JP2002043730A - 集積回路パッケイジの実装方法および集積回路パッケイジ実装基板 - Google Patents
集積回路パッケイジの実装方法および集積回路パッケイジ実装基板Info
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- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
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- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 変形したICリードを実装ランドに接続する
方法等を提供する。 【解決手段】 集積回路パッケイジの変形していない第
1のリードおよび変形している第2のリードを、それぞ
れ基板上の第1および第2の実装ランドに接続する集積
回路パッケイジの実装方法において、実装ランド上に導
電材料を供給するステップでは、第2の実装ランドには
第1の実装ランドよりも多量の導電材料を供給し、導電
材料を溶融してリードと実装ランドとを接続するステッ
プでは、第1の実装ランド上で溶融した導電材料は、基
板に垂直な方向に第1の高さに延びて第1のリードと第
1の実装ランドを接続し、第2の実装ランド上で溶融し
た導電材料は、表面張力により第1の高さよりも高く延
びて第2のリードと第2の実装ランドを接続する、集積
回路パッケイジの実装方法を提供する。
方法等を提供する。 【解決手段】 集積回路パッケイジの変形していない第
1のリードおよび変形している第2のリードを、それぞ
れ基板上の第1および第2の実装ランドに接続する集積
回路パッケイジの実装方法において、実装ランド上に導
電材料を供給するステップでは、第2の実装ランドには
第1の実装ランドよりも多量の導電材料を供給し、導電
材料を溶融してリードと実装ランドとを接続するステッ
プでは、第1の実装ランド上で溶融した導電材料は、基
板に垂直な方向に第1の高さに延びて第1のリードと第
1の実装ランドを接続し、第2の実装ランド上で溶融し
た導電材料は、表面張力により第1の高さよりも高く延
びて第2のリードと第2の実装ランドを接続する、集積
回路パッケイジの実装方法を提供する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、集積回路パッケイ
ジのICリードと、基板の実装ランドとの接続に関す
る。
ジのICリードと、基板の実装ランドとの接続に関す
る。
【0002】
【従来の技術】基板の表面に実装するタイプの集積回路
パッケイジには、基板と接続する部分である複数のIC
リードが設けられている。このICリードと基板上の複
数の実装ランドとは、一般にはんだ等の溶融性導電材料
が利用されて電気的に確実に接続される。図4は、実装
ランド32−n(n:整数)上に供給されたはんだ92
−n(n:整数)と、対応する集積回路パッケイジ10
のICリード12−n(n:整数)とを示す。接続プロ
セスは以下のように行われる。実装ランド32−n
(n:整数)上に所定の印刷方式によりはんだ92−n
(n:整数)が供給されると、次はICリード12−n
(n:整数)が位置決めされて載置される。そして、例
えばリフローソルダリングによりはんだを溶融させるこ
とにより、ICリード12−n(n:整数)と実装ラン
ド32−n(n:整数)とが電気的に接続される。集積
回路パッケイジ10が基板30と接続されると、集積回
路パッケイジ10は、引出配線34−n(n:整数)を
介して基板30の他の要素等と信号を授受できる。
パッケイジには、基板と接続する部分である複数のIC
リードが設けられている。このICリードと基板上の複
数の実装ランドとは、一般にはんだ等の溶融性導電材料
が利用されて電気的に確実に接続される。図4は、実装
ランド32−n(n:整数)上に供給されたはんだ92
−n(n:整数)と、対応する集積回路パッケイジ10
のICリード12−n(n:整数)とを示す。接続プロ
セスは以下のように行われる。実装ランド32−n
(n:整数)上に所定の印刷方式によりはんだ92−n
(n:整数)が供給されると、次はICリード12−n
(n:整数)が位置決めされて載置される。そして、例
えばリフローソルダリングによりはんだを溶融させるこ
とにより、ICリード12−n(n:整数)と実装ラン
ド32−n(n:整数)とが電気的に接続される。集積
回路パッケイジ10が基板30と接続されると、集積回
路パッケイジ10は、引出配線34−n(n:整数)を
介して基板30の他の要素等と信号を授受できる。
【0003】集積回路パッケイジ10のICリードは、
製造段階等の実装の前段階の取り扱いで変形することが
ある。特に、集積回路パッケイジ10の端部に位置する
端部ICリード12−1は変形しやすいことが知られて
いる。図4には、変形した端部ICリード12−1が示
されている。この「変形」とは、例えばICリードの一
部が上方に曲がり、基板に対して所定の平面的接触がな
い場合である。
製造段階等の実装の前段階の取り扱いで変形することが
ある。特に、集積回路パッケイジ10の端部に位置する
端部ICリード12−1は変形しやすいことが知られて
いる。図4には、変形した端部ICリード12−1が示
されている。この「変形」とは、例えばICリードの一
部が上方に曲がり、基板に対して所定の平面的接触がな
い場合である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来、実装ランド32
−n(n:整数)上に供給されるはんだ92−n(n:
整数)の量は一定であるため、変形した端部ICリード
12−1を端部実装ランド32−1との間には、充分な
はんだ付けが行えていなかった。図5は、はんだ92−
1で接続された、変形した端部ICリード12−1と端
部実装ランド32−1とを示す。端部ICリード12−
1が上方に変形しているので、端部ICリード12−1
とはんだ92−1とは、接触しない、または一部でしか
接触しない場合がある。図5には、領域Aでしか接触し
ていない状態が示されている。領域Aが微小な領域であ
ればあるほど、多少の振動等で接続が途切れるおそれが
ある。これでは、十分なはんだ付けが行われているとは
いえない。また本来的に接触していない場合にははんだ
付けの目的が達成されない。このような基板は検査で不
良とされ、人間が端部ICリード12−1上にはんだを
さらに加え、溶融しなければならない。なお、例えば特
開平6−169153号公報には、端部パッドに、より
多くのはんだを供給する技術が開示されている。しか
し、この技術は端部パッドの面積が他のパッドの面積よ
りも大きい場合に適用される技術である。端部パッドの
面積が大きいとはんだの可動範囲が広がってしまうた
め、結局変形した端部ICリードを十分強固に接続でき
ない。
−n(n:整数)上に供給されるはんだ92−n(n:
整数)の量は一定であるため、変形した端部ICリード
12−1を端部実装ランド32−1との間には、充分な
はんだ付けが行えていなかった。図5は、はんだ92−
1で接続された、変形した端部ICリード12−1と端
部実装ランド32−1とを示す。端部ICリード12−
1が上方に変形しているので、端部ICリード12−1
とはんだ92−1とは、接触しない、または一部でしか
接触しない場合がある。図5には、領域Aでしか接触し
ていない状態が示されている。領域Aが微小な領域であ
ればあるほど、多少の振動等で接続が途切れるおそれが
ある。これでは、十分なはんだ付けが行われているとは
いえない。また本来的に接触していない場合にははんだ
付けの目的が達成されない。このような基板は検査で不
良とされ、人間が端部ICリード12−1上にはんだを
さらに加え、溶融しなければならない。なお、例えば特
開平6−169153号公報には、端部パッドに、より
多くのはんだを供給する技術が開示されている。しか
し、この技術は端部パッドの面積が他のパッドの面積よ
りも大きい場合に適用される技術である。端部パッドの
面積が大きいとはんだの可動範囲が広がってしまうた
め、結局変形した端部ICリードを十分強固に接続でき
ない。
【0005】本発明の目的は、変形したICリードを実
装ランドに確実に接続する方法、およびその方法により
接続された集積回路パッケイジ実装基板を提供すること
である。
装ランドに確実に接続する方法、およびその方法により
接続された集積回路パッケイジ実装基板を提供すること
である。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の集積回路パッケ
イジの実装方法は、集積回路パッケイジの変形していな
い第1のリードおよび変形している第2のリードを、そ
れぞれ基板上の第1の実装ランドおよび第2の実装ラン
ドに接続する集積回路パッケイジの実装方法において、
実装ランド上に導電材料を供給するステップであって、
前記第2の実装ランドには、前記第1の実装ランドより
も多量の導電材料を供給するステップと、供給された導
電材料を溶融してリードと実装ランドとを接続するステ
ップであって、前記第1の実装ランド上で溶融した導電
材料は、前記基板に垂直な方向に第1の高さに延びて前
記第1のリードおよび前記第1の実装ランドを接続し、
前記第2の実装ランド上で溶融した導電材料は、表面張
力により前記第1の高さよりも高い第2の高さに延びて
前記第2のリードおよび前記第2の実装ランドを接続す
る、ステップとからなる、集積回路パッケイジの実装方
法であり、これにより上記目的が達成される。
イジの実装方法は、集積回路パッケイジの変形していな
い第1のリードおよび変形している第2のリードを、そ
れぞれ基板上の第1の実装ランドおよび第2の実装ラン
ドに接続する集積回路パッケイジの実装方法において、
実装ランド上に導電材料を供給するステップであって、
前記第2の実装ランドには、前記第1の実装ランドより
も多量の導電材料を供給するステップと、供給された導
電材料を溶融してリードと実装ランドとを接続するステ
ップであって、前記第1の実装ランド上で溶融した導電
材料は、前記基板に垂直な方向に第1の高さに延びて前
記第1のリードおよび前記第1の実装ランドを接続し、
前記第2の実装ランド上で溶融した導電材料は、表面張
力により前記第1の高さよりも高い第2の高さに延びて
前記第2のリードおよび前記第2の実装ランドを接続す
る、ステップとからなる、集積回路パッケイジの実装方
法であり、これにより上記目的が達成される。
【0007】前記第2のリードは、前記集積回路パッケ
イジの複数のリードのうちの端に位置する端部リードで
あってもよい。
イジの複数のリードのうちの端に位置する端部リードで
あってもよい。
【0008】第2の実装ランド上に導電材料を供給する
前記ステップは、前記第1の実装ランドの位置とは反対
側の位置に、より多くの導電材料を供給するステップで
あってもよい。
前記ステップは、前記第1の実装ランドの位置とは反対
側の位置に、より多くの導電材料を供給するステップで
あってもよい。
【0009】本発明の集積回路パッケイジ実装基板は、
変形していない第1のリードおよび変形している第2の
リードを備えた集積回路パッケイジと、第1の実装ラン
ドおよび第2の実装ランドを備えた基板と、前記基板に
垂直な方向に第1の高さを有し、第1のリードおよび第
1の実装ランドを接続する、第1の実装ランド上の導電
材料と、第2のリードおよび第2の実装ランドを接続す
る、前記導電材料よりも多量の導電材料であって、溶融
時の表面張力により前記第1の高さよりも高い第2の高
さに延びた、前記第2の実装ランド上の導電材料とから
なる集積回路パッケイジ実装基板であり、これにより上
記目的が達成される。
変形していない第1のリードおよび変形している第2の
リードを備えた集積回路パッケイジと、第1の実装ラン
ドおよび第2の実装ランドを備えた基板と、前記基板に
垂直な方向に第1の高さを有し、第1のリードおよび第
1の実装ランドを接続する、第1の実装ランド上の導電
材料と、第2のリードおよび第2の実装ランドを接続す
る、前記導電材料よりも多量の導電材料であって、溶融
時の表面張力により前記第1の高さよりも高い第2の高
さに延びた、前記第2の実装ランド上の導電材料とから
なる集積回路パッケイジ実装基板であり、これにより上
記目的が達成される。
【0010】前記第2のリードは、前記集積回路パッケ
イジの複数のリードのうちの端に位置する端部リードで
あってもよい。
イジの複数のリードのうちの端に位置する端部リードで
あってもよい。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、添付の図面を参照して、本
発明の実施の形態を説明する。
発明の実施の形態を説明する。
【0012】図1は、本発明の集積回路パッケイジの実
装方法により製造された集積回路パッケイジ実装基板1
00を示す。図1の(a)は、集積回路パッケイジ実装
基板100の斜視図である。集積回路パッケイジ実装基
板100は、集積回路パッケイジ10と基板30とから
構成される。集積回路パッケイジ10は、複数のICリ
ード12−n(n:整数)を有する。一方、基板30
は、複数の実装ランド32−n(n:整数)を有する。
集積回路パッケイジ実装基板100は、集積回路パッケ
イジ10のICリード12−n(n:整数)と、基板3
0の実装ランド32−n(n:整数)とを、溶融性導電
材料(例えば、はんだ)22−n(n:整数)を溶融
し、電気的にかつ物理的に強固に接続することにより製
造される。本明細書では、(はんだ等の導電材料で)電
気的にかつ物理的に強固に接続することを、以下単に
「接続する」という。なお、本願の図面では実装ランド
32−n(n:整数)を立体的に描いているが、これは
便宜的な記載である。実装ランド32−n(n:整数)
は、平面的な薄い金属箔等であってもよい。
装方法により製造された集積回路パッケイジ実装基板1
00を示す。図1の(a)は、集積回路パッケイジ実装
基板100の斜視図である。集積回路パッケイジ実装基
板100は、集積回路パッケイジ10と基板30とから
構成される。集積回路パッケイジ10は、複数のICリ
ード12−n(n:整数)を有する。一方、基板30
は、複数の実装ランド32−n(n:整数)を有する。
集積回路パッケイジ実装基板100は、集積回路パッケ
イジ10のICリード12−n(n:整数)と、基板3
0の実装ランド32−n(n:整数)とを、溶融性導電
材料(例えば、はんだ)22−n(n:整数)を溶融
し、電気的にかつ物理的に強固に接続することにより製
造される。本明細書では、(はんだ等の導電材料で)電
気的にかつ物理的に強固に接続することを、以下単に
「接続する」という。なお、本願の図面では実装ランド
32−n(n:整数)を立体的に描いているが、これは
便宜的な記載である。実装ランド32−n(n:整数)
は、平面的な薄い金属箔等であってもよい。
【0013】集積回路パッケイジ実装基板100におい
て、集積回路パッケイジ10の端部に位置する端部IC
リード12−1は、変形していると特定されたICリー
ドである。ここで「変形」とは、例えばICリードの一
部が上方に曲がり、基板30に対して、所定以上の接続
の信頼性を得るための平面的接触がない場合をいう。図
1の(b)は、ICリード12−n(n:整数)を正面
