DE60115041T2 - Puffer mit kompensierender steuerungsstärke - Google Patents

Puffer mit kompensierender steuerungsstärke Download PDF

Info

Publication number
DE60115041T2
DE60115041T2 DE60115041T DE60115041T DE60115041T2 DE 60115041 T2 DE60115041 T2 DE 60115041T2 DE 60115041 T DE60115041 T DE 60115041T DE 60115041 T DE60115041 T DE 60115041T DE 60115041 T2 DE60115041 T2 DE 60115041T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
buffer
output
devices
signal
strength
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE60115041T
Other languages
English (en)
Other versions
DE60115041D1 (de
Inventor
M. Andrew VOLK
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Intel Corp
Original Assignee
Intel Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Intel Corp filed Critical Intel Corp
Publication of DE60115041D1 publication Critical patent/DE60115041D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE60115041T2 publication Critical patent/DE60115041T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0175Coupling arrangements; Interface arrangements
    • H03K19/0185Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0005Modifications of input or output impedance
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0175Coupling arrangements; Interface arrangements
    • H03K19/0185Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only
    • H03K19/018585Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only programmable

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Channel Selection Circuits, Automatic Tuning Circuits (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Developing Agents For Electrophotography (AREA)
  • Window Of Vehicle (AREA)
  • Vibration Dampers (AREA)
  • Vending Machines For Individual Products (AREA)
  • Golf Clubs (AREA)
  • Diaphragms For Electromechanical Transducers (AREA)

Description

  • 1. Gebiet der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung betrifft das Gebiet der Kompensationspuffer für integrierte Schaltungen.
  • 2. Beschreibung des Stands der Technik
  • Mit zunehmender Komplexität der Personalcomputer und anderer Systeme, welche integrierte Schaltungen einsetzen, ist der Bedarf an präzisen Ausgabetreibern zunehmend bedeutender geworden. Häufig muss eine integrierte Schaltung Signale mit Frequenzen von 100 MHz und höher über Spuren gedruckter Leiterplatten steuern, die mehrere Zoll lang sind. Derartige Spuren verhalten sich wie Übertragungsleitungen, wobei sie die Datenübertragung schwierig gestalten, sofern die Impedanz der Puffer nicht die Übertragungsleitereigenschaften kompensiert. Andere Faktoren tragen ebenso zu der Notwendigkeit von kompensierten Puffern bei, wobei zum Beispiel die Temperatur und die Spannung während dem Betrieb der Schaltung variieren können, was die Eigenschaften der Puffer. verändert.
  • Bekannt sind zahlreiche kompensierende Ausgabepuffer, wie etwa aus den U.S. Patenten US-A-5,578,971; US-A-5,528,166; US-A-4,975,598 und US-A-4,768,170.
  • In der gleichzeitig anhängigen Patentanmeldung USSN: 09/299,771, eingereicht am 26.4.1999 unter dem Titel „Method and Apparatus for Dual Mode Output Buffer Impedance Compensation" (übertragen auf den Zessionar der vorliegenden Anmeldung), wird ein Puffer mit binär gewichteten, kompensierenden Treiberabschnitten offenbart, die während dem Zurücksetzen oder der Initialisierung ausgewählt werden. Externe Pull-Up- und Pull-Down-Widerstände werden dazu verwendet, eine Bestimmung zu ermöglichen, welche Treiberabschnitte erforderlich sind. Die vorliegende Erfindung baut auf dem in der vorstehend genannten Anmeldung beschriebenen Puffer, wie dies aus der weiteren Beschreibung ersichtlich wird.
  • KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • Es zeigen:
  • 1 eine elektrische Prinzipskizze des invertierten Puffers und einer Steuerschaltung, die zum Steuern des Betriebs des Puffers verwendet wird;
  • 2 eine elektrische Prinzipskizze eines Digital-Analog-Umsetzers (DAU), der dazu verwendet wird, Vorspannungssignale zur Steuerung des Ankerabschnitts des Puffers aus 1 zu steuern;
  • 3A ein Diagramm zur Veranschaulichung der relativen Stärke zwischen den binär gewichteten (BW) Treiberabschnitten und der Stärke, die durch das linear gewichtete (LW) Vorspannungssignal bereitgestellt wird;
  • 3B ein Diagramm zur Veranschaulichung einer kennzeichnenden binär gewichteten Ausgangsstärke und der zusätzlichen Stärke, die durch das linear gewichtete Vorspannungssignal bereitgestellt wird; und
  • 4 das für den Betrieb des Puffers gemäß der vorliegenden Erfindung verwendete Verfahren.
  • GENAUE BESCHREIBUNG DER VORLIEGENDEN ERFINDUNG
  • Offenbart wird ein Kompensationspuffer für eine integrierte Schaltung. In der folgenden Beschreibung sind zahlreiche besondere Einzelheiten wie zum Beispiel eine bestimmte Anzahl von Abschnitten bzw. Zweigen in dem Puffer ausgeführt, um ein umfassendes Verständnis der vorliegenden Erfindung zu vermitteln. Für den Fachmann auf dem Gebiet ist es ersichtlich, dass die vorliegende Erfindung auch ohne diese besonderen Einzelheiten ausgeführt werden kann. In anderen Fällen wurden allgemein bekannte Schaltungen wie etwa Digital-Analog-Umsetzer (DAU) nicht im Detail ausgeführt, um die vorliegende Erfindung nicht unnötig zu verschleiern.
  • In erstem Bezug auf die Abbildung aus 1 weisen die dargestellten Pufferabschnitte eine Mehrzahl von binär gewichteten (BW) Ausgabetreiberabschnitten auf, die zur Kompensation eingesetzt werden. Diese Treiberabschnitte sorgen für eine grobe Abstimmung der Ausgangssignalstärke. Zum Beispiel sehen der Pull-Up-Transistor 34 und der Pull-Down-Transistor 40 die größte Stärke vor (z.B. 8x), während die Transistoren 36 und 38 die geringste Stärke (z.B. 1x) vorsehen. In einem kennzeichnenden Ausführungsbeispiel können vier BW-Abschnitte verwendet werden, wobei deren relativen Stärken in der Abbildung aus 3A dargestellt sind. Hiermit wird festgestellt, dass für den vierten Abschnitt, der in der Abbildung aus 3A dargestellt ist, der Transistor 34 oder 40 die Stärke 73 vorsieht, während für den ersten Abschnitt der Transistor 36 oder 38 die Stärke 70 vorsieht. Der Stärkenunterschied kann durch die Auswahl entweder der Größe der Transistoren oder der Werte der Widerstände bereitgestellt werden, welche in diesen Abschnitten verwendet werden, oder durch eine Kombination aus Transistorgröße und Widerstandswerten. Der Einsatz dieser Widerstände, um die V-I-Eigenschaften des Puffers linearer zu gestalten, ist bekannt. Dies weist Signalqualitätsvorteile im Besonderen bei hohen Datenübertragungsraten auf. Wie dies ebenfalls bekannt ist, kann auch eine zusammengesetzte Anordnung von Transistoren mit linearen Eigenschaften eingesetzt werden. Jeder Pull-Up- und Pull-Down-Transistor kann somit einen oder mehrere Transistoren aufweisen. (Die zusammengesetzte Anordnung von Transistoren sowie der Einsatz der Widerstände können in den nachstehend beschriebenen spannungsgeregelten Abschnitten mit linearer Gewichtung verwendet werden.)
  • Gemäß den Lehren in der oben genannten Patentanmeldung wird eine Reihe von binär gewichteten Abschnitten nach der Initialisierung der integrierten Schaltung ausgewählt, um die gewünschte Stärke vorzusehen. Eine Steuerschaltung 30, die in der vorstehend genannten Patentanmeldung näher beschrieben ist, verwendet zwei Zähler, um binäre Signale bereitzustellen, welche die erforderlichen Pull-Up- und Pull-Down-Stärken bereitstellen. Die Signale (PENB) auf den Leitungen 41, welche in einem Ausführungsbeispiel vier Bits aufweisen, wählen die erforderliche Anzahl der Pull-Up-Transistoren aus. Vier Bits auf den Leitungen 42 stellen das Signal (NEN) bereit, das für die Auswahl der erforderlichen Pull-Down-Transistoren verwendet wird.
  • Jede Leitung 41 ist mit einem ODER-Glied verbunden, wie etwa den ODER-Gliedern 33 und 35. Die anderen Anschlüsse der ODER-Glieder empfangen das P-Treibersignal (PDRV). Die Ausgänge der ODER-Glieder sind mit den Pull-Up-Transistoren gekoppelt; im Besonderen ist der Ausgang des Gatters 33 mit dem Gate-Anschluss des P-Kanal-Transistors 34 gekoppelt, und der Ausgang des Gatters 35 ist mit dem Gate-Anschluss des P-Kanal-Transistors 36 gekoppelt. Hiermit wird festgestellt, dass zwar ODER-Glieder bzw. ODER-Gatter verwendet werden, wobei jedoch auch eine andere Logik verwendet werden kann, um die Pull-Up-Transistoren anzusteuern.
  • In ähnlicher Weise ist jede der Leitungen 42 mit einem UND-Gatter verbunden, wie etwa den UND-Gattern 37 und 39. Die anderen Anschlüsse der UND-Gatter empfangen das Treibersignal N von der Leitung 14 (NDRV). Die Ausgänge der UND-Gatter sind mit den N-Kanal-Transistoren in den binär gewichteten Treiberabschnitten verbunden; im Besonderen ist der Ausgang des UND-Gatters 37 mit dem Gate-Anschluss des Transistors 38 verbunden, und der Ausgang des UND-Gatters 39 ist mit dem Gate-Anschluss des Transistors 40 verbunden. Hiermit wird wiederum festgestellt, dass auch eine andere Logik zum Ansteuern der Pull-Down-Transistoren verwendet werden kann.
  • Nach der Initialisierung oder dem Zurücksetzen der integrierten Schaltung stellt die Steuerschaltung 30 die binären Signale bereit, welche die erforderliche Stärke darstellen. Diese Signale wählen die entsprechenden Ausgangstreiber aus. Die Schaltung 30 verwendet einen oder mehrere externe Widerstände, wie etwa den Widerstand 31, und ein Referenzpotenzial, um die Ausgangsstärke zu evaluieren, wie dies in der oben genannten Anmeldung beschrieben ist.
  • Die binär gewichteten Ausgangs-Treiberabschnitte sorgen für eine relative grobe Abstimmung der Ausgangsstärke. Selbst der Treiber mit der geringsten Stärke sorgt für eine verhältnismäßig große Anpassung der Ausgangsstärke des Puffers. Folglich kann die neue Auswahl der binär gewichteten Abschnitte während dem Betrieb des Puffers Fehler in der Signaldetektion verursachen. Im Allgemeinen wissen Abschlussbausteine nicht, wann das Eingangssignal übergeht, und somit wissen sie auch nicht, wann die Stärke sicher erhöht werden kann. Wie dies nachstehend im Text beschrieben ist, sorgt die vorliegende Erfindung für eine Feinabstimmung, die während dem Pufferbetrieb erfolgen kann.
  • Der Puffer aus 1 weist einen Ankerabschnitt 16 auf, um einen bestimmten Wert des Ausgangssignals vorzusehen, wenn keine Kompensation verwendet wird sowie zur Bereitstellung der Feinabstimmung. Dieser Schenkel stellt ein Ausgangssignal an die Anschlussfläche 10 bereit, wenn keiner der binär gewichteten Abschnitte ausgewählt ist und wenn die linear gewichteten Vorspannungssignale „deaktiviert" sind. Somit sehen der Pull-Up-Transistor 18 und der Pull-Down-Transistor 19 stets ein Ausgangssignal vor, wenn der Pufferausgang aktiviert bzw. freigegeben ist. Diese Transistoren empfangen das Treibersignal P und das Treibersignal N über die entsprechenden Inverter 16 und 17. Der Ankerabschnitt 15 weist zusätzlich einen P-Kanal-Transistor 21 und einen N-Kanal-Transistor 22 auf. Diese Transistoren empfangen Vorspannungssignale auf den entsprechenden Leitungen 24 und 25, welche eine Feinabstimmung des Ausgangssignals vornehmen. Wenn sich der Puffer in dem Empfangsmodus befindet (PDRV hoch und NDRV niedrig), erfolgt keine Ansteuerung von dem Anker durch 15 und der Puffer weist eine hohe Eingangsimpedanz auf.
  • Während dem Betrieb des Puffers wird zuerst die entsprechende Anzahl der binär gewichteten Abschnitte ausgewählt, wobei jede Kombination aus Pull-Up- und Pull-Down-Transistoren ausgewählt werden kann. Danach wird die Stärke des Ausgangssignals periodisch überwacht, um zu bestimmen, ob eine weitere Kompensation erforderlich ist. Zum Beispiel stellt die Steuerschaltung 30 alle paar Millisekunden nach der Initialisierung unter Verwendung des gleichen Mechanismus, der auch zur Bereitstellung der Signale PENB und NEN verwendet wird, die gleichen binären Signale auf den Leitungen 43 und 44 bereit. Der gleiche Pull-Up-Zähler und Pull-Down-Zähler, die zur Bereitstellung der Signale auf den Leitungen 41 und 42 verwendet werden, können erneut verwendet werden, um die Signale auf den Leitungen 43 und 44 bereitzustellen. Diese Zähler und deren Betrieb sind in der oben genannten Patentanmeldung näher beschrieben. In einem Ausführungsbeispiel sehen die Leitungen 43 und 44 jeweils vier Bits vor, wie dies als die Signale SELN (Leitungen 43) und die Signale SELP (Leitungen 44) dargestellt ist.
