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Die
Erfindung bezieht sich auf eine prüfbare integrierte Schaltung
mit einer prüfbaren
internen Taktschaltung.
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Wie
im
US Patent Nr. 6,131,173 beschrieben ist,
kann eine integrierte Schaltung eine Vielzahl von Taktdomainen enthalten.
Eine solche integrierte Schaltung wird üblicherweise mit einer Mehrzahl
von internen Taktschaltungen versehen, die dazu benutzt werden,
verschiedene Teile der funktionalen Schaltungen innerhalb der integrierten
Schaltung zu takten. Viele dieser Taktschaltungen enthalten Frequenzteiler,
zum Beispiel zum Erzeugen eines Taktsignals, das von einem Referenzsignal
höherer
Frequenz herabgeteilt wird, oder zur Bereitstellung einer herabgeteilten
Version des Taktsignals, das mit einem Referenzsignal verriegelt
wird.
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Das
Prüfen
solcher Taktschaltungen erfordert normalerweise Zeit- und Frequenzmessungen der
Taktsignale. Dies kann erfolgen durch Schalten der integrierten
Schaltung in einen Prüfmodus,
bei dem die Taktsignale von den internen Taktschaltungen an externe
Pins der integrierten Schaltung gekoppelt werden. Eine mit solchen
Pins verbundene Prüfvorrichtung
wird dann benutzt, die Eigenschaften der Taktsignale zu messen.
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US 2002/184560 beschreibt
eine Vorrichtung zum Liefern geordneter Mitnahmetakte zum Erkennen
von Fehlern innerhalb von Mehrfachtaktdomainen.
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Es
ist jedoch schwierig, hochfrequente Taktsignale aus den integrierten
Schaltungen herauszuführen.
Zumindest erfordert dies einen erheblichen Zusatzschaltungsaufwand,
sowohl an Schaltungselementen innerhalb der integrierten Schaltung
als auch in der Prüfumgebung.
Da die Anzahl von internen Taktsignalen in modernen integrierten
Schaltungen zunimmt, erhöht
sich dieser Zusatzaufwand.
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Als
eine Alternative ist es bekannt, Taktsignal-Messschaltungen für Prüfzwecke
innerhalb von integrierten Schaltungen unterzubringen. Typischerweise
schließt dies
die Benutzung einer internen Zählerschaltung
ein, die ein internes Taktsignal und ein externes Aktivierungssignal
empfängt,
um den Zählvorgang
zu extern definierten Zeitpunkten zu beginnen und anzuhalten. Der
resultierende Zählerstand
wird anschließend
aus dem Zähler
ausgelesen und es wird bestimmt, ob dieser innerhalb eines akzeptierbaren
Bereiches liegt. Bei dieser Lösung macht
die Notwendigkeit von externen Taktsignalen die Prüfung komplizierter,
weil spezielle Testvorrichtungen für diesen Zweck erforderlich
sind. Auch die Notwendigkeit, den Zählerstand auszulesen und/oder
den Zählerstand
mit Grenzwerten für
den akzeptablen Bereich zu vergleichen, erfordert einen Zusatzaufwand
in Form von Prüfvorrichtungen und/oder
Prüfzeit.
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Unter
anderen liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, eine integrierte
Schaltung zu schaffen, die eine Prüfung unterstützt, bei
der Betriebsaspekte einer internen Taktschaltung mit einem Minimum
an Zusatzaufwand bezüglich
der Prüfzeit
und spezieller Prüfvorrichtungen
geprüft
werden können.
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Unter
anderen liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren
zum Prüfen
der Betriebsaspekte einer internen Taktschaltung einer integrierten
Schaltung mit einem Minimum an Zusatzaufwand bezüglich der Prüfzeit und
spezieller Prüfvorrichtungen
zu schaffen.
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Unter
anderen liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, eine integrierte
Schaltung zu schaffen, die eine Prüfung unterstützt, bei
der Betriebsaspekte einer Mehrzahl von internen Taktschaltungen
durch gemeinsam benutzte Prüfschaltungen
mit einem Minimum an Zusatzaufwand bezüglich der Prüfzeit und spezieller
Prüfvorrichtungen
geprüft
werden können.
