JP2001176763A - 製品ウェハを含む非製品ウェハの自動化処理方法ならびにシステム及び同方法が記録された記録媒体 - Google Patents

製品ウェハを含む非製品ウェハの自動化処理方法ならびにシステム及び同方法が記録された記録媒体

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JP2001176763A
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Koji Tokuyama
浩二 徳山
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NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 個々の用途に対応した搬送制御や情報管理を
無人で行う。 【解決手段】 ホストコンピュータ1は、プロセス装置
3(4、5)から搬送要求を受信し、この要求をトリガ
に保管棚6に保管されている非製品ウェハを含む製品ロ
ットを対象にディスパッチし、AMHS7に対して対象
ロットの搬送指令を出す。また、プロセス装置の中に
は、例えばダミーウェハを保持しながら処理を行うもの
や、特定の頻度でクリーニング再生のためのウェアを必
要とする装置がある。これらプロセス装置からの搬送要
求に用途区分をセットすることにより、装置が必要とす
る非製品ウェハを必要なタイミングで搬送する。更に、
製品保証を目的に処理された非製品ウェハをそのフロー
と用途区分から判断し、製品ロットの履歴に対して非製
品ウェハの処理情報をリンクさせることもできる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体製品の品質
保証や各プロセス装置を管理するために使用される非製
品ウェハの自動化処理方法ならびにシステム及び同方法
がプログラムされ記録される記録媒体に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体生産ラインでは、製品ウェハ以外
に、製品ウェハの品質保証や、拡散炉、スパッタ装置等
各種プロセス装置の管理を目的として、非製品ウェハ
(以下、NPW:Non Product Wafe
r)が流される。大半のNPWは、完全に生産システム
と切り離された形でプロセス装置ローカルに運用してい
る。また、運用する場合のタイミング、その他も全て操
作する人に依存している。
【0003】図15に示すように、一部、NPWに製品
同様の工程フローを生産システム上に持つものもある
が、製品に自動化が行われないラインでは製品と区別が
無い形で工程フローを持ち、製品ウェハが自動化されて
いるラインでは製品と区別するためにNPWであるとい
う認識を生産システム上で保持する。製品が自動化され
ているラインでは、プロセス装置からの搬送要求をトリ
ガにホストコンピュータで仕掛かり棚に存在する製品の
みを対象にディスパッチし、該当製品に対して搬送指示
がなされていた。
【0004】一方、NPWに関しては、その搬送タイミ
ングを人が判断し、ホストコンピュータ経由でNPWに
対して搬送指示がかけられる。また、プロセス装置の状
態管理として、製品処理中は“稼動”、NPW処理中は
“準備作業”といった大分類で情報管理がなされ、製品
とNPWの履歴はそれぞれ独立した形で保持されてい
た。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記したように従来の
半導体生産システムにおいては、NPWをプロセス装置
へ搬送するタイミングを人が管理していたため、ライン
内に人が入用となり、製品に対する発塵源となり、好ま
しくない。また、NPWを人が管理するため、チェック
抜け等人為的なミス発生のポテンシャルが高い。
【0006】更に、情報管理においては、製品を流すた
めに必要なNPWであるにも関わらず、履歴がそれぞれ
独立して保持されるため、製品との関係が追いづらく履
歴を管理する者に負担がかかるといった欠点を持ってい
た。従って、NPWとして1つのカテゴリに集約され、
自動化を実現する場合同一パターンの制御にしか対応で
きない。また、プロセス装置としては搬送可能状態であ
るという唯一の条件により、搬送要求をホストコンピュ
ータへ発行し処理を委ねるため、柔軟性、拡張性のある
搬送制御及び工程トラフィックの制御を期待することが
できなかった。
【0007】本発明は上記事情に鑑みてなされたもので
あり、NPWに関して自動化を実現するために、NPW
の工程フローや処理条件を定めたマスタファイル上に各
NPWの用途情報を持たせることにより、個々の用途に
対応した搬送制御や情報管理を行うことのできる非製品
ウェハの自動化処理方法ならびにシステム及び同方法が
プログラムされ記録される記録媒体を提供することを目
的とする。また、プロセス装置からの搬送要求に用途情
報を付加することにより、プロセス装置でのみ判断可能
なタイミングにおいても必要な用途のNPWを自動搬送
することができる非製品ウェハの自動化処理方法ならび
にシステム及び同方法がプログラムされ記録される記録
媒体を提供することも目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記した課題を解決する
ために請求項1に記載の非製品ウェハの自動化処理方法
は、半導体生産に係わる1以上のプロセス装置がホスト
コンピュータによって制御され、非製品ウェハを含む製
品ウェハの搬送及び工程トラッキングを自動化する半導
体生産自動化システムにおいて、前記ホストコンピュー
タは、前記工程の流れや前記工程毎に処理の条件が設定
され格納されるマスタファイル上に、前記それぞれの工
程における目的や動作で分類された用途区分を情報とし
て付加し、前記各装置から発せられる前記製品ウェハま
たは非製品ウェハの搬送要求に応じて前記マスタファイ
ル上に格納される用途区分を含む処理条件を提供するこ
とにより、個々の用途に応じた非製品ウェハを搬送し、
工程トラッキングを制御することとした。
【0009】このことにより、各非製品ウェハの用途に
関し、搬送制御、工程トラッキング、情報管理の面から
細かく分類し、更にその分類結果を非製品ウェハ工程フ
