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Die
vorliegende Erfindung betrifft eine Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung, die auf einem
piezoelektrischen Substrat ausgebildete Interdigitalwandler enthält.
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Bisher
wurden Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtungen
wegen deren geringer Ausmaße, hoher
Leistung und hoher Zuverlässigkeit
in verschienen Gebieten angewendet. Zum Beispiel werden Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtungen
in dem Gebiet der Funkkommunikation für tragbare Telefone oder dergleichen
als Bandpassfilter für
das Senden, als Bandpassfilter für
das Empfangen, oder für Ähnliches
verwendet.
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Im
Gebiet der Funkkommunikation gibt es eine Tendenz, die Koexistenz
von zwei oder mehreren Systemen verschiedener Frequenzbänder zu
erlauben. Zum Beispiel existieren in Nordamerika und anderswo zwei
Systeme, das PCS im 1,9 GHz Band und AMPS im 800 MHz Band, in Europa
und anderswo zwei Systeme, das DCS im 1,8 GHz Band und GSM im 900
MHz Band, und in Japan existiert eine Vielfalt von Systemen, das
PHS im 1,9 GHz Band, das PDC1.5G im 1,5 GHz Band und das PDC800
im 800 MHz Band.
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Entsprechend
gibt es eine neuere Tendenz, verlangend nach dualen Typen von Kommunikationseinheiten,
welche Kommunikation in zwei oder mehr Systemen verschiedener Frequenzbänder mit
einer Einheit realisieren. In solchen dualen Typen von Funkkommunikations-Einheiten
können
verschiedene Arten von Komponenten gemeinsam genutzt werden. Entsprechend
besteht aus dem Kosten- und Dimensions-Gesichtspunkt ein beträchtlicher
Vorteil, im Vergleich mit dem Fall, in welchem für jedes der verschiedenen Systeme
eine Funkkommunikations-Einheit bereitgestellt ist.
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Für eine Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung,
die geeignet ist mit einer solchen Funkkommunikations-Einheit zu
arbeiten, kann eine verwendet werden, in welcher eine Vielzahl von
in verschiedenen Frequenzbändern
arbeitenden Oberflächen-Schallwellen-Chips
in einer Baugruppe untergebracht sind. Es ergibt sich hieraus, dass
die Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung klein
und weniger teuer hergestellt werden kann.
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In
einer Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung
sind gewöhnlich,
umgebend einen Bereich in welchem auf dieser ein Oberflächen-Schallwellen-Chip
montiert ist, Anschlussfelder für
das Zuführen
von Eingangssignalen und von Erdungspotential von äußeren Bereichen
zu den Interdigitalwandlern oder für das Herausführen von
Ausgangssignalen angeordnet. Diese Anschlussfelder und Anschlüsse der
Interdigitalwandler sind mit Anschlussdrähten verbunden.
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Im
Fall der Unterbringung einer Mehrzahl von Oberflächen-Schallwellen-Chips in einer Baugruppe,
um eine so genannte Mehrfach-Chip Baugruppe herzustellen, sind die
Anschlüsse
der Interdigitalwandler mit einem Anschlussfeld auf einer Seite eines
jeden Chips verbunden. Entsprechend, abhängig von den Positionen der
Anschlüsse
der Interdigitalwandler, können
die Längen
der Anschlussdrähte verschieden
sein.
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Dieses
bedingt, in dem Fall, in welchem eine Mehrzahl von Interdigitalwandlern
entlang einer Haupt-Ausbreitungsrichtung der Oberflächenschallwellen,
wie insbesondere in einem im Longitudinal-Modus gekoppelten Resonanz-Filter,
angeordnet sind, dass ein Einfluss parasitärer Kapazitäts- und Induktivitäts-Komponenten
für jeden
Interdigitalwandler verschieden ist. Daher ist es wahrscheinlich,
dass es Schwierigkeiten beim Einstellen der Frequenzcharakteristiken gibt.
Außerdem
besteht die Tendenz, dass, wenn der Anschlussdraht über den
Interdigitalwandler verläuft,
elektromagnetische Kopplung zwischen dem Anschlussdraht und dem
Interdigitalwandler auftritt.
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Im
EP 0 794 616 ist ein elektronisches
Teil beschrieben, ein solches wie eine Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung,
und ein Herstellverfahren hierfür.
Ein Oberflächen-Schallwellen-Chip kann mit einem
Leiter auf der Grundplatte einer Baugruppe mit seiner Frontseite
nach unten verbunden sein.
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Die
gegenwärtige
Erfindung wird ausgeführt für die Verbesserung
einer Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung
und hat die folgenden Ziele:
- (1) Eine Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung bereitzustellen,
die einfach in einer Mehrfach-Chip-Baugruppe aufgebaut werden kann;
- (2) Eine Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung bereitzustellen,
aufweisend Interdigitalwandler mit gleichförmigen Eigenschaften durch
das homogenisieren parasitärer
Kapazitäts-
und Induktivitäts-Komponenten
aller Interdigitalwandler:
- (3) Verhinderung der Vermischung von Signal und Rauschen als
Folge elektromagnetischer Kopplung zwischen Anschlussdrähten und
Interdigitalwandlern;
- (4) Bereitstellen einer Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung
geringer Dimension.
