JP2001210695A - 基板処理装置の基板移載装置 - Google Patents
基板処理装置の基板移載装置Info
- Publication number
- JP2001210695A JP2001210695A JP2000020279A JP2000020279A JP2001210695A JP 2001210695 A JP2001210695 A JP 2001210695A JP 2000020279 A JP2000020279 A JP 2000020279A JP 2000020279 A JP2000020279 A JP 2000020279A JP 2001210695 A JP2001210695 A JP 2001210695A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- vacuum chamber
- robot
- substrates
- cassettes
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/56—Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks
- C23C14/568—Transferring the substrates through a series of coating stations
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
- G11B7/26—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of record carriers
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S414/00—Material or article handling
- Y10S414/135—Associated with semiconductor wafer handling
- Y10S414/137—Associated with semiconductor wafer handling including means for charging or discharging wafer cassette
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S414/00—Material or article handling
- Y10S414/135—Associated with semiconductor wafer handling
- Y10S414/137—Associated with semiconductor wafer handling including means for charging or discharging wafer cassette
- Y10S414/138—Wafers positioned vertically within cassette
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Tunnel Furnaces (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
ルダへの基板取付け方等を改良することにより単位時間
当たりの基板移載量を増大し、基板処理装置の処理能力
を高める。 【解決手段】基板移載装置は例えばインライン式成膜装
置に適用される。基板移載装置は補助真空室17と真空
室16を備える。補助真空室17は複数の第1基板カセ
ットを備える。真空室16は搬送路に沿ってキャリアが
移動する真空室10cに通じている。真空室16は、ロ
ボット25と、ロボット26と、これらのロボットの間
に配置され、複数枚の基板が搭載可能でかつ並列に並べ
られた複数の第2基板カセットとが設けられている。基
板116はセンタ孔を有する円板状の基板である。基板
のセンタ孔はピックアップの動作の際に引掛け部として
利用される。
Description
板移載装置に関し、特に、センタ孔を有する磁気ディス
クや光ディスク等のごとき円板状基板を成膜する例えば
インライン式成膜装置に用いられる基板移載装置におい
て、移載動作に基づき基板の搬入または搬出を行うとき
に、搬入・搬出に必要される時間を短縮し、成膜処理等
のスループットを高めた技術に関するものである。
れた文献として特開平8−274142号公報が挙げら
れる。この公報はインライン式成膜装置を開示してい
る。当該成膜装置は、成膜室やその他の処理室等として
機能する複数の真空室を含み、複数の真空室を連続して
直列的にかつリング状に接続することによって多角形の
リング形状の搬送路が形成され、この搬送路において角
の部分に回転機構を備える回転真空室を設けたことで特
徴づけられている。この公報の図1に、外部からインラ
イン式成膜装置内へ未処理の基板を搬入する基板仕込
(搬入)装置と、成膜装置内から外部へ処理済みの基板
を搬出する基板回収(搬出)装置が示されている。基板
仕込装置で、成膜装置内に搬入された基板は、キャリア
に搭載され、多角形リング状の搬送路に沿って例えば時
計回りで移動し、各真空室で必要な処理を受ける。そし
てそれらの処理が完了した後、基板回収装置によって外
部へ搬出される。
板を移載するための機構(以下「基板移載機構」とい
う)を備え、基板移載装置として機能している。ここで
「基板移載装置」とは、複数枚(例えば25枚)の基板
を搭載した基板カセットから例えば2枚ずつ基板を取り
出し、この2枚の基板を、インライン式成膜装置の各成
膜処理室内を移動するキャリアに備えられた例えば2つ
の基板取付け用ホルダの各々に取り付ける動作、または
その逆の動作を行う装置である。基板移載装置による基
板の取出し・取付けの動作では、例えば、基板カセット
からの基板のピックアップ(拾い上げ)、移動、ホルダ
への載置という動作が行われる。基板移載装置では、こ
のような動作を行うための機構部分、すなわちアーム機
能を有したロボットが設けられている。さらに上記の場
合に、特に、移載の対象となる基板は、円板状で、かつ
中心部に例えば円形の孔(以下「センタ孔」という)を
有する基板であるという特徴を有する。上記の基板の移
載では、基板のピックアップの際に、このセンタ孔が引
掛け部として利用される。
を具体的に説明する。この説明では図6〜9が参照され
る。
る基板仕込装置および基板回収装置の部分の平面図であ
り、この図では基板仕込装置および搬送路の一部の内部
構造が概略的に示されている。搬送路の一部を形成する
真空室100には基板仕込装置101と基板回収装置1
02が接続されている。基板仕込装置101と基板回収
装置102は基本的に同じ構成を有しているので、図で
は基板仕込装置101の内部構造のみが示されている。
基板仕込装置101における基板仕込動作と基板回収装
置102における基板回収動作は逆の動作となってい
る。以下の説明では、基板仕込装置101の基板仕込動
作(基板搬入動作)を説明することにより、従来の代表
的な基板移載装置としての移載動作を説明する。
けられた真空室103に接続され、これらの真空室10
3を介して多角形のリング形状の搬送路を形成する真空
室104につながっている。真空室100と真空室10
3の間にはゲートバルブ105が設けられている。搬送
路を形成する複数の真空室103では成膜に関連する処
理が行われる。106は、基板を搭載し、搬送路を移動
して基板を搬送するキャリアである。キャリア106は
矢印107の方向に移動する。真空室103は多角形の
搬送路の角部に位置する真空室である。真空室103の
内部には回転機構が内蔵されている。この回転機構によ
って、搬送路を移動するキャリア106の移動方向が変
更される。真空室103の回転機構および多角形状の搬
送路の具体的な構造例は例えば前述の特開平8−274
142号公報に開示されており、ここでは詳細な説明を
省略する。
01は、1つの真空室108と2つの補助真空室10
