JP2001227384A - エンジンの排気浄化装置 - Google Patents
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Abstract
ても目標値に生じるバラツキを抑制して空燃比制御精度
を向上させる。 【解決手段】 空燃比制御条件の成立時に、そのときの
触媒酸素保持量が目標値となるように制御手段23がエ
ンジンの空燃比を制御する。触媒下流の空燃比がストイ
キの近傍にある場合において、触媒上流の空燃比がリッ
チのとき触媒酸素脱離量を、また触媒上流の空燃比がリ
ーンのとき触媒酸素吸収量を演算手段25、26が演算
し、触媒下流の空燃比がストイキからリッチに変化する
ときの前記触媒酸素脱離量を最大触媒酸素脱離量とし
て、また触媒下流の空燃比がストイキからリーンに変化
するときの前記触媒酸素吸収量を最大触媒酸素吸収量と
してサンプリング手段27、28がサンプリングし、こ
れら2つの最大値の平均値に基づいて前記目標値を演算
手段30が演算する。
Description
化装置に関する。
Oxを三元触媒(以下単に「触媒」という)により同時
に浄化するには触媒の雰囲気を理論空燃比(以下単に
「ストイキ」という)にしなければならないので、触媒
の雰囲気がストイキの酸素濃度状態となるように、不足
する酸素を吸収したり過剰な酸素を脱離する、いわゆる
酸素ストレージ能力を触媒に持たせている。この結果、
たとえば酸素を保持(吸収)していない状態の触媒に対
して、ストイキよりリーン(以下単に「リーン」とい
う)の排気を与えると、過剰分の酸素が瞬時に触媒内に
吸収されるため、触媒の酸素保持量が飽和するまでは触
媒雰囲気がストイキに保たれる。この逆に、酸素を保持
した状態の触媒に対して、ストイキよりリッチ(以下単
に「リッチ」という)の排気を与えると、触媒内の酸素
が瞬時に脱離されて、雰囲気中に不足していた酸素が補
われる。そのため、触媒に保持されていた酸素が全て脱
離するまでは触媒雰囲気がストイキに保たれる。
っているため、一時的な空燃比のずれから生じる酸素の
過不足を触媒が補って触媒雰囲気をストイキに保つこと
ができるのである。換言すると、触媒の酸素保持量が飽
和量に達したり、触媒が酸素を保持していない状態とな
ったりしてしまうと、HC、CO、NOxを浄化できな
くなり、排気エミッションが悪化する。
して排気エミッションの悪化を防止するため、所定時間
当たりに触媒へ流入する過不足酸素量を計算し、この所
定時間当たりの値に基づいて触媒酸素保持量を求め、こ
の触媒酸素保持量が、触媒酸素保持量の目標値と一致す
るようにフィードバック制御を行うようにしたものが提
案されている(特開平5−195842号公報、同7−
259602号公報参照)。
よれば、触媒下流の排気空燃比がリーンを示したタイミ
ングでの触媒酸素保持量を最大触媒酸素保持量としてサ
ンプリングし、この最大触媒酸素保持量の1/2を目標
値とする構成であるため、触媒の上流や下流の排気空燃
比を検出するセンサのバラツキあるいはそれ以外の空燃
比制御のバラツキの影響を受けて上記触媒酸素保持量の
目標値にも大きなバラツキが生じ、目標値を最適に設定
することができない。
明すると、触媒下流のO2センサ出力はラムダコントロ
ール中は定常時でも図示のように波打って変化し、O2
センサ出力がスライスレベルLSLとRSL(LSL<
RSL)の間にあるとき(たとえばt1〜t2およびt
3〜t4の2つの区間)、触媒下流の排気空燃比がスト
イキにあると判定される。しかしながら、2つの区間で
触媒上流の空燃比は異なっている。すなわち、t1〜t
2の区間は触媒上流の排気空燃比がリッチ、これに対し
てt3〜t4の区間は触媒上流の排気空燃比がリーンで
ある。なお、O 2センサ出力がLSL未満であるとき触
媒下流の排気空燃比がリーンであると、O2センサ出力
がRSL以上であるとき触媒下流の排気空燃比がリッチ
であるとそれぞれ判定されることはいうまでもない。
より図示のものはt1〜t2の区間に対してt3〜t4
の区間のほうが長くなっている。このとき、このもので
はバラツキのないO2センサよりもリーンを示すタイミ
ングが遅れることになるため、従来装置によれば実際の
値より大きな値が最大触媒酸素保持量として演算され、
目標値が最適値より大きい側にずれてしまう。この逆
に、O2センサのバラツキにより図示しないがt1〜t
2の区間に対してt3〜t4の区間のほうが短いときに
は、バラツキのないO2センサよりもリーンを示すタイ
ミングが早まることになり、従来装置によれば実際の値
より小さな値が最大触媒酸素保持量として演算され、目
標値が最適値より小さい側にずれる。
て述べたが、t1〜t2にバラツキが生じる場合も同様
である。
ストイキの近傍にある場合に、触媒上流の排気空燃比が
リーンのとき(t3〜t4の区間)とリッチのとき(t
1〜t2の区間)とで別々に最大値(触媒上流の排気空
燃比がリーンの状態では触媒酸素脱離量の最大値、触媒
上流の排気空燃比がリッチの状態では触媒酸素吸収量の
最大値)を演算し、その平均値に基づいて目標値を設定
することにより、空燃比センサや空燃比制御にバラツキ
があっても目標値に生じるバラツキを抑制して空燃比制
御精度を向上させることを目的とする。
示すように、エンジンの排気通路に配設された酸素保持
能力を有する触媒21と、前記触媒21下流の排気空燃
比がストイキの近傍であるとき、触媒上流の所定時間当
たりの過不足酸素量に基づいて触媒酸素保持量を演算す
る手段22と、空燃比制御条件の成立時に、そのときの
触媒酸素保持量が目標値となるようにエンジンの空燃比
を制御する手段23とを備えるエンジンの排気浄化装置
において、前記目標値を設定する手段24が、前記触媒
21下流の排気空燃比がストイキの近傍にありかつ触媒
21上流の排気空燃比がリッチのとき、触媒酸素脱離量