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Entsprechend
der gegenwärtigen
Erfindung ist hier eine Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung bereitgestellt,
enthaltend:
eine Baugruppe enthaltend eine Grundplatte, auf
deren einer Haupt-Oberfläche
eine Vielzahl von Signal-Leiterbahnen und eine Erdungs-Leiterbahn
in derselben Ebene ausgebildet sind, und eine Vielzahl von Oberflächen-Schallwellen-Chips
mit der Frontseite nach unten gerichtet über der Grundplatte angeordnet
sind, wobei jedes eine Vielzahl von Interdigitalwandlern, ausgebildet
auf einer Haupt-Oberfläche
auf dem piezoelektrischen Substrat, sowie Signalanschlüsse, angeordnet
an gegenüber
liegenden Seiten auf dem piezoelektrischen Substrat, und einen Erdungsanschluss,
angeordnet auf dem piezoelektrischen Substrat, enthält, und
wobei auf der Grundplatte die Vielzahl von Signal-Leiterbahnen elektrisch
mit den Signalanschlüssen
der Vielzahl von Oberflächen-Schallwellen-Chips
verbunden sind, die Erdungs-Leiterbahn mit den Erdungsanschlüssen der
Vielzahl von Oberflächen-Schallwellen-Chips
verbunden sind und eine Vielzahl von Bereichen auf der Erdungs-Leiterbahn
zwischen benachbarten Signal-Leiterbahnen existiert.
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In
einer Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung
der gegenwärtigen
Erfindung sind die Stromzuführung
zu jedem, sowie die Herausführung
des Ausgangs von jedem, Interdigitalwandler-Anschluss der Vielfach-Chips
durch eine Leiterbahn auf einer Grundplatte implementiert. Entsprechend
können die,
durch die Positionen der Interdigitalwandler-Anschlüsse bedingten, Unterschiede
in den Einflüssen der
parasitären
kapazitiven und induktiven Komponenten und der elektromagnetischen
Kopplung gemindert werden. Als ein Ergebnis können die Vielfach-Chip Baugruppen
einfach gefertigt werden.
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Außerdem,
da elektromagnetische Kopplung zwischen benachbarten Leiterbahnen
durch die Erdungs-Leiterbahn-Bereiche,
die zwischen benachbarten Signal-Leiterbahnen bestehen, abgeschirmt sind,
kann ein Einfluss der elektromagnetischen Kopplung zwischen den
Signal-Leiterbahnen vermindert werden.
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Zusätzlich können alle
Interdigitalwandler mit der Frontseite der Grundplatte zugewandt
angeordnet sein. Dadurch können
die Interdigitalwandler davor geschützt werden, mit elektrischen
Signalen und Rauschen vermischt zu werden.
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Zumindest
eines der Oberflächen-Schallwellen-Chips
kann aus einer Vielzahl von in einer Kaskade verbundenen Oberflächen-Schallwellen-Filtern aufgebaut
sein.
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Zumindest
eines der Oberflächen-Schallwellen-Chips
kann aus einem im Longitudinal-Modus gekoppelten Oberflächen-Schallwellen-Element
bestehen.
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Ein
im Longitudinal-Modus gekoppeltes Oberflächen-Schallwellen-Resonanz-Filter, ein Beispiel
von diesen, ist normalerweise aufgebaut durch das Anordnen einer
Vielzahl von Interdigitalwandlern und von an deren beiden Enden
positionierten Reflektoren, welche diese Interdigitalwandler Sandwich-artig
einfassen, in Reihen entlang einer Ausbreitungsrichtung von Oberflächen-Schallwellen
auf einem piezoelektrischen Substrat. Daraus resultiert, dass zusätzlich zu
einer Grundwelle der Oberflächen-Schallwellen
eine Oberwelle von dieser extrahiert werden kann. Daraus ergibt
sich, dass ein Filter mit größerer Bandbreite
erhalten werden kann.
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Wenn
dieser im Longitudinal-Modus gekoppelte Oberflächen-Schallwellen-Resonator als ein Vielfach-Chip
montiert wird, dann kann entsprechend der gegenwärtigen Erfindung die Schwankung
der Werte von parasitärer
Kapazität
und Induktivität
eines jeden Interdigitalwandlers vermindert werden. Daraus ergibt
sich, dass Oberflächen-Schallwellen-Oberwellen effizient
extrahiert werden können.
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In
einer Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung
der gegenwärtigen
Erfindung kann eine externe Auswahl-Schaltung eingerichtet sein
um ein Eingangssignal selektiv an irgendeinen aus der Vielzahl von
Oberflächen-Schallwellen-Chips zu liefern,
mit dem Ergebnis, dass ein schaltbares Filter erhalten ist.
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Die
Ausbreitungseigenschaften eines piezoelektrischen Substrats zumindest
eines Chips von den Oberflächen-Schallwellen-Chips
können
unterschiedlich von denen der anderen Oberflächen-Schallwellen-Chips sein.
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Ohne
sich auf die Ausbreitungseigenschaften des Substrats zu beschränken, können die
Dicke der Elektroden-Finger und die Materialzusammensetzung der
Elektroden-Finger (einschließlich
der Zusammensetzung oder Schichtstruktur) oder das Breitenverhältnis (Breite
eines Elektroden-Fingers zu Abstand zwischen den Mitten der Elektroden-Finger) der
Elektroden-Finger
unterschiedlich von den anderen Oberflächen-Schallwellen-Chips gestaltet werden.
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Eine äußere Dimension
von zumindest einem Chip von den Oberflächen-Schallwellen-Chips kann
unterschiedlich sein zu den anderen Chips. Dadurch können die
Chips leicht unterschieden werden. Hier können, durch das Konstruieren
des piezoelektrischen Substrats für die minimale durch jedes
Filter geforderte Dimension, niedrige Kosten und geringes Gewicht
verwirklicht werden.
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Wenn,
wie die äußere Dimension,
die Dicke der piezoelektrischen Substrate entsprechend der Art der
Oberflächen-Schallwellen-Chips
unterschieden wird, dann können
die Oberflächen-Schallwellen-Chips
bequem und leicht während
und nach dem Montieren der Chips unterschieden werden. Für die Dickenunterschiede
der Substrate ist es vorzuziehen, dass diese für leichte Unterscheidbarkeit
mehr als 20 μm
betragen.
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Bei
dem Montieren der Chips in einer Baugruppe können die Chips in der Reihenfolge
wachsender Dicke, beginnend mit einem Chip mit dünnem Substrat, montiert werden.
Dadurch kann verhindert werden, dass ein Montagewerkzeug und ein
Oberflächen-Schallwellen-Chip
sich stören,
wodurch sich einfache Montage ergibt.
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Wenn
eine Dicke eines piezoelektrischen Substrats von zumindest einem
Chip von den Oberflächen-Schallwellen-Chips
unterschiedlich zu den anderen Oberflächen-Schallwellen-Chips gestaltet ist,
entsprechend den für
die zugehörigen
Schallwellen-Elemente erforderlichen Bandbreiten- und Anstiegs-Durchgangs-Eigenschaften,
dann können
piezoelektrischen Substrate optimaler Dicke verwendet werden.
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Die
Oberflächenrauhigkeit
einer rückwärtigen Oberfläche von
zumindest einem Chip von den Oberflächen-Schallwellen-Chips kann
unterschiedlich zu der der anderen Chips gemacht werden. Dadurch
können
die Chips leicht unterschieden werden.
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1 ist
eine perspektivische Explosionsansicht, welche eine Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung
entsprechend einem Ausführungsbeispiel
der gegenwärtigen
Erfindung zeigt.
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2 ist
ein Querschnitt, welcher eine Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung entsprechend
einem Ausführungsbeispiel
der gegenwärtigen
Erfindung zeigt.
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3A ist
ein Grundriss, welcher eine Leiterbahn-Formations-Oberfläche einer Grundplatte einer
Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung
entsprechend einem Ausführungsbeispiel
der gegenwärtigen
Erfindung zeigt.
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3B ist
ein Grundriss, welcher eine Elektroden-Formations-Oberfläche eines Oberflächen-Schallwellen-Chips
entsprechend einem Ausführungsbeispiel
der gegenwärtigen
Erfindung zeigt.
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4 ist
eine perspektivische Ansicht, in der eine rückwärtige Oberfläche einer
Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung
entsprechend einem Ausführungsbeispiel
der gegenwärtigen
Erfindung mit herausragenden Oberflächen-Schallwellen-Chips gesehen
wird.
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5A und 5B sind
Grundrisse, welche Leiterbahn-Formations-Oberflächen der Grundplatten der Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtungen
eines Ausführungsbeispiels
der gegenwärtigen
Erfindung zeigen.
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6 ist
ein Grundriss, der eine Elektroden-Formations-Oberfläche eines Oberflächen-Schallwellen-Chips
entsprechend einem Ausführungsbeispiel
der gegenwärtigen
Erfindung zeigt.
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7 ist
eine perspektivische Ansicht, die eine Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung
entsprechend einem Ausführungsbeispiel
der gegenwärtigen
Erfindung zeigt.
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8 ist
eine perspektivische Ansicht, die den Montagevorgang der Halbleiter-Chips
entsprechend einem Ausführungsbeispiel
der gegenwärtigen
Erfindung zeigt.
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9 ist
ein Blockdiagramm einer Funk-Kommunikations-Einheit entsprechend einem Ausführungsbeispiel
der gegenwärtigen
Erfindung.
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Nachfolgend
werden Ausführungsbeispiele der
gegenwärtigen
Erfindung mit Bezug zu den Zeichnungen erläutert.
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(Ausführungsbeispiel 1)
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1 ist
eine perspektivische Explosionsansicht, die eine Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung 1 entsprechend
einem ersten Ausführungsbeispiel der
gegenwärtigen
Erfindung zeigt. In diesem Ausführungsbeispiel
ist eine Oberflächen-Shallwellen-Vorrichtung 1 als
duales Filter aufgebaut; aufweisend zwei Filter, nämlich ein
Tiefpass-Filter und ein Hochpass-Filter.
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Wie
in der Figur gezeigt, sind die Oberflächen-Schallwellen-Chips 10 und 20 innerhalb
einer Baugruppe 30 mit einer äußeren Form eines rechteckigen
Parallelepipeds untergebracht. Hier bilden die Oberflächen-Schallwellen-Chips 10 und 20 ein
Tiefpass-Filter und entsprechend ein Hochpass-Filter.
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Eine
Baugruppe 30 ist zusammengesetzt aus einer Grundplatte 31,
einer äußeren Einfassung 32 und
einem Deckel 33, bildend entsprechend einen Boden, eine
Seitenwand und eine obere Platte.
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Die
Grundplatte 31, die äußere Einfassung 32 und
der Deckel 33 sind verklebt um die Baugruppe 30 abzudichten.
Als ein Ergebnis sind die Oberflächen-Schallwellen-Chips 10 und 20 innerhalb
der Baugruppe 30 luftdicht verschlossen geschützt.
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2 ist
ein Querschnitt, der eine in 1 gezeigte
Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung 1 mit abgenommenem
Deckel 33 darstellt.
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Mit
der aus Keramik oder Kunststoff bestehenden Grundplatte 31 ist
die äußere Einfassung 32 verbunden.
Auf der Grundplatte 31 sind die Oberflächen-Schallwellen-Chips 10 und 20 montiert
mit einer Anordnungsfläche
mit von dieser nach unten gerichteten Interdigitalwandlern.
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Anschlüsse der
Interdigitalwandler sind mit einer auf einer oberen Oberfläche der
Grundplatte 31 ausgebildeten Leiterbahn 40 mittels
einer Erhebung 35 verbunden. In dieser Flip-Chip Montierung
ist Gold für
die Erhebung 35 verwendet, weil Gold geeignet ist durch
Ultraschall verbunden zu werden. Hier kann auch Lot als Material
für die
Erhebung verwendet werden. Die Leiterbahnfläche 40 ist mit elektrischer Verdrahtung
verbunden, die durch Durchgangslöcher zu
einer rückwärtigen Oberfläche der
Grundplatte 31 führt.
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Die
Details des gegenwärtigen
Ausführungsbeispiels
sind in den 3A und 3B und 4 gezeigt. 3a ist
ein Grundriss, der eine Leiterbahn-Formations-Oberfläche zeigt,
auf welcher die Leiterbahn 40 der Grundplatte 31 ausgebildet
ist. 3B ist ein Grundriss, der eine Elektroden-Formations-Oberfläche zeigt,
auf welcher die Elektroden der Oberflächen-Schallwellen-Chips 10 und 20 ausgebildet
sind. 4 ist eine perspektivische Ansicht die die Baugruppe 30 mit
darin integrierten Oberflächen-Schallwellen-Chips 10 und 20 von
deren Rückseite
zeigt, wobei die Chips 10 und 20 herausragen. 4 zeigt
den umgedrehten Zustand der 3A und
ist erhalten durch Überlagern
der 3A und 3B.
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Wie
in den 1 bis 4 gezeigt, ist die Grundplatte 31 eine
rechteckige Platte. Die Grundplatte 31 ist aus Keramik
oder Kunststoff gefertigt. Hier ist die Grundplatte 31 an
den vier Ecken und in der Mitte einer jeden Seite mit Durchgangslöchern ausgestattet.
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In
der Nachbarschaft eines Zentrums einer Oberfläche der Grundplatte 31,
auf welcher Chips montiert sind, ist eine Leiterbahn 40 ausgebildet,
bestehend aus einer metallisch leitenden Schicht. Die Leiterbahn 40 ist
zusammengesetzt aus Signal-Leiterbahnen 41 und 42 und
einer Erdungs-Leiterbahn 45. Die Signal-Leiterbahnen 41 und 42 sind
Leiterbahnen des Eingangssignals für das Einleiten von Signalen
und die Signal-Leiterbahnen 43 und 44 sind Leiterbahnen
des Ausgangssignals für
das Ausgeben von Signalen. Diese Leiterbahnen 41 bis 45 sind alle
aus derselben Schicht gebildet und sind in der Ebene durch Schlitze 46A bis 46D isolierend
aufgetrennt, in welchen die Leiterbahn nicht ausgebildet ist.
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Die
Signal-Leiterbahnen 41 bis 44 sind an den vier
Ecken der gesamten Leiterbahn 40 ausgebildet. Die Erdungs-Leiterbahn 45 ist
als Kreuz ausgebildet und ein Teil von dieser ist zwischen den Signal-Leiterbahnen 41 bis 44 angeordnet.
Daher existiert in den Gebieten zwischen den Signal-Leiterbahnen 41 bis 44 die
Erdungsleiterbahn 45. Dadurch sind die Signal-Leiterbahnen 41 bis 44 gegeneinander
abgeschirmt. Als ein Ergebnis sind die Signale auf den Signal-Leiterbahnen 41 bis 44 davor
geschützt,
sich miteinander zu vermischen.
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Die
Signal-Leiterbahnen 41 bis 44 sind elektrisch
mit in Durchgangslöchern
ausgebildeten Leiterbahnen durch die entsprechenden Verdrahtungen 47A bis 47D verbunden.
Mit der Erdungs-Leiterbahn 45 sind die Verdrahtungen 47E und 47H verbunden. Die
Verdrahtungen 47E bis 47H sind elektrisch entsprechend
mit den in den Durchgangslöchern
ausgebildeten Leiterbahnen verbunden.
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Wie
in den 1 bis 4 dargestellt, sind die Oberflächen-Schallwellen-Chips 10 und 20 auf der
Grundplatte 31 so positioniert, dass jeweils eine ihrer
Seiten parallel zu der des Anderen sind. Diese Oberflächen-Schallwellen-Chips 10 und 20 stellen ein
Tiefpassfilter und entsprechend ein Hochpassfilter dar.
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Das
Tiefpass-Filter ist gebildet durch das Verbinden der im Longitudinal-Modus
gekoppelten Oberflächen-Schallwellen- Resonanz-Filter 11 und 12 in
einer Kaskaden-Verbindung. Andererseits ist das Hochpass-Filter
gebildet durch das Verbinden der im Longitudinal-Modus gekoppelten
Oberflächen-Schallwellen-Resonanz-Filter 21 und 22 in
einer Kaskaden-Verbindung.
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Hier
sind in den im Longitudinal-Modus gekoppelten Oberflächen-Schallwellen-Resonanz-Filtern 11 und 12 drei
Interdigitalwandler in Reihe in einer Ausbreitungsrichtung von Oberflächen-Schallwellen
angeordnet und an beiden Enden der Reihe sind Reflektoren angebracht
um eine Dreier-Interdigitalwandler-Struktur
zu bilden. In den im Longitudinal-Modus gekoppelten Oberflächen-Schallwellen-Resonanz-Filtern 21 und 22 sind
sieben Interdigitalwandler in Reihe in einer Ausbreitungsrichtung
von Oberflächen-Schallwellen angeordnet
und an beiden Enden der Reihe sind Reflektoren angebracht, um eine
Siebener-Interdigitalwandler-Struktur
zu bilden. Auf den entsprechenden Oberflächen-Schallwellen-Chips 10 und 20 sind
die Interdigitalwandler so angeordnet, dass die Haupt-Ausbreitungsrichtungen der
Oberflächen-Schallwellen
parallel zueinander sind.
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Mit
den im Longitudinal-Modus gekoppelten Oberflächen-Schallwellen-Resonanz-Filtern 11 und 12 sind
die Signalanschlüsse 13 und 14 und
entsprechend die beiden Erdungsanschlüsse 15 verbunden. Mit
den im Longitudinal-Modus gekoppelten Oberflächen-Schallwellen-Resonanz-Filtern 21 und 22 sind die
Signalanschlüsse 23 und 24 und
entsprechend die beiden Erdungsanschlüsse 25 verbunden.
Hier sind die Signalanschlüsse 13 und 23 Signalanschlüsse für das Eingeben
der Signale und die Signalanschlüsse 14 und 24 sind
Signalanschlüsse
für das Ausgeben
der Signale.
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Die
Signalanschlüsse 13 und 23 und
die Signalanschlüsse 14 und 24 sind
so positioniert, dass diese zwei gegenüber liegende Seiten der Grundplatte 31 säumen, entsprechend
ist die Anordnung der Signalanschlüsse 13 und 23 und
der Signalanschlüsse 14 und 24 ungefähr parallel.
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Die
Anschlüsse
der Eingangssignale 13 und 23, sowie die Anschlüsse der
Ausgangssignale 14 und 24 von zwei Chips sind
so positioniert, dass sie auf einer entsprechenden Seite der Grundplatte 31 sind.
Dadurch kann die Verbindung mit einer externen Auswahlschaltung
leicht implementiert werden.
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Wenn
diese Filter in Serie innerhalb der Baugruppe verbunden werden,
dann sind ein Anschluss des Eingangssignals eines Filters und ein
Anschluss des Ausgangssignals des anderen Filters so positioniert,
dass diese auf derselben Seite der Grundplatte für die Verbindung durch eine
Leiterbahn auf der Grundplatte 31 aufgereiht sind.
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Die
Oberflächen-Schallwellen-Chips 10 und 20 sind
auf der Grundplatte 31 für eine Montierung mit Front
nach unten verbunden. Das bedeutet, die Signalanschlüsse 13, 23, 14 und 24 der
Oberflächen-Schallwellen-Chips 10 und 20 sind
entsprechend mit den Signal-Leiterbahnen 41 bis 44 verbunden.
Beide der Erdungsanschlüsse 15 und 25 der Oberflächen-Schallwellen-Chips 10 und 20 sind
mit der Erdungs-Leiterbahn 45 verbunden. Alle Verbindungen
zwischen den Signalanschlüssen 13, 23, 14 und 24 sowie
den Erdungsanschlüssen 15 und 25 mit den
Signal-Leiterbahnen 41 bis 44 sowie der Erdungs-Leiterbahn 45 sind
in Form von Erhebungen implementiert, wie oben erwähnt.
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Hier
sind, wie in 4 dargestellt, alle Interdigitalwandler,
das bedeutet die im Longitudinal-Modus gekoppelten Oberflächen-Schallwellen-Resonanz-Filter 11, 12, 21 und 22,
zur Erdungs-Leiterbahn 45 hin ausgerichtet ausgebildet.
Das bedeutet, dass alle Interdigitalwandler nicht mit den Signal-Leiterbahnen 41 und 44 in
einer Ebene überlappen.
Als ein Ergebnis können
elektrische Signale davor geschützt werden
sich mit den entsprechenden Interdigitalwandlern zu vermischen.
Wenn es einen Interdigitalwandler gibt, der auf irgendeine der Signal-Leiterbahnen 41 bis 44 ausgerichtet
ist, dann findet zwischen der Signal-Leiterbahn und dem gegenüber stehenden
Interdigitalwandler direkte elektromagnetische Kopplung statt, wodurch
das Signal wahrscheinlich vermischt wird.
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Die
Erdungs-Leiterbahn 45 ist als Kreuz auf der Grundplatte 31 ausgestaltet,
so dass dessen Ansätze
umfasst sind von den benachbarten Signal-Leiterbahnen 41 und 44.
Entsprechend kann in einem Dual-Modus-Filter, auch wenn der Eingang
zu einem Filter abgetrennt ist vom Eingang zu den anderen Filter,
elektromagnetische Kopplung zwischen der Signal-Leiterbahn des einen
Filters und der Signal-Leiterbahn des anderen Filters dank der Erdungs-Leiterbahn 45 abgeschirmt
werden. Als ein Ergebnis hiervon kann ein Einfluss elektromagnetischer
Kopplung zwischen den Leiterbahnen 40 bis 44 vermindert
werden um eine Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung mit geringem
Eingangsverlust zu erhalten.
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In
einer Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung
entsprechend dem gegenwärtigen
Ausführungsbeispiel
sind zwei Oberflächen-Schallwellen-Chips 10 und 20,
aufweisend im Longitudinal-Modus
gekoppelte Resonanz-Filter, auf der Grundplatte 31 in einer
nach unten gerichteten Montageweise verbunden.
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Entsprechend
können
die Schwankungswerte, der zu jedem Interdigitalwandler parasitären Kapazität und der
Induktivität
der im Longitudinal-Modus gekoppelten Resonanz-Filter, vermindert werden. Als ein Ergebnis
können
Oberflächen-Schallwellen
höherer
Modi effizient extrahiert werden um ein Filter für ein breites Band zu erhalten.
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(Ausführungsbeispiel 2)
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Die 5A und 5B sind
Grundrisse, welche die entsprechenden Zustände der Ebenen der Grundplatten 31A und 31B zeigen,
deren Leiterbahnen in ihrer Form modifiziert sind. Die in diesen Figuren
gezeigten Grundplatten 31A und 31B bilden einen
Teil einer Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung entsprechend
einem zweiten Ausführungsbeispiel
der gegenwärtigen
Erfindung.
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Wie
in 5A gezeigt, ist auf der Grundplatte 31A eine
Leiterbahn 40A bestehend aus den Signal-Leiterbahnen 41A bis 44A und
einer Erdungs-Leiterbahn 45A ausgebildet. Hier ist, ohne dass
die Verdrahtung auf der Grundplatte 31A gezeigt wird, nur
die Leiterbahn 40A gezeigt.
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Wie
aus dem Vergleich der 5A und 3A klar
ersichtlich ist, sind in einer Erdungs-Leiterbahn 45A rechtwinklige
Ausschnitte an den vier Ecken eines Quadrat angebracht, welche in
vertikaler Richtung in einer Papierebene den Teil eines Kreuzes
bilden. Trotz dieser Ausschnitte können die Oberflächen-Schallwellen-Chips 10 und 20 mit
allen Interdigitalwandlern ähnlich
positioniert werden, das bedeutet, die im Longitudinal-Modus gekoppelten Oberflächen-Schallwellen-Resonanz-Filter 11, 12, 21 und 22 sind
zu der Erdungs-Leiterbahn 45A hin ausgerichtet.
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Als
ein Ergebnis, identisch zum ersten Ausführungsbeispiel, schirmt die
Erdungs-Leiterbahn 45 die im Longitudinal-Modus gekoppelten
Oberflächen-Schallwellen-Resonanz-Filter 11, 12, 21 und 22 ab,
um so die Vermischung mit Rauschen zu verhindern.
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Anderes
ist identisch mit dem ersten Ausführungsbeispiel, weshalb die
Erläuterung
weggelassen ist.
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Wie
in 5B dargestellt, sind auf der Grundplatte 31B quadratische
Signal-Leiterbahnen 41B bis 44B getrennt voneinander
ausgebildet und auf Flächen
zwischen den Signal-Leiterbahnen 41B bis 44B befindet
sich eine Erdungs-Leiterbahn 45B. Auch
hier ist, ohne die Verdrahtung auf der Grundplatte 31B zu
zeigen, nur die Leiterbahn 40B dargestellt.
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In
den Signal-Leiterbahnen 41B bis 44B sind drei
Seiten eines Quadrats mit der Ausnahme einer Seite benachbart zu
der Erdungs-Elektrode 45B. In anderen Worten, die Ränder der
Signal-Leiterbahnen 41b bis 44B sind nahezu umgeben
durch die Erdungs-Leiterbahn 45B um eine stärkere Verhinderung
der Vermischung externen Rauschens mit den Signalen, als im ersten
Ausführungsbeispiel
zu erreichen.
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Hier
kann die Erdungs-Leiterbahn 45B betrachtet werden als eine,
die gebildet wird durch das Hinzufügen von vier quadratischen,
entsprechend der strichpunktierten Linie geschnittenen, Leiterbahnen 451 bis 454 zu
einer kreuzförmigen
Leiterbahn.
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Wie
in den 3B, 5A und 5B dargestellt,
kann, obgleich die Erdungs-Leiterbahn grundsätzlich als Kreuz ausgebildet
ist, ein wenig an Hinzufügen
oder Weglassen am Kreuz erlaubt sein. Die Breiten der vertikalen
und horizontalen Rechtecke, die ein Kreuz bilden, müssen nicht
die gleichen sein.
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(Ausführungsbeispiel 3)
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In
einem dritten Ausführungsbeispiel
einer Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung
ist auf einem Chip ein im Longitudinal-Modus gekoppeltes Resonanz-Filter
ausgebildet. Eine Vielzahl von im Longitudinal-Modus gekoppelten
Resonanz-Filtern
ist auf einer Grundplatte angeordnet um eine Vielfach-Chip Baugruppe
zu bilden.
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6 ist
ein Grundriss, welcher eine fünf-Interdigitalwandler-Struktur
als ein Beispiel eines im Longitudinal-Modus gekoppelten Oberflächen-Schallwellen-Resonanz-Filters
zeigt. Zum Beispiel können
die im Longitudinal-Modus gekoppelten Oberflächen-Schallwellen-Resonanz-Filter,
die identisch sind zu den im Longitudinal-Modus gekoppelten Oberflächen-Schallwellen-Resonanz-Filtern 11 und 12 des
in 3B gezeigten Oberflächen-Schallwellen-Chips 10,
in einer Kaskaden-Verbindung verbunden werden um ein Filter zu bilden.
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Auf
einer Haupt-Oberfläche
eines piezoelektrischen Substrats 50 sind fünf Interdigitalwandler 51 bis 55 in
einer Reihe angeordnet. An beiden Enden der fünf Interdigitalwandler 51 bis 55 sind
die Reflektoren 56 und 57 angeordnet. Dieses ist
eine so genannte fünf-Interdigitalwandler-Struktur.
Metallische Streifen, die Elektroden-Finger darstellen, und die Reflektoren
dieser Interdigitalwandler sind aus derselben metallischen Schicht
aufgebaut, zum Beispiel aus hauptsächlich aus Aluminium bestehenden
Legierungs-Streifen.
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Mit
dieser Zusammensetzung können
die im Longitudinal-Modus gekoppelten Oberflächen-Schallwellen-Resonanz-Filter,
zusammen mit der Grundwelle der Oberflächen-Schallwellen, Wellen höherer Modi
der dritten oder der fünften
Ordnung extrahieren und können
als ein Breitband-Filter wirken.
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Die
Elektroden-Finger der rechten Seite der Interdigitalwandler 52 und 53 in
der Figur sind gemeinsam mit einem Eingangssignal-Anschluss 61 verbunden.
Die Elektroden-Finger
der linken Seite der Interdigitalwandler 51, 54 und 55 in
der Figur sind gemeinsam mit einem Ausgangssignal-Anschluss 62 verbunden.
Zusätzlich
sind die Elektroden-Finger der Interdigitalwandler 51, 54 und 55 auf
der rechten Seite in der Figur und die Elektroden-Finger der Interdigitalwandler 52 und 53 auf
der linken Seite in der Figur entsprechend mit den Erdungs-Anschlüssen 63 bis 67 verbunden.
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In
dem gegenwärtigen
Ausführungsbeispiel sind
die Erdungs-Anschlüsse 63 bis 67 als
isolierte Anschlüsse
ausgebildet. Als ein Ergebnis kann durch das Prüfen eines einzelnen Chips leicht
festgestellt werden, welches Chip fehlerhaft ist. Die Erdungs-Anschlüsse 63 bis 67 können auf
dem Chip integriert verbunden sein.
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Die
Erdungs-Anschlüsse 63 bis 67 können abweichend
von einer Richtung der Filteranordnung positioniert sein. Dadurch
können
die Verbindungsfelder größer ausgebildet
sein. Als ein Ergebnis hiervon können
die Erdungs-Anschlüsse 63 bis 67 und die
Erdungs-Leiterbahn 45 mit höherer Zuverlässigkeit
verbunden werden.
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(Ausführungsbeispiel 4)
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7 ist
eine perspektivische Ansicht, die eine Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung
bezogen auf das vierte Ausführungsbeispiel
der gegenwärtigen
Erfindung darstellt. Wie in der Figur gezeigt, sind auf einer Grundplatte 31 zwei
Chips 71 und 72, deren piezoelektrische Substrate
unterschiedlich in ihrer Dicke sind, ausgebildet um eine Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung
aufzubauen. Mit einem solchen Aufbau können Oberflächen-Schallwellen-Chips unterschiedlicher
Eigenschaften in einem Vielfach-Chip gebildet werden.
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Als
ein Verfahren für
das Montieren solcher Chips unterschiedlicher Dicke ist das in 8 dargestellte
Montageverfahren zu bevorzugen. Das bedeutet, zuerst wird ein Chip 71 eines
Substrats geringer Dicke (zum Beispiel 0,35 mm) mittels des Chip-Wende-Verfahrens
mit einem Werkzeug 80 montiert. Danach wird ein Chip 72 eines
dickeren Substrats (Z.B. 0,5 mm) montiert. In diesem Fall, als ein
Beispiel, sind die Erhebungen Gold-Erhebungen mit einer Dicke von
etwa 30 μm,
die Chip-Dimension ist 1 mm × 1,5
mm, und ein spitzes Ende des Werkzeugs ist 1,5 mm ϕ.
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Das
Werkzeug 80 hat ein spitzes Ende, das einen ganzen oberen
Teil des Chips bedecken kann. Das Werkzeug 80 dieser Größe ist zu
einem Chip ausgerichtet und ist mit diesem in Kontakt.
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Als
eine Folge hiervon, kann der Chip nicht durch Kontakt mit einer
Kante des Werkzeugs weg geschoben werden. Die auf den Chip ausgeübte Kraft
ist gleichförmig,
um eine gleichförmige
Verbindung mit der Erhebung zu ergeben.
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Die
in diesem Ausführungsbeispiel
verwendete Gold-Erhebung mit einem Durchmesser von 30 μm kollabiert
während
der Verbindung auf ungefähr 20 μm. Hier ist
der Unterschied der Dicken des Chips 72, das ein Substrat
mit der Dicke von 0,5 mm hat und als zweites mittels des Chip-Wende-Verfahrens montiert
ist, und des Chips 71, das zuerst montiert ist und ein
Substrat von 0,35 mm hat, gleich 0,15 mm.
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Entsprechend
kann beim Montieren des Chips 72, auch wenn 20 μm Spiel der
Dicke eines Wavers und das Spiel der Erhebungen betrachtet wird,
das Werkzeug 80 und das Chip 71 mit einem ausreichenden
Spalt angeordnet sein.
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Entsprechend
wird das spitze Ende des Werkzeugs 80 auch beim Montieren
des zweiten Chips 72 mittels des Chip-Wende-Verfahrens nicht
in Kontakt mit dem vorher montierten Chip 71 kommen. Als
ein Ergebnis hiervon wird die Verbindung des vorher montierten Chips
nicht beschädigt.