9,110から構成される。真空室108は上記の真空
室100に通じており、かつ基板仕込動作を行うロボッ
ト111が内蔵されている。補助真空室109,110
は、ゲートバルブ112,113を介して真空室108
に接続されている。図6でゲートバルブ112は開いた
状態にあり、ゲートバルブ113は閉じた状態にある。
補助真空室109,110にはさらに外側に通じる搬入
用扉のゲートバルブ114,115が設けられている。
このゲートバルブ114,115を通して処理前の基板
が補助真空室109,110に導入される。補助真空室
109,110には、例えば25枚の基板116を立て
た状態で平行に中心軸を一致させて1列に並べて搭載す
る基板カセット117が配置される。基板カセット11
7は補助真空室内109,110に固定されている。基
板のみが補助真空室109,110に導入される。補助
真空室109,110の各々では、内外の圧力の調整、
ゲートバルブ114,115を開くことによる大気への
開放、25枚の未処理基板の導入、ゲートバルブ11
4,115を閉じて真空排気、ゲートバルブ112,1
13を開いてロボット111による移載動作等が繰り返
される。補助真空室109,110は交互に使用され
る。ロボット111は、先部アーム118の先端に形成
した基板ピックアップ部119で、矢印120のごとく
移動して2枚の基板116を基板カセット117から取
り出し、矢印121のごとく回転動作を行い、さらに矢
印122のごとく先部アーム118を移動させてキャリ
ア106のホルダの所定の個所に2枚の基板116の各
々を別々に取り付ける。
の各々、搬送路を形成する真空室100およびロボット
111を備えた真空室108は、それぞれ、望ましいタ
イミングで、所要の真空レベルまで真空排気される。真
空排気装置は各真空室の下側に設けられている。ここで
は真空排気装置の図示および説明は、良く知られたもの
として省略する。
基板カセット117は実質的に平行に配列された4本の
ロッド(棒状部材)130で形成されている。4本のロ
ッド130は、その両端部が、図7に示された位置関係
を満たすような状態で、端部フレームで連結されてい
る。図7では、説明の便宜上、端部フレームの図示を省
略している。4本のロッド130で構成される基板カセ
ット117は、図7において少なくとも手前側の端部が
開放された状態にある。4本のロッド130の各々の周
面の少なくとも内側の個所には軸方向に25個の溝(図
示せず)が所定の等間隔(例えばd)で形成されてい
る。これらの溝は基板116を支持するためのものであ
る。これにより、25枚の基板116が4本のロッド1
30、すなわち基板カセット117によって支持されて
いる。4本のロッド130は、基板116に対して、そ
の下半分の側で基板を支持するような位置関係に保持さ
れている。このため、基板カセット117において、2
5枚の基板116は、間隔dにて等間隔で、平行に、か
つ一列状に配列されている。なお基板116は、センタ
孔116aを有する磁気ディスクや光ディスク等のごと
き円板状基板の基板である。本発明の関係では、センタ
孔116aは引掛け部として利用されるので、基板11
6がセンタ孔116aを有していることは必須の要件で
ある。上記のごとく基板カセット117に搭載された基
板116を、ロボット111は2枚ずつピックアップす
る。ロボット111の先部アーム118の先端には間隔
dの2本の溝131が形成されている。これらの溝13
1の各々で基板116をピックアップする。この溝13
1が前述のピックアップ部119を形成している。
ロボット111は、基台141の上に回転軸142を備
え、回転軸142の上端に基部アーム143が固定され
ている。基部アーム143は回転軸142の周りに自在
に回転する構造を有する。基部アーム143の外側端部
には中間アーム144が自在に回転するように取りつけ
られている。さらに中間アーム144の外側端部には上
記の先部アーム118が自在に回転するように設けられ
ている。先部アーム118は、厳密に述べると、その基
の部分は高い強度を有するように大きな形態(118
a)で形成されており、先の部分は前述の基板116の
センタ孔116aに挿入できるように細い形態(118
b)で形成されている。先部アーム118の先端上面に
は上記ピックアップ部119(2つの溝131)が形成
されている。先部アーム118のピックアップ部119
は、ロボット111の全体の動作に基づいて、前述した
矢印120,121のごとく自在に移動させられる。
ア106は、基板116を搭載するための2つのホルダ
151と、これらのホルダを備えたスライダ152とか
ら構成される。キャリア106は、全体として板状の形
態を有し、かつ縦置きの状態で用いられている。2つの
ホルダ151の各々には円形の孔151aが形成されて
いる。基板116は立てた状態でこの孔151aに取り
つけられる。孔151aには、通常、基板を押さえるた
めの例えばフィンガ状のバネ部材(図示せず)が付設さ
れている。スライダ152の下部にはN極とS極の磁石
153が交互に配置されている。真空室100の床の下
側に設けられた磁気結合を利用した回転駆動機構によっ
てスライダ152は矢印107のごとく移動させられ
る。
する従来の基板仕込装置101の基板仕込動作を説明す
る。図6は、補助真空室109の基板カセット117に
25枚の基板116がセットされた状態において、補助
真空室109が所要の真空状態に排気され、ゲートバル
ブ112が開いて、ロボット111によって、補助真空
室109内の基板カセット117から基板116が2枚
ずつ取り出され、真空室108内で移動するキャリア1
06の2つのホルダ151の各々に順次に取り付ける様
子が示されている。ロボット111は、その先部アーム
118の先端に形成されたピックアップ部119で2枚
の基板116が、センタ孔116aを引掛け部として利
用して、同時に基板カセット117から取り出され、キ
ャリア106の2つのホルダ151のそれぞれに1枚ず
つ取り付けられる。ロボット111のピックアップ部1
19では、2枚の基板116を前後の方向に並べて保持
する。こうして、真空室108のロボット111によっ
て、補助真空室109にセットされた基板カセット11
7における25枚の基板116が、真空室106へ次々
に移動してくるキャリア106のホルダへ2枚ずつ移載
される。その間に、他方の補助真空室110は、いった
ん大気に開放され、搬入用扉であるゲートバルブ115
を介して未処理の基板が導入される。補助真空室109
の基板カセット117に対するロボット111の移載動
作が完了した後には、補助真空室109のゲートバルブ
112が閉じられ、さらに補助真空室110のゲートバ
ルブ113を開いて、ロボット111は、基板カセット
117における新たに導入された25枚の基板116に
対して前述と同様な基板の移載を継続する。
01での基板移載動作とは反対の動作が行われるだけ
で、構成は実質的に同じである。そこで、基板回収装置
102において真空室、2つの補助真空室、ゲートバル
ブ等には同一の符号が付されている。
込装置101による基板の移載動作では、ロボット11
1によってキャリア106のホルダ151へ2枚の基板
116を1枚ずつ取り付けるので、この取付け動作を2
度行うことが必要である。基板カセット117から2枚
の基板116を同時にピックアップしたロボット111
は、キャリア106に対して基板の取付け動作を2度行
わないと、次のキャリアに対して基板を取り付ける動作
を行うことができない。従って、インライン式成膜装置
において、被処理物である基板を搭載したキャリアの搬
送速度がロボット111の基板移載の動作速度で律速さ
れ、その結果、成膜装置の全体のスループットが低減さ
れ、装置全体の生産能力が制限されるという問題を有し
ていた。このような問題を解決するためには、従来の基
板移載の構成を利用する限り、ロボット111の動作速
度をさらに高めることが必要である。しかしながら、ロ
ボット自体の動作速度をさらに高めることは、現状では
限界に達しており、困難な状況にある。
とにあり、ロボットの動作速度を変えることなく、例え
