JP2001102735A - 実装方法 - Google Patents

実装方法

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JP2001102735A
JP2001102735A JP27830299A JP27830299A JP2001102735A JP 2001102735 A JP2001102735 A JP 2001102735A JP 27830299 A JP27830299 A JP 27830299A JP 27830299 A JP27830299 A JP 27830299A JP 2001102735 A JP2001102735 A JP 2001102735A
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solder
cream solder
land
solder paste
mounting
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JP27830299A
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Tomohiko Yoshida
智彦 吉田
Kazunori Ito
一記 伊藤
Yoji Watanabe
洋二 渡辺
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Sony Group Corp
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Aiwa Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 リードがファインピッチ化された表面実装型
部品の半田ブリッジを改善する実装方法を得る。 【解決手段】 メタルマスクを用いてプリント基板30
にクリーム半田を塗布する塗布工程で、プリント基板3
0のランド一箇所当たりでの半田ペースト36に塗布薄
部36Cと塗布厚部36Dとを設け、IC40をプリン
ト基板30に載置する載置工程では、塗布薄部36C
に、IC40のリード42のうち実装された状態でリー
ド42とランド32面との間隔が狭くなる先端部44A
側を載置する。これにより、半田ペースト36がリード
42の半田付け部44に押されても、先端部44A側で
は、ランド32からはみ出す半田ペースト36のはみ出
し量が少なくなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、部品を基板にクリ
ーム半田によって半田付けする実装方法に関し、特に、
基板のランド一箇所当たりにおけるクリーム半田の塗布
量を調整した塗布工程を有する実装方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、電子機器は、高性能化、あるいは
小型・軽量化が加速され、それら電子機器に内蔵される
半導体IC(以下、単に「IC」と呼ぶ)においても、
当然ながら、高性能化や高集積化、さらには高密度実装
化の要求が強くなっている。
【0003】このような背景から、ICは多ピン化及び
ファインピッチ化が進んでおり、最近では、リードピッ
チが0.5〜0.3mmと非常に狭くされたQFP(Quad
Flat Package)やTSOP(Thin Small Outline Pack
age)等も実用化されている。
【0004】このQFPなどの表面実装型ICは、一般
にクリーム半田(半田ペースト)によって基板に半田付
け(実装)されているが、ここで、従来の実装方法にお
けるクリーム半田印刷の一例を図8に示し、その概要を
説明する。
【0005】図8に示したクリーム半田印刷機100の
構成では、ステージ102上にプリント基板30が載置
され、プリント基板30のパターン面(クリーム半田印
刷面)側にメタルマスク104がセットされている。
【0006】プリント基板30のクリーム半田印刷面に
は複数のランド32が設けられており、ランド32以外
の表面部分はソルダーレジスト34によって被覆されて
いる。また、メタルマスク104には複数の開口部10
6が設けられており、このメタルマスク104が、開口
部106を各ランド32の位置に合わせてプリント基板
30上にセットされている。
【0007】したがって、クリーム半田の印刷は、クリ
ーム半田をスキージ108によってメタルマスク104
上に塗りつけながら(図中矢印A方向へ移動)開口部1
06に充填して行い、よってランド32上には、図9
(A)、(B)に示すように、開口部106の深さや形
状(長さや幅寸法)に応じた半田ペースト110が印刷
される。なお、この「半田ペースト」とは、ここではラ
ンドに所定量印刷されたクリーム半田のことを指してい
るが、実質的にはクリーム半田と同義であり、以下、同
様に使い分ける。
【0008】このようなクリーム半田の塗布工程後は、
図10に示すように、ランド32に設けられた半田ペー
スト110上に、IC40から延出するリード42の先
端側に位置する半田付け部44を重ねるようにして(押
入して)IC40をプリント基板30の所定位置にマウ
ントする載置工程があり、さらに、リフロー炉で加熱す
ることにより、半田付け部44の半田付けを行ってい
る。
【0009】しかしながら、上記したような実装方法で
は、クリーム半田の供給量が多過ぎる、あるいは、IC
のマウント時に必要以上の圧力が加わるなどのばらつき
により、半田ペーストがリードに押されてランドからは
み出し、最悪の場合、隣接するランド同士が半田付けさ
れてしまう半田ブリッジになる恐れがある。
【0010】通常は、半田ペーストがランドから多少は
み出しても、リフロー時に、ランド周囲のソルダーレジ
ストによって半田ペーストのはみ出しがある程度抑制さ
れるため、半田ブリッジの発生率は低く押さえられてい
る。しかし、上述したようなリードがファインピッチ化
されたICでは、ランドの横幅やピッチがICのリード
ピッチに合わせて非常に狭くされるため、従来のような
ソルダーレジストによる抑制のみでは半田ブリッジが完
全に押さえ切れない。
【0011】さらに、QFPなどの表面実装型ICは、
図10に示したように、半田付け部44の先端部44A
が下方(ランド32側)へ若干傾斜するようにフォーミ
ングされている。このため、リード42の半田付け部4
4を上方から拡大視した図11に示すように、半田付け
部44の先端部44A側では、半田ペースト110のは
み出し量が多くなり、リードがファインピッチの場合、
半田ブリッジがさらに起こりやすくなってしまう問題が
ある。
【0012】また、このような半田ブリッジを防ぐた
め、クリーム半田の供給量を少な目に調整する傾向があ
るが、しかしこれも、半田付け不良を起こしやすくする
要因となっている。
【0013】つまり、半田の供給量を少なくするために
メタルマスの開口部を小さくすると、リードがファイン
ピッチ化されたICの場合では、クリーム半田の印刷過
程で開口部に均一な量のクリーム半田を充填することが
困難となり、印刷精度が低下して、半田付け箇所でのク
ラック等を招いてしまうからである。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記事実を考
慮して、リードがファインピッチ化された表面実装型部
品の半田ブリッジを改善する実装方法を提供することを
課題とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明で
は、マスク部材を用いて基板にクリーム半田を塗布する
塗布工程で、基板のランド一箇所当たりでのクリーム半
田に塗布厚部と塗布薄部とを設ける。そして、部品を基
板に載置する載置工程では、クリーム半田の塗布薄部
に、部品のリードのうち実装された状態でリードとラン
ド面との間隔が狭い狭間隔部を載置して、その部品を基
板に半田付けする。
【0016】これにより、部品を基板に載置することに
よってクリーム半田がリードに押されても、リードの狭
間隔部では、ランドからはみ出すクリーム半田のはみ出
し量が少なくされる。よって、リードがファインピッチ
化された部品の実装においても、半田ブリッジを改善で
きる。
【0017】請求項2に記載の発明では、請求項1に記
載の実装方法におけるクリーム半田の塗布工程が、複数
のマスク部材を用いてクリーム半田をマスク部材毎に塗
布する複数の段階的塗布工程を含んでいる。
【0018】この複数のマスク部材は、各マスク部材に
設けられた開口部の開口面積がマスク部材毎にそれぞれ
異なっており、クリーム半田の塗布においては、開口部
の開口面積が大きいマスク部材から順に基板上に重ねて
配置する。またこのとき、クリーム半田は、それぞれの
マスク部材を重ねる毎に、重ねたマスク部材の開口部に
順次充填していく。
【0019】これにより、ランドに塗布されるクリーム
半田は、ランドから遠ざかるにつれて塗布量が段階的に
少なくされる。
【0020】このように、開口部の開口面積がそれぞれ
異なる複数のマスク部材を用いるといった簡単な方法に
よって、クリーム半田の塗布厚を段階的に調整すること
が可能となり、ランド一箇所当たりでのクリーム半田
に、塗布厚部と塗布薄部とを設けることができる。
【0021】請求項3に記載の発明では、マスク部材を
用いて基板にクリーム半田を塗布する塗布工程で、基板
のランド一箇所当たりでのクリーム半田に幅広部と幅狭
部とを設ける。そして、部品を基板に載置する載置工程
では、クリーム半田の幅狭部に、部品のリードのうち実
装状態でリードとランド面との間隔が狭い狭間隔部を載
置し、半田付け工程で、その部品を基板に半田付けす
る。
【0022】これにより、請求項1に記載の発明の場合
と同様、リードの狭間隔部でのクリーム半田のはみ出し
量が少なくされて、部品実装時の半田ブリッジが改善さ
れる。
【0023】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を説明する。
【0024】[第1の実施形態]図1には、本発明の第
1の実施形態に係る実装方法において、クリーム半田の
塗布工程に使用するメタルマスクが示されている。ここ
では、一次メタルマスク10と二次メタルマスク20と
を用いた2枚のメタルマスクによってクリーム半田を印
刷する形態である。
【0025】一次メタルマスク10には、クリーム半田
をプリント基板のランドに印刷するための複数の開口部
12、14が形成されている。この開口部12、14
は、開口形状が矩形とされている。
【0026】また、二次メタルマスク20にも、開口形
状が矩形とされたクリーム半田印刷用の開口部22が複
数形成されている。開口部22は、幅が、一次メタルマ
スク10に設けられた開口部12の幅寸法と揃えられて
おり(図中矢印W方向)、長さが、開口部12の長さ寸
法より短くされて(図中矢印L方向)、開口面積が開口
部12よりも小さくなるようにされている。
【0027】また、二次メタルマスク20を一次メタル
マスク10に図示(図1)の向きで所定の位置に重ね合
わせた状態では、開口部22が、端部22Aを開口部1
2の端部12Aに位置をほぼ揃えて、開口部12と重な
って配置されるようになっている。
【0028】この各メタルマスクを基板上にセットした
状態が、図2に示されている。一次メタルマスク10及
び二次メタルマスク20がセットされたプリント基板3
0は、クリーム半田印刷面に電極部としてのランド32
が設けられており、ランド32は、基板内、あるいは基
板表面に形成された図示しないパターン(回路部)に繋
がれている。また、プリント基板30のランド32以外
の表面部分は、従来のプリント基板と同様、ソルダーレ
ジスト34によって被覆されている。
【0029】このプリント基板30上に、図示のよう
に、一次メタルマスク10及び二次メタルマスク20を
順に重ね合わせてセットすると、開口部12及び開口部
22がランド32上の所定の位置に配置される構成であ
る。
【0030】次に、本実施の形態での実装方法を説明す
る。
【0031】クリーム半田の塗布工程では、まず、プリ
ント基板30上に一次メタルマスク10をセットして開
口部12をランド32上に配置する。その後、スキージ
等によって開口部12にクリーム半田を充填して、半田
ペースト36Aを形成する。
【0032】さらに、二次メタルマスク20を一次メタ
ルマスク10上にセットし、再度、スキージ等により開
口部22にクリーム半田を充填して、半田ペースト36
Aの上面に、半田ペースト36Aよりも少量の半田ペー
スト36Bを形成する。
【0033】このような2段階のクリーム半田印刷後
に、二次メタルマスク20、一次メタルマスク10の順
に、プリント基板30から各メタルマスクを取り外す。
【0034】これにより、図3(A)、(B)に示すよ
うな、ランド一箇所当たりで、塗布薄部36Cと塗布厚
部36Dとが設けられた半田ペースト36が印刷され
る。
【0035】部品の載置工程では、図4(A)に示すよ
うに、IC40を、リード42の半田付け部44の先端
部44A(ランド32面との間隔が狭い狭間隔部)側が
半田ペースト36の塗布薄部36Cに位置が合うように
して、プリント基板30に載置し、半田付け工程で、図
4(B)に示すように、IC40をプリント基板30に
半田付けする。
【0036】以下に、本実施の形態での作用を説明す
る。
【0037】IC40の実装においては、半田付け部4
4の先端部44A側は、根元部44B側よりも半田ペー
スト36への押し込み量が多くされるが、図4(A)、
(B)で説明したように、リード42の半田付け部44
の先端部44A側を、半田ペースト36の塗布薄部36
Cに載置したことによって、ランド32からの半田ペー
スト36のはみ出し量が少なくなる。
【0038】以上説明したように、本実施の形態に係る
実装方法では、メタルマスクを用いてプリント基板30
にクリーム半田を塗布する塗布工程で、プリント基板3
0のランド一箇所当たりでの半田ペースト36に塗布薄
部36Cと塗布厚部36Dとを設け、IC40をプリン
ト基板30に載置する載置工程では、半田ペースト36
の塗布薄部36Cに、IC40のリード42のうち実装
された状態でリード42とランド32面との間隔が狭い
先端部44A側を載置したため、IC40がプリント基
板30に載置されて半田ペースト36がリード42の半
田付け部44に押されても、先端部44A側では、ラン
ド32からはみ出す半田ペースト36のはみ出し量が少
なくなる。
【0039】よって、リードがファインピッチ化された
IC40の実装においても、半田ブリッジを改善でき
る。
【0040】また、本実施の形態では、メタルマスクに
設けられた開口部の開口面積がそれぞれ異なる一次メタ
ルマスク10と二次メタルマスク20を用いている。
【0041】そして、まず開口部の開口面積が大きい一
次メタルマスク10を、次に開口面積が小さい二次メタ
ルマスク20を、順にプリント基板30上に重ねて配置
するとともに、それぞれのメタルマスクを重ねる毎に、
重ねたメタルマスクの開口部(開口部12、22)に、
クリーム半田を充填している。
【0042】これにより、ランド32に塗布される半田
ペースト36は、ランド32から遠ざかるにつれて塗布
量が段階的に少なくされ、このような簡単な方法によっ
て、クリーム半田の塗布厚を段階的に調整することが可
能となり、ランド一箇所当たりでの半田ペースト36
に、塗布薄部36Cと塗布厚部36Dとを設けることが
できる。
【0043】さらに、根元部44Bでは半田ペースト3
6の量が多くされているため(塗布厚部36D)、図4
(B)に示すように、半田付けによって適正な半田溜り
36Eが形成されて、半田付け箇所でのクラック等が起
こることはない。
【0044】なお、クリーム半田の塗布厚を調整して印
刷する半田ペーストは、本実施の形態のような段状に限
定するものではなく、リードの半田付け部の形状に合わ
せて、塗布薄部と塗布厚部との位置や形状等を適宜変更
できるものである。
【0045】例えば、図5に示すようなリード43の半
田付け部45がV字状にフォーミングされたIC41の
場合では、半田ペーストへの押し込み量が大きくなる半
田付け部45の中央部45C付近で、半田ペーストが多
くはみ出すことになる。したがって、図5(A)に示す
ように、半田ペーストを半田付け部45の形状に合わせ
て部分的に薄く(凹状に)形成することにより(半田ペ
ースト37)、中央部45C付近での半田ペーストのは
み出し量を押さえることができる。
【0046】またここでも、ランド32と半田付け部4
5との隙間が大きくなる先端部45A及び根元部45B
では、半田ペースト37の量が多くされているため(塗
布厚部36D)、図5(B)に示すように、適正量の半
田溜り37A、37Bが形成されてクラック等が防がれ
る。
【0047】また、このような凹状の半田ペースト37
を形成するには、上記した一次メタルマスク10の開口
部12に対し、二次メタルマスク20の開口部22の数
を増やすのみで、上述した2段階の印刷方法により容易
に実現できる。
【0048】さらに、クリーム半田の塗布厚を調整する
ために使用するメタルマスクの数は、本実施形態のよう
に2枚に限らず、半田ペーストの形状等に応じて3枚以
上としてもよい。
【0049】また、開口部付近での板厚が連続的に変化
しているメタルマスクを用いれば、そのメタルマスクを
用いた一回の印刷によってクリーム半田の塗布厚を連続
的に変化させることも可能であり、したがって、半田付
け部の傾斜に合わせ、半田ペーストを連続的に薄く形成
することもできる。
【0050】さらに、図3に示したような半田ペースト
36を、リードの半田付け部が実装状態でランド面と平
行となるような一般的なリード部品の実装に適用するこ
ともできる。この場合、図6(A)に示すように、リー
ド部品のリード46の半田付け部48は、実装状態(半
田ペースト36への載置状態)でランド32面と平行と
なり、よって半田付け部48全体が、ランド32との間
隔が狭くなる狭間隔部といえる。
【0051】したがって、半田付け部48の根元側を塗
布厚部36D付近に位置合わせし、半田付け部48を半
田ペースト36の塗布薄部36Cに載置するようにして
リード部品をプリント基板30に実装することにより、
半田付け部48によってランド32から押し出される半
田ペースト36の量を押さえることでき、半田ブリッジ
の改善や、部品の実装密度向上に繋げられる。
【0052】また、半田付け後は、図6(B)に示すよ
うに、塗布厚部36Dによって形成された半田溜り36
Fが半田付け部48の根元側をランド32に確実に固着
するため、半田付け不良となることもない。
【0053】[第2の実施形態]次に、本発明の第2の
実施形態について説明する。
【0054】図7には、本発明の第2の実施形態に係る
実装方法に使用されるメタルマスク50と、そのメタル
マスク50によってランドに塗布された半田ペーストの
平面図が示されている。
【0055】メタルマスク50は、図7(A)に示すよ
うに、クリーム半田が充填される開口部52の開口形状
が台形とされている。したがって、メタルマスク50に
よりランド32上に印刷される半田ペーストは、図7
(B)に示したような平面視にて台形の半田ペースト5
4となる。
【0056】この半田ペースト54に、第1の実施形態
で説明したIC40のリード42をマウントする際は、
半田ペースト54の塗布幅が狭くされている幅狭部54
A側に半田付け部44の先端部44Aを合わせることに
より(塗布幅が広くされている幅広部54B側には半田
付け部44の根元部44B側が位置する)、先端部44
Aでの半田ペーストのはみ出し量を少なくすることがで
きる。
【0057】このように、第2の実施形態では、クリー
ム半田の塗布工程で、開口形状を台形とした開口部52
が形成されているタルマスク50を用いることにより、
プリント基板30のランド一箇所当たりでの半田ペース
ト54に、幅狭部54Aと幅広部54Bとを設けること
ができる。
【0058】したがって、第1の実施形態と同様、半田
付け部44の先端部44Aでの半田ペースト37のはみ
出し量が少なくされて、リードがファインピッチ化され
た表面実装型ICの実装においても、半田ブリッジが起
きることはない。
【0059】なお、ランド一箇所当たりでの塗布幅が調
整された半田ペーストは、台形に限らず、三角形などと
することもでき、さらに、塗布幅を連続的に変化させる
ような形態以外にも、部分的、あるいは、段階的に(段
状に)変化させることができる。
【0060】したがって、図5に示したような半田付け
部45がV字状にフォーミングされたIC41の場合で
も、半田ペーストの中央部付近での塗布幅を狭くするこ
とにより、半田ペーストへの押し込み量が大きくなる中
央部付近での半田ペーストのはみ出し量を押さえること
ができる。
【0061】さらに、第1及び第2の実施形態を組み合
わせて、ランド一箇所当たりでの半田ペーストの塗布厚
と塗布幅とを共に調整することも可能である。
【0062】
【発明の効果】本発明の実装方法は上記構成としたの
で、リードがファインピッチ化された表面実装型部品の
半田ブリッジを改善することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施の形態に係る実装方法に用い
られるメタルマスクを示した斜視図である。
【図2】本発明の第1の実施形態に係る実装方法を説明
する、メタルマスクがプリント基板上にセットされた状
態を示す概略側断面図である。
【図3】本発明の第1の実施形態に係る実装方法によっ
て、プリント基板のランドに印刷された半田ペーストを
示す(A)が側断面図、(B)が平面図である。
【図4】図3の半田ペーストにICのリードをマウント
する過程を示した説明図である。
【図5】他の実施形態による半田ペーストにICのリー
ドをマウントする過程を示した説明図である。
【図6】図3の半田ペーストに一般的な実装部品のリー
ドをマウントする過程を示した説明図である。
【図7】本発明の第2実施の形態に係る実装方法に用い
られるメタルマスク、及び、そのメタルマスクによって
印刷された半田ペーストを示し、(A)がメタルマスク
の平面図であり、(B)が半田ペーストの平面図であ
る。
【図8】従来の実装方法におけるクリーム半田印刷方法
の一例を示す説明図である。
【図9】図8のクリーム半田印刷方法によってプリント
基板のランドに印刷された半田ペーストを示す(A)が
側断面図、(B)が平面図である。
【図10】図9の半田ペーストがランドに印刷されたプ
リント基板にICが実装された状態を示す側面図であ
る。
【図11】図10のICのリードがランドに半田付けさ
れている部分を拡大視した平面図である。
【符号の説明】
10 一次メタルマスク(マスク部材) 12 開口部 20 二次メタルマスク(マスク部材) 22 開口部 30 プリント基板(基板) 32 ランド 36 半田ペースト(クリーム半田) 36C 塗布薄部 36D 塗布厚部 37 半田ペースト(クリーム半田) 40 IC(部品) 41 IC(部品) 42 リード 43 リード 44A 先端部(狭間隔部) 45C 中央部(狭間隔部) 46 リード 48 半田付け部(狭間隔部) 50 メタルマスク(マスク部材) 52 開口部 54 半田ペースト(クリーム半田) 54A 幅狭部 54B 幅広部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 渡辺 洋二 東京都台東区池之端1丁目2番11号 アイ ワ株式会社内 Fターム(参考) 2C035 AA06 FD01 FF22 FF26 5E319 AA03 AB01 BB05 CD29 GG05

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 部品を基板にクリーム半田によって半田
    付けする実装方法において、 マスク部材を用いて前記基板に前記クリーム半田を塗布
    する際、基板のランド一箇所当たりでのクリーム半田に
    塗布厚部と塗布薄部とを設ける塗布工程と、前記部品を
    前記基板に載置する際、部品のリードのうち実装された
    状態で前記リードと前記ランド面との間隔が狭い狭間隔
    部を前記塗布薄部に載置する載置工程と、 を有することを特徴とする実装方法。
  2. 【請求項2】 前記塗布工程が、前記マスク部材に設け
    られた開口部の開口面積がそれぞれ異なる複数のマスク
    部材を用い、前記開口部の開口面積が大きいマスク部材
    から順に前記基板上に配置して前記クリーム半田を塗布
    する複数の段階的塗布工程を含んでいることを特徴とす
    る請求項1に記載の実装方法。
  3. 【請求項3】 部品を基板にクリーム半田によって半田
    付けする実装方法において、 マスク部材を用いて前記基板に前記クリーム半田を塗布
    する際、基板のランド一箇所当たりでのクリーム半田に
    幅広部と幅狭部とを設ける塗布工程と、 前記部品を前記基板に載置する際、部品のリードのうち
    実装された状態で前記リードと前記ランド面との間隔が
    狭い狭間隔部を前記幅狭部に載置する載置工程と、 を有することを特徴とする実装方法。
JP27830299A 1999-09-30 1999-09-30 実装方法 Pending JP2001102735A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100489152B1 (ko) * 2001-06-01 2005-05-17 닛폰 덴키 가부시끼 가이샤 전자 부품들이 장착된 프린팅된 회로 기판을 포함하는구조체 및 이를 제조하기 위한 방법
CN115397674A (zh) * 2020-04-25 2022-11-25 株式会社富士 焊料回收装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100489152B1 (ko) * 2001-06-01 2005-05-17 닛폰 덴키 가부시끼 가이샤 전자 부품들이 장착된 프린팅된 회로 기판을 포함하는구조체 및 이를 제조하기 위한 방법
CN115397674A (zh) * 2020-04-25 2022-11-25 株式会社富士 焊料回收装置
CN115397674B (zh) * 2020-04-25 2023-10-27 株式会社富士 焊料回收装置

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