JP2006018663A - 電流安定化回路、電流安定化方法、及び固体撮像装置 - Google Patents

電流安定化回路、電流安定化方法、及び固体撮像装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2006018663A
JP2006018663A JP2004196964A JP2004196964A JP2006018663A JP 2006018663 A JP2006018663 A JP 2006018663A JP 2004196964 A JP2004196964 A JP 2004196964A JP 2004196964 A JP2004196964 A JP 2004196964A JP 2006018663 A JP2006018663 A JP 2006018663A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
current
voltage
circuit
predetermined
constant
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2004196964A
Other languages
English (en)
Inventor
Makoto Yanagisawa
誠 柳沢
Jun Funakoshi
純 船越
Seiji Yamagata
誠司 山縣
Toshitaka Mizuguchi
寿孝 水口
Takeshi Higuchi
剛 樋口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP2004196964A priority Critical patent/JP2006018663A/ja
Priority to TW093135414A priority patent/TWI282051B/zh
Priority to US10/991,400 priority patent/US7218166B2/en
Priority to CNB2004100955682A priority patent/CN100425060C/zh
Priority to KR1020040099130A priority patent/KR100635959B1/ko
Publication of JP2006018663A publication Critical patent/JP2006018663A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/26Current mirrors
    • G05F3/262Current mirrors using field-effect transistors only
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Control Of Electrical Variables (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Abstract

【課題】 本発明は、電源電圧変動、動作温度変化、トランジスタ閾値電圧のばらつき等があっても安定して精度良く所望の電流量を供給可能な電流安定化回路、電流安定化方法、及びそのような電流安定化回路を用いた固体撮像装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 電流安定化回路は、一定の電圧を供給する定電圧供給回路と、定電圧供給回路に結合され、一定の電圧に応じた所定の電圧に基づいて電流を生成し、電流に応じて所定の抵抗に発生する電圧と所定の電圧とを比較することで、フィードバック制御により電流の電流量を所定量に制御する電流生成回路を含むことを特徴とする。
【選択図】 図2

Description

本発明は、一般に電流安定化回路、電流安定化方法、及び固体撮像装置に関し、詳しくはトランジスタの閾値電圧、電源電圧、及び動作温度に依存することなく安定した電流を供給可能な電流安定化回路、電流安定化方法、及びそのような電流安定化回路を用いた固体撮像装置に関する。
図1は、従来の電流増幅回路の構成の一例を示す回路図である。図1の電流増幅回路10は、トランジスタ11乃至15及び抵抗16を含む。トランジスタ11及び抵抗16は直列に接続され、トランジスタ11及び抵抗16間の接続点がトランジスタ11及びトランジスタ12のゲートに共通に接続される。これによりトランジスタ11及び12はカレントミラー回路を構成する。またトランジスタ12及びトランジスタ13は直列に接続され、トランジスタ12及びトランジスタ13間の接続点がトランジスタ13のゲートに接続される。図1の例ではトランジスタ12及び13はトランジスタ11と同一のサイズとなっており、トランジスタ12及び13にはトランジスタ11に流れる電流i1と同量の電流i2が流れる。
トランジスタ13のゲートはトランジスタ14及びトランジスタ15のゲートに共通に接続され、これによりトランジスタ13乃至15はカレントミラー回路を構成する。図1の例ではトランジスタ14はトランジスタ13の2倍のサイズ(2倍のゲート幅)となっており、トランジスタ14にはトランジスタ13に流れる電流i2の2倍の電流i3が流れる。またトランジスタ15はトランジスタ13の4倍のサイズ(4倍のゲート幅)となっており、トランジスタ15にはトランジスタ13に流れる電流i2の4倍の電流i4が流れる。
このようにして図1の電流増幅回路では、基本となる電流i1に対して、同量の電流i2、2倍の量の電流i3、及び4倍の量の電流i4を生成することができる。これらの電流i2乃至i4を用いることで、3ビット値に対応する8つの異なる電流量を生成することができる。同様に、例えば1倍、2倍、4倍、8倍、・・・、128倍の8つの電流を生成することで、8ビット値に対応する256個の異なる電流量を生成することができる。このようにして生成された電流は、例えば固体撮像装置におけるアナログ・デジタル変換器の積分回路部分において使用される。この積分回路においては、図1のような回路により所望の電流量を生成し、容量から所望の電流量で放電させることにより所望の傾きを有するランプ電圧(一定の割合で減少する電圧)を生成する。このランプ電圧と固体撮像素子から読み出した電圧値とを比較して、両電圧が一致するまでの時間をカウンタにより計時することで、アナログ電圧値をデジタル値に変換することが可能となる。
特開平11−161353号公報 特開2002−74997号公報
図1の回路では、動作条件や回路条件が変化すると、それに応じて生成される電流量も変動してしまう。例えば電源電圧が変動すると、各トランジスタのゲート・ソース間電圧が変化し、トランジスタに流れる電流量が変動してしまう。またプロセスばらつきにより各トランジスタの閾値電圧がばらつくと、トランジスタのゲート・ソース間電圧が所望の電圧値であっても、閾値電圧に応じてトランジスタに流れる電流量が変動してしまう。また更には温度が変化すると、ゲート・ソース間電圧とドレイン電流との関係には温度依存性があるので、これによりトランジスタを流れる電流量が変動してしまう。
従って、動作条件や回路条件等の変動がある場合には、図1のような回路では安定した電流を精度良く供給することが困難である。例えば図1の回路を固体撮像装置に用いた場合には、アナログ・デジタル変換器の変換精度が落ちることになる。
以上を鑑みて、本発明は、電源電圧変動、動作温度変化、トランジスタ閾値電圧のばらつき等があっても安定して精度良く所望の電流量を供給可能な電流安定化回路、電流安定化方法、及びそのような電流安定化回路を用いた固体撮像装置を提供することを目的とする。
本発明による電流安定化回路は、一定の電圧を供給する定電圧供給回路と、該定電圧供給回路に結合され、該一定の電圧に応じた所定の電圧に基づいて電流を生成し、該電流に応じて所定の抵抗に発生する電圧と該所定の電圧とを比較することで、フィードバック制御により該電流の電流量を所定量に制御する電流生成回路を含むことを特徴とする。
また本発明による固体撮像装置は、一定の電圧を供給する定電圧供給回路と、該定電圧供給回路に結合され、該一定の電圧に応じた所定の電圧に基づいて電流を生成し、該電流に応じて所定の抵抗に発生する電圧と該所定の電圧とを比較することで、フィードバック制御により該電流の電流量を所定量に制御する電流生成回路と、該電流生成回路に結合される容量と、固体撮像素子と、該電流生成回路が生成する電流により放電して電圧が減少する該容量の電圧値を該固体撮像素子から読み出した画素電圧と比較することで該画素電圧をアナログ・デジタル変換するアナログ・デジタル変換回路を含むことを特徴とする。
また本発明による電流安定化方法は、定電圧供給回路から一定の電圧を供給し、該一定の電圧に応じた所定の電圧に基づいて電流を生成し、該電流に応じて所定の抵抗に発生する電圧と該所定の電圧とを比較することでフィードバック制御により該電流の電流量を所定量に制御する各段階を含むことを特徴とする。
本発明の少なくとも1つの実施例によれば、定電圧供給回路から供給される安定した一定の電圧を使用して、その一定の電圧に応じた所定の電圧に基づいて電流生成回路により電流を生成し、電流に応じて所定の抵抗に発生する電圧と所定の電圧とを比較することで、フィードバック制御により電流の電流量を所定量に制御する。このようにして生成された電流をカレントミラー回路の入力とすれば、電源電圧変動、動作温度変化、トランジスタ閾値電圧のばらつき等があっても、電流量を常に一定とすることができる。
また本発明の少なくとも1つの実施例によれば、定電圧供給回路はバンドギャップリファレンス回路である。バンドギャップリファレンス回路が生成する電圧は理論的にはシリコンのバンドギャップ電圧に等しく、電源電圧の変動、温度変化、プロセスばらつきによる閾値電圧の変動による影響等を殆ど受けることがない。従って、上記電流生成回路において使用する所定の電圧を、安定した一定の電圧値に保持することが可能となる。
以下に、本発明の実施例を添付の図面を用いて詳細に説明する。
図2は、本発明による電流安定化回路の構成例を示す回路図である。図2に示す電流安定化回路20は、トランジスタ21乃至25、抵抗26、定電圧供給回路27、抵抗28及び29、差動増幅器30、及びトランジスタ31を含む。
直列に接続されるトランジスタ21及びトランジスタ31間の接続点がトランジスタ21及びトランジスタ22のゲートに共通に接続される。これによりトランジスタ21及び22はカレントミラー回路を構成する。またトランジスタ22及びトランジスタ23は直列に接続され、トランジスタ22及びトランジスタ23間の接続点がトランジスタ23のゲートに接続される。図2の例ではトランジスタ22及び23はトランジスタ21と同一のサイズとなっており、トランジスタ22及び23にはトランジスタ21に流れる電流i1と同量の電流i2が流れる。
トランジスタ23のゲートはトランジスタ24及びトランジスタ25のゲートに共通に接続され、これによりトランジスタ23乃至25はカレントミラー回路を構成する。図1の例ではトランジスタ24はトランジスタ23の2倍のサイズ(2倍のゲート幅)となっており、トランジスタ24にはトランジスタ23に流れる電流i2の2倍の電流i3が流れる。またトランジスタ25はトランジスタ23の4倍のサイズ(4倍のゲート幅)となっており、トランジスタ25にはトランジスタ23に流れる電流i2の4倍の電流i4が流れる。
図2に示す本発明による電流安定化回路では、定電圧供給回路27から一定の電圧を供給する。定電圧供給回路27は、例えば安定した一定の電源電圧が得られるのであれば、この一定の電源電圧をそのまま供給する構成でよい。また安定した一定の電源電圧が得られずに、電源電圧が変動するような場合であれば、電源電圧の変動に依存せずに安定した一定の電圧を供給できる回路であればよい。例えばそのような回路の一例としては、バンドギャップリファレンス回路(BGR回路)が挙げられる。バンドギャップリファレンス回路は、温度の上昇に伴い減少する負の温度依存性を有するpn接合の順方向電圧Vbeと、Vbeの差分により生成した温度の上昇に伴い増加する正の温度依存性を有する電圧とを加算することにより、正方向の温度依存性と負方向の温度依存性とを相殺してシリコンのバンドギャップ電圧(約1.2V)に等しい電圧を生成する。このようにバンドギャップリファレンス回路が生成する電圧は理論的にはシリコンのバンドギャップ電圧に等しく、電源電圧の変動、温度変化、プロセスばらつきによる閾値電圧の変動による影響等を殆ど受けることのない一定の電圧を生成することが可能となる。
図3は、バンドギャップリファレンス回路の電源電圧変動に対する特性を模式的に示す図である。図3に示すように、バンドギャップリファレンス回路においては、電源電圧が所定値以上であれば、その出力電圧は約1.2V(シリコンのバンドギャップ電圧)に固定される。このようにして、電源電圧が変動しても、バンドギャップリファレンス回路の出力電圧は安定した一定の電圧となる。
また温度変動に対しては、例えば−25℃〜85℃の範囲の温度変化に対して、出力電圧が1.4mV程度の変動しか示さないようにバンドキャップ回路を構成することができる。即ち出力電圧約1.2Vに対して1/1000程度の変動である。例えば固体撮像装置への応用を考えた場合等は、通常の回路設計上、数十mV程度以下の変動に抑えれば十分であり、バンドギャップリファレンス回路の使用によりこの目標値よりも十分に小さい変動を達成することができる。
図2の電流安定化回路20では、定電圧供給回路27から供給される一定電圧を抵抗28及び29からなる抵抗分圧器により分圧して、ノードBに現れる分圧された電位を差動増幅器30の一方の入力に印加する。差動増幅器30の出力はトランジスタ31のゲートに印加される。トランジスタ31と抵抗26とは直列に接続されており、トランジスタ31と抵抗26との間の接続ノードAが差動増幅器30の他方の入力に結合される。このようにフィードバック制御により、ノードAの電圧とノードBの電圧とが等しくなるように、トランジスタ31の抵抗値を調整する。この結果、ノードAの電位はノードBの電位と等しい電位(例えば0.6V)に設定される。
定電圧供給回路27の供給する電位が安定した一定電位であれば、ノードAの電位も安定した所定の電位となる。例えば定電圧供給回路27としてバンドギャップリファレンス回路を用いれば、電源電圧の変動、温度変化、プロセスばらつきによる閾値電圧の変動による影響等を殆ど受けることのない所定の電圧を、ノードAに生成することが可能となる。
ノードAの電圧が常に所定値となるので、抵抗26に流れる電流i1は、ノードAの電位と抵抗26の抵抗値に応じた所定の安定した電流量となる。
ここで差動増幅器30及びトランジスタ31からなる回路部分は、フィードバック制御によりノードAに安定した所定の電位を生成して所定の電流量の電流i1を生成する役割を有するものである。即ちこの回路部分は、定電圧供給回路27から供給される一定電位に基づいて所定の電流量を生成する機能、即ち一定電位を所定の電流量に変換する機能を有する。
トランジスタ21及び22に供給される電源電圧VDDが変動し、トランジスタのゲート・ソース間電圧が変化しても、上記回路部分により電流i1が所定量となるようにトランジスタ31の抵抗値が調整されるので、トランジスタ21及び22にそれぞれ流れる電流i1及びi2は一定となる。またプロセスばらつきによりトランジスタ21及び22の閾値電圧がばらついて、閾値電圧とゲート・ソース間電圧との差が変化しても、上記回路部分により電流i1が所定量となるようにトランジスタ31の抵抗値が調整されるので、トランジスタ21及び22にそれぞれ流れる電流i1及びi2は一定となる。また温度が変化して、ゲート・ソース間電圧とドレイン電流との関係が変化しても、上記回路部分により電流i1が所定量となるようにトランジスタ31の抵抗値が調整されるので、トランジスタ21及び22にそれぞれ流れる電流i1及びi2は一定である。このようにして電流i2は一定の電流量に固定されるので、カレントミラー回路により生成される電流i3及びi4についても一定の安定した電流量となる。
このようにして図2に示す電流安定化回路20においては、定電圧供給回路27により供給される安定した一定電圧に基づいて、フィードバック制御により安定した所定の電流量を生成する。更に、この安定した所定の電流量に基づいて、カレントミラー回路により種々の大きさの安定した電流を生成することができる。
図4は、本発明による電流安定化回路を適用した固体撮像装置の構成の一例を示す図である。図4の固体撮像装置40は、ピクセルアレイ41、V_SCAN回路42、コラムCDS回路43、コラムADC回路44、ラッチ回路45、H_SCAN回路46、積分回路47、及びカラープロセッサ48を含む。なおカラープロセッサ48は固体撮像装置40の一部として同一のチップに構成されてよく、或いは固体撮像装置40とは別の装置として別個のチップに構成されてもよい。
ピクセルアレイ41は、受光部として縦横にマトリクス状に配列された複数のホトダイオードであり、これらのホトダイオードが撮像用の各画素(ピクセル)を構成する。この画素単位で入射光が光電変換され、光電変換された電荷が電荷蓄積部分に蓄積され読み出される。V_SCAN回路42は、各画素の電荷を読み出すために、マトリクス状の画素配列を垂直方向(コラム方向)に順次走査する。コラムCDS回路43は、例えば相関2重サンプリング(Correlated Double Sampling)により、ノイズを軽減しつつ画素配列から画像信号を読み出す。読み出された画像信号は、コラムADC回路44によりアナログ信号からデジタル信号に変換される。
ラッチ回路45は、コラムADC回路44により変換されたデジタル画像信号を記憶する。H_SCAN回路46は、ラッチ回路45に格納された水平方向のデジタル画像データを順次読み出すための走査信号を生成する。これによりラッチ回路45からデジタル画像データを読み出して、カラープロセッサ48に供給する。
カラープロセッサ48は、供給される画像データに対して種々の信号処理を適用し、画面出力用のデジタル画像データを出力する。この信号処理としては、画像信号中の欠陥画素のデータを処理して欠陥を補正する欠陥画素補正、RGBベイヤ配列の色情報に基づいて各画素に対する色データを求める色補間、色データをもとにレンズのひずみを補正するシェーディング補正、自動ホワイトバランス処理、ガンマ補正処理、エッジ処理等が実行される。
コラムADC回路44は、コラムCDS回路43からのアナログ信号の電圧と積分回路47からのランプ信号(一定の割合で減少する信号)の電圧とを比較して、両電圧が一致するまでの時間をカウンタにより計時することで、アナログ電圧値をデジタル値に変換する。このランプ信号を生成する積分回路47において、本発明の電流安定化回路20が使用される。
図5は、コラムADC回路44の概略構成の一例を説明するための回路図である。図5において、コラムADC回路44は比較器51とラッチ回路52を含む。ラッチ回路52は、比較器51の出力信号をトリガとして、カウンタ53のカウント値を読み込む構成となっている。カウンタ53は、スタート信号に応答してカウントアップ動作を行い、そのカウント値をカウントアップ信号としてラッチ回路52に供給する。
比較器51は、コラムCDS回路43からの画素値を示すアナログ信号電圧aと、積分回路47からのランプ信号電圧bとを比較して、両電圧が一致するとその出力をアサートする。比較器51の出力のアサートに応答して、ラッチ回路52がカウンタ53からのカウントアップ信号で示されるカウント値をラッチする。
図6は、コラムADC回路44の動作を説明するための図である。図6の横軸は時間であり縦軸は電圧を示す。コラムCDS回路43からのアナログ信号電圧aは、図示されるように画素値を示す一定の電圧値を保持する。また積分回路47からのランプ信号電圧bは、図示されるように時間と共に一定の割合で直線的に減少する電圧値である。所定のタイミングT1でカウンタ53のカウント動作をスタートし、アナログ信号電圧aとランプ信号電圧bとが一致したタイミングT2でカウンタ値をラッチする。ランプ信号電圧bが時間と共に減少する割合は予め分かっているので、この計時結果のデジタル値により、アナログ信号電圧aの電圧値をデジタル値で表現することができる。
図7は、積分回路47の概略構成の一例を示す回路図である。図7の積分回路47は、スイッチ61、容量62、スイッチ64、及び定電流源63を含む。まずスイッチ61を短絡、スイッチ64を開放にして、電源電圧から容量62に電荷を蓄積してランプ信号電圧bを所定の電圧値に設定する。その後、スイッチ61を開放、スイッチ64を短絡状態にして、容量62から定電流源63を介してグラウンドに放電する。この際、定電流源63を流れる電流は一定であるので、ランプ信号電圧bは時間と共に所定の割合で直線的に減少する電圧値となる。
固体撮像装置40においては、画像のフレームレート等を変化させる必要がある場合等に、コラムADC回路44におけるアナログ・デジタル変換に要する時間を制御可能であることが望ましい。カウンタ値によるデジタル表現はカウンタ値の大きさに応じて精度が左右されるので、一般にはある程度の時間をかけて容量62からゆっくり放電させて、大きなカウンタ値をラッチしたほうがよい。しかし時間的な制限がある場合には、短い時間で容量62から放電させてカウンタ値をラッチする必要がある。このような場合、定電流源63を流れる電流量を所望の値に精度よく設定することが必要になるが、この目的のために図2に示す電流安定化回路20のような回路が用いられる。
前述したように、電流i2乃至i4を用いることで、3ビット値に対応する8つの異なる電流量を生成することができる。同様に、例えば1倍、2倍、4倍、8倍、・・・、128倍の8つの電流を生成することで、8ビット値に対応する256個の異なる電流量を生成することができる。このようにして所望の電流量を精度よく生成することにより、容量62からの放電によるランプ信号電圧bの減少の割合を調整し、精度のよいアナログ・デジタル変換を達成することができる。
以上、本発明を実施例に基づいて説明したが、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載の範囲内で様々な変形が可能である。
従来の電流増幅回路の構成の一例を示す回路図である。 本発明による電流安定化回路の構成例を示す回路図である。 バンドギャップリファレンス回路の電源電圧変動に対する特性を模式的に示す図である。 本発明による電流安定化回路を適用した固体撮像装置の構成の一例を示す図である。 コラムADC回路の概略構成の一例を説明するための回路図である。 コラムADC回路の動作を説明するための図である。 積分回路の概略構成の一例を示す回路図である。
符号の説明
20 電流安定化回路
21乃至25 トランジスタ
26 抵抗
27 定電圧供給回路
28、29 抵抗
30 差動増幅器
31 トランジスタ
40 固体撮像装置
41 ピクセルアレイ
42 V_SCAN回路
43 コラムCDS回路
44 コラムADC回路
45 ラッチ回路
46 H_SCAN回路
47 積分回路
48 カラープロセッサ

Claims (10)

  1. 一定の電圧を供給する定電圧供給回路と、
    該定電圧供給回路に結合され、該一定の電圧に応じた所定の電圧に基づいて電流を生成し、該電流に応じて所定の抵抗に発生する電圧と該所定の電圧とを比較することで、フィードバック制御により該電流の電流量を所定量に制御する電流生成回路
    を含むことを特徴とする電流安定化回路。
  2. 該電流生成回路は、
    該所定の抵抗に発生する電圧と該所定の電圧とを入力とする差動増幅器と、
    該差動増幅器の出力にゲート端が接続されたトランジスタ
    を含み、該トランジスタと該所定の抵抗とは直列に接続されていることを特徴とする請求項1記載の電流安定化回路。
  3. 該定電圧供給回路は、外部から受け取る安定した電源電圧を該一定の電圧として供給することを特徴とする請求項1記載の電流安定化回路。
  4. 該定電圧供給回路は、バンドギャップリファレンス回路であることを特徴とする請求項1記載の電流安定化回路。
  5. 該所定量の電流に基づいて該所定量の定倍の電流量の電流を生成するカレントミラー回路を更に含むことを特徴とする請求項1記載の電流安定化回路。
  6. 一定の電圧を供給する定電圧供給回路と、
    該定電圧供給回路に結合され、該一定の電圧に応じた所定の電圧に基づいて電流を生成し、該電流に応じて所定の抵抗に発生する電圧と該所定の電圧とを比較することで、フィードバック制御により該電流の電流量を所定量に制御する電流生成回路と、
    該電流生成回路に結合される容量と、
    固体撮像素子と、
    該電流生成回路が生成する電流により放電して電圧が減少する該容量の電圧値を該固体撮像素子から読み出した画素電圧と比較することで該画素電圧をアナログ・デジタル変換するアナログ・デジタル変換回路
    を含むことを特徴とする固体撮像装置。
  7. 該定電圧供給回路は、バンドギャップリファレンス回路であることを特徴とする請求項6記載の固体撮像装置。
  8. 該電流生成回路は該所定量の電流に基づいて該所定量の定倍の電流量の電流を生成するカレントミラー回路を更に含み、該容量から放電する電流は該カレントミラー回路が生成した電流であることを特徴とする請求項6記載の固体撮像装置。
  9. 定電圧供給回路の電圧値を抵抗に与えることにより定まる定電流を生成する定電流回路において、
    前記定電圧供給回路が、
    定電圧源と、
    前記抵抗に与える電圧値をフィードバックし、該定電圧源に基づく定電圧値と等しくなるように、該抵抗に与える電圧値を制御する電圧制御手段と
    を有することを特徴とする定電流回路。
  10. 定電圧供給回路から一定の電圧を供給し、
    該一定の電圧に応じた所定の電圧に基づいて電流を生成し、
    該電流に応じて所定の抵抗に発生する電圧と該所定の電圧とを比較することでフィードバック制御により該電流の電流量を所定量に制御する
    各段階を含むことを特徴とする電流安定化方法。
JP2004196964A 2004-07-02 2004-07-02 電流安定化回路、電流安定化方法、及び固体撮像装置 Pending JP2006018663A (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004196964A JP2006018663A (ja) 2004-07-02 2004-07-02 電流安定化回路、電流安定化方法、及び固体撮像装置
TW093135414A TWI282051B (en) 2004-07-02 2004-11-18 Solid-state imaging apparatus
US10/991,400 US7218166B2 (en) 2004-07-02 2004-11-19 Current stabilization circuit, current stabilization method, and solid-state imaging apparatus
CNB2004100955682A CN100425060C (zh) 2004-07-02 2004-11-29 稳流电路、稳流方法以及固态成像装置
KR1020040099130A KR100635959B1 (ko) 2004-07-02 2004-11-30 전류 안정화 회로, 전류 안정화 방법 및 고체 촬상 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004196964A JP2006018663A (ja) 2004-07-02 2004-07-02 電流安定化回路、電流安定化方法、及び固体撮像装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006018663A true JP2006018663A (ja) 2006-01-19

Family

ID=35513242

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004196964A Pending JP2006018663A (ja) 2004-07-02 2004-07-02 電流安定化回路、電流安定化方法、及び固体撮像装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7218166B2 (ja)
JP (1) JP2006018663A (ja)
KR (1) KR100635959B1 (ja)
CN (1) CN100425060C (ja)
TW (1) TWI282051B (ja)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008102602A (ja) * 2006-10-17 2008-05-01 Nec Electronics Corp カレントミラー回路
WO2008050375A1 (fr) * 2006-09-29 2008-05-02 Fujitsu Limited Circuit de polarisation
JP2008187432A (ja) * 2007-01-30 2008-08-14 Sharp Corp 定電流源、ランプ電圧発生回路、a/d変換器
JP2012039526A (ja) * 2010-08-10 2012-02-23 Canon Inc 定電流回路及びそれを用いた固体撮像装置
US8159800B2 (en) 2008-06-30 2012-04-17 Ricoh Company, Ltd. Semiconductor device
JP2013187744A (ja) * 2012-03-08 2013-09-19 Olympus Corp 撮像装置
JP2014006785A (ja) * 2012-06-26 2014-01-16 Renesas Electronics Corp 半導体装置
JP2014204195A (ja) * 2013-04-02 2014-10-27 富士通株式会社 利得制御回路、及び、超音波画像装置
US9041380B2 (en) 2007-08-03 2015-05-26 Sony Corporation Reference voltage circuit and image-capture circuit
JP2016514252A (ja) * 2013-02-12 2016-05-19 ジェンテックス コーポレイション 光センサー
KR101773107B1 (ko) * 2013-07-26 2017-08-30 젠텍스 코포레이션 부분적으로 불투명한 광학장치를 구비한 광 센서
US9870753B2 (en) 2013-02-12 2018-01-16 Gentex Corporation Light sensor having partially opaque optic
KR20190071590A (ko) 2017-12-14 2019-06-24 에이블릭 가부시키가이샤 전류 생성 회로

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006285953A (ja) * 2005-03-08 2006-10-19 Sanyo Electric Co Ltd 基準電圧発生回路、及び基準電流発生回路
US7872519B2 (en) * 2008-04-22 2011-01-18 Seiko Instruments Inc. Voltage divider circuit
CN101794556B (zh) * 2009-02-01 2014-04-16 晨星软件研发(深圳)有限公司 电流校正方法及其控制电路
CN102118544B (zh) * 2009-12-30 2013-05-01 晨星软件研发(深圳)有限公司 绿同步信号校正系统及方法
US8289796B2 (en) * 2010-01-26 2012-10-16 Micron Technology, Inc. Sense amplifier having loop gain control
US8705304B2 (en) * 2010-03-26 2014-04-22 Micron Technology, Inc. Current mode sense amplifier with passive load
US8283950B2 (en) 2010-08-11 2012-10-09 Micron Technology, Inc. Delay lines, amplifier systems, transconductance compensating systems and methods of compensating
US8810281B2 (en) 2011-07-26 2014-08-19 Micron Technology, Inc. Sense amplifiers including bias circuits
CN103177697B (zh) * 2013-03-15 2015-11-25 深圳市华星光电技术有限公司 一种背光驱动电路及背光驱动方法、液晶显示器
KR20150129155A (ko) * 2014-05-08 2015-11-19 에스케이하이닉스 주식회사 바이어스 샘플링 장치 및 그에 따른 씨모스 이미지 센서
KR102327339B1 (ko) 2015-05-06 2021-11-16 삼성전자주식회사 집적 회로와 이를 포함하는 컴퓨팅 장치
JP2017072911A (ja) * 2015-10-05 2017-04-13 株式会社村田製作所 電流出力回路
US10694131B2 (en) * 2016-06-15 2020-06-23 Samsung Electronics Co., Ltd. Comparing circuit and an image sensor including a current stabilization circuit

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6331613U (ja) * 1986-08-15 1988-03-01

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH069326B2 (ja) 1983-05-26 1994-02-02 ソニー株式会社 カレントミラー回路
US6188268B1 (en) * 1998-10-30 2001-02-13 Sony Corporation Of Japan Low side current sink circuit having improved output impedance to reduce effects of leakage current
NL9002392A (nl) 1990-11-02 1992-06-01 Philips Nv Bandgap-referentie-schakeling.
JP3321246B2 (ja) 1993-06-08 2002-09-03 株式会社東芝 電流制御電圧発生回路
US6903771B2 (en) * 2000-03-02 2005-06-07 Canon Kabushiki Kaisha Image pickup apparatus
KR0134661B1 (ko) 1995-04-24 1998-04-25 김광호 전위­전류 변환기
KR970012685A (ko) 1995-08-24 1997-03-29 김광호 반도체 메모리장치의 정전압 발생 회로
US5774013A (en) * 1995-11-30 1998-06-30 Rockwell Semiconductor Systems, Inc. Dual source for constant and PTAT current
EP0793343B1 (en) * 1996-02-29 2001-07-18 Co.Ri.M.Me. Consorzio Per La Ricerca Sulla Microelettronica Nel Mezzogiorno Current limitation programmable circuit for smart power actuators
US6452632B1 (en) 1997-01-31 2002-09-17 Kabushiki Kaisha Toshiba Solid state image sensor and video system using the same
JP3323119B2 (ja) 1997-11-28 2002-09-09 株式会社東芝 半導体集積回路装置
US6064274A (en) * 1998-10-30 2000-05-16 Sony Corporation Of Japan RCB cancellation in high-side low power supply current sources
US6271716B1 (en) * 1998-10-30 2001-08-07 Sony Electronics, Inc. Rcb cancellation in low-side low power supply current sources
JP4314669B2 (ja) 1999-03-31 2009-08-19 ソニー株式会社 バンドギャップリファレンス回路
JP3526432B2 (ja) * 1999-09-14 2004-05-17 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社 定電流回路
JP4043703B2 (ja) 2000-09-04 2008-02-06 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置、マイクロコンピュータ、及びフラッシュメモリ
US6952228B2 (en) * 2000-10-13 2005-10-04 Canon Kabushiki Kaisha Image pickup apparatus
JP4040261B2 (ja) * 2001-03-22 2008-01-30 富士フイルム株式会社 固体撮像装置とその駆動方法
EP1315063A1 (en) * 2001-11-14 2003-05-28 Dialog Semiconductor GmbH A threshold voltage-independent MOS current reference
JP4404241B2 (ja) * 2002-02-12 2010-01-27 ソニー株式会社 固体撮像装置およびその出力方法
JP2004228873A (ja) * 2003-01-22 2004-08-12 Seiko Epson Corp 画像処理装置、画像処理方法及び固体撮像装置
JP2005181951A (ja) * 2003-11-25 2005-07-07 Tohoku Pioneer Corp 自発光表示モジュールおよび同モジュールにおける欠陥状態の検証方法
JP4107269B2 (ja) * 2004-02-23 2008-06-25 ソニー株式会社 固体撮像装置
US7332703B2 (en) * 2004-03-22 2008-02-19 Micron Technology, Inc. Imaging structure including a pixel with multiple signal readout circuits and methods of operation for imaging structure
JP4293053B2 (ja) * 2004-05-19 2009-07-08 ソニー株式会社 撮像装置及び方法
JP2006014316A (ja) * 2004-06-22 2006-01-12 Samsung Electronics Co Ltd サブサンプリングされたアナログ信号を平均化する改善された固体撮像素子及びその駆動方法
US7598478B2 (en) * 2005-04-26 2009-10-06 Konica Minolta Holdings, Inc. Image pickup device having a light shield element
JP5178994B2 (ja) * 2005-05-26 2013-04-10 ソニー株式会社 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法および撮像装置
JP4442515B2 (ja) * 2005-06-02 2010-03-31 ソニー株式会社 固体撮像装置、固体撮像装置におけるアナログ−デジタル変換方法および撮像装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6331613U (ja) * 1986-08-15 1988-03-01

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008050375A1 (fr) * 2006-09-29 2008-05-02 Fujitsu Limited Circuit de polarisation
JP2008102602A (ja) * 2006-10-17 2008-05-01 Nec Electronics Corp カレントミラー回路
JP2008187432A (ja) * 2007-01-30 2008-08-14 Sharp Corp 定電流源、ランプ電圧発生回路、a/d変換器
US7683814B2 (en) 2007-01-30 2010-03-23 Sharp Kabushiki Kaisha Constant current source, ramp voltage generation circuit, and A/D converter
US9041380B2 (en) 2007-08-03 2015-05-26 Sony Corporation Reference voltage circuit and image-capture circuit
US8159800B2 (en) 2008-06-30 2012-04-17 Ricoh Company, Ltd. Semiconductor device
US8836313B2 (en) 2010-08-10 2014-09-16 Canon Kabushiki Kaisha Constant current source and solid imaging apparatus using the same
JP2012039526A (ja) * 2010-08-10 2012-02-23 Canon Inc 定電流回路及びそれを用いた固体撮像装置
JP2013187744A (ja) * 2012-03-08 2013-09-19 Olympus Corp 撮像装置
JP2014006785A (ja) * 2012-06-26 2014-01-16 Renesas Electronics Corp 半導体装置
US11017741B2 (en) 2013-02-12 2021-05-25 Gentex Corporation Light sensor having partially opaque optic
JP2016514252A (ja) * 2013-02-12 2016-05-19 ジェンテックス コーポレイション 光センサー
US9870753B2 (en) 2013-02-12 2018-01-16 Gentex Corporation Light sensor having partially opaque optic
JP2014204195A (ja) * 2013-04-02 2014-10-27 富士通株式会社 利得制御回路、及び、超音波画像装置
KR101773107B1 (ko) * 2013-07-26 2017-08-30 젠텍스 코포레이션 부분적으로 불투명한 광학장치를 구비한 광 센서
CN109960309A (zh) * 2017-12-14 2019-07-02 艾普凌科有限公司 电流生成电路
US10503197B2 (en) 2017-12-14 2019-12-10 Ablic Inc. Current generation circuit
KR20190071590A (ko) 2017-12-14 2019-06-24 에이블릭 가부시키가이샤 전류 생성 회로
CN109960309B (zh) * 2017-12-14 2022-02-18 艾普凌科有限公司 电流生成电路
TWI801452B (zh) * 2017-12-14 2023-05-11 日商艾普凌科有限公司 電流產生電路

Also Published As

Publication number Publication date
TW200602836A (en) 2006-01-16
KR100635959B1 (ko) 2006-10-19
CN100425060C (zh) 2008-10-08
TWI282051B (en) 2007-06-01
CN1716143A (zh) 2006-01-04
KR20060002698A (ko) 2006-01-09
US7218166B2 (en) 2007-05-15
US20060001476A1 (en) 2006-01-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100635959B1 (ko) 전류 안정화 회로, 전류 안정화 방법 및 고체 촬상 장치
US9369649B2 (en) Imaging apparatus, imaging system, and method for driving imaging apparatus
US9307173B2 (en) Signal processing circuit, solid-state imaging device, and camera system
US7456885B2 (en) Per column one-bit ADC for image sensors
US20090278722A1 (en) Column-parallel sigma-delta analog-to-digital conversion with gain and offset control
JP4360041B2 (ja) 撮像装置
JP2003348376A (ja) 直流レベル制御方法、クランプ回路、撮像装置
US20120182450A1 (en) Solid state imaging device
US10958858B2 (en) Ramp signal generator and image sensor including the same
CN107154803B (zh) 信号处理设备、信号处理方法和摄像设备
JP2021193760A (ja) 撮像素子及び光検出素子
JP2013175936A (ja) 半導体装置、及び、撮像装置
US9035229B2 (en) Imaging device
US10811448B2 (en) Solid-state imaging device
WO2018163895A1 (ja) 固体撮像装置、およびそれを用いるカメラシステム
US10757356B2 (en) Comparison device and CMOS image sensor including the same
US11032505B2 (en) Ramp signal generator and CMOS image sensor using the same
JP4857996B2 (ja) 撮像装置
US10819935B2 (en) Ramp signal generator and CMOS image sensor using the same
JP6410882B2 (ja) 撮像装置、撮像システム、撮像装置の駆動方法
US9462204B2 (en) Analog to digital converter for imaging device
KR20230121524A (ko) 비교 회로, 및 이를 포함하는 아날로그-디지털 변환기 및 이미지 센서
JP2007335976A (ja) 固体撮像装置
JP2005323127A (ja) 撮像装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070409

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20080728

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100302

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100304

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20100629