に見た集積回路パッケイジ実装基板100を示す。図示
されるように、集積回路パッケイジ実装基板100で
は、端部実装ランド32−1上のはんだ22−1の量
は、非端部実装ランド32−n(n:整数)上のはんだ
22−n(n:整数)の量よりも多い。このようにする
理由は、はんだ22−1が溶融した時に、その表面張力
により、非端部実装ランド32−n(n:整数)上のは
んだ22−n(n:整数)の高さよりも基板30に垂直
な方向に高く延びるようにして、上方に変形した端部I
Cリード12−1と確実に接続するためである。なお図
1では、集積回路パッケイジ10の端部ICリード12
−1と、同じ並びの反対側の端部ICリードも変形して
いるとして描かれているが、その数および位置は図示さ
れた場合に限られない。
て、集積回路パッケイジ10の端部に位置する端部IC
リード12−1は、変形していると特定されたICリー
ドである。ここで「変形」とは、例えばICリードの一
部が上方に曲がり、基板30に対して、所定以上の接続
の信頼性を得るための平面的接触がない場合をいう。図
1の(b)は、ICリード12−n(n:整数)を正面
に見た集積回路パッケイジ実装基板100を示す。図示
されるように、集積回路パッケイジ実装基板100で
は、端部実装ランド32−1上のはんだ22−1の量
は、非端部実装ランド32−n(n:整数)上のはんだ
22−n(n:整数)の量よりも多い。このようにする
理由は、はんだ22−1が溶融した時に、その表面張力
により、非端部実装ランド32−n(n:整数)上のは
んだ22−n(n:整数)の高さよりも基板30に垂直
な方向に高く延びるようにして、上方に変形した端部I
Cリード12−1と確実に接続するためである。なお図
1では、集積回路パッケイジ10の端部ICリード12
−1と、同じ並びの反対側の端部ICリードも変形して
いるとして描かれているが、その数および位置は図示さ
れた場合に限られない。
【0014】変形した端部ICリード12−1を含むI
Cリード12−n(n:整数)を基板30の実装ランド
32−n(n:整数)に接続するための手順は、大き
く、はんだ供給プロセス(図2)と、はんだ溶融プロセ
ス(図3)とに分けられる。以下、これらのプロセスを
順に説明する。
Cリード12−n(n:整数)を基板30の実装ランド
32−n(n:整数)に接続するための手順は、大き
く、はんだ供給プロセス(図2)と、はんだ溶融プロセ
ス(図3)とに分けられる。以下、これらのプロセスを
順に説明する。
【0015】図2は、実装ランド32−n(n:整数)
上に供給されたはんだ22−n(n:整数)と、対応す
る集積回路パッケイジ10のICリード12−n(n:
整数)とを示す。図示されるように、および図1の
(b)を参照して説明したように、はんだ22−n
(n:整数)のうち、変形した端部ICリード12−1
に対応するはんだ22−1の量は、他のはんだ22−n
(n:整数)よりも多い。
上に供給されたはんだ22−n(n:整数)と、対応す
る集積回路パッケイジ10のICリード12−n(n:
整数)とを示す。図示されるように、および図1の
(b)を参照して説明したように、はんだ22−n
(n:整数)のうち、変形した端部ICリード12−1
に対応するはんだ22−1の量は、他のはんだ22−n
(n:整数)よりも多い。
【0016】はんだを供給する位置および供給する量の
調整は、所望の位置および大きさに孔があけられた薄板
(図示せず)を利用したはんだ印刷技術を利用すること
により実現できる。すなわち、はんだを供給したい実装
ランド32−n(n:整数)に孔が重なるよう薄板の位
置を調整し、薄板の上にペースト状のはんだを載せた
後、そのペースト状のはんだをへら等でなでる。その結
果、孔からペースト状のはんだが押し出され、実装ラン
ド32−n(n:整数)状にはんだが供給される。それ
ぞれの孔の大きさおよび位置を個々に調整することによ
り、任意の位置の実装ランドに所望の量のはんだを供給
できる。以上のようにして、図2に示すように、はんだ
22−n(n:整数)の量が調整される。
調整は、所望の位置および大きさに孔があけられた薄板
(図示せず)を利用したはんだ印刷技術を利用すること
により実現できる。すなわち、はんだを供給したい実装
ランド32−n(n:整数)に孔が重なるよう薄板の位
置を調整し、薄板の上にペースト状のはんだを載せた
後、そのペースト状のはんだをへら等でなでる。その結
果、孔からペースト状のはんだが押し出され、実装ラン
ド32−n(n:整数)状にはんだが供給される。それ
ぞれの孔の大きさおよび位置を個々に調整することによ
り、任意の位置の実装ランドに所望の量のはんだを供給
できる。以上のようにして、図2に示すように、はんだ
22−n(n:整数)の量が調整される。
【0017】実装ランド32−n(n:整数)上にはん
だ22−n(n:整数)が供給されると、次はICリー
ド12−n(n:整数)が位置決めされて載置される。
そして、例えばリフローソルダリングによりはんだを溶
融させる。図3は、溶融したはんだ22−1で接続され
た、変形した端部ICリード12−1と端部実装ランド
32−1とを示す。上述のように、端部実装ランド32
−1には比較的多くのはんだ22−1が供給されている
ので、リフローソルダリングにより加熱処理すると、は
んだ22−1は端部実装ランド32−1上で溶融する。
溶融したはんだ22−1は、その表面張力により端部実
装ランド32−1から流れ出ることなく、かつ基板30
に垂直な方向に所定の高さを有する状態になり、接続に
十分な面積で端部ICリード12−1と接する。このと
きの高さは、他の実装ランド32−n(n:整数)で溶
融したはんだの高さよりも高い。そしてはんだ22−1
が冷却されると、基板に垂直な方向に比較的高く延びた
状態で固まる。その結果、ICリード12−n(n:整
数)(図2)と実装ランド32−n(n:整数)(図
2)とが電気的にかつ物理的に強固に接続される。な
お、ここでいう「物理的に強固に」とは、例えば、変形
したICリード12−1の下面全体のみならず、上面全
体を覆う程度にはんだ22−1が変形したICリード1
2−1に接触する場合を含んでもよい。再び図2を参照
して、非端部ICリード12−n(n:整数)と非端部
実装ランド32−n(n:整数)との間も、一般的なは
んだ付けが行われ、相互が接続される。このようにはん
だ付けして集積回路パッケイジ10と基板30とを接続
することにより、集積回路パッケイジ10は、引出配線
34−n(n:整数)を介して基板30の他の要素等と
信号を授受できる。
だ22−n(n:整数)が供給されると、次はICリー
ド12−n(n:整数)が位置決めされて載置される。
そして、例えばリフローソルダリングによりはんだを溶
融させる。図3は、溶融したはんだ22−1で接続され
た、変形した端部ICリード12−1と端部実装ランド
32−1とを示す。上述のように、端部実装ランド32
−1には比較的多くのはんだ22−1が供給されている
ので、リフローソルダリングにより加熱処理すると、は
んだ22−1は端部実装ランド32−1上で溶融する。
溶融したはんだ22−1は、その表面張力により端部実
装ランド32−1から流れ出ることなく、かつ基板30
に垂直な方向に所定の高さを有する状態になり、接続に
十分な面積で端部ICリード12−1と接する。このと
きの高さは、他の実装ランド32−n(n:整数)で溶
融したはんだの高さよりも高い。そしてはんだ22−1
が冷却されると、基板に垂直な方向に比較的高く延びた
状態で固まる。その結果、ICリード12−n(n:整
数)(図2)と実装ランド32−n(n:整数)(図
2)とが電気的にかつ物理的に強固に接続される。な
お、ここでいう「物理的に強固に」とは、例えば、変形
したICリード12−1の下面全体のみならず、上面全
体を覆う程度にはんだ22−1が変形したICリード1
2−1に接触する場合を含んでもよい。再び図2を参照
して、非端部ICリード12−n(n:整数)と非端部
実装ランド32−n(n:整数)との間も、一般的なは
んだ付けが行われ、相互が接続される。このようにはん
だ付けして集積回路パッケイジ10と基板30とを接続
することにより、集積回路パッケイジ10は、引出配線
34−n(n:整数)を介して基板30の他の要素等と
信号を授受できる。
【0018】以上、変形した端部ICリード12−1を
含むICリード12−n(n:整数)を基板30の実装
ランド32−n(n:整数)に接続するための手順を説
明した。なお、はんだを供給する位置については、IC
リード12−n(n:整数)の間隔に応じて以下のよう
に調整する。端部ICリード12−1とその隣のICリ
ード(12−2)との間隔をa1とし、ICリード12
−nと12−(n+1)との間隔をa2とする。間隔a1
およびa2が比較的広い場合(例えば1mmの場合)に
は、はんだを供給する間隔b1およびb2の間には、特に
満たすべき関係は特になく、例えば、b1<b2であって
もよい。一方、間隔a1および間隔a2が比較的狭い場合
(例えば0.3〜0.4mmの場合)には、はんだを供
給する間隔b1およびb2は、b1=b2さらにはb1>b2
であることが好ましい。これは、本発明では端部実装ラ
ンド32−1上に供給するはんだの量を比較的多くした
ので、隣のICリードと電気的に接続されるはんだブリ
ッジが生じるおそれがあるからである。
含むICリード12−n(n:整数)を基板30の実装
ランド32−n(n:整数)に接続するための手順を説
明した。なお、はんだを供給する位置については、IC
リード12−n(n:整数)の間隔に応じて以下のよう
に調整する。端部ICリード12−1とその隣のICリ
ード(12−2)との間隔をa1とし、ICリード12
−nと12−(n+1)との間隔をa2とする。間隔a1
およびa2が比較的広い場合(例えば1mmの場合)に
は、はんだを供給する間隔b1およびb2の間には、特に
満たすべき関係は特になく、例えば、b1<b2であって
もよい。一方、間隔a1および間隔a2が比較的狭い場合
(例えば0.3〜0.4mmの場合)には、はんだを供
給する間隔b1およびb2は、b1=b2さらにはb1>b2
であることが好ましい。これは、本発明では端部実装ラ
ンド32−1上に供給するはんだの量を比較的多くした
ので、隣のICリードと電気的に接続されるはんだブリ
ッジが生じるおそれがあるからである。
【0019】微細化されたICリード12−n(n:整
数)をはんだ付けする場合には、例えば、端部実装ラン
ド32−1上の隣の実装ランド32−2とは反対側の位
置に、より多くのはんだ22−1を供給すればよい。こ
れにより、はんだ印刷を行った時点でのはんだブリッジ
発生の可能性が低く抑えられる。さらに、リフローソル
ダリングによるはんだ溶融させた後においてもはんだブ
リッジ発生の可能性は低く抑えられる。その理由は以下
のとおりである。端部ICリード12−1が例えば上方
に変形している場合、端部ICリード12−1の下面全
体と端部実装ランド32−1との間を接続するはんだ2
2−1の量は、変形していないICリード12−n
(n:整数)とそれと対応する実装ランド32−n
(n:整数)との間を接続するはんだ22−n(n:整
数)の量よりも多く必要となる。したがってはんだ22
−1を多く供給しても、はんだ22−1は端部ICリー
ド12−1の下面全体と端部実装ランド32−1との間
を接続するのに利用され、はんだブリッジを発生させる
ほど過剰な量ではない。供給するはんだ22−1の量
は、ICリードの変形の程度および溶融後にはんだブリ
ッジが生じない範囲で適宜変更すればよい。
数)をはんだ付けする場合には、例えば、端部実装ラン
ド32−1上の隣の実装ランド32−2とは反対側の位
置に、より多くのはんだ22−1を供給すればよい。こ
れにより、はんだ印刷を行った時点でのはんだブリッジ
発生の可能性が低く抑えられる。さらに、リフローソル
ダリングによるはんだ溶融させた後においてもはんだブ
リッジ発生の可能性は低く抑えられる。その理由は以下
のとおりである。端部ICリード12−1が例えば上方
に変形している場合、端部ICリード12−1の下面全
体と端部実装ランド32−1との間を接続するはんだ2
2−1の量は、変形していないICリード12−n
(n:整数)とそれと対応する実装ランド32−n
(n:整数)との間を接続するはんだ22−n(n:整
数)の量よりも多く必要となる。したがってはんだ22
−1を多く供給しても、はんだ22−1は端部ICリー
ド12−1の下面全体と端部実装ランド32−1との間
を接続するのに利用され、はんだブリッジを発生させる
ほど過剰な量ではない。供給するはんだ22−1の量
は、ICリードの変形の程度および溶融後にはんだブリ
ッジが生じない範囲で適宜変更すればよい。
【0020】なお、はんだブリッジが生じないようにす
る方策として、実装ランド間にはんだ流出防止用の微小
な壁を設けてもよい。微小な壁は、例えば実装ランド間
に、はんだをはじくソルダーレジストを厚めに塗布する
ことにより、また適当な絶縁材料を配置することにより
得ることができる。はんだ印刷を行う前であれば、微小
な壁の高さは、はんだ印刷ができる程度にする必要があ
る。はんだ印刷用の孔があけられた薄板(図示せず)が
微小な壁につかえてしまい、はんだ印刷ができなくなる
からである。
る方策として、実装ランド間にはんだ流出防止用の微小
な壁を設けてもよい。微小な壁は、例えば実装ランド間
に、はんだをはじくソルダーレジストを厚めに塗布する
ことにより、また適当な絶縁材料を配置することにより
得ることができる。はんだ印刷を行う前であれば、微小
な壁の高さは、はんだ印刷ができる程度にする必要があ
る。はんだ印刷用の孔があけられた薄板(図示せず)が
微小な壁につかえてしまい、はんだ印刷ができなくなる
からである。
【0021】以上、本発明の実施の形態を説明した。本
発明では、変形したICリードは端部ICリード12−
1であるとしたが、必ずしも端部ICリードに限られ
ず、非端部ICリードであってもよい。
発明では、変形したICリードは端部ICリード12−
1であるとしたが、必ずしも端部ICリードに限られ
ず、非端部ICリードであってもよい。
【0022】
【発明の効果】本発明によれば、変形したICリードを
はんだ付けする際に、より多くのはんだを実装ランドに
供給する。これにより、溶融時の表面張力により、他の
実装ランドのはんだよりも基板に垂直な方向に高く延び
たはんだが得られ、それにより変形したICリードを実
装ランドに強固に接続できる。
はんだ付けする際に、より多くのはんだを実装ランドに
供給する。これにより、溶融時の表面張力により、他の
実装ランドのはんだよりも基板に垂直な方向に高く延び
たはんだが得られ、それにより変形したICリードを実
装ランドに強固に接続できる。
【0023】変形したICリードを端部リードとするこ
とで、従来から変形の生じやすい端部リードと実装ラン
ドとが強固に接続できる。
とで、従来から変形の生じやすい端部リードと実装ラン
ドとが強固に接続できる。
【0024】変形した端部ICリードと接続される実装
ランド上に、隣の実装ランドの位置とは反対側の位置
に、より多くの導電材料を供給することで、はんだ供給
を行った時点およびリフローソルダリングによるはんだ
溶融させた後において、はんだブリッジ発生の可能性は
低く抑えられる。
ランド上に、隣の実装ランドの位置とは反対側の位置
に、より多くの導電材料を供給することで、はんだ供給
を行った時点およびリフローソルダリングによるはんだ
溶融させた後において、はんだブリッジ発生の可能性は
低く抑えられる。
【図1】 本発明の集積回路パッケイジの実装方法によ
り製造された集積回路パッケイジ実装基板を示す。
り製造された集積回路パッケイジ実装基板を示す。
【図2】 実装ランド上に供給されたはんだと、対応す
る集積回路パッケイジのICリードとを示す。
る集積回路パッケイジのICリードとを示す。
【図3】 溶融したはんだで接続された、変形した端部
ICリードと端部実装ランドとを示す。
ICリードと端部実装ランドとを示す。
【図4】 実装ランド上に供給されたはんだと、対応す
る集積回路パッケイジのICリードとを示す。
る集積回路パッケイジのICリードとを示す。
【図5】 はんだで接続された、変形した端部ICリー
ドと端部実装ランドとを示す。
ドと端部実装ランドとを示す。
10 集積回路パッケイジ、 12−1 端部ICリー
ド、 12−n 非端部ICリード、 22−1 はん
だ、 22−n はんだ、 32−1 端部実装ラン
ド、 32−n 実装ランド、 30 基板、 100
集積回路パッケイジ実装基板
ド、 12−n 非端部ICリード、 22−1 はん
だ、 22−n はんだ、 32−1 端部実装ラン
ド、 32−n 実装ランド、 30 基板、 100
集積回路パッケイジ実装基板
Claims (5)
- 【請求項1】 集積回路パッケイジの変形していない第
1のリードおよび変形している第2のリードを、それぞ
れ基板上の第1の実装ランドおよび第2の実装ランドに
接続する集積回路パッケイジの実装方法において、 実装ランド上に導電材料を供給するステップであって、
前記第2の実装ランドには、前記第1の実装ランドより
も多量の導電材料を供給するステップと、 供給された導電材料を溶融してリードと実装ランドとを
接続するステップであって、前記第1の実装ランド上で
溶融した導電材料は、前記基板に垂直な方向に第1の高
さに延びて前記第1のリードおよび前記第1の実装ラン
ドを接続し、前記第2の実装ランド上で溶融した導電材
料は、表面張力により前記第1の高さよりも高い第2の
高さに延びて前記第2のリードおよび前記第2の実装ラ
ンドを接続するステップとからなる、集積回路パッケイ
ジの実装方法。 - 【請求項2】 前記第2のリードは、前記集積回路パッ
ケイジの複数のリードのうちの端に位置する端部リード
である、請求項1に記載の集積回路パッケイジの実装方
法。 - 【請求項3】 第2の実装ランド上に導電材料を供給す
る前記ステップは、前記第1の実装ランドの位置とは反
対側の位置に、より多くの導電材料を供給するステップ
である、請求項2に記載の集積回路パッケイジの実装方
法。 - 【請求項4】 変形していない第1のリードおよび変形
している第2のリードを備えた集積回路パッケイジと、 第1の実装ランドおよび第2の実装ランドを備えた基板
と、 前記基板に垂直な方向に第1の高さを有し、第1のリー
ドおよび第1の実装ランドを接続する、第1の実装ラン
ド上の導電材料と、 第2のリードおよび第2の実装ランドを接続する、前記
導電材料よりも多量の導電材料であって、溶融時の表面
張力により前記第1の高さよりも高い第2の高さに延び
た、前記第2の実装ランド上の導電材料とからなる、集
積回路パッケイジ実装基板。 - 【請求項5】 前記第2のリードは、前記集積回路パッ
ケイジの複数のリードのうちの端に位置する端部リード
である、請求項4に記載の集積回路パッケイジ実装基
板。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000222478A JP2002043730A (ja) | 2000-07-24 | 2000-07-24 | 集積回路パッケイジの実装方法および集積回路パッケイジ実装基板 |
US09/772,891 US6441477B2 (en) | 2000-07-24 | 2001-01-31 | Substrate mounting an integrated circuit package with a deformed lead |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000222478A JP2002043730A (ja) | 2000-07-24 | 2000-07-24 | 集積回路パッケイジの実装方法および集積回路パッケイジ実装基板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002043730A true JP2002043730A (ja) | 2002-02-08 |
Family
ID=18716713
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000222478A Pending JP2002043730A (ja) | 2000-07-24 | 2000-07-24 | 集積回路パッケイジの実装方法および集積回路パッケイジ実装基板 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6441477B2 (ja) |
