JP2001192422A - 有機反射防止化合物及びその製造方法 - Google Patents

有機反射防止化合物及びその製造方法

Info

Publication number
JP2001192422A
JP2001192422A JP2000388729A JP2000388729A JP2001192422A JP 2001192422 A JP2001192422 A JP 2001192422A JP 2000388729 A JP2000388729 A JP 2000388729A JP 2000388729 A JP2000388729 A JP 2000388729A JP 2001192422 A JP2001192422 A JP 2001192422A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
hydrogen
acrylate
poly
methyl
antireflection film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000388729A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3960750B2 (ja
Inventor
Min-Ho Jung
ホ ジョン ミン
Sung Eun Hong
エウン ホン スン
Jae-Chang Jung
チャン ジョン ジャエ
Geun Su Lee
ス リー ゲウン
Ki Ho Baik
ホ バイク キ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SK Hynix Inc
Original Assignee
Hyundai Electronics Industries Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hyundai Electronics Industries Co Ltd filed Critical Hyundai Electronics Industries Co Ltd
Publication of JP2001192422A publication Critical patent/JP2001192422A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3960750B2 publication Critical patent/JP3960750B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08FMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F120/00Homopolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and only one being terminated by only one carboxyl radical or a salt, anhydride, ester, amide, imide or nitrile thereof
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08FMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F220/00Copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and only one being terminated by only one carboxyl radical or a salt, anhydride ester, amide, imide or nitrile thereof
    • C08F220/02Monocarboxylic acids having less than ten carbon atoms; Derivatives thereof
    • C08F220/10Esters
    • C08F220/34Esters containing nitrogen, e.g. N,N-dimethylaminoethyl (meth)acrylate
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/09Photosensitive materials characterised by structural details, e.g. supports, auxiliary layers
    • G03F7/091Photosensitive materials characterised by structural details, e.g. supports, auxiliary layers characterised by antireflection means or light filtering or absorbing means, e.g. anti-halation, contrast enhancement

