DE69112797T2 - Pyrolyseverfahren in umgekehrter Richtung. - Google Patents
Pyrolyseverfahren in umgekehrter Richtung.Info
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- DE69112797T2 DE69112797T2 DE69112797T DE69112797T DE69112797T2 DE 69112797 T2 DE69112797 T2 DE 69112797T2 DE 69112797 T DE69112797 T DE 69112797T DE 69112797 T DE69112797 T DE 69112797T DE 69112797 T2 DE69112797 T2 DE 69112797T2
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 42
- 238000000197 pyrolysis Methods 0.000 title description 9
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 title description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 124
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 75
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 43
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 31
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 25
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 23
- 238000005524 ceramic coating Methods 0.000 claims description 13
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 13
- 239000000112 cooling gas Substances 0.000 claims description 9
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims description 3
- 238000002468 ceramisation Methods 0.000 claims 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 37
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 36
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 34
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 32
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 19
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 19
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 18
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 18
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 17
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 16
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 12
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 239000000463 material Substances 0.000 description 11
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 description 11
- QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N nitrogen group Chemical group [N] QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 10
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 8
- -1 for example Polymers 0.000 description 8
- 238000000623 plasma-assisted chemical vapour deposition Methods 0.000 description 8
- 150000001343 alkyl silanes Chemical class 0.000 description 7
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 7
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 7
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 7
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 7
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 7
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 7
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 7
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 6
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 6
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 6
- 150000001335 aliphatic alkanes Chemical class 0.000 description 5
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 5
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 5
- FFUAGWLWBBFQJT-UHFFFAOYSA-N hexamethyldisilazane Chemical group C[Si](C)(C)N[Si](C)(C)C FFUAGWLWBBFQJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000006460 hydrolysis reaction Methods 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 229920003209 poly(hydridosilsesquioxane) Polymers 0.000 description 4
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 description 4
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Chemical compound [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N N-Heptane Chemical compound CCCCCCC IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 3
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 3
- 230000007062 hydrolysis Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 3
- MWUXSHHQAYIFBG-UHFFFAOYSA-N nitrogen oxide Inorganic materials O=[N] MWUXSHHQAYIFBG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 3
- KLFRPGNCEJNEKU-FDGPNNRMSA-L (z)-4-oxopent-2-en-2-olate;platinum(2+) Chemical compound [Pt+2].C\C([O-])=C\C(C)=O.C\C([O-])=C\C(C)=O KLFRPGNCEJNEKU-FDGPNNRMSA-L 0.000 description 2
- AMRPAMSVFKIGHT-UHFFFAOYSA-N 1-phenyl-4-piperidin-1-ylpyrazolo[3,4-d]pyrimidine Chemical compound C1CCCCN1C1=NC=NC2=C1C=NN2C1=CC=CC=C1 AMRPAMSVFKIGHT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 101150093769 BUR1 gene Proteins 0.000 description 2
- 101150033317 BUR2 gene Proteins 0.000 description 2
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 101100165723 Candida albicans (strain SC5314 / ATCC MYA-2876) CRK1 gene Proteins 0.000 description 2
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 2
- 101100165726 Emericella nidulans (strain FGSC A4 / ATCC 38163 / CBS 112.46 / NRRL 194 / M139) ptkA gene Proteins 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 101100165729 Neurospora crassa (strain ATCC 24698 / 74-OR23-1A / CBS 708.71 / DSM 1257 / FGSC 987) stk-1 gene Proteins 0.000 description 2
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 101100165731 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) SGV1 gene Proteins 0.000 description 2
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 2
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 235000013870 dimethyl polysiloxane Nutrition 0.000 description 2
- SNRUBQQJIBEYMU-UHFFFAOYSA-N dodecane Chemical compound CCCCCCCCCCCC SNRUBQQJIBEYMU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 2
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 2
- IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N hydrogen chloride Substances Cl.Cl IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000041 hydrogen chloride Inorganic materials 0.000 description 2
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 2
- 229910052755 nonmetal Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 2
- 125000004430 oxygen atom Chemical group O* 0.000 description 2
- 230000036961 partial effect Effects 0.000 description 2
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 2
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 2
- 229920000435 poly(dimethylsiloxane) Polymers 0.000 description 2
- 125000001436 propyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 2
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 2
- 238000010791 quenching Methods 0.000 description 2
- 150000003254 radicals Chemical class 0.000 description 2
- 150000003377 silicon compounds Chemical class 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- 125000000391 vinyl group Chemical group [H]C([*])=C([H])[H] 0.000 description 2
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 description 2
- KILURZWTCGSYRE-MUCWUPSWSA-K (e)-4-bis[[(e)-4-oxopent-2-en-2-yl]oxy]alumanyloxypent-3-en-2-one Chemical compound CC(=O)\C=C(/C)O[Al](O\C(C)=C\C(C)=O)O\C(C)=C\C(C)=O KILURZWTCGSYRE-MUCWUPSWSA-K 0.000 description 1
- YOBOXHGSEJBUPB-MTOQALJVSA-N (z)-4-hydroxypent-3-en-2-one;zirconium Chemical compound [Zr].C\C(O)=C\C(C)=O.C\C(O)=C\C(C)=O.C\C(O)=C\C(C)=O.C\C(O)=C\C(C)=O YOBOXHGSEJBUPB-MTOQALJVSA-N 0.000 description 1
- POILWHVDKZOXJZ-ARJAWSKDSA-M (z)-4-oxopent-2-en-2-olate Chemical compound C\C([O-])=C\C(C)=O POILWHVDKZOXJZ-ARJAWSKDSA-M 0.000 description 1
- 125000003903 2-propenyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])=C([H])[H] 0.000 description 1
- 229910017105 AlOxNy Inorganic materials 0.000 description 1
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Natural products CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001157 Fourier transform infrared spectrum Methods 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910005842 GeS2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910004726 HSiO3/2 Inorganic materials 0.000 description 1
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 229910021604 Rhodium(III) chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910020175 SiOH Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910020286 SiOxNy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002808 Si–O–Si Inorganic materials 0.000 description 1
- BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N Tetraethyl orthosilicate Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)OCC BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910003092 TiS2 Inorganic materials 0.000 description 1
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HMDDXIMCDZRSNE-UHFFFAOYSA-N [C].[Si] Chemical compound [C].[Si] HMDDXIMCDZRSNE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- 125000003668 acetyloxy group Chemical group [H]C([H])([H])C(=O)O[*] 0.000 description 1
- 150000001252 acrylic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 125000004423 acyloxy group Chemical group 0.000 description 1
- 239000003570 air Substances 0.000 description 1
- 238000007605 air drying Methods 0.000 description 1
- 150000001298 alcohols Chemical class 0.000 description 1