ばキャリア上のホルダへの基板取付け方を改良すること
により、単位時間当たりの基板移載量を増大し、基板処
理装置の処理能力を高めるようにした基板処理装置の基
板移載装置を提供することにある。
基板処理装置の基板移載装置は、上記目的を達成するた
めに、次のように構成される。
この基板移載装置は、前提の構成として、多角形リング
状に配置されかつ直列に接続されると共にそれぞれ真空
環境で基板に対して処理を行う複数の真空室と、これら
の真空室を貫くように設けられ前述の多角形リング状と
同じ形状の搬送路を形成する搬送系と、基板処理面を搬
送方向の側方に向けて少なくとも2枚(好ましくは2
枚)の基板を保持する複数のキャリアとを備えて成り、
さらに搬送系により複数のキャリアが所定間隔で上記搬
送路に沿って移動し、その移動の際に、例えば停止状態
で、複数の真空室のそれぞれでキャリア上の少なくとも
2枚の基板が処理を受けるように構成された基板処理装
置に付設されるものである。基板処理装置としては代表
的にはインライン式成膜装置である。なお本発明に係る
基板移載装置の適用範囲は、これに限定されるものでは
ない。さらに上記基板移載装置は、特徴的構成として、
以下の構造を有する第1真空室(補助真空室17)と第
2真空室(真空室16)を備えて構成される。第1真空
室は、外部側に配置され、並列に並べられた複数の第1
基板カセットを備えている。複数の第1基板カセットの
それぞれは複数枚(好ましくは25枚)の基板が搭載可
能である。また第1基板カセットの並列数は2列が好ま
しい。第2真空室は、搬送路に沿ってキャリアが移動す
る搬送用真空室(真空室10c)に通じている。この第
2真空室は、第1真空室側に配置された基板搬送用の第
1ロボット(ロボット25)と、搬送用真空室側に配置
された基板搬送用の第2ロボット(ロボット26)と、
第1ロボットと第2ロボットの間に配置され、複数枚の
基板が搭載可能でかつ並列に並べられた複数の第2基板
カセットとが設けられている。並列の複数の第2の基板
カセットは、通常、第1基板カセットと実質的に同一の
構造を有している。また基板はセンタ孔を有する円板状
の基板である。基板のセンタ孔は、ピックアップの動作
の際に引掛け部として利用される。
1ロボットによって基板カセットに搭載されたすべての
基板を同時に移動できるように構成し、第2ロボットで
例えばキャリアに設けた基板のホルダのすべてに同時に
基板を取り付けることができるように構成される。従っ
て上記構成によれば、第2ロボットを利用して同時に移
載(ホルダへの基板取付けまたはホルダからの基板取外
し)できる基板の枚数を増すように構成することを可能
にし、これにより基板移載装置による単位時間当たりの
基板移載量を増大し、基板の搬送系による基板搬送能力
を向上し、基板処理装置による成膜等の処理能力を高め
ることが可能になる。
は、上記の構成において、基板仕込装置として構成され
る。当該基板移載装置では、第1真空室は外部からの未
処理基板の搬入室として使用され、並列な複数の第1基
板カセットには未処理基板が搭載され、第1ロボットは
複数の第1基板カセットに搭載されたすべての未処理基
板を同時に並列な複数の第2基板カセットに移動して搭
載し、第2ロボットは複数の第2基板カセットのそれぞ
れから手前側の1枚の基板を同時に取出し、搬送用真空
室に存在するキャリアの複数のホルダに同時に取り付け
るように構成される。
は、上記の基板仕込装置の構成において、好ましくは、
第1基板カセットおよび第2基板カセットは2列の並列
状態で配置されると共にキャリアは2台のホルダを有
し、第1ロボットは二股状先部アームに2本の基板支持
ロッドを有すると共に、第2ロボットは二股状先部アー
ムに2つの基板支持ブロックを有するように構成され
る。
は、上記構成において、基板回収装置として構成され
る。当該基板移載装置では、第1真空室は外部へ処理済
み基板を搬出する搬出室として使用され、第2ロボット
は、搬送用真空室に存在するキャリアの複数のホルダか
ら処理済みの基板を同時に取り外し、並列な複数の第2
基板カセットのそれぞれへ載置し、これを繰り返して第
2基板カセットを充填し、第1ロボットは、複数の第2
基板カセットに搭載されたすべての処理済み基板を同時
に並列な複数の第1基板カセットに移動して搭載し、複
数の第1基板カセットに搭載された処理済み基板は外部
へ搬出されるように構成される。
は、上記の基板回収装置の構成において、第1基板カセ
ットおよび第2基板カセットは2列で配置されると共に
キャリアは2台のホルダを有し、第1ロボットは二股状
先部アームに2本の基板支持ロッドを有すると共に、第
2ロボットは二股状先部アームに2つの基板支持ブロッ
クを有するように構成される。
を添付図面に基づいて説明する。
られる基板処理装置の全体の平面図の一例を示す。この
基板処理装置10は、例えば、従来技術で述べたところ
のインライン式成膜装置(以下では簡略して「成膜装置
10」という)である。成膜装置10は、図1中手前側
に基板仕込装置11と基板回収装置12を備えている。
基板仕込装置11は成膜装置10に対して矢印13のご
とく未処理の基板を搬入する装置である。基板回収装置
12は成膜装置10から処理済みの基板を矢印15のご
とく搬出する装置である。基板仕込装置11と基板回収
装置12は、接近した個所で並列に設けられ、いずれも
後述するごとき基板を移載する動作を行うものである。
ただし基板仕込装置11と基板回収装置12での基板移
載動作は逆になっている。以下の説明では、基板仕込装
置11の構成と動作を中心に本発明に係る基板移載装置
の構成と移載動作を説明する。
0b,10cを含んで構成され、全体として多角形のリ
ング形状を形成するように直列的に真空室が並べられた
成膜装置である。これらの複数の真空室によって例えば
4角形の搬送路10dが形成される。点線で描かれた搬
送路10dはキャリアが移動するルートであり、この搬
送路10dに沿ってキャリアは移動する。この実施形態
において、キャリアは、図9で示した縦型のキャリアと
実質的に同じものである。従ってこの実施形態の説明で
も同一の符号を用いて説明を行う。このキャリア106
によって、その2つのホルダ151の各々の基板取付け
孔151aに基板が縦置きで搭載され、成膜等の処理が
施される基板(前述の基板116)の両面が搬送方向の
側方を向くような状態で搬送路10dに沿って搬送され
る。4つの真空室10aの各々は、多角形のリング形状
に形成された成膜装置において4つの角部の各々に位置
する回転室であり、その内部にはキャリアの移動方向を
90°変更するための回転機構が設けられている。また
各辺に相当する部分に位置する複数の真空室10bは成
膜等を行うための処理用真空室であり、例えばカソード
機構やターゲット等のスパッタリング装置を備えてい
る。真空室10cは搬送路の一部を形成し、ここにおい
てキャリア106に対して未処理の2枚の基板の搭載、
およびキャリア106からの処理済みの2枚の基板の取
出しが行われる。
内部構造を示した平面図である。基板仕込装置11と実
質的に同じ内部構造を有する基板回収装置12の内部は
示されていない。また真空室10a,10bは想像線で
描かれている。基板仕込装置11はそれぞれ1つの真空
室16と補助真空室17を備えている。真空室16と補
助真空室17の間の境界部にはゲートバルブ18が設け
られている。通常、ゲートバルブ18は閉じ、真空室1
6と補助真空室17は隔離されている。基板の出し入れ
を行うときにゲートバルブ18は開かれる。真空室16
と補助真空室17はそれぞれ独自にその下部に真空排気
装置を備えている。真空室16は、搬送路の一部をなす
真空室10cに常に通じている。この実施形態では、一
例として、真空室16と真空室10cの各空間は同じ空
間となっているので、同じ真空排気装置で排気されるこ
とになる。なお真空室10cについては、基板仕込装置
11に対応する部分と基板回収装置12に対応する部分
を区画し、その間にゲートバルブを介してクリーニング
装置の真空室を設けるように構成することもできる。ク
リーニング装置では成膜装置を巡回してきたキャリアや