Abstract

(57)【要約】 【課題】 64M、256M、1G、4G 16G DR
AMの超微細バターンの形成時に使用でき、製品の収率
を増大させることができる乱反射防止膜用重合体とその
製造方法を提供する。 【解決手段】 反射防止膜に使用される化合物自体が1
93nm及び248nmの波長の光を吸収できるよう
に、吸光度の高い発色団を含有させ、また、有機反射防
止膜の成形性、気密性、溶解性の付与のため、コーティ
ング後のハードベイク時に、樹脂内のアルコール基と機
能基間で架橋反応が起こるメカニズムを導入した。本発
明では、架橋反応の効率性及び貯蔵安定性が向上し、本
発明の反射防止膜樹脂は、ハイドロカーボン系の全ての
溶媒に対して溶解性が優秀であり、かつハードベイク後
にはどんな溶媒にも溶解されない耐溶解性を持ってい
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体素子の製造工
程において、248nmKrF、193nmArF及び
157nmF2レーザーを用いるリソグラフィー用フォ
トレジストを使用する超微細パターン形成工程におい
て、下部膜層の反射を防止し、光及びフォトレジスト自
体の厚さ変化による定在波を除去し得る反射防止用有機
物質に関するもので、64M、256M、1G、4G
DRAMの超微細パターンの形成時に使用できる有機乱
反射防止化合物及びその製造方法に関するものである。
また、本発明はこのような有機乱反射防止化合物を含有
する乱反射防止組成物、これを用いた反射防止膜及びそ
の製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体製造工程における超微細パターン
形成工程においては、ウェーハ上の下部膜層の光学的性
質及び感光膜の厚さの変動による定在波(standing wav
e)、反射ノッチング(reflective notching)と下部膜
からの回折光及び反射光によるCD(Critical Dimensi
on)の変動が不可避に起こる。したがって、露光源とし
て使用する光の波長帯での光吸収が良好な有機物質を使
用した、下部膜層での反射を防ぐための膜層の導入が提
案された。この膜が反射防止膜である。
【0003】反射防止膜は、使用される物質の種類によ
って大きくは無機系反射防止膜と有機系反射防止膜とに
区分される。また、反射防止メカニズムによって吸収系
反射防止膜と干渉系反射防止膜に分けられる。波長36
5nmのI線(I-line)を用いる微細パターン形成工程
では主として無機系反射防止膜が使用されており、吸収
系としてはTiN及び非晶形カーボン(Amorphous C)
が、干渉系としてはSiONが使用されている。
【0004】KrF光を用いる超微細パターン形成工程
では、主として無機系であるSiONが使用されてきた
が、最近では、反射防止膜に有機系化合物も使用される
ようになってきた。現在までに得られた知見からする
と、有機反射防止膜には次のような基本条件が備えられ
ていることが望ましい。
【0005】(1)工程の適用時、フォトレジストが溶
媒により溶解されて剥ける現象があってはならない。こ
のためには、成形膜が架橋構造をなし得るように設計さ
れなければならず、この際に、副産物として化学物質が
発生してはならない。
【0006】(2)反射防止膜からの酸又はアミンなど
の化学物質の出入があってはならない。仮に、反射防止
膜から酸が移行(migration)すると、パターンの下部
にアンダーカッティング(undercutting)が発生し、ア
ミンなどの塩基が移行しながらフッティング(footin
g)現象を誘発する傾向があるためである。
【0007】(3)反射防止膜は上部の感光膜に比べて
相対的に速いエッチング速度を有する必要がある。エッ
チング時、感光膜をマスクとして円滑なエッチング工程
を行うためである。
【0008】(4)したがって、反射防止膜はできるだ
け薄い厚さで十分に反射防止膜としての機能を発揮でき
なければならない。
【0009】一方、ArF光を使用する超微細パターン
形成工程においては、満足な反射防止膜が開発されてい
ないのが実情である。無機系反射防止膜の場合には、光
源である193nmでの干渉現象を制御すべき物質が未
だ発表されておらず、最近、有機系反射防止膜を使用し
ようとする努力が続いている。
【0010】したがって、全ての感光膜においては、露
光時に発生する定在波を防止し、下部層からの後面回折
及び反射光の影響を除去するため、特定波長に対する吸
収度が高い有機乱反射防止物質の使用が必須であり、こ
のような物質の開発が急を要する課題となっている。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】したがって、本発明の
目的は、半導体素子の製造工程中、193nmArF及
び248nmKrF光を用いる超微細パターン形成工程
において、反射防止膜として使用し得る新規の有機化合
物質を提供することにある。
【0012】本発明の他の目的は、乱反射を防止し得る
有機化合物質を製造する方法を提供することにある。
【0013】本発明の更に他の目的は、このような乱反
射防止用化合物を含有する乱反射防止組成物及びその製
造方法を提供することにある。
【0014】本発明の更に他の目的は、このような乱反
射防止組成物を使用して形成された乱反射防止膜、その
形成方法及びそれを用いて製造した半導体素子を提供す
ることにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明においては、化合
物自体が193nm及び248nmの波長の光を吸収す
るように、吸光度の高い発色団を含有させた。また、有
機反射防止膜に成形性、気密性、溶解性を付与するた
め、コーティング後のハードベイク時に架橋反応が起こ
るように、樹脂内のアルコール基と感能基間で架橋させ
るメカニズムを導入した。特に、本発明では、架橋反応
の効率性及び貯蔵安定性が向上し、本発明の反射防止膜
樹脂は、ハイドロカーボン系の全ての溶媒に対して溶解
性が優秀であり、しかもハードベイク後にはどんな溶媒
にも溶解されない耐溶解性を有している。したがって、
感光膜の塗布時、何らの問題も発生しないだけでなく、
パターン形成時、アンダーカッティング及びフッティン
グが発生せず、特に架橋鎖の結合がC−O結合からなっ
ていることにより、エッチング時、感光膜に比べて優れ
たエッチング速度を有するので、エッチング選択比が向
上された。
【0016】本発明の目的を達成するため、本発明の有
機反射防止膜として用いられる樹脂の基本式は下記化学
式(1)、(2)及び(3)のようである。
【0017】
【化7】
【0018】
【化8】
【0019】
【化9】
【0020】前記化学式(1)及び(2)において、R
a、Rb、Rcはそれぞれ水素又はメチル基を、R1ないし
9はそれぞれ水素、ヒドロキシ、メトキシカルボニ
ル、カルボキシル、ヒドロキシメチル、C1〜C5の置換
されているか又は置換されていない直鎖又は側鎖アルキ
ル、アルカン、アルコキシアルキル、アルコキシアルカ