- 125000002723 alicyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 125000001931 aliphatic group Chemical group 0.000 description 1
- 125000003342 alkenyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000304 alkynyl group Chemical group 0.000 description 1
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004945 aromatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 150000005840 aryl radicals Chemical class 0.000 description 1
- 230000003190 augmentative effect Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 229910052593 corundum Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001923 cyclic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 125000000113 cyclohexyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])C1([H])[H] 0.000 description 1
- 125000001511 cyclopentyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C1([H])[H] 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000001627 detrimental effect Effects 0.000 description 1
- MROCJMGDEKINLD-UHFFFAOYSA-N dichlorosilane Chemical compound Cl[SiH2]Cl MROCJMGDEKINLD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- ZMAPKOCENOWQRE-UHFFFAOYSA-N diethoxy(diethyl)silane Chemical compound CCO[Si](CC)(CC)OCC ZMAPKOCENOWQRE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004205 dimethyl polysiloxane Substances 0.000 description 1
- 238000003618 dip coating Methods 0.000 description 1
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 125000003700 epoxy group Chemical group 0.000 description 1
- NKSJNEHGWDZZQF-UHFFFAOYSA-N ethenyl(trimethoxy)silane Chemical compound CO[Si](OC)(OC)C=C NKSJNEHGWDZZQF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N ethylene glycol Natural products OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000002534 ethynyl group Chemical group [H]C#C* 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 125000003707 hexyloxy group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])O* 0.000 description 1
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 230000003301 hydrolyzing effect Effects 0.000 description 1
- WGCNASOHLSPBMP-UHFFFAOYSA-N hydroxyacetaldehyde Natural products OCC=O WGCNASOHLSPBMP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 description 1
- 230000000670 limiting effect Effects 0.000 description 1
- 238000004518 low pressure chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 150000001247 metal acetylides Chemical class 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- BFXIKLCIZHOAAZ-UHFFFAOYSA-N methyltrimethoxysilane Chemical compound CO[Si](C)(OC)OC BFXIKLCIZHOAAZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003472 neutralizing effect Effects 0.000 description 1
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010955 niobium Substances 0.000 description 1
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 229910000069 nitrogen hydride Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 125000000962 organic group Chemical group 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 239000003495 polar organic solvent Substances 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920003257 polycarbosilane Polymers 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 229920001709 polysilazane Polymers 0.000 description 1
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 1
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 239000002516 radical scavenger Substances 0.000 description 1
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 1
- 150000003284 rhodium compounds Chemical class 0.000 description 1
- SONJTKJMTWTJCT-UHFFFAOYSA-K rhodium(iii) chloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Cl-].[Rh+3] SONJTKJMTWTJCT-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 150000004756 silanes Chemical class 0.000 description 1
- SCPYDCQAZCOKTP-UHFFFAOYSA-N silanol Chemical compound [SiH3]O SCPYDCQAZCOKTP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 1
- 239000011877 solvent mixture Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000009987 spinning Methods 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 1
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UQMOLLPKNHFRAC-UHFFFAOYSA-N tetrabutyl silicate Chemical compound CCCCO[Si](OCCCC)(OCCCC)OCCCC UQMOLLPKNHFRAC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LFQCEHFDDXELDD-UHFFFAOYSA-N tetramethyl orthosilicate Chemical compound CO[Si](OC)(OC)OC LFQCEHFDDXELDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZQZCOBSUOFHDEE-UHFFFAOYSA-N tetrapropyl silicate Chemical compound CCCO[Si](OCCC)(OCCC)OCCC ZQZCOBSUOFHDEE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003568 thioethers Chemical class 0.000 description 1
- ZDHXKXAHOVTTAH-UHFFFAOYSA-N trichlorosilane Chemical compound Cl[SiH](Cl)Cl ZDHXKXAHOVTTAH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005052 trichlorosilane Substances 0.000 description 1
- CPUDPFPXCZDNGI-UHFFFAOYSA-N triethoxy(methyl)silane Chemical compound CCO[Si](C)(OCC)OCC CPUDPFPXCZDNGI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JCVQKRGIASEUKR-UHFFFAOYSA-N triethoxy(phenyl)silane Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)C1=CC=CC=C1 JCVQKRGIASEUKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZNOCGWVLWPVKAO-UHFFFAOYSA-N trimethoxy(phenyl)silane Chemical compound CO[Si](OC)(OC)C1=CC=CC=C1 ZNOCGWVLWPVKAO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 1
- GPPXJZIENCGNKB-UHFFFAOYSA-N vanadium Chemical compound [V]#[V] GPPXJZIENCGNKB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003039 volatile agent Substances 0.000 description 1
- 229910001845 yogo sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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- C23C18/1208—Oxides, e.g. ceramics
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- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C18/00—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
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Description
- Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Erzeugung einer homogenen keramischen Beschichtung auf einem Substrat. Bei dem Verfahren scheidet man eine präkeramische Beschichtung auf einem Substrat ab und erhitzt dann das Substrat, während ein Strom eines kühlenden Gases auf die äußere Oberfläche der präkeramischen Beschichtung geleitet wird, so daß sich in der Beschichtung ein Temperaturgradient ausbildet. Dieser Temperaturgradient bewirkt, daß das präkeramische Material in der Nähe der Grenzfläche zwischen Substrat und Beschichtung in seine keramische Form umgewandelt wird, während diese Umwandlung in dem präkeramischen Material in der Nähe der äußeren Oberfläche der Beschichtung abgeschreckt wird. Der Temperaturgradient wird dann mit der Zeit abgebaut, so daß das gesamte präkeramische Material vom Substrat ausgehend in Richtung nach außen zu einer homogenen Beschichtung auf dem Substrat keramifiziert wird.
- Die Erzeugung von dünnen, vielschichtigen keramischen oder keramikartigen Beschichtungen auf elektronischen Vorrichtungen bei niedriger Temperatur ist aus EP-A-0 270 231 bekannt. Diese Druckschrift beschreibt ein Verfahren zur Herstellung von Beschichtungen aus Hydrogensilsesquioxanharz und einem oder mehreren Metalloxiden, die danach mit einer oder mehreren Silicium, oder Silicium und Stickstoff, oder Silicium und Kohlenstoff und Stickstoff enthaltenden keramischen oder keramikartigen Beschichtungen versehen werden.
- Der Erfinder der gegenwärtigen Erfindung hat nun entdeckt, daß durch Verwendung des Verfahrens nach dieser Erfindung die Keramifizierung von Beschichtungen wirksamer kontrolliert werden kann, so daß die Keramifizierung sequentiell von dem Substrat ausgehend nach außen fortschreitet, wodurch eine hochwertige, einheitliche Beschichtung erzeugt wird.
- Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Erzeugung einer keramischen Beschichtung auf einem Substrat. Bei dem Verfahren bringt man eine Beschichtung auf ein Substrat auf, die eine präkeramische Verbindung enthält. Dann wird ein Temperaturgradient in der Beschichtung eingestellt, indem man das Substrat auf eine Temperatur erhitzt, die ausreicht, um die Keramifizierung an der inneren Oberfläche der Beschichtung zu fördern, während man einen Kühlgasstrom auf die äußere Oberfläche der Beschichtung richtet. Das Kühlgas wird in einer Menge und mit einer Temperatur verwendet, die ausreichen, um die Keramifizierung an der äußeren Oberfläche der Beschichtung abzuschrecken. Der Temperaturgradient in der Beschichtung wird dann genügend vermindert, um die Keramifizierung an der äußeren Oberfläche der Beschichtung zu fördern.
- Die vorliegende Erfindung gründet sich auf die Entdeckung, daß die Pyrolyse von präkeramischen Beschichtungen nach den hierin beschriebenen Verfahren zur Bildung von homogenen keramischen Beschichtungen führt. Es konnte gezeigt werden, daß diese Homogenität das direkte Ergebnis der Keramifizierung der präkeramischen Beschichtung vom Substrat nach außen hin ist.