ホルダの汚れを除去する。補助真空室17にはさらに他
のゲートバルブ19が設けられている。このゲートバル
ブ19は、外部から基板仕込装置11の中に未処理の基
板を導入するときに使用される。
両側で、前述の通り、回転機構を内蔵する真空室10a
とゲートバルブ20,21を介して接続されている。ゲ
ートバルブ21が開くことによりキャリア106が真空
室10cに移動してくる。前述の通りキャリア106の
移動は各真空室の床の下側に設けられた磁気結合を利用
した駆動機構に基づいて行われる。搬送路では、複数台
のキャリア106が所定の間隔で一列に並んで移動す
る。図2では真空室10cの中に2台のキャリア106
が入ってきている。矢印22はキャリア106の移動方
向を示している。真空室10cからキャリア106が出
ていくときにはゲートバルブ20が開くことになる。
基板カセット23,24が設置されている。基板カセッ
ト23,24の各々は前述の基板カセット117と実質
的に同じものである。基板カセット23,24は所定の
間隔に保持されるように、その両端部が端部フレーム等
(図示せず)で固定されている。端部フレームは任意の
ものを用いることができる。基板カセット23,24と
端部フレームによってカセットユニットが構成される。
各基板カセット23,24には例えば25枚の基板が並
べられている。基板は従来技術で説明された基板116
と同じであるので、この実施形態の説明でも同一の符号
を用いて説明する。並列な2つの基板カセット23,2
4の各々における基板116の並べ方は、実質的に図7
などに示されたものと同じである。また基板116は、
従来の技術で説明した通り、形態的にはセンタ孔116
aを有する円板状の基板である。補助真空室17は、従
来装置では2つ用意されたが、本実施形態では1つしか
設けられない。その代わりに、1つの補助真空室内に基
板カセット(23,24)が2つ並列に設けられてい
る。
送)に用いられる2台のロボット25,26と、2つの
基板カセット27,28からなるカセットユニットとが
設けられている。このカセットユニットは構造の点で前
述のカセットユニット(基板カセット23,24からな
る)と同じものであり、ロボット25,26の間の中間
位置に設けられている。基板カセット27,28のそれ
ぞれは前述の基板カセット23,24と同じ構造を有し
ている。またロボット25は補助真空室17に近づけて
設置されている。ロボット25は、補助真空室17内の
基板カセット23,24に配置された基板116を、2
5枚ずつまとめて50枚、同時に、真空室16内の基板
カセット27,28に移動させるための基板移動用ロボ
ットである。またロボット26は真空室10cに近づけ
て設置されている。ロボット26は、真空室16内に設
けられた基板カセット27,28に配置された基板11
6において手前側の基板を1枚ずつ、全部で2枚同時に
取出し、これらの2枚の基板116をキャリア106上
の2つのホルダ151に同時に取り付けるための基板移
動用ロボットである。ロボット25,26は、機構に関
して基本的に同じ構成を有し、それぞれ3つのアームで
構成されている。ロボット25,26で異なる部分は、
先端アームの構成、それによって運ばれる基板の数およ
び運び方である。ロボット25,26の各々の構成は後
で詳細に説明される。
8の平面図(A)と側面図(B)を示す。図3では、基
板カセットに符号30を付し、並列に並べられた2つの
基板カセット30で作られるカセットユニットに符号3
1を付している。基板カセット30は、従来技術でも説
明した通り、平行な4本のロッド32,33,34,3
5で構成される。ロッド32〜35は、基板116の中
心軸を表す線116bよりも下側の位置に配置されてお
り、下側に位置するロッド32,33と上側に位置する
ロッド34,35に設定されている。ロッド32〜35
はすべて丸棒状であり、かつその表面の円周方向に例え
ば断面がV字形の溝37が例えば25個分形成されてい
る。このV字溝によって各基板116は支持され、基板
カセット30に25枚の基板116が搭載される。図3
で、基板116は想像線で25枚が並べられた状態が示
されている。4本のロッドの図3中左右の端部は端部プ
レート38,39に固定されている。図3で、さらに4
0は端部プレート38,39を固定するベース材であ
り、ベース材40はネジ等で真空室の床部41に固定さ
れている。端部プレート38,39は、基板116のセ
ンタ孔116aの周辺部分から基板上方部分が開放され
るように形成されている。基板カセット30は、例えば
25枚の基板116をその中心軸の方向に平行に一列に
並べることができれば足り、その構成は図示のものに限
定されず、任意の構成を採用することができる。この実
施形態では、4本のロッド32〜35を平行に配置する
ことで基板カセット30を実現し、さらに基板カセット
30を並列に並べることによりカセットユニット31を
実現している。
説明する。図4で(A)はロボット25の平面図、
(B)はその側面図を示す。ロボット25は多関節アー
ムの構造を有し、先端部で所定枚数(この例では左右の
合計で50枚)の基板116を移動させる機能を有して
いる。多関節アームの構造部分は、基部アーム51と中
間アーム52と先部アーム53とから構成されている。
ロボット25では、真空室16の床部に固定されたベー
ス54の上に基部アーム51がその軸51aの周りに自
在に回転できるように設けられ、基部アーム51に対し
て中間アーム52がその軸52aの周りに自在に回転で
きるように設けられ、中間アーム52に対して先部アー
ム53がその軸53aの周りに自在に回転できるように
設けられている。中間アーム52と先部アーム53の間
には仲介部材54が設けられている。先部アーム53は
仲介部材54にネジ55で固定されている。また上記多
関節アームはその高さも変えることができるように構成
されている。基部アーム51と中間アームは52は所要
の長さを有するアーム部材として形成されている。先部
アーム53は、その平面形状において、V字形に類似し
た二股形状に形成されている。先部アーム53の二股部
の各先部にはボルト56で基板支持ロッド57が固定さ
れている。二股状の先部アーム53において、基板支持
ロッド57は左右位置で平行に2本設けられる。また2
本の基板支持ロッド57の中心線の間隔は、前述のカセ
ットユニット31において、並列に配置された2つの基
板カセット30の各々における基板の中心線の間隔とほ
ぼ等しい。基板支持ロッド57の上面には、25個の溝
が形成されるよう複数の凸部57aが形成されている。
凸部57aは好ましくはその頂部が湾曲になるように形
成されている。1本の基板支持ロッド57には、26個
の凸部57aで形成された25個の溝で25枚の基板1
16が同時に支持されることになる。説明の便宜上、図
4(A)では先端と後端に位置する2枚の基板116の
みが示され、図4(B)では先端に位置する1枚の基板
116のみが示されている。従って2本の基板支持ロッ
ド57を備える先部アーム53によれば、50枚の基板
を同時に移動させることができる。
説明する。図5で(A)はロボット26の平面図、
(B)はその側面図を示す。ロボット26は、ロボット
25と同様に、多関節アームの構造を有し、先端部で所
定枚数(この例では左右の合計で2枚)の基板116を
移動させる機能を有している。図5に示されたロボット
26において、ロボット25で説明した要素と実質的に
同一の要素には同一の符号を付し、その説明を省略する
と共に、その特徴的な構成を主に説明する。ロボット2
6も、基部アーム51と中間アーム52と先部アーム5
3とからなる多関節アームを有する。二股形状を有する
先部アーム53の二股部の各先部にはボルト56で基板
支持ブロック61が固定されている。各基板支持ブロッ
ク61は、その上面に1つのV溝を有する形状を備えて
いる。このV溝によって1枚の基板116が保持され
る。従って先部アーム53にはその左右の部分に2枚の
基板が同時に支持され、これらを移動させることができ
る。2つの基板支持ブロック61の各中心線の間隔は、
前述のカセットユニット31(この場合、基板カセット
27,28からなるカセットユニット)において、並列
に配置された2つの基板カセット30の各々における基
板の中心線の間隔とほぼ等しい。先部アーム53の2つ
の基板支持ブロック61は、基板カセット27,28か
ら2枚の基板116を取り出すときに、ピックアップ部
として機能する。上記のごとく2つの基板支持ブロック
61を備える先部アーム53によれば、2枚の基板を同
時に移動させることができる。また基板支持ブロック6
1には例えばコイルスプリング等を利用した緩衝材62
が設けられている。緩衝材62は2枚の基板116をキ
ャリア106の2つのホルダ151の各孔151aに取
り付けるときに、基板116等にダメージが生じないよ
うにするための手段である。なお緩衝材62は必須のも
のではなく、省略することもできる。
づいて基板の仕込動作(基板カセットからキャリアのホ
ルダへの移載動作)を説明する。基板仕込装置11の動
作は、ゲートバルブの開閉動作、各真空室の真空排気動
作、外部からの基板の搬入、ロボット25,26による
基板の移動動作などからなる。これらの動作は、シーケ
ンス制御を行うコントローラの制御に基づいて一定の同
期関係の下で行われる。以下の説明では、コントローラ
との関係は良く知られたものとして説明せず、一連の動
作の内容を説明する。
17に付設されたベントバルブ(図示せず)から例えば
窒素(N2 )ガスを導入して大気圧と等しくし、次に
ゲートバルブ19を開いて補助真空室17を大気に開放
し、この状態で外部から50枚の未処理の基板116を
導入し、補助真空室17に常設された基板カセット2
3,24に搭載する。基板カセット23,34のそれぞ
れには25枚ずつ基板116が搭載されている。次にゲ
ートバルブ19が閉じられ、補助真空室17は所要レベ
ルまで真空排気される。
る。ゲートバルブ18が開かれると、ロボット25は、
全体として動作し、先部アーム53が基板カセット2
3,24上の基板116に向かうようにする。二股形状
の先部アーム53に固定された2本の基板支持ロッド5
7が基板カセット23,24の各々に搭載された基板1
16のセンタ孔116aに位置合わせされ、各基板支持
ロッド57が対応する基板カセットの25枚分の基板1
16のセンタ孔116aに挿入されるように先部アーム
53を基板側に向かって移動させ、基板支持ロッド57
に形成された25個のV溝と25枚の基板116との位
置合わせを行って停止させる。その後、ロボット25
は、基板支持ロッド57が上の方へ動くように動作し、
左右の25枚の基板116、すなわち全部で50枚の基
板116を同時に基板カセット23,24から持ち上
げ、移動の上で周辺の部材に接触しないような状態で回
転動作を行い、50枚の基板116を中間の場所に位置
する基板カセット27,28のところまで運び、基板カ
セット27,28に位置合わせを行って搭載する。ロボ
ット25はその後、元の待機位置に戻り、待機姿勢の状
態に保持される。
ことの信号を受け取って、ロボット26が基板移動の動
作を開始する。ロボット26は、基板カセット27,2
8に搭載された基板116に対して、先部アーム53の
二股部の各先端に設けられた基板支持ブロック61が、
基板のセンタ孔116aに対向するように動作する。各
基板支持ブロック61は、基板カセット27,28の各
々においてもっとも手前に位置する基板116のセンタ
孔116aに挿入され、そのV溝で基板116を引掛
け、それぞれ基板カセット27,28の手前側の1枚の
基板(全部で2枚の基板)を同時に取り出す。その後、
ロボット26はアーム機構全体で回転動作を行い、先部
アーム53がキャリア106の方に向くように例えば1
80°回転して姿勢を変える。そして先部アームの二股
部先端の2つの基板支持ブロック61の各々がキャリア
106の2つのホルダ151の各々の孔151aに対向
するように動作する。2つのホルダ151のセンタ孔1
51aと、2枚の基板116の位置が合わされた状態
で、ロボット26は先部アーム53を前進させ、2枚の
基板116を、2つのホルダ151の孔151aに取り
付ける。その後、ロボット26は、反転動作を行い、基
板カセット27,28の各々における残りの24枚の基
板116に対して、前述と同様に2枚の基板を取出しの
ために動作する。この間、2枚の基板が搭載されたキャ
リア106は、開かれたゲートバルブ20を通して矢印
22に示される方向に移動する。その後には、空の状態
のホルダを備えた次のキャリア106が真空室10cの
所定個所に到来している。この次のキャリアに対して、
ロボット26は、次にピックアップした2枚の基板11
6を、前述と同様な動作で取り付ける。ロボット26
は、基板カセット27,28の各々に搭載された基板に
対して上記の動作を繰返し、次々に移動してくるキャリ
ア106のホルダに2枚ずつ基板を取り付ける動作を行
う。
っている間、適宜なタイミングで、補助真空室17は、
前述した通り大気開放用バルブを開いて窒素ガスを導入
した後にゲートバルブ19を開いて大気に開放され、未
処理の50枚の基板が導入されて常設の基板カセットに
搭載され、さらに真空排気される。補助真空室17の側
での準備が完了した段階で、ゲートバルブ18が開い
て、ロボット25が、基板カセット23,24に搭載さ
れた未処理の50枚の基板を、基板カセット27,28
に移動できる態勢が作られる。ロボット26の側が、基
板カセット27,28から最後の2枚の基板116を取
り出した段階で、その状態の信号を受けたロボット25
は、基板カセット27,28が空になった状態を確認
し、前述した通り、基板カセット23,24から50枚
の基板を同時に基板カセット27,28に移動させ、そ
の後、再び待機姿勢の状態に保持される。さらに詳しく
説明すると、ロボット25が基板カセット23,24か
ら50枚の基板をとって旋回動作を行うと、ゲートバル
ブ18が閉まり、その後、補助真空室17では上記のご
とき大気への開放が行われ、次の50枚の未処理基板を
導入する準備が行われる。なお補助真空室17の外側に
は50枚の未処理基板を搬入されるためのロボット機構
が設けられている。またロボット25は、基板カセット
27,28に基板を配置するタイミングがくるまで50
枚の基板を持ったまま待機しており、そして最後の取出
し信号を受けてから、50枚の基板を基板カセット2
7,28に搭載する。以上のように構成することによっ
て、補助真空室17は、基板116の受渡しタイミング
に関係なく、真空排気・ベントなどの仕事を行うことが
できる。
16の搬入、ロボット25,26による基板の移動を行
うことによって成膜装置10の各キャリア106への基
板の仕込動作(移載動作)が継続される。本実施形態に
よれば、補助真空室が一室であっても、これが律速せ
ず、仕込動作の能力を2倍に高めることができる。すな
わち、ロボット26によってキャリア106の2つのホ
ルダ151に2枚の基板を同時に取りつけられるように
構成し、ロボット26の動作能力で律速するようにした
ため、仕込動作の能力を2倍に高めることができ、基板
の搬送能力を2倍に高め、成膜装置10としての処理能
力を2倍に高めることができる。
各真空室10bでの成膜処理のプロセスに関しても、処
理能力向上の制限にならないように、成膜処理の効率が
改善されている。
16と1つの補助真空室17を備え、前述の基板仕込装
置11と同じ構造で構成されている。ただし、基板回収
装置12での基板116の回収動作は、成膜装置10で
成膜処理が完了した基板116がキャリア106で真空
室10cへ搬送され、ロボット26がキャリアのホルダ
から中間に位置する基板カセット27,28に2枚の基
板を移動する。ロボット26がこれを繰返し、基板カセ
ット27,28に50枚の基板が搭載された時点で、ロ
ボット25が基板カセット27,28の50枚の基板を
同時に補助真空室17の基板カセット23,24に移
す。その間、ロボット26は、キャリア106から基板
カセット27,28への基板の移動を繰り返している。
補助真空室17の基板カセットに移動された成膜済みの
基板は、補助真空室17を前述の通り大気に開放し、搬
出用扉であるゲートバルブ19から外部へ搬出され、回