を演算する手段25と、前記触媒21下流の排気空燃比
がストイキの近傍にありかつ触媒21上流の排気空燃比
がリーンのとき、触媒酸素吸収量を演算する手段26
と、前記触媒21下流の排気空燃比がストイキからリッ
チに変化するときの前記触媒酸素脱離量を最大触媒酸素
脱離量としてサンプリングする手段27と、前記触媒2
1下流の排気空燃比がストイキからリーンに変化すると
きの前記触媒酸素吸収量を最大触媒酸素吸収量としてサ
ンプリングする手段28と、これら2つの最大触媒酸素
脱離量と最大触媒酸素吸収量の平均値を演算する手段2
9と、この平均値に基づいて前記目標値を演算する手段
30とからなる。
ジンの排気通路に配設された酸素保持能力を有する触媒
であって酸素吸収または酸素脱離の速度が速い成分と遅
い成分の少なくとも2つの成分を含む触媒41と、前記
触媒41下流の排気空燃比がストイキの近傍であると
き、触媒上流の所定時間当たりの過不足酸素量に基づい
て酸素吸収または酸素脱離の速度が速い成分による触媒
酸素保持量HOSCnを演算する手段42と、空燃比制
御条件の成立時に、そのときの前記酸素吸収または酸素
脱離の速度が速い成分による触媒酸素保持量HOSCn
が前記酸素吸収または酸素脱離の速度が速い成分のみに
対する目標値となるようにエンジンの空燃比を制御する
手段43とを備え、前記目標値を設定する手段44が、
前記触媒41下流の排気空燃比がストイキの近傍にあり
かつ触媒41上流の排気空燃比がリッチのとき、前記酸
素吸収または酸素脱離の速度が速い成分による触媒酸素
脱離量HOSCRnを演算する手段45と、前記触媒4
1下流の排気空燃比がストイキの近傍にありかつ触媒4
1上流の排気空燃比がリーンのとき、前記酸素吸収また
は酸素脱離の速度が速い成分による触媒酸素吸収量HO
SCLnを演算する手段46と、前記触媒41下流の排
気空燃比がストイキからリッチに変化するときの前記酸
素吸収または酸素脱離の速度が速い成分による触媒酸素
脱離量を酸素吸収または酸素脱離の速度が速い成分によ
る最大触媒酸素脱離量としてサンプリングする手段47
と、前記触媒41下流の排気空燃比がストイキからリー
ンに変化するときの前記酸素吸収または酸素脱離の速度
が速い成分による触媒吸収酸素量を酸素吸収または酸素
脱離の速度が速い成分による最大触媒酸素吸収量として
サンプリングする手段48と、これら最大触媒酸素脱離
量と最大触媒酸素吸収量の平均値を演算する手段49
と、この平均値に基づいて前記目標値を演算する手段5
0とからなる。
酸素吸収または酸素脱離の速度が速い成分が触媒金属で
ある。
酸素吸収または酸素脱離の速度が遅い成分が酸素吸収補
助剤である。
れか一つの発明において前記酸素吸収または酸素脱離の
速度が速い成分による触媒酸素脱離量を演算する手段4
5が酸素吸収または酸素脱離の速度が速い成分による所
定時間当たりの触媒酸素脱離量を積算する手段であり、
かつ前記酸素吸収または酸素脱離の速度が速い成分によ
る触媒酸素吸収量を演算する手段46が酸素吸収または
酸素脱離の速度が速い成分による所定時間当たりの触媒
酸素吸収量を積算する手段である。
酸素吸収または酸素脱離の速度が速い成分による所定時
間当たりの触媒酸素脱離量および前記酸素吸収または酸
素脱離の速度が速い成分による所定時間当たりの触媒酸
素吸収量が同一の固定値である。
酸素吸収または酸素脱離の速度が速い成分による所定時
間当たりの触媒酸素脱離量を前記触媒上流の所定時間当
たりの不足酸素量に基づいて、かつ前記酸素吸収または
酸素脱離の速度が速い成分による所定時間当たりの触媒
酸素吸収量を前記触媒上流の所定時間当たりの過剰酸素
量に基づいて演算する。
れか一つの発明において前記触媒上流の所定時間当たり
の過不足酸素量を検出するためのセンサ(たとえば広域
空燃比センサ)と、このセンサ出力に生じるシフトずれ
を補正する手段とを備え、このシフトずれの補正回数ま
たは補正値の積算値が所定値以上となったとき前記最大
触媒酸素脱離量と前記最大触媒酸素吸収量のサンプリン
グを許可しない。
れか一つの発明において前記触媒が活性状態にないとき
前記最大触媒酸素脱離量と前記最大触媒酸素吸収量のサ
ンプリングを許可しない。
サやO2センサ)のバラツキあるいはそれ以外の空燃比
制御のバラツキにより、触媒下流の排気空燃比がストイ
キの近傍にありかつ触媒上流の排気空燃比がリッチのと
きの区間と、触媒下流の排気空燃比がストイキの近傍に
ありかつ触媒上流の排気空燃比がリーンのときの区間と
の間に長さの違いが生じても、この2つの区間長さの違
いに対応して第1、第2の発明では触媒下流の排気空燃
比がストイキの近傍にありかつ触媒上流の排気空燃比が
リッチのときと触媒下流の排気空燃比がストイキの近傍
にありかつ触媒上流の排気空燃比がリーンのときとで別
々に最大値(触媒下流の排気空燃比がストイキの近傍に
ありかつ触媒上流の排気空燃比がリッチのときには最大
触媒酸素脱離量、触媒下流の排気空燃比がストイキの近
傍にありかつ触媒上流の排気空燃比がリーンのときには
最大触媒酸素吸収量)を演算し、その2つの最大値の平
均値に基づいて目標値を演算するようにしたので、空燃
比センサのバラツキやそれ以外の空燃比制御のバラツキ
に起因して、触媒下流の排気空燃比がストイキの近傍に
ありかつ触媒上流の排気空燃比がリッチのときの区間
と、触媒下流の排気空燃比がストイキの近傍にありかつ
触媒上流の排気空燃比がリーンのときの区間との間に長
さの相違があっても目標値のバラツキを抑制することが
でき、これによって空燃比制御精度を向上できる。
吸収または酸素脱離の速度が速い成分による触媒酸素保
持量だけを演算するとともに、この演算値が酸素吸収ま
たは酸素脱離の速度が速い成分のみに対する目標値とな
るように空燃比を制御するので、目標値への収束が速ま
