JP2003005847A - レギュレータ回路 - Google Patents

レギュレータ回路

Info

Publication number
JP2003005847A
JP2003005847A JP2001191804A JP2001191804A JP2003005847A JP 2003005847 A JP2003005847 A JP 2003005847A JP 2001191804 A JP2001191804 A JP 2001191804A JP 2001191804 A JP2001191804 A JP 2001191804A JP 2003005847 A JP2003005847 A JP 2003005847A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
circuit
level
output
overcurrent
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001191804A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4742454B2 (ja
Inventor
Takahiro Miyazaki
孝博 宮崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Texas Instruments Japan Ltd
Original Assignee
Texas Instruments Japan Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Texas Instruments Japan Ltd filed Critical Texas Instruments Japan Ltd
Priority to JP2001191804A priority Critical patent/JP4742454B2/ja
Priority to US10/178,201 priority patent/US6608520B1/en
Publication of JP2003005847A publication Critical patent/JP2003005847A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4742454B2 publication Critical patent/JP4742454B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F1/00Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
    • G05F1/10Regulating voltage or current
    • G05F1/46Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
    • G05F1/56Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices
    • G05F1/575Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices characterised by the feedback circuit

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】過電流制限機能が働いた場合における出力電圧
の発振を防止できるレギュレータ回路を提供する。 【解決手段】 通常状態では、抵抗31の両端電圧が電
圧源VR2の電圧より小さく、ヒステリシスコンパレー
タ51出力がローレベル、n型MOSトランジスタ63
がオフ状態となり、キャパシタ62は電源ラインVcc
まで充電される。一方過電流状態では、ヒステリシスコ
ンパレータ51出力がハイレベル、n型MOSトランジ
スタ63がオン状態となり、キャパシタ62の電荷は放
電される。差動増幅回路41は、2つの正側入力信号の
うち低電圧の信号を選択するので、通常状態では電圧源
VR1を、過電流状態では電圧源64を基準として出力
電圧が負帰還制御される。また、過電流状態から通常状
態の変化時に、正入力端子+2の電圧は一定速度で上昇
するので、出力電圧の急激な変化が抑止される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、出力電圧を所望の
電圧に制御するレギュレータ回路に係り、特に、過電流
制限機能を有するレギュレータ回路に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】図5は、過電流制限回路を有した従来の
シリーズレギュレータの構成例を示す概略的な回路図で
ある。図5に示すシリーズレギュレータにおいて、直流
電圧源Vinの負出力端子が接地ラインに接続され、正
出力端子が電流検出用抵抗3の端子N1に接続される。
電流検出用抵抗3の他方の端子N2はn型MOSトラン
ジスタ1のドレインに接続される。n型MOSトランジ
スタ1のソースN3と接地ラインとの間には、平滑キャ
パシタCLおよび電流負荷ILが接続される。
【0003】また、n型MOSトランジスタ1のソース
N3と接地ラインとの間には電圧検出用に直列接続され
た抵抗2aおよび抵抗2bが接続され、この接続中点N
4が差動増幅回路4aの正入力端子+に接続される。差
動増幅回路4aの負入力端子−は、電圧源VR1の正端
子から負端子を介して接地ラインに接続される。この正
入力端子+と負入力端子−との電圧差が差動増幅回路4
aにおいて増幅され、npnトランジスタ4cのベース
N5に入力される。
【0004】npnトランジスタ4cのエミッタは接地
ラインに接続され、コレクタは定電流回路4bを介して
電源ラインVccに接続されるとともに、npnトラン
ジスタ4dのベースN6に接続される。npnトランジ
スタ4dのコレクタは電源ラインVccに接続され、エ
ミッタは定電流回路4eを介して接地ラインに接続され
る。このエミッタが、n型MOSトランジスタ1のゲー
トN7に接続される。
【0005】電流検出用抵抗3の端子N2は、コンパレ
ータ5aの負入力端子−に接続される。電流検出用抵抗
3の端子N1は、電圧源VR2の正出力端子から負出力
端子を介してコンパレータ5aの正入力端子+に接続さ
れる。この正入力端子+と負入力端子−との電圧レベル
の比較結果に応じたハイレベルまたはローレベルの電圧
がコンパレータ5aにおいて生成され、n型MOSトラ