ンを、w、x、yはそれぞれ0.01〜0.99のモル
分率を、nは1〜3の整数をそれぞれ示す。
【0021】また、前記化学式(3)において、R10
びR11はそれぞれ側鎖又は直鎖置換されたC1〜C10
アルキル基を、R12は水素又はメチル基を示す。
【0022】前記化学式(3)の化合物は、下記化学式
(4)ないし(7)から構成されるグループから選択さ
れるものを使用することも好ましい。
【0023】
【化10】
【0024】
【化11】
【0025】
【化12】
【0026】
【化13】
【0027】前記化学式(4)ないし(7)の化合物
は、アルコール基を有するほかの化合物と酸の存在下で
よく硬化される。
【0028】前記化学式(1)の化合物は、9−アント
ラルアルデヒドオキシムアクリラート系単量体、ヒドロ
キシアルキルアクリラート系単量体を溶媒中で開始剤と
ともに重合反応させて製造することができ、この際に、
各単量体は0.01〜0.99モル分率を有する。
【0029】また、前記化学式(2)の化合物は、9−
アントラルアルデヒドオキシムアクリラート系単量体、
ヒドロキシアルキルアクリラート系単量体及びメチルメ
タクリレートを溶媒中で開始剤とともに重合反応させて
製造することができ、この際に、各単量体は0.01〜
0.99モル分率を有する。
【0030】本発明による前記化学式(1)及び(2)
の化合物を製造するために使用し得る開始剤としては一
般的なラジカル開始剤を使用することができ、好ましく
は、2,2−アゾビスイソブチロニトリル(AIB
N)、アセチルパーオキサイド、ラウリルパーオキサイ
ド、t−ブチルパーオキサイドからなるグループから選
択されたものを使用することができ、使用される溶媒と
しては一般的な有機溶媒を使用することができ、好まし
くは、テトラヒドロフラン、トルエン、ベンゼン、メチ
ルエチルケトン又はジオキサンからなるグループから選
択されたものを使用することができる。
【0031】本発明による前記化学式(1)及び(2)
の化合物の製造方法において、重合反応は50〜90℃
で行うことが好ましい。
【0032】前記化学式(3)の化合物の製造方法は、
(メト)アクロレインを重合させてポリ(メト)アクロ
レインを製造した後、製造された結果物を側鎖又は主鎖
置換された炭素数1〜10のアルキルアルコールと反応
させることからなる。
【0033】より詳しくは、まず(メト)アクロレイン
を有機溶媒に溶かし、これに重合開始剤を添加し、真空
状態の60〜70℃の温度で4〜6時間重合反応させた
後、その結果物に側鎖又は主鎖置換された炭素数1〜1
0のアルキルアルコールをトリフルオロメチルスルホン
酸を触媒として常温で20〜30時間反応させることか
らなる。
【0034】前記過程において、前記有機溶媒として
は、テトラヒドロフラン(THF)、シクロヘキサノ
ン、ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、ジ
オキサン、メチルエチルケトン、ベンゼン、トルエン及
びキシレンからなるグループから選択される1種又はそ
れ以上を混合して使用することが好ましい。
【0035】また、前記重合開始剤としては、2,2−
アゾビスイソブチロニトリル(AIBN)、ベンゾイル
パーオキサイド、アセチルパーオキサイド、ラウリルパ
ーオキサイド、t−ブチルパーアセテート、t−ブチル
ヒドロパーオキサイド及びジ−t−ブチルパーオキサイ
ドからなるグループから選択されたものを使用すること
が好ましい。
【0036】また、前記炭素数1〜10のアルキルアル
コールとしては、メタノール又はエタノールを使用する
ことが好ましい。
【0037】また、本発明は、前記化学式(1)又は
(2)の化合物の1種と前記化学式(3)の化合物の1
種とを含んでなる反射防止膜用組成物を提供する。ま
た、本発明は、前記反射防止膜用組成物にアントラセン
誘導体からなるグループから選択される1種又は2種以
上の添加剤を更に添加したことを特徴とする反射防止膜
組成物を提供する。
【0038】前記添加剤としてのアントラセン誘導体
は、アントラセン、9−アントラセンメタノール、9−
アントラセンカルボニトリル、9−アントラセンカルボ
ン酸、ジトラノ−ル、1,2,10−アントラセントリ
オール、アントラフラボン酸、9−アントアルデヒドオ
キシム、9−アントラルデヒド、2−アミノ−7−メチ
ル−オキソ−5H−[1]ベンゾピラノ[2,3−b]
ベンゾピリジン−3−カルボニトリル、1−アミノアン
トラキノン、アントラキノン−2−カルボン酸、1,5
−ジヒドロキシアントラキノン、アントロン、9−アン
トリルトリフルオロメチルケトン、下記化学式(8)の
9−アルキルアントラセン誘導体、下記化学式(9)の
カルボキシルアントラセン誘導体、下記化学式(10)
のカルボキシルアントラセン誘導体からなるグループか
ら選択されたものが好ましい。
【0039】
【化14】
【0040】
【化15】
【0041】
【化16】
【0042】前記式において、R1、R2、R3はそれぞ
れ水素、ヒドロキシ基又は炭素数1〜5の置換されてい
るか又は置換されていない直鎖あるいは側鎖アルキル、
アルカン、アルコキシアルキル、アルコキシアルカンで
ある。
【0043】本発明は、前記化学式(1)又は化学式
(2)の化合物の1種と前記化学式(3)の化合物を混
合して有機溶媒に溶かした後、この溶液を濾過して下部
層に塗布し、ハードベイクすることからなる反射防止膜
の製造方法を提供し、また、前記化学式(1)又は前記
化学式(2)の化合物の1種と前記化学式(3)の化合
物を混合して有機溶媒に溶かした後、前記アントラセン
誘導体から構成されるグループから選択された1種又は
2種以上の添加剤を添加した溶液を濾過して下部層に塗
布した後、ハードベイクすることからなる反射防止膜の
製造方法を提供する。
【0044】前記反射防止膜の製造方法において、重合
反応時の有機溶媒としては、通常の有機溶媒を使用する
ことができ、好ましくはエチル3−エトキシプロピオネ
ート、メチル3−メトキシプロピオネート、シクロヘキ
サノン、プロピレングリコールメチルエーテルアセテー
トなどを使用することができる。この際に、溶媒の量は
200〜5000重量%にすることが好ましい。
【0045】また、ハードベイクは100〜300℃の
温度で10〜1000秒間行うことが好ましく、ハード
ベイクにより反射防止膜樹脂を架橋させて反射防止膜を
形成する。
【0046】前記方法により形成された反射防止膜は、
193nmArF、248nmKrF及び157nmF
2レーザーを使用する超微細パターン形成工程の有機反
射防止膜としても優秀な性能を表すものと確認された。
【0047】また、本発明は前記方法により製造された
反射防止膜を用いて製造された半導体素子を提供する。
【0048】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好ましい実施例に
基づいて本発明をより具体的に説明する。しかし、下記
の実施例は本発明の権利範囲を限定するものではなく、
ただ例示のために提示するものである。