り、これによって短時間の排気性能に対して寄与しない
酸素吸収の速度が遅い成分の影響を排除できる。
比制御のバラツキは、触媒下流の排気空燃比がストイキ
の近傍にありかつ触媒上流の排気空燃比がリッチである
区間と、触媒下流の排気空燃比がストイキの近傍にあり
かつ触媒上流の排気空燃比がリーンである区間との長さ
の違いとして現れ、運転条件に関係なくこの区間長さの
違いを表すだけなら所定時間当たりの触媒酸素脱離量と
所定時間当たりの触媒酸素吸収量とを同一の固定値とす
ることができることから、第6の発明によれば目標値の
演算を簡略化できる。
比がストイキの近傍にありかつ触媒上流の排気空燃比が
リッチである場合にそのリッチの程度が変化しても、ま
た触媒下流の排気空燃比がストイキの近傍にありかつ触
媒上流の排気空燃比がリーンである場合にそのリーンの
程度が変化しても酸素吸収または酸素脱離の速度が速い
成分による最大触媒酸素脱離量や酸素吸収または酸素脱
離の速度が速い成分による最大触媒酸素吸収量を精度よ
く演算できる。
シフトずれの補正回数または補正値の積算値が所定値以
上となったときにはセンサの故障が考えられるので、こ
うした状態での最大値(最大触媒酸素脱離量と最大触媒
酸素吸収量)のサンプリングを許可しない第8の発明に
よれば、最大値(目標値)のバラツキを抑えることがで
きる。
素脱離や触媒への酸素吸収が行われにくいため、この状
態での最大値(最大触媒酸素脱離量と最大触媒酸素吸収
量)のサンプリングを許可しない第9の発明によれば、
最大値のバラツキを抑えることができる。
で、その吸気通路8には吸気絞り弁5の下流に位置して
燃料噴射弁7が設けられ、コントロールユニット2から
の噴射信号により運転条件に応じて所定の空燃比となる
ように、吸気中に燃料を噴射供給する。コントロールユ
ニット2にはクランク角センサ4からの回転数信号、エ
アフローメータ6からの吸入空気量信号、水温センサ1
1からの冷却水温信号等が入力し、これらに基づいて運
転状態を判断しながら、基本空燃比の得られる燃料噴射
量Tpを決定し、これに各種の補正を行って燃料噴射量
Tiを演算し、これを噴射信号に変換することで、燃料
噴射量制御を行う。
の触媒10は、ストイキの運転時に最大の転換効率をも
って、排気中のNOxの還元とHC、COの酸化を行
う。その際、触媒10では、一時的な空燃比のずれから
生じる酸素の過不足を酸素ストレージ能力(酸素保持能
力)により補うことで、触媒雰囲気をストイキに保つ。
酸素濃度−触媒下流の過不足酸素濃度)} の式から求めることができる。
後述する図4で示すように、ストイキでの値を基準のゼ
ロとして、そのときの空燃比を酸素濃度に換算した値で
ある。たとえば、空燃比がリーンのときは、ストイキの
酸素濃度よりも過剰となるので、過不足酸素濃度はプラ
スの値となり、また空燃比がリッチのときはストイキの
酸素濃度よりも不足するので、マイナスの値となるわけ
である。
の空燃比センサ出力に基づき排気の平均空燃比がストイ
キと一致するように空燃比フィードバック制御(以下
「ラムダコントロール」という)が行われるため、触媒
下流の空燃比はほとんどストイキ(一定)であり、この
とき触媒下流の過不足酸素濃度はほぼゼロになる。
るあいだは、上記の数1式において触媒下流の過不足酸
素濃度をゼロとした
号参照)では実験結果により触媒下流の空燃比がリーン
となった後も触媒に酸素が吸収されることを初めて見い
だした。
3程度のリッチから16程度のリーンへと切換えたとき
の触媒前後の空燃比を測定した結果(実験結果)を図2
に示す。同図において、A区間では触媒の酸素を吸収す
る速度が速く、触媒上流の空燃比(図では「F−A/
F」で示す)がリーンであっても、触媒に流入する過剰
酸素がすべて触媒に吸収されるため、触媒下流の空燃比
(図では「R−F/A」で示す)はリーンを示していな
い(ストイキを示す)。これに対してB区間に移ると、
流入する過剰酸素のすべては触媒に吸収されないので、
触媒下流の空燃比がリーンになっている。つまり、触媒
下流の空燃比がリーンになっているB区間においても、
吸収の速度が遅いものの、酸素(もしくはNOなどの酸
化物)が触媒に吸収されている。
媒に担持される貴金属(以下単に「触媒金属」という)
のほかに酸素吸収を助けるため添加剤(以下単に「酸素
吸収補助剤」という)を有するものである。この場合、
触媒金属(たとえば白金やロジウム)は物理吸着といっ
て酸素を分子状態のまま吸着することによって酸素を吸
収するものであるのに対して、酸素吸収補助剤(たとえ
ば酸化セリウム、バリウム、卑金属)は化学結合により
酸素を化合物の形にして吸収するという違いがあり、両
者の酸素吸収(酸素脱離の場合も同様)の方法のこうし
た差異により酸素吸収の速度に速い成分と遅い成分とが
あるものと思われる。なお、触媒金属に対しては吸着の
ほうが用語として正確であるが、ここでは酸素吸着や酸
素吸収の速度の違いだけを問題とするので、触媒金属に
対しても吸収を用いることとする。
燃比がストイキからリーンに変化するときの触媒酸素保
持量を触媒金属による最大触媒酸素保持量とし、その後
に酸素吸収補助剤により吸収される酸素量を酸素吸収補
助剤による触媒酸素保持量とすれば、燃料カット時やリ
ーンクランプ時(以下燃料カット時で代表させる)に触
媒に吸収される酸素保持量を、触媒金属による最大触媒
酸素保持量に酸素吸収補助剤による触媒酸素保持量を加
えたものとしている。
流の空燃比センサがリーンを示したタイミングでの触媒
酸素保持量を最大触媒酸素保持量とし、この最大触媒酸
素保持量の1/2を目標値とする構成であるため、B区
間での酸素保持量(酸素吸収補助剤による触媒酸素保持
量)を無視している。このため、燃料カットが解除さ
れ、触媒酸素保持量を目標値へと収める空燃比制御に戻
ったときにエラーが生じると考えられる。