ンジスタ5bのゲートに入力される。npnトランジス
タ4dのベースN6は、n型MOSトランジスタ5bの
ドレイン−ソース端子を介して接地ラインに接続され
る。
【0006】上述した構成を有するシリーズレギュレー
タにおいて、電流負荷ILに供給される出力電圧は、出
力電圧の検出値と目標値との誤差が差動増幅回路4aに
おいて増幅されてn型MOSトランジスタ1のゲートに
負帰還されることにより制御される。
【0007】例えばn型MOSトランジスタ1のソース
N3の電圧が上昇した場合、この電圧が抵抗2aおよび
抵抗2bにより分圧された接続点N4の電圧も上昇す
る。これにより差動増幅回路4aの出力電圧も上昇し、
npnトランジスタ4cのコレクタ電流が増えるので、
npnトランジスタ4dのベース電圧が低下する。した
がって、npnトランジスタ4dのエミッタ電圧が低下
し、n型MOSトランジスタ1のゲート電圧が低下す
る。ゲート電圧の低下により、n型MOSトランジスタ
のドレイン−ソース間電流が減少してソースN3の電圧
が低下する。
【0008】同様に、n型MOSトランジスタ1のソー
スN3の電圧が低下した場合には、差動増幅回路4aの
出力電圧が低下し、npnトランジスタ4dのベース電
圧が上昇して、n型MOSトランジスタ1のゲート電圧
が上昇することによりソースN3の電圧が上昇する。こ
のように、n型MOSトランジスタ1のソースN3の電
圧は、接続点N4の電圧と電圧源VR1の電圧とがほぼ
等しくなるように負帰還制御される。
【0009】一方、電流検出用抵抗3、電圧源VR2、
コンパレータ5aおよびn型MOSトランジスタ5bか
らなる回路は過電流を制限するための回路であり、電流
検出用抵抗3に流れる電流が一定レベルを超えた場合に
n型MOSトランジスタ1を遮断させる機能を有してい
る。
【0010】電流検出用抵抗3に流れる電流が十分小さ
く、端子N1と端子N2との電位差が電圧源VR2によ
る電位差よりも小さい場合、コンパレータ5aの正入力
端子+の電圧は負入力端子−に比べて低い。したがっ
て、コンパレータ5aの出力はローレベルとなり、n型
MOSトランジスタ5bはオフ状態となる。
【0011】電流検出用抵抗3に流れる電流が大きくな
り、端子N1と端子N2との電位差が電圧源VR2によ
る電位差よりも大きくなると、コンパレータ5aの正入
力端子+の電圧が負入力端子−に比べて高くなり、コン
パレータ5aの出力はハイレベルとなる。これにより、
n型MOSトランジスタ5bがオン状態となって、np
nトランジスタ4dのベース電圧が接地ラインまで低下
する。これにより、n型MOSトランジスタ1のゲート
電圧も接地ラインまで低下して、n型MOSトランジス
タ1はオフ状態となる。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】図6は、図5に示すシ
リーズレギュレータにおいて過電流制限機能が働いた場
合の出力電圧の変動を示す図である。図6Aは電流負荷
ILに流れる電流のシミュレーション波形の例を示して
おり、縦軸は負荷電流レベルを、横軸は時間をそれぞれ
示している。また図6Bは電流負荷ILに供給される出
力電圧のシミュレーション波形の例を示しており、縦軸
は出力電圧レベルを、横軸は時間をそれぞれ示してい
る。図6Bの出力電圧波形に示すように、電流負荷IL
の電流を0Aから5Aに増大させて過電流制限機能を働
かせると、出力電圧を0.9Vとした場合、シリーズレ
ギュレータの出力電圧は0Vから900mVの間で振動
を繰り返す発振状態となってしまう。
【0013】すなわちこの発振状態において、過電流制
限機能によりn型MOSトランジスタ1のゲートN7が
接地電位まで低下すると、n型MOSトランジスタ1が
オフ状態となって電流検出用抵抗3の電圧が低下する
が、これにより過電流制御が解除されると、再び出力電
圧が上昇して出力電流が増えて過電流制限機能が働く。
このように図5に示すシリーズレギュレータにおいて
は、過電流制限機能の動作状態と通常の電圧制御状態と
が繰り返されることにより、図6Bに示すような発振が
起こってしまう。
【0014】図6Bに示すような電圧の発振が起こる
と、例えばこの電圧を電源として供給されている回路が
動作異常を引き起こしてしまう可能性がある。また、平
滑コンデンサCLに大きなパルス状の電流が流れるた
め、コンデンサの特性を劣化させてしまう問題がある。
【0015】本発明はかかる事情に鑑みてなされたもの
であり、その目的は、過電流制限機能が働いた場合にお
ける出力電圧の発振を防止できるレギュレータ回路を提
供することにある。
【0016】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明のレギュレータ回路は、入力される電圧制御
信号のレベルに応じた電圧を出力する電圧出力回路と、
上記電圧出力回路の出力電圧に応じたレベルを有する電
圧検出信号を出力する電圧検出回路と、入力される第1
の電圧設定信号または所定のレベルを有する第2の電圧
設定信号のうち、信号レベルの大小関係に応じて何れか
一方の電圧設定信号を選択し、当該電圧設定信号と上記
電圧検出信号とのレベル差に応じた上記電圧制御信号を
出力する電圧制御信号出力回路と、上記電圧出力回路の
出力電流レベルが所定の過電流レベルを超えているか否
かを検出する過電流検出回路と、上記過電流検出回路に
おいて過電流が検出されていない場合、上記第1の電圧
設定信号のレベルを上記電圧制御信号出力回路で選択さ
れない第1のレベルに設定し、過電流が検出された場
合、上記第1の電圧設定信号のレベルを上記電圧制御信
号出力回路で選択される第2のレベルに設定する電圧設
定信号出力回路とを有する。
【0017】好適には、上記電圧設定信号出力回路が、
上記過電流検出回路において過電流が検出された状態か
ら検出されない状態に変化した場合、上記第1の電圧設
定信号を上記第2のレベルから上記第1のレベルへ所定
の速度で変化させる。
【0018】また、好適には、上記過電流検出回路にお
いて、過電流検出状態から非検出状態に変化する場合の
上記過電流レベルが、過電流非検出状態から検出状態に
変化する場合に比べて小さい。
【0019】また、上記電圧制御信号出力回路が、上記
電圧検出信号を入力し、第1のノードに電圧信号を供給
するための第1のトランジスタと、上記第1の電圧設定
信号を入力し、第2のノードに電圧信号を供給するため
の第2のトランジスタと、上記第2の電圧設定信号を入
力し、上記第2のトランジスタと並列接続された第3の
トランジスタと、上記第1のトランジスタと上記第2又
は第3のトランジスタとに電流を供給する電流源回路