- Die nach dem Verfahren dieser Erfindung erzeugten Beschichtungen sind von hoher Qualität und daher fortschrittlich, beispielsweise als Schutz- oder dielektrische Beschichtungen auf Substraten, wie elektronischen Vorrichtungen, elektronischen Schaltkreisen oder Kunststoffen, zu denen beispielsweise Polyimide, Epoxide, Polytetrafluorethylen und dessen Copolymere, Polycarbonate, Acrylate und Polyester zählen. Die Auswahl der Substrate und der Vorrichtungen, die nach der vorliegenden Erfindung beschichtet werden können, ist lediglich durch die Notwendigkeit begrenzt, daß das Substrat bei der Temperatur und in der Atmosphäre, in der das Verfahren durchgeführt wird, thermisch und chemisch stabil sein muß. Die hierin offenbarten Beschichtungen können auch als dielektrische Zwischenschichten, dotierte dielektrische Schichten zur Herstellung von transistorartigen Vorrichtungen, pigmentierte, Silicium enthaltende Bindersysteme zur Herstellung von Kondensatoren und kondensatorartigen Vorrichtungen, vielschichtigen Vorrichtungen, 3-D-Vorrichtungen, Silicium-auf-Isolator-Vorrichtungen (silicon on insulator devices), Supergittervorrichtungen (super lattice devices), Schutzschichten für Supraleiter bei hohen Temperaturen usw. verwendet werden.
- In der vorliegenden Erfindung ist die "äußere Oberfläche" einer Beschichtung diejenige Oberfläche, die mit der gasförmigen Umgebung der Beschichtung in Berührung steht, und die "innere Oberfläche" einer Beschichtung ist diejenige Oberfläche, mit der die Beschichtung das Substrat berührt; eine "präkeramische Verbindung" ist eine Verbindung, die durch Pyrolyse in eine Keramik umgewandelt werden kann; eine "präkeramische Beschichtung" ist eine Beschichtung aus einer präkeramischen Verbindung auf dem Substrat; und die Bezeichnungen "elektronische Vorrichtungen" oder "elektronischer Schaltkreis" umfassen, wenn auch nicht ausschließlich, Vorrichtungen auf Basis von Silicium oder Galliumarsenid, focal-plane-Anordnungen, optoelektronische Vorrichtungen, photovoltaische Zellen und optische Vorrichtungen.
- Das neue Beschichtungsverfahren nach der vorliegenden Erfindung umfaßt die folgenden Stufen:
- Auf die Oberfläche eines Substrats wird eine Beschichtung aufgebracht, die eine präkeramische Verbindung enthält; und
- die präkeramische Beschichtung wird auf die hierin beschriebene Weise in eine keramische Beschichtung umgewandelt.
- Zu den präkeramischen Verbindungen, die in dem Verfahren nach dieser Erfindung verwendet werden sollen, zählen beliebige Materialien, die durch Anwendung von Hitze in eine Keramik umgewandelt werden können. Diese Verbindungen können Vorläuferstoffe für verschiedene keramische Beschichtungen sein, beispielsweise aus Oxiden, wie SiO, Al&sub2;O&sub3;, TiO&sub2; oder ZrO&sub2;; Nitriden, wie Siliciumnitrid; Oxinitriden, wie SiOxNy oder AlOxNy; Oxicarbiden, wie SiOC; Carbonitriden, wie SiCN; Sulfiden, wie TiS&sub2; oder GeS&sub2;; Carbiden, wie SiC oder beliebigen Kombinationen der genannten Stoffe.
- Die bevorzugten präkeramischen Verbindungen, die in dem Verfahren nach dieser Erfindung verwendet werden können, sind Vorläuferstoffe für keramische Oxide, von denen Vorläuferstoffe für SiO oder Kombinationen von Vorläuferstoffen für SiO mit Vorläuferstoffen für andere Oxide besonders bevorzugt werden. Zu den für die Erfindung brauchbaren Vorläuferstoffen für Siliciumdioxid zählen Hydrogensilsesquioxanharz (H-Harz), hydrolysiertes oder teilhydrolysiertes RxSi(OR)4-x oder Kombinationen dieser Stoffe, wobei R für einen aliphatischen, alicyclischen oder aromatischen Substituenten mit 1 bis 20 Kohlenstoffatomen steht, beispielsweise für Alkyl (wie Methyl, Ethyl, Propyl), Alkenyl (wie Vinyl oder Allyl), Alkinyl (wie Ethinyl), Cyclopentyl, Cyclohexyl, Phenyl usw., und x für 0 bis 2 steht.
- Die Bezeichnung H-Harz wird in dieser Erfindung benutzt, um verschiedene Hydridosilanharze zu beschreiben, die entweder völlig kondensiert oder teilweise nur hydrolysiert und/oder kondensiert sein können. Beispiele für völlig kondensierte H-Harze sind diejenigen, die durch das Verfahren von Frye et al., US-Patent Nr. 3 615 272, erzeugt werden. Dieses polymere Material hat Einheiten der Formel (HSiO3/2)n, in der n im allgemeinen 10 bis 1.000 bedeutet. Das Harz hat ein zahlendurchschnittliches Molekulargewicht von etwa 800 bis 2.900 und ein gewichtsdurchschnittliches Molekulargewicht zwischen etwa 8.000 und 28.000. Wenn dieses Material genügend erhitzt wird, ergibt es eine keramische Beschichtung, die im wesentlichen frei von SiH-Bindungen ist.
- Zu den Beispielen für H-Harze, die nicht völlig kondensiert sind (Polymere mit Einheiten der Formel HSi(OH)xO(3-x)/2) zählen die von Bank et al., US-Patent Nr. 5 010 154, sowie diejenigen, die von Frye et al. im US-Patent Nr. 4 999 397 beschrieben sind. Bank et al. beschreiben ein Verfahren, bei dem man Hydridosilane in einem Arylsulfonsäurehydrat enthaltenden Hydrolysemedium zu einem Harz hydrolysiert, das dann mit einem Neutralisierungsmittel in Berührung gebracht wird. Kürzliche Versuche haben gezeigt, daß ein besonders bevorzugtes H- Harz, das im wesentlichen rißfreie Beschichtungen ergibt, nach diesem Verfahren hergestellt werden kann, wobei das Verhältnis von Säure zu Silan größer als etwa 2,67:1 ist und vorteilhaft etwa 6:1 beträgt. Frye et al. beschreiben ein Verfahren, bei dem man Trichlorsilan in einem schwefelfreien organischen Lösungsmittel durch Zusatz von Wasser oder Chlorwasserstoff und eines Metalloxids hydrolysiert. Das Metalloxid wirkt dabei als Chlorwasserstoffänger und dient als kontinuierliche Wasserquelle.
- Beispiele für H-Harze, die nicht völlig hydrolysiert oder kondensiert sind, sind die von Baney et al. im europäischen Patent Nr. 443 760, veröffentlicht am 28. August 1991, beschriebenen Harze. Dieses Patent beschreibt lösliche Polymere mit Einheiten der Formel HSi(OH)x(OR)yOz/2, in der R jeweils unabhängig einen organischen Rest bedeutet, der bei Bindung an das Siliciumatom über das Sauerstoffatom einen hydrolysierbaren Substituenten bildet, x = 0-2, y = 0,2, z = 1-3, x + y + z = 3 und der durchschnittliche Wert von y über alle Einheiten des Polymeren größer als 0 ist. Zu den Beispielen für Reste R in der obigen Formel zählen Alkylreste mit 1 bis 6 Kohlenstoffatomen, wie Methyl, Ethyl und Propyl; Arylreste, wie Phenyl; und Alkenylreste, wie Vinyl. Wie in dem Patent beschrieben, können diese Harze nach einem Verfahren hergestellt werden, bei dem man ein Hydridosilan mit über Sauerstoff gebundenen Kohlenwasserstoffresten mit Wasser in einem angesäuerten, sauerstoffhaltigen polaren organischen Lösungsmittel hydrolysiert.
- Die zweite Art von hierin brauchbaren Vorläuferstoffen für Siliciumdioxid sind hydrolysierte oder teilhydrolysierte Verbindungen der Formel RxSi(OR)4-x, in der R und x wie zuvor definiert sind. Zu den speziellen Verbindungen dieser Art zählen diejenigen, in denen das Siliciumatom an Gruppen gebunden ist, die keine hydrolysierbare Substituenten sind (d.h. x = 1 bis 2), wie Methyltriethoxysilan, Phenyltriethoxysilan, Diethyldiethoxysilan, Methyltrimethoxysilan, Phenyltrimethoxysilan und Vinyltrimethoxysilan. Verbindungen, in denen x = 2 ist, werden im allgemeinen nicht für sich allein verwendet, da aus ihnen bei der Pyrolyse flüchtige cyclische Verbindungen entstehen, aber untergeordnete Mengen dieser Verbindungen können mit anderen Silanen cohydrolysiert werden, um brauchbare präkeramische Materialien zu erzeugen. Zu anderen Verbindungen dieser Art zählen diejenigen, in denen das Silicium ausschließlich an hydrolysierbare Substituenten gebunden ist (d.h. x = 0), wie Tetramethoxysilan, Tetraethoxysilan, Tetrapropoxysilan und Tetrabutoxysilan.
- Der Zusatz von Wasser zu einer Lösung dieser Verbindungen in einem organischen Lösungsmittel führt zur Hydrolyse oder Teilhydrolyse. Im allgemeinen wird eine kleine Menge einer Säure oder Base verwendet, um die Hydrolysereaktion zu fördern. Die entstandenen Hydrolysate oder Teilhydrolysate können Siliciumatome enthalten, die an Kohlenstoff, OH- oder OR-Gruppen gebunden sind, es wird jedoch angenommen, daß ein erheblicher Teil des Materials zu löslichen Si-O-Si-Harzen kondensiert wird.
- Weitere Vorläuferstoffe für Siliciumdioxid, die in dieser Erfindung in äquivalenter Weise wirken können, sind u.a. kondensierte Ester der Formel (RO)&sub3;SioSi(OR)&sub3;, Disilane der Formel (RO)xRySiSiRy(OR)x, Verbindungen mit Struktureinheiten, wie SiOC, bin denen die kohlenstoffhaltige Gruppe unter den herrschenden thermischen Bedingungen hydrolysierbar ist, oder beliebige andere Quellen für SiOR.
- Neben den obigen Vorläuferstoffen für SiO&sub2; können auch andere Vorläuferstoffe für keramische Oxide vorteilhaft hierin verwendet werden, entweder als einziges Beschichtungsmittel oder in Kombination mit den obigen Vorläuferstoffen für SiO&sub2;. Zu den hierin insbesondere in Erwägung gezogenen Vorläuferstoffen für keramische Oxide zählen Verbindungen verschiedener Metalle, wie Aluminium, Titan, Zirkonium, Tantal, Niobium und/oder Vanadium, ebenso wie verschiedene nichtmetallische Verbindungen, wie diejenigen des Bors oder Phosphors, die in einem Lösungsmittel gelöst, hydrolysiert und danach bei verhältnismäßig niedrigen Temperaturen und mit verhältnismäßig großer Reaktionsgeschwindigkeit zu Beschichtungen aus keramischen Oxiden pyrolysiert werden können.
- Die obigen Vorläuferstoffe für keramische Oxide haben im allgemeinen eine oder mehrere hydrolysierbare Gruppen, je nach der Valenz des Metalls oder Nichtmetalls. Die Zahl der hydrolysierbaren Gruppen in diesen Verbindungen ist nicht kritisch, solange die Verbindung in dem Lösungsmittel löslich ist. Gleichermaßen ist die exakte Auswahl des hydrolysierbaren Substituenten nicht kritisch, da die Substituenten aus dem System hinaushydrolysiert oder -pyrolysiert werden. Zu den typischen hydrolysierbaren Gruppen zählen, wenn auch nicht ausschließlich, Alkoxygruppen, wie Methoxy, Propoxy, Butoxy und Hexoxy; Acyloxygruppen, wie Acetoxy; oder andere organische Gruppen, die an das Metall oder Nichtmetall über ein Sauerstoffatom gebunden sind, wie Acetylacetonat. Spezifische Verbindungen sind daher u.a. Zirkontetraacetylacetonat, Titandibutoxydiacetylacetonat, Aluminiumtriacetylacetonat und Tetraisobutoxytitan.
- Wenn SiO&sub2; mit einem der obigen Vorläuferstoffe für keramische Oxide kombiniert werden soll, wird dieser im allgemeinen in einer Menge eingesetzt, daß die endgültige keramische Beschichtung 70 bis 99,9 Gew.% SiO&sub2; enthält.
- Bei dem bevorzugten Verfahren zum Aufbringen der Beschichtung, die die obige präkeramische Verbindung oder Verbindungen enthält, beschichtet man das Substrat mit einer Lösung, die ein Lösungsmittel und die präkeramische Verbindung oder Verbindungen enthält, worauf das Lösungsmittel verdampft wird. Eine solche Lösung wird im allgemeinen hergestellt, indem man die präkeramische Verbindung einfach in einem Lösungsmittel oder Lösungsmittelgemisch löst. Verschiedene fördernde Maßnahmen, wie Rühren und/oder Erhitzen, können getroffen werden, um die Lösung zu fördern.
- Zu den in diesem Verfahren verwendeten Lösungsmitteln zählen z.B. Alkohole, wie Ethyl- oder Isopropylalkohol; aromatische Kohlenwasserstoffe, wie Benzol oder Toluol; Alkane, wie n-Heptan oder Dodecan; Ketone; cyclische Dimethylpolysiloxane; Ester oder Glykolether, in einer ausreichenden Menge, um die obigen Materialien mit niedrigem Feststoffgehalt zu lösen. Beispielsweise kann eine genügende Menge der obigen Lösungsmittel verwendet werden, um eine Lösung mit 0,1 bis 85 Gew.% feststoffgehalt herzustellen.
- Wenn Hydrogensilsesquioxanharz verwendet wird, kann auch ein Platin- oder Rhodiumkatalysator in der obigen Beschichtungslösung vorhanden sein, um die Geschwindigkeit und das Ausmaß der Umwandlung in Siliciumdioxid zu steigern. Beliebige Platin- oder Rhodiumverbindungen oder -komplexe, die in dieser Lösung gelöst werden können, sind brauchbar. Beispielsweise liegen Organoplatinverbindungen, wie Platinacetylacetonat, oder der Rhodiumkatalysator RhCl&sub3;{S(CH&sub2;CH&sub2;CH&sub2;CH&sub3;)&sub2;]&sub3;, zu beziehen von Dow Corning Corporation, Midland, Michigan, alle innerhalb des Bereichs diesererfindung. Die obigen Katalysatoren werden der Lösung im allgemeinenin einer Menge zwischen etwa 5 und 500 ppm Platin oder Rhodium, bezogen auf das Gewicht des Harzes, zugesetzt.
- Die Lösung, die die präkeramische(n) Verbindung(en), das Lösungsmittel und gegebenenfalls einen Platin- oder Rhodiumkatalysator enthält, wird dann auf das Substrat aufgebracht. Das Beschichtungsverfahren kann z.B. Spin- Beschichtung, Tauchbeschichtung, Spritzen oder Flutbeschichtung sein.
- Man läßt das Lösungsmittel verdampfen, was zur Abscheidung einer präkeramischen Beschichtung führt. Beliebige geeignete Methoden zur Verdampfung können angewandt werden, z.B. einfaches Trocknen an der Luft, indem man den beschichteten Gegenstand der Umgebung aussetzt, oder die Anwendung von Vakuum oder leichtes Erwärmen. Es sollte bemerkt werden, daß bei Anwendung von Spin-Beschichtung ein zusätzlicher Trockenschritt im allgemeinen nicht erforderlich ist, da das Lösungsmittel beim Spin-Vorgang abgetrieben wird.
- Es sollte bemerkt werden, daß die zuvor beschriebenen Verfahren zum Aufbringen der präkeramischen Beschichtung sich in erster Linie auf ein Lösungsverfahren konzentrieren. Andere gleichwertige Methoden zum Aufbringen solcher Beschichtungen würden jedoch ebenfalls hierin brauchbar sein und werden als im Bereich dieser Erfindung liegend angesehen.
- Die nach dem obigen Verfahren aufgebrachte präkeramische Beschichtung wird dann in eine keramische Beschichtung umgewandelt, indem man sie auf eine Temperatur erhitzt, die für die Keramifizierung ausreichend ist. Die Hitzebehandlung wird hierin durchgeführt, indem man das Substrat erhitzt, während ein Kühlgasstrom mit einer Fließgeschwindigkeit und einer Temperatur, die die Umwandlung an der äußeren Oberfläche der präkeramischen Beschichtung in eine keramische Beschichtung abschrecken, auf die äußere Oberfläche der präkeramischen Beschichtung gerichtet wird, um einen Temperaturgradienten in der Beschichtung einzustellen. Der Temperaturgradient in der Beschichtung wird dann genügend vermindert, um die Keramifizierung an der äußeren Oberfläche der Beschichtung zu fördern.
- Das Substrat wird hierin vorzugsweise erhitzt, indem man es mit der Rückseite auf eine Weise auf eine Heizquelle legt, die sicherstellt, daß ein überwiegender Teil der Wärme von der Heizquelle auf das Substrat übergeht, und nicht in die Umgebung, in der das Verfahren durchgeführt wird. Dies ist im allgemeinen der Fall, wenn der Abstand zwischen der Heizquelle und der Beschichtung maximiert wird, während der Abstand zwischen der Heizquelle und dem Substrat minimiert wird. Die Bezeichnung "Rückseite" eines Substrats bedeutet hierin diejenige Seite, auf die keine präkeramische Beschichtung aufgebracht worden ist. So kann z.B. die Oberseite eines elektronischen Schaltkreises auf die hierin beschriebene Weise beschichtet worden sein und dann die Heizquelle an dessen Rückseite angelegt werden. Alternativ kann jedoch das Substrat auf andere geeignete Weise erhitzt werden, z.B. auf die in dem hierin enthaltenen Beispiel beschriebene Weise, vorausgesetzt es ist möglich, daß die Beschichtung vom Substrat aus nach außen hin keramifiziert wird.
- Die hierin zu verwendende Heizquelle kann ein beleibiges Heizgerät sein, das das Substrat auf die gewünschte Temperatur erhitzt. Im allgemeinen sollte das Heizgerät eine größere thermische Masse als das Substrat haben, so daß das Substrat wirksam und einheitlich erhitzt wird. Zu den Beispielen für solche Vorrichtungen zählen übliche Heizplatten, Heizpatronen, Graphitheizer, optische Heizquellen usw.
- Im allgemeinen werden die Substrate auf eine Temperatur im Bereich zwischen etwa 50 bis etwa 1.000ºC erhitzt, je nach der Pyrolyseatmosphäre, und für einen Zeitraum, der für die Umwandlung der präkeramischen Verbindung in ihre keramische Form ausreichend ist. Das Erhitzen kann bewirkt werden, indem man das Substrat auf eine Heizquelle legt, die bereits erwärmt ist, oder die Heizquelle kann erwärmt werden, nachdem das Substrat auf sie gelegt worden ist.
- Überdies kann das Erhitzen bei konstanter Temperatur stattfinden, kann die Temperatur kontinuierlich gesteigert werden, oder die Temperatur kann schrittweise verändert werden. Höhere Temperaturen führen im allgemeinen zu schnellerer und vollständigerer Keramifizierung, aber diese Temperaturen können auch schädliche Wirkungen auf verschiedene temperaturempfindliche Substrate haben.
- Während Hitze von der Rückseite des Substrats her angewandt wird, wird ein Gasstrom auf die äußere Oberfläche der keramischen Beschichtung gerichtet. Das hierin verwendete Gas sollte anfänglich eine Temperatur haben, die niedriger ist als die Temperatur des erhitzten Substrats. Weiterhin sollte das Gas anfänglich mit einer Geschwindigkeit strömen, die die Temperatur der äußeren Oberfläche der Beschichtung unterhalb der Temperatur hält, die für die Keramifizierung erforderlich ist, und zwar solange wie erforderlich, um die günstigen Ergebnisse dieser Erfindung zu erzielen. Ein solches Gas wird hierin als "Kühlgas" bezeichnet. Auf diese Weise wird ein Temperaturgradient innerhalb des films in Richtung senkrecht auf der Film/Substrat-Ebene eingestellt, so daß die Umwandlung der Beschichtung in ihren keramischen Zustand an der Grenzfläche von Substrat und Beschichtung wirksamer als an der äußeren Oberfläche ist. Diese Bedingungen fördern (1) die Freisetzung von flüchtigen Stoffen, die während der Pyrolyse der Beschichtung entstehen, und (2) die Diffusion von Prozeßgasen in den Film, wo sie die Keramifizierung beeinflussen können.
- Der Temperaturgradient in der Beschichtung wird dann genügend vermindert, um die Keramifizierung an der äußeren Oberfläche der Beschichtung zu fördern. Dies kann z.B. geschehen, indem man die Gastemperatur und/oder die Strömungsgeschwindigkeit anpaßt oder indem man die Heizquelle im Verlauf der Zeit anpaßt. Es sollte bemerkt werden, daß unter vielen der oben beschriebenen Pyrolysebedingungen die äußere Oberfläche der Beschichtung keramifiziert wird, wenn man lediglich die Heizleistung und die Gastemperatur sowie die Strömungsgeschwindigkeit genügend lange aufrechterhält (weil schließlich die äußere Oberfläche der Beschichtung durch Wärmeleitung auf eine Temperatur höher als die Keramifizierungstemperatur erhitzt wird, selbst wenn Kühlgas auf die Oberfläche gerichtet wird). Nach diesem Verfahren wird die Beschichtung vom Inneren her nach außen hin keramifiziert.
- Die hierin verwendbaren Kühlgase können beliebige Gase sein, die üblicherweise für die Keramifizierung verwendet werden, z.B. diejenigen, die mit der Beschichtung reagieren und die Keramifizierung fördern, oder diejenigen, die die Beschichtung dotieren. Beispielsweise sind Gase wie Luft, Sauerstoff, Inertgase (N&sub2; usw.), wie in EP-A-427 395 beschrieben), Ammoniak (wie im US-Patent Nr. 4 747 162 oder in EP-A-461 782 beschrieben) oder Amine (wie in EP-A-460 868 beschrieben) hierin verwendbar. Weiterhin werden dotierende Gase, wie PH&sub3; zum Einbau von Phosphor, B&sub2;H&sub6; zum Einbau von Bor und NH&sub3; zum Einbau von Stickstoff, hierin in Erwägung gezogen. Schließlich wird erwogen, daß auch Gemische der obigen Gase verwendet werden können.
- Die Temperatur und die Strömungsgeschwindigkeit des Gases oder der verwendeten Gase sollte anfänglich so sein, daß ein Temperaturgradient, wie zuvor beschrieben, in der Beschichtung eingestellt wird. Daher sollte die Gastemperatur niedriger sein als für die Keramifizierung erwünscht ist, und je nach der gewählten Gastemperatur und der Größe der Beschichtung kann die Strömungsgeschwindigkeit angepaßt werden, um den Temperaturgradienten zu regeln. Das Prozeßgas kann hierin bei jeder Temperatur oberhalb seines Verflüssigungspunktes verwendet werden.
- Die für die Umwandlung der präkeramischen Beschichtung in eine keramische Beschichtung erforderliche Zeit schwankt, abhängig von Faktoren, wie der präkeramischen Verbindung, der Temperatur, dem Temperaturgradienten, der Heizquelle, dem Gas, der Geschwindigkeit, mit der der Temperaturgradient verändert wird, der Dicke der Beschichtung usw. Es werden daher Zeiten im Bereich von Minuten bis Stunden in Erwägung gezogen. Für die zuvor beschriebenen Vorläuferstoffe für Siliciumdioxid werden Zeiten im Bereich von etwa 1 Minute bis etwa 8 Stunden erwogen.
- Nach dem obigen Verfahren wird eine dünne, homogene keramische Beschichtung auf dem Substrat erzeugt. Solche Beschichtungen sind auf verschiedenen Substraten als Schutzschichten, als korrosionsbeständige und abriebbeständige Beschichtungen, als temperatur- und feuchtigkeitsbeständige Beschichtungen, als dielektrische Beschichtungen, z.B. in vielschichtigen elektronischen Vorrichtungen, sowie als Diffusionsbarrieren gegen ionische Verunreinigungen, wie Natrium- und Chlorid-Ionen, brauchbar.
- Weiterhin können die Beschichtungen hierin durch andere Beschichtungen abgedeckt werden, z.B. durch weitere SiO&sub2;Beschichtungen, Beschichtungen aus SiO&sub2; und keramischen Oxiden, Silicium enthaltende Beschichtungen, Silicium und Kohlenstoff enthaltende Beschichtungen, Silicium und Stickstoff enthaltende Beschichtungen, Silicium sowie Sauerstoff und Stickstoff enthaltende Beschichtungen, Silicium sowie Stickstoff und Kohlenstoff enthaltende Beschichtungen und/oder diamantartigen Kohlenstoffbeschichtungen.
- In einem aus zwei Schichten bestehenden System kann die zweite, passivierende Schicht ausgewählt sein aus Silicium enthaltenden Beschichtungen, Silicium und Kohlenstoff enthaltenden Beschichtungen, Silicium-Oxynitrid-Beschichtungen, Silicium und Stickstoff enthaltenden Beschichtungen, Silicium und Kohlenstoff enthaltenden Beschichtungen, weiteren Siliciumdioxidbeschichtungen (die ein modifizierendes keramisches Oxid enthalten können) oder diamantartigen Kohlenstoffbeschichtungen. In einem aus drei Schichten bestehenden System, kann die zweite, passivierende Schicht ausgewählt sein aus Silicium und Kohlenstoff enthaltenden Beschichtungen, Silicium-Oxynitrid-Beschichtungen, Silicium und Stickstoff enthaltenden Beschichtungen, Silicium sowie Kohlenstoff und Stickstoff enthaltenden Beschichtungen, weiteren Siliciumdioxidbeschichtungen (die ein modifizierendes keramisches Oxid enthalten können) oder diamantartigen Kohlenstoffbeschichtungen, und die dritte Schicht, eine Barriereschicht, kann ausgewählt sein aus Siliciumbeschichtungen, Silicium und Kohlenstoff enthaltenden Beschichtungen, Silicium-Oxynitrid-Beschichtungen, Silicium und Stickstoff enthaltenden Beschichtungen, Silicium sowie Kohlenstoff und Stickstoff enthaltenden Beschichtungen oder diamantartigen Kohlenstoffbeschichtungen.
- Die oben erwähnte Silicium enthaltende Beschichtung kann nach einem Verfahren aufgebracht werden, das ausgewählt ist aus der Gruppe, bestehend aus (a) Abscheidung aus chemischen Dämpfen eines Silans, Halogensilans, Halogendisilans, Halogenpolysilans oder eines Gemisches dieser Stoffe, (b) durch Plasma geförderte Abscheidung aus chemischen Dämpfen eines Silans, Halogensilans, Halogendisilans, Halogenpolysilans oder eines Gemisches dieser Stoffe oder (c) durch Metall geförderte Abscheidung aus chemischen Dämpfen eines Silans, Halogensilans, Halogendisilans, Halogenpolysilans oder eines Gemisches dieser Stoffe. Die Silicium-Kohlenstoff-Beschichtung wird aufgebracht nach einem Verfahren, das ausgewählt ist aus der Gruppe, bestehend aus (1) Abscheidung aus chemischen Dämpfen eines Silans, Alkylsilans, Halogensilans, Halogendisilans, Halogenpolysilans oder eines Gemisches dieser Stoffe in Gegenwart eines Alkans mit 1 bis 6 Kohlenstoffatomen oder eines Alkylsilans, (2) durch Plasma geförderter Abscheidung aus chemischen Dämpfen eines Silans, Alkylsilans, Halogensilans, Halogendisilans, Halogenpolysilans oder eines Gemisches dieser Stoffe in Gegenwart eines Alkans mit 1 bis 6 Kohlenstoffatomen oder eines Alkylsilans oder (3) durch Plasma geförderter Abscheidung aus chemischen Dämpfen eines Silacyclobutans oder Disilacyclobutans, wie im einzelnen beschrieben wird im US-Patent Nr. 5 011 706. Die Silicium und Stickstoff enthaltende Beschichtung wird abgeschieden nach einem Verfahren, das ausgewählt ist aus der Gruppe, bestehend aus (A) Abscheidung aus chemischen Dämpfen eines Silans, Halogensilans, Halogendisilans, Halogenpolysilans oder eines Gemisches dieser Stoffe in Gegenwart von Ammoniak, (B) durch Plasma geförderter Abscheidung aus chemischen Dämpfen eines Silans, Halogensilans, Halogendisilans, Halogenpolysilans oder eines Gemisches dieser Stoffe in Gegenwart von Ammoniak, (C) durch Plasma geförderter Abscheidung aus chemischen Dämpfen eines Gemisches aus SiH und N&sub2;, wie von Ionic Systems oder von Katoh et al. in Japanese Journal of Applied Physics Band 22, Nr. 5, Seiten 1321-1322 beschrieben, (D) reaktivem Sputtern, wie in Semiconductor International, Seite 34, August 1987 beschrieben, oder (E) Keramifizierung eines Silicium und Stickstoff enthaltenden präkeramischen Copolymeren. Die Silicium sowie Sauerstoff und Stickstoff enthaltenden Beschichtungen können nach Verfahren abgeschieden werden, die in der Technik gut bekannt sind, wie Abscheidung aus chemischen Dämpfen, durch Plasma geförderte Abscheidung aus chemischen Dämpfen oder Abscheidung unter niedrigem Druck aus chemischen Dämpfen einer Siliciumverbindung (z.B. Silan) Dichlorsilan usw.) mit einer Stickstoffquelle (z.B.Ammoniak) und einer Sauerstoffquelle (z.B. Sauerstoff, Stickoxide usw.), durch Pyrolyse eines Vorläuferstoffs für Silicium-Oxynitrid oder durch Pyrolyse einer Siliciumverbindung in einer Umgebung, die zu der Entstehung einer Silicium-Oxynitrid-Beschichtung führt. Die Silicium sowie Kohlenstoff und Stickstoff enthaltende Beschichtung wird nach einem Verfahren abgeschieden, das ausgewählt wird aus der Gruppe, bestehend aus (i) Abscheidung aus chemischen Dämpfen von Hexamethyldisilazan, (ii) durch Plasma unterstützter Abscheidung aus chemischen Dämpfen von Hexamethyldisilazan, (iii) Abscheidung aus chemischen Dämpfen von Silan, Alkylsilan, Halogensilan, Halogendisilan, Halogenpolysilan oder eines Gemisches dieser Stoffe in Gegenwart eines Alkans mit 1 bis 6 Kohlenstoffatomen oder eines Alkylsilans und weiterhin in Gegenwart von Ammoniak, (iv) durch Plasma geförderter Abscheidung aus chemischen Dämpfen eines Silans, Halogensilans, Halogendisilans, Halogenpolysilans oder eines Gemisches dieser Stoffe in Gegenwart eines Alkans mit 1 bis 6 Kohlnstoffatomen oder eines Alkylsilans und weiterhin in Gegenwart von Ammoniak und (v) Keramifizierung einer präkeramischen polymeren Lösung, die ein am Kohlenstoff substituiertes Polysilazan, Polysilacyclobutasilazan oder Polycarbosilan enthält, in Gegenwart von Ammoniak. Die diamantartigen Kohlenstoffbeschichtungen können aufgebracht werden, indem man das Substrat einem Argonstrahl aussetzt, der einen Kohlenwasserstoff enthält, auf die in NASA Tech Briefs, November 1989, beschriebene Weise oder nach einem der anderen Verfahren, die von Spear in J. Am. Ceram. Soc., 72, 171-191 (1989) beschrieben sind. Die Siliciumdioxidbeschichtung (die ein modifizierendes keramisches Oxid enthalten kann) wird durch Keramifizierung eines präkeramischen Gemisches erzeugt, das einen Vorläuferstoff für Siliciumdioxid (und gegebenenfalls einen Vorläuferstoff für ein modifizierendes keramisches Oxid) enthält, wie in der anfänglichen Beschichtung.
- Das folgende, nicht begrenzende Beispiel wird gegeben, damit der Fachmann die Erfindung leichter verstehen kann.
- Hydrogensilsesquioxan-Harz, hergestellt nach dem Verfahren von Bank et al., US-Patent Nr. 5 010 159, wurde in einem cyclischen Polydimethylsiloxan als Lösungsmittel auf einen Gehalt von 10% verdünnt. Ein Platinkatalysator, der Platinacetylacetonat in Toluol enthielt, wurde der Lösung in einer Konzentration von etwa 100 ppm Platin, bezogen auf das Gewicht des H-Harzes, zugesetzt.
- Es wurde eine genügende Menge der obigen H-Harzlösung verwendet, um die gesamte Oberfläche von sechs sauberen Siliciumwafern mit einem Durchmesser von 2,54 cm (1 inch) zu beschichten, und man ließ die Wafer 30 Sekunden mit 3.000 U/min rotieren.
- Vier der Wafer (Proben W11, W12, W13 und W14) wurden in einem üblichen Röhrenofen unter den Bedingungen pyrolysiert, die in den folgenden Graphiken aufgeführt sind. Ein Gasstrom wurde auf die Filmoberfläche gerichtet, wie in Fig. 1 dargestellt.
- Zwei beschichtete Wafer (Proben BUR1 und BUR2) wurden in eine geschlossene Kammer für den Prozeß in umgekehrter Richtung verbracht, wie sie in Fig. 2 dargestellt ist. Ammoniak und Sauerstoff enthaltende Prozeßgase wurden durch einen 0,635 cm (1/4 inch) ID-Gasring mit 68,95 kPa (10 psi) auf die Oberfläche der Beschichtung gerichtet. Die Temperatur des Heizblocks wurde auf maximal 340ºC gesteigert, und diese Temperatur wurde etwa 1 Stunde gehalten. Der Gasstrom wurde dann während des Abkühlens auf 0 reduziert.
- FTIR-Sprektren, die von allen sechs Beschichtungen genommen wurden, zeigten eine vollständige Umwandlung in SiO&sub2;. Es sollte bemerkt werden, daß die Spektren kleine Veränderungen des Silanolgehalts (SiOH) in den Filmen anzeigten, aber diese Änderungen führten nur zu Änderungen in den relativen Ätzgeschwindigkeiten von Probe zu Probe.
- Die Einheitlichkeit der obigen Beschichtungen wurde dann mittels der Ätzgeschwindigkeiten und der Brechungsindices über die gesamte Filmdicke bestimmt. Die folgenden graphischen Darstellungen zeigen diese Ergebnisse (Ätzgeschwindigkeiten sind dargestellt mit punktierten Linien mit schwarzen Punkten, und die Brechungsindices sind dargestellt mit durchgezogenen Linien und weißen Punkten). Zum Vergleich wurde die Dicke-Koordinate normalisiert (normalized), so daß 1,0 die Oberfläche der Beschichtung und 0,5 die Mitte der Beschichtung repräsentiert. Weiterhin ist zu bemerken, daß die Skala auf der Y-Achse für die Ätzrate in einigen der graphischen Darstellungen variiert.
- Aus diesen graphischen Darstellungen geht klar hervor, daß die Vergleichsproben (W11, W12, W13 und W14) eine verhältnismäßig geringe Ätzrate an der Oberfläche der Beschichtung haben, und daß die Ätzrate in Richtung auf die Grenzfläche zwischen Beschichtung und Wafer in nicht linearer Weise ansteigt. Dieser Mangel an Einheitlichkeit ist wahrscheinlich das Ergebnis der "Hautbildung", wie zuvor beschrieben. Im Gegensatz dazu ist ersichtlich, daß die beiden nach den Verfahren dieser Erfindung pyrolysierte Proben (BUR1 und BUR2) nicht dieselben Effekte zeigen. Vielmehr schwanken die Ätzgeschwindigkeiten und die Brechungsindices um einen Durchschnittswert, der durch den gesamten Film hindurch relativ konstant ist.
Claims (3)
1. Verfahren zur Erzeugung einer keramischen
Beschichtung auf einem Substrat, bei dem man auf ein Substrat eine
Beschichtung aufbringt, die eine präkeramische Verbindung
enthält, in der Beschichtung einen Temperaturgradienten
einstellt, indem man das Substrat auf eine Temperatur erhitzt,
die ausreicht, um die Keramisierung der inneren Oberfläche
der Beschichtung zu fördern, während ein Strom eines
kühlenden Gases auf die äußere Oberfläche der Beschichtung
gerichtet wird, wobei das kühlende Gas eine
Strömungsgeschwindigkeit und eine Temperatur hat, die ausreichen, um die
Keramisierung der äußeren Oberfläche der Beschichtung zu
verhindern, und den Temperaturgradienten in der Beschichtung
genügend herabsetzt, um die Keramisierung der äußeren Oberfläche
der Beschichtung zu fördern.
2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei man die Beschichtung
mittels eines Verfahrens aufbringt, bei dem man das Substrat
mit einer Lösung beschichtet, die ein Lösungsmittel und eine
präkeramische Verbindung enthält, und dann das Lösungsmittel
verdampft.
3. Verfahren nach Anspruch 1, wobei der
Temperaturgradient herabgesetzt wird mittels eines Verfahrens, das
ausgewählt ist aus der Gruppe, bestehend aus Anpassen der
Gastemperatur oder der Strömungsgeschwindigkeit im Laufe der Zeit,
Anpassen der Heizquelle im Laufe der Zeit und
Aufrechterhalten der Heizquelle sowie der Gastemperatur und der
Strömungsgeschwindigkeit während eines Zeitraumes, der
ausreicht, um die äußere Oberfläche der Beschichtung zu
keramisieren.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/633,707 US5380553A (en) | 1990-12-24 | 1990-12-24 | Reverse direction pyrolysis processing |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE69112797D1 DE69112797D1 (de) | 1995-10-12 |
DE69112797T2 true DE69112797T2 (de) | 1996-05-02 |
Family
ID=24540781
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE69112797T Expired - Fee Related DE69112797T2 (de) | 1990-12-24 | 1991-12-03 | Pyrolyseverfahren in umgekehrter Richtung. |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5380553A (de) |
EP (1) | EP0492826B1 (de) |
JP (1) | JP3044318B2 (de) |
KR (1) | KR100232617B1 (de) |
CA (1) | CA2057082A1 (de) |
DE (1) | DE69112797T2 (de) |
ES (1) | ES2079587T3 (de) |
TW (1) | TW228510B (de) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5387480A (en) * | 1993-03-08 | 1995-02-07 | Dow Corning Corporation | High dielectric constant coatings |
EP0627763B1 (de) * | 1993-05-31 | 2004-12-15 | STMicroelectronics S.r.l. | Verfahren zur Verbesserung der Haftung zwischen Dielektrikschichten, an ihrer Grenzfläche, in der Herstellung von Halbleiterbauelementen |
JP2739902B2 (ja) * | 1993-09-30 | 1998-04-15 | 東京応化工業株式会社 | 酸化ケイ素系被膜形成用塗布液 |
US6284584B1 (en) | 1993-12-17 | 2001-09-04 | Stmicroelectronics, Inc. | Method of masking for periphery salicidation of active regions |
US5439846A (en) * | 1993-12-17 | 1995-08-08 | Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. | Self-aligned method for forming contact with zero offset to gate |
US6107194A (en) * | 1993-12-17 | 2000-08-22 | Stmicroelectronics, Inc. | Method of fabricating an integrated circuit |
JPH0855810A (ja) * | 1994-08-16 | 1996-02-27 | Nec Kyushu Ltd | 拡散炉 |
US5508062A (en) | 1994-12-02 | 1996-04-16 | Dow Corning Corporation | Method for forming an insoluble coating on a substrate |
EP0720223B1 (de) * | 1994-12-30 | 2003-03-26 | STMicroelectronics S.r.l. | Herstellungsverfahren für Halbleiteranordnung mit besserer Haftung zwischen dielektrischen Lagen |
US6117233A (en) * | 1995-02-07 | 2000-09-12 | Max-Planck-Gesellschaft Zur Forderung De | Formation of single-crystal thin SiC films |
US5731260A (en) * | 1996-02-13 | 1998-03-24 | Aerojet-General Corporation | Binding of sorbent in assembling solid sorption compressor cores |
US5786023A (en) * | 1996-02-13 | 1998-07-28 | Maxwell; James L. | Method and apparatus for the freeform growth of three-dimensional structures using pressurized precursor flows and growth rate control |
US5707683A (en) * | 1996-02-22 | 1998-01-13 | Dow Corning Corporation | Electronic coating composition method of coating an electronic substrate, composition and article |
JP3354431B2 (ja) * | 1997-03-31 | 2002-12-09 | 東レ・ダウコーニング・シリコーン株式会社 | 電気絶縁性薄膜形成用組成物および電気絶縁性薄膜の形成方法 |
JP3415741B2 (ja) * | 1997-03-31 | 2003-06-09 | 東レ・ダウコーニング・シリコーン株式会社 | 電気絶縁性薄膜形成用組成物および電気絶縁性薄膜の形成方法 |
US6350704B1 (en) | 1997-10-14 | 2002-02-26 | Micron Technology Inc. | Porous silicon oxycarbide integrated circuit insulator |
US6633623B2 (en) * | 2000-11-29 | 2003-10-14 | General Electric Company | Apparatus and methods for protecting a jet pump nozzle assembly and inlet-mixer |
KR101032624B1 (ko) | 2009-06-22 | 2011-05-06 | 엘지전자 주식회사 | 태양 전지 및 그 제조 방법 |
KR102206876B1 (ko) | 2018-11-30 | 2021-01-25 | 한국과학기술연구원 | 세슘 이온 흡착제, 이의 제조방법 및 이를 이용한 세슘 이온 제거 방법 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3615272A (en) * | 1968-11-04 | 1971-10-26 | Dow Corning | Condensed soluble hydrogensilsesquioxane resin |
US4756977A (en) * | 1986-12-03 | 1988-07-12 | Dow Corning Corporation | Multilayer ceramics from hydrogen silsesquioxane |
US4822697A (en) * | 1986-12-03 | 1989-04-18 | Dow Corning Corporation | Platinum and rhodium catalysis of low temperature formation multilayer ceramics |
US4749631B1 (en) * | 1986-12-04 | 1993-03-23 | Multilayer ceramics from silicate esters | |
US4911992A (en) * | 1986-12-04 | 1990-03-27 | Dow Corning Corporation | Platinum or rhodium catalyzed multilayer ceramic coatings from hydrogen silsesquioxane resin and metal oxides |
DE3707224A1 (de) * | 1987-03-06 | 1988-09-15 | Wacker Chemie Gmbh | Verfahren zur herstellung eines schutzueberzuges auf basis von siliciumcarbid |
JPS6486975A (en) * | 1987-09-29 | 1989-03-31 | Permelec Electrode Ltd | Preparation of calcium phosphate compound coated composite material |
US4847162A (en) * | 1987-12-28 | 1989-07-11 | Dow Corning Corporation | Multilayer ceramics coatings from the ceramification of hydrogen silsequioxane resin in the presence of ammonia |
US4842888A (en) * | 1988-04-07 | 1989-06-27 | Dow Corning Corporation | Ceramic coatings from the pyrolysis in ammonia of mixtures of silicate esters and other metal oxide precursors |
JP2512402B2 (ja) * | 1988-06-22 | 1996-07-03 | 日新製鋼株式会社 | ジルコニア膜の製造方法 |
US4973526A (en) * | 1990-02-15 | 1990-11-27 | Dow Corning Corporation | Method of forming ceramic coatings and resulting articles |
-
1990
- 1990-12-24 US US07/633,707 patent/US5380553A/en not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-11-26 TW TW080109280A patent/TW228510B/zh active
- 1991-12-03 DE DE69112797T patent/DE69112797T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1991-12-03 ES ES91311212T patent/ES2079587T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1991-12-03 EP EP91311212A patent/EP0492826B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1991-12-05 CA CA002057082A patent/CA2057082A1/en not_active Abandoned
- 1991-12-24 JP JP3340555A patent/JP3044318B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1991-12-24 KR KR1019910024114A patent/KR100232617B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100232617B1 (ko) | 1999-12-01 |
EP0492826B1 (de) | 1995-09-06 |
KR920014375A (ko) | 1992-07-30 |
ES2079587T3 (es) | 1996-01-16 |
JP3044318B2 (ja) | 2000-05-22 |
CA2057082A1 (en) | 1992-06-25 |
DE69112797D1 (de) | 1995-10-12 |
EP0492826A3 (en) | 1993-03-03 |
US5380553A (en) | 1995-01-10 |
EP0492826A2 (de) | 1992-07-01 |
TW228510B (de) | 1994-08-21 |
JPH04300678A (ja) | 1992-10-23 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |