JP2001085990A - レベルシフト回路および画像表示装置 - Google Patents
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Abstract
2つの信号を必要としていた。また、他の駆動回路と同
一基板にモノリシックで形成することは困難であった。
さらに、各画像表示装置毎にバイアス電圧を調整してい
た。 【解決手段】 バイアス電圧設定部で入力信号INの振
幅レベルの中心電圧を設定し、アンプ回路部で入力信号
INの振幅レベルを増幅する。
Description
およびそれを用いた画像表示装置に関し、特にドライバ
モノリシック型(駆動回路一体型)の画像表示装置に内
蔵され、低振幅(ロジックレベル)の入力信号を増幅す
るためのレベルシフト回路および画像表示装置に関す
る。
び開発が著しく進んでおり、特に多結晶シリコンを用い
たTFT(薄膜トランジスタ:Thin Film T
ransistor)液晶表示装置について、今後の高
い需要が見込まれている。多結晶シリコンを用いたTF
T液晶表示装置は、アモルファスシリコンを用いたもの
と比較して、電子および正孔の移動度が2桁高く、nチ
ャネルTFTとpチャネルTFTとを組み合わせたCM
OS構成が可能である。そのため、アモルファスシリコ
ンを用いたTFT液晶表示装置が駆動回路を液晶セル用
の画素TFTの基板の外部で、例えば単結晶シリコンを
用いて形成しなければならないのに対し、多結晶シリコ
ンを用いて液晶セル用の画素TFTと同一基板上に駆動
回路を形成することができる、すなわちドライバモノリ
シック型のTFT液晶表示装置を形成することができる
ので、小形化、高機能化および低コスト化の実現が可能
となる。
T液晶表示装置の構成を示す。図11において、1は外
部よりビデオ信号を入力するためのビデオ信号端子、2
は対向電極へ電圧を入力するための対向電圧端子、3は
n(nはn>1の整数)段のゲートバスライン駆動用の
シフトレジスタ、4はm(mはm>1の整数)段のソー
スバスライン駆動用のシフトレジスタ、5〜8は入力制
御信号の振幅レベルを増幅するためのレベルシフト回
路、SPVはシフトレジスタ3へ入力されるスタートパ
ルス、Φ1VおよびΦ2Vは水平期間と同じ周波数であ
るクロック信号、ΦV1〜ΦVnはTFT素子をオン又
はオフさせるためにシフトレジスタ3より出力される駆
動パルス、G1〜Gnはゲートバスライン、SPHはシ
フトレジスタ4へ入力されるスタートパルス、Φ1Hお
よびΦ2Hは水平期間のm倍の周波数であるクロック信
号、ΦH1〜ΦHmはシフトレジスタ4より出力される
サンプリングパルス、M1〜Mmはビデオ信号をサンプ
リングするためのサンプリングスイッチ、L1〜Lmは
ソースバスライン、M11〜Mnmはソースバスライン
L1〜LmとゲートバスラインG1〜Gnとの各交点に
設けられるTFT素子、C11〜CnmはTFT素子M
11〜Mnmに接続された画素電極と対向電極の間に存
在する液晶セルである。
て、スタートパルスSPVおよびSPH並びにクロック
信号Φ1V、Φ2V、Φ1HおよびΦ2Hの振幅レベル
を増幅するための回路を設けている。ドライバモノリシ
ック型のTFT液晶表示装置では、多結晶シリコンを用
いて駆動回路を形成しているが、単結晶シリコンを用い
て駆動回路を形成しているものと比べてトランジスタの
しきい値電圧が高くなる。そこで、スタートパルスSP
VおよびSPH並びにクロック信号Φ1V、Φ2V、Φ
1HおよびΦ2Hの振幅レベルは、ロジックレベルの電
源電圧3V、3.3Vおよび5Vなどの電圧では十分高
いとは言えず、例えば12〜15Vまで高くする必要が
あり、そのためにレベルシフト回路5〜8を設けてい
る。
す。図12において、VDDは正電源電圧、GNDは負
電源電圧、INは入力信号、(/IN)は入力信号IN
と電圧レベルが反転した関係にある入力信号、OUTは
出力信号、p121、p122およびp123はpチャ
ネルTFT、n121、n122およびn123はnチ
ャネルTFTである。
FTn121のゲートへ入力され、入力信号(/IN)
はnチャネルTFTn122のゲートへ入力される。n
チャネルTFTn121のドレインはpチャネルTFT
p121のドレインおよびゲート並びにpチャネルTF
Tp122のゲートと接続され、nチャネルTFTn1
22のドレインはpチャネルTFTp122のドレイン
およびpチャネルTFTp123とnチャネルTFTn
123とからなるインバータ回路部の入力端子と接続さ
れる。また、pチャネルTFTp121のソースおよび
pチャネルTFTp122のソースは正電源電圧VDD
と接続され、nチャネルTFTn121のソースおよび
nチャネルTFTn122のソースは負電源電圧GND
と接続される。
作について説明する。入力信号INがハイレベル、入力
信号(/IN)がローレベルのとき、nチャネルTFT
n121はオンとなり、nチャネルTFTn122はオ
フとなる。そうすると、負電源電圧GNDがpチャネル
TFTp121のゲートおよびpチャネルTFTp12
2のゲートへ入力され、pチャネルTFTp121は抵
抗成分とみなされ、正電源電圧VDDおよび負電源電圧
GND間で電流が流れる。一方、pチャネルTFTp1
22はオンとなり、pチャネルTFTp122のドレイ
ンおよびpチャネルTFTp123とnチャネルTFT
n123とからなるインバータ回路部の入力端子は正電
源電圧VDDに充電され、インバータ回路部の出力端子
からは負電源電圧GNDが出力される。入力信号INが
ローレベル、入力信号(/IN)がハイレベルに反転す
ると、nチャネルTFTn121はオフとなり、nチャ
ネルTFTn122はオンとなる。そうすると、pチャ
ネルTFTp123とnチャネルTFTn123とから
なるインバータ回路部の入力端子は負電源電圧GNDに
放電され、インバータ回路部の出力端子からは正電源電
圧VDDが出力される。すなわち、入力信号INの振幅
レベルは、図12に示す従来のレベルシフト回路により
増幅されている。(但し、正電源電圧VDDと負電源電
圧GNDとの電位差は、入力信号INの振幅レベルより
高く設定される。)
従来のレベルシフト回路を他の駆動回路と同じように多
結晶シリコンを用いて形成する場合、トランジスタのし
きい値電圧は単結晶シリコンを用いて形成したものと比
べて高くなる。また、トランジスタを形成するプロセス
の途上で、しきい値電圧のばらつきが大きくなることが
ある。トランジスタのしきい値電圧が高くなることはト
ランジスタのオン抵抗が高くなることに繋がり、pチャ
ネルTFTp121およびp122並びにnチャネルT
FTn121およびn122のオン抵抗が高くなると、
pチャネルTFTp123とnチャネルTFTn123
とからなるインバータ回路部の入力端子を充放電する時
定数も高くなることになる。それに対して、スタートパ
ルスSPVおよびSPH並びにクロック信号Φ1V、Φ
2V、Φ1HおよびΦ2Hの振幅レベルは、ロジックレ
ベルの電源電圧3V、3.3Vおよび5Vなどの電圧で
は十分高いとは言えず、レベルシフト回路から出力され
る波形は訛ったもの、または歪んだものになるという問
題点があった。
ランジスタのチャネル幅を大きくすることが考えられる
が、トランジスタのチャネル幅を大きくすればレベルシ
フト回路の面積の増大に繋がる。また、トランジスタの
チャネル幅を大きくすると、そのトランジスタ自身の容
量も同時に大きくなるため、トランジスタのチャネル幅
を大きくしても、時定数の低減効果はトランジスタのチ
ャネル幅の大きさには比例しないことになる。
しては、例えば、特開平4−242317号公報などが
提案されている。図13は、この特開平4−24231
7号公報で開示されている従来のレベルシフト回路を示
す。図13において、VBは正電源電圧、R131およ
びR132は抵抗、C131およびC132はコンデン
サ、T131およびT132はnpn型バイポーラトラ
ンジスタ、p131、p132およびp133はpチャ
ネルTFT、n131、n132およびn133はnチ
ャネルTFT、他の構成要素は図12と同様である。
GND、抵抗R131およびR132、npn型バイポ
ーラトランジスタT131およびT132からなる電圧
クランプ回路部と、正電源電圧VDD、負電源電圧GN
D、pチャネルTFTp131、p132およびp13
3、nチャネルTFTn131、n132およびn13
3からなるレベルシフト回路部とから構成される。電圧
クランプ回路部では、正電源電圧VBと負電源電圧GN
Dとを抵抗R131およびR132で分圧した電圧(こ
の電圧をVB'と定義する)がnpn型バイポーラトラ
ンジスタT131のベースおよびT132のベースへ入
力される。npn型バイポーラトランジスタT131の
エミッタはコンデンサC131の一方の電極およびnチ
ャネルTFTn131のゲートと接続され、npn型バ
イポーラトランジスタT132のエミッタはコンデンサ
C132の一方の電極およびnチャネルTFTn132
のゲートと接続される。また、npn型バイポーラトラ
ンジスタT131のコレクタおよびT132のコレクタ
は正電源電圧VBと接続される。尚、レベルシフト回路
部は、図12に示す従来のレベルシフト回路と同じ構成
である。
作について説明する。入力信号INはコンデンサC13
1により容量結合されてnチャネルTFTn131のゲ
ートへ入力され、入力信号(/IN)はコンデンサC1
32により容量結合されてnチャネルTFTn132の
ゲートへ入力される。ここで、電圧クランプ回路部から
の電圧により、入力信号INおよび(/IN)の振幅レ
ベルは変わらないが、そのローレベルは電圧VB'から
順方向電圧だけ電圧降下した電圧にシフトされる。つま
り、レベルシフト回路部を構成するトランジスタのしき
い値電圧が高くなった場合においても、入力信号INお
よび(/IN)のハイレベルをしきい値電圧より高く設
定することが可能となり、トランジスタのオンおよびオ
フの動作を正常に行うことができる。そして、レベルシ
フト回路部では、図12に示す従来のレベルシフト回路
と同じように、入力信号INの振幅レベルを増幅してい
る。
は、電圧レベルが反転した関係にある入力信号INおよ
び(/IN)の2つの入力信号が必要であるという問題
点があった。つまり、図11に示すドライバモノリシッ
ク型のTFT液晶表示装置に上記のレベルシフト回路を
内蔵する場合、スタートパルスSPVおよびSPHは、
シフトレジスタ3および4を駆動するという目的からみ
ると各々の入力制御信号の電圧レベルが反転した関係に
ある信号は必要ないが、レベルシフト回路では各々の入
力制御信号と各々の入力制御信号の電圧レベルが反転し
た関係にある信号との2つの信号を必要としている。こ
のことは、ドライバモノリシック型のTFT液晶表示装
置を形成する場合に外部からの入力信号数が増加するた
め、外部信号との接続端子数の増加を招くことになる。
クランプ回路部がnpn型バイポーラトランジスタT1
31およびT132で構成されており、駆動回路と同一
基板上に多結晶シリコンでモノリシックに形成すること
は困難であるという問題点があった。すなわち、電圧ク
ランプ回路部は外部に用意する必要があり、部品点数の
増加をもたらすことになる。
ベルシフト回路部を構成するpチャネルTFTp13
1、p132およびp133並びにnチャネルTFTn
131、n132およびn133のしきい値電圧が変動
した場合、トランジスタのしきい値電圧に応じて電圧V
B'を調整する必要があるという問題点があった。すな
わち、トランジスタのしきい値電圧に合わせて、正電源
電圧VBまたは抵抗R131およびR132の値を調整
しなければならない。一般に、多結晶シリコンを用いて
形成されるトランジスタのしきい値電圧のばらつきは単
結晶シリコンで形成されるものと比べて大きく、量産化
を行う場合、各液晶表示装置毎に電圧VB'を調整する
ことは非常に効率が悪くなる。
されたものであり、1つの入力信号のみで動作し、レベ
ルシフト回路全体を駆動回路と同一基板上に多結晶シリ
コンを用いてモノリシックに形成することを可能とし、
各液晶表示装置毎に電源電圧および抵抗の値を調整する
必要がないレベルシフト回路および画像表示装置を提供
するものである。
路は、入力部に設けられる容量手段と、前記容量手段に
より容量結合された入力信号の直流電圧レベルを設定す
るためのバイアス電圧設定手段と、直流電圧レベルを設
定された入力信号の振幅レベルを増幅するためのアンプ
手段とを備えたレベルシフト回路において、前記バイア
ス電圧設定手段が正電源電圧と負電源電圧との間に分圧
手段を設けることで構成されると共に、前記アンプ手段
への入力信号線が1本であることを特徴としている。
手段がCMOSインバータ回路であることを特徴として
いる。
段として、pチャネルのトランジスタとnチャネルのト
ランジスタとを用いることを特徴としている。
段として、容量を用いることを特徴としている。
段として、抵抗体を用いることを特徴としている。
ス電圧設定手段では、pチャネルのトランジスタのソー
スとnチャネルのトランジスタのゲートとが正電源電圧
に接続され、pチャネルのトランジスタのゲートとnチ
ャネルのトランジスタのソースとが負電源電圧に接続さ
れ、pチャネルのトランジスタのドレインとnチャネル
のトランジスタのドレインとがアンプ手段の入力端子に
接続されることを特徴としている。
ス電圧設定手段では、pチャネルのトランジスタのソー
スが正電源電圧に接続され、nチャネルのトランジスタ
のソースが負電源電圧に接続され、pチャネルのトラン
ジスタのゲートとドレインとnチャネルのトランジスタ
のゲートとドレインとがアンプ手段の入力端子に接続さ
れることを特徴としている。
ネルのトランジスタと前記nチャネルのトランジスタ
は、各々複数個を用いて前記分圧手段を構成することを
特徴としている。
ス電圧設定手段で設定された直流電圧レベルをクランプ
するための電圧クランプ手段を備えることを特徴として
いる。
ス電圧設定手段で設定された直流電圧レベルが前記電圧
クランプ手段によりクランプするときに、電圧降下した
電圧を補償する手段を備えることを特徴としている。
れる容量手段と、前記容量手段により容量結合された入
力信号の直流電圧レベルを設定するためのバイアス電圧
設定手段と、直流電圧レベルを設定された入力信号の振
幅レベルを増幅するためのアンプ手段とを備えたレベル
シフト回路を用いた画像表示装置において、前記バイア
ス電圧設定手段が正電源電圧と負電源電圧との間に分圧
手段を設けることで構成されると共に、前記アンプ手段
への入力信号線が1本であることを特徴としている。
がCMOSインバータ回路であることを特徴としてい
る。
して、pチャネルのトランジスタとnチャネルのトラン
ジスタとを用いることを特徴としている。
して、容量を用いることを特徴としている。
して、抵抗体を用いることを特徴としている。
圧設定手段で設定された直流電圧レベルをクランプする
ための電圧クランプ手段を備えることを特徴としてい
る。
装置は、バイアス電圧設定手段が正電源電圧と負電源電
圧との間に分圧手段を設けることで構成されるため、簡
単な回路構成でバイアス電圧設定手段を実現することが
できると共に、入力信号の直流電圧レベルを容易にアン
プ手段の動作点の範囲にシフトすることができる。ま
た、アンプ手段の入力端子が1つの端子から構成される
ため、レベルシフト回路への入力信号線数が少なくてす
むと共に、簡単な回路構成でアンプ手段を実現すること
ができる。
装置は、アンプ手段がCMOSインバータ回路であるた
め、pチャネルのトランジスタとnチャネルのトランジ
スタを用いた簡単な構成でアンプ手段を実現することが
できる。
装置は、分圧手段としてpチャネルのトランジスタとn
チャネルのトランジスタを用いるため、入力信号の直流
電圧レベルをトランジスタのオン抵抗比により容易に設
定することができる。また、単結晶シリコンと比べてし
きい値電圧にばらつきのある多結晶シリコンでレベルシ
フト回路全体を同一基板上に形成することができる。つ
まり、レベルシフト回路を含めたドライバモノリシック
型の画像表示装置を実現することが可能となる。
装置は、分圧手段として容量を用いるため、入力信号の
直流電圧レベルを容量の面積比により容易に設定するこ
とができる。容量は多結晶シリコン上にも簡単に構成で
きるため、レベルシフト回路全体を同一基板上に形成す
ることができる。つまり、レベルシフト回路を含めたド
ライバモノリシック型の画像表示装置を実現することが
可能となる。
装置は、分圧手段として抵抗体を用いるため、入力信号
の直流電圧レベルを抵抗比により容易に設定することが
できると共に、レベルシフト回路全体を同一基板上に形
成することができる。つまり、レベルシフト回路を含め
たドライバモノリシック型の画像表示装置を実現するこ
とが可能となる。
装置は、バイアス電圧設定手段の構成として、pチャネ
ルのトランジスタのソースとnチャネルのトランジスタ
のゲートとが正電源電圧に接続され、pチャネルのトラ
ンジスタのゲートとnチャネルのトランジスタのソース
とが負電源電圧に接続され、pチャネルのトランジスタ
のドレインとnチャネルのトランジスタのドレインとが
アンプ手段の入力端子に接続されるため、レベルシフト
回路を構成するトランジスタのしきい値電圧が変動して
アンプ手段の動作点がシフトしても、それに追従して入
力信号の直流電圧レベルを自動的に設定することができ
る。
装置は、バイアス電圧設定手段の構成として、pチャネ
ルのトランジスタのソースが正電源電圧に接続され、n
チャネルのトランジスタのソースが負電源電圧に接続さ
れ、pチャネルのトランジスタのゲートとドレインとn
チャネルのトランジスタのゲートとドレインとがアンプ
手段の入力端子に接続されるため、レベルシフト回路を
構成するトランジスタのしきい値電圧が変動してアンプ
手段の動作点がシフトしても、入力信号の直流電圧レベ
ルの設定を容易に行うことができる。
装置は、pチャネルのトランジスタとnチャネルのトラ
ンジスタは各々複数個を用いて前記分圧手段を構成する
ため、各々のトランジスタのソース・ドレイン端子間に
かかる電界によるストレスを低減することができる。ま
た、トランジスタの数により入力信号の直流電圧レベル
を決められるので、設定の自由度を高くすることができ
る。
装置は、バイアス電圧設定手段で設定された直流電圧レ
ベルをクランプするための電圧クランプ手段を備えるた
め、入力信号の周波数、バイアス電圧設定手段を構成す
るトランジスタおよび入力部に設けられる容量手段に関
わらず、入力信号の波形の歪みを防ぐことができる。そ
のため、設計の自由度を高くすることも可能である。
装置は、バイアス電圧設定手段で設定された直流電圧レ
ベルが前記電圧クランプ手段によりクランプするとき
に、電圧降下した電圧を補償する手段を備えるため、入
力信号の直流電圧レベルをバイアス電圧設定手段で容易
に設定することができる。
に説明する。
形態1における画像表示装置に用いるレベルシフト回路
を示す。図1において、VDDは正電源電圧、GNDは
負電源電圧、INは入力信号、OUTは出力信号、C1
1はコンデンサ、p11およびp12はpチャネルTF
T、n11およびn12はnチャネルTFTである。
GND、pチャネルTFTp11、nチャネルTFTn
11からなるバイアス電圧設定部と、正電源電圧VD
D、負電源電圧GND、pチャネルTFTp12、nチ
ャネルTFTn12からなるアンプ回路部とから構成さ
れる。バイアス電圧設定部では、pチャネルTFTp1
1のドレインとnチャネルTFTn11のドレインとが
接続されると共にコンデンサC11の一方の電極と接続
され、pチャネルTFTp11のソースおよびnチャネ
ルTFTn11のゲートは正電源電圧VDDと接続さ
れ、pチャネルTFTp11のゲートおよびnチャネル
TFTn11のソースは負電源電圧GNDと接続され
る。アンプ回路部では、pチャネルTFTp12のゲー
トとnチャネルTFTn12のゲートとが接続されると
共にコンデンサC11の一方の電極と接続され(アンプ
回路部の入力端子となる)、pチャネルTFTp12の
ドレインとnチャネルTFTn12のドレインとが接続
され(アンプ回路部の出力端子となる)、pチャネルT
FTp12のソースは正電源電圧VDDと接続され、n
チャネルTFTn12のソースは負電源電圧GNDと接
続される。
レベルシフト回路の動作について説明する。入力信号I
NはコンデンサC11により容量結合されてアンプ回路
部の入力端子へ入力される。ここで、pチャネルTFT
p11およびnチャネルTFTn11のオン抵抗の比に
よって決定されるバイアス電圧(この電圧をVbと定義
する)により、入力信号INの振幅レベルは変わらない
が、その振幅レベルの中心電圧はバイアス電圧Vbにシ
フトされる。つまり、そのバイアス電圧Vbを正しく設
定することにより、アンプ回路部の動作を正常に行うこ
とができる。そして、アンプ回路部では、入力信号IN
がハイレベルのとき、pチャネルTFTp12はオフと
なり、nチャネルTFTn12はオンとなり、アンプ回
路部の出力端子からは負電源GNDが出力される。入力
信号INがローレベルのとき、pチャネルTFTp12
はオンとなり、nチャネルTFTn12はオフとなり、
アンプ回路部の出力端子からは正電源VDDが出力され
る。すなわち、入力信号INの振幅レベルは、図1に示
す本発明の実施の形態1におけるレベルシフト回路によ
り増幅されている。(但し、正電源電圧VDDと負電源
電圧GNDとの電位差は、入力信号INの振幅レベルよ
り高く設定される。) 図2は、本発明の実施の形態1におけるレベルシフト回
路の入出力の関係を示す。入力信号INの振幅レベルの
中心電圧はバイアス電圧Vbにシフトされ、信号inb
となり、アンプ回路部の入力端子へ入力される。そし
て、アンプ回路部の入出力の電圧特性が波形bのような
特性で、信号inbの振幅レベルがアンプ回路部の出力
電圧を正電源電圧VDDから負電源電圧GNDへ反転す
るような入力電圧の動作点の範囲となれば、アンプ回路
部の出力端子からは信号outbが出力される。
ャネルTFTのしきい値電圧の絶対値がnチャネルTF
Tのしきい値電圧の絶対値に対して小さくなった場合、
アンプ回路部の入出力の電圧特性は波形cのような特性
になり、動作点が正電源電圧VDD側にシフトされる。
その場合でも、アンプ回路部の入力端子へ入力される信
号が信号inbのままであれば、アンプ回路部の出力端
子からは信号outcが出力され、振幅レベルの十分な
変換が行われないことになる。しかしながら、pチャネ
ルTFTのしきい値電圧の絶対値がnチャネルTFTの
しきい値電圧の絶対値に対して小さくなった場合、pチ
ャネルTFTp11のオン抵抗はnチャネルTFTn1
1のオン抵抗より値が低くなるため、バイアス電圧設定
部により決定されるバイアス電圧はVbより正電源電圧
VDD側にシフトされVcとなり、アンプ回路部の入力
端子へ入力される信号が信号incとなる。その結果、
アンプ回路の出力端子からは信号outbが出力され
る。
るpチャネルTFTのしきい値電圧の絶対値がnチャネ
ルTFTのしきい値電圧の絶対値に対して大きくなった
場合、アンプ回路部の入出力の電圧特性は波形aのよう
な特性になり、動作点が負電源電圧GND側にシフトさ
れる。その場合は、pチャネルTFTp11のオン抵抗
はnチャネルTFTn11のオン抵抗より値が高くなる
ため、バイアス電圧設定部により決定されるバイアス電
圧はVbより負電源電圧GND側にシフトされVaとな
り、アンプ回路部の入力端子へ入力される信号が信号i
naとなる。その結果、アンプ回路の出力端子からは、
信号outaではなく信号outbが出力される。
ベルシフト回路では、レベルシフト回路を構成するトラ
ンジスタのしきい値電圧が変動してアンプ回路部の動作
点がシフトしても、それに追従してバイアス電圧がバイ
アス電圧設定部で自動的に設定されることになる。
けるレベルシフト回路では、pチャネルTFTおよびn
チャネルTFTを各々1つずつでバイアス電圧設定部を
構成しているが、pチャネルTFTおよびnチャネルT
FTを両方またはいずれか一方を2つ以上で構成しても
良い。
ベルシフト回路の別の例を示す。図3において、C31
はコンデンサ、p31、p32およびp33はpチャネ
ルTFT、n31、n32およびn33はnチャネルT
FT、他の構成要素は図1と同様である。
1におけるレベルシフト回路と比べて、バイアス電圧設
定部が各々2つのpチャネルTFTおよびnチャネルT
FTから構成される点が異なる。このようにすること
で、各トランジスタの端子間にかかる電圧を低減できる
ため、トランジスタのソース・ドレイン端子間にかかる
電界によるストレス低減効果が期待できる。また、pチ
ャネルTFTおよびnチャネルTFTの個数の比でもバ
イアス電圧を決めることが可能となり、バイアス電圧の
設定の自由度が増すことになる。
形態2における画像表示装置に用いるレベルシフト回路
を示す。図4において、C41はコンデンサ、p41、
p42およびp43はpチャネルTFT、n41、n4
2およびn43はnチャネルTFT、他の構成要素は図
1と同様である。
1におけるレベルシフト回路と比べて、バイアス電圧設
定部を構成するpチャネルTFTp42のゲートとnチ
ャネルTFTn41のゲートとが接続されると共に、p
チャネルTFTp42のドレインおよびnチャネルTF
Tn41のドレインと接続される点が異なる。
1におけるレベルシフト回路では、トランジスタのしき
い値電圧の変動によるアンプ回路部の動作点のシフト量
およびバイアス電圧設定部からのバイアス電圧のシフト
方向は一致するが、一般的にバイアス電圧のシフト量が
アンプ回路部の動作点よりも大きくなる。そのため、バ
イアス電圧のシフト量が大きくなりすぎると、入力信号
INの振幅レベルがアンプ回路部の動作点の範囲とずれ
る可能性がある。一方、図4に示す本発明の実施の形態
2におけるレベルシフト回路では、バイアス電圧設定部
からのバイアス電圧がpチャネルTFTp42のゲート
およびnチャネルTFTn41のゲートにフィードバッ
クされ、トランジスタのしきい値電圧の変動によるバイ
アス電圧のシフト量を補償することができる。
ベルシフト回路を構成するpチャネルTFTのしきい値
電圧の絶対値がnチャネルTFTのしきい値電圧の絶対
値に対して小さくなった場合、pチャネルTFTp41
およびp42のオン抵抗はnチャネルTFTn41およ
びn42のオン抵抗より値が低くなるため、バイアス電
圧は正電源電圧VDD側にシフトされる。しかしなが
ら、バイアス電圧設定部からのバイアス電圧は、pチャ
ネルTFTp42のゲートおよびnチャネルTFTn4
1のゲートにフィードバックされるため、正電源電圧V
DD側にシフトされたバイアス電圧によりnチャネルT
FTn41のオン抵抗の値が低くなるように働く。その
結果、バイアス電圧のシフト量は、図2および図3に示
す実施の形態1におけるレベルシフト回路と比べて小さ
くなる。上述とは逆に、レベルシフト回路を構成するp
チャネルTFTのしきい値電圧の絶対値がnチャネルT
FTのしきい値電圧の絶対値に対して大きくなった場
合、バイアス電圧は負電源電圧GND側にシフトされる
が、pチャネルTFTp42オン抵抗の値が低くなるよ
うに働く。その結果、上述と同様に、バイアス電圧のシ
フト量は、図2および図3に示す実施の形態1における
レベルシフト回路と比べて小さくなる。
ベルシフト回路では、レベルシフト回路を構成するトラ
ンジスタのしきい値電圧が変動してアンプ回路部の動作
点がシフトする場合、バイアス電圧設定部からのバイア
ス電圧をアンプ回路部のシフト量に合わせて設定するこ
とが容易になる。
けるレベルシフト回路では、pチャネルTFTおよびn
チャネルTFTを各々2つずつでバイアス電圧設定部を
構成しているが、pチャネルTFTおよびnチャネルT
FTを両方またはいずれか一方を3つ以上で構成しても
良い。また、pチャネルTFTおよびnチャネルTFT
を両方またはいずれか一方を1つで構成しても良い。す
なわち、図4に示す本発明の実施の形態2におけるレベ
ルシフト回路からpチャネルTFTp41またはnチャ
ネルTFTn42を取り除いた構成としても良い。
形態3における画像表示装置に用いるレベルシフト回路
を示す。図5において、C51はコンデンサ、p51お
よびp52はpチャネルTFT、n51、n52および
n53はnチャネルTFT、他の構成要素は図1と同様
である。
1におけるレベルシフト回路と比べて、バイアス電圧設
定部の出力端子とアンプ回路部の入力端子との間に電圧
クランプ用のnチャネルTFTn52が設けられている
点が異なる。nチャネルTFTn52のドレインは、ア
ンプ回路部の入力端子となるpチャネルTFTp52の
ゲートとnチャネルTFTn53のゲートと接続される
と共にコンデンサC51の一方の電極と接続される。ま
た、nチャネルTFTn52のゲートはバイアス電圧設
定部の出力端子となるpチャネルTFTp51のドレイ
ンおよびnチャネルTFTn51のドレインと接続さ
れ、nチャネルTFTn52のソースは正電源電圧VD
Dと接続される。
施の形態1におけるレベルシフト回路並びに図4示す本
発明の実施の形態2におけるレベルシフト回路では、コ
ンデンサのインピーダンスがバイアス電圧設定部を構成
するpチャネルTFTおよびnチャネルTFTのオン抵
抗の値に対して、十分低くする必要がある。図1に示す
本発明の実施の形態1におけるレベルシフト回路で考え
ると、入力信号INの周波数をfHz、pチャネルTF
Tp11のオン抵抗をRp11、nチャネルTFTn1
1のオン抵抗をRn11とした場合、コンデンサC11
のインピーダンスZc11はZc11=1/(2π・f
・C11)となるが、 1/(2π・f・C11)<<Rp11、Rn11 の関係式が成り立つようにしなければならない。そうで
ないと、アンプ回路部の入力端子で信号波形が歪んだも
のとなり、レベルシフト回路が正常に動作しなくなる。
10Hzになった場合、上式を満たすためには、コンデ
ンサC11の値を10倍、またはpチャネルTFTp1
1のオン抵抗Rp11およびnチャネルTFTn11の
オン抵抗Rn11の値を10倍にする必要がある。すな
わち、入力信号INの周波数におけるコンデンサC11
のインピーダンスZc11とバイアス電圧設定部のトラ
ンジスタのオン抵抗との比を十分に大きくするために、
コンデンサのサイズを大きくして容量を増やすか、また
はバイアス電圧設定部を構成するトランジスタの数を多
くしてトランジスタのオン抵抗を高くしなければならな
い。しかしながら、コンデンサのサイズを大きくした
り、トランジスタの数を増やすことは、レベルシフト回
路の規模の増大につながるため必ずしも好ましくない。
また、pチャネルTFTp11のオン抵抗Rp11およ
びnチャネルTFTn11のオン抵抗Rn11の値を高
くするため、トランジスタのサイズを調整する方法も考
えられるが、トランジスタの設計ルールを考慮すると、
トランジスタのオン抵抗の値を一定以上にすることは困
難である。
おけるレベルシフト回路では、入力信号INのローレベ
ルがpチャネルTFTp51のオン抵抗とnチャネルT
FTn51のオン抵抗との比で設定された電圧から、n
チャネルTFTn52のしきい値電圧だけ電圧降下した
電圧V'にシフトされる。もし、入力信号INのローレ
ベルが電圧V'よりも低くなる方向で動作しても、nチ
ャネルTFTn52を介して、アンプ回路部を構成する
pチャネルTFTp52のゲートおよびnチャネルTF
Tn53のゲート並びにコンデンサC51を充電するこ
とになり、常に電圧V'より低くなることはなく、電圧
V'にクランプされる。そして、入力信号INの振幅レ
ベルがアンプ回路部の動作点の範囲となるように、入力
信号のローレベル、すなわち電圧V'を設定すれば良
い。
ベルシフト回路では、入力信号のローレベルを電圧クラ
ンプすることにより、入力信号の波形が歪むことなくア
ンプ回路部へ入力されるため、バイアス電圧設定部を構
成するpチャネルTFTおよびnチャネルTFTのオン
抵抗の値、コンデンサの容量の調整が不要となり、設計
時の自由度が増すことになる。
ベルシフト回路の別の例を示す。図6において、C61
はコンデンサ、p61およびp62はpチャネルTF
T、n61、n62およびn63はnチャネルTFT、
他の構成要素は図1と同様である。
3におけるレベルシフト回路と比べて、バイアス電圧設
定部の出力端子とアンプ回路部の入力端子との間に設け
られる電圧クランプ用のnチャネルTFTn62のゲー
トとソースとが接続される点が異なる。このようにする
ことで、nチャネルTFTn62はダイオードとして機
能し、入力信号INのローレベルがpチャネルTFTp
61のオン抵抗とnチャネルTFTn61のオン抵抗と
の比で設定された電圧から、nチャネルTFTn62の
しきい値電圧だけ電圧降下した電圧にシフトされる。
シフト回路では、pチャネルTFTおよびnチャネルT
FTを各々1つずつでバイアス電圧設定部を構成してい
るが、pチャネルTFTおよびnチャネルTFTを両方
またはいずれか一方を2つ以上で構成しても良い。
ルシフト回路では、電圧クランプ用としてnチャネルT
FTを用いているが、pチャネルTFTを用いても良
い。
形態4における画像表示装置に用いるレベルシフト回路
を示す。図7において、C71はコンデンサ、p71、
p72およびp73はpチャネルTFT、n71、n7
2、n73、n74およびn75はnチャネルTFT、
他の構成要素は図1と同様である。
2におけるレベルシフト回路と比べて、バイアス電圧設
定部の出力端子とアンプ回路部の入力端子との間に電圧
クランプ用のnチャネルTFTn73およびnチャネル
TFTn74が設けられている点が異なる。nチャネル
TFTn73のドレインとnチャネルTFTn74のソ
ースとが接続され、nチャネルTFTn73のゲート
は、pチャネルTFTp72のゲートおよびnチャネル
TFTn72のゲートと接続されると共にpチャネルT
FTp72のドレインおよびnチャネルTFTn72の
ドレインと接続される。また、nチャネルTFTn73
のソースは正電源電圧VDDと接続され、nチャネルT
FTn74のゲートとドレインとが接続されると共に、
アンプ回路部の入力端子となるpチャネルTFTp73
のゲートおよびnチャネルTFTn75のゲート並びに
コンデンサC71の一方の電極と接続される。
におけるレベルシフト回路の電圧クランプのレベルにつ
いて考える。バイアス電圧設定部からのバイアス電圧
は、nチャネルTFTn73のしきい値電圧だけ電圧降
下した電圧がnチャネルTFTn73のドレインより出
力される。そして、nチャネルTFTn74のゲートと
ドレインとが接続されるため、nチャネルTFTn73
のドレインより出力される電圧は、nチャネルTFTn
74のしきい値電圧だけ高くなる。
ベルシフト回路では、電圧クランプ用のトランジスタを
2つ設け、最初のトランジスタのしきい値電圧だけ電圧
降下した電圧を次のトランジスタで補償することによ
り、バイアス電圧設定部で設定された電圧で入力信号の
ローレベルを電圧クランプすることができるため、バイ
アス電圧の設定が容易になる。
シフト回路では、バイアス電圧設定部を本発明の実施の
形態2におけるレベルシフト回路のバイアス電圧設定部
と同じ構成としているが、本発明の実施の形態1におけ
るレベルシフト回路のバイアス電圧設定部と同じ構成と
しても良い。
ルシフト回路では、pチャネルTFTおよびnチャネル
TFTを各々2つずつでバイアス電圧設定部を構成して
いるが、pチャネルTFTおよびnチャネルTFTを両
方またはいずれか一方を3つ以上で構成しても良い。
ベルシフト回路では、電圧クランプ用としてnチャネル
TFTを用いているが、pチャネルTFTを用いても良
い。
の実施の形態5における画像表示装置に用いるレベルシ
フト回路を示す。レベルシフト回路を構成するpチャネ
ルTFTおよびnチャネルTFTのしきい値電圧の変動
が小さく、アンプ回路部の動作点の範囲の変動が小さい
場合、バイアス電圧設定部からのバイアス電圧をトラン
ジスタのしきい値電圧に合わせる必要はなく、固定する
ことが可能である。従って、図8〜図10に示す本発明
の実施の形態5におけるレベルシフト回路が考えられ
る。
3はコンデンサ、p81はpチャネルTFT、n81は
nチャネルTFT、他の構成要素は図1と同様である。
図8では、図1に示す本発明の実施の形態1におけるレ
ベルシフト回路と比べて、トランジスタを容量に置き換
えた点が異なる。バイアス電圧はコンデンサC82とコ
ンデンサC83との容量比に応じて設定される。
3はコンデンサ、p91はpチャネルTFT、n91お
よびn92はnチャネルTFT、他の構成要素は図1と
同様である。図9では、図5に示す本発明の実施の形態
3におけるレベルシフト回路と比べて、トランジスタを
容量に置き換える点が異なる。コンデンサC92とコン
デンサC93との容量比に応じて設定されるバイアス電
圧は、nチャネルTFTn91のしきい値電圧だけ電圧
降下した電圧により電圧クランプされる。
R101、R102は抵抗、p101はpチャネルTF
T、n101はnチャネルTFT、他の構成要素は図1
と同様である。図10では、図1に示す本発明の実施の
形態1におけるレベルシフト回路と比べて、トランジス
タを抵抗に置き換える点が異なる。バイアス電圧は抵抗
R101と抵抗102との抵抗比に応じて設定される。
におけるレベルシフト回路では、コンデンサまたは抵抗
を用いてバイアス電圧設定部を構成しているため、トラ
ンジスタの特性による影響を受けずにバイアス電圧を安
定にかつ容易に設定できる。
シフト回路では、コンデンサを用いたバイアス電圧設定
部とアンプ回路部との間に電圧クランプ用のトランジス
タを設けているが、抵抗を用いたバイアス電圧設定部と
アンプ回路部との間に電圧クランプ用のトランジスタを
設けても良いし、本発明の実施の形態4におけるレベル
シフト回路のように電圧クランプ用のトランジスタを2
つ設けても良い。
ルシフト回路では、コンデンサまたは抵抗を正電源電圧
側と負電源電圧側とに各々1つずつでバイアス電圧設定
部を構成しているが、正電源電圧側と負電源電圧側との
両方またはいずれか一方を2つ以上で構成しても良い。
回路では、多結晶シリコンとして、連続粒界結晶性シリ
コンを用いても良い。
シフト回路では、入力信号の振幅レベルの増幅手段であ
るアンプ回路部として、入力信号に対して反転した信号
を出力するためのCMOSインバータ回路を用いている
が、入力信号に対して反転しない信号を出力する回路手
段を用いても良い。
フト回路および画像表示装置においては、以下のような
効果を奏する。
装置には、バイアス電圧設定手段が正電源電圧と負電源
電圧との間に分圧手段を設けることで構成されるため、
簡単な回路構成でバイアス電圧設定手段を実現すること
ができると共に、入力信号の直流電圧レベルを容易にア
ンプ手段の動作点の範囲にシフトすることができる。ま
た、アンプ手段の入力端子が1つの端子から構成される
ため、レベルシフト回路への入力信号線数が少なくてす
むと共に、簡単な回路構成でアンプ手段を実現すること
ができる。
装置には、アンプ手段がCMOSインバータ回路である
ため、pチャネルのトランジスタとnチャネルのトラン
ジスタを用いた簡単な構成でアンプ手段を実現すること
ができる。
装置には、分圧手段としてpチャネルのトランジスタと
nチャネルのトランジスタを用いるため、入力信号の直
流電圧レベルをトランジスタのオン抵抗比により容易に
設定することができる。また、単結晶シリコンに比べて
Vthばらつきのある多結晶シリコンでレベルシフト回
路全体を同一基板上に形成することができる。つまり、
レベルシフト回路を含めたドライバモノリシック型の画
像表示装置を実現することが可能となる。
装置は、分圧手段として容量を用いるため、入力信号の
直流電圧レベルを容量の面積比により容易に設定するこ
とができる。容量は多結晶シリコン上にも簡単に構成で
きるため、レベルシフト回路全体を同一基板上に形成す
ることができる。つまり、レベルシフト回路を含めたド
ライバモノリシック型の画像表示装置を実現することが
可能となる。
装置は、分圧手段として抵抗体を用いるため、入力信号
の直流電圧レベルを抵抗比により容易に設定することが
できると共に、レベルシフト回路全体を同一基板上に形
成することができる。つまり、レベルシフト回路を含め
たドライバモノリシック型の画像表示装置を実現するこ
とが可能となる。
装置は、バイアス電圧設定手段の構成として、pチャネ
ルのトランジスタのソースとnチャネルのトランジスタ
のゲートとが正電源電圧に接続され、pチャネルのトラ
ンジスタのゲートとnチャネルのトランジスタのソース
とが負電源電圧に接続され、pチャネルのトランジスタ
のドレインとnチャネルのトランジスタのドレインとが
アンプ手段の入力端子に接続されるため、レベルシフト
回路を構成するトランジスタのしきい値電圧が変動して
アンプ手段の動作点がシフトしても、それに追従して入
力信号の直流電圧レベルを自動的に設定することができ
る。
装置は、バイアス電圧設定手段の構成として、pチャネ
ルのトランジスタのソースが正電源電圧に接続され、n
チャネルのトランジスタのソースが負電源電圧に接続さ
れ、pチャネルのトランジスタのゲートとドレインとn
チャネルのトランジスタのゲートとドレインとがアンプ
手段の入力端子に接続されるため、レベルシフト回路を
構成するトランジスタのしきい値電圧が変動してアンプ
手段の動作点がシフトしても、入力信号の直流電圧レベ
ルの設定を容易に行うことができる。
装置は、pチャネルのトランジスタとnチャネルのトラ
ンジスタは各々複数個を用いて前記分圧手段を構成する
ため、各々のトランジスタのソース・ドレイン端子間に
かかる電界によるストレスを低減することができる。ま
た、トランジスタの数により入力信号の直流電圧レベル
を決められるので、設定の自由度を高くすることができ
る。
装置は、バイアス電圧設定手段で設定された直流電圧レ
ベルをクランプするための電圧クランプ手段を備えるた
め、入力信号の周波数、バイアス電圧設定手段を構成す
るトランジスタおよび入力部に設けられる容量手段に関
わらず、入力信号の波形の歪みを防ぐことができる。そ
のため、設計の自由度を高くすることも可能である。
装置は、バイアス電圧設定手段で設定された直流電圧レ
ベルが前記電圧クランプ手段によりクランプするとき
に、電圧降下した電圧を補償する手段を備えるため、入
力信号の直流電圧レベルをバイアス電圧設定手段で容易
に設定することができる。
路を示す図である。
路の入出力の関係を示す図である。
路の別の例を示す図である。
路を示す図である。
路を示す図である。
路の別の例を示す図である。
路を示す図である。
路を示す図である。
路の別の例を示す図である。
回路の別の例を示す図である。
置の構成を示す図である。
いる、従来のレベルシフト回路を示す図である。
信号 ΦH1〜ΦHm サンプリングパルス M1〜Mm サンプリングスイッチ L1〜Lm ソースバスライン M11〜Mnm TFT素子 C11〜Cnm 液晶セル VDD、VB 正電源電圧 GND 負電源電圧 IN 入力信号(/IN) 入力信号INと電圧レベル
が反転した関係にある入力信号 OUT 出力信号 p11、p12、p31〜p33、p41〜p43、p
51、p52、p61、p62、p71〜p73、p8
1、p91、p101、p121〜p123、p131
〜p133 pチャネルTFT n11、n12、n31、n32、n33、n41、n
42、n43、n51、n52、n53、n61〜n6
3、n71〜n75、n81、n91、n92、n10
1、n121〜n123、n131〜n133 nチャ
ネルTFT R101、R102、R131、R132 抵抗 C11、C31、C41、C51、C61、C71、C
81〜C83、C91〜C93、C101、C131、
C132 コンデンサ T131、T132 npn型バイポーラトランジスタ VB' 分圧した電圧 Va、Vb、Vc バイアス電圧 ina、inb、inc アンプ回路部の入力信号 a、b、c アンプ回路部の入出力の電圧波形 outa、outb、outc アンプ回路部の出力信
号 Rp11 pチャネルTFTp11のオン抵抗 Rn11 nチャネルTFTn11のオン抵抗 Zc11 コンデンサC11のインピーダンス
Claims (16)
- 【請求項1】 入力部に設けられる容量手段と、前記容
量手段により容量結合された入力信号の直流電圧レベル
を設定するためのバイアス電圧設定手段と、直流電圧レ
ベルを設定された入力信号の振幅レベルを増幅するため
のアンプ手段とを備えたレベルシフト回路において、 前記バイアス電圧設定手段が正電源電圧と負電源電圧と
の間に分圧手段を設けることで構成されると共に、前記
アンプ手段への入力信号線が1本であることを特徴とす
るレベルシフト回路。 - 【請求項2】 前記アンプ手段がCMOSインバータ回
路であることを特徴とする請求項1記載のレベルシフト
回路。 - 【請求項3】 前記分圧手段として、pチャネルのトラ
ンジスタとnチャネルのトランジスタとを用いることを
特徴とする請求項1または2記載のレベルシフト回路。 - 【請求項4】 前記分圧手段として、容量を用いること
を特徴とする請求項1または2記載のレベルシフト回
路。 - 【請求項5】 前記分圧手段として、抵抗体を用いるこ
とを特徴とする請求項1または2記載のレベルシフト回
路。 - 【請求項6】 前記バイアス電圧設定手段では、pチャ
ネルのトランジスタのソースとnチャネルのトランジス
タのゲートとが正電源電圧に接続され、pチャネルのト
ランジスタのゲートとnチャネルのトランジスタのソー
スとが負電源電圧に接続され、pチャネルのトランジス
タのドレインとnチャネルのトランジスタのドレインと
がアンプ手段の入力端子に接続されることを特徴とする
請求項3記載のレベルシフト回路。 - 【請求項7】 前記バイアス電圧設定手段では、pチャ
ネルのトランジスタのソースが正電源電圧に接続され、
nチャネルのトランジスタのソースが負電源電圧に接続
され、pチャネルのトランジスタのゲートとドレインと
nチャネルのトランジスタのゲートとドレインとがアン
プ手段の入力端子に接続されることを特徴とする請求項
3記載のレベルシフト回路。 - 【請求項8】 前記pチャネルのトランジスタと前記n
チャネルのトランジスタは、各々複数個を用いて前記分
圧手段を構成することを特徴とする請求項3記載のレベ
ルシフト回路。 - 【請求項9】 前記バイアス電圧設定手段で設定された
直流電圧レベルをクランプするための電圧クランプ手段
を備えることを特徴とする請求1乃至8記載のレベルシ
フト回路。 - 【請求項10】 前記バイアス電圧設定手段で設定され
た直流電圧レベルが前記電圧クランプ手段によりクラン
プするときに、電圧降下した電圧を補償する手段を備え
ることを特徴とする請求9記載のレベルシフト回路。 - 【請求項11】 入力部に設けられる容量手段と、前記
容量手段により容量結合された入力信号の直流電圧レベ
ルを設定するためのバイアス電圧設定手段と、直流電圧
レベルを設定された入力信号の振幅レベルを増幅するた
めのアンプ手段とを備えたレベルシフト回路を用いた画
像表示装置において、 前記バイアス電圧設定手段が正電源電圧と負電源電圧と
の間に分圧手段を設けることで構成されると共に、前記
アンプ手段への入力信号線が1本であることを特徴とす
る画像表示装置。 - 【請求項12】 前記アンプ手段がCMOSインバータ
回路であることを特徴とする請求項11記載の画像表示
装置。 - 【請求項13】 前記分圧手段として、pチャネルのト
ランジスタとnチャネルのトランジスタとを用いること
を特徴とする請求項11または12記載の画像表示装
置。 - 【請求項14】 前記分圧手段として、容量を用いるこ
とを特徴とする請求項11または12記載の画像表示装
置。 - 【請求項15】 前記分圧手段として、抵抗体を用いる
ことを特徴とする請求項11または12記載の画像表示
装置。 - 【請求項16】 前記バイアス電圧設定手段で設定され
た直流電圧レベルをクランプするための電圧クランプ手
段を備えることを特徴とする請求11乃至15記載の画
像表示装置。
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TW (1) | TW507188B (ja) |
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001183702A (ja) * | 1999-12-27 | 2001-07-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 液晶表示装置 |
JP2002318565A (ja) * | 2001-04-23 | 2002-10-31 | Hitachi Ltd | 液晶表示装置 |
JP2003110419A (ja) * | 2001-06-26 | 2003-04-11 | Seiko Epson Corp | レベルシフタ及びそれを用いた電気光学装置 |
EP1331628A3 (en) * | 2002-01-22 | 2005-01-19 | Seiko Epson Corporation | Method of and circuit for driving a pixel |
KR100724559B1 (ko) | 2004-12-15 | 2007-06-04 | 삼성전자주식회사 | 레벨 쉬프터 |
CN100362543C (zh) * | 2001-04-27 | 2008-01-16 | 株式会社东芝 | 数字模拟变换电路和数字模拟变换方法 |
US7397278B2 (en) | 2005-01-31 | 2008-07-08 | Sharp Kabushiki Kaisha | Level shifting circuit and display element driving circuit using same |
JP2008267809A (ja) * | 2007-04-16 | 2008-11-06 | Keio Gijuku | 容量検出回路 |
JP2008312214A (ja) * | 2007-06-18 | 2008-12-25 | Toshiba Corp | Ac接続を用いたレベル・シフトするためのシステムおよび方法 |
JP2010063155A (ja) * | 2002-12-25 | 2010-03-18 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 液晶表示装置 |
JP2013102525A (ja) * | 2002-02-20 | 2013-05-23 | Mitsubishi Electric Corp | 駆動回路 |
JP2013187602A (ja) * | 2012-03-06 | 2013-09-19 | Nippon Koden Corp | クロック供給回路 |
JP2015032978A (ja) * | 2013-08-02 | 2015-02-16 | セイコーエプソン株式会社 | レベルシフト回路、電気光学装置、及び電子機器 |
US8970454B2 (en) | 2010-11-12 | 2015-03-03 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Level shifter, system-on-chip including the same, and multimedia device including the same |
JP2018085753A (ja) * | 2018-01-09 | 2018-05-31 | セイコーエプソン株式会社 | レベルシフト回路、電気光学装置、及び電子機器 |
CN108259028A (zh) * | 2016-12-29 | 2018-07-06 | 大北欧听力公司 | 包括具有可调反向偏压的mos开关的输出驱动器 |
Families Citing this family (40)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3734664B2 (ja) * | 2000-02-24 | 2006-01-11 | 株式会社日立製作所 | 表示デバイス |
TW491988B (en) * | 2001-03-21 | 2002-06-21 | Century Semiconductor Inc | Single-ended high voltage level shifters applied in TET-LCD gate drivers |
JP4785271B2 (ja) | 2001-04-27 | 2011-10-05 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 液晶表示装置、電子機器 |
JP4439761B2 (ja) | 2001-05-11 | 2010-03-24 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 液晶表示装置、電子機器 |
TW582005B (en) * | 2001-05-29 | 2004-04-01 | Semiconductor Energy Lab | Pulse output circuit, shift register, and display device |
SG148032A1 (en) * | 2001-07-16 | 2008-12-31 | Semiconductor Energy Lab | Light emitting device |
US6788108B2 (en) * | 2001-07-30 | 2004-09-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
JP4831895B2 (ja) * | 2001-08-03 | 2011-12-07 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
US7218349B2 (en) * | 2001-08-09 | 2007-05-15 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
US6507220B1 (en) * | 2001-09-28 | 2003-01-14 | Xilinx, Inc. | Correction of duty-cycle distortion in communications and other circuits |
JP4397555B2 (ja) * | 2001-11-30 | 2010-01-13 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置、電子機器 |
JP4339103B2 (ja) * | 2002-12-25 | 2009-10-07 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置及び表示装置 |
US7528643B2 (en) * | 2003-02-12 | 2009-05-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device, electronic device having the same, and driving method of the same |
JP4043409B2 (ja) * | 2003-06-17 | 2008-02-06 | 三菱電機株式会社 | レベル変換回路 |
KR100608106B1 (ko) * | 2003-11-20 | 2006-08-02 | 삼성전자주식회사 | 소스 라인 리페어 기능을 갖는 액정표시장치 및 소스 라인리페어 방법 |
US6982571B2 (en) * | 2003-12-04 | 2006-01-03 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Systems and methods for translating voltage levels of digital signals |
KR101034776B1 (ko) * | 2004-01-19 | 2011-05-17 | 삼성전자주식회사 | 증폭기와, 이를 갖는 데이터 드라이버 및 표시 장치 |
KR100590034B1 (ko) | 2004-10-08 | 2006-06-14 | 삼성에스디아이 주식회사 | 레벨시프터 및 이를 이용한 표시장치 |
JP4096948B2 (ja) * | 2005-02-01 | 2008-06-04 | セイコーエプソン株式会社 | レベルシフト回路、それを用いた電気光学装置、および、電子機器 |
JP4826213B2 (ja) * | 2005-03-02 | 2011-11-30 | ソニー株式会社 | レベルシフト回路およびシフトレジスタ並びに表示装置 |
US7568628B2 (en) | 2005-03-11 | 2009-08-04 | Hand Held Products, Inc. | Bar code reading device with global electronic shutter control |
US7611060B2 (en) | 2005-03-11 | 2009-11-03 | Hand Held Products, Inc. | System and method to automatically focus an image reader |
EP3300359B1 (en) | 2005-03-11 | 2021-06-30 | Hand Held Products, Inc. | Bar code reading device with global electronic shutter control |
US7780089B2 (en) | 2005-06-03 | 2010-08-24 | Hand Held Products, Inc. | Digital picture taking optical reader having hybrid monochrome and color image sensor array |
US7770799B2 (en) | 2005-06-03 | 2010-08-10 | Hand Held Products, Inc. | Optical reader having reduced specular reflection read failures |
JP4951907B2 (ja) * | 2005-09-16 | 2012-06-13 | 富士電機株式会社 | 半導体回路、インバータ回路および半導体装置 |
US9153341B2 (en) | 2005-10-18 | 2015-10-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Shift register, semiconductor device, display device, and electronic device |
TWI310267B (en) * | 2006-03-24 | 2009-05-21 | Himax Tech Ltd | Voltage level shifter circuit |
US7639227B2 (en) * | 2006-04-25 | 2009-12-29 | Himax Technologies Limited | Integrated circuit capable of synchronizing multiple outputs of buffers |
TWI511116B (zh) | 2006-10-17 | 2015-12-01 | Semiconductor Energy Lab | 脈衝輸出電路、移位暫存器及顯示裝置 |
JP4779165B2 (ja) * | 2007-12-19 | 2011-09-28 | 奇美電子股▲ふん▼有限公司 | ゲートドライバ |
US7696806B2 (en) * | 2008-02-21 | 2010-04-13 | Richtek Technology Corporation | Level shift circuit and method for the same |
US8004339B2 (en) * | 2009-11-19 | 2011-08-23 | Integrated Device Technology, Inc. | Apparatuses and methods for a level shifter with reduced shoot-through current |
US8319540B2 (en) | 2010-07-01 | 2012-11-27 | Integrated Device Technology, Inc. | Apparatuses and methods for a voltage level shifting |
US8384431B2 (en) | 2010-12-09 | 2013-02-26 | Integrated Device Technology, Inc. | Voltage level shifting apparatuses and methods |
US8729954B2 (en) * | 2011-08-31 | 2014-05-20 | Freescale Semiconductor, Inc. | MOFSET mismatch characterization circuit |
US9111894B2 (en) | 2011-08-31 | 2015-08-18 | Freescale Semiconductor, Inc. | MOFSET mismatch characterization circuit |
US9171842B2 (en) | 2012-07-30 | 2015-10-27 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Sequential circuit and semiconductor device |
US10505541B2 (en) * | 2017-08-18 | 2019-12-10 | Qualcomm Incorporated | High-voltage tolerant level shifter using thin-oxide transistors and a middle-of-the-line (MOL) capacitor |
US11626875B2 (en) * | 2018-04-20 | 2023-04-11 | Texas Instruments Incorporated | Stress reduction on stacked transistor circuits |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1564671A (en) * | 1978-04-12 | 1980-04-10 | Hughes Microelectronics Ltd | Comparator |
JPH01138813A (ja) * | 1987-11-26 | 1989-05-31 | Toshiba Corp | Ecl―cmosレベル変換回路 |
JP3094465B2 (ja) | 1991-01-16 | 2000-10-03 | ソニー株式会社 | レベル変換回路 |
JP3144166B2 (ja) | 1992-11-25 | 2001-03-12 | ソニー株式会社 | 低振幅入力レベル変換回路 |
JP2658867B2 (ja) * | 1994-02-18 | 1997-09-30 | 日本電気株式会社 | レベル変換回路 |
JP3233580B2 (ja) * | 1995-09-05 | 2001-11-26 | シャープ株式会社 | レベル変換回路 |
JP3179350B2 (ja) * | 1996-09-09 | 2001-06-25 | 日本電気株式会社 | レベルシフト回路 |
KR100218506B1 (ko) * | 1996-12-14 | 1999-09-01 | 윤종용 | 액정 표시 장치용 레벨 시프트 회로 |
JPH10256884A (ja) * | 1997-03-12 | 1998-09-25 | Mitsubishi Electric Corp | 電圧比較器及びa/dコンバータ |
US5973508A (en) * | 1997-05-21 | 1999-10-26 | International Business Machines Corp. | Voltage translation circuit for mixed voltage applications |
GB2349997A (en) * | 1999-05-12 | 2000-11-15 | Sharp Kk | Voltage level converter for an active matrix LCD |
-
2000
- 2000-03-30 JP JP2000092725A patent/JP3609977B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2000-07-12 TW TW089113864A patent/TW507188B/zh not_active IP Right Cessation
- 2000-07-14 US US09/617,255 patent/US6522323B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2000-07-15 KR KR10-2000-0040784A patent/KR100457004B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (34)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001183702A (ja) * | 1999-12-27 | 2001-07-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 液晶表示装置 |
JP2002318565A (ja) * | 2001-04-23 | 2002-10-31 | Hitachi Ltd | 液晶表示装置 |
CN100362543C (zh) * | 2001-04-27 | 2008-01-16 | 株式会社东芝 | 数字模拟变换电路和数字模拟变换方法 |
JP2003110419A (ja) * | 2001-06-26 | 2003-04-11 | Seiko Epson Corp | レベルシフタ及びそれを用いた電気光学装置 |
KR100533236B1 (ko) * | 2001-06-26 | 2005-12-05 | 세이코 엡슨 가부시키가이샤 | 레벨 시프터 및 그것을 이용한 전기 광학 장치 |
EP1331628A3 (en) * | 2002-01-22 | 2005-01-19 | Seiko Epson Corporation | Method of and circuit for driving a pixel |
JP2013102525A (ja) * | 2002-02-20 | 2013-05-23 | Mitsubishi Electric Corp | 駆動回路 |
JP2018042259A (ja) * | 2002-12-25 | 2018-03-15 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | デジタル回路 |
US9741749B2 (en) | 2002-12-25 | 2017-08-22 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Digital circuit having correcting circuit and electronic apparatus thereof |
US10535684B2 (en) | 2002-12-25 | 2020-01-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Digital circuit having correcting circuit and electronic apparatus thereof |
JP2010063155A (ja) * | 2002-12-25 | 2010-03-18 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 液晶表示装置 |
JP2012120247A (ja) * | 2002-12-25 | 2012-06-21 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置及び電子機器 |
US8314514B2 (en) | 2002-12-25 | 2012-11-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Digital circuit having correcting circuit and electronic apparatus thereof |
JP2019169966A (ja) * | 2002-12-25 | 2019-10-03 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 液晶表示装置 |
US11139323B2 (en) | 2002-12-25 | 2021-10-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Digital circuit having correcting circuit and electronic apparatus thereof |
JP2013229929A (ja) * | 2002-12-25 | 2013-11-07 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置及び電子機器 |
US8698356B2 (en) | 2002-12-25 | 2014-04-15 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Digital circuit having correcting circuit and electronic apparatus thereof |
JP2014212531A (ja) * | 2002-12-25 | 2014-11-13 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置及び電子機器 |
JP2022078177A (ja) * | 2002-12-25 | 2022-05-24 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置 |
JP2022043197A (ja) * | 2002-12-25 | 2022-03-15 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
US9368526B2 (en) | 2002-12-25 | 2016-06-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Digital circuit having correcting circuit and electronic apparatus thereof |
JP2016129394A (ja) * | 2002-12-25 | 2016-07-14 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
JP2017098965A (ja) * | 2002-12-25 | 2017-06-01 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | デジタル回路 |
JP2021061624A (ja) * | 2002-12-25 | 2021-04-15 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 液晶表示装置 |
KR100724559B1 (ko) | 2004-12-15 | 2007-06-04 | 삼성전자주식회사 | 레벨 쉬프터 |
US7397278B2 (en) | 2005-01-31 | 2008-07-08 | Sharp Kabushiki Kaisha | Level shifting circuit and display element driving circuit using same |
JP2008267809A (ja) * | 2007-04-16 | 2008-11-06 | Keio Gijuku | 容量検出回路 |
JP2008312214A (ja) * | 2007-06-18 | 2008-12-25 | Toshiba Corp | Ac接続を用いたレベル・シフトするためのシステムおよび方法 |
US8970454B2 (en) | 2010-11-12 | 2015-03-03 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Level shifter, system-on-chip including the same, and multimedia device including the same |
JP2013187602A (ja) * | 2012-03-06 | 2013-09-19 | Nippon Koden Corp | クロック供給回路 |
JP2015032978A (ja) * | 2013-08-02 | 2015-02-16 | セイコーエプソン株式会社 | レベルシフト回路、電気光学装置、及び電子機器 |
CN108259028A (zh) * | 2016-12-29 | 2018-07-06 | 大北欧听力公司 | 包括具有可调反向偏压的mos开关的输出驱动器 |
CN108259028B (zh) * | 2016-12-29 | 2023-06-02 | 大北欧听力公司 | 包括具有可调反向偏压的mos开关的输出驱动器 |
JP2018085753A (ja) * | 2018-01-09 | 2018-05-31 | セイコーエプソン株式会社 | レベルシフト回路、電気光学装置、及び電子機器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW507188B (en) | 2002-10-21 |
US6522323B1 (en) | 2003-02-18 |
KR100457004B1 (ko) | 2004-11-10 |
KR20010015346A (ko) | 2001-02-26 |
JP3609977B2 (ja) | 2005-01-12 |
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