と、上記第1のノードと上記第2のノードとに互いに等
しい電流を供給するためのカレントミラー回路と、上記
第1のノードと上記第2のノードとの電圧差に応じた上
記電圧制御信号を出力する出力回路とを有してもよい。
【0020】また、上記電圧設定信号出力回路が、定電
流源と、上記定電流源から供給される電流によって充電
されるキャパシタと、上記過電流検出回路の検出結果に
応じて導通して上記キャパシタを放電させるトランジス
タと、上記キャパシタの充電電圧に所定のオフセットを
与えて上記第1の電圧設定信号とする電圧源とを有して
もよい。
【0021】更には、上記電圧出力回路が、電圧入力端
子と電圧出力端子とを有し、制御端子に入力される上記
電圧制御信号に応じた出力電圧を供給するトランジスタ
を有してもよい。
【0022】
【発明の実施の形態】<第1の実施形態>以下、本発明
の第1の実施形態について、図1を参照して説明する。
図1は、本発明の第1の実施形態に係るレギュレータ回
路の構成例を示す概略的なブロック図である。図1に示
すレギュレータ回路は、電圧出力回路10、電圧検出回
路20、電流検出回路30、電圧制御信号出力回路4
0、比較回路50および電圧設定信号出力回路60を有
する。
【0023】電圧出力回路10は、端子I1および端子
I2の間に供給された電圧源Vinの電圧を、電圧制御
信号Scontに応じた電圧に変換して、これを端子O
1と端子O2との間に出力する回路である。例えば、端
子IN1と端子O1との間に接続されるトランジスタの
ゲート電圧を制御することにより電圧源Vinの電圧を
電圧降下させて出力するシリーズレギュレータ型の回路
でも良い。あるいは、スイッチング素子を含んだDC−
DCコンバータなどでも良い。
【0024】電圧検出回路20は、電圧出力回路10の
出力電圧に応じたレベルを有する電圧検出信号Svdを
出力する回路である。例えば、負荷抵抗と比べて十分大
きな抵抗値の抵抗を用いた分圧回路で出力電圧を適当な
分圧比で分圧することにより出力電圧を検出しても良
い。また、必要に応じて絶縁回路を設けて、電圧出力回
路10の出力と、電圧検出信号Svdを入力する電圧制
御信号出力回路40とを絶縁しても良い。
【0025】電流検出回路30は、電圧出力回路10の
出力電流に応じたレベルを有する電流検出信号Sidを
出力する回路である。例えば、負荷抵抗と比べて十分小
さな抵抗値の抵抗を負荷電流が流れる経路に挿入し、こ
の抵抗に発生する電圧に基づいて出力電流を検出しても
良い。あるいはホール素子など他の電流検出素子を用い
ても良い。また電流検出回路30の挿入箇所は、例えば
図1に示すように電圧出力回路10の出力端子と電圧検
出回路20の電圧検出ノードとの間でも良いし、電圧検
出ノードと負荷との間でも良い。また、電圧出力回路1
0の入力電流が出力電流と相関性を有する場合には、電
圧出力回路10の入力端子と電圧源Vinとの間に電流
検出回路30を挿入しても良い。
【0026】電圧制御信号出力回路40は、電圧設定信
号出力回路60から出力される電圧設定信号Sv1また
は所定のレベルを有する電圧設定信号Sv2のうち、信
号レベルの大小関係に応じて何れか一方の電圧設定信号
を選択し、この選択した電圧設定信号と電圧検出信号S
vdとのレベル差に応じた電圧制御信号Scontを出
力する。
【0027】例えば、電圧設定信号Sv1または電圧設
定信号Sv2のうちの電圧レベルが低い方の電圧設定信
号を選択するものとする。この場合、通常の電圧制御が
行われる状態において、後述する電圧設定信号出力回路
60は電圧設定信号Sv1の電圧レベルを電圧設定信号
Sv2より高く設定する。これにより、電圧制御信号出
力回路40は電圧設定信号Sv2を選択し、電圧設定信
号Sv2と電圧検出信号Svdとの電圧差に応じた電圧
制御信号Scontを出力する。また、過電流制限機能
が働く状態において、電圧設定信号出力回路60は電圧
設定信号Sv1の電圧レベルを電圧設定信号Sv2より
低く設定する。これにより、電圧制御信号出力回路40
は電圧設定信号Sv1を選択し、電圧設定信号Sv1と
電圧検出信号Svdとの電圧差に応じた電圧制御信号S
contを出力する。
【0028】比較回路50は、電流検出信号Sidと所
定の過電流基準信号Sirとを比較し、この比較結果に
基づいて、出力電流レベルが所定の過電流レベルを超え
ているか否かを判定する。そしてこの判定結果Sicを
電圧設定信号出力回路60に出力する。
【0029】電圧設定信号出力回路60は、比較回路5
0において過電流が検出されていないことを示す判定結
果Sicが出力されている場合に、電圧設定信号Sv1
のレベルを電圧制御信号出力回路40で選択されない第
1のレベルに設定する。また、比較回路50において過
電流が検出されたことを示す判定結果Sicが出力され
ている場合には、電圧設定信号Sv1のレベルを電圧制
御信号出力回路40で選択される第2のレベルに設定す
る。
【0030】例えば、上述のように電圧制御信号出力回
路40が電圧レベルの低い方の電圧設定信号を選択する
ものとすると、過電流が検出されていない状態において
は、電圧設定信号Sv1のレベルを電圧設定信号Sv2
より十分高く設定して、電圧設定信号Sv1が選択され
ないようにする。また、過電流が検出された状態におい
ては、電圧設定信号Sv1のレベルを電圧設定信号Sv
2より低い所定のレベルに設定して、電圧設定信号Sv
1を選択させる。
【0031】ここで、上述した構成を有する図1のレギ
ュレータ回路の動作について説明する。出力電流の過電
流が検出されていない通常の電圧制御状態において、電
圧設定信号出力回路60が出力する電圧設定信号Sv1
のレベルは電圧制御信号出力回路40で選択されない第
1のレベルに設定される。したがって、電圧制御信号出
力回路40において、電圧制御信号Scontは電圧設
定信号Sv2と電圧検出信号Svdとのレベル差に応じ
て生成される。また、電圧出力回路10、電圧検出回路
20および電圧制御信号出力回路40によって負帰還制
御のループが形成されており、電圧設定信号Sv2と電
圧検出信号Svdとのレベル差が小さくなるように電圧
制御信号Scontが負帰還制御される。これにより、
電圧出力回路10の出力電圧は電圧設定信号Sv2のレ
ベルに応じた電圧となる。
【0032】また、出力電流の過電流が検出された過電
流制限機能の動作状態において、電圧設定信号出力回路
60が出力する電圧設定信号Sv1は電圧制御信号出力
回路40で選択される第2のレベルに設定される。これ
により、電圧設定信号Sv1と電圧検出信号Svdとの
レベル差が小さくなるように電圧制御信号Scontが