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9 ist
ein Blockdiagramm, das eine Funkkommunikations-Einheit entsprechend dem fünften Ausführungsbeispiel
der gegenwärtigen
Erfindung zeigt. In diesem Ausführungsbeispiel
ist eine Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung
in einer Funkkommunikations-Einheit eingebaut um Funksignale, die
zwei Frequenzbänder
einschließen,
zu verarbeiten.
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Durch
eine Antenne 110 eingehende Signale werden durch einen
Duplexer 120 in eine Empfangsleitung eingeführt und
durch zu den entsprechenden Frequenzbändern korrespondierende Verstärker einem
Empfangs-Filter 140 zugeführt. Aus den durch das Empfangs-Filter 140 ausgegebenen
Signalen werden Signale eines Frequenzbandes durch einen Schalter 150 ausgewählt. Die
ausgewählten
Signale werden durch einen Mischer 160 auf eine Zwischenfrequenz
erniedrigt und in einen Signalprozessor 170 eingespeist.
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Andererseits
werden die von einem Signalprozessor 180 ausgegebenen Signale
durch einen Mischer 190 in Signale der Sendefrequenz umgesetzt
und durch einen Schalter 200 werden Signale eines Frequenzbandes
für die
Eingabe in ein Sende-Filter 210 ausgewählt. Die
von dem Sende-Filter 210 ausgegebenen Signale werden durch
die zu den entsprechenden Frequenzbändern korrespondierenden Verstärker 220 und
einen Duplexer 120 von einer Antenne 110 ausgegeben.
Die Schalter 150 und 200 des gegenwärtigen Ausführungsbeispiels
stellen externe Auswahl-Schaltungen dar.
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Hier
werden von einem Synthesizer 230 ausgegebene Oszillations-Signale
durch ein Filter 240 oder ein Filter 250 in die
Mixer 160 oder 190 eingegeben.
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In
dem gegenwärtigen
Ausführungsbeispiel werden
in dem zuvor genannten Empfangs-Filter 140 und dem Sende-Filter 210 Signale
zweier Frequenzbänder
verarbeitet. Entsprechend ist die im ersten Ausführungsbeispiel dargestellte
Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung
als ein Bandpass-Filter in jedem Frequenzband verwendet.
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Die
Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung entsprechend
der gegenwärtigen
Erfindung kann als ein Duplexer 120 verwendet werden.
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(Andere Ausführungsbeispiele)
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Die
Verkörperung
der gegenwärtigen
Erfindung ist nicht auf die vorgenannten Ausführungsbeispiele beschränkt. Sofern
im Bereich der technischen Idee der gegenwärtigen Erfindung, kann diese
ausgeweitet und modifiziert werden. Diese erweiterten und modifizierten
Verkörperungen
sind ebenso in der gegenwärtigen
Erfindung enthalten.
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Als
Beispiele für
Erweiterung und Modifikation kann folgendes angeführt werden.
- (1) Obgleich zwei Chips verwendet werden um eine
Oberflächen-Schallwellen-Vorrichtung
in den obigen Ausführungsbeispielen
aufzubauen, können
auch drei oder mehr Chips für
den Aufbau verwendet werden.
Auch in diesem Falle ist es vorteilhaft,
dass die entsprechenden Chips der Erdungs-Leiterbahn 45 auf
der Grundplatte 31 zugewandt sind, um zu verhindern das
sich Signale und Rauschen vermischen.
Außerdem ist es vorteilhaft,
dass auf der Fläche zwischen
den Signal-Leiterbahnen 41 bis 44 auf der Grundplatte 31 ein
Teil der Erdungs-Leiterbahn 45 existiert. Weiter ist es
vorteilhaft, wenn die Signal-Leiterbahnen 41 bis 44,
mit Ausnahme einer ihrer Seiten oder Kanten, umgeben sind in einem
Zustand benachbart zu der Erdungs-Leiterbahn 45.
- (2) Wenn Oberflächen-Schallwellen-Chips
mit voneinander unterschiedlichen Eigenschaften verwendet werden,
dann können
die folgenden Verfahren für
das Unterscheiden der Eigenschaften betrachtet werden.
- a. Das Substratmaterial eines piezoelektrischen Substrats oder
eine geschnittene Oberfläche
davon wird unterschiedlich gefertigt, entsprechend den für das entsprechende
Chip erforderlichen Eigenschaften.
Zum Beispiel kann aus den
piezoelektrischen Substraten wie 41Y und 64Y des LiNbO3 und 36Y, 42Y
und X-112Y des LiTaO3, oder Quartz und Li2B4O5, eine geeignete Kombination
ausgewählt
werden.
- b. Äußere Dimensionen
der Chips können
unterschiedlich gemacht werden.
In diesem Fall kann eine Vielzahl
von Chips unterschiedlicher Länge
oder unterschiedlicher Breite verwendet werden.
- c. In Übereinstimmung
mit den erforderlichen Eigenschaften für jedes Chip, kann Dicke und
Material oder die Anzahl der Schichten variiert werden.
- d. Das Breitenverhältnis
der Elektroden-Finger (Breite der Elektroden-Finger zu Abstand der Elektroden-Finger) wird verschieden
gemacht.
- (3) Die Oberflächenrauhigkeit
der rückwärtigen Oberfläche des
Substrats kann unterschiedlich gemacht werden. In diesem Fall können die
Chips leicht unterschieden werden.