JP4004188B2 - 大型ペリクル用枠体 - Google Patents

大型ペリクル用枠体 Download PDF

Info

Publication number
JP4004188B2
JP4004188B2 JP21606999A JP21606999A JP4004188B2 JP 4004188 B2 JP4004188 B2 JP 4004188B2 JP 21606999 A JP21606999 A JP 21606999A JP 21606999 A JP21606999 A JP 21606999A JP 4004188 B2 JP4004188 B2 JP 4004188B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
frame
pair
large pellicle
pellicle film
pellicle
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP21606999A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2001042507A (ja
Inventor
芳真 栗山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Asahi Kasei EMD Corp
Original Assignee
Asahi Kasei EMD Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Kasei EMD Corp filed Critical Asahi Kasei EMD Corp
Priority to JP21606999A priority Critical patent/JP4004188B2/ja
Publication of JP2001042507A publication Critical patent/JP2001042507A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4004188B2 publication Critical patent/JP4004188B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/68Preparation processes not covered by groups G03F1/20 - G03F1/50
    • G03F1/82Auxiliary processes, e.g. cleaning or inspecting
    • G03F1/84Inspecting

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、IC(集積回路)、LSI(大規模集積回路)、TFTLCD(薄膜トランジスタ液晶ディスプレイ)等の半導体装置を製造する際のリソグラフィー工程で使用されるフォトマスクやレティクルに異物が付着することを防止するために用いられるペリクル用枠体に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、半導体回路パターン等の製造においては、フォトマスクやレティクルの両面側にペリクルと称する防塵手段を配置して該フォトマスクやレティクルへの異物の付着を防止することが行われている。
【0003】
ペリクルはフォトマスクやレティクルの形状に合わせた形状を有する厚さ数ミリ程度の枠体の一方の縁面に厚さ10μm以下のニトロセルロース或いはセルロース誘導体等の透明な高分子膜からなるペリクル膜を展張して接着し、且つ該枠体の他方の縁面に粘着材を介してフォトマスクやレティクルの表面に貼着される。
【0004】
フォトマスクやレティクルの表面に異物が付着した場合、その異物が半導体ウェハ上に形成されたフォトレジスト上に結像して回路パターン欠陥の原因となるが、フォトマスクやレティクルの両面側にペリクルを配置した場合、ペリクルの表面に付着した異物はフォーカス位置のずれによって半導体ウェハ上に形成されたフォトレジスト上に結像することなく回路パターンに欠陥を生じさせないものである。
【0005】
従来のペリクル膜を展張して貼着支持する枠体は、直径5インチ(127mm)の半導体ウェハに応じた大きさで方形状に形成されたものが一般である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
近年では各種のマルチメディアの普及により高画質、高精細表示が可能な大型のカラーTFTLCD(薄膜トランジスタ液晶ディスプレイ)のフォトリソグラフィ工程で使用される大型のフォトマスクやレティクルに適用出来る大型ペリクルが要望されている。
【0007】
大型のTFTLCD(薄膜トランジスタ液晶ディスプレイ)等のフォトリソグラフィ工程で使用される大型のフォトマスクやレティクルに適用出来る大型ペリクルの枠体としては、長辺と短辺を有する方形状のものが一般であるが、この枠体にペリクル膜を貼り付けると、該ペリクル膜の張力により特に長辺が枠体の内側に向かって撓み易く、この撓みによってフォトマスクやレティクルの有効露光領域が小さくなってしまうという問題があり、大型ペリクル膜の展張面積が大きくなるにつれてその現象が顕著になる。
【0008】
本発明は前記課題を解決するものであり、その目的とするところは、大型ペリクル膜を展張して貼着支持する一対の長辺と一対の短辺とを有する大型ペリクル用枠体であって、一対の長辺を枠体の外側に向かって突出するように形成したことで、該長辺の枠体の内側に向かう撓みを抑制してフォトマスクやレティクル等の有効露光領域を確保することが出来る大型ペリクル用枠体を提供せんとするものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するための本発明に係る大型ペリクル用枠体は、大型ペリクル膜を展張して貼着支持する一対の長辺と一対の短辺とを有する大型ペリクル用枠体であって、前記大型ペリクル膜を展張する面積が1000cm以上で構成され、且つ前記大型ペリクル膜が貼着される前記枠体の一対の長辺を該枠体の外側に向かって突出するように形成すると共に、前記枠体の一対の長辺は、該枠体に貼着された大型ペリクル膜の張力により略直線状に遷移することを特徴とする。
【0010】
本発明は、上述の如く構成したので、大型ペリクル膜を展張する面積が1000cm以上であることから大型のTFTLCD(薄膜トランジスタ液晶ディスプレイ)のフォトリソグラフィ工程で使用される大型のフォトマスクやレティクルに適用出来る大型ペリクルとして利用することが出来る。
【0011】
また、枠体の一対の長辺を該枠体の外側に向かって突出するように形成したことで、大型ペリクル膜の張力による該長辺の枠体の内側に向かう撓みを抑制してフォトマスクやレティクル等の有効露光領域を確保することが出来る。
【0012】
また、前記枠体の一対の長辺が該枠体に貼着された大型ペリクル膜の張力により略直線状に遷移するように設定された場合には、大型ペリクル膜の張力がかかった状態で枠体の一対の長辺の突出がなくなるためフォトマスクやレティクルのサイズを大きくせずに有効露光面積を大きくすることが出来る。
【0013】
【発明の実施の形態】
図により本発明に係る大型ペリクル用枠体の一実施形態を具体的に説明する。図1は本発明に係る大型ペリクル用枠体の構成を示す斜視図、図2は本発明に係る大型ペリクル用枠体の構成を示す平面図、図3は枠体に大型ペリクル膜が貼着されて長辺が略直線状に遷移した様子を示す図である。
【0014】
図1〜図3において、1は厚さ10μm以下のニトロセルロースやセルロース誘導体等の透明な高分子膜で構成される大型ペリクル膜(以下、単に「ペリクル膜」という)2を展張して貼着支持するアルミニウムやその合金、或いは鉄や鉄系合金等により構成される大型ペリクル用枠体(以下、単に「枠体」という)である。
【0015】
枠体1は一対の長辺1aと一対の短辺1bとを有しており、長辺1a及び短辺1bは所定の幅寸法と、互いに等しい所定の高さ寸法と、互いに異なる所定の長さ寸法とを夫々有して構成されている。枠体1の長辺1a及び短辺1bの一方の面には該枠体1の全体に亘って平坦面で構成され、ペリクル膜2を貼着するための貼着面1a1,1b1が形成されている。
【0016】
枠体1のペリクル膜2を展張する面積は1000cm以上で構成され、該枠体1の一対の長辺1aは枠体1の外側に向かって突出するように形成されている。本実施形態では、枠体1の一対の長辺1aは所定の曲率を有して外側に向かって湾曲突出したものであるが、楕円形状や放物線形状、或いは他の各種形状で突出させても良い。
【0017】
このように大型ペリクル膜2を展張する面積が1000cm以上であることから大型のTFTLCD(薄膜トランジスタ液晶ディスプレイ)のフォトリソグラフィ工程で使用される大型のフォトマスクやレティクルに適用出来る大型ペリクルとして利用することが出来る。
【0018】
図3に示すように、枠体1の長辺1a及び短辺1bの貼着面1a1,1b1には接着剤が塗布されてペリクル膜2が展張して貼着される。枠体1の貼着面1a1,1b1に貼着されたペリクル膜2の張力は、特に長辺1aが枠体1の内側に向かって撓みが発生するように作用するが、枠体1の一対の長辺1aを該枠体1の外側に向かって突出するように形成したことで、該長辺1aの枠体1の内側に向かう撓みを抑制して上記大型ペリクルが取り付けられる図示しないフォトマスクやレティクル等の有効露光領域を確保することが出来る。
【0019】
また、図3に示すように、枠体1の外側に向かって突出するように形成された一対の長辺1aが該枠体1の貼着面1a1,1b1に貼着されたペリクル膜2の張力により略直線状に遷移するように設定された場合には、ペリクル膜2の張力がかかった状態で枠体1の一対の長辺1aの突出がなくなるためフォトマスクやレティクルのサイズを大きくせずに有効露光面積を大きくすることが出来る。
【0020】
枠体1の外側に向かって突出するように形成された一対の長辺1aがペリクル膜2の張力により略直線状に遷移する一例として、枠体1の材質としてアルミニウム合金を使用し、長辺1a及び短辺1bの断面形状が幅7mm、高さ4.3mmの方形状で、一対の短辺1bの長さが348mm、一対の長辺1aの長さが582mm、該長辺1aの中央部の突出量を1mmとし、ペリクル膜2の材質としてセルロース系ポリマーを使用し、その膜厚を4μmとした場合、枠体1の貼着面1a1,1b1にペリクル膜2を貼着した後の該ペリクル膜2の張力により略直線状に遷移した長辺1aの中央部の最大突出量が0.1〜0.2mmであった。
【0021】
【発明の効果】
本発明は、上述の如き構成と作用とを有するので、大型ペリクル膜を展張する面積が1000cm以上であることから大型のTFTLCD(薄膜トランジスタ液晶ディスプレイ)のフォトリソグラフィ工程で使用される大型のフォトマスクやレティクルに適用出来る大型ペリクルとして利用することが出来る。
【0022】
また、枠体の一対の長辺を該枠体の外側に向かって突出するように形成したことで、大型ペリクル膜の張力による該長辺の枠体の内側に向かう撓みを抑制してフォトマスクやレティクル等の有効露光領域を確保することが出来る。
【0023】
また、前記枠体の一対の長辺が該枠体に貼着された大型ペリクル膜の張力により略直線状に遷移するように設定された場合には、大型ペリクル膜の張力がかかった状態で枠体の一対の長辺の突出がなくなるためフォトマスクやレティクルのサイズを大きくせずに有効露光面積を大きく出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係る大型ペリクル用枠体の構成を示す斜視図である。
【図2】 本発明に係る大型ペリクル用枠体の構成を示す平面図である。
【図3】 枠体に大型ペリクル膜が貼着されて長辺が略直線状に遷移した様子を示す図である。
【符号の説明】
1…枠体
1a…長辺
1b…短辺
1a1,1b1…貼着面
2…ペリクル膜

Claims (1)

  1. 大型ペリクル膜を展張して貼着支持する一対の長辺と一対の短辺とを有する大型ペリクル用枠体であって、
    前記大型ペリクル膜を展張する面積が1000cm以上で構成され、且つ前記大型ペリクル膜が貼着される前記枠体の一対の長辺を該枠体の外側に向かって突出するように形成すると共に、前記枠体の一対の長辺は、該枠体に貼着された大型ペリクル膜の張力により略直線状に遷移することを特徴とする大型ペリクル用枠体。
JP21606999A 1999-07-30 1999-07-30 大型ペリクル用枠体 Expired - Lifetime JP4004188B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21606999A JP4004188B2 (ja) 1999-07-30 1999-07-30 大型ペリクル用枠体

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21606999A JP4004188B2 (ja) 1999-07-30 1999-07-30 大型ペリクル用枠体

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001042507A JP2001042507A (ja) 2001-02-16
JP4004188B2 true JP4004188B2 (ja) 2007-11-07

Family

ID=16682788

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP21606999A Expired - Lifetime JP4004188B2 (ja) 1999-07-30 1999-07-30 大型ペリクル用枠体

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4004188B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012058267A (ja) * 2010-09-03 2012-03-22 Asahi Kasei E-Materials Corp 大型ペリクル用枠体、大型ペリクル及び大型ペリクル用枠体の製造方法

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4601204B2 (ja) * 2001-05-11 2010-12-22 旭化成イーマテリアルズ株式会社 ペリクル用枠体
TWI291076B (en) * 2003-09-29 2007-12-11 Asahi Kasei Emd Corp Pellicle and frame for pellicle
WO2005124836A1 (en) * 2004-06-19 2005-12-29 Han-Yong Cho Pellicle frame assembly
JP4286194B2 (ja) * 2004-08-18 2009-06-24 信越化学工業株式会社 ペリクルフレーム、および該フレームを用いたフォトリソグラフィー用ペリクル
JP2006178434A (ja) * 2004-11-25 2006-07-06 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 大型ペリクル
JP2006323178A (ja) * 2005-05-19 2006-11-30 Shin Etsu Chem Co Ltd リソグラフィ用ペリクル及びその製造方法
KR101287700B1 (ko) * 2008-09-12 2013-07-24 아사히 가세이 이-매터리얼즈 가부시키가이샤 펠리클 프레임, 펠리클 및 펠리클 프레임의 사용 방법
JP2011158585A (ja) * 2010-01-29 2011-08-18 Shin-Etsu Chemical Co Ltd ペリクルおよびペリクルの製造方法
JP5641602B2 (ja) * 2010-09-07 2014-12-17 旭化成イーマテリアルズ株式会社 ペリクルの製造方法
CN111580339A (zh) * 2012-03-21 2020-08-25 旭化成株式会社 表膜构件和表膜构件框体以及表膜构件的制造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012058267A (ja) * 2010-09-03 2012-03-22 Asahi Kasei E-Materials Corp 大型ペリクル用枠体、大型ペリクル及び大型ペリクル用枠体の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2001042507A (ja) 2001-02-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4004188B2 (ja) 大型ペリクル用枠体
JP4043232B2 (ja) 大型ペリクル
US7914952B2 (en) Lithographic pellicle
US20090191470A1 (en) Pellicle frame
US20080248407A1 (en) Pellicle
JP4951051B2 (ja) ペリクルフレーム及びペリクル
WO2007105567A1 (ja) カラーフィルタおよびその製造に用いるフォトマスク
EP2034360B1 (en) Pellicle frame
JP4007752B2 (ja) 大型ペリクル用枠体及び大型ペリクル
JP4024239B2 (ja) ペリクル
KR100733872B1 (ko) 페리클 프레임 조립체
JP5641602B2 (ja) ペリクルの製造方法
TW201142490A (en) A pellicle for lithography
JP4601204B2 (ja) ペリクル用枠体
JP6018391B2 (ja) ペリクル
US7901847B2 (en) Use of soft adhesive to attach pellicle to reticle
JP2007003747A (ja) ペリクル付きフォトマスク及びペリクル
JP4343775B2 (ja) ペリクルフレーム及びフォトリソグラフィー用ペリクル
JP2005062640A (ja) ペリクル付きフォトマスク
JP4007750B2 (ja) ペリクル
JP2001201845A (ja) 大型ペリクル
US20180149965A1 (en) Support frame for pellicle
JP5579545B2 (ja) 大型ペリクル用枠体、大型ペリクル及び大型ペリクル用枠体の製造方法
JP6975702B2 (ja) ペリクルフレームおよびペリクル
JP2001042506A (ja) 大型ペリクル用成膜基板

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20041129

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20050617

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070606

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070612

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070801

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070821

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070821

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 4004188

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100831

Year of fee payment: 3

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100831

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100831

Year of fee payment: 3

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100831

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110831

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110831

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120831

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130831

Year of fee payment: 6

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

EXPY Cancellation because of completion of term