DE815263C - Lichtelektrischer Belichtungsmesser mit mehreren Messbereichen - Google Patents

Description

• Lichtelektrischer Belichtungsmesser mit mehreren Meßbereichen Die Empfindlichkeit der bekannten fotoelektrischen Belichtungsmesser ist im wesentlichen durch die Empfindlichkeit des elektrischen Anzeigeinstruments und durch die Größe der Fotozellenfläche gegeben. Aus Gründen bequemer handhabung, besonders bei Belichtungsgmessern, die auf fotografische Kameras aufgesetzt werden sollen, strebt man danach, mit möglichst kleinen Abmessungen auszukommen. Die Empfindlichkeit derartiger Belichtungsmesser ist für normale fotografische Bedingungen, <1. h. fiir die Messung von Belichtungszeiten bis zu mehreren Sekunden, noch ausreichend, zur sulig längerer Zeiten siitil jedoch Fotoelemente mit größerer Fläche notwendig, die sich nicht mehr im Innern solcher Belichtungsmesser untrbringen lassen.
• Es ist bekannt. durch zum eingebauten Fotoelement parallel zuschalthare oder zusteckbare Fotoelemente die Gesamtfläche auf das zum Frreichen der geforderten Empfindlichkeit notwendige Maß zu vergrößern.
• Da der Skalenverlauf eines Belichtungsmessers jedoch nicht nur von der Stromempfindlichkeit des zur Anzeige benutzten elektrischen Meßwerks, sondern auch sehr stark durch die von der Flächengröße und der Beleuchtungsstärke abhängigen inneren Widerstandsverhältnisse des Fotoel ements beeinflußt wird, muß ein Belichtungsmesser, dessen Empfindlichkeit mit diesen Mitteln vergrößert werden soll, um genau zu sein, zwei verschiedene Skalen erhalten, die um so mehr voneinander abweichen, je größer das Verhältnis der Fläche des eingebauten zur Gesamtfläche des zugesteckten und des eingebauten Fotoelements ist.
• Um bei Verwendung von Zusatzelementen, deren Flächengröße in beliebigem Verhältnis zur Flächen- größe des im Belichtungsmesser eingebauten Elements steht, genau den gleichen Skalenverlauf zu erhalten wie mit dem eingebauten Element allein, wird erfindungsgemäß vorgeschlagen, das Zusatzelement in mehrere Einzelelemente zu unterteilen und diese zusammen mit dem eingebauten Element in eine kombinierte Reihen- und Parallelschaltung zu bringen, welche die gleichen Anpassungsverhältnisse ergibt, wie das im Belichtungsmesser eingebaute Element allein.
• Weitere Ausgestaltungen und Verbesserungen dieser Erfindung bilden den Inhalt der Ansprüche 2 iS 4.
• Die übliche Schaltung eines Belichtungsmessers ist in Fig. I dargestellt. Die Ersatzschaltung für das Selenfotoelement S besteht dabei aus dem eine ENlK erzeugenden ElementE und deminnenwiderstand R. Die EMK des Elements steigt nahezu proportional mit der Beleuchtungsstärke, während der Widerstand R je nach Größe und Art des Selenfotoelements bei steigender Beleuchtung abnimmt, so daß der Skalenverlauf von Größe und Art des Selenfotoelements abhängig ist. Das elektrische SIeBwerk llI ist gewöhnlich direkt mit dem Fotoelement verbunden.
• Fig. 2 stellt eine kombinierte Reihen- «nd Parallelschaltung dar, deren Einzelglieder so bemessen sind, daß sich bei Schalterstellung kl und abgezogenem Zusatzelement mit dem Element S allein genau die gleichen Anpassungsverhältnisse wie bei Schalterstellung K2 und dem aus den Einzelelementen S21, S22 und 823 bestehenden angesteckten Zusatzelement ergeben.
• Für die bei normalen Fotobelichtungsmessern vorliegenden Genauigkeitsforderungen ist gegebencnfalls eine ungefähre Anpassung ausreichend.
• Dadurch kann, wie in Fig. 3 dargestellt, mit einer einfachen Parallelschaltung eines in mehrere hintereinandergeschaltete Einzelelemente S31, S32, S33 unterteilten Zusatzelements zum eingebauten Fotoelement S der gewünschte Zweck, mit einer einzigen Skala für mehrere Meßbereiche auszukommen, mit genügender Genauigkeit erreicht werden.
• Dieses Verfahren ist besonders dann mit genügender Genauigkeit anwendbar, wenn man das im Belichtungsmesser eingebaute Fotoelement beim Gebrauch des Zusatzelements abdeckt, so daß der Widerstand des eingebauten Elements S, der bekann ich von der Beleuchtungsstärke abhängig ist, sehr hoch wird und nur einen unwesentlichen Nebenschluß zu dem unterteilten Lichtelement 531, S32, S33 darstellt. Bei Belichtungsmessern mit einem Zusatzelement, dessen Fläche wesentlich größer ist als die des eingebauten Elements, kann der damit bedingte geringe Empfindlichkeitsverlust vernachlässigt werden.
• Die in kombinierter Reihen- und Parallelschaltung elektrisch miteinander verbundenen Einzelelemente können auf verschiedene Weise räumlich angeordnet werden. Für die in Reihe geschalteten Elemente S41, 542 und S43 ist eine dachziegelartige Anordnung nach Fig, 4 möglich, die den Vorteil einer guten Ausnutzung der wirksamen Elementenfläche mit der oftmals gewünschten Neigung der Zellen nach unten verbindet. Schließlich gestattet die Unterteilung des Zusatzelements auch die Unterbringung von Einzelzellen an räumlich voneinander getrennten Stellen, beispielsweise in den freien Flächen der Vorderwand einer fotografischen Kamera.
• PATENTANSPRI ; CIIE I. Fotoelektrischer Belichtungsmesser mit ZU-steck- oder zuschaltbarem Element, dadurch gekennzeichnet, daß das Zusatzelement in mehrere Einzelelemente unterteilt ist und diese in einer Reihen- oder Parallelschaltung derart kombiniert sind, daß zusammen mit dem eingebauten Lichtelement die gleichen Anpassungsbedingungen an das zur Anzeige benutzte elektrische hleßwerkk erreicht werden wie mit dem imBelichtungsmesser eingebauten Element allein.

Claims (1)

1. 2. Fotoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß das Zusatzelement aus mehreren hintereinandergeschalteten Einzelelementen besteht, diese parallel zum eingebauten Lichtelement geschaltet sind und die Anpassungsverhältuisse an das zur Anzeige im Belichtungsmesser benutzte elektrische Meßwerk mit und ohne Zusatzelement nur so weit voneinander abweichen, daß eine einzige Skale mit genügender Genauigkeit für mehrere Meßbereiche verwendet werden kann.

   3. Fotoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß die hintereinander- und parallelgeschalteten Einzelelemente räumlich voneinander getrennt angeordnet sind.

   4. Fotoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß die hintereinandergeschalteten Einzelelemente dachziegelartig angeordnet sind.