収される。その後補助真空室17は閉じられ、所定レベ
ルまで真空排気される。このように、基板回収装置12
による基板回収動作も同様に補助真空室で律速されず、
成膜装置10の生産能力の向上に寄与する。
基板移動の動作は2枚を同時に移動するように構成した
が、これに限定されない。例えば先部アームの形状を三
股、四つ股等にすることにより、3枚あるいは4枚の基
板を同時に取り出し、取り付けるように構成することも
できる。かかる構成によれば、搬送能率、生産能率をさ
らに向上させることができる。
れば、例えば成膜装置のような基板処理装置に付設され
る基板仕込装置や基板回収装置等の基板移載装置におい
て、真空室と補助真空室をそれぞれ一室設け、補助真空
室には例えば2列の並列な基板カセットを設け各基板カ
セットにはセンタ孔を有する例えば25枚の円形基板が
配置され、真空室には、例えば、すべての基板を第2の
基板カセットへ移動する第1のロボットと、第2の基板
カセットと、第2の基板カセットから複数枚の基板を同
時にピックアップしキャリアの複数のホルダに同時に取
り付ける第2のロボットを設け、所定の同期関係の下で
動作させるように構成したため、基板の搬入あるいは搬
出の搬送動作の処理能力を高めることができ、基板処理
装置の生産能力を高めることができる。
イン式成膜装置の平面図である。
連するその周辺部分とを詳細に示した平面図である。
示す図である。
(A)と側面図(B)を示す図である。
(A)と側面図(B)を示す図である。
置の部分と、関連するその周辺部分を詳細に示した平面
図である。
る。
視図である。
Claims (5)
- 【請求項1】 多角形リング状に配置されかつ直列に接
続されると共にそれぞれ真空環境で基板に対して処理を
行う複数の真空室と、これらの真空室を貫くように設け
られ前記多角形リング状の搬送路を形成する搬送系と、
基板処理面を搬送方向の側方に向けて少なくとも2枚の
前記基板を保持する複数のキャリアとを備えて成り、前
記搬送系により複数の前記キャリアが所定間隔で前記搬
送路に沿って移動し、その移動の際に複数の前記真空室
のそれぞれで前記基板が処理を受けるように構成された
基板処理装置に付設される基板移載装置であり、 外部側に配置され、それぞれ複数枚の前記基板が搭載可
能で、並列に並べられた複数の第1基板カセットを設け
る第1真空室と、 前記搬送路に沿って前記キャリアが移動する搬送用真空
室に通じると共に、前記第1真空室側に配置された基板
搬送用の第1ロボットと、前記搬送用真空室側に配置さ
れた基板搬送用の第2ロボットと、前記第1ロボットと
前記第2ロボットの間に配置され、複数枚の前記基板が
搭載可能で並列に並べられた複数の第2基板カセットと
を設ける第2真空室と、 を備えることを特徴とする基板処理装置の基板移載装
置。 - 【請求項2】 前記第1真空室は外部からの未処理基板
の搬入室として使用され、並列な複数の前記第1基板カ
セットには未処理基板が搭載され、前記第1ロボットは
複数の前記第1基板カセットに搭載されたすべての前記
未処理基板を同時に並列な複数の前記第2基板カセット
に移動して搭載し、前記第2ロボットは複数の前記第2
基板カセットのそれぞれから手前側の1枚の基板を同時
に取出し、前記搬送用真空室に存在する前記キャリアの
複数のホルダに同時に取り付けることを特徴とする請求
項1記載の基板処理装置の基板移載装置。 - 【請求項3】 前記第1基板カセットおよび前記第2基
板カセットは2列で配置されると共に前記キャリアは2
台の前記ホルダを有し、前記第1ロボットは二股状先部
アームに2本の基板支持ロッドを有すると共に、前記第
2ロボットは二股状先部アームに2つの基板支持ブロッ
クを有することを特徴とする請求項2記載の基板処理装
置の基板移載装置。 - 【請求項4】 前記第1真空室は外部へ処理済み基板を
搬出する搬出室として使用され、前記第2ロボットは、
前記搬送用真空室に存在する前記キャリアの複数のホル
ダから処理済みの基板を同時に取り外し、並列な複数の
前記第2基板カセットのそれぞれへ載置し、これを繰返
して前記第2基板カセットを充填し、前記第1ロボット
は、複数の前記第2基板カセットに搭載されたすべての
前記処理済み基板を同時に並列な複数の前記第1基板カ
セットに移動して搭載し、複数の前記第1基板カセット
に搭載された処理済み基板は外部へ搬出されることを特
徴とする請求項1記載の基板処理装置の基板移載装置。 - 【請求項5】 前記第1基板カセットおよび前記第2基
板カセットは2列で配置されると共に前記キャリアは2
台の前記ホルダを有し、前記第1ロボットは二股状先部
アームに2本の基板支持ロッドを有すると共に、前記第
2ロボットは二股状先部アームに2つの基板支持ブロッ
クを有することを特徴とする請求項3記載の基板処理装
置の基板移載装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000020279A JP4526151B2 (ja) | 2000-01-28 | 2000-01-28 | 基板処理装置の基板移載装置 |
US09/769,256 US6319373B2 (en) | 2000-01-28 | 2001-01-26 | Substrate transfer apparatus of substrate processing system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000020279A JP4526151B2 (ja) | 2000-01-28 | 2000-01-28 | 基板処理装置の基板移載装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009143636A Division JP5042277B2 (ja) | 2009-06-16 | 2009-06-16 | 基板処理装置及び搬送方法、並びに真空処理方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001210695A true JP2001210695A (ja) | 2001-08-03 |
JP4526151B2 JP4526151B2 (ja) | 2010-08-18 |
Family
ID=18546865
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000020279A Expired - Fee Related JP4526151B2 (ja) | 2000-01-28 | 2000-01-28 | 基板処理装置の基板移載装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6319373B2 (ja) |
JP (1) | JP4526151B2 (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007087457A (ja) * | 2005-09-20 | 2007-04-05 | Fujitsu Ltd | 磁気記録媒体製造方法および磁気記録媒体製造装置 |
JP2010080919A (ja) * | 2008-03-14 | 2010-04-08 | Intevac Inc | 取り外し可能なマスクを用いる基板処理システム及び方法 |
JP2011074487A (ja) * | 2009-09-02 | 2011-04-14 | Canon Anelva Corp | 真空処理装置及び基板移載方法 |
JP2012134370A (ja) * | 2010-12-22 | 2012-07-12 | Canon Anelva Corp | チャンバ、真空処理装置、基板移載方法 |
JP2014007410A (ja) * | 2007-10-23 | 2014-01-16 | Orbotech Lt Solar Llc | ワーク処理装置 |
US8795466B2 (en) | 2008-06-14 | 2014-08-05 | Intevac, Inc. | System and method for processing substrates with detachable mask |