負帰還制御され、電圧出力回路10の出力電圧は電圧設
定信号Sv1のレベル(第2のレベル)に応じた電圧と
なる。
【0033】図5に示す従来例において過電流制限機能
が働いた場合には、n型MOSトランジスタ1のゲート
N7は接地ラインの電圧レベルまで低下し、負帰還ルー
プが直ちに切断されていた。一方、図1に示すレギュレ
ータ回路において過電流制限機能が働いた場合には、出
力電圧が電圧設定信号Sv1のレベル(第2のレベル)
に応じた電圧となるように負帰還制御が働いている。こ
のため、負帰還ループが直ちに切断されてしまう従来回
路に比べて出力電圧を発振し難くすることができる。
【0034】なお、比較回路50の判定結果Sicが過
電流の検出状態から非検出状態に変化した場合に電圧設
定信号Sv1のレベルが第2のレベルから第1のレベル
へ変化する速度を、電圧設定信号出力回路60において
任意に制御させても良い。この変化速度を適当に遅く設
定することで、出力電圧のレベルを電圧設定信号Sv1
に応じた電圧から電圧設定信号Sv2に応じた電圧へ滑
らかに変化させることができる。これにより、過電流の
検出状態から非検出状態に変化した場合に出力電圧が急
激に変化していた従来回路に比べて、過渡的に負荷容量
に流れ込む電流が減少し、出力電圧の発振をより効果的
に抑えることができる。
【0035】また、過電流非検出状態から検出状態に変
化する場合に比べて、過電流検出状態から非検出状態に
変化する場合の過電流検出レベルが小さくなるようなヒ
ステリシス特性を比較回路50に持たせても良い。これ
により、出力電流レベルが過電流検出レベル付近にある
場合において、ノイズ等により判定結果Sicが過電流
非検出状態と検出状態との間で状態が不安定になること
を防止でき、これによる出力電圧の発振を抑えることが
できる。
【0036】<第2の実施形態>次に、本発明の第2の
実施形態について、図2〜図4を参照して説明する。第
2の実施形態は、上述した第1の実施形態の構成をより
具体化したものである。
【0037】図2は、本発明の第2の実施形態に係るレ
ギュレータ回路の構成例を示す概略的な回路図である。
図2において、n型MOSトランジスタ11は、図1に
おける電圧出力回路10に対応する回路である。抵抗2
1および抵抗22からなる回路は、図1における電圧検
出回路20に対応する回路である。抵抗31は、図1に
おける電流検出回路30に対応する回路である。差動増
幅回路41は、図1における電圧制御信号出力回路40
に対応する回路である。ヒステリシスコンパレータ51
は、図1における比較回路50に対応する回路である。
定電流回路61、キャパシタ62、n型MOSトランジ
スタ63および定電圧源64からなる回路は、図1にお
ける電圧設定信号出力回路60に対応する回路である。
【0038】直流電圧源Vinの負出力端子が接地ライ
ンに接続され、正出力端子が電流検出用抵抗31の端子
N11に接続される。電流検出用抵抗31の他方の端子
N12はn型MOSトランジスタ11のドレインに接続
される。n型MOSトランジスタ11のソースN13と
接地ラインとの間には、平滑キャパシタCL1および電
流負荷ILが接続される。
【0039】また、n型MOSトランジスタ11のソー
スN13と接地ラインとの間には電圧検出用に直列接続
された抵抗21および抵抗22が接続され、この接続中
点N14が差動増幅回路41の負入力端子−に接続され
る。差動増幅回路41は2つの正入力端子を有してお
り、一方の正入力端子+1は電圧源VR1の正端子から
負端子を介して接地ラインに接続され、他方の正入力端
子+2は電圧源64の正端子に接続される。差動増幅回
路41の出力は、n型MOSトランジスタ11のゲート
N15に接続される。
【0040】電流検出用抵抗31の端子N12は、ヒス
テリシスコンパレータ51の負入力端子−に接続され
る。電流検出用抵抗31の端子N11は、電圧源VR2
の正端子から負端子を介してヒステリシスコンパレータ
51の正入力端子+に接続される。この正入力端子+と
負入力端子−との電圧レベルの比較結果に応じたハイレ
ベルまたはローレベルの電圧がヒステリシスコンパレー
タ51において生成され、n型MOSトランジスタ63
のゲートN16に入力される。n型MOSトランジスタ
63のドレインは定電流回路61を介して電源ラインV
ccに接続されるとともに、キャパシタ62を介してn
型MOSトランジスタのソースおよび接地ラインに接続
される。また、定電流回路61とキャパシタ62との接
続中点N17は、電圧源64の負端子に接続される。
【0041】ここで、差動増幅回路41のより具体的な
構成例について説明する。図3は、2つの正入力端子を
有する差動増幅回路41の入力部の構成例を示す概略的
な回路図を示す。図3に示すように、p型MOSトラン
ジスタ411のゲートは負入力端子−に、p型MOSト
ランジスタ412のゲートは正入力端子+1に、p型M
OSトランジスタ413のゲートは正入力端子+2にそ
れぞれ接続されている。
【0042】p型MOSトランジスタ411、p型MO
Sトランジスタ412およびp型MOSトランジスタ4
13のソースは共通に接続されており、さらに、定電流
回路417を介して電源ラインVccに接続されてい
る。
【0043】p型MOSトランジスタ411のドレイン
はn型MOSトランジスタ414のドレインに接続さ
れ、p型MOSトランジス412およびp型MOSトラ
ンジスタ413のドレインはn型MOSトランジスタ4
15のドレインに接続されている。
【0044】n型MOSトランジスタ414およびn型
MOSトランジスタ415は、互いのゲートが共通に接
続されているとともに、ソースが接地ラインに接続され
ている。また、n型MOSトランジスタ414のゲート
とドレインとが接続されている。
【0045】p型MOSトランジスタ411とn型MO
Sトランジスタ414のドレインが接続されたノードN
41aは、差動増幅回路416の正入力端子+に接続さ
れる。p型MOSトランジスタ412、p型MOSトラ
ンジスタ413およびn型MOSトランジスタ415の
ドレインが共通に接続されたノードN41bは、差動増
幅回路416の負入力端子−に接続される。差動増幅回
路416の出力端子は、n型MOSトランジスタ11の
ゲートN15に接続される。
【0046】このような構成を有する差動増幅回路41
において、n型MOSトランジスタ414およびn型M
OSトランジスタ415はカレントミラー回路を構成し
ており、n型MOSトランジスタ414のドレイン電流
と一致する電流がn型MOSトランジスタ415のドレ
インに流れる。また、並列接続されたp型MOSトラン
ジスタ412およびp型MOSトランジスタ413は、
