、
通信を行うためのシステム側アンテナと、
前記シートにおける検査対象の検査片の周辺に配置される所定数のＲＦ−ＩＤのアンテナ間を短絡させる短絡部材と、
前記システム側アンテナを対象の前記検査片に対して通信させるために、当該システム側アンテナおよび前記短絡部材を移動させる駆動部と、
前記検査片に前記システム側アンテナを介して所定の情報を送信し、当該検査片からの応答に応じて当該検査片の良否判定を行う処理部と、
を有することを特徴とするＲＦ−ＩＤの検査システム。
請求項１記載のＲＦ−ＩＤの検査システムであって、前記短絡部材を電気的に接地させることを特徴とするＲＦ−ＩＤの検査システム。