JP2001304816A5 - - Google Patents

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  1. レーザ反射光による粒状斑点模様の直接撮像方法であって、被計測物にレーザ光を照射し、被計測物の粗面に基づきレーザ反射光である粒状斑点模様を、市販のビデオカメラの結像用レンズを取り外し、ＣＣＤ素子（ＣＨＡＲＧＥ ＣＯＵＰＬＥＤ ＤＥＶＩＣＥ）の前方に外来光を遮断する暗視筒を装着することにより、一般事務所程度の環境下において、直接撮像することができるレーザ反射光による粒状斑点模様の直接撮像方法。
  2. レーザ反射光による粒状斑点模様の直接撮像方法にあって、被計測物にレーザ光を照射し、被計測物の粗面に基づきレーザ反射光である粒状斑点模様を、市販のビデオカメラの結像用レンズを取り外し、ＣＣＤ素子の前方に外来光を遮断する暗視筒を装着することにより、一般事務所程度の環境下において、直接撮像することができるレーザ反射光による粒状斑点模様の直接撮像装置。
  3. 非接触で移動量を測定する方法であって、被計測物にレーザ光を照射し、その反射光である粒状斑点模様を標識として光学的に直接撮像し、かつ、該認識画素に対応させて粒状斑点模様の移動から移動量を演算し、演算結果を移動量測定数値として表示出力させてなることを特徴とするレーザ反射光による粒状斑点模様を利用した平面および前後移動量の測定方法。
  4. 非接触で移動量を測定する方法にあって、被計測物表面の粗面に対応する粒状斑点模様を描かせるレーザ投光機と、前記粒状斑点模様を標識として直接撮像するラインセンサーと、ラインセンサーからのアナログ信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換機と、Ａ／Ｄ変換したディジタル信号からラインセンサーの画素間隔に対応させて粒状斑点の移動から移動量を算出する演算処理装置と、演算処理装置による移動量を表示出力する表示出力装置と、からなることを特徴とするレーザ光を利用した粒状斑点模様による平面および前後移動量の測定装置。
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DE60135602T DE60135602D1 (de) 2000-04-26 2001-04-19 Verfahren und Vorrichtung zur Bewegungsmessung unter Verwendung eines von einem reflektierten Laserstrahl stammenden körnigen Fleckenmusters
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Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001304816A (ja) 2000-04-26 2001-10-31 Kenichiro Kobayashi レーザ反射光による粒状斑点模様を利用した移動量測定方式とその装置
JP2002162355A (ja) * 2000-11-27 2002-06-07 Hiroyuki Konno レーザ反射光による粒状斑点模様の直接撮像方法とその装置
KR20030080162A (ko) * 2002-04-06 2003-10-11 김희식 촬상소자 센서를 이용한 실시간 구조물 변위 계측기
US7364081B2 (en) * 2003-12-02 2008-04-29 Hand Held Products, Inc. Method and apparatus for reading under sampled bar code symbols
US7825972B2 (en) * 2004-10-08 2010-11-02 Cooper Allan J Processing method device and system to produce a focused image signal from an unfocused image
CN1300548C (zh) * 2005-03-23 2007-02-14 天津大学 基于共面标定参照物的线结构光传感器快速标定方法
JP4914039B2 (ja) * 2005-07-27 2012-04-11 キヤノン株式会社 情報処理方法および装置
JP2007064864A (ja) * 2005-09-01 2007-03-15 Toyo Seiki Seisakusho:Kk 歪み計測方法、歪み計測装置
JP2007170955A (ja) 2005-12-21 2007-07-05 Nagasaki Univ 変位／ひずみ計測方法及び変位／ひずみ計測装置
FI20065063A0 (fi) * 2006-01-30 2006-01-30 Visicamet Oy Menetelmä ja mittalaite mitata pinnan siirtymä
JP2008304190A (ja) * 2007-06-05 2008-12-18 Toyo Seiki Seisakusho:Kk レーザ反射光による被計測物の高精度変位計測方法とその装置
US9344736B2 (en) 2010-09-30 2016-05-17 Alcatel Lucent Systems and methods for compressive sense imaging
US20130201297A1 (en) * 2012-02-07 2013-08-08 Alcatel-Lucent Usa Inc. Lensless compressive image acquisition
KR102107345B1 (ko) 2019-12-11 2020-05-06 조성민 코킹 및 궤적연습용 골프 스윙 연습기
CN111854623B (zh) * 2020-07-29 2022-02-11 南京工程学院 一种物体微小形变的快速检测方法及检测系统
CN111856480B (zh) * 2020-07-29 2023-11-10 南京工程学院 一种设备位移快速检测方法及检测系统
KR20240028826A (ko) 2022-08-25 2024-03-05 (주)디엠비에이치 2개의 imu센서를 이용한 스윙연습기

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5219557Y2 (ja) * 1971-03-31 1977-05-06
US4591996A (en) * 1981-05-18 1986-05-27 Vachon Reginald I Apparatus and method for determining stress and strain in pipes, pressure vessels, structural members and other deformable bodies
US4621063A (en) 1982-10-12 1986-11-04 The Center For Immunological Studies Methods for the detection and quantitation of immunological substances
US4794384A (en) 1984-09-27 1988-12-27 Xerox Corporation Optical translator device
US4798469A (en) * 1985-10-02 1989-01-17 Burke Victor B Noncontact gage system utilizing reflected light
US4824250A (en) * 1986-11-17 1989-04-25 Newman John W Non-destructive testing by laser scanning
JPH0421255A (ja) * 1990-05-16 1992-01-24 Canon Inc カラー画像読取装置
JPH05288516A (ja) * 1992-04-07 1993-11-02 Honda Motor Co Ltd 非接触式位置検出装置
JP2519375B2 (ja) * 1992-08-18 1996-07-31 新日本製鐵株式会社 レ―ザ距離計を用いた厚さ測定装置
FR2701762B1 (fr) 1993-02-19 1995-05-24 Centre Nat Etd Spatiales Dispositif de restitution d'orbite de corps célestes, notamment de satellites artificiels, par écartométrie.
US5343287A (en) 1993-04-05 1994-08-30 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Integrated atmospheric transverse coherence length/laser radiation angle-of-arrival measurement system
JP2681745B2 (ja) * 1993-10-08 1997-11-26 岸本産業株式会社 レーザ光を利用したスペックルパターンによる被計測物の上下および横移動量の測定方法。
US6097477A (en) * 1994-05-27 2000-08-01 American Research Corporation Of Virginia Laser speckle strain and deformation sensor using linear array image cross-correlation method for specifically arranged triple-beam triple-camera configuration
US5633714A (en) * 1994-12-19 1997-05-27 International Business Machines Corporation Preprocessing of image amplitude and phase data for CD and OL measurement
JP3029238B2 (ja) * 1995-08-08 2000-04-04 岸本産業株式会社 レーザ光を用いた被計測物の遠近方向の移動量測定方法
US5694480A (en) * 1995-08-30 1997-12-02 Tsukishima Kikai Co., Ltd. Molten slag flow rate measuring device and furnace facilities using the same
SG52900A1 (en) * 1996-01-08 1998-09-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd Mounting apparatus of electronic components and mounting methods of the same
DE19620419A1 (de) * 1996-05-21 1997-11-27 Ettemeyer Gmbh & Co Mes Und Pr Verfahren zur berührungslosen und markierungsfreien Messung von Verschiebungen
DE19739679A1 (de) 1996-09-18 1998-10-01 Univ Ilmenau Tech Streulichtsensor
EP1249705A3 (en) * 1996-12-31 2003-11-05 Genometrix Genomics Incorporated Multiplexed molecular analysis apparatus and its fabrication method
DE69806952T2 (de) * 1997-05-16 2002-11-21 Forskningsct Riso Roskilde Speckle verfahren und apparatur zur bestimmung von winkelverschiebung, oberflächenverschiebung und torsion
JP3867389B2 (ja) 1998-03-05 2007-01-10 フジノン株式会社 カメラのエクステンダー装置
US6424407B1 (en) * 1998-03-09 2002-07-23 Otm Technologies Ltd. Optical translation measurement
JP2961413B1 (ja) * 1998-04-16 1999-10-12 岸本産業株式会社 レーザ投影法による計測器から被計測物までの非接触による前後移動距離計測方法
DE19817664A1 (de) 1998-04-21 1999-11-04 Peter Lehmann Verfahren und Vorrichtung zur Rauheitsmessung an technischen Oberflächen bei Beleuchtung mit einem Specklemuster
KR100296668B1 (ko) * 1998-06-01 2001-10-26 윤종용 웨이퍼검사장비및이를이용한웨이퍼검사방법
US6262818B1 (en) * 1998-10-07 2001-07-17 Institute Of Applied Optics, Swiss Federal Institute Of Technology Method for simultaneous amplitude and quantitative phase contrast imaging by numerical reconstruction of digital holograms
JP2001304816A (ja) * 2000-04-26 2001-10-31 Kenichiro Kobayashi レーザ反射光による粒状斑点模様を利用した移動量測定方式とその装置

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