US8920107B2 (en) | 2010-05-19 | 2014-12-30 | Canon Anelva Corporation | Substrate support apparatus and vacuum processing apparatus |
US9287152B2 (en) | 2009-12-10 | 2016-03-15 | Orbotech LT Solar, LLC. | Auto-sequencing multi-directional inline processing method |
US9462921B2 (en) | 2011-05-24 | 2016-10-11 | Orbotech LT Solar, LLC. | Broken wafer recovery system |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20040026036A1 (en) * | 2001-02-23 | 2004-02-12 | Hitachi Kokusai Electric Inc. | Substrate processing apparatus and substrate processing method |
US6556887B2 (en) * | 2001-07-12 | 2003-04-29 | Applied Materials, Inc. | Method for determining a position of a robot |
US6808741B1 (en) | 2001-10-26 | 2004-10-26 | Seagate Technology Llc | In-line, pass-by method for vapor lubrication |
JP4450664B2 (ja) * | 2003-06-02 | 2010-04-14 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置及び基板搬送方法 |
US7354618B2 (en) * | 2003-11-12 | 2008-04-08 | Seagate Technology Llc | Oxygen plasma post-deposition treatment of magnetic recording media |
US20050213489A1 (en) * | 2004-03-09 | 2005-09-29 | Jensen Steven R | Disk printer and transporter |
TW200641880A (en) * | 2005-04-26 | 2006-12-01 | Steag Hamatech Ag | Process and device for coating disk-shaped substrates for optical data carriers |
US20080101912A1 (en) * | 2006-10-26 | 2008-05-01 | Martin Todd W | Deposition analysis for robot motion correction |
JP5028193B2 (ja) * | 2007-09-05 | 2012-09-19 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 半導体製造装置における被処理体の搬送方法 |
US8992153B2 (en) * | 2008-06-30 | 2015-03-31 | Intevac, Inc. | System and method for substrate transport |
US9157145B2 (en) | 2008-07-29 | 2015-10-13 | Intevac, Inc. | Processing tool with combined sputter and evaporation deposition sources |
JP4377452B1 (ja) * | 2008-09-30 | 2009-12-02 | キヤノンアネルバ株式会社 | 基板ホルダー収納チャンバ、インライン型基板処理装置及び磁気ディスクの製造方法 |
US9685186B2 (en) * | 2009-02-27 | 2017-06-20 | Applied Materials, Inc. | HDD pattern implant system |
JP5042277B2 (ja) * | 2009-06-16 | 2012-10-03 | キヤノンアネルバ株式会社 | 基板処理装置及び搬送方法、並びに真空処理方法 |
TW201137143A (en) * | 2010-04-28 | 2011-11-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Sputtering system |
US20120305192A1 (en) | 2011-06-03 | 2012-12-06 | Arthur Keigler | Parallel single substrate processing fluid jet module |
CN102969223B (zh) * | 2011-08-31 | 2016-01-13 | 细美事有限公司 | 基板处理设备及基板处理方法 |
US9896289B2 (en) | 2013-03-14 | 2018-02-20 | Southwall Technologies Inc. | Automated film pickup and placement method for insulating glass units |
JP6303167B2 (ja) * | 2013-11-07 | 2018-04-04 | 昭和電工株式会社 | インライン式成膜装置及びそれを用いた磁気記録媒体の製造方法 |
JP6055575B2 (ja) * | 2014-03-04 | 2016-12-27 | キヤノンアネルバ株式会社 | 真空処理装置及び真空処理方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0533127A (ja) * | 1991-07-26 | 1993-02-09 | Fujitsu Ltd | スパツタリング装置のデイスクハンドリング機構 |
JPH07321178A (ja) * | 1994-05-24 | 1995-12-08 | Hitachi Ltd | 搬送装置およびその搬送装置を有するマルチチャンバ装置 |
JPH08274142A (ja) * | 1995-03-30 | 1996-10-18 | Anelva Corp | インライン式成膜装置 |
JPH09104983A (ja) * | 1995-08-05 | 1997-04-22 | Kokusai Electric Co Ltd | 基板処理装置 |
JPH1079412A (ja) * | 1996-09-02 | 1998-03-24 | C Bui Res:Kk | 半導体製造装置 |
JPH10275848A (ja) * | 1996-11-18 | 1998-10-13 | Applied Materials Inc | デュアル・ブレード・ロボット |
-
2000
- 2000-01-28 JP JP2000020279A patent/JP4526151B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-01-26 US US09/769,256 patent/US6319373B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0533127A (ja) * | 1991-07-26 | 1993-02-09 | Fujitsu Ltd | スパツタリング装置のデイスクハンドリング機構 |
JPH07321178A (ja) * | 1994-05-24 | 1995-12-08 | Hitachi Ltd | 搬送装置およびその搬送装置を有するマルチチャンバ装置 |
JPH08274142A (ja) * | 1995-03-30 | 1996-10-18 | Anelva Corp | インライン式成膜装置 |
JPH09104983A (ja) * | 1995-08-05 | 1997-04-22 | Kokusai Electric Co Ltd | 基板処理装置 |
JPH1079412A (ja) * | 1996-09-02 | 1998-03-24 | C Bui Res:Kk | 半導体製造装置 |
JPH10275848A (ja) * | 1996-11-18 | 1998-10-13 | Applied Materials Inc | デュアル・ブレード・ロボット |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007087457A (ja) * | 2005-09-20 | 2007-04-05 | Fujitsu Ltd | 磁気記録媒体製造方法および磁気記録媒体製造装置 |
JP2014007410A (ja) * | 2007-10-23 | 2014-01-16 | Orbotech Lt Solar Llc | ワーク処理装置 |
US8998552B2 (en) | 2007-10-23 | 2015-04-07 | Orbotech LT Solar, LLC. | Processing apparatus and processing method |
JP2010080919A (ja) * | 2008-03-14 | 2010-04-08 | Intevac Inc | 取り外し可能なマスクを用いる基板処理システム及び方法 |
US8795466B2 (en) | 2008-06-14 | 2014-08-05 | Intevac, Inc. | System and method for processing substrates with detachable mask |
JP2011074487A (ja) * | 2009-09-02 | 2011-04-14 | Canon Anelva Corp | 真空処理装置及び基板移載方法 |
US8202034B2 (en) | 2009-09-02 | 2012-06-19 | Canon Anelva Corporation | Vacuum processing apparatus and substrate transfer method |
US9287152B2 (en) | 2009-12-10 | 2016-03-15 | Orbotech LT Solar, LLC. | Auto-sequencing multi-directional inline processing method |
US8920107B2 (en) | 2010-05-19 | 2014-12-30 | Canon Anelva Corporation | Substrate support apparatus and vacuum processing apparatus |
JP2012134370A (ja) * | 2010-12-22 | 2012-07-12 | Canon Anelva Corp | チャンバ、真空処理装置、基板移載方法 |
US9462921B2 (en) | 2011-05-24 | 2016-10-11 | Orbotech LT Solar, LLC. | Broken wafer recovery system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6319373B2 (en) | 2001-11-20 |
JP4526151B2 (ja) | 2010-08-18 |
US20010010204A1 (en) | 2001-08-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2001210695A (ja) | 基板処理装置の基板移載装置 | |
JP6123104B2 (ja) | 異なる保持エンドエフェクタを有する基板搬送装置 | |
JP4472332B2 (ja) | ロードロック用高速交換2重化基板移送 | |
JP2002507846A5 (ja) | ||
JP3437734B2 (ja) | 製造装置 | |
JP2751975B2 (ja) | 半導体処理装置のロードロック室 | |
JPS60115216A (ja) | 真空処理方法及び装置 | |
JPH05160241A (ja) | 基板処理装置 | |
JPH08181189A (ja) | 真空中処理における加工物の高速度移動 | |
JPH09176857A (ja) | ワークピースを表面処理するための真空装置 | |
EP1115535A1 (en) | Substrate transport apparatus | |
JP2004288718A (ja) | 基板搬送装置及び基板処理装置 | |
JPH07321178A (ja) | 搬送装置およびその搬送装置を有するマルチチャンバ装置 | |
JPH10284577A (ja) | 被処理基板の移載方法 | |
JP2004288720A (ja) | 基板搬送装置及び基板処理装置 | |
JP2003516622A (ja) | 狭い据付面積のフロントエンドローダ運搬装置 | |
JP5042277B2 (ja) | 基板処理装置及び搬送方法、並びに真空処理方法 | |
US11694913B2 (en) | Hybrid system architecture for thin film deposition | |
JPH0615720B2 (ja) | 真空処理装置 | |
JPH10189685A (ja) | 基板処理装置 | |
WO2020132105A1 (en) | Hybrid system architecture for thin film deposition | |
JP7525169B2 (ja) | 薄膜形成用ハイブリッドシステムアーキテクチャ | |
JP2541902B2 (ja) | 基板搬送装置 | |
JP2695403B2 (ja) | 半導体基板処理方法および半導体基板処理装置 | |
JP2883597B2 (ja) | 真空処理装置及び半導体基板処理方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20061122 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090417 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090421 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090619 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091027 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091225 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100601 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100601 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130611 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4526151 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |