JP2001042507A - 大型ペリクル用枠体 - Google Patents

大型ペリクル用枠体

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    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、大型ペリクル膜を展張して貼着支
持する一対の長辺と一対の短辺とを有する大型ペリクル
用枠体であって、一対の長辺を枠体の外側に向かって突
出するように形成したことで、該長辺の枠体の内側に向
かう撓みを抑制してフォトマスクやレティクル等の露光
領域を確保することが出来る大型ペリクル用枠体を提供
することを可能にすることを目的としている。 【解決手段】 大型ペリクル膜2を展張する面積が10
00cm2以上で且つ枠体1の一対の長辺1aが該枠体1
の外側に向かって突出するように形成されたことを特徴
とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、IC(集積回
路)、LSI(大規模集積回路)、TFTLCD(薄膜
トランジスタ液晶ディスプレイ)等の半導体装置を製造
する際のリソグラフィー工程で使用されるフォトマスク
やレティクルに異物が付着することを防止するために用
いられるペリクル用枠体に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体回路パターン等の製造にお
いては、フォトマスクやレティクルの両面側にペリクル
と称する防塵手段を配置して該フォトマスクやレティク
ルへの異物の付着を防止することが行われている。
【0003】ペリクルはフォトマスクやレティクルの形
状に合わせた形状を有する厚さ数ミリ程度の枠体の一方
の縁面に厚さ10μm以下のニトロセルロース或いはセ
ルロース誘導体等の透明な高分子膜からなるペリクル膜
を展張して接着し、且つ該枠体の他方の縁面に粘着材を
介してフォトマスクやレティクルの表面に貼着される。
【0004】フォトマスクやレティクルの表面に異物が
付着した場合、その異物が半導体ウェハ上に形成された
フォトレジスト上に結像して回路パターン欠陥の原因と
なるが、フォトマスクやレティクルの両面側にペリクル
を配置した場合、ペリクルの表面に付着した異物はフォ
ーカス位置のずれによって半導体ウェハ上に形成された
フォトレジスト上に結像することなく回路パターンに欠
陥を生じさせないものである。
【0005】従来のペリクル膜を展張して貼着支持する
枠体は、直径5インチ(127mm)の半導体ウェハに応
じた大きさで方形状に形成されたものが一般である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】近年では各種のマルチ
メディアの普及により高画質、高精細表示が可能な大型
のカラーTFTLCD(薄膜トランジスタ液晶ディスプ
レイ)のフォトリソグラフィ工程で使用される大型のフ
ォトマスクやレティクルに適用出来る大型ペリクルが要
望されている。
【0007】大型のTFTLCD(薄膜トランジスタ液
晶ディスプレイ)等のフォトリソグラフィ工程で使用さ
れる大型のフォトマスクやレティクルに適用出来る大型
ペリクルの枠体としては、長辺と短辺を有する方形状の
ものが一般であるが、この枠体にペリクル膜を貼り付け
ると、該ペリクル膜の張力により特に長辺が枠体の内側
に向かって撓み易く、この撓みによってフォトマスクや
レティクルの有効露光領域が小さくなってしまうという
問題があり、大型ペリクル膜の展張面積が大きくなるに
つれてその現象が顕著になる。
【0008】本発明は前記課題を解決するものであり、
その目的とするところは、大型ペリクル膜を展張して貼
着支持する一対の長辺と一対の短辺とを有する大型ペリ
クル用枠体であって、一対の長辺を枠体の外側に向かっ
て突出するように形成したことで、該長辺の枠体の内側
に向かう撓みを抑制してフォトマスクやレティクル等の
有効露光領域を確保することが出来る大型ペリクル用枠
体を提供せんとするものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
の本発明に係る大型ペリクル用枠体は、大型ペリクル膜
を展張して貼着支持する一対の長辺と一対の短辺とを有
する大型ペリクル用枠体であって、前記大型ペリクル膜
を展張する面積が1000cm2以上で構成され、且つ前
記大型ペリクル膜が貼着される前記枠体の一対の長辺を
該枠体の外側に向かって突出するように形成したことを
特徴とする。
【0010】本発明は、上述の如く構成したので、大型
ペリクル膜を展張する面積が1000cm2以上であるこ
とから大型のTFTLCD(薄膜トランジスタ液晶ディ
スプレイ)のフォトリソグラフィ工程で使用される大型
のフォトマスクやレティクルに適用出来る大型ペリクル
として利用することが出来る。
【0011】また、枠体の一対の長辺を該枠体の外側に
向かって突出するように形成したことで、大型ペリクル
膜の張力による該長辺の枠体の内側に向かう撓みを抑制
してフォトマスクやレティクル等の有効露光領域を確保
することが出来る。
【0012】また、前記枠体の一対の長辺が該枠体に貼
着された大型ペリクル膜の張力により略直線状に遷移す
るように設定された場合には、大型ペリクル膜の張力が
かかった状態で枠体の一対の長辺の突出がなくなるため
フォトマスクやレティクルのサイズを大きくせずに有効
露光面積を大きくすることが出来る。
【0013】
【発明の実施の形態】図により本発明に係る大型ペリク
ル用枠体の一実施形態を具体的に説明する。図1は本発
明に係る大型ペリクル用枠体の構成を示す斜視図、図2
は本発明に係る大型ペリクル用枠体の構成を示す平面
図、図3は枠体に大型ペリクル膜が貼着されて長辺が略
直線状に遷移した様子を示す図である。
【0014】図1〜図3において、1は厚さ10μm以
下のニトロセルロースやセルロース誘導体等の透明な高
分子膜で構成される大型ペリクル膜(以下、単に「ペリ
クル膜」という)2を展張して貼着支持するアルミニウ
ムやその合金、或いは鉄や鉄系合金等により構成される
大型ペリクル用枠体(以下、単に「枠体」という)であ
る。
【0015】枠体1は一対の長辺1aと一対の短辺1b
とを有しており、長辺1a及び短辺1bは所定の幅寸法
と、互いに等しい所定の高さ寸法と、互いに異なる所定
の長さ寸法とを夫々有して構成されている。枠体1の長
辺1a及び短辺1bの一方の面には該枠体1の全体に亘
って平坦面で構成され、ペリクル膜2を貼着するための
貼着面1a1,1b1が形成されている。
【0016】枠体1のペリクル膜2を展張する面積は1
000cm2以上で構成され、該枠体1の一対の長辺1a
は枠体1の外側に向かって突出するように形成されてい
る。本実施形態では、枠体1の一対の長辺1aは所定の
曲率を有して外側に向かって湾曲突出したものである
が、楕円形状や放物線形状、或いは他の各種形状で突出
させても良い。
【0017】このように大型ペリクル膜2を展張する面
積が1000cm2以上であることから大型のTFTLC
D(薄膜トランジスタ液晶ディスプレイ)のフォトリソ
グラフィ工程で使用される大型のフォトマスクやレティ
クルに適用出来る大型ペリクルとして利用することが出
来る。
【0018】図3に示すように、枠体1の長辺1a及び
短辺1bの貼着面1a1,1b1には接着剤が塗布されてペリ
クル膜2が展張して貼着される。枠体1の貼着面1a1,1
b1に貼着されたペリクル膜2の張力は、特に長辺1aが
枠体1の内側に向かって撓みが発生するように作用する
が、枠体1の一対の長辺1aを該枠体1の外側に向かっ
て突出するように形成したことで、該長辺1aの枠体1
の内側に向かう撓みを抑制して上記大型ペリクルが取り
付けられる図示しないフォトマスクやレティクル等の有
効露光領域を確保することが出来る。
【0019】また、図3に示すように、枠体1の外側に
向かって突出するように形成された一対の長辺1aが該
枠体1の貼着面1a1,1b1に貼着されたペリクル膜2の張
力により略直線状に遷移するように設定された場合に
は、ペリクル膜2の張力がかかった状態で枠体1の一対
の長辺1aの突出がなくなるためフォトマスクやレティ
クルのサイズを大きくせずに有効露光面積を大きくする
ことが出来る。
【0020】枠体1の外側に向かって突出するように形
成された一対の長辺1aがペリクル膜2の張力により略
直線状に遷移する一例として、枠体1の材質としてアル
ミニウム合金を使用し、長辺1a及び短辺1bの断面形
状が幅7mm、高さ4.3mmの方形状で、一対の短辺1b
の長さが348mm、一対の長辺1aの長さが582mm、
該長辺1aの中央部の突出量を1mmとし、ペリクル膜2
の材質としてセルロース系ポリマーを使用し、その膜厚
を4μmとした場合、枠体1の貼着面1a1,1b1にペリク
ル膜2を貼着した後の該ペリクル膜2の張力により略直
線状に遷移した長辺1aの中央部の最大突出量が0.1
〜0.2mmであった。
【0021】
【発明の効果】本発明は、上述の如き構成と作用とを有
するので、大型ペリクル膜を展張する面積が1000cm
2以上であることから大型のTFTLCD(薄膜トラン
ジスタ液晶ディスプレイ)のフォトリソグラフィ工程で
使用される大型のフォトマスクやレティクルに適用出来
る大型ペリクルとして利用することが出来る。
【0022】また、枠体の一対の長辺を該枠体の外側に
向かって突出するように形成したことで、大型ペリクル
膜の張力による該長辺の枠体の内側に向かう撓みを抑制
してフォトマスクやレティクル等の有効露光領域を確保
することが出来る。
【0023】また、前記枠体の一対の長辺が該枠体に貼
着された大型ペリクル膜の張力により略直線状に遷移す
るように設定された場合には、大型ペリクル膜の張力が
かかった状態で枠体の一対の長辺の突出がなくなるため
フォトマスクやレティクルのサイズを大きくせずに有効
露光面積を大きく出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る大型ペリクル用枠体の構成を示す
斜視図である。
【図2】本発明に係る大型ペリクル用枠体の構成を示す
平面図である。
【図3】枠体に大型ペリクル膜が貼着されて長辺が略直
線状に遷移した様子を示す図である。
【符号の説明】
1…枠体 1a…長辺 1b…短辺 1a1,1b1…貼着面 2…ペリクル膜

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 大型ペリクル膜を展張して貼着支持する
    一対の長辺と一対の短辺とを有する大型ペリクル用枠体
    であって、 前記大型ペリクル膜を展張する面積が1000cm2以上
    で構成され、且つ前記大型ペリクル膜が貼着される前記
    枠体の一対の長辺を該枠体の外側に向かって突出するよ
    うに形成したことを特徴とする大型ペリクル用枠体。
  2. 【請求項2】 前記枠体の一対の長辺は、該枠体に貼着
    された大型ペリクル膜の張力により略直線状に遷移する
    ことを特徴とする請求項1に記載の大型ペリクル用枠
    体。
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002333703A (ja) * 2001-05-11 2002-11-22 Asahi Kasei Electronics Co Ltd ペリクル用枠体
JP2006178434A (ja) * 2004-11-25 2006-07-06 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 大型ペリクル
JP2006323178A (ja) * 2005-05-19 2006-11-30 Shin Etsu Chem Co Ltd リソグラフィ用ペリクル及びその製造方法
KR100733872B1 (ko) * 2004-06-19 2007-07-02 조한용 페리클 프레임 조립체
CN100378577C (zh) * 2003-09-29 2008-04-02 旭化成电子材料元件株式会社 薄片和薄片用框
US7362417B2 (en) * 2004-08-18 2008-04-22 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Pellicle frame and pellicle for photolithography using the same
JP2011158585A (ja) * 2010-01-29 2011-08-18 Shin-Etsu Chemical Co Ltd ペリクルおよびペリクルの製造方法
JP2012058400A (ja) * 2010-09-07 2012-03-22 Asahi Kasei E-Materials Corp ペリクルの製造方法
WO2013141325A1 (ja) * 2012-03-21 2013-09-26 旭化成イーマテリアルズ株式会社 ペリクル及びペリクルフレーム並びにペリクルの製造方法
TWI497197B (zh) * 2008-09-12 2015-08-21 Asahi Kasei E Materials Corp Mask mask film, mask mask and mask mask the use of the box

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5579545B2 (ja) * 2010-09-03 2014-08-27 旭化成イーマテリアルズ株式会社 大型ペリクル用枠体、大型ペリクル及び大型ペリクル用枠体の製造方法

Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002333703A (ja) * 2001-05-11 2002-11-22 Asahi Kasei Electronics Co Ltd ペリクル用枠体
JP4601204B2 (ja) * 2001-05-11 2010-12-22 旭化成イーマテリアルズ株式会社 ペリクル用枠体
CN100378577C (zh) * 2003-09-29 2008-04-02 旭化成电子材料元件株式会社 薄片和薄片用框
KR100733872B1 (ko) * 2004-06-19 2007-07-02 조한용 페리클 프레임 조립체
KR101166460B1 (ko) 2004-08-18 2012-09-13 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 펠리클 프레임, 및 이 프레임을 사용한 포토리소그래피용 펠리클
US7362417B2 (en) * 2004-08-18 2008-04-22 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Pellicle frame and pellicle for photolithography using the same
CN100437360C (zh) * 2004-08-18 2008-11-26 信越化学工业株式会社 防护胶膜框架及利用此框架的光刻用防护胶膜组件
JP2006178434A (ja) * 2004-11-25 2006-07-06 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 大型ペリクル
JP2006323178A (ja) * 2005-05-19 2006-11-30 Shin Etsu Chem Co Ltd リソグラフィ用ペリクル及びその製造方法
TWI497197B (zh) * 2008-09-12 2015-08-21 Asahi Kasei E Materials Corp Mask mask film, mask mask and mask mask the use of the box
JP2011158585A (ja) * 2010-01-29 2011-08-18 Shin-Etsu Chemical Co Ltd ペリクルおよびペリクルの製造方法
KR101743299B1 (ko) * 2010-01-29 2017-06-05 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 리소그래피용 펠리클 및 그 제조 방법
JP2012058400A (ja) * 2010-09-07 2012-03-22 Asahi Kasei E-Materials Corp ペリクルの製造方法
CN104204943A (zh) * 2012-03-21 2014-12-10 旭化成电子材料株式会社 表膜构件和表膜构件框体以及表膜构件的制造方法
JPWO2013141325A1 (ja) * 2012-03-21 2015-08-03 旭化成イーマテリアルズ株式会社 ペリクル及びペリクルフレーム並びにペリクルの製造方法
KR20140130172A (ko) 2012-03-21 2014-11-07 아사히 가세이 이-매터리얼즈 가부시키가이샤 펠리클 및 펠리클 프레임 및 펠리클의 제조 방법
KR20160087927A (ko) 2012-03-21 2016-07-22 아사히 가세이 이-매터리얼즈 가부시키가이샤 펠리클
KR101688713B1 (ko) * 2012-03-21 2016-12-21 아사히 가세이 이-매터리얼즈 가부시키가이샤 펠리클의 제조 방법
WO2013141325A1 (ja) * 2012-03-21 2013-09-26 旭化成イーマテリアルズ株式会社 ペリクル及びペリクルフレーム並びにペリクルの製造方法
CN104204943B (zh) * 2012-03-21 2020-04-03 旭化成株式会社 表膜构件和表膜构件框体以及表膜构件的制造方法
CN111580339A (zh) * 2012-03-21 2020-08-25 旭化成株式会社 表膜构件和表膜构件框体以及表膜构件的制造方法

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