ローの各工程毎にマスタファイルとして保持し、これを
参照することで製品ロットを流すうえで必要な非製品ウ
ェハの搬送及びトラッキングを自動化でき、生産ライン
内の完全無人化を実現できる。
【0010】また、請求項2に記載の非製品ウェハの自
動化処理方法は、請求項1に記載の同方法において、前
記ホストコンピュータは、前記各プロセス装置によって
処理される非製品ウェハをその工程フローと用途区分か
ら判断し、製品ロットに対する処理履歴に前記非製品ウ
ェハの処理履歴を、前記装置種、ロット番号、処理条
件、工程のうちの少なくとも1つをキーに関連づけるこ
ととした。
【0011】このことにより、ホストコンピュータは、
製品保証を目的に処理された非製品ウェハをそのフロー
と用途区分から判断し、製品ロットの履歴に対して非製
品ウェハの処理情報をリンクすることができる。従っ
て、後日履歴を追うときの負荷が軽減される。
【0012】更に、請求項3に記載の非製品ウェハの自
動化処理方法は、請求項1に記載の同方法において、前
記ホストコンピュータは、前記各プロセス装置からの問
い合わせ応答に含まれる用途区分から製品ロットまたは
非製品ロットの種別毎その目的を判断し、装置状態を更
新することとした。このことにより、装置状態管理上、
処理された非製品ウェハの用途区分からその目的を判断
して装置ステイタスを表示でき、装置稼動情報の精度向
上がはかれる。
【0013】また、請求項4に記載の非製品ウェハの自
動化処理方法は、請求項1に記載の同方法において、前
記ホストコンピュータは、定期的に処理が必要な非製品
ウェハに関し、前回チェック時からの経過時間、処理ロ
ット数のうちの少なくとも一つを処理条件に応じて個別
に管理し、予め定義された時間もしくは処理ロット数を
カウントして前記非製品ウェハに対して搬送指示を発行
することとした。
【0014】このことにより、定期的に処理が必要な非
製品ウェハについてはホストコンピュータで頻度を管理
し、必要なタイミングで仕掛かり棚に保管されている非
製品ウェハに対して搬送指示を出すことができ、非製品
ウェハを必要とするタイミングに関し人の介入待ちがな
くなるため、無駄時間の低減と信頼性向上に寄与する。
【0015】請求項5に記載の製品ウェハを含む非製品
ウェハの自動化処理方法は、請求項1に記載の同方法に
おいて、前記プロセス装置は、前記ホストコンピュータ
に対する問い合わせ応答によって得られる用途区分、も
しくはバッチ構成された用途区分の組み合わせに応じ、
非製品ウェハの供給、回収を行うこととした。
【0016】プロセス装置の中には常時ダミーウェハを
保持しながら処理を行う装置や、特定頻度で初期クリー
ニングのためにウェハを必要とする装置があり、これら
プロセス装置からの搬送要求に用途区分を情報としてセ
ットすることでそのプロセス装置が必要とする非製品ウ
ェハを必要なタイミングで搬送できる。
【0017】請求項6に記載の非製品ウェハの自動化処
理システムは、半導体生産に係わる1以上のプロセス装
置がホストコンピュータによって制御され、非製品ウェ
ハを含む製品ウェハの搬送及び工程トラッキングを自動
化する半導体生産自動化システムにおいて、前記非製品
ウェハを含む製品ウェハをロット単位で保管する保管棚
と、前記ホストコンピュータから発行される搬送指示に
従い前記保管棚と前記プロセス装置間における前記非製
品ウェハを含む製品ウェハの搬入出を行う自動搬送車
と、前記工程の流れや前記工程毎に処理の条件が設定さ
れ格納されるマスタファイル上に、前記それぞれの工程
における目的や動作で分類された用途区分を情報として
付加し、前記各プロセス装置から発せられる前記製品ウ
ェハまたは非製品ウェハの搬送要求に応じて前記マスタ
ファイル上に格納される用途区分を含む処理条件を提供
するホストコンピュータとを有することとした。
【0018】上記構成により、ホストコンピュータは、
プロセス装置から搬送要求を受信し、この要求をトリガ
に仕掛かり棚に保管されているロットを対象にディスパ
ッチし、自動搬送車に対して対象ロットの搬送指令を出
す。また、プロセス装置の中には、例えばダミーウェハ
を保持しながら処理を行うものや、特定の頻度でクリー
ニング再生のためのウェハを必要とする装置がある。こ
れらプロセス装置からの搬送要求に用途区分をセットす
ることにより、装置が必要とする非製品ウェハを必要な
タイミングで搬送できる。
【0019】また、請求項7に記載の非製品ウェハの自
動化処理システムは、請求項6に記載の同システムにお
いて、前記ホストコンピュータは、製品フローと非製品
フローの各工程をリンクさせるために、前記プロセス装
置、ロット、条件、工程の少なくとも一つをキーとして
関連付け、登録設定されるデータ展開組み合わせテーブ
ルメモリと、製品ロットが前記関連付けられた工程で処
理されたタイミングで前記データ展開テーブルメモリを
チェックし、その条件が定義されていたときに製品ロッ
トを含む関連情報が登録設定される関連テーブルメモリ
と、頻度管理のタイミングで前記非製品ウェハが同プロ
セス装置で処理されたときに該当する関連テーブルメモ
リの非製品ロットとして追加登録することにより、製品
フローと非製品フローのリンケージを行う手段とを有す
ることとした。
【0020】上記構成により、ホストコンピュータは、
製品保証を目的に処理された非製品ウェハをそのフロー
と用途区分から判断し、製品ロットの履歴に対して非製
品ウェハの作業履歴、測定データ等の処理情報をリンク
することができる。従って、履歴を追うときの負荷が軽
減される。
【0021】請求項8に記載の記録媒体は、半導体製造
に係わる1以上のプロセス装置がホストコンピュータに
よって制御され、保管棚にセットされた非製品ウェハを
含む製品ウェハからなるロットを前記プロセス装置との
間で自動搬送車を介して搬送すると共に工程トラッキン
グを自動化する非製品自動化処理システムに用いられ、
前記プロセス装置から搬送要求を受信し、バッチ構成
の要否をチェックするステップと、バッチ構成が不要で
あると判断された場合、添付する用途区分情報をチェッ
クし、その区分に従う適切なロットを前記保管棚から選
択して前記自動搬送車に搬送指示を発行するステップ
と、頻度管理によってその区分に従うロットが必要なタ
イミングか否かをチェックするステップと、必要であれ