JP (1) | JP2002043730A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005103093A (ja) * | 2003-09-30 | 2005-04-21 | Olympus Corp | 挿入形状検出プローブ |
US7850605B2 (en) | 2003-09-30 | 2010-12-14 | Olympus Corporation | Inserting shape detecting probe |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8638535B2 (en) * | 2011-01-10 | 2014-01-28 | Hamilton Sundstrand Corporation | Vertical mount transient voltage suppressor array |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5041901A (en) * | 1989-05-10 | 1991-08-20 | Hitachi, Ltd. | Lead frame and semiconductor device using the same |
JPH0831681B2 (ja) | 1990-05-09 | 1996-03-27 | 富士通株式会社 | プリント基板 |
JPH0563132A (ja) * | 1991-09-03 | 1993-03-12 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体パツケージにおけるリード形状 |
US5291375A (en) * | 1991-09-30 | 1994-03-01 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Printed circuit board and electric device configured to facilitate bonding |
JPH05343593A (ja) * | 1992-06-11 | 1993-12-24 | Nec Corp | 接続端子 |
JPH06169153A (ja) | 1992-11-30 | 1994-06-14 | Ibiden Co Ltd | プリント配線板 |
JPH06232317A (ja) * | 1993-01-29 | 1994-08-19 | Toshiba Corp | 多端子電子部品とその製造方法 |
US5367124A (en) * | 1993-06-28 | 1994-11-22 | International Business Machines Corporation | Compliant lead for surface mounting a chip package to a substrate |
US5455446A (en) * | 1994-06-30 | 1995-10-03 | Motorola, Inc. | Leaded semiconductor package having temperature controlled lead length |
US5708056A (en) * | 1995-12-04 | 1998-01-13 | Delco Electronics Corporation | Hot melt epoxy encapsulation material |
JP3130784B2 (ja) * | 1995-12-28 | 2001-01-31 | アルプス電気株式会社 | 電子部品の端子構造 |
-
2000
- 2000-07-24 JP JP2000222478A patent/JP2002043730A/ja active Pending
-
2001
- 2001-01-31 US US09/772,891 patent/US6441477B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005103093A (ja) * | 2003-09-30 | 2005-04-21 | Olympus Corp | 挿入形状検出プローブ |
US7850605B2 (en) | 2003-09-30 | 2010-12-14 | Olympus Corporation | Inserting shape detecting probe |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20020008313A1 (en) | 2002-01-24 |
US6441477B2 (en) | 2002-08-27 |
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