【0049】(実施例1)ポリ[9−アントラルアルデ
ヒドオキシムアクリラート−(2−ヒドロキシエチルア
クリラート)]共重合体の合成 (1)9−アントラルアルデヒドオキシムアクリラート
の合成 9−アントラセンアルデヒドオキシム0.5モルとピリ
ジン0.5モルをテトラヒドロフランに溶解させた後、
アクリロイルクロライド0.5モルを加えた。反応溶液
を濾過した後、再度エチルアセテートで抽出した後、蒸
留水で多数回洗浄し、減圧蒸留器で乾燥させることで、
下記化学式(11)で表示される9−アントラルアルデ
ヒドオキシムアクリラートを収得した。この際に、収率
は82%であった。
【0050】
【化17】
【0051】(2)ポリ[9−アントラルアルデヒドオ
キシムアクリラート−(2−ヒドロキシエチルアクリラ
ート)]共重合体の合成 9−アントラルアルデヒドオキシムアクリラート単量体
0.5モル、2−ヒドロキシエチルアクリラート0.5
モルを500mlの円形フラスコに入れ、撹拌しなが
ら、予め用意したテトラヒドロフラン(THF)300
gを加えた後よく混ぜ合わせ、2,2′−アゾビスイソ
ブチロニトリル(AIBN)を0.1〜3g加えた後、
窒素雰囲気の60℃〜75℃の温度で5〜20時間反応
させた。反応の完了後、この溶液をエチルエーテル又は
ノルマルヘキサン溶媒に沈殿させ、濾過し乾燥させるこ
とで、本発明による化合物である下記化学式(12)の
構造を有するポリ[9−アントラルヒドロオキシムアク
リラート−(2−ヒドロキシエチルアクリラート)]樹
脂を得た。この際に、収率は82%であった。
【0052】
【化18】
【0053】(実施例2)ポリ[9−アントラルアルデ
ヒドオキシムアクリラート−(3−ヒドロキシプロピル
アクリラート)]共重合体の合成 実施例1で合成した9−アントラルアルデヒドオキシム
アクリラート単量体0.5モル、3−ヒドロキシプロピ
ルアクリラート0.5モルを500mlの円形フラスコ
に入れ、撹拌しながら、予め用意したテトラヒドロフラ
ン(THF)300gを加えた後よく混ぜ合わせ、2,
2′−アゾビスイソブチロニトリル(AIBN)を0.
1〜3g加えた後、窒素雰囲気の60℃〜75℃の温度
で5〜20時間反応させた。反応の完了後、この溶液を
エチルエーテル又はノルマルヘキサン溶媒に沈殿させ、
濾過し乾燥させることで、本発明による化合物である下
記化学式(13)の構造を有するポリ[9−アントラル
アルデヒドオキシムアクリラート−(3−ヒドロキシプ
ロピルアクリラート)]樹脂を得た。この際に、収率は
82%であった。
【0054】
【化19】
【0055】(実施例3)ポリ[9−アントラルアルデ
ヒドオキシムアクリラート−(4−ヒドロキシブチルア
クリラート)]共重合体の合成 実施例1で合成した9−アントラルアルデヒドオキシム
アクリラート単量体0.5モル、4−ヒドロキシブチル
アクリラート0.5モルを500mlの円形フラスコに
入れ、撹拌しながら、予め用意したテトラヒドロフラン
(THF)300gを加えた後よく混ぜ合わせ、2,
2′−アゾビスイソブチロニトリル(AIBN)を0.
1〜3g加えた後、窒素雰囲気の60℃〜75℃の温度
で5〜20時間反応させた。反応の完了後、この溶液を
エチルエーテル又はノルマルヘキサン溶媒に沈殿させ、
濾過し乾燥させることで、本発明による化合物である下
記化学式(14)の構造を有するポリ[9−アントラル
アルデヒドオキシムアクリラート−(4−ヒドロキシブ
チルアクリラート)]樹脂を得た。この際に、収率は8
0%であった。
【0056】
【化20】
【0057】(実施例4)ポリ[9−アントラルアルデ
ヒドオキシムメタクリレート−(2−ヒドロキシエチル
アクリラート)]共重合体の合成 (1)9−アントラルアルデヒドオキシムメタクリレー
トの合成 9−アントラルアルデヒドオキシム0.5モルとピリジ
ン0.5モルをテトラヒドロフランに溶解させた後、メ
タクリロイルクロライド0.5モルを加えた。反応溶液
を濾過した後、再度エチルアセテートで抽出し、蒸留水
で多数回洗浄し、減圧蒸留器で乾燥させることで、下記
化学式(15)で表示される9−アントラルアルデヒド
オキシムメタクリレートを得た。この際に、収率は80
%であった。
【0058】
【化21】
【0059】(2)ポリ[9−アントラルアルデヒドオ
キシムメタクリレート−(2−ヒドロキシエチルアクリ
ラート)]共重合体の合成 9−アントラルアルデヒドオキシムメタクリレート単量
体0.5モル、2−ヒドロキシエチルアクリラート0.
5モルを500mlの円形フラスコに入れ、撹拌しなが
ら、予め用意したテトラヒドロフラン(THF)300
gを加えた後よく混ぜ合わせ、2,2′−アゾビスイソ
ブチロニトリル(AIBN)を0.1〜3g加えた後、
窒素雰囲気の60℃〜75℃の温度で5〜20時間反応
させた。反応の完了後、この溶液をエチルエーテル又は
ノルマルヘキサン溶媒に沈殿させ、濾過し乾燥させるこ
とで、本発明による化合物である下記化学式(16)の
構造を有するポリ[9−アントラルアルデヒドオキシム
メタクリレート−(2−ヒドロキシエチルアクリラー
ト)]樹脂を得た。この際に、収率は78%であった。
【0060】
【化22】
【0061】(実施例5)ポリ[9−アントラルアルデ
ヒドオキシムメタクリレート−(3−ヒドロキシプロピ
ルアクリラート)]共重合体の合成 前記実施例4で合成した9−アントラルアルデヒドオキ
シムメタクリレート単量体0.5モル、3−ヒドロキシ
プロピルアクリラート0.5モルを500mlの円形フ
ラスコに入れ、撹拌しながら、予め用意したテトラヒド
ロフラン(THF)300gを加えた後よく混ぜ合わ
せ、2,2′−アゾビスイソブチロニトリル(AIB
N)を0.1〜3g加えた後、窒素雰囲気の60℃〜7
5℃の温度で5〜20時間反応させた。反応の完了後、
この溶液をエチルエーテル又はノルマルヘキサン溶媒に
沈殿させ、濾過し乾燥させることで、本発明による化合
物である下記化学式(17)の構造を有するポリ[9−
アントラルアルデヒドオキシムメタクリレート−(3−
ヒドロキシプロピルアクリラート)]樹脂を得た。この
際に、収率は81%であった。
【0062】
【化23】
【0063】(実施例6)ポリ[9−アントラルアルデ
ヒドオキシムメタクリレート−(4−ヒドロキシブチル
アクリラート)]共重合体の合成 前記実施例4で合成した9−アントラルアルデヒドオキ
シムメタクリレート単量体0.5モル、4−ヒドロキシ
ブチルアクリラート0.5モルを500mlの円形フラ
スコに入れ、撹拌しながら、予め用意したテトラヒドロ
フラン(THF)300gを加えた後よく混ぜ合わせ、
2,2′−アゾビスイソブチロニトリル(AIBN)を
0.1〜3g加えた後、窒素雰囲気の60℃〜75℃の
温度で5〜20時間反応させた。反応の完了後、この溶
液をエチルエーテル又はノルマルヘキサン溶媒に沈殿さ
せ、濾過し乾燥させることで、本発明による化合物であ
る下記化学式(18)の構造を有するポリ[9−アント
ラルアルデヒドオキシムメタクリレート−(4−ヒドロ
キシブチルアクリラート)]樹脂を得た。この際に、収
率は80%であった。
【0064】