空燃比がリーンを示す期間において、酸素吸収補助剤に
より触媒に吸収される酸素保持量をも含めて触媒酸素保
持量を演算するとともに、触媒金属による最大触媒酸素
保持量に酸素吸収補助剤による最大触媒酸素保持量を加
えた値の1/2を目標値として設定し、酸素吸収補助剤
により触媒に吸収される酸素保持量をも含めた触媒酸素
保持量がこの目標値となるように空燃比制御を行うこと
で、燃料カット後や高出力後に触媒酸素保持量を目標値
へと収める空燃比制御に戻ったときにエラーが生じるの
を防止するようにすることが考えられる。
吸収補助剤による酸素吸収または酸素脱離の速度は触媒
金属による酸素吸収または酸素脱離の速度に比べて非常
に遅い(ほとんど可制御でない)ため、触媒金属と酸素
吸収補助剤の両者により吸収される酸素保持量の最大値
に基づいて目標値を設定したのでは、触媒酸素保持量を
目標値に戻すのに非常に時間がかかり、そのかん空燃比
操作量がリッチ側やリーン側の一方にとどまり、排気有
害成分を十分に低減できないことがわかった。すなわ
ち、酸素吸収補助剤による触媒酸素保持量を目標値に取
り込んでも、短時間の排気性能に対してなんら寄与しな
いのである。
下流の排気空燃比がストイキの近傍であるとき、触媒上
流の所定時間当たりの過不足酸素量に基づいて触媒金属
による触媒酸素保持量だけを演算し、空燃比制御条件の
成立時に、そのときの触媒金属による触媒酸素保持量
が、触媒金属のみに対する目標値となるようにエンジン
の空燃比を制御する。
御を、図3のフローチャートにしたがって説明する。
の空燃比信号に基づき、コントロールユニット2では、
ラムダコントロール条件(所定の空燃比制御条件)のと
きラムダコントロールを行う。
触媒10上流の排気空燃比の平均値がストイキとなるよ
うに、空燃比フィードバック補正係数αを算出し、この
補正係数αで基本噴射量Tpを補正する制御のことであ
る。
比センサであることから、 比例分=比例ゲイン×ΔA/F、 積分分=積分ゲイン×ΣΔA/F/T2、 ただし、ΔA/F:空燃比偏差(=実空燃比−ストイ
キ) T2:積分区間(空燃比偏差の正負が反転してからの経
過時間)、 の式により比例分と積分分とを求め、これらの和をα
(=比例分+積分分)とする一般の比例積分制御を行
う。
なく一定時間毎(たとえば10ms毎)に実行する。
10が活性化しているかどうかをみる。触媒10が活性
化していなれば、触媒10の酸素ストレージ能力が働か
ないので、そのまま今回の処理を終了する。
み、触媒上流の広域空燃比センサ(図では「F−A/F
センサ」で略記)の出力から、排気中の過不足酸素濃度
FO2を図5のテーブルを検索することにより求めて、
これを読み込む。
は、図4に示すように、ストイキでの値を基準のゼロと
してそのときの空燃比を酸素濃度に換算した値である。
したがって、たとえば空燃比がリーンのときは、ストイ
キの酸素濃度よりも過剰となるので、FO2はプラスの
値となり、また空燃比がリッチのときはストイキの酸素
濃度よりも不足するので、マイナスの値となる。
比センサ(図では「A/Fセンサ」で略記)には測定可
能範囲がある。したがって、燃料カット時には測定範囲
外のリーンになってしまうため、燃料カット時の空燃比
(したがって燃料カット時の過不足酸素濃度)を求める
ことができない。しかしながら、混合気を燃焼させると
きの要求空燃比(以下単に要求空燃比という)は決まっ
ており、要求空燃比をカバーするだけの広域空燃比セン
サを用いれば、測定範囲外のリーンは必ず燃料カットの
場合であるので、要求空燃比をカバーするだけの広域空
燃比センサが測定範囲外のリーンを示したとき、そのと
きの過不足酸素濃度FO2を、図示のように大気に対す
る値(すなわち20.9%)とする。図4に示した関係
をテーブルにしたのが図5である。
だけの広域空燃比センサであっても、燃料カット時の過
不足酸素濃度FO2を求めることができる。
サ(図では「R−O2センサ」で略記する。後述する図
6において同じ。)の出力と所定値を比較する。O2セ
ンサ出力が所定値以上(リッチ)であると判定した場合
には触媒酸素保持量がなくなり、触媒10が触媒下流の
空燃比をストイキに保てなくなったと判断し、S4に進
んで触媒金属による触媒酸素保持量HOSCnをゼロに
リセットする。ここで、HOSCに添えた「n」は今回
値を表す。これに対して、前回値には「n−1」を付
す。この符号は後述する図6でも使用する。
ときは、S5に進んで今度はO2センサ出力が所定値以
下(リーン)であるかどうかをみる。リーンでない(つ
まり触媒下流の空燃比はストイキ)ときは、触媒上流の
空燃比変動を触媒10が吸収していると判断し、S6に
進む。
ムダコントロールを行っているときと、ラムダコント
ロールを行っていないときの2つの場合があるが、いず
れも触媒下流の空燃比がストイキになっているときであ
る。
演算したあとS7に進む。
×Q×tが演算サイクル時間当たり(所定時間当たり)
の過不足酸素量であり、これに酸素吸着または酸素脱離
の速度を決める定数aを乗算することによって演算サイ
クル時間当たりに触媒金属に吸着されるか触媒金属より
脱離される酸素量を演算し、これを前回値HOSCn- 1
に加算することによって、触媒下流の空燃比がストイキ
にある期間の触媒金属による触媒酸素保持量が求まるの
である。
べると、演算サイクル時間当たりの過不足酸素量という
のはストイキを中心とする酸素の過不足をみたときの表
現である。言葉を換えると触媒上流の排気空燃比がリー
ンの状態では数3式右辺第2項は触媒金属により演算サ
イクル時間当たりに保持される酸素量を、また触媒上流
の排気空燃比がリッチの状態では触媒金属より演算サイ
クル時間当たりに脱離される酸素量を表し、同第2項中
の定数aが酸素が過剰となる側での酸素吸収の速度また
は酸素が不足する側での酸素脱離の速度を定めている。
