JP2001143423A - フレクシャ - Google Patents

フレクシャ

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JP2001143423A
JP2001143423A JP31968599A JP31968599A JP2001143423A JP 2001143423 A JP2001143423 A JP 2001143423A JP 31968599 A JP31968599 A JP 31968599A JP 31968599 A JP31968599 A JP 31968599A JP 2001143423 A JP2001143423 A JP 2001143423A
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JP
Japan
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wiring layer
flexure
layer
metal
thin plate
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JP31968599A
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English (en)
Inventor
Hidekatsu Sekine
秀克 関根
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Toppan Inc
Original Assignee
Toppan Printing Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】性能及び信頼性を確保しつつ、工程数及びコス
トの低減が図れるフレクシャを提供することを目的とす
る。 【解決手段】バネ性を有するSUS薄板からなる金属薄
板11上に導電性の良い金属からなる第2配線層15を
形成し、第2配線層15の両端の端子電極15a及び1
5bを除く金属薄板11上に保護層16を形成した後金
属薄板11をパターニング処理して第1配線層12及び
端子電極12a及び12bを形成し、保護層17を形成
してフレクシャを得る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は磁気ディスク装置等
に用いられる磁気ヘッドサスペンションのフレクシャに
係わり、さらに詳しくは磁気ヘッド素子とリード・ライ
トアンプ基板とを接続するための配線部材が一体的に形
成された磁気ディスク装置用サスペンションのフレクシ
ャに関する。
【0002】
【従来の技術】従来のフレクシャについて以下に説明す
る。まず、一つの形態として、図4(a)に示すよう
に、バネ性を有するSUS材からなる金属薄板41上
に、ポリイミド樹脂からなる絶縁層42が形成されてお
り、さらに、絶縁層42上に導電性の良い金属例えば銅
からなる配線層43を形成し、さらに、配線層43上に
ポリイミド樹脂からなる保護層44を形成した構成であ
る。また、別の形態として、図4(b)に示すように、
バネ性を有するSUS等の金属薄板51をフォトエッチ
ングプロセス等でパターニング処理して配線層52を形
成し、金属薄板51と配線層52を固定するために絶縁
層53を貼着し、保護層54を形成した金属薄板51と
同一金属材料からなる配線層構成であり、特開平6−2
95545号公報に記載されている。
【0003】図4(a)に示すフレクシャでは、製造工
程が多く、材料コストが高いといった問題がある。ま
た、それに対して図4(b)に示すフレクシャの場合に
は、製造工程及び材料コストの面では改善されてはいる
が、バネ性を有する金属薄板51がほとんどの場合SU
S材が使用されるため、ファインパターンの配線層では
配線層の電気抵抗が高くなり、フレクシャの性能が低下
することになる。また、配線層の両端の端子電極の表面
にはボンディングを良好に行うための層を金等の電気め
っき等で形成するが下地がSUSであるため、密着性が
悪く、フレクシャの性能及び信頼性が低下するという問
題がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、前記問題点
に鑑みなされたものであり、性能及び信頼性を確保しつ
つ、工程数及びコストの低減が図れるフレクシャを提供
することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明に於いて上記課題
を達成するために、まず請求項1においては、磁気ヘッ
ド素子とリード・ライトアンプ基板とを接続するための
配線部材が一体的に形成される磁気ディスク装置用サス
ペンションのフレクシャにおいて、前記配線部材がバネ
性を有する金属薄板からなる第1配線層と導電性に優れ
た金属からなる第2配線層との2層構成で形成されてい
ることを特徴とするフレクシャとしたものである。
【0006】また、請求項2においては、前記第1配線
層の層厚が前記金属薄板の厚さよりも薄く形成されてい
ることを特徴とする請求項1記載のフレクシャとしたも
のである。
【0007】
【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態につき説
明する。図1(a)〜(e)は本発明のフレクシャの請
求項1の実施例を、図2(a)〜(e)は本発明のフレ
クシャの請求項2の実施例を、それぞれ示す。請求項1
のフレクシャ10は、図1(a)〜(e)に示すよう
に、バネ性を有する金属薄板11からなる第1配線層1
2及び導電性の良い金属からなる第2配線層15、スリ
ット13、第1配線層12及び第2配線層15の両端に
端子電極部12a、15a、12b及び15bと保護層
16及び保護層17が形成されたものである。図1
(a)に、本発明のフレクシャ10の平面図を、図1
(b)〜(c)に、図1(a)の端子電極をA−A線で
切断した断面図を、図1(d)〜(e)に、図1(a)
の配線層をB−B線で切断した断面図を、それぞれ示
す。
【0008】配線層部は図1(d)〜(e)に示すよう
に、金属薄板11をパターニング処理してなる第1配線
層12の上に導電性の良い金属例えば銅をパターン化し
てなる第2配線層15が形成されたもので、図1(d)
は第2配線層15側に保護層16を形成したもので、図
1(e)は他の形態として第1配線層12及び第2配線
層15両面に保護層16及び保護層17を設けたもので
ある。図1(e)の場合第1配線層12が他の部品との
電気的接触を避ける面では有効である。
【0009】第1配線層12及び第2配線層15の両端
に設けられた端子電極は図1(c)〜(d)に示すよう
に、金属薄板11をパターン化してなる第1端子電極1
2aの上に導電性の良い金属例えば銅をパターン化して
なる第2端子電極15aが形成されたもので、第2端子
電極15a上には磁気ヘッド素子及びリード・ライトア
ンプ基板とを接続するためのボンディングパッドが金等
の膜で形成されている。図1(b)は、第2端子電極1
5aのボンディングパッド部を除く領域に保護層16
が、図1(c)は、第2端子電極15aのボンディング
パッド面を除く領域に保護層16と第1端子電極12a
面に保護層17が形成されたものである。
【0010】請求項2のフレクシャ20は、図2(a)
〜(e)に示すように、バネ性を有する金属薄板21か
らなる第1配線層22及び導電性の良い金属からなる第
2配線層25、スリット23、第1配線層22及び第2
配線層25の両端に端子電極22a、25a、22b及
び25bと保護層26及び保護層27が形成されたもの
である。図1(a)に、本発明のフレクシャ20の平面
図を、図2(b)〜(c)に、図2(a)の端子電極を
A−A線で切断した断面図を、図2(d)〜(e)に、
図2(a)の配線層をB−B線で切断した断面図を、そ
れぞれ示す。
【0011】配線層は図2(d)〜(e)に示すよう
に、金属薄板21をパターニング処理してなる第1配線
層22の上に導電性の良い金属例えば銅をパターン化し
てなる第2配線層25が形成されたもので、第1配線層
22の層厚は配線層以外の部分の金属薄板21よりも薄
く形成されている。このような構造にすることにより、
図2(d)に示すように第1配線層22面に保護層が無
くても後工程、例えばサスペンションの組み立て工程に
おいて他の部品との電気的接触を避けることができる。
また、図2(e)のように保護層を設けた場合でも、保
護層の剥離が生じたり、欠陥が生じたりした場合に、同
様に他の部品との電気的接触を避けることができる。図
2(d)は第2配線層25側に保護層26を形成したも
ので、図2(e)は他の形態として第1配線層22及び
第2配線層25両面に保護層26及び保護層27を設け
たものである。
【0012】第1配線層22及び第2配線層25の両端
に設けられた端子電極は図2(b)〜(c)に示すよう
に、金属薄板21をパターン化してなる第1端子電極2
2aの上に導電性の良い金属例えば銅をパターン化して
なる第2端子電極25aが形成されたもので、第2端子
電極25a上には磁気ヘッド素子及びリード・ライトア
ンプ基板とを接続するためのボンディングパッドが金等
の膜で形成してある。図2(b)は、第2端子電極25
aのボンディングパッド部を除く領域に保護層26が、
図2(c)は、第2端子電極25aのボンディングパッ
ド面を除く領域に保護層26と第1端子電極22a側に
保護層27が形成されたものである。
【0013】図3(a)〜(e)は、第1配線層22の
層厚を、配線層以外の部分の金属薄板21よりも薄く形
成した場合の第1配線層22の形成法の一例を示したも
ので、金属薄板21の片面に配線層幅の数分の1の万線
或いは網点状のパターンからなるレジストパターン33
を形成し、金属薄板21をエッチングしていくと図3
(b)に開口部の広い領域は深くエッチングされて2
3’のようなエッチング形状を示すがレジストパターン
33の領域は開口部が狭いため浅くエッチングされ、パ
ターン間隔が狭いため、図3(c)の状態では隣の領域
までエッチングが進みレジストパターン33は金属薄板
21から剥離された状態になる。さらに、所定の厚さに
なるまで仕上げエッチングを行い図3(e)に示すよう
な第1配線層22及びスリット23を形成する。この方
式は、レジストパターンの開口幅に差を付けることで、
エッチングの深度に差がでるということを利用したもの
であり、その差は、開口幅100μm前後で顕著とな
る。
【0014】フレクシャの形成法としては、まず、金属
薄板上に銅をスパッタして薄膜導体層を形成し、電解め
っきで第2配線層を形成するためのレジストパターンを
形成する。次に、レジストパターンをマスクにして薄膜
導体層上に銅、ニッケル及び金を順次電解めっきにて所
定厚形成して第2配線層を形成する。次に、レジストパ
ターンを剥離して、レジストパターン下部にあった薄膜
導体層をフラッシュエッチングにて除去した。次に、端
子電極のボンディングパッドを除く第2配線層側に保護
層を形成する。次に、第2配線層と反対面の金属薄板上
に第1配線層をフォトエッチングで形成するためのレジ
ストパターンを形成する。次に、レジストパターンをマ
スクにして金属薄板をエッチングし、レジストパターン
を剥離して、第1配線層及びスリットを形成して、金属
薄板から電気的に絶縁された配線層及び端子電極が形成
されたフレクシャを得る。さらに、必要に応じて第1配
線層面にも保護層を形成する。
【0015】本発明のフレクシャは、導電性の良い金属
例えばCuにて配線層を形成しているので、電気的性能
が低下することがない。さらに、配線層にCu等を使用
するので端子電極に形成するボンディングバッド部のめ
っき密着性も確保される。、さらに、従来のフレクシャ
と比較して、配線層と金属薄板を絶縁するための絶縁層
形成工程がなくなり、工程数及び材料コストが減り、製
造コストの低下が可能となる。
【0016】
【実施例】以下実施例により本発明を詳細に説明する。 <実施例1>まず、15μm厚のSUS薄板からなる金
属薄板11上にCuをスパッタリングして約3000Å
厚の薄膜導体層を形成した。この薄膜導体層は後工程の
めっきで形成するCu層とSUS薄板の密着力を向上さ
せるために形成するものである。
【0017】次に、金属薄板11の両面に、アルカリ可
溶性の20μm厚のドライフィルムレジストをラミネー
トし、露光・現像を行い、薄膜導体層側に所定の配線層
を電解めっきで得るためのレジストパターンを形成し
た。
【0018】次に、金属薄板11を電流供給電極にし
て、電流密度3A/dm2で硫酸銅めっきを行い、膜厚
5〜10μmのCuからなる配線層を、さらに電解Ni
めっきにて膜厚1〜2μm厚のNi層を、さらに電解A
uめっきにて膜厚1μmの金層を形成した。
【0019】次に、レジストパターンを専用の剥離液に
て剥離して、レジストパターン下部に形成されていた薄
膜導体層を硫酸にてフラッシュエッチングし、第2配線
層15を形成した。
【0020】次に、第2配線層15側の金属薄板11上
に感光性のポリイミド樹脂溶液を塗布しポリイミド感光
層を形成し、所定のパターンで露光・現像して、端子電
極15aにボンディングパッド部が露出された保護層1
6を形成した。
【0021】次に、第2配線層15と反対側の金属薄板
11上にフォトレジストを用いて感光層を形成し、所定
のパターンで露光、現像してレジストパターンを形成
し、レジストパターンをマスクにして金属薄板11をエ
ッチングして、第1配線層12及びスリット13を形成
し、金属薄板11から電気的に絶縁された配線層及び端
子電極を有する本発明のフレクシャ10を得た。さら
に、第1配線層12側に保護層17を形成し本発明のフ
レクシャ10を得た。
【0022】<実施例2>実施例1と同様な方法で、金
属薄板21上に第2配線層25及び端子電極25aにボ
ンディングパッド部を有する保護層26を形成した。
【0023】次に、第2配線層25と反対側の金属薄板
21上にフォトレジストを用いて感光層を形成し、所定
のパターンで露光、現像してレジストパターン33及び
32を形成し、レジストパターン33及び32をマスク
にして金属薄板21をエッチングして、スリット23及
び配線層以外の金属薄板21より薄くなった第1配線層
22を形成し、金属薄板21から電気的に絶縁された第
1配線層22、第2配線層25及び端子電極22a、2
2b、25a及び25bを有する本発明のフレクシャ2
0を得た。さらに、第1配線層22側に保護層27を形
成し本発明のフレクシャ20を得た。
【0024】
【発明の効果】上記したように、本発明に係わるフレク
シャによると、導電性の良い金属例えばCuにて配線層
を形成しているので、電気的性能が低下することがな
い。さらに、配線層にCuを使用するので端子電極に形
成されるボンディングバッド部のめっき密着性も確保さ
れる。さらに、従来のフレクシャと比較して、配線層と
金属薄板を絶縁するための絶縁層形成工程がなくなり、
工程数及び材料コストが減り、製造コストの低下が可能
となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)は、本発明に係わるフレクシャの一実施
例の平面図を示す。(b)〜(c)は、図1(a)の端
子電極をA−A線で切断した断面図を示す。(d)〜
(e)は、図1(a)の配線層部をB−B線で切断した
断面図を示す。
【図2】(a)は、本発明に係わるフレクシャの他の実
施例を示す平面図である。(b)〜(c)は、図2
(a)の端子電極をA−A線で切断した断面図を示す。
(d)〜(e)は、図1(a)の配線層をB−B線で切
断した断面図を示す。
【図3】(a)〜(e)は、本発明に係わるフレクシャ
の他の実施例で第1配線層22の形成法の一例を示した
部分断面図を示す説明図である。
【図4】(a)〜(b)は、従来のフレクシャの構成を
示す断面図である。
【符号の説明】
10、20……フレクシャ 11、21……金属薄板 12、22……第1配線層 12a、12b……端子電極 13、23……スリット 14、24……固定用孔 1、25……第2配線層 15a、15b……端子電極 16、26……保護層 17、27……保護層 22’、22”、23’、23”……エッチング途中工
程の形状 31、32、33……レジストパターン 41、51……金属薄板 42、53……絶縁層 43、52……配線層 44、54……保護層

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】磁気ヘッド素子とリード・ライトアンプ基
    板とを接続するための配線部材が一体的に形成されてな
    る磁気ディスク装置用サスペンションのフレクシャにお
    いて、前記配線部材がバネ性を有する金属薄板からなる
    第1配線層と導電性に優れた金属からなる第2配線層と
    の2層構成で形成されていることを特徴とするフレクシ
    ャ。
  2. 【請求項2】前記第1配線層の層厚が前記金属薄板の厚
    さよりも薄く形成されていることを特徴とする請求項1
    記載のフレクシャ。
JP31968599A 1999-11-10 1999-11-10 フレクシャ Pending JP2001143423A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SG139540A1 (en) * 2003-06-03 2008-02-29 Nitto Denko Corp Wired circuit board
US7349184B2 (en) 2004-08-31 2008-03-25 Hitachi Global Storage Technologies System and apparatus for continuous reference plane for wireless suspension

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