  • Die Signale SELN und SELP können jeweils separate Transistoren zur Feinabstimmung steuern. Dabei würde es sich jedoch um eine in gewisser Weise kostspielige Implementierung handeln, da für jeden der Transistoren separate Treiber benötigt werden. In dem in Bezug auf die Abbildung aus 2 beschriebenen Ausführungsbeispiel wird stattdessen ein Pass-Gate-Digital-Analog-Umsetzer (DAU) verwendet.
  • In folgendem Bezug auf die Abbildung aus 2 ist jeder DAU mit einer Mehrzahl von Widerständen in dem Abschnitt 55 und einem Multiplexer implementiert. Der Abschnitt 55 ist zwischen die Transistoren 52 und 53 geschaltet und weist eine erste Mehrzahl von Reihenwiderständen auf, die mit dem Multiplexer (MUX) 51 gekoppelt sind. In einem Ausführungsbeispiel handelt es sich dabei um 16 Widerstände, die mit dem MUX 50 gekoppelt sind sowie 16 Widerstände, die mit dem MUX 51 gekoppelt sind. Die Transistoren 52 und 53 werden durch das Signal VBiasEN auf der Leitung 60 aktiviert, die über den Inverter 61 mit dem Transistor 53 und dem Transistor 52 gekoppelt ist. Das Signal auf der Leitung 60 ermöglicht ferner eine Entkoppelung der Leitung 25 von dem Potenzial der Stromversorgung, indem der Pull-Up-Transistor 57 ausgeschaltet wird, da der Gate-Anschluss des Transistors 57 mit dem Inverter 61 gekoppelt ist. Der obere Bereich der Stromversorgung wird für NBIAS verwendet und der untere Bereich für PBIAS, so dass einheitliche einzelne Spannungsstufen ungefähr einheitliche Stärkestufen der Transistoren 21 und 22 aus 1 bilden. Ein Vorteil der Spannung, die dem vollen Stromversorgungspotenzial am nächsten ist, ist es, dass eine höhere Rauschimmunität auftritt, die ansonsten Schwankungen der Pufferstärke verursachen könnte.
  • Die binären Signale auf den Leitungen 43 sorgen dafür, dass der MUX 50 das Potenzial an einem der 16 Widerstände zur Kopplung mit der Leitung 25 über die Passgate-Transistoren in dem MUX 50 auswählt. Folglich nimmt das Potenzial an der Leitung 25 eine von 16 Stufen an, beginnend mit dem höchsten Potenzial an dem Anschluss F und dem niedrigsten Potenzial an Anschluss 0. In ähnlicher Weise wählt der MUX 51 eines der 16 Potenziale in dem Abschnitt 55 auf, indem einer der 16 Anschlüsse 0 bis F mit der Leitung 24 gekoppelt wird. Dies erfolgt wiederum durch Passgate-Transistoren in dem MUX 51. Auf diese Weise sind die Signale auf den Leitungen 24 und 25 praktisch dahingehend „analog", dass jedes Signal einen von 16 Werten annimmt, wobei die Differenz zwischen jeder Stufe gleich ist. Zum Beispiel kann jede der identischen Stufen zwischen 20 und 50 mV liegen.
  • Die Funktion der Widerstände und DAUs aus 2 kann auch anderweitig realisiert werden. Zum Beispiel können zwei separate, sich überschneidende Widerstandsketten oder eine einzelne Widerstandskette mit sich überschneidenden Anzapfstellen verwendet werden.
  • In erneutem Bezug auf die Abbildung aus 1 ist das PBIAS-Potenzial auf der Leitung 24 mit dem P-Kanal-Transistor 21 gekoppelt. Das Vorspannungspotenzial bestimmt die Pull-Up-Stärke in dem Ankerabschnitt 15. Jede Stufe in dem Signal PBIAS stellt eine relativ geringfügige Änderung in der Ausgangsstärke im Vergleich zu selbst den binär gewichteten Treibern mit der geringsten Signifikanz bereit, wie dies nachstehend im Text näher beschrieben ist. In ähnlicher Weise weist das Signal auf der Leitung 25, das Signal NBIAS, 16 gleiche Stufen auf und bestimmt die Vorbelastung bzw. Vorspannung für den Pull-Down-Transistor 22. Jede dieser Stufen sieht verhältnismäßig kleine Stärkenveränderungen an der Ausgangsanschlussfläche 10 im Vergleich zu den kleinsten der binär gewichteten Pull-Down-Treiber vor.
  • Die Signale SELN und SELP von der Steuerschaltung 10 schreiben während dem Betrieb der integrierten Schaltung periodisch aktualisierte Ausgabestärken vor. Diese Signale passen die Vorspannung an den Transistoren 22 und 21 entsprechend über die DAUs aus 2 an. Auf diese Weise wird die Signalstärke an der Anschlussfläche 10 während dem Betrieb der integrierten Schaltung fein abgestimmt.
  • In Bezug auf die Abbildung aus 3A sind die relativen Stärken abgebildet, die durch die binär gewichteten (BW) Treiberabschnitte und die linear gewichteten (LW) Vorspannungssignale vorgesehen werden. Auf der linken Seite aus der Abbildung aus 3A sind vier Stärken abgebildet, die jeweils durch einen anderen BW-Abschnitt bereitgestellt werden. Die Abbildungen der 3A und 3B stellen entweder Pull-Up- oder Pull-Down-Stärken dar. Hiermit wird festgestellt, dass eine andere Kombination aus Pull-Up- und Pull-Down-Transistoren durch die PENB- und NEN-Signale ausgewählt werden kann. In ähnlicher Weise kann eine andere Stufe von jedem der SELN und SELP Signale ausgewählt werden.
  • Die durch den wertniedrigsten der BW-Abschnitte vorgesehene BW-Stärke ist in der Abbildung aus 3A als die Stärke 70 dargestellt. Wie dies bereits beschrieben worden ist, kann sie durch einen der Transistoren 36 oder 38 bereitgestellt werden. Die nächst höhere Stärke ist als die Stärke 71 dargestellt, und die dritthöchste Stärke ist als die Stärke 72 dargestellt. Die werthöchste Stärke ist durch die Stärke 73 dargestellt und kann zum Beispiel durch einen der Transistoren 34 oder 40 bereitgestellt werden. Es gibt 16 Stufen für die Feinabstimmung. Für dieses Ausführungsbeispiel entspricht der BW-Stärkenbereich somit (2nk-1), mit n=4, und wobei k eine Konstante ist, und wobei der LW-Stärkenbereich ungefähr 4k entspricht. Wenn der LW-Bereich allgemein p Bits umfasst, und wenn das Verhältnis des wertniedrigsten Bits von BW zu LW „n" entspricht, so ist der LW-Stärkenbereich gleich (2Pk/n-1).
  • Nach der Initialisierung oder dem Zurücksetzen wird im Betrieb eine Kombination von BW-Abschnitten ausgewählt, um die gewünschte Stärke vorzusehen. Die Stärke der BW-Abschnitte, die dem gewünschten Stärkewert entspricht oder diesem am nächsten ist, ohne diesen zu überschreiten, wird ausgewählt. In der Abbildung aus 3B wird angenommen, dass nach der Initialisierung die BW-Stärken 71 und 73 die anfängliche Ausgabestärke 75 am genauesten bereitstellen. Hiermit wird in Bezug auf das Beispiel aus 3B festgestellt, dass bei einer derartigen Auswahl der Stärke 70, die BW-Abschnitte mehr als die erforderliche anfängliche Stärke 75 bereitstellen würden. Dies ist nicht wünschenswert, da dabei kein Raum für die Feinabstimmung gegeben ist. Bei der Initialisierung kompensiert die LW-Vorspannung die Differenz der durch die #BW-Abschnitte vorgesehenen Stärke und dem tatsächlich erforderlichen Wert.
  • In einem Ausführungsbeispiel ist die LW-Vorbelastung bei der Initialisierung auf eine Auswahl im Bereich der Stufen 4 bis 7 beschränkt. Das heißt, anfangs kann die Steuerschaltung 10 nur die beiden wertniedrigsten Bits der Signale SELN und SELP variieren. In der Abbildung aus 3B wählt die Feinabstimmung vier LW-Stufen aus, um die Differenz zwischen den Stärken 71 und 73 auszugleichen, wodurch die gewünschte anfängliche Stärke 75 erreicht wird.
  • Während dem Betrieb passt die Steuerschaltung 30 periodisch die Signale SELN und SELP an. Während jeder der periodischen Anpassungen ermöglicht die Steuerschaltung höchstens eine Änderung um eine Stufe in einem der Signale SELN und SELP oder in beiden Signalen. Diese verhältnismäßig geringfügigen Änderungen der Stärke verhindert fehlerhafte Detektionen der Signale und ermöglichen eine Veränderung der Stärke zu jedem Zeitpunkt. Selbst diese kleinen Veränderungen können ausgeglichen werden, um Stufenveränderungen zu verhindern. Die Kapazitäten auf den Leitungen 24 und 25 aus 2 sorgen für eine derartige Glättung. Zusätzliches Filtern kann eingesetzt werden, um die Stufenänderungen zu kompensieren.
  • Wie dies aus der Abbildung aus 3B ersichtlich ist, kann die anfängliche Stärke während dem Betrieb um vier LW-Stufen gesenkt und in einem Ausführungsbeispiel um bis zu 12 LW-Stufen erhöht werden. Es kann entschieden werden, nur das wertniedrigste Bit während der Initialisierung zu verwenden, und wobei somit ein umfassender Bereich von LW-Stufen während dem Betrieb zur Verfügung steht. Allgemein steigt während dem Betrieb die Temperatur, und die Stromversorgungsspannung nimmt ab, was eine zusätzliche Stärke erforderlich macht, wobei folglich mehr Raum zur Erhöhung der Stärke als zu deren Verringerung vorgesehen wird. Ferner ist aus der Abbildung aus 3A ersichtlich, dass die 16 Stufen ungefähr den Bereich bereitstellen, der den beiden wertniedrigsten BW-Bits zugeordnet ist. Dies ermöglicht einen geeigneten Bereich für die LW-Signale sowohl für die Initialisierung als auch während dem Betrieb.
  • In der Abbildung aus 4 sind die Stufen veranschaulicht, die zur Steuerung des Puffers verwendet werden. Bei der durch den Schritt 80 dargestellten Initialisierung werden BW-Abschnitte ausgewählt und es wird ein begrenzter Bereich (z.B. 4 bis 7) des LW-Vorspannungssignals verwendet. Während dem Betrieb wird nur das LW-Signal verändert, und derartige Änderungen treten danach nur während einer Stufe je Periode auf, wie dies durch den Schritt 81 dargestellt ist.
  • Der erfindungsgemäße Puffer eignet sich im Besonderen für Punkt-zu-Punkt-Übertragungen für Grafikkarten, E/A-Bausteine, und kann auch in anderen Schaltungen wie zum Beispiel Prozessoren eingesetzt werden. Der erfindungsgemäße Puffer ermöglicht eine Aktualisierung der Pufferstärke während sich der Puffer im Einsatz befindet, wie etwa als Treiber oder als Abschluss. Da die LW-Stufen verhältnismäßig klein sind, garantieren sie, dass sich die Stärke nicht dramatisch verändern kann und falsche Signalerkennungen verursacht. Durch den Einsatz von DAUs ist die Schaltung verhältnismäßig einfach im Vergleich zur Implementierung von Transistoren, um eine Feinabstimmung bereitzustellen.

Claims (10)

  1. Puffer für eine integrierte Schaltung, der folgendes umfasst: eine erste Mehrzahl selektierbarer Vorrichtung zum Bereitstellen eines Ausgangssignals, wobei das Ausgangssignal einen ersten Stärkebereich aufweist, der durch die selektierbaren Vorrichtungen bestimmt wird, die selektiert werden; eine Treiberschaltung, die einen Transistor umfasst, der mit der ersten Mehrzahl selektierbarer Vorrichtungen gekoppelt ist, um dem Ausgangssignal eine regelbare Stärke über einen zweiten Stärkebereich bereitzustellen, wobei der zweite Bereich kleiner ist als der erste Bereich, wobei der Transistor durch ein Signal vorgespannt ist, das einen von mindestens drei Werten aufweist; und eine Steuerschaltung, die mit der ersten Mehrzahl selektierbarer Vorrichtungen und der Treiberschaltung gekoppelt ist, wobei die Steuerschaltung die selektierbaren Vorrichtungen nach der Initialisierung der integrierten Schaltung auswählt, wobei die Steuerschaltung periodisch die Stärke des Ausgangssignals überwacht und die Treiberschaltung anpasst, wenn das Ausgangssignal kompensiert werden muss.
  2. Puffer nach Anspruch 1, wobei die selektierbaren Vorrichtungen binär gewichtet sind.
  3. Puffer nach Anspruch 2, wobei die selektierte Vorrichtung Transistoren und Widerstände umfasst.
  4. Puffer nach Anspruch 3, wobei die Steuerschaltung die Anpassung der Treiberschaltung durch Bereitstellung mindestens eines Vorspannungssignals vorsieht.
  5. Puffer nach Anspruch 1, wobei ein maximaler erster Stärkebereich gleich (2nk-1) ist, und wobei der zweite Bereich ungefähr mindestens 4k entspricht, wobei k eine Konstante ist, und wobei n der Anzahl der Pull-Up- oder Pull-Down-Vorrichtungen in der ersten Mehrzahl von selektierbaren Vorrichtungen entspricht.
  6. Verfahren zur Steuerung eines Puffers in einer integrierten Schaltung, wobei das Verfahren folgendes umfasst: das Auswählen von Ausgabevorrichtungen, um nach der Initialisierung eine vorbestimmte Ausgangsstärke bereitzustellen; und das Feinabstimmen der Ausgangsstärke unter Verwendung eines erzeugten analogen Signals während dem Betrieb des Puffers, wobei Änderungen der Ausgangsstärke auf verhältnismäßig kleine Änderungen beschränkt sind, im Vergleich zu den Stärkeinkrementen, die durch die Ausgabevorrichtungen bereitgestellt werden.
  7. Verfahren nach Anspruch 6, wobei nach der Initialisierung ein begrenztes Ausmaß der Feinabstimmung erfolgt.
  8. Verfahren nach Anspruch 7, wobei die Feinabstimmung während dem Betrieb des Puffers periodisch erfolgt.
  9. Verfahren nach Anspruch 6, wobei die Auswahl der Ausgabevorrichtungen die Auswahl binär gewichteter Ausgabevorrichtungen umfasst.
  10. Verfahren nach Anspruch 9, wobei die Feinabstimmung die Auswahl linearer Schritte umfasst.
DE60115041T 2000-06-30 2001-06-14 Puffer mit kompensierender steuerungsstärke Expired - Lifetime DE60115041T2 (de)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/608,503 US6624662B1 (en) 2000-06-30 2000-06-30 Buffer with compensating drive strength
US608503 2000-06-30
PCT/US2001/019326 WO2002003553A1 (en) 2000-06-30 2001-06-14 Buffer with compensating drive strength

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE60115041D1 DE60115041D1 (de) 2005-12-22
DE60115041T2 true DE60115041T2 (de) 2006-07-13

Family

ID=24436778

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE60115041T Expired - Lifetime DE60115041T2 (de) 2000-06-30 2001-06-14 Puffer mit kompensierender steuerungsstärke

Country Status (10)

Country Link
US (1) US6624662B1 (de)
EP (1) EP1297629B1 (de)
KR (1) KR100511112B1 (de)
CN (1) CN1218484C (de)
AT (1) ATE310336T1 (de)
AU (1) AU2001266969A1 (de)
DE (1) DE60115041T2 (de)
HK (1) HK1052090A1 (de)
TW (1) TW506192B (de)
WO (1) WO2002003553A1 (de)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10142679A1 (de) * 2001-08-31 2003-04-03 Infineon Technologies Ag Treiberschaltung
US6998875B2 (en) * 2002-12-10 2006-02-14 Ip-First, Llc Output driver impedance controller
US6985008B2 (en) * 2002-12-13 2006-01-10 Ip-First, Llc Apparatus and method for precisely controlling termination impedance
US6949949B2 (en) 2002-12-17 2005-09-27 Ip-First, Llc Apparatus and method for adjusting the impedance of an output driver
US7057415B2 (en) * 2003-12-10 2006-06-06 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Output buffer compensation control
US7236013B2 (en) * 2003-12-26 2007-06-26 Stmicroelectronics Pvt. Ltd. Configurable output buffer and method to provide differential drive
US7212035B2 (en) * 2005-02-11 2007-05-01 International Business Machines Corporation Logic line driver system for providing an optimal driver characteristic
DE102005022338A1 (de) * 2005-05-13 2006-11-16 Texas Instruments Deutschland Gmbh Integrierte Treiberschaltungsstruktur
KR100733415B1 (ko) * 2005-09-29 2007-06-29 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 소자 및 그의 비트라인 센스앰프 구동방법
JP4881632B2 (ja) * 2006-03-01 2012-02-22 エルピーダメモリ株式会社 出力回路
US7466174B2 (en) 2006-03-31 2008-12-16 Intel Corporation Fast lock scheme for phase locked loops and delay locked loops
US7446558B2 (en) * 2006-09-29 2008-11-04 Mediatek Inc. High speed IO buffer
US7812639B2 (en) * 2007-12-31 2010-10-12 Sandisk Corporation Extending drive capability in integrated circuits utilizing programmable-voltage output circuits
US7888968B2 (en) * 2009-01-15 2011-02-15 International Business Machines Corporation Configurable pre-emphasis driver with selective constant and adjustable output impedance modes
EP2216905B1 (de) * 2009-02-05 2012-08-29 Abb Oy Verfahren zur Steuerung eines IGBT und eines Gate-Treibers
US8493137B2 (en) * 2011-09-16 2013-07-23 Elpida Memory, Inc. PSRR in a voltage reference circuit
JP2017216611A (ja) * 2016-06-01 2017-12-07 マイクロン テクノロジー, インク. 半導体装置

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4768170A (en) 1986-06-06 1988-08-30 Intel Corporation MOS temperature sensing circuit
US4975598A (en) 1988-12-21 1990-12-04 Intel Corporation Temperature, voltage, and process compensated output driver
US5194765A (en) * 1991-06-28 1993-03-16 At&T Bell Laboratories Digitally controlled element sizing
US5341045A (en) 1992-11-06 1994-08-23 Intel Corporation Programmable input buffer
US5444406A (en) 1993-02-08 1995-08-22 Advanced Micro Devices, Inc. Self-adjusting variable drive strength buffer circuit and method for controlling the drive strength of a buffer circuit
FR2709217B1 (fr) 1993-08-19 1995-09-15 Bull Sa Procédé et dispositif d'adaptation d'impédance pour un émetteur et/ou récepteur, circuit intégré et système de transmission les mettant en Óoeuvre.
US5534801A (en) 1994-01-24 1996-07-09 Advanced Micro Devices, Inc. Apparatus and method for automatic sense and establishment of 5V and 3.3V operation
US5514951A (en) 1994-04-11 1996-05-07 Rockwell International Corporation Supply-discriminating supply-adaptive electronic system
US5463520A (en) 1994-05-09 1995-10-31 At&T Ipm Corp. Electrostatic discharge protection with hysteresis trigger circuit
JP2885660B2 (ja) 1995-01-31 1999-04-26 日本無線株式会社 振幅変調回路
MY121210A (en) 1995-02-24 2006-01-28 Intel Corp Nonvolatile memory with output mode configuration
JPH08248096A (ja) 1995-03-13 1996-09-27 Advantest Corp 回路試験装置
US5528166A (en) 1995-03-14 1996-06-18 Intel Corporation Pulse controlled impedance compensated output buffer
US5729158A (en) 1995-07-07 1998-03-17 Sun Microsystems, Inc. Parametric tuning of an integrated circuit after fabrication
US5666078A (en) * 1996-02-07 1997-09-09 International Business Machines Corporation Programmable impedance output driver
US5838177A (en) 1997-01-06 1998-11-17 Micron Technology, Inc. Adjustable output driver circuit having parallel pull-up and pull-down elements
US5898321A (en) 1997-03-24 1999-04-27 Intel Corporation Method and apparatus for slew rate and impedance compensating buffer circuits
US6023174A (en) 1997-07-11 2000-02-08 Vanguard International Semiconductor Corporation Adjustable, full CMOS input buffer for TTL, CMOS, or low swing input protocols
US6072351A (en) 1997-08-18 2000-06-06 Advanced Micro Devices, Inc. Output buffer for making a 5.0 volt compatible input/output in a 2.5 volt semiconductor process
US6114895A (en) * 1997-10-29 2000-09-05 Agilent Technologies Integrated circuit assembly having output pads with application specific characteristics and method of operation
US6040714A (en) 1997-12-12 2000-03-21 Micron Electronics, Inc. Method for providing two modes of I/O pad termination
US6040845A (en) 1997-12-22 2000-03-21 Compaq Computer Corp. Device and method for reducing power consumption within an accelerated graphics port target
US6054881A (en) 1998-01-09 2000-04-25 Advanced Micro Devices, Inc. Input/output (I/O) buffer selectively providing resistive termination for a transmission line coupled thereto
US6052325A (en) 1998-05-22 2000-04-18 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for translating signals
US6326821B1 (en) * 1998-05-22 2001-12-04 Agere Systems Guardian Corp. Linearly-controlled resistive element apparatus
US6308289B1 (en) 1998-10-01 2001-10-23 International Business Machines Corporation Method and system for environmental sensing and control within a computer system
JP3462104B2 (ja) * 1998-12-11 2003-11-05 株式会社東芝 プログラマブルインピーダンス回路及び半導体装置
US6272644B1 (en) 1999-01-06 2001-08-07 Matsushita Electrical Industrial Co., Ltd. Method for entering powersave mode of USB hub
US6166563A (en) 1999-04-26 2000-12-26 Intel Corporation Method and apparatus for dual mode output buffer impedance compensation

Also Published As

Publication number Publication date
TW506192B (en) 2002-10-11
KR100511112B1 (ko) 2005-08-31
CN1218484C (zh) 2005-09-07
EP1297629A1 (de) 2003-04-02
US6624662B1 (en) 2003-09-23
KR20030014289A (ko) 2003-02-15
DE60115041D1 (de) 2005-12-22
CN1449597A (zh) 2003-10-15
HK1052090A1 (en) 2003-08-29
ATE310336T1 (de) 2005-12-15
AU2001266969A1 (en) 2002-01-14
WO2002003553A1 (en) 2002-01-10
EP1297629B1 (de) 2005-11-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE60115041T2 (de) Puffer mit kompensierender steuerungsstärke
DE3689296T2 (de) Ausgangsschaltung mit Pegelstabilisierung.
DE69022185T2 (de) Kondensatorenanordnung mit variabler Kapazität.
DE3783963T2 (de) Treiberschaltung mit einstellbarer impedanz.
DE10146825B4 (de) Programmierbare Impedanzsteuerschaltung
DE69124002T2 (de) Programmierbare Verzögerungsschaltung
DE60133400T2 (de) Digitalgesteuerte impedanz für eingangs/ausgangsschaltung einer integrierten schaltungsvorrichtung
DE69431266T2 (de) Pufferschaltungen
DE60319774T2 (de) Verfahren und Schaltungsanordnung zur Erzeugung eines Steuersignals zur Impedanzanpassung
DE69627415T2 (de) Dämpfungseinheit, Stufendämpfungsvorrichtung und elektronisches Gerät
DE102007040380A1 (de) Ausgangsschaltung einer Halbleitervorrichtung
DE69227884T2 (de) Breitenveränderliches Stromspiegel-Digital/Analogsystem und Verfahren zur Generierung einer Steuerspannung zur Verzögerungserzeugung
DE102005048575A1 (de) Impedanzeinstellschaltung, integriertes Schaltungsbauelement und Impedanzsteuerverfahren
DE10134874B4 (de) Leitungstreiber
DE102006048846A1 (de) Eichschaltung und dieselbe enthaltende Halbleitervorrichtung
DE10254618A1 (de) Schaltung zum Ansteuern einer Leistungsvorrichtung
DE69416661T2 (de) Digital Analogwandler
DE10130123A1 (de) Verzögerungsregelkreis zur Erzeugung komplementärer Taktsignale
DE10249016B4 (de) Mehrpegeltreiberstufe
DE19612701C2 (de) Variable Verzögerungsschaltung
DE19950359B4 (de) Eingabe-Ausgabe-Puffer mit verringertem Rückkoppelungseffekt
DE69410199T2 (de) Datenauswahleinrichtung
DE10315527B3 (de) Eingangsschaltung zum Empfangen eines Signals an einem Eingang einer integrierten Schaltung
EP0748047A1 (de) Integrierte Pufferschaltung
DE2737544B2 (de) Ausgangsverstärker mit CMOS-Transistoren

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8328 Change in the person/name/address of the agent

Representative=s name: HEYER, V., DIPL.-PHYS. DR.RER.NAT., PAT.-ANW., 806