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Unter
anderen liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren
zum Prüfen
der Betriebsaspekte einer Mehrzahl von internen Taktschaltungen
einer integrierten Schaltung durch gemeinsam benutzte Prüfschaltungen
mit einem Minimum an Zusatzaufwand bezüglich der Prüfzeit und
spezieller Prüfvorrichtungen
zu schaffen.
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Eine
integrierte Schaltung gemäß der Erfindung
ist im Anspruch 1 beschrieben. Nach der Erfindung wird eine integrierte
Schaltung mit einer Prüfschaltung
ver sehen, die eine Zustandshalteschaltung aufweist, die in einen
vorbestimmten Zustand verriegelt wird, wenn ein Zählerstand
von Taktimpulsen einer internen Taktschaltung einen Schwellenwert
erreicht. Die Schaltung ist derart ausgebildet, dass die Taktimpulse
keinen Rückwärtsübergang
von diesem Zustand bewirken können.
Während
der Prüfung
wird die Prüfinformation
aus der integrierten Schaltung ausgelesen, und zwar ob die Zustandshalteschaltung
den vorbestimmten Zustand innerhalb des Prüfzeitintervalls erreicht hat.
Diese Prüfinformation
liefert keine genaue Frequenzmessung: Die Schaltung stellt lediglich
sicher, dass Frequenzdifferenzen oberhalb einer Schwelle nicht die
Prüfinformation
beinträchtigen
können.
Das Prüfen
auf der Basis eines solchen Erkennungsresultates stützt sich auf
die Erkenntnis, dass die wichtigsten Fehler in Taktschaltungen typischerweise
logische Fehler in den Taktteilerschaltungen betreffen, die zu Taktfrequenzen
führen,
die abseits der nominalen Taktfrequenz liegen. Diese Art von Fehlern
tritt auf in deutlichen Abweichungen der resultierenden Taktfrequenzen,
die erkannt werden können,
ohne einen Taktzählwert
aus der integrierten Schaltung auslesen zu müssen. Eine Schaltung, die einen
irreversiblen Übergang
unter Steuerung des internen Taktsignals ausführt, ermöglicht es, eine robuste Prüfung für solche
Abweichungen mit einem minimalen Zusatzaufwand durchzuführen.
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In
einer weiteren Ausführungsform
weisen verschiedene interne Taktschaltungen Ausgänge auf, die im Multiplex mit
einer gemeinsamen Zähl-
und Zustandshalteschaltung verbunden sind. Weil die Prüfung unter
Benutzung der Zustandshalteschaltung nicht durch Frequenzdifferenzen
oberhalb einer Frequenzschwelle beeinträchtigt wird, kann die Prüfschaltung
durch viele Taktschaltungen gemeinsam benutzt werden, um mit nur
geringem Zusatzaufwand Prüfresultate
zu erzeugen.
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Vorzugsweise
ist eine Pin-Multiplexer-Schaltung vorgesehen, um während der
Prüfung
einen Ausgang der Zustandshalteschaltung mit einem externen Pin
der integrierten Schaltung zu koppeln. In dieser Weise kann der
Zustand der Zustandshalteschaltung direkt ausgelesen werden, d.
h. ohne zuerst die Prüfresultate
durch eine Abtastkette zu schieben. Dies bedeutet, dass die Zeitpunkte,
an denen der Zustand der Zustandshalteschaltung abgetastet werden
kann, extern ausgewählt
werden können. Durch
Abtasten zu verschiedenen Zeitpunkten kann eine Schätzung der
Frequenz erfolgen, ohne das Taktsignal außerhalb der integrierten Schaltung
zu erfordern.
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Diese
und andere Aufgaben und vorteilhafte Aspekte der Erfindung werden
anhand nicht einschränkender
Beispiele unter Benutzung der folgenden Figuren beschrieben.