ば、頻度管理により指示された適切なロットを前記保管
棚から選択して前記自動搬送車に対して搬送指示を発行
するステップと、バッチ構成が必要であると判断された
場合、マスタファイルを参照して用途区分をチェック
し、その区分に従う適切なロットを前記保管棚から選択
して前記自動搬送車に搬送指示を発行するステップと、
頻度管理によってその区分に従うロットが必要なタイミ
ングか否かをチェックするステップと、必要であれば、
頻度管理により指示された適切なロットを前記保管棚か
ら取り出し前記自動搬送車に対して搬送指示を発行する
ステップとがプログラムされ記録されることとした。
【0022】本発明によれば、各非製品ウェハの用途に
関して、搬送制御、工程トラッキング、情報管理の面か
ら細かく分類し、その分類結果を非製品ウェハ工程フロ
ーの各工程毎にマスタ情報として保持するため、製品ロ
ットを流す上で必要な非製品ウェハの搬送及び工程トラ
ッキングを自動化でき、このことによりライン内の完全
自動化が実現され、製品と人との完全分離により、人か
ら製品への発塵を防止することができる。また、非製品
ウェハの搬送及び工程トラッキングを自動化することで
ライン内の非製品ウェハの流れを一括管理することが可
能になり、非製品ウェハを必要とするタイミングで人の
対応待ちといった従来における無駄時間を削除でき、シ
ステムとしてのスループットが向上する。
【0023】
【発明の実施の形態】図1は本発明における非製品ウェ
ハの自動化処理システムの概略システム構成を示す図で
ある。図において、1はホストコンピュータであり、大
容量ディスク装置2を有し、この大容量ディスク装置2
には、後述するマスタファイル21、履歴ファイル22
他、プロセスデータ、測定データ等多数のデータファイ
ルが割り付けられ格納される。これらファイル内データ
は、必要に応じてホストコンピュータに取込まれプログ
ラム処理される。
【0024】3、4、5は、例えば、拡散炉、エッチン
グ装置、測定器類等半導体製造のための各種プロセス装
置であり、ホストコンピュータ1とは通信路101を介
して接続される。6は、非製品ウェハを含む製品ウェハ
の仕掛かり棚であり、この仕掛かり棚6にセットされる
NPWを含む製品ウェハは、ホストコンピュータ1、あ
るいは各種プロセス装置3、4、5による制御の下で搬
送車軌道102を介して搬入出される。7は、ホストコ
ンピュータ1制御の下、仕掛かり棚6にセットされた製
品ロットを各プロセス装置3〜5に運ぶ自動搬送車(A
HMS:Automatic Material Ha
ndling System)である。
【0025】上記構成において、工程内の自動搬送制御
は、プロセス装置3(4、5)からホストコンピュータ
1に対し搬送要求が発せられ、ホストコンピュータ1
は、この要求をトリガに仕掛かり棚6に保管されている
ロットを対象にディスパッチし、AMHS7に対して対
象ロットの搬送指示を出す。一方、プロセス装置3
(4、5)の中には、常時ダミーウェハを保持しながら
処理を行う装置や、特定頻度で初期クリーニングのため
のウェハを必要とする装置が存在する。これら各プロセ
ス装置3(4、5)からの搬送要求内に“用途区分”を
情報としてセットすることにより、プロセス装置3
(4、5)が必要とするNPWを必要なタイミングで搬
送することができる。
【0026】また、製品保証やプロセス装置の管理のた
めに定期的に処理が必要なNPWに関しては、ホストコ
ンピュータ1でその頻度を管理し、必要なタイミングで
仕掛かり棚6に保管されているNPWに対して搬送指示
を出す。
【0027】図2は、ユーザにより定義され、ホストコ
ンピュータ1によって生成されるマスタファイルの構造
を示した図である。ここでは、NPWに関して自動化を
実現するために、NPWの工程フローや処理条件が定義
されるマスタファイル21上に、各NPWの用途を持た
せ、個々の用途に対応した搬送制御や情報管理を行うこ
とが出来るようになっており、また、プロセス装置から
の搬送要求に用途情報を付加することにより、プロセス
装置でのみ判断可能なタイミングにおいても必要な用途
のNPWを自動搬送できるようになっている。
【0028】具体的に、ホストコンピュータ1では、N
PW品名に対し、目的を意味付けした“用途区分”なる
フラグを保持する。また、NPW品名に対して一意に決
まる工程フロー(処理条件)に対しても、同様に“用途
区分”を保持する。図1に示す非製品ウェハの自動化シ
ステムは、仕掛かり工程に設定された用途区分を用い
て、搬送制御や情報管理を行う。両者の関係は、工程フ
ロー毎の“用途区分”が上位にあり、工程フロー毎に指
定が無い場合にのみNPW品名毎の“用途区分”が代用
される。“用途区分”は、NPWの用途に応じて作成さ
れる。また、製品名には製品を意味する用途区分が付加
される。
【0029】図3にNPWの用途区分が(表1)として
例示されている。ここでは、用途区分として、製品H、
システムテスト品T、標準サンプルG、リファレンス回
収R、リファレンス供給F、プロセスチェックM、装置
パイロットP、再生、下地作成N、ダミーD、エキスト
ラダミーE、サイドダミーSの11個が例示されてい
る。プロセス装置3(4、5)として拡散炉を例示した
場合、用途区分として、サイドダミーS、製品リファレ
ンスRまたはプロセスチェックM、エキストラダミーE
が用いられる。サイドダミーS、エキストラダミーEは
装置内に常設され、装置内で使用頻度が管理される。限
界に達すると装置はダミーを払い出し、新規のダミーを
ホストコンピュータ1へ要求する。ホストコンピュータ
1は、ダミーの種類を仕掛かり条件キーと用途区分で判
断し、AMHS7により自動供給を行う。製品は数ロッ
トがバッチ組されて処理されるが、そのバッチに数枚の
リファレンスRやプロセスチェックMを挿入し製品と同
様に処理を行う。但し、装置の状態管理用の装置パイロ
ットPは製品とは同時に処理しない。
【0030】ホストコンピュータ1は、チェック目的に
応じてバッチ組の組み合わせを変更する。プロセス装置
3(4、5)は、バッチ組された用途区分の構成に応じ
て炉内のウェハ位置を変更する。製品リファレンスRや
プロセスチェックMでウェハが次工程で得られた測定結
果は、バッチ組した製品のデータとしてホストコンピュ
ータ1のマスタファイル21上でリンクさせて活用す
る。リンケージの仕方については後述する。
【0031】ダミーにはランニングダミー、プロセスダ
ミー、クリーニングダミー等が存在する。ランニングダ
ミーは、装置のメンテナンス後などの装置立ち上げ時に
装置の安定化を図るために用いる。そのため、ランニン
グダミーは、必要に応じて自動棚から供給されることが
多い。プロセスダミーは、製品ウェハを処理する直前に
処理し、プロセス条件の安定化を図るために用いる。プ
ロセスダミーは装置内に常設されており、装置が必要
(条件の変化、処理間隔等)に応じて製品ウェハ処理前
に使用する。常設ダミーが使用済みとなると、自動棚か
ら自動供給(交換)される。クリーニングダミーは、装
置内のクリーニングのために用いられ、装置の構造やク
リーニング頻度により、装置内に常設されているもの
や、必要に応じて自動棚から供給されるものとが存在す
る。
【0032】AMHS7とのインタフェースは製品と共
用しているため、プロセス装置3(4、5)とホストコ
ンピュータ1間で用途区分を用いて搬送要求を行い、ホ
ストコンピュータ1からの作業問い合わせの結果(用途
区分)を受けて、製品として処理するかダミーとして所
定位置に取り込むかを判断するものである。
【0033】以下、プロセス装置の種別による各用途区
分の利用例につき詳細に述べる。組み合わせ次第で用途
区分はどの様にも使用できるため、図3に示す11個の
用途区分が全てではなく、発展性がある。また、同一プ
ロセス装置であってもその種類によって使用する用途区
分は異なる。ここでは、拡散炉の場合、用途区分とし
て、H、N、D、T、F、R、M、P、E、Sを、ある
種のスパッタ装置、あるいはドライエッチング装置の場
合、用途区分としてH、N、D、T、M、P、Eを、他
の種のスパッタ装置、あるいはドライエッチング装置の
場合、用途区分としてH、N、D、T、Pを、測定器類
の場合、用途区分としてH、N、T、Gを使用するもの
とする。
【0034】各ロットが現工程にて、どの用途区分に属
しているかはホストコンピュータ1が管理している。従
って、プロセス装置3(4、5)としては、該当ロット
がプロセス装置3(4、5)にセットされたタイミング
で、該当ロットに用途区分をホストコンピュータ1から
受信する。用途区分情報を受信後、その用途区分に応じ
てプロセス装置3(4、5)の動作や情報制御の内容を
変化させる。
【0035】但し、拡散炉等のプロセス装置3(4、
5)で使用する用途区分に関しては、そのNPWの搬送
タイミングをプロセス装置自身が管理しているため、必
要なタイミングで必要なNPWの用途区分をホストコン
ピュータ1に対して送信する。ホストコンピュータ1
は、その用途区分の搬送要求を受信して、プロセス装置
3(4、5)へのNPW搬送指示をAMHS7に対して
出す。プロセス装置3(4、5)へ搬送された後は、上
記同様ホストコンピュータ1から用途区分を受信し(再
確認)、その用途区分に従った動きになる。
【0036】プロセス装置3(4、5)として拡散炉を
例示した場合の用途区分の利用例を図4〜図9に示す。
図4〜図9とも、拡散炉におけるNPWを含む製品ロッ
トの搬入出状況を示す。
【0037】図4において、製品キャリア(H)は、こ
こでは1〜Nロットを1バッチと認識する。ホストコン
ピュータ1でバッチ構成処理を行った結果、1〜Nの製
品ロットをバッチと認識して同時に処理を行う。
【0038】図5において、製品リファレンスキャリア
は、リファレンスウェハの供給用キャリア(F)と回収
用キャリア(R)の2種類がある。製品リファレンス供
給キャリアは、拡散装置からは製品キャリアの搬送要求
とは非同期に要求され、装置内にストックしておき(
〜)、拡散装置ではリファレンスウェハを随時そのキ
ャリアから供給する(〜)。拡散装置は製品リファ
レンス供給用のキャリアFが空になったら、自動でキャ
リアの排出を行う。
【0039】製品リファレンス回収用キャリアは製品キ
ャリアと同時に搬送される。製品リファレンス回収用キ
ャリアは、装置から製品キャリアの搬送要求が送信され
ると、処理を行うロットのバッチ構成処理を行う際に、
ホストコンピュータ1が製品リファレンスを行うか否か
の判断を行い、製品リファレンスを入れる時にはホスト
コマンドを介して装置に通達し、製品キャリアと一緒に
搬送されてくる(〜)。そして、拡散装置が製品処
理終了後に製品と同様に処理を行ったリファレンスウェ
ハを回収キャリア(空キャリア)に回収する(〜
)。なお、拡散装置での製品リファレンスキャリアの
回収は、製品キャリアHより優先して回収することとす
る。
【0040】図6において、プロセスチェックは、製品
と同時処理されるモニターウェハであり、製品リファレ
ンスが装置内部にウェハをストックしているのと異な
り、外部からウェハの供給を行う。プロセスチェックキ
ャリアにはモニタウェハMが入っており、装置から製品
キャリアHの搬送要求が送信されると、処理を行うロッ
トのバッチ構成処理を行う際に、ホストコンピュータ1
がプロセスチェックを行うか否かの判断を行い、プロセ
スチェックを入れる時には、製品キャリアHと一緒に搬
送されてくる()。拡散装置では、プロセスチェック
Mは製品と同時に処理を行い、モニターウェハはボート
のモニタースロットに供給する(〜)。拡散装置で
は,プロセスチェックキャリアを、処理が終了したら元
のスロットへ戻すこととする。
【0041】装置パイロットキャリアは装置のメンテナ
ンスの条件チェック等に使用する。図7において、装置
パイロットキャリアは、装置からホストコンピュータ1
に対して製品キャリアの搬送要求を行った時に、ホスト
コンピュータ1の判断で装置パイロットをキャリアに代
わって搬送する。また、装置パイロットPは1キャリア
単位で搬送を行う()。拡散装置は,装置パイロット
Pはモニタースロットで処理を行い、製品とは別処理と
し、代わりにエキストラダミーを詰める。装置パイロッ
トの処理終了後は、1キャリア単位で排出を行う。
【0042】エキストラダミーEは、ポート内における
製品ウェハの歯抜け分の補充用ウェハを差す。図8にお
いて、拡散装置のエキストラダミーキャリアは装置にエ
キストラダミーが存在しない場合または規定数に足りな
い場合に搬送要求を行う(〜)。拡散装置内(装置
キャリアストッカ内)に使用しているエキストラダミー
Eの使用回数(処理バッチ数)が許容値をオーバーした
ら、排出(交換)を行う。
【0043】サイドダミーSは、ポートに常設するダミ
ーウェハを示す。図9において、拡散装置のサイドダミ
ーキャリアは、装置にサイドダミーが存在しない場合ま
たは規定数に足りない場合に搬送要求を行う(〜
)。拡散装置のポート内で使用しているサイドダミー
の使用回数(処理バッチ数)が許容値をオーバーした
ら、装置内(装置キャリアストッカ内)にストックして
あるサイドダミーをポート内に供給する(〜)。オ
ーバしたダミーは、キャリアへ引き戻され、装置から排
出され、サイドダミーキャリアは、装置にサイドダミー
が存在しない場合または規定数に足りない場合に拡散装
置は搬送要求を行う(〜)。
【0044】尚、拡散炉では、用途区分N、D、Tは、
製品(H)と同じ扱いとなる。ある種のスパッタ装置ま
たはドライエッチング装置において、H、N、D、T、
M、Pがセットされた場合の動作は先の拡散炉と同じで
ある。また、エキストラダミーEに関しては、図8と同
様に装置内で保持し、必要に応じて装置で使用する。但
し、製品のウェハ欠落時の補填目的ではなく、装置の安
定化を目的とした使用になる。使用限度オーバー時は、
図8同様に排出(交換)動作になる。更に、他の種スパ
ッタ装置種あるいはドライエッチング装置において、
H、N、D、T、M、Pがセットされた場合の動作は拡
散炉と同じである。測定器類において、H、N、T、G
がセットされた場合の装置側動作は拡散炉と同じであ
る。但し、用途区分Gのみ必要に応じて装置が搬送要求
を行う。
【0045】尚、プロセス装置3(4、5)の動作とし
て、各用途区分のロットを処理する場合にそのプロセス
装置の稼動状態を変化させる。稼動状態は、製造ライン
を管理する上で重要なパラメータであり、ライン能力の
把握には欠かせないものである。図10に、一般的なプ
ロセス装置における各用途区分の扱い(稼動状態をどの
様に変化させるか)を表形式で示す。(表2)からわか
るように、処理開始時、ホストコンピュータ1に通知す
る設備状態はロットの種別(製品、製品リファレンス、
プロセスチェック、装置パイロット、ダミー、標準サン
プル、再生品)によってそれぞれ状態が異なる。ロット
種別は、ホストコンピュータ1からの問い合わせ応答に
含まれる用途区分で判断されるものとする。
【0046】図11は、ホストコンピュータ1がプロセ
ス装置3(4、5)から搬送要求を受信したときの処理
の流れをフローチャートで示した図である。まず、ホス
トコンピュータ1は、プロセス装置3(4、5)から搬
送要求を受信し(ステップS111)、その装置種をチ
ェックする(ステップS112)。ここで、要求のあっ
たプロセス装置3(4、5)が拡散炉種でない、すなわ
ち、バッチ構成処理が不要の場合は、同時に送られる用
途区分情報をチェックし(ステップS113)、エキス
トラダミーEまたは標準サンプルGであった場合、仕掛
かり棚6にあるE、Gの中から適当なロットを選択し、
AHMS7に搬送指示を発する(ステップS117)。
用途区分が製品Hであった場合は、更に、頻度管理によ
り、プロセスチェックM、装置パイロットPが必要なタ
イミングか否かチェックし(ステップS114)、必要
であれば、仕掛かり棚6にあるM、Pの中から、頻度管
理により指示されたロットをAMHS7に対して搬送指
示し(ステップS116)、否であれば、仕掛かり棚6
内のH、N、D、Tの中から、適切なロットを選択指示
してAMHS7に対して搬送指示を発する(ステップS
115)。
【0047】一方、ステップS112の判断処理でプロ
セス装置が拡散炉種であることが認識された場合、要求
と同時送付される用途区分をチェックし(ステップS1
18)、エキストラダミーE、サイドダミーS、リファ
レンス供給Fのいずれかであった場合に仕掛かり棚6内
のE、S、Fの中から、要求されたロット数でバッチ構
成処理を行い、AMHS7に搬送指示を発行する(ステ
ップS119)。用途区分が製品Hであった場合は、更
に、頻度管理により、プロセスチェックM、装置パイロ
ットP、リファレンス回収Rが必要なタイミングか否か
チェックされ(ステップS120)、装置パイロットP
が必要なタイミングであった場合、仕掛かり棚6内で頻
度管理により指示されたPのみによりバッチ構成処理を
行い、AMHS7に搬送指示を発行し(S121)、ま
た、プロセスチェックMもしくは装置パイロットRが必
要なタイミングの場合に仕掛かり棚6内で頻度管理によ
り指示されたMまたはRと、適切なH、D、T、Nとで
バッチ構成を行い、AMHS7に搬送指示を発行する
(S122)。
【0048】尚、ステップS120の判断処理で頻度管
理によりM、P、Rが必要なタイミングでないと判断さ
れた場合は、仕掛かり棚6内で適切なHDTNでバッチ
構成し、AMHS7に搬送指示を発行する(ステップS
123)。
【0049】ホストコンピュータ1は、常時頻度管理を
行っており、ここでは、前回チェック時からの経過時間
や処理ロットなどの条件、号機などで個別に管理し、予
め決められたタイミングを常時監視している。あるい
は、プロセス装置の状態や処理ロットの結果を受信して
タイミングをはかっているものとする。
【0050】ホストコンピュータ1は、更に、製品保証
を目的に処理されたNPWをそのフロー(レシピ)と用
途区分から判断し、製品ロットの履歴に対してNPWの
作業履歴や測定データ等をリンクさせて管理している。
また、装置状態管理上では、処理されたNPWの用途区
分から、その目的を判断し装置ステータスを変更する。
装置ステータスには、図10に表2として示すように、
“稼動中”、“準備作業中”、“メンテナンス中”等が
存在する。
【0051】製品の履歴とNPWの履歴を関連付けるた
めの方法について、図12に示す工程フロー、図13に
示すデータ展開組み合わせテーブル、図14に示す関連
テーブルを参照しながら説明する。
【0052】図12では製品フローとNPWフローが工
程毎併記され示されている。ホストコンピュータ1は、
製品ロット1が工程で処理されたタイミングで、デー
タ展開組み合わせテーブルをチェックし、その条件(装
置種A条件1)が登録されている場合に、関連テーブル
に登録する。関連テーブルは、装置種と号機毎に構成さ
れ、当初関連付けされるNPWロットは決定していない
ため、NPWロット欄は空欄のままとなっている(図1
4a)。製品ロット毎更に処理が進捗し、同様に関連テ
ーブルに対して製品ロットが登録される(図14b)。
そして、頻度管理のタイミングで、NPWが装置種A号
種#001で処理された場合、該当する関連テーブルの
NPWロット欄に、データ展開組み合わせテーブルに定
義された内容に従うロット名が追加され、関連レコード
が完成する(図14c)。ホストコンピュータ1はこの
関連レコードを参照してデータ展開を行う。
【0053】尚、拡散炉では、バッチ組されて製品と関
連するNPWが同時処理されるため、バッチ処理された
タイミングで関連テーブルの関連レコードが完成する。
以上説明のように本発明において、ホストコンピュータ
はプロセス装置から搬送要求を受信し、この要求をトリ
ガに仕掛かり棚に保管されているロットを対象にディス
パッチし、自動搬送車に対して対象ロットの搬送指令を
出す。また、プロセス装置の中には、例えばダミーウェ
ハを保持しながら処理を行うものや、特定の頻度でクリ
ーニング再生のためのウェアを必要とする装置がある。
これらプロセス装置からの搬送要求に用途区分をセット
することにより、装置が必要とする非製品ウェハを必要
なタイミングで搬送できる。また、ホストコンピュータ
は、製品保証を目的に処理された非製品ウェハをそのフ
ローと用途区分から判断し、製品ロットの履歴に対して
非製品ウェハの作業履歴、測定データ等の処理情報をリ
ンクすることができ、このことにより履歴を追うときの
負荷が軽減される。
【0054】尚、図1におけるホストコンピュータ1の
機能を実現すめためのプログラムをコンピュータ読み取
り可能な記録媒体に記録して、この記録媒体に記録され
たプログラムを他のコンピュータシステムに読み込ま
せ、実行することによる施工管理を行ってもよい。な
お、ここでいうコンピュータシステムとは、OSや周辺
機器等のハードウェアを含むものとする。
【0055】コンピュータ読み取り可能な記録媒体と
は、フロッピーディスク、光磁気ディスク、ROM、C
D―ROM等の可搬媒体、コンピュータシステムに内蔵
されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。さら
にコンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、インター
ネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介し
てプログラムが送信された場合のサーバやクライアント
となるコンピュータシステム内部の揮発性メモリ(RA
M)のように、一定時間プログラムを保持しているもの
も含むものとする。また、上記プログラムは、このプロ
グラムを記憶装置等に格納したコンピュータシステムか
ら、伝送媒体を介して、あるいは、伝送媒体中の伝送波
により他のコンピュータシステムに伝送されてもよい。
ここで、プログラムを伝送する伝送媒体は、インターネ
ット等のネットワーク(通信網)や電話線等の通信回線
のように情報を伝送する機能を有する媒体のことをい
う。
【0056】また、上記したプログラムは、上記した機
能の一部を実現するためのものであっても良い。さら
に、前述した機能をコンピュータシステムに既に記録さ
れているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、
いわゆる差分ファイル(差分プログラム)であっても構
わない。
【0057】
【発明の効果】以上説明のように本発明によれば、NP
W工程フローの各工程毎、その工程における制御、管理
方法を明確化するための用途区分をマスタファイルに保
持し、処理されたロットの用途区分を元に、製品履歴へ
のデータ展開や装置ステータスの変更を行うことによ
り、また、頻度管理を行うことで、定期的なNPWの搬
送指示を行うことがてき、更に、プロセス装置側では自
身の状態を管理し、かつ、稼動の為に必要なNPWを必
要なタイミングで搬送することを要求できる。
【0058】このように、各NPWの用途に関して、搬
送制御、工程トラッキング、情報管理の面から細かく分
類し、その分類結果をNPW工程フローの各工程毎にマ
スタ情報として保持するため、製品ロットを流す上で必
要なNPWの搬送及び工程トラッキングを自動化でき、
このことによりライン内の完全自動化が実現され、製品
と人との完全分離により、人から製品への発塵を防止す
ることができる。また、NPWの搬送及び工程トラッキ
ングを自動化することでライン内のNPWの流れを一括
管理することが可能になり、NPWを必要とするタイミ
ングで人の対応待ちといった従来における無駄時間がな
くなり、システムとしてのスループットが向上すると共
に、装置の稼動情報の精度向上も可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明における非製品ウェハの自動化処理シ
ステムのシステム構成を示すブロック図である。
【図2】 本発明において使用されるマスタファイルの
データ構造を示す図である。
【図3】 本発明で使用される用途区分フラグの例を表
形式(表1)で示す図である。
【図4】 拡散炉における製品キャリアの搬入出状況を
示す動作概念図である。
【図5】 拡散炉における製品リファレンスキャリアの
搬入出状況を示す動作概念図である。
【図6】 拡散炉におけるプロセスチェックキャリア搬
入出状況を示す動作概念図である。
【図7】 拡散炉における装置パイロットキャリア搬入
出状況を示す動作概念図である。
【図8】 拡散炉におけるエキストラダミーキャリア搬
入出状況を示す動作概念図である。
【図9】 拡散炉におけるサイドダミーキャリア搬入出
状況を示す動作概念図である。
【図10】 ロット種別による設備状態の種類を表形式
(表2)で示した図である。
【図11】 ホストコンピュータの動作手順をフローチ
ャートで示した図である。
【図12】 製品フローとNPWフローの関係を工程別
に時間軸上に示した図である。
【図13】 データ展開組み合わせテーブルの一例を示
した図である。
【図14】 製品の履歴とNPWの処理履歴を関連付け
る関連テーブルのデータ構造を表形式(表3)で示した
図である。
【図15】 従来のマスタファイルのデータ構造を示す
図である。
【符号の説明】
1…ホストコンピュータ、2…大容量ディスク装置、
3、4、5…プロセス装置、7…AMHS(自動搬送
車)、21…マスタファィル、22…履歴ファイル

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体生産に係わる1以上のプロセス装
    置がホストコンピュータによって制御され、非製品ウェ
    ハを含む製品ウェハの搬送及び工程トラッキングを自動
    化する半導体生産自動化システムにおいて、 前記ホストコンピュータは、前記工程の流れや前記工程
    毎に処理の条件が設定され格納されるマスタファイル上
    に、前記それぞれの工程における目的や動作で分類され
    た用途区分を情報として付加し、 前記各装置から発せられる前記製品ウェハまたは非製品
    ウェハの搬送要求に応じて前記マスタファイル上に格納
    される用途区分を含む処理条件を提供することにより、
    個々の用途に応じた製品ウェハまたは非製品ウェハを搬
    送し、工程トラッキングを制御することを特徴とする製
    品ウェハまたは非製品ウェハの自動化処理方法。
  2. 【請求項2】 前記ホストコンピュータは、前記各プロ
    セス装置によって処理される非製品ウェハをその工程フ
    ローと用途区分から判断し、製品ロットに対する処理履
    歴に前記非製品ウェハの処理履歴を、前記装置種、ロッ
    ト番号、処理条件、工程のうちの少なくとも1つをキー
    に関連づけることを特徴とする請求項1に記載の非製品
    ウェハの自動化処理方法。
  3. 【請求項3】 前記ホストコンピュータは、前記各プロ
    セス装置からの問い合わせ応答に含まれる用途区分から
    製品ロットまたは非製品ロットの種別毎その目的を判断
    し、装置状態を更新することを特徴とする請求項1に記
    載の非製品ウェハの自動化処理方法。
  4. 【請求項4】 前記ホストコンピュータは、定期的に処
    理が必要な非製品ウェハに関し、前回チェック時からの
    経過時間、処理ロット数のうちの少なくとも一つを処理
    条件に応じて個別に管理し、予め定義された時間もしく
    は処理ロット数をカウントして前記非製品ウェハに対し
    て搬送指示を発行することを特徴とする請求項1に記載
    の非製品ウェハの自動化処理方法。
  5. 【請求項5】 前記プロセス装置は、前記ホストコンピ
    ュータに対する問い合わせ応答によって得られる用途区
    分、もしくはバッチ構成された用途区分の組み合わせに
    応じ非製品ウェハの供給、回収を行うことを特徴とする
    請求項1に記載の製品ウェハを含む非製品ウェハの自動
    化処理方法。
  6. 【請求項6】 半導体生産に係わる1以上のプロセス装
    置がホストコンピュータによって制御され、非製品ウェ
    ハを含む製品ウェハの搬送及び工程トラッキングを自動
    化する半導体生産自動化システムにおいて、 前記非製品ウェハを含む製品ウェハをロット単位で保管
    する保管棚と、 前記ホストコンピュータから発行される搬送指示に従い
    前記保管棚と前記プロセス装置間における前記非製品ウ
    ェハを含む製品ウェハの搬入出を行う自動搬送車と、 前記工程の流れや前記工程毎に処理の条件が設定され格
    納されるマスタファイル上に、前記それぞれの工程にお
    ける目的や動作で分類された用途区分を情報として付加
    し、前記各プロセス装置から発せられる前記製品ウェハ
    または非製品ウェハの搬送要求に応じて前記マスタファ
    イル上に格納される用途区分を含む処理条件を提供する
    ホストコンピュータと、を有することを特徴とする非製
    品ウェハの自動化処理システム。
  7. 【請求項7】 前記ホストコンピュータは、 製品フローと非製品フローの各工程をリンクさせるため
    に、前記プロセス装置、ロット、条件、工程の少なくと
    も一つをキーとして関連付け、登録設定されるデータ展
    開組み合わせテーブルメモリと、 製品ロットが前記関連付けられた工程で処理されたタイ
    ミングで前記データ展開テーブルメモリをチェックし、
    その条件が定義されていたときに製品ロットを含む関連
    情報が登録設定される関連テーブルメモリと、 頻度管理のタイミングで前記非製品ウェハが同プロセス
    装置で処理されたときに該当する関連テーブルメモリの
    非製品ロットとして追加登録することにより、製品フロ
    ーと非製品フローのリンケージを行う手段と、を有する
    ことを特徴とする請求項6に記載の非製品ウェハの自動
    化処理システム。
  8. 【請求項8】 半導体製造に係わる1以上のプロセス装
    置がホストコンピュータによって制御され、保管棚にセ
    ットされた非製品ウェハを含む製品ウェハからなるロッ
    トを前記プロセス装置との間で自動搬送車を介して搬送
    すると共に工程トラッキングを自動化する非製品自動化
    処理システムに用いられ、 前記プロセス装置から搬送要求を受信し、バッチ構成の
    要否をチェックするステップと、 バッチ構成が不要であると判断された場合、添付出力さ
    れる用途区分情報をチェックし、その区分に従う適切な
    ロットを前記保管棚から選択して前記自動搬送車に搬送
    指示を発行するステップと、 頻度管理によってその区分に従うロットが必要なタイミ
    ングか否かをチェックするステップと、 必要であれば、頻度管理により指示された適切なロット
    を前記保管棚から選択して前記自動搬送車に対して搬送
    指示を発行するステップと、 バッチ構成が必要であると判断された場合、マスタファ
    イルを参照して用途区分をチェックし、その区分に従う
    適切なロットを前記保管棚から選択して前記自動搬送車
    に搬送指示を発行するステップと、 頻度管理によってその区分に従うロットが必要なタイミ
    ングか否かをチェックするステップと、 必要であれば、頻度管理により指示された適切なロット
    を前記保管棚から取り出し前記自動搬送車に対して搬送
    指示を発行するステップと、がプログラムされ記録され
    るコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
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TW089126526A TW468206B (en) 1999-12-14 2000-12-12 Automated processing method and system for product wafer and non product wafer, and recording medium in which the method is recorded
KR10-2000-0075858A KR100379847B1 (ko) 1999-12-14 2000-12-13 제품 웨이퍼를 포함하는 비제품 웨이퍼의 자동화 처리방법 및 시스템 및 동 방법이 기록된 기록매체
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TW (1) TW468206B (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008028340A (ja) * 2006-07-25 2008-02-07 Toshiba Corp キャリア搬送制御方法及びその装置並びに診断装置
CN100373545C (zh) * 2004-03-05 2008-03-05 东京毅力科创株式会社 基板处理装置、基板处理方法及程序
CN103926895A (zh) * 2014-04-16 2014-07-16 广东顶固集创家居股份有限公司 家具制造方法、系统及控制设备
US8785216B2 (en) 2004-03-05 2014-07-22 Tokyo Electron Limited Substrate processing apparatus, substrate processing method, and program for implementing the method
JP2019087614A (ja) * 2017-11-06 2019-06-06 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置及び通知方法

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100397562C (zh) * 2004-11-02 2008-06-25 力晶半导体股份有限公司 制造过程中实时批次发送系统及其方法
US7184851B2 (en) * 2005-06-28 2007-02-27 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Method of providing cassettes containing control wafers to designated processing tools and metrology tools
CN103926894A (zh) * 2014-04-16 2014-07-16 广东顶固集创家居股份有限公司 家具制造方法、系统及控制设备
CN112650179B (zh) * 2020-12-23 2022-05-27 同济大学 半导体制造系统的动态调度方法
CN113050576B (zh) * 2021-03-29 2023-01-03 长鑫存储技术有限公司 非产品晶圆控制系统及方法、存储介质及电子设备

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6097263A (ja) * 1983-11-02 1985-05-31 Olympus Optical Co Ltd 超音波顕微鏡の走査方法
JP3140211B2 (ja) * 1992-09-09 2001-03-05 株式会社日立国際電気 ウェーハ移載方法及び縦型拡散/cvd装置
KR100303322B1 (ko) * 1999-05-20 2001-09-26 박종섭 반도체 라인 관리를 위한 통합 자동화 시스템 및 그 방법

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100373545C (zh) * 2004-03-05 2008-03-05 东京毅力科创株式会社 基板处理装置、基板处理方法及程序
US8785216B2 (en) 2004-03-05 2014-07-22 Tokyo Electron Limited Substrate processing apparatus, substrate processing method, and program for implementing the method
JP2008028340A (ja) * 2006-07-25 2008-02-07 Toshiba Corp キャリア搬送制御方法及びその装置並びに診断装置
CN103926895A (zh) * 2014-04-16 2014-07-16 广东顶固集创家居股份有限公司 家具制造方法、系统及控制设备
JP2019087614A (ja) * 2017-11-06 2019-06-06 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置及び通知方法
US11152241B2 (en) 2017-11-06 2021-10-19 Tokyo Electron Limited Substrate processing apparatus and notification method

Also Published As

Publication number Publication date
TW468206B (en) 2001-12-11
GB0030516D0 (en) 2001-01-31
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