正入力端子+1および正入力端子+2の電圧レベルの大
小関係に応じて、何れか一方が活性化される。すなわ
ち、正入力端子+1の電圧が正入力端子+2と比べて低
い場合にはp型MOSトランジスタ412が活性化さ
れ、正入力端子+2の電圧が正入力端子+1と比べて低
い場合にはp型MOSトランジスタ413が活性化され
る。この活性化されたトランジスタと、p型MOSトラ
ンジスタ411、定電流回路417および上述のカレン
トミラー回路によって構成される差動増幅回路において
負入力端子と正入力端子との電圧差が増幅され、ノード
N41aとノードN41bとの間の差動電圧として出力
される。この差動電圧が差動増幅回路416において増
幅されて、n型MOSトランジスタ11のゲートN15
に入力される。
【0047】次に、上述した構成を有する図2および図
3に示すレギュレータ回路の動作について説明する。過
電流制限機能が働かない通常の電圧制御状態において
は、抵抗31に流れる電流は過電流状態に比べて小さ
く、この抵抗の両端に発生する電圧は電圧源VR2の電
圧よりも小さい。この場合、ヒステリシスコンパレータ
51の負入力端子−の電圧は正入力端子+の電圧より高
くなり、ヒステリシスコンパレータ51の出力電圧はロ
ーレベルとなる。このため、n型MOSトランジスタ6
3はオフ状態となり、キャパシタ62は定電流回路61
の電流によって電源ラインVccまで充電される。
【0048】キャパシタ62の充電電圧が電源ラインV
ccまで上昇するので、差動増幅回路41の正入力端子
+2の電圧レベルは正入力端子+1に比べて十分高くな
り、p型MOSトランジスタ412が活性化される。す
なわち、差動増幅回路41においては、正入力端子+1
と負入力端子−との電圧差が増幅されてn型MOSトラ
ンジスタ11のゲートに出力される。したがって、通常
の電圧制御状態におけるノードN13の電圧は、電圧源
VR1による正入力端子+1の電圧とノードN14の電
圧とがほぼ一致するように負帰還制御される。
【0049】一方、過電流制限機能が働いた状態におい
ては、抵抗31の両端に発生する電圧が電圧源VR2の
電圧よりも大きくなり、ヒステリシスコンパレータ51
の出力電圧はハイレベルとなる。このため、n型MOS
トランジスタ63はオン状態となり、キャパシタ62の
充電電荷は放電され、ノードN17の電圧は接地ライン
の電圧まで低下する。
【0050】このとき、電圧源64の電圧が電圧源VR
1よりも低く設定されているとすると、正入力端子+2
の電圧レベルは正入力端子+1より低くなり、p型MO
Sトランジスタ413が活性化される。すなわち、差動
増幅回路41においては、正入力端子+2と負入力端子
−との電圧差が増幅されてn型MOSトランジスタ11
のゲートに出力される。したがって、過電流制御機能が
働いた状態におけるノードN13の電圧は、電圧源64
による正入力端子+2の電圧とノードN14の電圧とが
ほぼ一致するように負帰還制御される。電圧源64の電
圧は電圧源VR1よりも低く設定されているので、過電
流制限機能が働いた状態の出力電圧は、通常の電圧制御
状態に比べて低くなる。
【0051】このように、図2および図3に示すレギュ
レータ回路は、図1のレギュレータ回路と同様に、過電
流制限機能が働いた場合においてノードN14の電圧と
電圧源64の電圧とが一致するように負帰還制御が働
く。したがって、負帰還ループが直ちに切断されてしま
う従来回路に比べて出力電圧を発振し難くすることがで
きる。
【0052】また、過電流制限機能が働いた状態が解消
されて抵抗31の両端電圧がVR2よりも小さくなる
と、ヒステリシスコンパレータ51の出力はハイレベル
からローレベルに変化し、これに応じてn型MOSトラ
ンジスタ63はオン状態からオフ状態に変化する。
【0053】この時点において、接地ラインの電圧まで
低下していたノードN17の電圧は、定電流回路61の
電流でキャパシタ62が充電されることにより徐々に上
昇し、これに応じて差動増幅回路41の正入力端子+2
の電圧も徐々に上昇する。そして、正入力端子+2の電
圧が正入力端子+1の電圧を超えると、n型MOSトラ
ンジスタ412が再び活性化されて、通常の電圧制御状
態に移行する。
【0054】このように、過電流制限機能が働いた状態
から通常の電圧制御状態に移行する場合において、正入
力端子+2に入力される電圧レベルを一定の速度で徐々
に増加させるので、ノードN13の電圧もこれに応じて
滑らか変化する。したがって、出力電圧が急激に変化し
ていた従来回路に比べて、出力電圧の発振をより効果的
に抑えることができる。更に、平滑キャパシタCL1に
過渡的に流れ込む電流を抑えることができる。
【0055】また、ヒステリシスコンパレータ51は、
出力をローレベルからハイレベルに変化させる場合と、
ハイレベルからローレベルに変化させる場合とで、正入
力端子+と負入力端子−との間に印加すべき電圧が異な
っており、この電圧の違いによる不感帯の電圧範囲内に
正入力端子+と負入力端子−との電圧差が含まれる場
合、出力レベルは変化しない。すなわち、通常状態から
過電流状態に移行する場合と、過電流状態から通常状態
に移行する場合とでは過電流検出レベルが異なってお
り、後者の過電流検出レベルが前者に比べて小さくな
る。
【0056】このため、過電流状態において抵抗31に
流れる電流が、通常状態から過電流状態に移行するとき
の過電流検出レベルより小さくならなければ、過電流状
態から通常状態へ移行しない。逆に、通常状態において
抵抗31に流れる電流が、過電流状態から通常状態に移
行するときの過電流検出レベルより大きくならなけれ
ば、通常状態から過電流状態へ移行しない。したがっ
て、抵抗31の電流が過電流検出レベル付近にある場合
において、ノイズ等により正入力端子+と負入力端子−
との電圧差が変動しても、過電流制限機能が働いた状態
と通常の電圧制御状態との間で状態が急激に変化するこ
とを防止でき、これによる出力電圧の発振を抑えること
ができる。
【0057】図4は、図2および図3に示すレギュレー
タ回路において過電流制限機能が働いた場合の出力電圧
の波形例を示す図である。図4Aは電流負荷ILに流れ
る電流のシミュレーション波形の例を示しており、縦軸
は負荷電流レベルを、横軸は時間をそれぞれ示してい
る。また図4Bは電流負荷ILに印加される出力電圧の
シミュレーション波形の例を示しており、縦軸は出力電
圧レベルを、横軸は時間をそれぞれ示している。
【0058】図4Bの出力電圧波形に示すように、電流
負荷ILの電流を0Aから5Aに増大させて過電流制限
機能を働かせると、レギュレータ回路の出力電圧は約9
00mVから約300mVまで低下するが、図6Bに示
す従来回路の出力電圧のように振動することはない。ま
た、電流負荷ILの電流が5Aから0Aに戻ると、数1
0μsの遅延時間を経て、出力電圧はなだらかに上昇す
る。このように、図2および図3に示すレギュレータ回
路においては、過電流制限機能が働いた状態における出
力電圧の発振が防止される。
【0059】なお、本発明は上述した実施形態に限定さ
れない。例えば、図2および図3において使用されてい
るMOSトランジスタは、バイポーラトランジスタに置
き換えることもできる。また、図2および図3において
使用されているn型MOSトランジスタをp型MOSト
ランジスタ、p型MOSトランジスタをn型MOSトラ
ンジスタに置き換えることも可能である。その他、当業
者に自明な種々の改変が可能である。
【0060】
【発明の効果】本発明によれば、過電流制限機能が働い
た場合における出力電圧の発振を防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態に係るレギュレータ回
路の構成例を示す概略的なブロック図である。
【図2】本発明の第2の実施形態に係るレギュレータ回
路の構成例を示す概略的な回路図である。
【図3】2つの正入力端子を有する差動増幅回路41の
入力部の構成例を示す概略的な回路図を示す。
【図4】図2および図3に示すレギュレータ回路におい
て過電流制限機能が働いた場合の出力電圧の波形例を示
す図である。
【図5】過電流制限回路を有した従来のシリーズレギュ
レータの構成例を示す概略的な回路図である。
【図6】図5に示すシリーズレギュレータにおいて過電
流制限機能が働いた場合の出力電圧の変動を示す図であ
る。
【符号の説明】 10…電圧出力回路、20…電圧検出回路、30…電流
検出回路、40…電圧制御信号出力回路、50…比較回
路、60…電圧設定信号出力回路、11…n型MOSト
ランジスタ、21,22,31…抵抗、41…差動増幅
回路、51…ヒステリシスコンパレータ、61…定電流
回路、62,CL1…キャパシタ、63…n型MOSト
ランジスタ、64,Vin,VR1,VR2…定電圧
源、IL1…電流負荷。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力される電圧制御信号のレベルに応じ
    た電圧を出力する電圧出力回路と、 上記電圧出力回路の出力電圧に応じたレベルを有する電
    圧検出信号を出力する電圧検出回路と、 入力される第1の電圧設定信号または所定のレベルを有
    する第2の電圧設定信号のうち、信号レベルの大小関係
    に応じて何れか一方の電圧設定信号を選択し、当該電圧
    設定信号と上記電圧検出信号とのレベル差に応じた上記
    電圧制御信号を出力する電圧制御信号出力回路と、 上記電圧出力回路の出力電流レベルが所定の過電流レベ
    ルを超えているか否かを検出する過電流検出回路と、 上記過電流検出回路において過電流が検出されていない
    場合、上記第1の電圧設定信号のレベルを上記電圧制御
    信号出力回路で選択されない第1のレベルに設定し、過
    電流が検出された場合、上記第1の電圧設定信号のレベ
    ルを上記電圧制御信号出力回路で選択される第2のレベ
    ルに設定する電圧設定信号出力回路と、 を有するレギュレータ回路。
  2. 【請求項2】 上記電圧設定信号出力回路が、上記過電
    流検出回路において過電流が検出された状態から検出さ
    れない状態に変化した場合、上記第1の電圧設定信号を
    上記第2のレベルから上記第1のレベルへ所定の速度で
    変化させる、 請求項1に記載のレギュレータ回路。
  3. 【請求項3】 上記過電流検出回路において、過電流検
    出状態から非検出状態に変化する場合の上記過電流レベ
    ルが、過電流非検出状態から検出状態に変化する場合に
    比べて小さい、 請求項1または請求項2に記載のレギュレータ回路。
  4. 【請求項4】 上記電圧制御信号出力回路が、 上記電圧検出信号を入力し、第1のノードに電圧信号を
    供給するための第1のトランジスタと、 上記第1の電圧設定信号を入力し、第2のノードに電圧
    信号を供給するための第2のトランジスタと、 上記第2の電圧設定信号を入力し、上記第2のトランジ
    スタと並列接続された第3のトランジスタと、 上記第1のトランジスタと上記第2又は第3のトランジ
    スタとに電流を供給する電流源回路と、 上記第1のノードと上記第2のノードとに互いに等しい
    電流を供給するためのカレントミラー回路と、 上記第1のノードと上記第2のノードとの電圧差に応じ
    た上記電圧制御信号を出力する出力回路とを有する請求
    項1に記載のレギュレータ回路。
  5. 【請求項5】 上記電圧設定信号出力回路が、 定電流源と、 上記定電流源から供給される電流によって充電されるキ
    ャパシタと、 上記過電流検出回路の検出結果に応じて導通して上記キ
    ャパシタを放電させるトランジスタと、 上記キャパシタの充電電圧に所定のオフセットを与えて
    上記第1の電圧設定信号とする電圧源とを有する請求項
    4に記載のレギュレータ回路。
  6. 【請求項6】 上記電圧出力回路が、電圧入力端子と電
    圧出力端子とを有し、制御端子に入力される上記電圧制
    御信号に応じた出力電圧を供給するトランジスタを有す
    る請求項4又は5に記載のレギュレータ回路。
JP2001191804A 2001-06-25 2001-06-25 レギュレータ回路 Expired - Fee Related JP4742454B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001191804A JP4742454B2 (ja) 2001-06-25 2001-06-25 レギュレータ回路
US10/178,201 US6608520B1 (en) 2001-06-25 2002-06-24 Regulator circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001191804A JP4742454B2 (ja) 2001-06-25 2001-06-25 レギュレータ回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003005847A true JP2003005847A (ja) 2003-01-08
JP4742454B2 JP4742454B2 (ja) 2011-08-10