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1 zeigt
einen Teil einer integrierten Schaltung.
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1a zeigt
einen Prüfaufbau.
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2 zeigt
ein Zeitdiagramm während
einer Prüfung.
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3 bis 4 zeigen
weitere integrierte Schaltungen.
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1 zeigt
einen Teil einer integrierten Schaltung 1 mit einer funktionalen
Schaltung 10 und einer internen Taktschaltung 12,
die an einen Takteingang der funktionalen Schaltung 10 gekoppelt
ist. Für Prüfzwecke
enthält
die integrierte Schaltung eine Prüfschnittstellenschaltung 14,
einen Frequenzteiler 16 und ein Set/Reset-Flip-Flop 18.
Die Prüfschnittstellenschaltung 14 weist
einen Prüftakteingang TCK,
einen Eingang TDI für
Prüfdaten
und einen Ausgang TDO für
Prüfresultate
auf. Darüber
hinaus hat die Prüfschnittstellenschaltung
Ausgänge,
die mit Reset-Eingängen
des Frequenzteilers 16 und des Set/Reset-Flip-Flops 18 gekoppelt
sind. Der Ausgang der internen Taktschaltung 12 ist mit
einem Eingang des Frequenzteilers 16 gekoppelt. Ein Ausgang des
Frequenzteilers 16 ist mit einem Set-Eingang des Set/Reset-Flip-Flops 18 verbunden.
Ein Ausgang des Set/Reset-Flip-Flops 18 ist mit einem Eingang der
Prüfschnittstellenschaltung 14 gekoppelt.
Es wird bemerkt, dass die Figur nur ein Minimum an Details zeigt.
In der Praxis sind viele Eingangs- und Ausgangsanschlüsse der
integrierten Schaltung mit der funktionalen Schaltung 10 gekoppelt.
Die interne Taktschaltung 12 kann mit einem Taktreferenzanschluss
gekoppelt sein. Die Prüfschnittstellenschaltung
kann vorzugsweise einen Pin-Multiplexer aufweisen, dessen Eingang
mit dem Ausgang des Set/Reset-Flip-Flops 18 gekoppelt ist
und dessen Ausgang mit einem externen Anschluss 19 der
integrierten Schaltung gekoppelt ist, der sich von dem Prüfdatenausgang
TDO unterscheidet. Ein solcher Pin-Multiplexer hat typischerweise
einen oder mehr weitere Eingänge,
die zum Beispiel mit einer anderen Schaltung (nicht gezeigt) gekoppelt
sind, die Resultate während
des normalen Betriebs erzeugt, und/oder mit anderen Schaltungen,
die Prüfresultate
erzeugen. Alternativ kann der externe Anschluss des Pin-Multiplexers
als Eingang der integrierten Schaltung während des normalen Betriebs
benutzt werden. Alternativ kann die Prüfschnittstellenschaltung 14 ausgebildet
sein, um den Ausgang des Set/Reset-Flip-Flops 18 über eine
Abtastkette mit dem Prüfdatenausgang
TDO zu koppeln.
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Darüber hinaus
wird ein Teil der funktionalen Schaltung 10 typischerweise
mit der Prüfschnittstellenschaltung
gekoppelt sein, um Prüfdaten
von dem Prüfdateneingang
TDI zu empfangen und/oder Prüfresultate
an den Prüfdatenausgang
zu liefern (umgekehrt kann die Prüfschnittstellenschaltung 14 Prüfdaten an
den Eingangs- und Ausgangsanschlüssen
für die
funktionale Schaltung empfangen bzw. liefern). Auch kann eine Taktschaltschaltung
vorgesehen sein, um das Taktsignal am Eingang der funktionalen Schaltung 10 durch
eine Prüftaktschaltung während des
Prüfvorgangs
zu ersetzen.
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Die
Teilerschaltung 16 kann in geeigneter Weise implementiert
werden, wie zum Beispiel durch eine Kaskade von Teile-durch-zwei-Schaltungen, oder
allgemeiner durch eine Zählschaltung
wie eine Kombination aus einem Register und einem Addierer, wobei
der Addierer eine Summe bildet aus einer Zahl aus dem Register und
einer vorbestimmten Zahl (z. B. eins), die in dem Register jedes
Mal dann gespeichert wird, wenn ein Taktimpuls empfangen wird.
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Die
Taktschaltung 12 enthält
typischerweise eine weitere Teilerschaltung (nicht gezeigt) oder
andere logische Schaltungen, um zum Beispiel das Taktsignal herunter
zu teilen und/oder zum Einstellen einer Phase des Taktsignals, so
dass das heruntergeteilte Taktsignal in der Phase mit einem Referenzsignal
verriegelt ist. Als ein anderes Beispiel kann eine zusätzliche
Teilerschaltung ein Taktquellensignal herunterteilen, um das Taktsignal
zu erzeugen. Obgleich nur eine interne Taktschaltung 12 gezeigt ist,
können
viele weitere vorhanden sein.
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Im
normalen Betrieb liefert die interne Taktschaltung 12 ein
Taktsignal an mindestens einen Teil der funktionalen Schaltung.
Wie 1a zeigt, wird die integ rierte Schaltung 1,
oder eine elektronische Schaltung, die die integrierte Schaltung
enthält,
für Prüfzwecke
mit einer Prüfvorrichtung 2 gekoppelt, die
so ausgebildet ist, dass sie Steuersignale für die Prüfschnittstellenschaltung 14 und
Prüfdaten
an die integrierte Schaltung liefert und auch Prüfresultate empfängt. Zum
Beispiel kann eine Abtastprüfschnittstelle
für diesen
Zweck benutzt werden. Wenn eine Prüfung durchgeführt wird,
liefert die Prüfvorrichtung 2 Steuersignale
an die Prüfschnittstellenschaltung 14,
damit diese die integrierte Schaltung 1 in einen Prüfmodus schaltet.
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2 zeigt
Signale, die während
des Betriebes im Prüfmodus
benutzt werden. Ein erstes Signal zeigt das Taktsignal 20 der
internen Taktschaltung 12. Ein zweites Signal 22 zeigt
ein Prüftaktsignal
und ein drittes Signal zeigt ein Ausgangssignal des Set/Reset-Flip-Flops 18 (die
relativen Frequenzen der Signale sind symbolisch gezeigt: in der
Praxis wird die Taktfrequenz viel höher sein).
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Während des
Prüfbetriebes
stellt die Prüfschnittstellenschaltung 14 das
Set/Reset-Flip-Flop 18 und die Teilerschaltung 16 am
Beginn des Zeitintervalls, das durch das Prüftaktsignal 22 definiert wird,
zurück
(wenn eine Zählerschaltung
benutzt wird, implementiert t den Teiler und „Zurückstellen" bedeutet typischerweise das Setzen
des Zählerstandes
auf einen Anfangswert). Am Ende des Zeitintervalls (markiert durch
eine Anstiegsflanke 26 des Prüftaktes 22 in dem
Beispiel) kopiert die Prüfschnittstellenschaltung 14 ein
Ausgangssignal von dem Set/Reset-Flip-Flop 18.
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Während des
Zeitintervalls zählt
die Teilerschaltung 16 wirksam die Anzahl von Taktimpulsen im
Taktsignal 20 und setzt das Set/Reset-Flip-Flop 18,
wenn eine Schwellenzahl von Taktimpulsen in dem Zeitintervall aufgetreten
ist. Als Resultat wird die Prüfschnittstellenschaltung 14 einen
ersten logischen Wert von dem Set/Reset-Flip-Flop 18 empfangen,
wenn die Frequenz des Taktsignals über einem Schwellenwert liegt,
und einen zweiten logischen Wert, wenn die Frequenz des Taktsignals
unter dem Schwellenwert liegt.
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Die
Prüfschnittstellenschaltung 14 liefert
die Information über
den logischen Wert über
einen externen Anschluss 19 der integrierten Schaltung
an die Prüfvorrichtung.
Die Prüfvorrichtung
benutzt diese Information, um zu entscheiden, ob die integrierte Schaltung
zurückgewiesen
werden soll oder nicht. Ein Steuersignal in der Prüfschnittstellenschaltung 14 wählt typischerweise
den Eingang eines Pin-Multiplexers
aus, von dem Daten an den externen Anschluss 19 geliefert
werden. Wenn der logische Wert erforderlich ist, wird ein Steuersignal
an die Prüfschnittstelle
gegeben, um den Ausgang des Set/Reset-Flip-Flops 18 auszuwählen. Wenn
nur der Ausgang des Set/Reset-Flip-Flops 18 mit dem externen Anschluss
verbunden werden muss, kann der Pin-Multiplexer entfallen.
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Alternativ
kann der Ausgang des Set/Reset-Flip-Flops 18 mit der Prüfschnittstellenschaltung 14 gekoppelt
werden, um den logischen Wert an den Prüfdatenausgang TDO zu liefern.
Als weitere Alternative kann der logische Wert in der Prüfschnittstellenschaltung 14 intern
mit anderen Prüfresultaten kombiniert
werden, um ein kombiniertes Prüfresultat zusammenzustellen.
Der logische Wert oder das kombinierte Prüfresultat können aus der Prüfschnittstellenschaltung 14 zum
Beispiel durch ein serielles Abtastketten-Schieberegister heraus
geschoben werden. In diesem Fall kann der logische Wert oder das
kombinierte Prüfresultat
zusammen mit Prüfresultaten
herausgeschoben werden, die zum Beispiel von der funktionalen Schaltung 10 gewonnen
wurden. In dieser Weise kann eine konventionelle Abtastprüfvorrichtung
benutzt werden, um die integrierte Schaltung einschließlich der
Taktschaltung in einfacher Weise zu prüfen, ohne dass eine spezielle Prüfausrüstung erforderlich
ist.
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Die
Benutzung eines Pin-Multiplexers zur Lieferung des Ausgangssignals
des Set/Reset-Flip-Flops 18 an einen externen Pin hat den
Vorteil, dass die Zeitgabe von Übergängen am
Ausgang des Set/Reset-Flip-Flops 18 von außerhalb
der integrierten Schaltung 1 unabhängig von der Zeitgabe der Gewinnung
in der Abtastkette beobachtet werden kann. In einer Ausführungsform
tastet die Prüfvorrichtung 2 das
Ausgangssignal an dem externen Pin mit entsprechenden Verzögerungen
gegenüber
dem Beginn der Zählung
ab. In dieser Weise ist die Prüfvorrichtung 2 in
der Lage, eine genauere Schätzung der
Frequenz des Taktsignals aus der Verzögerung durchzuführen, die
notwendig ist, bevor die Abtastung zeigt, dass das Set/Reset-Flip-Flop 18 gesetzt wurde.
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Obwohl
es vorgezogen wird, dass die Teilerschaltung 16 auf einen
genau definierten Zustand zurückgesetzt
wird (d. h., dass ihr geteiltes Ausgangssignal mit einer vorbestimmten
Phase in einer Periode des geteilten Signals beginnt, z. B. am Beginn
der Periode), wird bemerkt, dass ein Zurücksetzen auf einen weniger
genau definierten Zustand zum Zwecke der Erfindung ausreichen kann.
Wenn der Teiler zum Beispiel eine Anzahl von Teile-durch-zwei-Schaltungen
in Kaskade aufweist, müssen
nur einige dieser Schaltungen am niederfrequenten Ende der Kaskade zurückgesetzt
werden. Wird eine Anzahl von Teile-durch-zwei-Schaltungen am höherfrequenten Ende nicht zurückgesetzt,
so beeinflusst dies die Prüfung
kaum.
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3 zeigt
eine integrierte Schaltung, die eine Mehrzahl von internen Taktschaltungen 12 aufweist,
die eine Teilerschaltung 16 und ein Set/Reset-Flip-Flop 18 gemeinsam
haben. Ein Multiplexer 30 ist vorgesehen, dessen Eingänge mit
den Taktausgängen
der internen Taktschaltungen 12 verbunden sind, und von
dem ein Ausgang mit einem Eingang der Teilerschaltung 16 verbunden
ist. Die Prüfschnittstellenschaltung 14 ist
mit einem Ausgang an einen Steuereingang des Multiplexers 30 gekoppelt. Als
Beispiel wird eine Implementierung gezeigt, bei der der Ausgang
des Set/Reset-Flip-Flops 18 mit der Prüfschnittstellenschaltung 14 gekoppelt
ist zum Zuführen
des logischen Wertes an den Prüfdatenausgang
TDO. Es wird jedoch bemerkt, dass vorzugsweise die Alternative der 1 benutzt
wird, bei der der logische Wert einem externen Anschluss der integrierten
Schaltung über
einen Pin-Multiplexer zugeführt
wird.
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Im
Betrieb wählt
die Prüfschnittstellenschaltung 14,
wann welche der Taktschaltungen 12 geprüft wird, dadurch aus, dass
dem Multiplexer 30 Steuersignale zugeführt werden. Jedes Mal, wenn
eine Taktschaltung 12 geprüft wird, wird deren Ausgang
während
eines Zeitintervalls mit dem Eingang der Teilerschaltung 16 gekoppelt,
werden das Set/Reset-Flip-Flop 18 und die Teilerschaltung 16 am
Beginn des Zeitintervalls zurückgestellt
und die Prüfschnittstellenschaltung 14 lädt Information über den Zustand
des Set/Reset-Flip-Flops 18 am Ende des Zeitintervalls.
Die Prüfschnittstellenschaltung 14 wird gesteuert,
um die Taktschaltungen zum Beispiel unter Benutzung externer Befehle
auszuwählen,
oder unter Steuerung eines internen Programms, das aufeinander folgende
Taktschaltungen auswählt.
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Die
Schaltung nach 3 ist in der Lage, das Prüfen von
Taktsignalen verschiedener Frequenzen durchzuführen. Bestehen jedoch große Unterschiede
zwischen den Frequenzen der verschiedenen Taktsignale, so können ein
oder mehrere Vorteilerstufen vor den Eingängen der Multiplexer 30 hinzugefügt werden,
so dass die Signale, die dem Multiplexer zugeführt werden, vergleichbare Frequenzen aufweisen,
auch wenn die Taktsignale, die der funktionalen Schaltung 10 zugeführt werden,
stark abweichende Frequenzen haben.
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4 zeigt
ein Beispiel einer Schaltung, in der eine Vorteilerschaltung 40 zwischen
dem Ausgang der Taktschaltung 12 und einem Eingang der Multiplexerschaltung 30 eingefügt ist.
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Es
ist klar, dass die Erfindung nicht auf die Schaltungen beschränkt ist,
die gezeigt wurden. Zum Beispiel kann als Alternative zu der Benutzung
eines Set/Reset-Flip-Flops 18 der Teiler 16 einen
mit seinem Ausgang gekoppelten Sperreingang haben. In dieser Ausführungsform
wird der weitere Betrieb des Teilers 16 gesperrt, sobald
der Teiler 16 den Schwellenwert erreicht hat, und der Betrieb
wird fortgesetzt, wenn der Teiler 16 durch die Prüfschnittstellenschaltung 14 zurückgestellt
worden ist. Das Sperren kann auch durch Hinzufügen einer Gatterschaltung (nicht gezeigt)
zwischen der Taktschaltung 12 und dem Teiler 16 implementiert
werden, wobei die Gatterschaltung einen Sperreingang aufweist, der
mit dem Ausgang der Teilerschaltung 16 gekoppelt ist, so
dass weitere Taktimpulse von der Taktschaltung 12 gesperrt
werden, sobald die Schwellenanzahl von Impulsen empfangen worden
ist. In einer weiteren Ausführungsform
ist der Teiler 16 mit der Taktschaltung 12 gekoppelt,
um die gesamte Taktschaltung 12 zu stoppen, sobald die
Schwellenanzahl von Impulsen empfangen worden ist.
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Vorzugsweise
wird eine vorbestimmte Schwelle benutzt, aber in einer anderen Ausführungsform
ist die Prüfschnittstellenschaltung 14 mit der
Teilerschaltung 16 gekoppelt, um die Schwelle aus einer
Mehrzahl von programmierbaren Schwellen auszuwählen. Ein programmierbarer
Vorteiler kann zwischen der Taktschaltung 12 und dem Teiler 16 zu
diesem Zweck vorgesehen sein.
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Während des
Prüfungsvorgangs
können
verschiedene Prüfungen
durchgeführt
werden. In einer ersten Art von Prüfung wird geprüft, ob die
Frequenz des Takt signals oberhalb einer Schwelle liegt. Für diese
Art von Prüfung
sollte das Zeitintervall zwischen dem Beginn der Frequenzteilung
und dem Abtasten des Set/Reset-Flip-Flops mindestens so lang sein,
dass die Taktschaltung 12 die Schwellenanzahl von Impulsen
erzeugt, wenn sie normal arbeitet. Ein Fehler wird festgestellt,
wenn in der logischen Schaltung der Taktschaltung 12 Fehler
vorhanden sind, die zu einer deutlich niedrigeren Frequenz führen.
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In
einer zweiten Art von Prüfung
wird geprüft, ob
die Frequenz des Taktsignals nicht eine Schwelle überschreitet.
Für diese
Art von Prüfung
sollte das Zeitintervall zwischen dem Beginn der Frequenzteilung
und dem Abtasten des Set/Reset-Flip-Flops
maximal so lang sein, dass die Taktschaltung 12 nicht die
Schwellenanzahl von Impulsen erzeugt, wenn sie normal arbeitet.
Ein Fehler wird festgestellt, wenn in der logischen Schaltung der
Taktschaltung 12 Fehler vorhanden sind, die zu einer deutlich
höheren
Frequenz führen.
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Dieselbe
Schaltung kann benutzt werden, um sowohl die erste als auch die
zweite Art von Prüfung
durchzuführen.
Dies kann zum Beispiel realisiert werden durch Benutzung eines programmierbaren Vorteilers
vor der Teilerschaltung 16, der durch die Prüfschnittstellenschaltung 14 gesteuert
wird. In dieser Ausführungsform
stellt die Prüfschnittstellenschaltung
den Vorteiler ein, um mit einem höheren Teilerverhältnis zu
teilen, wenn die erste Art von Prüfung durchgeführt wird,
als es das Teilerverhältnis
ist, wenn die zweite Art von Prüfung
durchgeführt
wird. Alternativ können
andere Prüfungen
mit der Durchführung
entsprechender Prüfungen
realisiert werden, in denen andere Zeiträume für das Zeitintervall zwischen
dem Beginn der Frequenzteilung und dem Abtasten des Set/Reset-Flip-Flops 18 benutzt
werden.
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Es
ist sogar möglich,
genaue Frequenzmessungen mit der Schaltung der 1 durchzuführen, wenn
die Prüfung
mit einer Serie von verschiedenen Prüftaktfrequenzen wiederholt
wird, so dass die Dauer des Zeitintervalls zwischen der Rückstellung
des Teilers 16 und dem Abtasten des Set/Reset-Flip-Flops 18 eine
Serie von verschiedenen Werten annimmt. Ist jedoch eine genaue Messung
routinemäßig erforderlich,
wird eine Taktzählerschaltung, deren
Ausgangszählung
durch die Prüfschnittstellenschaltung 14 abgetastet
werden kann, bevorzugt. Wegen des Erfordernisses, eine Mehrzahl
von Messungen durchzuführen,
sollte die Schaltung nach 1 nur ausnahmsweise,
wenn überhaupt,
benutzt werden, um solche genauen Messungen durchzuführen.