【化24】
【0065】(実施例7)ポリ[9−アントラルアルデ
ヒドオキシムアクリラート−(2−ヒドロキシエチルア
クリラート)−メチルメタクリレート]共重合体の合成 実施例1で合成した9−アントラルアルデヒドオキシム
アクリラート単量体0.3モル、2−ヒドロキシエチル
アクリラート0.5モル、メチルメタクリレート0.2
モルを500mlの円形フラスコに入れ、撹拌しなが
ら、予め用意したテトラヒドロフラン(THF)300
gを加えた後よく混ぜ合わせ、2,2′−アゾビスイソ
ブチロニトリル(AIBN)を0.1〜3g加えた後、
窒素雰囲気の60℃〜75℃の温度で5〜20時間反応
させた。反応の完了後、この溶液をエチルエーテル又は
ノルマルヘキサン溶媒に沈殿させ、濾過し乾燥させるこ
とで、本発明による化合物である下記化学式(19)の
構造を有するポリ[9−アントラルアルデヒドオキシム
アクリラート−(2−ヒドロキシエチルアクリラート)
−メチルメタクリレート]樹脂を得た。この際に、収率
は79%であった。
【0066】
【化25】
【0067】(実施例8)ポリ[9−アントラルアルデ
ヒドオキシムアクリラート−(3−ヒドロキシプロピル
アクリラート)−メチルメタクリレート]共重合体の合
成 実施例1で合成した9−アントラルアルデヒドオキシム
アクリラート単量体0.3モル、3−ヒドロキシプロピ
ルアクリラート0.5モル、メチルメタクリレート0.
2モルを500mlの円形フラスコに入れ、撹拌しなが
ら、予め用意したテトラヒドロフラン(THF)300
gを加えた後よく混ぜ合わせ、2,2′−アゾビスイソ
ブチロニトリル(AIBN)を0.1〜3g加えた後、
窒素雰囲気の60℃〜75℃の温度で5〜20時間反応
させた。反応の完了後、この溶液をエチルエーテル又は
ノルマルヘキサン溶媒に沈殿させ、濾過し乾燥させるこ
とで、本発明による化合物である下記化学式(20)の
構造を有するポリ[9−アントラルアルデヒドオキシム
アクリラート−(3−ヒドロキシプロピルアクリラー
ト)−メチルメタクリレート]樹脂を得た。この際に、
収率は80%であった。
【0068】
【化26】
【0069】(実施例9)ポリ[9−アントラルアルデ
ヒドオキシムアクリラート−(4−ヒドロキシブチルア
クリラート)−メチルメタクリレート]共重合体の合成 実施例1で合成した9−アントラルアルデヒドオキシム
アクリラート単量体0.3モル、4−ヒドロキシブチル
アクリラート0.5モル、メチルメタクリレート0.2
モルを500mlの円形フラスコに入れ、撹拌しなが
ら、予め用意したテトラヒドロフラン(THF)300
gを加えた後よく混ぜ合わせ、2,2′−アゾビスイソ
ブチロニトリル(AIBN)を0.1〜3g加えた後、
窒素雰囲気の60℃〜75℃の温度で5〜20時間反応
させた。反応の完了後、この溶液をエチルエーテル又は
ノルマルヘキサン溶媒に沈殿させ、濾過し乾燥させるこ
とで、本発明による化合物である下記化学式(21)の
構造を有するポリ[9−アントラルアルデヒドオキシム
アクリラート−(4−ヒドロキシブチルアクリラート)
−メチルメタクリレート]樹脂を得た。この際に、収率
は80%であった。
【0070】
【化27】
【0071】(実施例10)ポリ[9−アントラルアル
デヒドオキシムメタクリレート−(2−ヒドロキシエチ
ルアクリラート)−メチルメタクリレート]共重合体の
合成 前記実施例4で合成した9−アントラルアルデヒドオキ
シムメタクリレート単量体0.3モル、2−ヒドロキシ
エチルアクリラート0.5モル、メチルメタクリレート
0.2モルを500mlの円形フラスコに入れ、撹拌し
ながら、予め用意したテトラヒドロフラン(THF)3
00gを加えた後よく混ぜ合わせ、2,2′−アゾビス
イソブチロニトリル(AIBN)を0.1〜3g加えた
後、窒素雰囲気の60℃〜75℃の温度で5〜20時間
反応させた。反応の完了後、この溶液をエチルエーテル
又はノルマルヘキサン溶媒に沈殿させ、濾過し乾燥させ
ることで、本発明による化合物である下記化学式(2
2)の構造を有するポリ[9−アントラルアルデヒドオ
キシムメタクリレート−(2−ヒドロキシエチルアクリ
ラート)−メチルメタクリレート]樹脂を得た。この際
に、収率は79%であった。
【0072】
【化28】
【0073】(実施例11)ポリ[9−アントラルアル
デヒドオキシムメタクリレート−(3−ヒドロキシプロ
ピルアクリラート)−メチルメタクリレート]共重合体
の合成 前記実施例4で合成した9−アントラルアルデヒドオキ
シムメタクリレート単量体0.3モル、3−ヒドロキシ
プロピルアクリラート0.5モル、メチルメタクリレー
ト0.2モルを500mlの円形フラスコに入れ、撹拌
しながら、予め用意したテトラヒドロフラン(THF)
300gを加えた後よく混ぜ合わせ、2,2′−アゾビ
スイソブチロニトリル(AIBN)を0.1〜3g加え
た後、窒素雰囲気の60℃〜75℃の温度で5〜20時
間反応させた。反応の完了後、この溶液をエチルエーテ
ル又はノルマルヘキサン溶媒に沈殿させ、濾過し乾燥さ
せることで、本発明による化合物である下記化学式(2
3)の構造を有するポリ[9−アントラルアルデヒドオ
キシムメタクリレート−(3−ヒドロキシプロピルアク
リラート)−メチルメタクリレート]樹脂を得た。この
際に、収率は80%であった。
【0074】
【化29】
【0075】(実施例12)ポリ[9−アントラルアル
デヒドオキシムメタクリレート−(4−ヒドロキシブチ
ルアクリラート)−メチルメタクリレート]共重合体の
合成 前記実施例4で合成した9−アントラルアルデヒドオキ
シムメタクリレート単量体0.3モル、4−ヒドロキシ
ブチルアクリラート0.5モル、メチルメタクリレート
0.2モルを500mlの円形フラスコに入れ、撹拌し
ながら、予め用意したテトラヒドロフラン(THF)3
00gを加えた後よく混ぜ合わせ、2,2′−アゾビス
イソブチロニトリル(AIBN)を0.1〜3g加えた
後、窒素雰囲気の60℃〜75℃の温度で5〜20時間
反応させた。反応の完了後、この溶液をエチルエーテル
又はノルマルヘキサン溶媒に沈殿させ、濾過し乾燥させ
ることで、本発明による化合物である下記化学式(2
4)の構造を有するポリ[9−アントラルアルデヒドオ
キシムメタクリレート−(4−ヒドロキシブチルアクリ
ラート)−メチルメタクリレート]樹脂を得た。この際
に、収率は78%であった。
【0076】
【化30】
【0077】(実施例13)ポリ[アクロレインジメチ
ルアセタル]樹脂の合成 アクロレイン100g、テトラヒドロフラン(THF)
66g、AIBN 2gを500mlの円形フラスコに
入れ、真空状態にした後、65℃で5時間反応させ、反
応の完了後、生成された白色固体(ポリアクロレイン)
をフィルタリングした後、エチルエーテルで多数回拭い
取った。この際に、収率は80%であった。前記白色固
体80gとメタノール500gを1000mlの円形フ
ラスコに入れた後、トリフルオロメチルスルホン酸1m
lを触媒として加え、常温(25℃)で24時間以上反
応させた。始めには溶けなかった白色固体(ポリアクロ