Family

ID=19030363

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001191804A Expired - Fee Related JP4742454B2 (ja) 2001-06-25 2001-06-25 レギュレータ回路

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6608520B1 (ja)
JP (1) JP4742454B2 (ja)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005045942A (ja) * 2003-07-23 2005-02-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd Dc−dcコンバータ
WO2006049109A1 (ja) * 2004-11-04 2006-05-11 Rohm Co., Ltd. 電源装置、及び携帯機器
JP2006155357A (ja) * 2004-11-30 2006-06-15 Sanyo Electric Co Ltd 降圧回路
JP2009176008A (ja) * 2008-01-24 2009-08-06 Seiko Instruments Inc ボルテージレギュレータ
KR100924074B1 (ko) * 2009-04-16 2009-11-02 (주)케이.티.씨 포충 장치
US7626371B2 (en) 2004-11-04 2009-12-01 Rohm Co., Ltd. Power supply unit and portable device
JP2011238103A (ja) * 2010-05-12 2011-11-24 Renesas Electronics Corp 電源回路
US8120344B2 (en) 2004-11-04 2012-02-21 Rohm Co., Ltd. Power supply unit and portable device
CN104007311A (zh) * 2011-03-18 2014-08-27 富士通半导体股份有限公司 检测器电路
WO2014203704A1 (ja) * 2013-06-21 2014-12-24 セイコーインスツル株式会社 ボルテージレギュレータ
WO2014208261A1 (ja) * 2013-06-25 2014-12-31 セイコーインスツル株式会社 ボルテージレギュレータ

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004118411A (ja) * 2002-09-25 2004-04-15 Seiko Instruments Inc ボルテージ・レギュレータ
US6979984B2 (en) * 2003-04-14 2005-12-27 Semiconductor Components Industries, L.L.C. Method of forming a low quiescent current voltage regulator and structure therefor
JP4068022B2 (ja) * 2003-07-16 2008-03-26 Necエレクトロニクス株式会社 過電流検出回路及び負荷駆動回路
US7180277B2 (en) * 2004-04-09 2007-02-20 Maxwell Technologies, Inc. Capacitor start-up apparatus and method with fail safe short circuit protection
US7122996B1 (en) * 2004-06-01 2006-10-17 National Semiconductor Corporation Voltage regulator circuit
JP2006217539A (ja) * 2005-02-07 2006-08-17 Fujitsu Ltd スペクトラム拡散クロック発生回路およびスペクトラム拡散クロック発生回路の制御方法
US7626370B1 (en) * 2007-09-21 2009-12-01 National Semiconductor Corporation Apparatus and method for hysteretic boost DC-DC converter
US8063622B2 (en) * 2009-10-02 2011-11-22 Power Integrations, Inc. Method and apparatus for implementing slew rate control using bypass capacitor
CN104536507B (zh) * 2014-12-05 2016-08-24 芯原微电子(上海)有限公司 折返式限流电路及具有该折返式限流电路的线性稳压源
CN107404219A (zh) * 2017-08-30 2017-11-28 杰华特微电子(杭州)有限公司 限流电路和方法及开关电源
JP7065660B2 (ja) * 2018-03-22 2022-05-12 エイブリック株式会社 ボルテージレギュレータ
GB2599474B (en) * 2020-05-08 2023-04-05 Cirrus Logic Int Semiconductor Ltd Circuitry for providing an output voltage
DE102021202149A1 (de) * 2021-03-05 2022-09-08 Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung Spannungsreglerschaltung und Verfahren zur Bereitstellung einer geregelten Spannung
CN115617105B (zh) * 2022-05-24 2024-09-20 芯海科技(深圳)股份有限公司 一种稳压电路及其稳压方法、集成电路以及电子设备

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001084044A (ja) * 1999-07-13 2001-03-30 Rohm Co Ltd 電源装置
JP2001100852A (ja) * 1999-09-29 2001-04-13 Sony Corp 定電圧レギュレータ回路

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH061418B2 (ja) * 1987-01-20 1994-01-05 オリジン電気株式会社 定電流電源回路
JPH01296323A (ja) * 1988-05-24 1989-11-29 Nissan Motor Co Ltd 集積回路用電源装置
JPH0270261A (ja) * 1988-08-31 1990-03-09 Mitsubishi Electric Corp Dcチョッパ式可変定電圧電源装置
EP0709956B1 (en) * 1994-10-27 2002-10-09 Co.Ri.M.Me. Consorzio Per La Ricerca Sulla Microelettronica Nel Mezzogiorno Method and circuit for protection against latch-down transistor and voltage regulator using the method
US6225857B1 (en) * 2000-02-08 2001-05-01 Analog Devices, Inc. Non-inverting driver circuit for low-dropout voltage regulator

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001084044A (ja) * 1999-07-13 2001-03-30 Rohm Co Ltd 電源装置
JP2001100852A (ja) * 1999-09-29 2001-04-13 Sony Corp 定電圧レギュレータ回路

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005045942A (ja) * 2003-07-23 2005-02-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd Dc−dcコンバータ
US8120344B2 (en) 2004-11-04 2012-02-21 Rohm Co., Ltd. Power supply unit and portable device
WO2006049109A1 (ja) * 2004-11-04 2006-05-11 Rohm Co., Ltd. 電源装置、及び携帯機器
US7626371B2 (en) 2004-11-04 2009-12-01 Rohm Co., Ltd. Power supply unit and portable device
US7635969B2 (en) 2004-11-04 2009-12-22 Rohm Co., Ltd. Power supply unit and portable device
JP2006155357A (ja) * 2004-11-30 2006-06-15 Sanyo Electric Co Ltd 降圧回路
JP2009176008A (ja) * 2008-01-24 2009-08-06 Seiko Instruments Inc ボルテージレギュレータ
KR100924074B1 (ko) * 2009-04-16 2009-11-02 (주)케이.티.씨 포충 장치
JP2011238103A (ja) * 2010-05-12 2011-11-24 Renesas Electronics Corp 電源回路
CN104007311A (zh) * 2011-03-18 2014-08-27 富士通半导体股份有限公司 检测器电路
WO2014203704A1 (ja) * 2013-06-21 2014-12-24 セイコーインスツル株式会社 ボルテージレギュレータ
JP2015005171A (ja) * 2013-06-21 2015-01-08 セイコーインスツル株式会社 ボルテージレギュレータ
US9645593B2 (en) 2013-06-21 2017-05-09 Sii Semiconductor Corporation Voltage regulator
WO2014208261A1 (ja) * 2013-06-25 2014-12-31 セイコーインスツル株式会社 ボルテージレギュレータ
JP2015007903A (ja) * 2013-06-25 2015-01-15 セイコーインスツル株式会社 ボルテージレギュレータ
US10177655B2 (en) 2013-06-25 2019-01-08 Ablic Inc. Voltage regulator including a non-regulated state detection circuit

Also Published As

Publication number Publication date
US6608520B1 (en) 2003-08-19
JP4742454B2 (ja) 2011-08-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2003005847A (ja) レギュレータ回路
US7420356B2 (en) Current direction detection circuit and switching regulator having the same
US8018214B2 (en) Regulator with soft-start using current source
US20050040806A1 (en) Processor based integrated circuit with a supply voltage monitor using bandgap device without feedback
US7092226B2 (en) Constant-voltage power supply circuit
JP2004280923A (ja) 内部電源回路
US6917189B2 (en) Electric power supply unit having improved output voltage response
US20060170403A1 (en) Voltage regulator with reduced power consumption in standby operating mode
US20030001554A1 (en) Internal power voltage generator
US7786713B2 (en) Series regulator circuit with high current mode activating parallel charging path
JP2004312231A (ja) 半導体集積回路装置
JP2002169618A (ja) 定電圧電源回路および該定電圧電源回路を内蔵した電子機器
JP2010136001A (ja) 発振器
JP6827112B2 (ja) 制御回路、及び理想ダイオード回路
KR101097031B1 (ko) 저전력의 저전압 검출 방법, 저전력의 전압 검출 회로 및 저전력 전압 검출 회로 형성 방법
JP2006325339A (ja) 電源制御回路
JP4742455B2 (ja) レギュレータ回路
JP2006331080A (ja) 電源回路
US6940329B2 (en) Hysteresis circuit used in comparator
JP4961739B2 (ja) 電源回路及びその起動方法
JP2001257572A (ja) スイッチング素子駆動回路装置およびそれを用いた電子機器
JP2010097258A (ja) 電源回路
JP4810132B2 (ja) 遅延回路およびリップルコンバータ
JP4400992B2 (ja) 駆動信号供給回路
JP2005167865A (ja) クランプ回路及びこれを備えた半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080618

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20090928

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110118

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110120

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110316

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110412

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110425

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140520

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4742454

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees