DE4420041C2 - Konstantspannungs-Erzeugungsvorrichtung - Google Patents
Konstantspannungs-ErzeugungsvorrichtungInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Konstantspannungs-
Erzeugungsvorrichtung zur Erzeugung einer vorbestimmten
Ausgangsspannung, die
einer aktiven Schaltungseinheit zugeführt wird.
Seit einiger Zeit enthält ein MOS-Halbleiterspeicher, in
welchem MOS-Transistoren integriert sind, nicht nur
Digitalschaltungen, sondern auch eine Anzahl an
Analogschaltungen. Beispielsweise stellt bei einem
dynamischen RAM (DRAM) eine Einrichtung zum Herunterwandeln
einer Spannung, die zur Erhöhung der Verläßlichkeit des
MOSFET verwendet wird, eine typische Analogschaltung dar. Die
Spannungsherunterwandlungs-Einrichtung stuft eine externe
Spannung Vcc in einem Speicherchip herunter, erzeugt eine
Spannung Vint, die niedriger ist als die äußere
Versorgungsspannung, und verwendet die Spannung Vint als
Quellenspannung des Speicherchips.
Eine derartige Analogschaltung, die auf einem Chip angebracht
ist, weist im allgemeinen eine Spannungswandlerschaltung des
Differenzverstärkertyps auf, um eine Bezugsspannung Vref mit
einer erzeugten Spannung Vint zu vergleichen. Die
Spannungsvergleicherschaltung des Differenzverstärkertyps
verbraucht unvermeidlich einen Gleichstrom als Durchlaßstrom,
infolge ihres Aufbaus. Daher ist es bei der Auslegung einer
Spannungsabfallschaltung äußerst wesentlich, eine
zufriedenstellende Antwortcharakteristik mit einem niedrigen
Durchlaßstrom aufrechtzuerhalten.
Fig. 1 zeigt eine Beziehung zwischen dem Stromverbrauch und
der Antwortcharakteristik bei einer
Spannungsherunterwandlungs-Vorrichtung, auf der Grundlage
einer Schaltungssimulation. In Fig. 1 wird die Beziehung
zwischen dem Stromverbrauch und der Antwortcharakteristik
eines Differenzverstärkers DA, welcher eine Konstantstrom-
Steuerschaltung aufweist, mit jener eines
Differenzverstärkers DA verglichen, der keine Konstantstrom-
Steuerschaltung aufweist. Eine Antwortcharakteristikkurve AL
gibt die Charakteristik des Differenzverstärkers DA an, der
keine Stromregelschaltung A aufweist, und eine
Antwortcharakteristikkurve BL gibt die Charakteristik des
Differenzverstärkers DA an, welcher mit einer Konstantstrom-
Regelschaltung B versehen ist. Die Abszisse gibt den
Stromverbrauch unter der Bedingung einer Spannung Vcc + 10%
bei niedriger Temperatur an, bei welcher der Stromverbrauch
ein Maximum erreicht, und die Ordinate gibt die
Antwortcharakteristik unter der Bedingung einer Spannung
Vcc - 10% bei hoher Temperatur an, bei welcher die
Antwortcharakteristik ein Maximum aufweist.
Bei dem Differenzverstärker DA ist die Reaktionszeit desto
kürzer, je größer der Stromverbrauch ist, ob nun die
Konstantstrom-Regelschaltung vorhanden ist oder nicht.
Allerdings ist der Differenzverstärker DA, welcher eine
Konstantstrom-Regelschaltung B aufweist, in der Hinsicht
vorteilhafter, daß ein Betrieb selbst unter schwersten
Bedingungen sichergestellt ist, unter Berücksichtigung einer
Variation der Parameter. Wird beispielsweise die
Antwortcharakteristik am Momentanwert eines Punktes C in dem
Differenzverstärker DA normiert, der die in Fig. 1 gezeigte
Konstantstrom-Regelschaltung B aufweist, so beträgt die
Reaktionszeit des Differenzverstärkers DA, der die einen
nicht-konstanten Strom regelnde Schaltung A aufweist, das
3,7-fache jener des Differenzverstärkers DA, welcher die
Konstantstrom-Regelschaltung B aufweist. Um andererseits eine
zufriedenstellende Antwortcharakteristik zu erhalten, beträgt
der Stromverbrauch des Differenzverstärkers DA, der die auf
einen nicht-konstanten Strom regelnde Schaltung A aufweist,
das 3-fache jenes des Differenzverstärkers DA, der mit der
Konstantstrom-Regelschaltung B versehen ist. Da die
Konstantstrom-Regelung auch in der Hinsicht wirksam ist, daß
sie einen Gleichspannungs-Ausgangspegel eines
Differenzverstärkers stabilisiert, und eine bestimmte
Verstärkung sicherstellt, sind in einer Speichervorrichtung
verschiedene Konstantstrom-Regelschaltungen vorgesehen.
Die Konstantstrom-Regelschaltung wurde wirksam nicht nur in
der Spannungsherunterwandlungs-Vorrichtung eingesetzt,
sondern auch in verschiedenen Spannungserzeugungs-Schaltungen
(einer Schaltung zur Erzeugung eines mittleren Potentials
oder einer Booster-Schaltung (Spannungserhöhungs-Schaltung)),
die auf einem Chip angebracht sind, oder in einem System,
welches ein Übertragungssystem für Daten kleiner Amplitude
aufweist, unter Verwendung eines Differenzverstärkers (siehe
beispielsweise JEEE JSSC; Band 26, Nr. 11, November 1991, Seiten
1498-1505). Eine typische Konstantstrom-Regelschaltung weist
einen Aufbau auf, bei welchem in einem Chip integrierte
Differenzverstärker jeweils MOS-Stromregeltransistoren
aufweisen. Bei einem derartigen Aufbau wird ein mittleres
Potential, welches dazu ausreicht, einen MOS-
Stromregeltransistor zum Be rieb in einem Pentodenbereich
(d. h. in dem gesättigten Bereich der Ausgangskennlinie) zu veranlassen, an die Gate-Elektrode
eines MOS-Stromregeltransistors angelegt. Eine Schaltung zur
Erzeugung des mittleren Potentials wird als stromgesteuerte
Spannungserzeugungs-Schaltung bezeichnet, die im allgemeinen
von mehreren Differenzverstärkern geteilt wird.
Fig. 2 ist ein Schaltbild, welches eine stromgesteuerte
Spannungserzeugungs-Schaltung und ein Schaltungssystem zum
Regeln oder Steuern eines konstanten Stromes zeigt. Die
stromgesteuerte Spannungserzeugungs-Schaltung weist eine
Bezugsspannungs-Erzeugungsschaltung 1 auf, eine
konventionelle Konstantstrom-Schaltung 2 des kontinuierlichen
Regeltyps, sowie einen Lasttransistor Q2. Die
Bezugsspannungs-Erzeugungsschaltung 1 erzeugt eine
Bezugsspannung Vr. Die Konstantstrom-Schaltung 2 des
kontinuierlichen Regeltyps weist einen Differenzverstärker DA
auf, der die Bezugsspannung Vr als Bezugspotential verwendet,
einen Stromregeltransistor Q1, der eine Gate-Elektrode
aufweist, die durch ein Ausgangssignal des
Differenzverstärkers DA gesteuert wird, und einen Standard-
Widerstand Rc, der in Reihe zwischen den Transistor Q1 und
die Energiequelle geschaltet ist. Der Lasttransistor Q2
wandelt einen Stromwert in einen Spannungswert um. Der
Transistor Q2 und ein Transistor Q3 bilden einen
Stromspiegel.
Eine Ausgangsspannung Vcm von der stromgesteuerten
Spannungserzeugungs-Schaltung wird an die Gate-Elektrode des
Stromregeltransistors Q3 jedes Differenzverstärkers 3
angelegt, wodurch eine Konstantstrom-Regelung durchgeführt
wird. Das Arbeitsprinzip der stromgeregelten
Spannungserzeugungs-Schaltung mit dem voranstehend
geschilderten Aufbau wird nachstehend kurz erläutert. Ein
Bezugsstrom I1, der durch die Konstantstrom-Schaltung 2 des
kontinuierlichen Regeltyps zum Fließen durch den
Lasttransistor Q2 veranlaßt wird, wird durch nachstehende
Gleichung ausgedrückt:
I1 = Vr/Rc (1)
Da die Transistoren Q2 und Q3 einen Stromspiegel bilden, wird
ein Strom I2, der durch jeden Differenzverstärker fließt,
unter der Voraussetzung, daß die Längen der Gate-Elektroden
der Transistoren Q2 und Q3 gleich sind, durch nachstehende
Gleichung ausgedrückt:
I2 = (W2/W1) × I1 (2)
wobei W1 und W2 die Breite der Gate-Elektrode des Transistors
Q2 bzw. Q3 bezeichnet.
Wie aus den voranstehenden Gleichungen (1) und (2)
hervorgeht, stellt I2 einen konstanten Wert dar, der nur von
der Bezugsspannung Vr und dem Standardwiderstand Rc abhängt,
unabhängig von der Versorgungsspannung Vcc, der Temperatur,
und den Transistoreigenschaften. Darüber hinaus kann der
durch jeden der Differenzverstärker fließende Strom I2
dadurch auf einen gewünschten Wert eingestellt werden, daß
entsprechend die Geräteabmessungen der Transistoren Q2 und Q3
eingestellt werden.
Daher ist die in Fig. 2 gezeigte, stromgeregelte
Spannungserzeugungs-Schaltung eine sehr stabile Schaltung, da
der Stromwert nur in Abhängigkeit von dem Bezugsspannungswert
und dem Wert des Standardwiderstands festgelegt wird.
Allerdings wird die minimale Versorgungsspannung zum Betrieb
der stromgesteuerten Spannungserzeugungs-Schaltung durch eine
Stromvorspannstufe festgelegt, in welcher der
Standardwiderstand Rc und die beiden MOS-Transistoren Q1 und
Q2 in Reihe geschaltet sind. In der Theorie wird die minimale
Versorgungsspannung Vmin zum Betreiben der stromgesteuerten
Spannungserzeugungs-Schaltung durch nachstehende Gleichung
ausgedrückt:
Vmin = Vr + Vt (3)
wobei Vt die Schwellenspannung des Transistors Q2 ist. Falls
beispielsweise Vr = 1,5 V und Vt = 0,5 V, so beträgt
Vmin = 2,0 V.
Da allerdings die Konduktanz des stromgeregelten Transistors
Q1 begrenzt ist, tritt zwischen der Source und dem Drain des
Transistors Q1 ein Spannungsabfall auf.
Daher ist eine Versorgungsspannung von 2,5 V oder mehr
erforderlich, um den konstanten Strom in der stromgeregelten
Spannungserzeugungs-Schaltung 2 aufrechtzuerhalten.
Zusätzlich zum voranstehend geschilderten Problem der
Absenkung der minimalen Versorgungsspannung Vmin infolge des
Spannungsabfalls treten die nachstehend geschilderten
Schwierigkeiten infolge des Herstellungsverfahrens auf. Die
Schwellenspannung Vt ist in verschiedenen hergestellten Chips
unterschiedlich, infolge von Schwankungen beim
Herstellungsverfahren. Angesichts dieser Tatsache muß die
minimale Versorgungsspannung Vmin höher gewählt werden (etwa
2,8 V). Daher wird die Sicherheitsspanne für die
stromgeregelte Spannungserzeugungs-Schaltung 2 bis zum Wert von
3,3 V für Vcc, der in Vorrichtungen der 64-MDRAM-Generation
verwendet wird, beträchtlich verringert.
Weiterhin legt die stromgesteuerte Spannungserzeugungs-
Schaltung den Betriebsspielraum der Seite mit niedriger
Versorgungsspannung eines DRAM fest.
Die stromgeregelte Spannungserzeugungs-Schaltung 2 erfordert
zwei Betriebsabläufe: Eine Konstantstrom-Regelung und eine
Strom-Spannungswandlung. Da die beiden Betriebsvorgänge durch
die voranstehend erwähnte, einzige Stromvorspannungsstufe
erzielt werden, in welcher die drei Elemente in Reihe
geschaltet sind, kann die Betriebsgrenzspannung der Schaltung
nicht niedrig sein.
Es ist beträchtlich nachteilig, daß die Betriebsgrenzspannung
nicht niedrig sein kann, insbesondere im folgenden Fall: Wenn
in der Zukunft der Skalier-Koeffizient der
Versorgungsspannung kleiner wird als jener der
Schwellenspannung eines MOS, also wenn nur die
Versorgungsspannung abgesenkt wird, um die Verläßlichkeit der
MOSFET-Vorrichtung sicherzustellen, obwohl die
Schwellenspannung Vt nicht verringert werden kann, infolge
der Eigenschaften des Transistors unterhalb der Schwelle. In
diesem Fall ist es beträchtlich nachteilig, daß die
Betriebsgrenzspannung nicht niedrig sein kann.
Wie voranstehend erläutert, weist die konventionelle
stromgeregelte Spannungserzeugungs-Schaltung, die einen
Aufbau aufweist, bei welchem ein Standardwiderstand, ein
Stromregelwiderstand und der Strom-Spannungs-
Wandlerlasttransistor Q2 in Reihe geschaltet sind, den Nachteil
auf, daß bei einem Absinken der Versorgungsspannung die
Differenz zwischen der minimalen Versorgungsspannung, die zum
stabilen Betreiben einer Schaltung erforderlich ist, und der
der Schaltung zugeführten Versorgungsspannung klein wird, was
zu einem instabilen Betrieb führt.
Die vorliegende Erfindung wurde unter Berücksichtigung der
voranstehend geschilderten Situation entwickelt, und ihre Aufgabe
besteht in der Bereitstellung einer Konstantspannungs-
Erzeugungsvorrichtung, bei welcher der Betriebsspielraum für
die Versorgungsspannung groß ist, und ein stabiler Betrieb
aufrechterhalten wird, selbst wenn die Versorgungsspannung
niedrig ist.
Diese Aufgabe wird durch eine Vorrichtung mit den
in Anspruch 1 aufgeführten Merkmalen gelöst. Bevorzugte
Ausführungen finden sich in den Unteransprüchen.
Aus DE-37 16 577 A1 ist eine Stromspiegelschaltung großer
Leistungsfähigkeit bekannt. Aus JP-3-78810 (A) ist eine Schaltung
bekannt, bei welcher an einem Verbindungspunkt zwischen einem
Widerstand und einem MOS-Transistor, dessen Kanalgebiet
gleich dotiert ist wie das Halbleitersubstrat, eine
Ausgangsspannung abgegriffen wird. Das andere Ende des
Widerstands ist mit einer Spannungsquelle verbunden, und das
andere Ende des Transistors ist mit der Erde verbunden. Das
Gate ist mit dem erdseitigen Anschluß verbunden und das
Substrat des Transistors mit dem zum Widerstand führenden
Anschluß.
Aus "A Simple Three-Terminal IC Bandgap Reference", IEEE
Journal of Solid-State Circuits, vol. SC-9, no. 6, December
1974, S. 388-393, ist eine Bandlückenbezugsspannungsschaltung bekannt.
Bei der Konstantspannungs-Erzeugungsvorrichtung gemäß der
vorliegenden Erfindung sind eine Konstantstrom-
Schaltungseinheit und eine Strom-
Spannungswandlerschaltungseinheit einzeln vorgesehen, um
Differenzverstärker zu steuern, so daß ein konstanter Strom
zum Fließen durch diese veranlaßt wird, und diese Schaltungen
sind so geschaltet, daß sie eine Stromspiegelschaltung
bilden. Da die Anzahl miteinander in Reihe geschalteter
Schaltungselemente verringert ist, kann daher eine
Minimalversorgungsspannung für den Betrieb verringert werden.
Dies führt dazu, daß eine Konstantspannungs-
Erzeugungsvorrichtung erhalten werden kann, die einen großen
Betriebsspielraum bezüglich der Versorgungsspannung aufweist.
Die Erfindung wird nachstehend anhand zeichnerisch
dargestellter Ausführungsbeispiele erläutert, aus welchen
weitere Vorteile und Merkmale hervorgehen. Weitere Vorteile
und Merkmale lassen sich bei der Umsetzung der Erfindung in
die Praxis erzielen.
Die beigefügten Zeichnungen, die in die Beschreibung
eingeschlossen sind und einen Teil der Beschreibung bilden,
erläutern bevorzugte Ausführungsformen der
Erfindung, und dienen, zusammen mit der voranstehenden,
allgemeinen Beschreibung sowie der nachstehenden, ins
einzelne gehenden Beschreibung der bevorzugten
Ausführungsformen, zur Erläuterung der Grundlagen der
vorliegenden Erfindung. Es zeigt:
Fig. 1 eine Darstellung der Beziehung zwischen dem
Stromverbrauch und der Reaktionsgeschwindigkeit in
einem Differenzverstärker;
Fig. 2 ein Schaltbild einer konventionellen stromgeregelten
Spannungserzeugungs-Schaltung;
Fig. 3 ein Schaltbild einer stromgeregelten
Spannungserzeugungs-Schaltung gemäß einer ersten
Ausführungsform der vorliegenden Erfindung sowie
eines Systems, welches die stromgeregelte
Spannungserzeugungs-Schaltung verwendet;
Fig. 4 ein Schaltbild einer typischen Stromspiegelschaltung
unter Verwendung von MOS-Transistoren;
Fig. 5 ein Schaltbild einer Ausbildung der bei der ersten
Ausführungsform verwendeten stromgeregelten
Spannungserzeugungs-Schaltung;
Fig. 6 ein Schaltbild einer weiteren Ausbildung der
stromgeregelten Spannungserzeugungs-Schaltung, die
bei der ersten Ausführungsform verwendet wird; und
Fig. 7 ein Schaltbild einer stromgeregelten
Spannungserzeugungs-Schaltung gemäß einer zweiten
Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, und eines
Systems, welches die stromgeregelte
Spannungserzeugungs-Schaltung verwendet.
Fig. 3 ist ein Schaltbild, welches eine stromgeregelte
Spannungserzeugungs-Schaltung (eine Konstantspannungs-
Erzeugungsvorrichtung) gemäß einer ersten Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung sowie ein System zeigt, welches diese
Schaltung verwendet. Die stromgeregelte Spannungserzeugungs-
Schaltung gemäß dieser Ausführungsform weist eine
Bezugsspannungs-Erzeugungsschaltungseinheit 1 (1A) auf, zur
Erzeugung einer Bezugsspannung Vr, eine Konstantstrom-
Schaltungseinheit 2 des kontinuierlichen Regeltyps zur
Erzeugung eines Bezugsstroms, um einen konstanten Stromfluß
durch eine Aktivelementeinheit hervorzurufen, die durch
mehrere Differenzverstärker 3 gebildet wird, und eine Strom-
Spannungswandlerschaltung 4 zum Umwandeln des
Bezugsstroms in eine Bezugsspannung. Jeder der
Differenzverstärker 3 ist mit MOS-Transistoren Q31, Q32, Q33
und Q34 versehen. Bezugsziffern 3 1, 3 2 . . . 3 n bezeichnen die
Nummer des jeweiligen Differenzverstärkers 3. Mit anderen
Worten wird die Aktivelementeinheit, die in Fig. 3 gezeigt
ist, durch die Anzahl n an Differenzverstärkern 3 gebildet.
Die Anzahl n an Differenzverstärkern 3 wird insgesamt durch
eine Spannung Vcm gesteuert, die von der Strom-
Spannungswandlerschaltung 4 ausgegeben wird, so daß
ein konstanter Strom zum Fließen durch diese
Differenzverstärker veranlaßt wird. Allerdings kann auch nur
einer, oder können nur wenige der n-Differenzverstärker durch
die Spannung Vcm gesteuert werden, die von der Strom-
Spannungswandlerschaltung 4 ausgegeben wird, so daß
ein konstanter Strom zum Fließen durch die betreffenden
Differenzverstärker veranlaßt wird.
Die Konstantstrom-Schaltung 2 des kontinuierlichen
Regeltyps weist einen Differenzverstärker DA auf, welchem die
Bezugsspannung Vr eingegeben wird, einen MOS-
Transistor Q4, der eine Gate-Elektrode aufweist, an welche
ein Ausgangssignal des Differenzverstärkers DA angelegt wird,
sowie einen Standardwiderstand Rc, der in Reihe mit dem
Transistor Q4 geschaltet ist. Die Strom-
Spannungswandlerschaltung 4 weist einen MOS-
Transistor Q5 auf, der zusammen mit dem MOS-
Transistor Q4 einen Stromspiegel bildet, sowie einen in Reihe
mit dem Transistor Q5 geschalteten MOS-Lasttransistor Q6, zum
Umwandeln eines Stroms in eine Spannung. Eine Spannung Vcm,
die von der Strom-Spannungs-Wandlerschaltung 4
ausgegeben wird, wird an die Gate-Elektrode eines
Transistors Q7 jedes Differenzverstärkers 3 der
Aktivelementeinheit angelegt, wodurch eine Konstantstrom-
Regelung durchgeführt wird.
Unter Bezugnahme auf Fig. 4 wird eine typische
Stromspiegelschaltung beschrieben.
Wie aus Fig. 4 hervorgeht, sind die Gate-Elektroden von
Transistoren QA und QB miteinander verbunden. Die Drain-
Elektrode des Transistors QA ist an die Gate-Elektroden der
Transistoren QA und QB angeschlossen. Wenn in der
Stromspiegelschaltung ein Strom IA an den Transistor QA
geliefert wird, so erfolgt eine Stromspiegelung eines Stroms
IB (IB = IA) durch die Drain-Elektrode des Transistors QB.
Diese Eigenschaft der Stromspiegelschaltung wird nur dann
erhalten, wenn die Gate-Sourcecharakteristik des Transistors
QA gleich jener des Transistors QB ist.
Nachstehend wird das Betriebsprinzip der Schaltung gemäß der
voranstehenden Ausführungsform beschrieben. Ein Strom I3, der
zum Fließen durch den MOS-Stromregeltransistor Q4 veranlaßt
wird, und zwar durch die Konstantstrom-Schaltung 2 des
kontinuierlichen Regeltyps, wird durch nachstehende Gleichung
ausgedrückt:
I3 = Vr/Rc (4)
Da die MOS-Transistoren Q4 und Q5 einen Stromspiegel bilden,
wird dann, wenn die Gate-Elektrodenlängen dieser Transistoren
gleich eingestellt sind, ein Strom I4, der durch die Strom-
Spannungswandlerschaltung 4 fließt durch nachstehende
Gleichung ausgedrückt:
I4 - (Wp2/Wp1) × I3 (5)
wobei Wp1 und Wp2 die Breite der Gate-Elektrode des
Transistors Q4 bzw. Q5 bezeichnet.
Da die MOS-Transistoren Q6 und Q7 einen Stromspiegel bilden,
wird ein Strom I5, der durch jeden der Differenzverstärker 3
fließt, durch die nachstehende Gleichung ausgedrückt, wenn
die Gate-Elektrodenlängen dieser Transistoren einander gleich
sind:
I5 = (Wn2/Wn1) × I3 (6)
wobei Wn1 und Wn2 die Breite der Gate-Elektrode des
Transistors Q6 bzw. Q7 bezeichnet.
Der Strom I5 kann dadurch auf einen gewünschten Wert
eingestellt werden, daß auf geeignete Weise das Verhältnis
der Gate-Elektrodenbreite des Transistors Q4 zu jener des
Transistors Q5 ausgewählt wird, sowie das Verhältnis der
Gate-Elektrodenbreite des Transistors Q6 zu jener des
Transistors Q7. Ist das Bezugspotential Vr höher eingestellt
als die Schwellenspannung Vtn des Transistors Q6, so ist
unvermeidlich die Source-Drain-Spannung des Transistors Q5
höher als jene des Transistors Q4. Falls die
Schaltungskonstanten des Transistors Q4 und des
Differenzverstärkers DA so ausgewählt sind, daß der
Transistor Q4 in dem Pentodenbereich (d.h. in dem Sättigungsbereich der Ausgangskennlinie, vgl. Tietze, Schenk "Halbleiterschaltungstechnik"
5. Auflage, S. 28, 29) arbeiten kann, so folgt
daraus, daß der Transistor Q5 zwangsläufig in dem
Pentodenbereich arbeitet.
Bei der Schaltungsanordnung gemäß der vorliegenden
Ausführungsform kann daher mit anderen Worten eine stabile
stromgeregelte Spannungserzeugungs-Schaltung erhalten werden,
unabhängig von Änderungen der Versorgungsspannung, der
Temperatur, oder Transistoreigenschaften, und zwar einfach
dadurch, daß der Betriebsbereich des Transistors Q4
berücksichtigt wird.
Die minimale Versorgungsspannung Vmin im Betrieb bei der
voranstehenden ersten Ausführungsform wird durch die Konstantstrom-
Schaltungseinheit 2 festgelegt und durch die nachstehende
Gleichung ausgedrückt, wenn Vr < die Schwellenspannung des
Transistors Q6 ist, wie voranstehend erläutert:
Vmin = Vr + |Vtp| (7)
wobei Vtp die Schwellenspannung des Transistors Q4 ist. Gemäß
dieser Gleichung beträgt Vmin = 2,0 V, wenn Vr = 1,5 V ist,
und |Vtp| = 0,5 V ist.
Bei der vorliegenden ersten Ausführungsform sind der Transistor Q4
und der Standardwiderstand Rc (oder die Transistoren Q5 und
Q6) in Reihe zwischen die Stromquellenklemme und Masse
geschaltet. Dies unterscheidet sich von der konventionellen
Schaltung (Fig. 2), bei welcher der Standardwiderstand Rc und
die Transistoren Q1 und Q2 in Reihe geschaltet sind, wobei es
erforderlich ist, die minimale Versorgungsspannung anzuheben,
um den Spannungsabfall zwischen der Source und dem Drain des
Transistors Q1 zu kompensieren. Obwohl die minimale
Versorgungsspannung Vmin im Betrieb bei dieser
Ausführungsform (Gleichung (7)) dieselbe ist wie jene der
konventionellen Schaltung (Gleichung (3)), jedenfalls in der
Theorie, kann die minimale Spannung im Betrieb beim
tatsächlichen Einsatz niedriger sein als jene der
konventionellen Schaltung.
Wie voranstehend erläutert, sind bei der stromgeregelten
Spannungserzeugungs-Schaltung gemäß der ersten
Ausführungsform (Fig.) 3 die Konstantstrom-Schaltungseinheit 2 und die
Strom-Spannungswandlerschaltung 4 einzeln in zwei
Stufen vorgesehen, und die Stufe jeder Schaltungseinheit
weist eine Stromspiegelanordnung auf, anders als bei der
konventionellen Schaltung. Auf diese Weise reichen nur zwei
in Reihe geschaltete Schaltungselemente zur Ausbildung jeder
Stufe aus, wodurch die Minimalspannung im Betrieb erhöht
wird. Hieraus folgt, daß der Betriebsspielraum bezüglich der
Versorgungsspannung erhöht werden kann, was einen stabilen
Betrieb selbst bei einer niedrigen Versorgungsspannung
sicherstellt. Daher lassen sich mit der Schaltung gemäß der
vorliegenden Ausführungsform erhebliche Vorteile erzielen.
Fig. 5 zeigt ein Beispiel für die Schaltung, die bei der
ersten Ausführungsform verwendet wird. Diese Schaltung
verbindet eine Bezugsspannungs-Erzeugungsschaltung 1
(1B) zur Erzeugung einer Bezugsspannung Vr unter Verwendung
der Schwellenspannung eines pMOS-Transistors des I-Typs Q8.
Die Bezugsspannung Vr, die von der Bezugsspannungs-
Erzeugungsschaltungseinheit 1 (1B) erzeugt wird, ist relativ
stabil in bezug auf Änderungen der Herstellungsbedingungen
und eine Änderung der Temperatur, da ein pMOS-Transistor des
I-Typs selbst relativ stabil in bezug auf Änderungen der
Herstellungsbedingungen und Temperaturänderungen ist.
Fig. 5 zeigt weiterhin im einzelnen den Aufbau des
Differenzverstärkers DA, welcher einen Stromspiegelverstärker
bildet, der durch MOS-Transistoren Q21, Q22, Q23 und Q24
gebildet wird.
Bei der Ausführungsform, welche die in Fig. 5 gezeigte
Schaltung verwendet, kann die Spannung weiter stabilisiert
werden, die an die Aktivelementeneinheit 3 geliefert wird.
Fig. 6 zeigt ein weiteres Beispiel für die Schaltung, die bei
der ersten Ausführungsform verwendet wird. Die in Fig. 6
gezeigte Schaltung unterscheidet sich von jener in Fig. 5
darin, daß eine Bandlücken-Bezugsschaltung (Band-Gap, BGR-
Schaltung) vorgesehen ist, die einen Bipolartransistor
aufweist, und als Schaltung 1 (1C) zur Erzeugung einer
Bezugsspannung Vr verwendet wird. Fig. 6 zeigt den
einfachsten Aufbau der BGR-Schaltung, welche drei
Bipolartransistoren Q9, Q10 und Q11 aufweist, Widerstände
R51, R52 und R53, und eine Stromquelle I51. Ein Hauptziel der
BGR-Schaltung 1C stellt die Temperaturkompensation des
Bezugspotentials dar. Es ist beispielsweise eine
Konstantstrom-Schaltung bekannt, bei welcher eine BGR-
Schaltung mit einem parasitären Bipolartransistor (oder
mehreren derartigen Transistoren?) in einem Chip eines DRAM
vorgesehen ist, der durch ein CMOS-Verfahren hergestellt wird
(beispielsweise JEEE JSSC, Band 24, Nr. 5, Oktober 1989, Seiten
1191-1197).
Das Betriebsprinzip der BGR-Schaltung 1C ist wie folgt. Die
Basis-Emitterspannung (Vbe), die in einem Bipolartransistor
eine negative Temperaturabhängigkeit aufweist, wird einer
thermischen Spannung (kT/q) hinzuaddiert, die bei einem
Bipolartransistor eine positive Temperaturabhängigkeit
aufweist, wodurch ein Offset des Koeffizienten der
Temperaturabhängigkeit erfolgt, so daß eine Bezugsspannung
erhalten werden kann, die keine Temperaturabhängigkeit
aufweist.
Mit dieser Schaltung unter Verwendung der BGR-Schaltung wird
eine stabilere stromgeregelte Erzeugungsschaltung erhalten,
die keine Temperaturabhängigkeit aufweist. Daher weist die in
Fig. 6 gezeigte Schaltung verbesserte Eigenschaften auf,
verglichen mit der in Fig. 5 dargestellten Schaltung.
Fig. 7 ist ein Schaltbild, welches eine stromgeregelte
Spannungserzeugungs-Schaltung gemäß einer zweiten
Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt, sowie ein
diese Schaltung verwendendes System. Bei dieser
Ausführungsform wird ein pMOS-Transistor als
Stromsteuertransistor Q7, des Differenzverstärkers 3
verwendet. In Fig. 7 werden entsprechende Elemente wie in
Fig. 3 durch dieselben Bezugsziffern bezeichnet, und auf ihre
erneute, ins einzelne gehende Beschreibung wird verzichtet.
Die zweite Ausführungsform unterscheidet sich von der in
Fig. 3 dargestellten, ersten Ausführungsform darin, daß eine
Konstantstrom-Schaltungseinheit 2' und eine Strom-
Spannungswandlerschaltungseinheit 4' in einer stromgeregelten
Spannungserzeugungs-Schaltung komplementär zu den
entsprechenden Teilen der in Fig. 3 gezeigten Schaltung
ausgebildet sind. Das Betriebsprinzip der Schaltung ist
dasselbe wie jenes der in Fig. 3 gezeigten Ausführungsform.
Vmin der Schaltung wird durch nachstehende Gleichung
ausgedrückt:
Vmin = Vr + Vtn (8)
wobei Vtn die Schwellenspannung eines Transistors Q4' ist.
Die minimale Versorgungsspannung im Betrieb kann größer sein,
verglichen mit der konventionellen Schaltung, ebenso wie bei
der in Fig. 3 gezeigten Ausführungsform.
Bei der voranstehenden Beschreibung wurde hauptsächlich eine
Halbleiter-Speichervorrichtung erläutert, insbesondere ein
DRAM. Allerdings läßt sich die vorliegende Erfindung bei
anderen Speichervorrichtungen einsetzen, die eine
Konstantstrom-Schaltung aufweisen, beispielsweise bei einem
SRAM oder PROM. Die vorliegende Erfindung läßt sich ebenfalls
bei einer Logikvorrichtung einsetzen, die eine Konstantstrom-
Schaltung aufweist, abgesehen von einer Speichervorrichtung.
Bei einer derartigen Konstantstrom-Schaltung kann eine
Konstantstrom-Regelung durch eine Konstantspannungs-
Erzeugungsvorrichtung (eine stromgeregelte
Spannungserzeugungs-Schaltung) gemäß der vorliegenden
Erfindung durchgeführt werden.
Wie voranstehend erläutert, sind bei der vorliegenden
Erfindung eine Konstantstrom-Schaltungseinheit und eine
Strom-Spannungswandlerschaltungseinheit einzeln vorgesehen,
um Differenzverstärker zu steuern bzw. zu regeln, so daß
durch diese ein konstanter Strom zum Fließen veranlaßt wird,
und diese Schaltungen sind so miteinander verbunden, daß eine
Stromspiegelschaltung gebildet wird. Dies ermöglicht die
Anzahl miteinander in Reihe geschalteter Schaltungsbauteile zu
verringern. Daher läßt sich eine Konstantspannungs-
Erzeugungsvorrichtung erzielen, die bezüglich der
Versorgungsspannung einen großen Betriebsspielraum aufweist.
Claims (9)
1. Konstantspannungs-Erzeugungsvorrichtung zur Erzeugung
einer vorbestimmten Ausgangsspannung (VCM), die einer aktiven
Schaltungseinheit (3) zugeführt wird, wobei
- a) eine Konstantstrom-Schaltung (1A, 1B, 1C, 2) zur Er zeugung eines Bezugsstromes (I3) einen ersten Transistor (Q4) in Reihe mit einem Standardwiderstand (RC) aufweist,
- b) eine Strom-Spannungs-Wandlerschaltung (4) die der Konstantstrom-Schaltung (1A, 1B, 1C, 2) nachgeschaltet ist und zur Umwandlung des Bezugsstromes (I3) in die Aus gangsspannung (VCM) vorgesehen ist, einen zweiten Transistor (Q5) in Reihe mit einem dritten Transistor (Q6) aufweist, wobei der erste und der zweite Transistor (Q4, Q5) einen Stromspiegel bilden und der Verbindungspunkt von zweitem und drittem Transistor (Q5; Q6) die vorbestimmte Ausgangsspannung (VEM) liefert
- c) die Konstantstrom-Schaltung (1A, 1B, 1C, 2) eine Be zugsspannungs-Erzeugungsschaltung (1A, 1B, 1C) und einen Differenzverstärker. (DA) aufweist, an dessen einem Ein gang die Bezugsspannung (Vr) angelegt ist und dessen anderer Eingang mit dem Verbindungspunkt von erstem Transistor (Q4) und Standardwiderstand (RC) verbunden ist und der Ausgang des Differenzverstärkers (DA) mit dem Gate des ersten und des zweiten Transistors (Q4, Q5) verbunden ist (Fig. 3).
2. Vorrichtung nach Anspruch 1 dadurch gekennzeichnet, daß
die aktive Schaltungseinheit (3) eine Konstantstrom-
Betriebstypschaltung (Q31, Q32, Q33, Q34) und einen vierten
Transistor (Q7) zum Steuern eines Stromes,
der durch die Konstantstrom-Betriebstypschaltung fließt,
aufweist, wobei der vierte Transistor (Q7) zu
sammen mit dem dritten Transistor (Q6) einen
Stromspiegel bildet (Fig. 3).
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, da
durch gekennzeichnet, daß die Bezugsspannungs-Erzeu
gungsschaltung (1B) einen PMOS-Transistor des I-Typs auf
weist, dessen Schwellenspannung zur Erzeugung der Bezugs
spannung benutzt wird (Fig. 5).
4. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Bezugsspannungs-Erzeugungsschaltung
(1C) eine Bandlückenbezugsspannungsschaltung aufweist,
die einen Bipolartransistor als Hauptelement enthält (Fig. 6).
5. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche da
durch gekennzeichnet, daß der Differenzverstärker (DA)
einen Stromspiegelverstärker (Q21, Q22, Q23, Q24) auf
weist (Fig. 5).
6. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche da
durch gekennzeichnet, daß die aktive Schaltungseinheit
(3) aus Differenzverstärkern besteht.
7. Vorrichtung nach einem derart vorhergehenden Ansprüche
dadurch gekennzeichnet, daß der erste und der zweite
Transistor (Q4, Q5) MOS-Transistoren von einem Leitfähig
keitstyp (P-Kanal-) und der dritte und vierte Transistor
(Q6, Q7) MOS-Transistoren vom anderen Leitfähigkeitstyp
(N-Kanal-) sind (Fig. 3).
8. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche da
durch gekennzeichnet, daß die Transistoren hinsichtlich
ihres Leitfähigkeitstyps komplimentär ausgebildet sind
(Fig. 7).
9. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der
erste und der zweite Transistor (Q4, Q5) im
Sättigungsbereich der Ausgangskennlinie betrieben
werden.
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---|---|---|---|---|
JPH09120675A (ja) * | 1995-08-18 | 1997-05-06 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路 |
JP3223844B2 (ja) * | 1997-06-27 | 2001-10-29 | 日本電気株式会社 | 基準電圧発生装置 |
JP3465840B2 (ja) * | 1997-11-21 | 2003-11-10 | 松下電器産業株式会社 | 電圧電流変換回路 |
JP3742230B2 (ja) * | 1998-08-28 | 2006-02-01 | 株式会社東芝 | 電流発生回路 |
US6163178A (en) * | 1998-12-28 | 2000-12-19 | Rambus Incorporated | Impedance controlled output driver |
US6943618B1 (en) * | 1999-05-13 | 2005-09-13 | Honeywell International Inc. | Compensation mechanism for compensating bias levels of an operation circuit in response to supply voltage changes |
KR100335496B1 (ko) | 1999-11-26 | 2002-05-08 | 윤종용 | 낮은 외부전원전압에서도 안정적으로 동작하는내부전압발생회로 |
US6285256B1 (en) | 2000-04-20 | 2001-09-04 | Pericom Semiconductor Corp. | Low-power CMOS voltage follower using dual differential amplifiers driving high-current constant-voltage push-pull output buffer |
DE10028098C2 (de) * | 2000-06-07 | 2002-05-02 | Texas Instruments Deutschland | Schaltungsanordnung zur Erzeugung eines einstellbaren konstanten Ausgangsstroms |
CH697322B1 (fr) | 2000-06-13 | 2008-08-15 | Em Microelectronic Marin Sa | Procédé de génération d'un courant sensiblement indépendent de la température et dispositif permettant de mettre en oeuvre ce procédé. |
EP1164455B1 (de) * | 2000-06-13 | 2006-05-31 | EM Microelectronic-Marin SA | Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung eines temperaturunabhängigen Stroms |
US20030009924A1 (en) * | 2000-11-03 | 2003-01-16 | Sajadian Zahra Nassrin | Outdoor numeric/allphabetic lighting |
US6583661B1 (en) | 2000-11-03 | 2003-06-24 | Honeywell Inc. | Compensation mechanism for compensating bias levels of an operation circuit in response to supply voltage changes |
ITTO20020252A1 (it) * | 2002-03-21 | 2003-09-22 | Micron Technology Inc | Circuito e procedimento per la generazione di una corrente di riferimento a bassa tensione, dispositivo di memoria comprendente tale circuit |
US7095271B2 (en) * | 2002-09-27 | 2006-08-22 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Bias circuit |
US7088127B2 (en) * | 2003-09-12 | 2006-08-08 | Rambus, Inc. | Adaptive impedance output driver circuit |
CN100359808C (zh) * | 2004-04-21 | 2008-01-02 | 厦门优迅高速芯片有限公司 | 高速电流模式逻辑电路 |
TWI228347B (en) * | 2004-04-23 | 2005-02-21 | Faraday Tech Corp | Bandgap reference circuit |
US7250812B2 (en) * | 2004-05-05 | 2007-07-31 | International Business Machines Corporation | Integrated circuit current regulator |
US7064602B2 (en) * | 2004-05-05 | 2006-06-20 | Rambus Inc. | Dynamic gain compensation and calibration |
JP2006018663A (ja) * | 2004-07-02 | 2006-01-19 | Fujitsu Ltd | 電流安定化回路、電流安定化方法、及び固体撮像装置 |
US7312641B2 (en) * | 2004-12-28 | 2007-12-25 | Spansion Llc | Sense amplifiers with high voltage swing |
JP4854393B2 (ja) * | 2006-06-21 | 2012-01-18 | 三星電子株式会社 | 電圧発生回路 |
JP4386113B2 (ja) * | 2007-08-03 | 2009-12-16 | ソニー株式会社 | 参照電圧回路および撮像回路 |
JP2010035098A (ja) * | 2008-07-31 | 2010-02-12 | Sony Corp | 位相同期回路並びに記録再生装置および電子機器 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3716577A1 (de) * | 1986-05-20 | 1987-11-26 | Sgs Microelettronica Spa | Stromspiegelschaltung grosser leistungsfaehigkeit |
JPH0378810A (ja) * | 1989-08-23 | 1991-04-04 | Toshiba Corp | 半導体集積回路 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4585955B1 (en) * | 1982-12-15 | 2000-11-21 | Tokyo Shibaura Electric Co | Internally regulated power voltage circuit for mis semiconductor integrated circuit |
US4763021A (en) * | 1987-07-06 | 1988-08-09 | Unisys Corporation | CMOS input buffer receiver circuit with ultra stable switchpoint |
US5053640A (en) * | 1989-10-25 | 1991-10-01 | Silicon General, Inc. | Bandgap voltage reference circuit |
JP3068146B2 (ja) * | 1990-01-08 | 2000-07-24 | 日本電気株式会社 | 半導体集積回路 |
US5105102A (en) * | 1990-02-28 | 1992-04-14 | Nec Corporation | Output buffer circuit |
JPH04146650A (ja) * | 1990-10-08 | 1992-05-20 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路装置 |
JPH05312850A (ja) * | 1992-05-12 | 1993-11-26 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | 半導体集積回路 |
US5300837A (en) * | 1992-09-17 | 1994-04-05 | At&T Bell Laboratories | Delay compensation technique for buffers |
-
1993
- 1993-06-08 JP JP13765993A patent/JP3321246B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1994
- 1994-06-08 DE DE4420041A patent/DE4420041C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1994-06-08 KR KR1019940012810A patent/KR0164248B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1996
- 1996-09-18 US US08/714,291 patent/US5933051A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3716577A1 (de) * | 1986-05-20 | 1987-11-26 | Sgs Microelettronica Spa | Stromspiegelschaltung grosser leistungsfaehigkeit |
JPH0378810A (ja) * | 1989-08-23 | 1991-04-04 | Toshiba Corp | 半導体集積回路 |
Non-Patent Citations (4)
Title |
---|
"DE-Buch U. Tietze, Ch. Schenk "Halbleiterschaltungstechnik", 5. Aufl., S. 28, 29 * |
Nr. 5, October 1989, S. 1191-1197 * |
US-Z. IEEE Journal of Solid-State Circuits, Vol.SC-9, Nr.6, Dez.1974, S.388-393 * |
US-Z.: IEEE, Journal of Solid-State Ciruits, Band 26, Nr. 11, Nov. 1991, S. 1498-1505 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5933051A (en) | 1999-08-03 |
KR950002010A (ko) | 1995-01-04 |
DE4420041A1 (de) | 1994-12-15 |
KR0164248B1 (ko) | 1999-03-20 |
JP3321246B2 (ja) | 2002-09-03 |
JPH06350355A (ja) | 1994-12-22 |
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