ときはS6を飛ばしてS7に進む。
コン」で略記)をしているかどうかをみる。ラムダコン
トロール条件は従来と同じで、触媒上流の広域空燃比セ
ンサ3が活性化していること等が成立したとき、ラムダ
コントロールが開始される。また、燃料カット時やエン
ジン高負荷時にはラムダコントロールがクランプ(停
止)される。
降のPID制御に進み、ラムダコントロールをしていな
いときは、S8以降を飛ばす。つまり、触媒金属による
触媒酸素保持量HOSCnの演算は、触媒の活性後であ
れば常時行い、演算した触媒酸素保持量HOSCnを目
標値と一致させるフィードバック制御(触媒金属による
触媒酸素保持量を触媒金属のみに対する目標値へと収め
る空燃比制御)は、ラムダコントロールを行っている場
合に限っている。
HOSCnと触媒酸素保持量の目標値(触媒金属による
最大触媒酸素保持量HOSCyの1/2)との差(偏
差)HOSCsnを
て
t、 ただし、T:積分区間(触媒酸素保持量の偏差の正負が
反転してからの経過時間)、 t:演算サイクル時間(10ms)、 の式よりフィードバック量の比例分Hp、積分分Hiお
よび微分分Hdをそれぞれ演算し、これらを合わせた値
をS12において燃料補正量H(フィードバック量)と
して今回の図3の処理を終了する。
い、図示しないフローにおいて、たとえば、
iが計算される。そして、気筒毎にエンジン2回転に1
回、所定の噴射タイミングでTiの時間、燃料噴射弁7
が開かれ、燃料が吸気管内に噴射供給される。
α、Tsは従来と同じである。たとえば、燃料カット時
にα=1.0に、ラムダコントロール時にTFBYA=
1.0になる。Tsはバッテリ電圧に応じた噴射パルス
幅の補正分である。
素吸収または酸素脱離の速度が速い成分)による触媒酸
素保持量だけを演算するとともに、この演算値が触媒金
属のみに対する目標値となるように空燃比を制御するの
で、目標値への収束が速まり、これによって短時間の排
気性能に対して寄与しない酸素吸収補助剤(酸素吸収ま
たは酸素脱離の速度が遅い成分)の影響を排除できる。
素保持量の1/2であれば、リーン側での触媒酸素保持
量のオーバーフローやリッチ側での触媒酸素保持量の不
足が生じにくいので、触媒の十分な転換性能を維持でき
る。
下流のO2センサのバラツキあるいはそれ以外の空燃比
制御のバラツキにより、触媒下流の排気空燃比がストイ
キの近傍にありかつ触媒上流の排気空燃比がリッチのと
きの区間と、触媒下流の排気空燃比がストイキの近傍に
ありかつ触媒上流の排気空燃比がリーンのときの区間と
がその長さにおいて異なることが実験により判明してい
るので、コントロールユニット2では、触媒下流の排気
空燃比がストイキの近傍にありかつ触媒上流の排気空燃
比がリッチのときと触媒下流の排気空燃比がストイキの
近傍にありかつ触媒上流の排気空燃比がリーンのときと
で別々に最大値(触媒下流の排気空燃比がストイキの近
傍にありかつ触媒上流の排気空燃比がリッチのときは触
媒金属による最大触媒酸素脱離量、触媒下流の排気空燃
比がストイキの近傍にありかつ触媒上流の排気空燃比が
リーンのときには触媒金属による最大触媒酸素吸収量)
を演算し、その平均値に基づいて目標値を設定する。
御を、図6のフローチャートにしたがって説明する。
HOSCyを演算するためのもので、一定時間毎(たと
えば10ms毎)に実行する。
して排気中の過不足酸素濃度FO2を読み込む。
持量HOSCyを演算するための許可条件をみる。許可
条件の成立時(後述する許可フラグ=1のとき)にはS
23以降に進む。
値、前回値)とリッチ側スライスレベルRSL、リーン
側スライスレベルLSLとの比較により、以下の5つの
場合のいずれであるのかを判定する部分である。
媒上流の空燃比がリーンの場合、〈2〉触媒下流の空燃
比がストイキかつ触媒上流の空燃比がリッチの場合、
〈3〉触媒下流の空燃比がストイキからリーンとなった
タイミング、〈4〉触媒下流の空燃比がストイキからリ
ッチとなったタイミング、〈5〉それ以外の場合(触媒
下流の空燃比がリッチからストイキとなったタイミング
および触媒下流の空燃比がリーンからストイキとなった
タイミング)、ここで、上記〈1〉〜〈5〉の各場合を
さらに図7の波形図と対応づけると、〈1〉はたとえば
t3〜t4の区間、〈2〉はたとえばt1〜t2の区
間、〈3〉はたとえばt4のタイミング、〈4〉はたと
えばt2のタイミング、〈5〉はたとえばt1およびt
3のタイミングである。
サ出力がRSL未満LSL以上でかつO2センサ出力が
減少している場合)には、S23、S24、S25より
S29に進み、上記の数3式と同様の式である、
による触媒酸素吸収量HOSCnを演算したあと今回の
処理を終了する。
×Q×tが演算サイクル時間当たり(所定時間当たり)
の過剰酸素量であり、これに酸素吸収の速度を決める定
数aLを乗算することによって演算サイクル時間当たり
に触媒金属に吸収される酸素量を演算し、これを前回値
HOSCLn-1に加算することによって、触媒下流の空
燃比がストイキにある期間の触媒上流の空燃比がリーン
状態での触媒金属による触媒酸素吸収量が求まる。
定数aと同じ値である。ここでは数3式と区別するた
め、符号(数3式のHOSCnに対して数8式ではHO
SCLn)および名称(数3式の触媒酸素保持量に対し
て数8式では触媒酸素吸収量)を相違させたので、定数
についても異なる符号を用いたものである。
L未満LSL以上でかつO2センサ出力が増加している
場合)にはS23、S24、S25よりS28に進み、
上記の数3式と同様の式である、
による触媒酸素脱離量HOSCnを演算したあと今回の
処理を終了する。
×Q×tが演算サイクル時間当たり(所定時間当たり)
の不足酸素量であり、これに酸素脱離の速度を決める定
数aRを乗算することによって演算サイクル時間当たり
に触媒金属より脱離される酸素量を演算し、これを前回
値HOSCRn-1に加算することによって、触媒下流の
空燃比がストイキにある期間の触媒上流の空燃比がリッ
チ状態での触媒金属による触媒酸素脱離量が求まるので
ある。
の定数aLと同じ値である。
がLSL未満かつ前回のO2センサ出力がLSL以上で
ある場合)にはS23、S24よりS27に進み、その
ときの触媒金属による触媒酸素吸収量HOSCLnを触
媒金属による最大触媒酸素吸収量LMAXに入れるとと
もに、次回の処理に備えるためS33で触媒金属による
触媒酸素吸収量HOSCLnをゼロにリセットしたあと
S34に進む。同様にして上記〈4〉の場合(O2セン
サ出力がRSL以上かつ前回のO2センサ出力がRSL
未満である場合)にはS23、S26よりS30に進
み、そのときの触媒金属による触媒酸素脱離量HOSC
Rnを触媒金属による最大触媒酸素脱離量RMAXに入
れるとともに、次回の処理に備えるためS31で触媒金
属による触媒酸素脱離量HOSCRnをゼロにリセット
したあとS34に進む。
値AVE(=(LMAX+RMAX)/2)を演算す
る。この場合、1回毎の演算値である平均値AVEは変
動するので、この変動の影響を避けるためS35でこの
平均値AVEの加重平均値であるRAVEnを
よる最大触媒酸素保持量HOSCyとして設定する。
OSCyはメモリ(RAM)に保存しておき、前述の図
3のフローにおいてS8で読み出して用いる。
最大触媒酸素保持量HOSCyを設定した場合の作用
を、図7を再び参照して述べると、図7は触媒下流のO
2センサのバラツキにより触媒下流の排気空燃比がスト
イキの近傍にありかつ触媒上流の排気空燃比がリッチの
ときの区間(t1〜t2の区間)に対して、触媒下流の
排気空燃比がストイキの近傍にありかつ触媒上流の排気
空燃比がリーンのときの区間(t3〜t4の区間)のほ
うが長くなっているものである。
ないO2センサ出力よりもリーンを示すタイミングが遅
れるため、実際の値より大きな値が最大触媒酸素保持量
として演算され、目標値が最適値より大きい側にずれ
る。
〜t4の区間ではバラツキのないO 2センサ出力よりも
リーンを示すタイミングが遅れるため、実際の値より大
きな値が触媒金属による最大触媒酸素吸収量LMAXと
して演算される。
センサ出力にバラツキがないためリッチを示すタイミン
グが遅れることがなく、実際と同等の値が触媒金属によ
る最大触媒酸素脱離量RMAXとして演算される。この
結果、RMAXはLMAXよりも小さな値となる。
易にするため、本実施形態における最大触媒酸素吸収量
LMAXが従来装置の最大触媒酸素保持量とほぼ等しい
ものとすれば、本実施形態における2つの最大値の単純
平均値AVE(≒HOSCy)はLMAX(すなわち従
来装置の最大触媒酸素保持量)よりも小さくなる。すな
わち、目標値(=HOSCy×1/2)は本実施形態の
ほうが従来装置より小さくなるので、そのぶんだけ最適
値より大きい側への目標値のずれを従来装置の場合より
小さくできる。
排気空燃比がストイキの近傍にありかつ触媒上流の排気
空燃比がリッチのときと、触媒下流の排気空燃比がスト
イキの近傍にありかつ触媒上流の排気空燃比がリーンの
ときとで別々に最大値(触媒下流の排気空燃比がストイ
キの近傍にありかつ触媒上流の排気空燃比がリッチのと
きには触媒金属による最大触媒酸素脱離量、触媒下流の
排気空燃比がストイキの近傍にありかつ触媒上流の排気
空燃比がリーンのときには触媒金属による最大触媒酸素
吸収量)を演算し、その2つの最大値の平均値に基づい
て目標値を演算するようにしたので、触媒上流の広域空
燃比センサや触媒下流のO2センサのバラツキあるいは
空燃比制御のバラツキにより触媒下流の排気空燃比がス
トイキの近傍にありかつ触媒上流の排気空燃比がリッチ
のときの区間と、触媒下流の排気空燃比がストイキの近
傍にありかつ触媒上流の排気空燃比がリーンのときの区
間との間に長さの相違があっても目標値のバラツキを抑
制することができ、これによって空燃比制御精度が向上
する。
HOSCyを演算するための許可条件の判定(図6のS
22参照)について図8のフローチャートにより説明す
る。
の内容を一つずつチェックすることにより行い、各項目
のすべてが満たされたときHOSCyの演算を許可し、
一つでも反するときはHOSCyの演算を禁止する。す
なわち、 S41:低回転速度域または高回転速度域でない、 S42:低負荷域または高負荷域でない、 S43:暖機完了後である、 S44:空燃比フィードバック補正係数αの振れかたに
異常がない、 S45:触媒が活性化している、 S46:広域空燃比センサ出力のシフトずれ補正回数が
所定値以上でない、 ときに、S47でHOSCyの演算を許可し、そうでな
ければS48に移行してHOSCyの演算を禁止する
(許可フラグ=0とする)。
は触媒温度TCAT(図示しない触媒温度センサにより
検出)と所定値の比較により判定する。すなわち、TC
ATが所定値未満のときは(触媒が活性状態にない)、
触媒の酸素ストレージ能力が働かないのでS48に進ま
せる。これは、触媒が活性状態にないときは触媒からの
酸素脱離や触媒への酸素吸収が行われにくいため、この
状態での最大値(触媒金属による最大触媒酸素脱離量と
最大触媒酸素吸収量)のサンプリングを禁止して、最大
値のバラツキを抑えようとするものである。
て図9により説明すると、触媒上流の広域空燃比センサ
にはその出力がリッチ側やリーン側へとシフトずれを起
こす傾向があり、この影響を受けてラムダコントロール
中の触媒下流のO2センサ出力が正常でない変化を示
す。広域空燃比センサ出力のリッチ側へのシフトずれの
影響を受けてO2センサ出力が図示のように所定値C以
上(C>RSL)となってしまったり(ケース1とケー
ス3の場合)、この逆に広域空燃比センサ出力のリーン
側へのシフトずれの影響を受けてO2センサ出力が所定
値D以下(D<LSL)となってしまうと(ケース2と
ケース4の場合)、O2センサ出力に基づいての触媒下
流の空燃比の判定が不正確になる。そこで、広域空燃比
センサ出力にシフトずれが生じているかどうかを判定
し、シフトずれが生じているときには広域空燃比センサ
出力に対してシフトずれ補正を行うことによって、広域
空燃比センサ出力にリッチ側やリーン側へのシフトずれ
が生じることがあっても、O2センサ出力に基づく触媒
下流の空燃比判定が精度よく行われるようにする。
空燃比センサ出力に生じるシフトずれ補正を行うための
ものである。S51では触媒下流のO2センサ出力VR
O2、触媒上流の広域空燃比センサ出力VFAFを読み
込む。S52ではVFAFが所定値C以上となってから
所定時間が経過したかどうかみる。VFAFがC以上と
なってから所定時間が経過したときは広域空燃比センサ
出力がリッチ側にシフトずれを起こしたと判断し、S5
3でVFAFからシフト量(固定値)を差し引いた値を
改めてVFAFとして設定する。シフトずれが何度も生
じるようだと広域空燃比センサに故障がある可能性が高
いので、S54でシフトずれ補正回数カウンタCNT1
(始動時に0に初期設定)をインクリメントする。
時間が経過していないときにはS52よりS55に進
み、今度はVFAFがD以下となってから所定時間が経
過したかどうかみる。VFAFがD以下となってから所
定時間が経過したときは広域空燃比センサ出力がリーン
側にシフトずれを起こしたと判断し、S56でVFAF
にシフト量(固定値)を加算した値を改めてVFAFと
して設定する。S57ではS54と同様にシフトずれ補
正回数カウンタCNT2(始動時に0に初期設定)をイ
ンクリメントする。
1、CNT2)はメモリ(RAM)に保存しておく。
2つのシフトずれ補正回数(CNT1、CNT2)を読
み出し、これらシフトずれ補正回数のいずれかが所定値
以上であれば、広域空燃比センサに故障があると判断
し、HOSCyの演算を禁止するためS48へ進ませ
る。
トずれが生じた場合に、シフトずれの補正回数が所定値
以上となったときには広域空燃比センサの故障が考えら
れるので、こうした状態ではHOSCyの演算を禁止す
ることで、最大値(触媒金属による最大触媒酸素脱離量
と最大触媒酸素吸収量)のバラツキを抑えることができ
る。
イキの近傍にありかつ触媒上流の排気空燃比がリッチの
ときの演算サイクル時間当たりの触媒金属による触媒酸
素脱離量を、演算サイクル時間当たりの不足酸素量(F
O2×Q×t)に触媒金属の酸素脱離の速度を決める定
数aRを乗算することによって、また触媒下流の排気空
燃比がストイキの近傍にありかつ触媒上流の排気空燃比
がリーンのときの演算サイクル時間当たりの触媒金属に
よる触媒酸素吸収量を、演算サイクル時間当たりの過剰
酸素量(FO2×Q×t)に触媒金属の酸素吸収の速度
を決める定数aLを乗算することによって演算する場合
で説明したが、簡単には両者(演算サイクル時間当たり
の触媒金属による触媒酸素脱離量と演算サイクル時間当
たりの触媒金属による触媒酸素吸収量)を同じ値の固定
値にしてもかまわない(第2実施形態)。図6でいえ
ば、S28の「aR×FO2×Q×t」とS29の「a
L×FO2×Q×t」とを同じ値の固定値とするのであ
る。これは、次の理由からである。広域空燃比センサや
O2センサのバラツキあるいは空燃比制御のバラツキ
は、触媒下流の排気空燃比がストイキの近傍にありかつ
触媒上流の排気空燃比がリッチである区間(図7で示し
たt1〜t2の区間)と、触媒下流の排気空燃比がスト
イキの近傍にありかつ触媒上流の排気空燃比がリーンで
ある区間(図7で示したt3〜t4の区間)の長さの違
いとして現れるので、運転条件に関係なくこの区間長さ
の違いを表すだけなら演算サイクル時間当たりの触媒金
属による触媒酸素脱離量と演算サイクル時間当たりの触
媒金属による触媒酸素吸収量とが同じ値の固定値でよい
からである。ただし、固定値は最終的にはマッチングに
より定めることはいうまでもない。
わち、この場合には触媒下流の排気空燃比がストイキの
近傍にありかつ触媒上流の排気空燃比がリッチのときの
触媒金属による触媒酸素脱離量HOSCRnおよび触媒
下流の排気空燃比がストイキの近傍にありかつ触媒上流
の排気空燃比がリーンのときの触媒金属による触媒酸素
吸収量HOSCLnは同じ傾きで増加することになり、
図示のようにRMAXよりLMAXのほうが大きくな
る。
件として低、高回転速度域や低、高負荷域を除く場合で
説明したが、これに限られるものでなくこれらの運転域
でHOSCyの演算を許可することも考えられる。同様
に、許可条件として暖機完了前を除く場合で説明した
が、暖機完了前の低温域でも働く触媒であれば暖機完了
前でもHOSCyの演算を許可することができる。
素脱離量RMAXや触媒金属による最大触媒酸素吸収量
LMAXをともにサンプリングできる場合を図7に示し
たが、これら最大値をサンプリングできないことがあ
る。たとえばO2センサ出力が常にストイキにとどまる
場合やストイキおよびリーンだけにとどまり、リッチへ
と振れない場合(あるいはストイキおよびリッチだけに
とどまり、リーンへと振れない場合)である。これらの
場合にもHOSCyの演算を可能とするためには空燃比
を強制的にリッチやリーンに振ってやる必要がある。な
お、空燃比を強制的にリッチ、リーンに振るやり方その
ものは公知であるため(たとえば特開平9−22201
0号公報参照)、詳述しない。
値以上となったとき最大触媒酸素脱離量と最大触媒酸素
吸収量のサンプリングを許可しない場合で説明したが、
シフトずれの補正値の積算値が所定値以上となったとき
最大触媒酸素脱離量と最大触媒酸素吸収量のサンプリン
グを許可しないようにしてもかまわない。
酸素吸収または酸素脱離の速度が速い成分と遅い成分の
少なくとも2つの成分を含む場合で説明したが、これに
限られるものでなく、従来装置の触媒に対しても適用で
きることはいうまでもない。
ときの触媒前後の空燃比の測定結果を示す波形図。
ードバック制御を説明するためのフローチャート。
を示す特性図。
明するためのフローチャート。
を示す波形図。
ト。
が生じた場合の触媒下流のO2センサ出力の波形図。
ート。
Claims (9)
- 【請求項1】エンジンの排気通路に配設された酸素保持
能力を有する触媒と、 前記触媒下流の排気空燃比がストイキの近傍であると
き、触媒上流の所定時間当たりの過不足酸素量に基づい
て触媒酸素保持量を演算する手段と、 空燃比制御条件の成立時に、そのときの触媒酸素保持量
が目標値となるようにエンジンの空燃比を制御する手段
とを備えるエンジンの排気浄化装置において、 前記目標値を設定する手段が、 前記触媒下流の排気空燃比がストイキの近傍にありかつ
触媒上流の排気空燃比がリッチのとき、触媒酸素脱離量
を演算する手段と、 前記触媒下流の排気空燃比がストイキの近傍にありかつ
触媒上流の排気空燃比がリーンのとき、触媒酸素吸収量
を演算する手段と、 前記触媒下流の排気空燃比がストイキからリッチに変化
するときの前記触媒酸素脱離量を最大触媒酸素脱離量と
してサンプリングする手段と、 前記触媒下流の排気空燃比がストイキからリーンに変化
するときの前記触媒酸素吸収量を最大触媒酸素吸収量と
してサンプリングする手段と、 これら2つの最大触媒酸素脱離量と最大触媒酸素吸収量
の平均値を演算する手段と、 この平均値に基づいて前記目標値を演算する手段とから
なることを特徴とするエンジンの排気浄化装置。 - 【請求項2】エンジンの排気通路に配設された酸素保持
能力を有する触媒であって酸素吸収または酸素脱離の速
度が速い成分と遅い成分の少なくとも2つの成分を含む
触媒と、 前記触媒下流の排気空燃比がストイキの近傍であると
き、触媒上流の所定時間当たりの過不足酸素量に基づい
て酸素吸収または酸素脱離の速度が速い成分による触媒
酸素保持量を演算する手段と、 空燃比制御条件の成立時に、そのときの前記酸素吸収ま
たは酸素脱離の速度が速い成分による触媒酸素保持量が
前記酸素吸収または酸素脱離の速度が速い成分のみに対
する目標値となるようにエンジンの空燃比を制御する手
段とを備え、 前記目標値を設定する手段が、 前記触媒下流の排気空燃比がストイキの近傍にありかつ
触媒上流の排気空燃比がリッチのとき、前記酸素吸収ま
たは酸素脱離の速度が速い成分による触媒酸素脱離量を
演算する手段と、 前記触媒下流の排気空燃比がストイキの近傍にありかつ
触媒上流の排気空燃比がリーンのとき、前記酸素吸収ま
たは酸素脱離の速度が速い成分による触媒酸素吸収量を
演算する手段と、 前記触媒下流の排気空燃比がストイキからリッチに変化
するときの前記酸素吸収または酸素脱離の速度が速い成
分による触媒酸素脱離量を酸素吸収または酸素脱離の速
度が速い成分による最大触媒酸素脱離量としてサンプリ
ングする手段と、 前記触媒下流の排気空燃比がストイキからリーンに変化
するときの前記酸素吸収または酸素脱離の速度が速い成
分による触媒吸収酸素量を酸素吸収または酸素脱離の速
度が速い成分による最大触媒酸素吸収量としてサンプリ
ングする手段と、 これら最大触媒酸素脱離量と最大触媒酸素吸収量の平均
値を演算する手段と、 この平均値に基づいて前記目標値を演算する手段とから
なることを特徴とするエンジンの排気浄化装置。 - 【請求項3】前記酸素吸収または酸素脱離の速度が速い
成分は触媒金属であることを特徴とする請求項2に記載
のエンジンの排気浄化装置。 - 【請求項4】前記酸素吸収または酸素脱離の速度が遅い
成分は酸素吸収補助剤であることを特徴とする請求項2
に記載のエンジンの排気浄化装置。 - 【請求項5】前記酸素吸収または酸素脱離の速度が速い
成分による触媒酸素脱離量を演算する手段は酸素吸収ま
たは酸素脱離の速度が速い成分による所定時間当たりの
触媒酸素脱離量を積算する手段であり、かつ前記酸素吸
収または酸素脱離の速度が速い成分による触媒酸素吸収
量を演算する手段は酸素吸収または酸素脱離の速度が速
い成分による所定時間当たりの触媒酸素吸収量を積算す
る手段であることを特徴とする請求項2から4までのい
ずれか一つに記載のエンジンの排気浄化装置。 - 【請求項6】前記酸素吸収または酸素脱離の速度が速い
成分による所定時間当たりの触媒酸素脱離量および前記
酸素吸収または酸素脱離の速度が速い成分による所定時
間当たりの触媒酸素吸収量は同一の固定値であることを
特徴とする請求項5に記載のエンジンの排気浄化装置。 - 【請求項7】前記酸素吸収または酸素脱離の速度が速い
成分による所定時間当たりの触媒酸素脱離量を前記触媒
上流の所定時間当たりの不足酸素量に基づいて、かつ前
記酸素吸収または酸素脱離の速度が速い成分による所定
時間当たりの触媒酸素吸収量を前記触媒上流の所定時間
当たりの過剰酸素量に基づいて演算することを特徴とす
る請求項5に記載のエンジンの排気浄化装置。 - 【請求項8】前記触媒上流の所定時間当たりの過不足酸
素量を検出するためのセンサと、このセンサ出力に生じ
るシフトずれを補正する手段とを備え、このシフトずれ
の補正回数または補正値の積算値が所定値以上となった
とき前記最大触媒酸素脱離量と前記最大触媒酸素吸収量
のサンプリングを許可しないことを特徴とする請求項1
から7までのいずれか一つに記載のエンジンの排気浄化
装置。 - 【請求項9】前記触媒が活性状態にないとき前記最大触
媒酸素脱離量と前記最大触媒酸素吸収量のサンプリング
を許可しないことを特徴とする請求項1から7までのい
ずれか一つに記載のエンジンの排気浄化装置。
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