レイン)は、反応が完了するにつれて、メタノールに溶
けることになる。反応の完了後、赤外線吸収分光器(I
Rスペクトル)で1690cm-1の吸収バンドがなくな
ることを確認し、トリエチルアミンで中和させた後、メ
タノールを蒸留器で除去してどろりとした状態にし、こ
の後、蒸留水で沈殿させてから真空乾燥することで、前
記化学式(4)の化合物を得た。この際に、収率は65
%であった。[分子量6,820;多分散度(polydisp
ersity)1.60;1H NMR 1.2〜2.1ppb
(3H)、3.0〜3.8ppb(6H)、3.8〜4.
7(1H)]
【0078】(実施例14)ポリ[アクロレインジエチ
ルアセタル]樹脂の合成 アクロレイン100g、THF 66g、AIBN 2g
を500mlの円形フラスコに入れ、真空状態にした
後、65℃で5時間反応させ、反応の完了後、生成され
た白色固体(ポリアクロレイン)をフィルタリングした
後、エチルエーテルで多数回拭い取った。この際に、収
率は80%であった。前記白色固体80gとエタノール
500gを1000mlの円形フラスコに入れた後、ト
リフルオロメチルスルホン酸1mlを触媒として加え、
常温(25℃)で24時間以上反応させた。始めには溶
けなかった白色固体(ポリアクロレイン)は、反応が完
了するにつれて、エタノールに溶けることになる。反応
の完了後、赤外線吸収分光器(IRスペクトル)で16
90cm-1の吸収バンドがなくなることを確認し、トリ
エチルアミンで中和させた後、エタノールを蒸留器で除
去してどろりとした状態にし、その後、蒸留水で沈殿さ
せてから真空乾燥することで、前記化学式5の化合物を
得た。この際に、収率は60%であった。[分子量7,
010;多分散度1.78;1H NMR 1.2〜2.
1ppb(9H)、3.0〜3.8ppb(4H)、3.8〜
4.7(1H)]
【0079】(実施例15)ポリ[メタクロレインジメ
チルアセタル]樹脂の合成 メタクロレイン100g、THF 66g、AIBN 2
gを500mlの円形フラスコに入れ、真空状態にした
後、65℃で5時間反応させ、反応の完了後、生成され
た白色固体(ポリメタクロレイン)をフィルタリングし
た後、エチルエーテルで多数回拭い取った。前記白色固
体80gとメタノール500gを1000mlの円形フ
ラスコに入れた後、トリフルオロメチルスルホン酸1m
lを触媒として加え、常温(25℃)で24時間以上反
応させた。始めには溶けなかった白色固体(ポリメタク
ロレイン)は、反応が完了するにつれて、メタノールに
溶けることになる。反応の完了後、赤外線吸収分光器
(IRスペクトル)で1690cm-1の吸収バンドがな
くなることを確認し、トリエチルアミンで中和させた
後、メタノールを蒸留器で除去してどろりとした状態に
し、その後、蒸留水で沈殿させてから真空乾燥すること
で、前記化学式(6)の化合物を得た。この際に、収率
は65%であった。[分子量6,800;多分散度1.
63;1H NMR 1.2〜2.1ppb(5H)、3.
0〜3.8ppb(6H)、3.8〜4.7(1H)]
【0080】(実施例16)ポリ[メタクロレインジエ
チルアセタル]樹脂の合成 メタクロレイン100g、THF 66g、AIBN 2
gを500mlの円形フラスコに入れ、真空状態にした
後、65℃で5時間反応させ、反応の完了後、生成され
た白色固体(ポリメタクロレイン)をフィルタリング
し、その後、エチルエーテルで多数回拭い取った。前記
白色固体80gとエタノール500gを1000mlの
円形フラスコに入れた後、トリフルオロメチルスルホン
酸1mlを触媒として加え、常温(25℃)で24時間
以上反応させた。始めには溶けなかった白色固体(ポリ
メタクロレイン)は、反応が完了するにつれて、エタノ
ールに溶けることになる。反応の完了後、赤外線吸収分
光器(IRスペクトル)で1690cm-1の吸収バンド
がなくなることを確認し、トリエチルアミンで中和させ
た後、エタノールを蒸留器で除去してどろりとした状態
にし、その後、蒸留水で沈殿させてから真空乾燥するこ
とで、前記化学式7の化合物を得た。この際に、収率は
61%であった。[分子量7,200;多分散度2.
0;1H NMR1.2〜2.1ppb(11H)、3.0
〜3.8ppb(4H)、3.8〜4.7(1H)]
【0081】(実施例17)反射防止膜の製造 前記実施例1ないし12で製造した化合物の中から選択
されたものを前記実施例13ないし16で製造した化合
物の中から選択されたものに混合してプロピレングリコ
ールメチルエチルアセテート(PGMEA)に溶かした
後、この溶液を単独で使用するか、この溶液に前記添加
剤としてのアントラセン化合物グループから選択された
ものを0.1〜30重量%添加して全く溶かした後、こ
の溶液を濾過してウェーハに塗布し、100〜300℃
で10〜1000秒間ハードベイクを行った。この後、
感光膜を塗布し、微細パターン形成工程を行った。
【0082】
【発明の効果】以上説明したように、本発明による前記
化学式1、2及び3を基本構造とする化合物は、吸光度
の高い発色団を樹脂自体に含有しているばかりでなく、
本発明による反射防止膜樹脂はハイドロカーボン系の全
ての溶媒に対する溶解性に優れ、ハードベイク後にはど
んな溶媒にも溶解されない耐溶解性を有するので、感光
膜の塗布時、何らの問題も発生しないだけでなく、パタ
ーンの形成時、アンダーカッティング及びフッティング
が発生しない優れた効果を表す。
【0083】特に、アクリラート系の高分子から形成さ
れているため、エッチング時、感光膜に比べて優れたエ
ッチング速度を有して、エッチング選択比が著しく向上
する効果がある。
【0084】したがって、本発明による化合物を、半導
体製造工程の超微細パターン形成工程における反射防止
膜として使用することにより、半導体製造工程のリソグ
ラフィー工程における下部膜層の反射を防止するだけで
なく、光及びフォトレジスト自体の厚さ変化による定在
波を除去して、64M、256M、1G、4G、16G
DRAMの安定した超微細パターンを形成することが
できるので、製品の収率を増大することができる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) C09D 5/00 C09D 5/00 Z G03F 7/004 506 G03F 7/004 506 7/11 503 7/11 503 H01L 21/027 H01L 21/30 574 (72)発明者 スン エウン ホン 大韓民国 ギュンギ ド セオナム シ ブンダン グ イマエ ドン 124 ハン シン アパートメント 205−601 (72)発明者 ジャエ チャン ジョン 大韓民国 ギュンギ ド イチェオン シ ダエウル ミュン サドン リ ヒュン ダイ アパートメント 107−1304 (72)発明者 ゲウン ス リー 大韓民国 ギュンギ ド イチェオン シ ブバル エウプ サミク アパートメン ト 103−302 (72)発明者 キ ホ バイク 大韓民国 ギュンギ ド イチェオン シ ジェウンポ ドン デエウ アパートメ ント 203−402

