ES2250448T3 - Procedimiento de estañado para la fijacion de componentes electricos. - Google Patents
Procedimiento de estañado para la fijacion de componentes electricos.Info
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Abstract
Procedimiento para la fijación de al menos un componente eléctrico sobre un substrato bajo la utilización de soldadura, en el que - se generan elevaciones en el substrato de soldadura, que son al menos tan altas como un espesor de la capa de soldadura a ajustar, - en otra etapa, se aplica la soldadura especialmente una lámina de soldadura, sobre las elevaciones, caracterizado porque - en otra etapa, se aplanan las elevaciones - para el ajuste de un espesor de capa de soldadura deseado y - para la fijación de la soldadura sobre el substrato de soldadura, hasta que han alcanzado aproximadamente la altura de la soldadura, - en otra etapa se lleva a cabo un proceso de estañado.
Description
Procedimiento de estañado para la fijación de
componentes eléctricos.
Se conoce la fijación de componentes eléctricos
sobre un substrato utilizando una soldadura. Sin embargo, los
procedimientos utilizados hasta ahora tienen el inconveniente de que
no pueden garantizar tolerancias de espesores estrechamente
limitadas menores que 10 micrómetros en las capas de soldadura.
Se conoce a partir de la publicación US 3.805.373
un procedimiento para la fijación de al menos un componente
eléctrico sobre un substrato utilizando soldadura. En este
procedimiento, se estampan elevaciones con una altura fija sobre un
cilindro en un substrato fino. A continuación se coloca soldadura
entre estas elevaciones y se aplica encima una banda metálica,
después de lo cual se realiza la soldadura.
El procedimiento según la invención con los
rasgos característicos de la reivindicación principal tiene, en
cambio, la ventaja de que sobre la estructuración del substrato de
soldadura se posibilita al mismo tiempo tanto un ajuste exacto de un
espesor deseado de la capa de soldadura con tolerancias menores que
10 micrómetros como también una fijación de la soldadura sobre el
substrato antes del proceso de estañado. Es especialmente ventajosa
la unión directa de la altura de las elevaciones con el espesor de
las láminas de soldadura. De esta manera, se pueden fabricar las
elevaciones con tolerancias de altura muy pequeñas con relación al
substrato y de una manera independiente de sus tolerancias de
espesor. Por lo tanto, se pueden conseguir espesores muy exactos de
la capa de soldadura durante la soldadura del componente. Además, a
través del apoyo del componente por medio de las elevaciones, los
componentes pueden ser considerablemente más pesados que la
soldadura soportar sin elevaciones. Además, la altura de las
elevaciones se ajusta, cuando se ejerce una presión hacia abajo, de
una manera automática a las eventuales oscilaciones del espesor de
la lámina de soldadura. Se lleva a cabo una dosificación de las
cantidades de soldadura de una manera independiente del peso del
componente de forma automática a través de las fuerzas capilares.
Otra ventaja es que a través de las tolerancias de altura muy
pequeñas de las elevaciones entre sí se pueden evitar también
soldaduras en cuña, puesto que el componente no puede bascular
durante la fase de fusión de la soldadura hacia ningún lado. Esto
conduce, por ejemplo, en el caso de los componentes de potencia a
una capacidad de carga demasiado elevada, puesto que la disipación
de calor se lleva a cabo al mismo tiempo sobre la superficie
soldada. Otra ventaja es que la soldadura se fija muy bien al
substrato. Está asegurada con un resbalamiento también en el caso de
vibraciones del substrato en el proceso de montaje. No deben tomarse
ya medidas especiales para fijar la soldadura antes del proceso de
soldadura. Además, la fijación de la soldadura es tan buena que el
substrato con la soldadura se puede girar por encima de la cabeza,
sin que la soldadura se desprenda de nuevo fuera del substrato.
Incluso es posible fijar un componente "por encima de la
cabeza" sobre el substrato cubierto con soldadura. No tiene lugar
ya ningún movimiento del componente durante el proceso de soldadura,
como por ejemplo una bajada del componente durante la fundición de
la soldadura. Las esquinas sobresalientes así como un desplazamiento
mayor durante la colocación del componente sobre la lámina de
soldadura no representan, sin embargo, ningún problema. De esta
manera, se evitan especialmente cortocircuitos a través de las
inexactitudes de montaje. Además, pueden estar presentes previamente
ya también uniones adhesivas. También se pueden estañar componentes
apilados para rectificadores modulares, en los que varias uniones
soldadas están colocadas superpuestas.
A través de las medidas indicadas en las
reivindicaciones dependientes son posibles desarrollos ventajosos y
mejoras del procedimiento de soldadura indicado en la reivindicación
principal.
Los ejemplos de realización de la invención se
representan en el dibujo y se explican en detalle en la descripción
siguiente. La figura 1a muestra un substrato de soldadura en una
vista lateral de la sección transversal, la figura 1b muestra un
substrato de soldadura en una vista en planta superior, la figura 2a
muestra una etapa del procedimiento, la figura 2b muestra una
segunda etapa del procedimiento y la figura 3 muestra otra etapa del
procedimiento.
La figura 1a muestra un substrato de soldadura 1,
por ejemplo una superficie metálica, especialmente un cuadro de
conductores, sobre el que están dispuestas elevaciones 2. Estas
elevaciones se proyectan sobre una altura pretendida de una capa de
soldadura que se aplica posteriormente; esta altura está marcada con
la línea de trazos 4 y con la doble flecha 3. En la figura 1b se
muestra en la vista en planta superior una disposición de tres
elevaciones 2.
Por lo tanto, en primer lugar se estampan en la
zona de la posición de soporte de un componente a estañar unas
elevaciones 2 en la superficie del substrato de soldadura. Esto se
puede realizar, por ejemplo, a través de una pasada inclinada con
una herramienta de punta, por ejemplo una aguja endurecida, de tal
manera que en el borde de la pasada se produce una protuberancia
suficientemente alta o una rebaba, que forma entonces una elevación
2. El material sobresaliente del substrato debe ser en este caso a
menos tan alto, pero típicamente un poco más alto que el espesor de
la capa de soldadura a ajustar después del proceso de estañado. El
substrato está constituido a tal fin a partir de un material
deformable blando, por ejemplo de cobre niquelado. Es ventajoso
seleccionar al menos tres elevaciones, puesto que de esta manera se
define un plano unívoco.
La figura 2a muestra cómo se aplica una lámina de
soldadura 10 sobre las elevaciones 2.
La lámina de soldadura debería poseer un espesor,
que debe alcanzarse después del proceso de estañado. La superficie
de la lámina de soldadura debe ser, por lo tanto, tan grande como la
superficie de aplicar a estañar del componente. Si es claramente
menor que el componente, entonces se producen rechupes, puesto que
la cantidad de soldadura, a la distancia predeterminada por medio de
las elevaciones, no es suficiente para humedecer toda la
superficie.
La figura 2b muestra cómo son presionadas las
elevaciones por medio de un elemento de presión 20 con una
superficie plana, dirigida hacia la lámina de estañado, bajo la
aplicación de una fuerza de presión, simbolizada a través del muelle
de compresión 21.
Esta presión hacia abajo se lleva a cabo de una
manera preferida bajo control de la fuerza, hasta que las
elevaciones han alcanzado la altura de la lámina de soldadura. Tan
pronto como se alcanza la altura de la lámina de soldadura, se
incrementa en gran medida la fuerza para la presión adicional hacia
abajo sobre las elevaciones. En esta etapa, se agarra la lámina de
soldadura con la elevación presionada hacia abajo, de tal manera que
se fija la soldadura en las elevaciones y de este modo en el
substrato. Como se deduce a partir del fragmento ampliado en la
figura 2b, en las elevaciones se forman mesetas 30 pequeñas a través
de esta etapa de aplanamiento, que sirven posteriormente como
superficies de soporte para el componente, especialmente en el
estado líquido de la soldadura.
En otra etapa, se coloca ahora el componente a
estañar 110, como se muestra en la figura 3, sobre la soldadura y a
continuación se conduce al proceso de soldadura propiamente dicho. A
través del calentamiento de la soldadura, ésta se vuelve líquida, y
a través de la fuerza capilar de la soldadura, la soldadura que se
encuentra sobre la lámina de soldadura fuera de la superficie de
apoyo directo del componente, llega debajo del componente, hasta que
después de la refrigeración y del endurecimiento de la soldadura, se
ha configurado la capa de soldadura 100, que conecta mecánica y
eléctricamente el componente 110 con el substrato 1
entre sí.
entre sí.
De una manera alternativa, el componente se puede
conducir también desde abajo por la lámina de soldadura fijada ya a
través de las elevaciones parcialmente impresas planas, es decir,
que puede ser soldado "por encima de la cabeza" con el
substrato.
Las elevaciones se pueden fabricar, en lugar de a
través de estampación, también por medio de la adhesión de trozos de
alambre de adhesión cortos sobre el substrato. El alambre es
adherido en este caso con su eje longitudinal en paralelo a la
superficie del substrato de soldadura 1. El espesor de un alambre de
adhesión se puede seleccionar típicamente un poco mayor que la
altura de la capa de soldadura a ajustar. La posiciones de adhesión
corresponden a las posiciones, en las que, en el ejemplo de
realización representado en la figura 1, se encuentran las
elevaciones generadas a través de las entalladuras o bien las
estampaciones. Las elevaciones conseguidas a través de los trozos de
alambre de adhesión cortos cumplen la misma función que las
elevaciones descritas anteriormente.
Otro modo de proceder alternativo consiste en
introducir, los ejemplo, cuadros de conductores con las elevaciones
realizadas así como con la lámina de soldadura aplicada y aplanada
así como con las mesetas configuradas de las elevaciones en un horno
de soldadura, antes de que sea aplicado el componente, por ejemplo
un chip de semiconductores. Cuando se calienta el cuadro de
conductores por encima de la temperatura de fusión de la soldadura,
se configurada una superficie de soldadura en forma de cojín. Sólo a
continuación se coloca el chip y se presiona sobre las mesetas 30.
Cuando se suelta el chip, también en este caso no puede quedar por
debajo del espesor predeterminado de la soldadura debido a las
elevaciones existentes en la superficie del cuadro de conductores,
de manera que no se puede configurar ningún saliente de soldadura
junto al chip. Pero el chip no puede exceder tampoco en una medida
esencial el espesor predeterminado debido a las fuerzas capilares y
debido a la oferta de soldadura limitada. La previsión de
elevaciones, de una lámina de soldadura de espesor definido y su
compresión siguiente, incluida una generación de mesetas a partir de
las elevaciones se puede aplicar también de una manera ventajosa en
el marco de un llamado procedimiento de
"Soft-Solder-Die-Attach",
en el que el componente a estañar es colocado sobre un cojín de
soldadura ya líquido. Después de la aplicación de la presión sobre
la meseta, se suelta, como ya se ha mencionado, y después de la
refrigeración está presente ya de la misma manera una capa de
soldadura 100 que conecta el chip 110 con el substrato 1. El cuadro
de conductores utilizado no puede tener, sin embargo, en una
aplicación de este tipo, ningunas cavidades en la posición a ocupar
con el componente, puesto que, en otro caso, éstas son rellenadas
con soldadura durante el proceso de estañado y de esta manera la
cantidad de soldadura propiamente dicha, en el caso de una lámina de
soldadura ligeramente mayor en comparación con el chip, no es
suficiente ya, en determinadas circunstancias, para la
humidificación completa de la superficie del chip.
Claims (8)
1. Procedimiento para la fijación de al menos un
componente eléctrico sobre un substrato bajo la utilización de
soldadura, en el que
- -
- se generan elevaciones en el substrato de soldadura, que son al menos tan altas como un espesor de la capa de soldadura a ajustar,
- -
- en otra etapa, se aplica la soldadura especialmente una lámina de soldadura, sobre las elevaciones, caracterizado porque
- -
- en otra etapa, se aplanan las elevaciones
- -
- para el ajuste de un espesor de capa de soldadura deseado y
- -
- para la fijación de la soldadura sobre el substrato de soldadura,
hasta que han alcanzado
aproximadamente la altura de la
soldadura,
- -
- en otra etapa se lleva a cabo un proceso de estañado.
2. Procedimiento según la reivindicación 1,
caracterizado porque las elevaciones son aplanadas
presionando una placa esencialmente plana de una manera preferida
bajo control de la fuerza sobre las elevaciones.
3. Procedimiento según la reivindicación 1 ó 2,
caracterizado porque las elevaciones son estampadas
utilizando una aguja.
4. Procedimiento según la reivindicación 1 ó 2,
caracterizado porque las elevaciones son aplicadas a través
de la adhesión de alambres de adhesión, especialmente alambres de
adhesión de aluminio.
5. Procedimiento según una de las
reivindicaciones anteriores, caracterizado porque se aplican
al menos tres elevaciones.
6. Procedimiento según una de las
reivindicaciones anteriores, caracterizado porque el proceso
de estañado comprende, en una primera etapa, una aplicación o
colocación del componente y porque, en una segunda etapa, se
calienta la capa de soldadura por encima de su temperatura de
fundición.
7. Procedimiento según la reivindicación 6,
caracterizado porque el proceso de estañado se realiza en un
montaje por encima de la cabeza.
8. Procedimiento según una de las
reivindicaciones 1 a 5, caracterizado porque el proceso de
estañado comprende, en una primera etapa, un calentamiento de la
capa de estañado por encima de su temperatura de fundición, y porque
en una segunda etapa se presiona el componente sobre las
elevaciones
aplanadas.
aplanadas.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10038330 | 2000-08-05 | ||
DE10038330A DE10038330C2 (de) | 2000-08-05 | 2000-08-05 | Lötverfahren zur Befestigung elektrischer Bauelemente |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
ES2250448T3 true ES2250448T3 (es) | 2006-04-16 |
Family
ID=7651483
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
ES01956357T Expired - Lifetime ES2250448T3 (es) | 2000-08-05 | 2001-07-20 | Procedimiento de estañado para la fijacion de componentes electricos. |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6953145B2 (es) |
EP (1) | EP1309420B1 (es) |
JP (1) | JP2004505783A (es) |
KR (1) | KR20030016427A (es) |
AU (2) | AU7839201A (es) |
DE (2) | DE10038330C2 (es) |
ES (1) | ES2250448T3 (es) |
WO (1) | WO2002014008A1 (es) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20060108396A1 (en) * | 2004-10-09 | 2006-05-25 | Nessman Donald O | Bonded components and component bonding |
US7723830B2 (en) | 2006-01-06 | 2010-05-25 | International Rectifier Corporation | Substrate and method for mounting silicon device |
FR2905883B1 (fr) * | 2006-09-14 | 2008-12-05 | Valeo Electronique Sys Liaison | Procede de soudage d'un organe sur un support par apport de matiere et dispositif d'agencement de deux elements l'un sur l'autre |
DE102014105957B3 (de) * | 2014-04-29 | 2015-06-25 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zur Herstellung einer Lötverbindung |
DE102016111701A1 (de) | 2016-06-27 | 2017-12-28 | Endress+Hauser Flowtec Ag | Sensor für ein thermisches Durchflussmessgerät, ein thermisches Durchflussmessgerät und ein Verfahren zum Herstellen eines Sensors eines thermischen Durchflussmessgeräts |
CN112420625A (zh) * | 2020-10-29 | 2021-02-26 | 光华临港工程应用技术研发(上海)有限公司 | 芯片贴放封装结构及方法 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3805373A (en) * | 1972-07-31 | 1974-04-23 | Texas Instruments Inc | Method of making a brazed composite metal tape |
DE2653650C2 (de) * | 1976-11-25 | 1982-02-25 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zum flächenhaften Verlöten zweier metallischer Körper |
US4439918A (en) * | 1979-03-12 | 1984-04-03 | Western Electric Co., Inc. | Methods of packaging an electronic device |
US4626478A (en) | 1984-03-22 | 1986-12-02 | Unitrode Corporation | Electronic circuit device components having integral spacers providing uniform thickness bonding film |
JPS63304636A (ja) * | 1987-06-05 | 1988-12-12 | Hitachi Ltd | はんだキヤリア及びその製法並びにこれを用いた半導体装置の実装方法 |
US5014111A (en) * | 1987-12-08 | 1991-05-07 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Electrical contact bump and a package provided with the same |
JPH0243362A (ja) * | 1988-08-03 | 1990-02-13 | Hitachi Metals Ltd | スパッターターゲットとバッキングプレートの接合体 |
US4977296A (en) * | 1989-02-23 | 1990-12-11 | Hemming Leland H | Radio frequency shielding tape |
JP2841940B2 (ja) * | 1990-12-19 | 1998-12-24 | 富士電機株式会社 | 半導体素子 |
JP3107489B2 (ja) | 1993-11-08 | 2000-11-06 | 株式会社日立製作所 | 内燃機関の混合気形成装置 |
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US6483195B1 (en) * | 1999-03-16 | 2002-11-19 | Sumitomo Bakelite Company Limited | Transfer bump street, semiconductor flip chip and method of producing same |
-
2000
- 2000-08-05 DE DE10038330A patent/DE10038330C2/de not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-07-20 ES ES01956357T patent/ES2250448T3/es not_active Expired - Lifetime
- 2001-07-20 AU AU7839201A patent/AU7839201A/xx active Pending
- 2001-07-20 AU AU2001278392A patent/AU2001278392B2/en not_active Ceased
- 2001-07-20 JP JP2002519133A patent/JP2004505783A/ja active Pending
- 2001-07-20 DE DE50107582T patent/DE50107582D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2001-07-20 KR KR10-2003-7001045A patent/KR20030016427A/ko not_active Application Discontinuation
- 2001-07-20 EP EP01956357A patent/EP1309420B1/de not_active Expired - Lifetime
- 2001-07-20 WO PCT/DE2001/002756 patent/WO2002014008A1/de active IP Right Grant
- 2001-07-20 US US10/344,015 patent/US6953145B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1309420B1 (de) | 2005-09-28 |
AU7839201A (en) | 2002-02-25 |
KR20030016427A (ko) | 2003-02-26 |
US6953145B2 (en) | 2005-10-11 |
DE10038330C2 (de) | 2002-07-11 |
US20040011856A1 (en) | 2004-01-22 |
WO2002014008A1 (de) | 2002-02-21 |
AU2001278392B2 (en) | 2006-02-09 |
DE10038330A1 (de) | 2002-03-07 |
JP2004505783A (ja) | 2004-02-26 |
EP1309420A1 (de) | 2003-05-14 |
DE50107582D1 (de) | 2006-02-09 |
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