Claims (37)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 下記構造を有する有機反射防止化合物 【化1】 ここで、Ra、Rbはそれぞれ水素又はメチル基を、R1
    ないしR9はそれぞれ水素、ヒドロキシ、メトキシカル
    ボニル、カルボキシル、ヒドロキシメチル、C1〜C5
    置換されているか又は置換されていない直鎖又は側鎖ア
    ルキル、アルカン、アルコキシアルキル、アルコキシア
    ルカンを、w、xはそれぞれ0.01〜0.99のモル
    分率を、nは1〜3の整数をそれぞれ示す。
  2. 【請求項2】 Ra、Rb及びR1〜R9はそれぞれ水素、
    w:xは0.5:0.5であり、nは2であることを特
    徴とする請求項1記載のポリ[9−アントラルアルデヒ
    ドオキシムアクリラート−(2−ヒドロキシエチルアク
    リラート)]。
  3. 【請求項3】 Ra、Rb及びR1〜R9はそれぞれ水素、
    w:xは0.5:0.5であり、nは3であることを特
    徴とする請求項1記載のポリ[9−アントラルアルデヒ
    ドオキシムアクリラート−(2−ヒドロキシエチルアク
    リラート)]。
  4. 【請求項4】 Ra、Rb及びR1〜R9はそれぞれ水素、
    w:xは0.5:0.5であり、nは4であることを特
    徴とする請求項1記載のポリ[9−アントラルアルデヒ
    ドオキシムアクリラート−(2−ヒドロキシエチルアク
    リラート)]。
  5. 【請求項5】 Raはメチル基、Rb及びR1〜R9はそれ
    ぞれ水素、w:xは0.5:0.5であり、nは2であ
    ることを特徴とする請求項1記載のポリ[9−アントラ
    ルアルデヒドオキシムアクリラート−(2−ヒドロキシ
    エチルアクリラート)]。
  6. 【請求項6】 Raはメチル基、Rb及びR1〜R9はそれ
    ぞれ水素、w:xは0.5:0.5であり、nは3であ
    ることを特徴とする請求項1記載のポリ[9−アントラ
    ルアルデヒドオキシムアクリラート−(2−ヒドロキシ
    エチルアクリラート)]。
  7. 【請求項7】 Raはメチル基、Rb及びR1〜R9はそれ
    ぞれ水素、w:xは0.5:0.5であり、nは4であ
    ることを特徴とする請求項1記載のポリ[9−アントラ
    ルアルデヒドオキシムアクリラート−(2−ヒドロキシ
    エチルアクリラート)]。
  8. 【請求項8】 9−アントラルアルデヒドオキシムアク
    リラート系単量体及びヒドロキシアルキルアクリラート
    系単量体を溶媒中に開始剤とともに重合反応させること
    を特徴とする請求項1から請求項7のいずれか1項記載
    の化合物を製造する方法。
  9. 【請求項9】 前記各単量体のモル比は0.1〜0.9
    9:0.1〜0.99であることを特徴とする請求項8
    記載の方法。
  10. 【請求項10】 前記開始剤は、2,2−アゾビスイソ
    ブチロニトリル(AIBN)、アセチルパーオキサイ
    ド、ラウリルパーオキサイド、t−ブチルパーオキサイ
    ドからなるグループから選択されたものを使用すること
    を特徴とする請求項8記載の方法。
  11. 【請求項11】 前記溶媒は、テトラヒドロフラン、ト
    ルエン、ベンゼン、メチルエチルケトン又はジオキサン
    からなるグループから選択されたものを使用することを
    特徴とする請求項8記載の方法。
  12. 【請求項12】 前記重合反応は50〜90℃の温度範
    囲で行うことを特徴とする請求項8記載の方法。
  13. 【請求項13】 下記構造を有する有機反射防止化合
    物。 【化2】 ここで、Ra、Rb、Rcはそれぞれ水素又はメチル基
    を、R1ないしR9はそれぞれ水素、ヒドロキシ、メトキ
    シカルボニル、カルボキシル、ヒドロキシメチル、C1
    〜C5の置換されているか又は置換されていない直鎖又
    は側鎖アルキル、アルカン、アルコキシアルキル、アル
    コキシアルカンを、w、x、yはそれぞれ0.01〜
    0.99のモル分率を、nは1〜3の整数をそれぞれ示
    す。
  14. 【請求項14】 Ra、Rcはそれぞれ水素、Rbはメチ
    ル基、R1〜R9はそれぞれ水素、w:x:yは0.3:
    0.2:0.5であり、nは2であることを特徴とする
    請求項13記載のポリ[9−アントラルアルデヒドオキ
    シムアクリラート−(2−ヒドロキシエチルアクリラー
    ト)−メチルメタクリレート。
  15. 【請求項15】 Ra、Rcはそれぞれ水素、Rbはメチ
    ル基、R1〜R9はそれぞれ水素、w:x:yは0.3:
    0.2:0.5であり、nは3であることを特徴とする
    請求項13記載のポリ[9−アントラルアルデヒドオキ
    シムアクリラート−(2−ヒドロキシエチルアクリラー
    ト)−メチルメタクリレート。
  16. 【請求項16】 Ra、Rcはそれぞれ水素、Rbはメチ
    ル基、R1〜R9はそれぞれ水素、w:x:yは0.3:
    0.2:0.5であり、nは4であることを特徴とする
    請求項13記載のポリ[9−アントラルアルデヒドオキ
    シムアクリラート−(2−ヒドロキシエチルアクリラー
    ト)−メチルメタクリレート。
  17. 【請求項17】 Ra、Rbはそれぞれメチル基、Rc
    びR1〜R9はそれぞれ水素、w:x:yは0.3:0.
    2:0.5であり、nは2であることを特徴とする請求
    項13記載のポリ[9−アントラルアルデヒドオキシム
    アクリラート−(2−ヒドロキシエチルアクリラート)
    −メチルメタクリレート。
  18. 【請求項18】 Ra、Rbはそれぞれメチル基、Rc
    びR1〜R9はそれぞれ水素、w:x:yは0.3:0.
    2:0.5であり、nは3であることを特徴とする請求
    項13記載のポリ[9−アントラルアルデヒドオキシム
    アクリラート−(2−ヒドロキシエチルアクリラート)
    −メチルメタクリレート。
  19. 【請求項19】 Ra、Rbはそれぞれメチル基、Rc
    びR1〜R9はそれぞれ水素、w:x:yは0.3:0.
    2:0.5であり、nは4であることを特徴とする請求
    項13記載のポリ[9−アントラルアルデヒドオキシム
    アクリラート−(2−ヒドロキシエチルアクリラート)
    −メチルメタクリレート。
  20. 【請求項20】 9−アントラルアルデヒドオキシムア
    クリラート系単量体、ヒドロキシアルキルアクリラート
    系単量体及びメチルメタクリレートを溶媒中に開始剤と
    ともに重合反応させることを特徴とする請求項13から
    請求項19のいずれか1項記載の化合物を製造する方
    法。
  21. 【請求項21】 前記各単量体のモル比は0.1〜0.
    99:0.1〜0.99であることを特徴とする請求項
    20記載の方法。
  22. 【請求項22】 前記開始剤は、2,2−アゾビスイソ
    ブチロニトリル(AIBN)、アセチルパーオキサイ
    ド、ラウリルパーオキサイド、t−ブチルパーオキサイ
    ドからなるグループから選択されたものを使用すること
    を特徴とする請求項20記載の方法。
  23. 【請求項23】 前記溶媒は、テトラヒドロフラン、ト
    ルエン、ベンゼン、メチルエチルケトン又はジオキサン
    からなるグループから選択されたものを使用することを
    特徴とする請求項20記載の方法。
  24. 【請求項24】 前記重合反応は50〜90℃の温度範
    囲で行うことを特徴とする請求項20記載の方法。
  25. 【請求項25】 請求項1から請求項7及び請求項13
    から請求項19のいずれか1項記載の化合物を含むこと
    を特徴とする反射防止膜用組成物。
  26. 【請求項26】 請求項1から請求項7及び請求項13
    から請求項19のいずれか1項記載の化合物の1種と下
    記構造を有する化合物を含むことを特徴とする反射防止
    膜用組成物。 【化3】 ここで、R10及びR11はそれぞれ側鎖又は直鎖置換され
    たC1〜C10のアルキル基を、R12は水素又はメチル基
    を示す。
  27. 【請求項27】 請求項1から請求項7及び請求項13
    から請求項19のいずれか1項記載の化合物の1種と請
    求項26記載の化合物を含み、アントラセン、9−アン
    トラセンメタノール、9−アントラセンカルボニトリ
    ル、9−アントラセンカルボン酸、ジトラノ−ル、1,
    2,10−アントラセントリオール、アントラフラボン
    酸、9−アントアルデヒドオキシム、9−アントラルデ
    ヒド、2−アミノ−7−メチル−オキソ−5H−[1]
    ベンゾピラノ[2,3−b]ベンゾピリジン−3−カル
    ボニトリル、1−アミノアントラキノン、アントラキノ
    ン−2−カルボン酸、1,5−ジヒドロキシアントラキ
    ノン、アントロン、9−アントリルトリフルオロメチル
    ケトン、下記化学式(a)である9−アルキルアントラ
    セン誘導体、下記化学式(b)であるカルボキシルアン
    トラセン誘導体、下記化学式(c)であるカルボキシル
    アントラセン誘導体からなるグループから選択された1
    種又は2種以上の化合物を添加することを特徴とする反
    射防止膜用組成物。 【化4】 【化5】 【化6】 ここで、R1、R2、R3はそれぞれ独立的に水素、ヒド
    ロキシ、アルキル、ヒドロキシメチル又はC1〜C5の置
    換されているか又は置換されていない直鎖あるいは側鎖
    アルキル、アルカンであるか、アルコキシアルキル又は
    アルコキシアルカンである。
  28. 【請求項28】 請求項1から請求項7及び請求項13
    から請求項19のいずれか1項記載の化合物のいずれか
    と請求項26記載の化合物を有機溶媒に溶かした後、こ
    の溶液を濾過して下部層に塗布した後、ハードベイクす
    ることからなることを特徴とする反射防止膜の製造方
    法。
  29. 【請求項29】 有機溶媒としては、エチル3−エトキ
    シプロピオネート、メチル3−メトキシプロピオネー
    ト、シクロヘキサノン、プロピレングリコールメチルエ
    ーテルアセテートからなるグループから選択されたもの
    を使用し、前記溶媒を反射防止膜樹脂の200〜500
    0重量%で使用することを特徴とする請求項28記載の
    反射防止膜の製造方法。
  30. 【請求項30】 ハードベイク時の温度は100〜30
    0℃であることを特徴とする請求項28記載の反射防止
    膜の製造方法。
  31. 【請求項31】 請求項1から請求項7及び請求項13
    から請求項19のいずれか1項記載の化合物の1種と請
    求項26記載の化合物を有機溶媒に溶かした後、アント
    ラセン、9−アントラセンメタノール、9−アントラセ
    ンカルボニトリル、9−アントラセンカルボン酸、ジト
    ラノ−ル、1,2,10−アントラセントリオール、ア
    ントラフラボン酸、9−アントアルデヒドオキシム、9
    −アントラルデヒド、2−アミノ−7−メチル−オキソ
    −5H−[1]ベンゾピラノ[2,3−b]ベンゾピリ
    ジン−3−カルボニトリル、1−アミノアントラキノ
    ン、アントラキノン−2−カルボン酸、1,5−ジヒド
    ロキシアントラキノン、アントロン、9−アントリルト
    リフルオロメチルケトン、請求項27記載の化学式
    (a)である9−アルキルアントラセン誘導体、化学式
    (b)であるカルボキシルアントラセン誘導体、化学式
    (c)であるカルボキシルアントラセン誘導体からなる
    グループから選択された1種又は2種以上の化合物を添
    加した溶液を濾過して下部層に塗布した後、ハードベイ
    クすることからなることを特徴とする反射防止膜の製造
    方法。
  32. 【請求項32】 前記有機溶媒は、エチル3−エトキシ
    プロピオネート、メチル3−メトキシプロピオネート、
    シクロヘキサノン、プロピレングリコールメチルエーテ
    ルアセテートからなるグループから選択されたものを使
    用し、反射防止膜樹脂の200〜5000重量%の量で
    使用することを特徴とする請求項31記載の反射防止膜
    の製造方法。
  33. 【請求項33】 前記ハードベイク時の温度は100〜
    300℃であることを特徴とする請求項31記載の反射
    防止膜の製造方法。
  34. 【請求項34】 前記添加剤は0.1〜30重量%使用
    することを特徴とする請求項31記載の反射防止膜の製
    造方法。
  35. 【請求項35】 請求項25記載の反射防止膜用組成物
    を使用して製造されたことを特徴とする半導体素子。
  36. 【請求項36】 請求項26記載の反射防止膜用組成物
    を使用して製造されたことを特徴とする半導体素子。
  37. 【請求項37】 請求項27記載の反射防止膜用組成物
    を使用して製造されたことを特徴とする半導体素子。
JP2000388729A 1999-12-23 2000-12-21 有機反射防止化合物及びその製造方法 Expired - Fee Related JP3960750B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-1999-0061344A KR100427440B1 (ko) 1999-12-23 1999-12-23 유기 반사방지 화합물 및 그의 제조방법
KR1999-61344 1999-12-23

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001192422A true JP2001192422A (ja) 2001-07-17
JP3960750B2 JP3960750B2 (ja) 2007-08-15

Family

ID=19628987

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000388729A Expired - Fee Related JP3960750B2 (ja) 1999-12-23 2000-12-21 有機反射防止化合物及びその製造方法

Country Status (10)

Country Link
US (1) US6548613B2 (ja)
JP (1) JP3960750B2 (ja)
KR (1) KR100427440B1 (ja)
CN (1) CN1200014C (ja)
DE (1) DE10063263A1 (ja)
FR (2) FR2802935B1 (ja)
GB (1) GB2357511B (ja)
IT (1) IT1320867B1 (ja)
NL (1) NL1016942C2 (ja)
TW (1) TWI265934B (ja)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100687851B1 (ko) * 2000-06-30 2007-02-27 주식회사 하이닉스반도체 유기반사방지막 조성물 및 그의 제조방법
KR100574486B1 (ko) * 2000-06-30 2006-04-27 주식회사 하이닉스반도체 유기반사방지막 조성물 및 그의 제조방법
KR100721181B1 (ko) * 2000-06-30 2007-05-23 주식회사 하이닉스반도체 유기반사방지막 조성물 및 그의 제조방법
KR100721182B1 (ko) * 2000-06-30 2007-05-23 주식회사 하이닉스반도체 유기반사방지막 조성물 및 그의 제조방법
KR100687850B1 (ko) * 2000-06-30 2007-02-27 주식회사 하이닉스반도체 유기반사방지막 조성물 및 그의 제조방법
KR100480235B1 (ko) * 2002-07-18 2005-04-06 주식회사 하이닉스반도체 유기 반사방지막 조성물 및 이를 이용한 포토레지스트의패턴 형성 방법
US7056826B2 (en) * 2003-01-07 2006-06-06 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Method of forming copper interconnects
KR101156973B1 (ko) * 2005-03-02 2012-06-20 주식회사 동진쎄미켐 유기 반사방지막 형성용 유기 중합체 및 이를 포함하는 유기 조성물
US7704670B2 (en) * 2006-06-22 2010-04-27 Az Electronic Materials Usa Corp. High silicon-content thin film thermosets
US7666575B2 (en) 2006-10-18 2010-02-23 Az Electronic Materials Usa Corp Antireflective coating compositions
KR100870746B1 (ko) * 2006-11-27 2008-11-26 삼성전자주식회사 패턴 형성 방법 및 이를 이용한 커패시터 제조 방법
US8026040B2 (en) 2007-02-20 2011-09-27 Az Electronic Materials Usa Corp. Silicone coating composition
WO2008104881A1 (en) 2007-02-27 2008-09-04 Az Electronic Materials Usa Corp. Silicon-based antifrelective coating compositions
WO2015150508A1 (de) * 2014-04-04 2015-10-08 Basf Se Wässrige polymerzusammensetzungen
US10329372B2 (en) * 2014-06-13 2019-06-25 Basf Se Polyurethanes with reduced aldehyde emission
US10539874B2 (en) * 2016-06-01 2020-01-21 Dongjin Semichem Co., Ltd. Composition for forming organic anti-reflective coating layer suitable for negative tone development

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3100077A1 (de) 1981-01-03 1982-08-05 Hoechst Ag, 6000 Frankfurt Lichtempfindliches gemisch, das einen naphthochinondiazidsulfonsaeureester enthaelt, und verfahren zur herstellung des naphthochinondiazidsulfonsaeureesters
US4822718A (en) 1982-09-30 1989-04-18 Brewer Science, Inc. Light absorbing coating
US5674648A (en) 1984-08-06 1997-10-07 Brewer Science, Inc. Anti-reflective coating
US5525457A (en) 1994-12-09 1996-06-11 Japan Synthetic Rubber Co., Ltd. Reflection preventing film and process for forming resist pattern using the same
DE19516470A1 (de) * 1995-05-05 1996-11-07 Roehm Gmbh Verfahren zur Herstellung von Oximmethacrylaten
US5886102A (en) * 1996-06-11 1999-03-23 Shipley Company, L.L.C. Antireflective coating compositions
US5948847A (en) * 1996-12-13 1999-09-07 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. Undercoating composition for photolithographic patterning
JP3854367B2 (ja) * 1997-06-04 2006-12-06 Azエレクトロニックマテリアルズ株式会社 光吸収性ポリマー、光吸収膜形成性組成物及び光吸収膜とそれを用いた反射防止膜
US5919599A (en) * 1997-09-30 1999-07-06 Brewer Science, Inc. Thermosetting anti-reflective coatings at deep ultraviolet
JP4053631B2 (ja) * 1997-10-08 2008-02-27 Azエレクトロニックマテリアルズ株式会社 反射防止膜又は光吸収膜用組成物及びこれに用いる重合体
US6190839B1 (en) * 1998-01-15 2001-02-20 Shipley Company, L.L.C. High conformality antireflective coating compositions
KR100363695B1 (ko) * 1998-12-31 2003-04-11 주식회사 하이닉스반도체 유기난반사방지중합체및그의제조방법
KR100465864B1 (ko) * 1999-03-15 2005-01-24 주식회사 하이닉스반도체 유기 난반사방지 중합체 및 그의 제조방법
KR100395904B1 (ko) * 1999-04-23 2003-08-27 주식회사 하이닉스반도체 유기 반사방지 중합체 및 그의 제조방법
KR100310252B1 (ko) * 1999-06-22 2001-11-14 박종섭 유기 반사방지 중합체 및 그의 제조방법
KR100355604B1 (ko) * 1999-12-23 2002-10-12 주식회사 하이닉스반도체 난반사 방지막용 중합체와 그 제조방법

Also Published As

Publication number Publication date
FR2802935A1 (fr) 2001-06-29
TWI265934B (en) 2006-11-11
ITTO20001220A0 (it) 2000-12-22
IT1320867B1 (it) 2003-12-10
CN1200014C (zh) 2005-05-04
US6548613B2 (en) 2003-04-15
KR100427440B1 (ko) 2004-04-17
GB2357511B (en) 2003-04-02
JP3960750B2 (ja) 2007-08-15
KR20010057925A (ko) 2001-07-05
GB0031419D0 (en) 2001-02-07
FR2808027A1 (fr) 2001-10-26
CN1308089A (zh) 2001-08-15
US20010034427A1 (en) 2001-10-25
NL1016942C2 (nl) 2002-05-01
DE10063263A1 (de) 2001-06-28
ITTO20001220A1 (it) 2002-06-22
FR2808027B1 (fr) 2006-01-20
NL1016942A1 (nl) 2001-06-26
FR2802935B1 (fr) 2003-03-28
GB2357511A (en) 2001-06-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3851476B2 (ja) 有機反射防止重合体およびその製造方法
JP3860411B2 (ja) 乱反射防止膜用重合体とその製造方法
JP4808597B2 (ja) 有機反射防止重合体およびその製造方法
KR100465864B1 (ko) 유기 난반사방지 중합체 및 그의 제조방법
JP3931036B2 (ja) 乱反射防止膜用化合物とその製造方法
JP4463417B2 (ja) 有機反射防止膜用重合体及びその製造方法
JP2001192422A (ja) 有機反射防止化合物及びその製造方法
JP4107937B2 (ja) 反射防止膜の組成物、反射防止膜の製造方法及び半導体素子
JP3602077B2 (ja) 有機反射防止膜の組成物及びその製造方法
JP3457653B2 (ja) 有機反射防止膜の組成物及びその製造方法
JP3848551B2 (ja) 有機反射防止膜の組成物及びその製造方法
KR100574486B1 (ko) 유기반사방지막 조성물 및 그의 제조방법
JP3602075B2 (ja) 有機反射防止膜の組成物及びその製造方法
KR100721181B1 (ko) 유기반사방지막 조성물 및 그의 제조방법
KR100351458B1 (ko) 유기 반사방지 중합체 및 그의 제조방법
KR100423535B1 (ko) 유기 반사방지 화합물 및 그의 제조방법
TWI303253B (en) Organic anti-reflective coating polymer, anti-reflective coating composition comprising the same and method of preparation thereof
KR100351459B1 (ko) 유기 반사방지 중합체 및 그의 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040726

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20040726

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060912

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061207

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070508

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070515

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100525

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110525

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120525

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120525

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130525

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees