DE4340594C2 - Verfahren zur Herstellung und zum Einstellen der Charakteristik eines oberflächenmontierbaren chipförmigen LC-Filters - Google Patents

Verfahren zur Herstellung und zum Einstellen der Charakteristik eines oberflächenmontierbaren chipförmigen LC-Filters

Info

Publication number
DE4340594C2
DE4340594C2 DE4340594A DE4340594A DE4340594C2 DE 4340594 C2 DE4340594 C2 DE 4340594C2 DE 4340594 A DE4340594 A DE 4340594A DE 4340594 A DE4340594 A DE 4340594A DE 4340594 C2 DE4340594 C2 DE 4340594C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
substrate
filter
chip
inductance element
electrodes
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE4340594A
Other languages
English (en)
Other versions
DE4340594A1 (de
Inventor
Harufumi Mandai
Noboru Kato
Koji Shiroki
Atsushi Tojyo
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP32188692A external-priority patent/JPH06176927A/ja
Priority claimed from JP32820892A external-priority patent/JPH06176966A/ja
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
Publication of DE4340594A1 publication Critical patent/DE4340594A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE4340594C2 publication Critical patent/DE4340594C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G4/00Fixed capacitors; Processes of their manufacture
    • H01G4/002Details
    • H01G4/224Housing; Encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F27/00Details of transformers or inductances, in general
    • H01F27/28Coils; Windings; Conductive connections
    • H01F27/29Terminals; Tapping arrangements for signal inductances
    • H01F27/292Surface mounted devices
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/303Surface mounted components, e.g. affixing before soldering, aligning means, spacing means
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09145Edge details
    • H05K2201/09181Notches in edge pads
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10431Details of mounted components
    • H05K2201/10568Integral adaptations of a component or an auxiliary PCB for mounting, e.g. integral spacer element
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/01Tools for processing; Objects used during processing
    • H05K2203/0195Tool for a process not provided for in H05K3/00, e.g. tool for handling objects using suction, for deforming objects, for applying local pressure
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/08Treatments involving gases
    • H05K2203/082Suction, e.g. for holding solder balls or components
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/53Means to assemble or disassemble
    • Y10T29/5313Means to assemble electrical device
    • Y10T29/53174Means to fasten electrical component to wiring board, base, or substrate
    • Y10T29/53178Chip component
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/53Means to assemble or disassemble
    • Y10T29/5313Means to assemble electrical device
    • Y10T29/53191Means to apply vacuum directly to position or hold work part

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung und zum Einstellen der Charakteristik eines oberflächenmontierbaren chipförmigen LC-Filters gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Aus der DE 40 08 507 A1 ist ein solches chipförmiges LC-Filter bekannt, bei dem sowohl das kapazitive Element als auch das induktive Element durch in ein dielektri­ sches Substrat integrierte innere Elektroden gebildet werden. Bei einem sol­ chen Bauelement ist es jedoch schwierig, die Charakteristik des Filters genau einzustellen.
Aus der DE 35 36 908 C2 ist ein separates Induktivitätselement bekannt, das un­ mittelbar für die Oberflächenmontage auf einer Schaltungsplatine ausgebildet ist.
Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren zur Herstellung und zum Einstel­ len der Charakteristik eines chipförmigen, oberflächenmontierbaren LC-Fil­ ters anzugeben, das eine einfache und präzise Einstellung der Charakteristik des Filters gestattet.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß mit den in Patentanspruch 1 angegebe­ nen Merkmalen gelöst.
Vorteilhafte Weiterbildungen und Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Im folgenden werden bevorzugte Ausführungsbeispiele der Erfindung anhand der Zeichnungen näher erläutert.
Es zeigen:
Fig. 1 eine perspektivische Ansicht eines chipförmigen elektronischen Bausteins;
Fig. 2 eine Frontansicht der Ausführungsform nach Fig. 1;
Fig. 3 eine Seitenansicht der Ausführungsform nach Fig. 1;
Fig. 4 eine Frontansicht einer weiteren Ausführungsform der Erfin­ dung, bei der ein thermisch aushärtendes Harz als Klebemittel zwischen einem Induktivitäts-Chip und einem Substrat eingefügt ist;
Fig. 5 eine Frontansicht einer weiteren Ausführungsform der Erfin­ dung, bei der ein Induktivitäts-Block als elektronisches Ele­ ment vorgesehen ist, das auf einem Substrat montiert ist;
Fig. 6 eine perspektivische Ansicht einer weiteren Ausführungsform der Erfindung;
Fig. 7A ein Schnitt längs der Linie A-A in Fig. 6;
Fig. 7B ein Schnitt längs der Linie B-B in Fig. 6;
Fig. 8 eine Schaltskizze eines LC-Filters gemäß der Ausführungsform nach Fig. 6;
Fig. 9 eine Schaltskizze eines Beispiels für eine Schaltung eines LC- Filters, bei dem die vorliegende Erfindung anwendbar ist;
Fig. 10 eine Schaltskizze eines weiteren Beispiels einer Schaltung eines LC-Filters, bei dem die Erfindung anwendbar ist; und
Fig. 11 eine Schaltskizze eines weiteren Beispiels einer Schaltung eines LC-Filters, bei dem die Erfindung anwendbar ist.
Fig. 1 ist eine perspektivische Ansicht eines chipförmigen elektronischen Bausteins. In dem chipförmigen elektronischen Baustein nach Fig. 1 ist ein Induktivitätselement 2 in der Form einer chipförmigen Spule auf einem keramischen Substrat 1 montiert, so daß es sich im wesentlichen auf der Mitte des Substrats befindet. Der In­ duktivitäts-Chip 2 weist einen Flansch 2a auf, der auf seiner Oberseite eine flache Oberfläche aufweist. Dieser Induktivitäts-Chip 2 ist auf obere Elektro­ den 5 aufgelötet, die auf einer oberen Oberfläche des keramischen Substrats 1 ausgebildet sind.
Zusätzlich zu dem Induktivitäts-Chip 2 sind weitere elektronische Kompo­ nenten oder Elemente 6, 7 und 8 auf den oberen Elektroden 5 des kerami­ schen Substrats 1 montiert. Die oberen Elektroden 5 sind mit seitlichen Elektroden 4 verbunden, die auf den Seitenflächen des keramischen Sub­ strats 1 ausgebildet sind, so daß der chipförmige elektronische Baustein ins­ gesamt auf einer Schaltungsplatine oberflächenmontiert und in den Berei­ chen der seitlichen Elektroden 4 verlötet werden kann.
Wie aus Fig. 1 hervorgeht, ist bei dem elektronischen Baustein gemäß diesem Ausführungsbeispiel der Induktivitäts-Chip 2, der mit dem Flansch 2a mit einer flachen Oberfläche versehen ist, im wesentlichen auf dem Mittelbereich des keramischen Substrats 1 befestigt, wodurch es möglich ist, den chipförmigen elektronischen Baustein als Ganzes bei der Oberflächenmontage zu halten, indem die flache Oberfläche des Flansches 2a des Induktivitäts-Chips 2 mit einer Saugdüse 3 angesaugt und festgehalten wird.
Fig. 2 und 3 sind Front- und Seitenansichten des Induktivitäts-Chips 2, der auf dem keramischen Substrat 1 montiert ist. Wie aus Fig. 2 und 3 hervorgeht, ist der Induktivitäts-Chip 2 durch ein Lötmittel 9 elektrisch mit den auf dem keramischen Substrat 1 vorgesehenen Elektroden verbunden. Während der Induktivitäts-Chip 2 auf diese Weise durch das Lötmittel 9 an dem keramischen Substrat 1 fixiert ist, kann, wie in Fig. 4 gezeigt ist, zwi­ schen dem Induktivitäts-Chip 2 und dem Substrat 1 auch ein thermisch aus­ härtendes Harz 10 eingefügt sein, das als Klebemittel dient und so die Haftung zwischen diesen Teilen verbessert.
Fig. 5 zeigt eine Ausführungsform, bei der ein blockförmiges Induktivitäts- Element, im folgenden als Induktivitäts-Block 20 bezeichnet, das elektroni­ sche Element bildet, das auf einem Substrat montiert ist. Gemäß Fig. 5 ist der Induktivitäts-Block 20 auf einem Substrat 21 angeordnet, bei dem es sich um ein Teil aus dielektrischem Material handelt.
Nachdem ein solches elektronisches Element auf dem Substrat montiert worden ist, kann der gesamte chipförmige elektronische Baustein z. B. mit einem Silikonharz beschichtet werden, um die Haltbarkeit und Zuverlässigkeit zu verbessern.
Bei dem chipförmigen elektronischen Baustein nach dieser Ausführungsform ist das elektronische Element, das im wesentlichen in der Mitte auf dem Substrat montiert ist, auf seiner Oberseite mit einer flachen Oberfläche ver­ sehen, die durch eine Saugdüse angesaugt und gehalten werden kann. Wenn der chipförmige elektronische Baustein auf einer gedruck­ ten Schaltungsplatine montiert wird, ist es mög­ lich, die auf der Oberseite des im wesentlichen in der Mitte auf dem Substrat montierten elektronischen Elements angebrachte flache Oberfläche mit ei­ ner Saugdüse anzusaugen und so den chipförmigen elektronischen Baustein insgesamt bei der Oberflächenmontage zu halten. Anders als üblich ist es somit nicht erforderlich, eine Ummantelung oder ein Eingie­ ßen vorzunehmen, und der für eine solche Ummantelung oder ein solches Eingießen erforderliche Raum wird eingespart, wodurch der erfindungsge­ mäße Baustein gegenüber dem Stand der Technik miniaturisiert werden kann. Da keine Arbeitsgänge wie Ummanteln oder Eingießen erforderlich sind, kann der Baustein in einfacheren Schritten hergestellt werden. Außerdem kann der erfindungsge­ mäße Baustein zu geringeren Kosten hergestellt werden, da kein Material für das Ummanteln oder Eingießen benötigt wird.
Fig. 6 ist eine perspektivische Ansicht eines chipförmigen LC-Filters 31 ge­ mäß einer weiteren Ausführungsform.
Das LC-Filter 31 gemäß dieser Ausführungsform wird durch ein dielektri­ sches Substrat 32 gebildet, das die Form einer rechteckigen Platte hat. Das dielektrische Substrat 32 wird beispielsweise dadurch hergestellt, daß eine di­ elektrische Keramik gebrannt wird, wobei mehrere innere Elektroden 33a bis 33h in diesem dielektrischen Substrat 32 angeordnet werden, wie im Schnitt in Fig. 7A und 7B zu erkennen ist. Die mehreren inneren Elektroden 33a bis 33h sind derat angeordnet, daß sie miteinander unter Zwischenfügung einer dielektrischen Schicht überlappen, so daß sie einen einzelnen Mehrschicht- Kondensatorteil bilden. Die inneren Elektroden 33a und 33c sind an einer seitlichen Oberfläche des dielektrischen Substrats 32 nach außen geführt und elektrisch mit einer auf dieser seitlichen Oberfläche ausgebildeten Elek­ trode 34A verbunden. Die mit den inneren Elektroden 33a und 33c überlap­ pende innere Elektrode 33b ist dagegen auf einer anderen seitlichen Oberflä­ che des dielektrischen Substrats 32 herausgeführt und elektrisch mit einer auf dieser seitlichen Oberfläche ausgebildeten Klemmenelektrode 34D ver­ bunden.
Wie oben beschrieben wurde, ist das dielektrische Substrat 32 bei dieser Aus­ führungsform mit einem einzelnen Kondensatorteil versehen, so daß es mög­ lich ist, die Anzahl an Mehrschichtkondensatoren zu verringern, die auf den oberen und unteren Oberflächen des dielektrischen Substrats 32 montiert werden müssen. Hierdurch wird eine weitere Miniaturisierung des gesamten LC-Filters 31 erreicht.
Gemäß Fig. 6 sind mehrere chipförmige Spulen 35 und 36 auf der oberen Oberfläche des dielektrischen Substrats 32 montiert. Weiterhin ist auf der oberen Oberfläche des dielektrischen Substrats 32 ein Verbindungsmuster 37 ausgebildet, das durch Aufbringen einer Leitpaste und Brennen derselben erhalten wurde. Weiterhin sind Mehrschichtkondensatoren 38 und 39 auf der oberen Oberfläche des dielektrischen Substrats 32 befestigt. Die chipför­ migen Spulen 35 und 36 und die Mehrschichtkondensatoren 38 und 39 sind durch das zuvor erwähnte Verbindungsmuster 37 elektrisch miteinander ver­ bunden. Andererseits sind auf den seitlichen Oberflächen des dielektrischen Substrats 32 Elektroden 34A bis 34J ausgebildet, die elektrisch mit dem Verbindungsmuster 37 bzw. den inneren Elektroden 33a bis 33c in dem dielektrischen Substrat 32 verbunden sind. Diese Elemente sind in der Weise elektrisch miteinander verbunden, daß sie ein LC-Filter bilden, dessen Schal­ tung in Fig. 8 gezeigt ist.
Gemäß Fig. 7A und 7B ist eine Glasurschicht 42 dazu vorgesehen, die Streukapazitäten zwischen der inneren Elektrode 33a im Inneren des dielektrischen Substrats 32 und dem Verbindungsmuster 37 auf der obe­ ren Oberfläche desselben zu verringern.
Mit Hilfe einiger der Elektroden 34A bis 34J, die auf den seitlichen Oberflä­ chen des dielektrischen Substrats 32 aufgebracht sind und zur Verbindung dieses LC-Filters 31 mit der Umgebung notwendig sind, ist es möglich, das LC-Filter 31 nach diesem Ausführungsbeispiel durch Oberflächenmontage auf einem Substrat in der Form einer gedruckten Schaltung zu montieren. Mit anderen Worten, das LC-Filter 31 nach diesem Ausführungs­ beispiel ist als oberflächenmontierbares chipförmiges LC-Filter ausgebildet. Somit ist es möglich, dieses LC-Filter 31 in effizienter Weise mit Hilfe eines Automaten auf einer gedruckten Schaltungsplatine zu mon­ tieren.
Dank des zuvor erwähnten Kondensatorteils, der in dem dielektrischen Sub­ strat 32 ausgebildet ist, ist es möglich, die Anzahl separater Kondensatoren zu verringern und so das LC-Filter 31 mit dem darin enthaltenen Kondensa­ torteil insgesamt zu miniaturisieren.
Die Charakteristik wird eingestellt, indem man einen Laserstrahl 43a einer extern angebrachten Lasereinheit 43 einwirken läßt und so die den Kondensatorteil bildende innere Elektrode 33a zurückschnei­ det oder trimmt, wie in einer teilweise aufgeschnittenen Ansicht in Fig. 6 gezeigt ist. Mit anderen Worten, es ist möglich, die Charakteristik des LC- Filters 31 insgesamt einzustellen, indem die Fläche der inneren Elektrode 33a durch eine solche Laserbearbeitung verringert und somit die Kapazität des Kondensatorteils eingestellt wird. Diese Einstellung kann durch Einsatz des Laserstrahls 43a sehr feinfühlig und mit hoher Genauigkeit vorgenommen werden, und die eingestellten Werte bleiben dann im wesentlichen unverän­ dert. Somit wird die Charakteristik des Bauelements auch hinsichtlich der Stabilität nach der Einstellung verbessert.
Bei dieser Ausführungsform sind die chipförmigen Spulen 35 und 36 als In­ duktivitätselemente auf der oberen Oberfläche des dielektrischen Substrats 32 montiert. Deshalb ist es auch möglich, die oberen Flanschbereiche 35a und 36a der chipförmigen Spulen 35 und 36 durch Bestrahlung mit Laser­ strahlen zuzuschneiden und so die elektronischen Eigenschaften einzustel­ len. Bei dem LC-Filter nach diesem Ausführungsbeispiel ist deshalb eine ein­ fache Einstellung der Kenngrößen nicht nur bei dem Kondensatorteil, son­ dern auch bei den Induktivitätselementen möglich, wodurch die einfache und genaue Einstellung der Gesamt-Charakteristik des Bauele­ ments weiter verbessert wird.
Obgleich bei diesem Ausführungsbeispiel die chipförmigen Spulen 35 und 36 gegenüber der Mitte des dielektrischen Substrats 32 versetzt sind, ist es möglich, die oberen Flanschbereiche 35a und 36a dieser chipförmigen Spu­ len 35 und 36 mit leistungsstarken Saugdüsen anzusaugen, um das LC-Filter 31 bei der Oberflächenmontage zu halten.
Die Erfindung ist nicht auf LC-Filter nach dem oben beschriebenen Ausfüh­ rungsbeispiel mit der in Fig. 8 gezeigten Schaltung beschränkt, das durch die beiden als Induktivitätselemente dienenden chipförmigen Spulen 35 und 36, den Kondensatorteil in dem dielektrischen Substrat 32 und die beiden Kondensatoren 38 und 39 gebildet wird, sondern ist auch bei LC-Filtern an­ wendbar, die einen unterschiedlichen Schaltungsaufbau aufweisen, wie bei­ spielsweise in Fig. 9 bis 11 gezeigt ist. Insbesondere ist es möglich, ein kleinbauendes chipförmiges LC-Filter mit einfach und genau einstellbarer Charakteristik ähnlich dem zuvor beschriebenen zu schaffen, indem wenigstens ein Kondensatorteil in einem dielektrischen Sub­ strat ausgebildet wird und wenigstens ein Induktivitätselement und ein not­ wendiges Kondensatorelement auf der oberen Oberfläche dieses dielektri­ schen Substrats montiert werden.
Weiterhin kann zur Bildung eines chipförmigen LC-Filters auch ein weiteres Element, beispielsweise ein Widerstand, auf dem dielektrischen Substrat 32 montiert oder ein Widerstandsfilm auf dem dielektrischen Substrat 32 ausge­ bildet werden.
Gemäß Fig. 7A und 7B ist die chipförmige Spule 35 auf dem dielektri­ schen Substrat 32 mit Hilfe eines thermisch aushärtenden Klebers 44 befe­ stigt, der so aufgebracht ist, daß die chipförmige Spule 35 auch unter Wär­ meeinwirkung nicht von dem dielektrischen Substrat 32 herabfällt, wenn das LC-Filter 31 bei der Montage auf einer gedruckten Schaltungsplatine oder dergleichen durch einen Reflow-Ofen läuft. Zwar ist es möglich, eine auf der unteren Oberfläche der chipförmigen Spule 35 vorgesehene Elektrode an das Verbindungsmuster 37 anzuheften (anzulöten), um das LC-Filter 31 als einfa­ ches Bauelement fertigzustellen, doch ist die chipförmige Spule 35 bei die­ sem Ausführungsbeispiel zusätzlich mit Hilfe des thermisch aushärtenden Klebers 44 an dem dielektrischen Substrat 32 befestigt, so daß sie auch bei der im Gebrauch auftretenden Wärmeentwicklung nicht von dem Substrat herabfällt. Wenn das LC-Filter 31 im Gebrauch keiner starken Wärmeeinwir­ kung unterliegt, dann kann der thermisch aushärtende Kleber 44 fortgelassen werden.
Bei dieser Ausführungsform ist es möglich, die Anzahl separater Kondensato­ ren zu verringern, die zur Bildung eines LC-Filters benötigt werden, da we­ nigstens ein Kondensatorteil in dem dielektrischen Substrat ausgebildet ist. Somit kann das LC-Filter insgesamt miniaturisiert werden.
Weiterhin kann das LC-Filter 31, das durch eine an der seitlichen Oberfläche oder der unteren Oberfläche des dielektrischen Substrats 32 angebrachte Klemmenelektrode mit der Umgebung elektrisch verbunden ist, durch Ober­ flächenmontage auf einer gedruckten Schaltungsplatine oder dergleichen an­ gebracht werden. Darüberhinaus ist es möglich, die Charakteristik des zuvor erwähnten Kondensatorteils durch Laser-Trimmung abzustimmen, wodurch eine Feineinstellung der Charakteristik erleichtert und die Stabilität der Charakteristik nach der Einstellung verbessert wird.
Somit wird bei verringerter Anzahl der benötigten Bauteile auch die Zuverläs­ sigkeit des LC-Filters verbessert.

Claims (7)

1. Verfahren zur Herstellung und zum Einstellen der Charakteristik eines oberflächenmontierbaren chipförmigen LC-Filters mit einem dielektri­ schen Substrat (1; 21; 32), in dem zur Bildung eines kapazitiven Elements mehrere innere Elektroden (33a-33h) einander überlappend und durch di­ elektrische Schichten getrennt angeordnet sind, und mit einem Induktivi­ tätselement (2; 20; 35, 36), das elektrisch mit dem kapazitiven Element ver­ bunden ist, dadurch gekennzeichnet, daß das Induktivitätselement (2; 20; 35, 36) auf dem Substrat (1; 21; 22) montiert und in seinem oberen Bereich (2a; 35a, 36a) mit einer freiliegenden flachen Oberfläche versehen wird, derart daß das Ansaugen des Bausteins mit einer Saugdüse (3) gestattet, und daß die Charakteristik des Filters eingestellt wird, indem man mit Hilfe eines auf das Substrat gerichteten Laserstrahls (43a) die das kapazitive Element bildende innere Elektrode (33a) zurückschneidet.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das dielektrisches Substrat (1; 21; 32) ein keramisches Substrat ist.
3. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekenn­ zeichnet, daß das Induktivitätselement (2; 20; 35, 36) durch Anlöten an äu­ ßere Elektroden (5; 37) des Substrats auf dem Substrat befestigt wird.
4. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekenn­ zeichnet, daß zwischen dem Substrat (1; 32) und dem Induktivitätselement (2; 35, 36) eine Klebeschicht (10; 44), z. B. aus einem thermisch aushärtenden Harz, eingefügt wird.
5. Verfahrene nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekenn­ zeichnet, daß außer dem Induktivitätselement (2; 35, 36) weitere elektroni­ sche Bauelemente (6, 7, 8; 38, 39) auf dem Substrat (1; 32) montiert werden.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß das Induktivitätselement (35, 36) eine chipförmige Spule ist.
7. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekenn­ zeichnet, daß das Substrat (1; 21; 32) auf seiner Oberseite mit oberen Elek­ troden (5; 37) zum Anlöten des Induktivitätselements und an den Seitenflä­ chen mit seitlichen Elektroden (4) zum Auflöten des Bau­ steins auf eine zugehörige Schaltungsplatine bei der Oberflächenmontage versehen ist.
DE4340594A 1992-12-01 1993-11-29 Verfahren zur Herstellung und zum Einstellen der Charakteristik eines oberflächenmontierbaren chipförmigen LC-Filters Expired - Lifetime DE4340594C2 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32188692A JPH06176927A (ja) 1992-12-01 1992-12-01 チップ状電子部品
JP32820892A JPH06176966A (ja) 1992-12-08 1992-12-08 チップ型lcフィルタ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE4340594A1 DE4340594A1 (de) 1994-06-09
DE4340594C2 true DE4340594C2 (de) 1998-04-09

Family

ID=26570622

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE4340594A Expired - Lifetime DE4340594C2 (de) 1992-12-01 1993-11-29 Verfahren zur Herstellung und zum Einstellen der Charakteristik eines oberflächenmontierbaren chipförmigen LC-Filters

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5726612A (de)
DE (1) DE4340594C2 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109413988A (zh) * 2018-12-20 2019-03-01 宁波润烨机械有限公司 防跑偏可更换吸嘴的贴片机

Families Citing this family (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0764956A2 (de) * 1995-09-22 1997-03-26 SIEMENS MATSUSHITA COMPONENTS GmbH & CO. KG Elektrisches Bauelement für den Einbau in doppelt mit Leiterbahnen kaschierten Leiterplatten
JP2938820B2 (ja) * 1996-03-14 1999-08-25 ティーディーケイ株式会社 高周波モジュール
GB2320132A (en) * 1996-12-04 1998-06-10 Ibm Handling electronic modules
US7321485B2 (en) 1997-04-08 2008-01-22 X2Y Attenuators, Llc Arrangement for energy conditioning
US7336468B2 (en) 1997-04-08 2008-02-26 X2Y Attenuators, Llc Arrangement for energy conditioning
US9054094B2 (en) 1997-04-08 2015-06-09 X2Y Attenuators, Llc Energy conditioning circuit arrangement for integrated circuit
SE516152C2 (sv) * 1999-03-17 2001-11-26 Ericsson Telefon Ab L M Anordning för möjliggörande av trimning på ett substrat samt förfarande för framställning av ett substrat som möjliggör trimning
US6120326A (en) * 1999-10-21 2000-09-19 Amphenol Corporation Planar-tubular composite capacitor array and electrical connector
DE19956828C2 (de) * 1999-11-25 2003-02-13 Vogt Electronic Ag Modifizierter Ringkern zur Verwendung in einem elektromagnetischen Bauelement
JP3414386B2 (ja) * 2000-04-12 2003-06-09 株式会社村田製作所 表面実装型スイッチング電源装置
JP2001358551A (ja) 2000-06-15 2001-12-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd フィルタ
JP3678158B2 (ja) * 2001-03-14 2005-08-03 株式会社村田製作所 モジュール基板の実装構造
US6963255B2 (en) * 2001-06-12 2005-11-08 Wei Ping Zheng Power splitter
DE10243113A1 (de) * 2002-09-17 2004-04-01 Epcos Ag Elektrische Baugruppe und deren Verwendung
EP1513179B1 (de) * 2003-09-03 2006-12-20 Kyoshin Kogyo Co., Ltd Sicherungshalterelement
JP2005244443A (ja) * 2004-02-25 2005-09-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd Lc複合部品
JP2006013054A (ja) * 2004-06-24 2006-01-12 Citizen Electronics Co Ltd Smd型コイルパッケージの製造方法
US7012486B2 (en) * 2004-07-28 2006-03-14 Scientific Components Corporation Miniature wideband bias tee
US7630188B2 (en) 2005-03-01 2009-12-08 X2Y Attenuators, Llc Conditioner with coplanar conductors
DE102005022927A1 (de) 2005-05-13 2006-11-16 Würth Elektronik iBE GmbH Elektronisches Bauteil und Verfahren zu seiner Befestigung
US8022511B2 (en) 2008-02-05 2011-09-20 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Semiconductor device packages with electromagnetic interference shielding
US7989928B2 (en) 2008-02-05 2011-08-02 Advanced Semiconductor Engineering Inc. Semiconductor device packages with electromagnetic interference shielding
US8212339B2 (en) * 2008-02-05 2012-07-03 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Semiconductor device packages with electromagnetic interference shielding
US8350367B2 (en) * 2008-02-05 2013-01-08 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Semiconductor device packages with electromagnetic interference shielding
US8410584B2 (en) * 2008-08-08 2013-04-02 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Semiconductor device packages with electromagnetic interference shielding
US20100110656A1 (en) 2008-10-31 2010-05-06 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Chip package and manufacturing method thereof
US8110902B2 (en) * 2009-02-19 2012-02-07 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Chip package and manufacturing method thereof
US8212340B2 (en) * 2009-07-13 2012-07-03 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Chip package and manufacturing method thereof
US8378466B2 (en) * 2009-11-19 2013-02-19 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Wafer-level semiconductor device packages with electromagnetic interference shielding
US8030750B2 (en) * 2009-11-19 2011-10-04 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Semiconductor device packages with electromagnetic interference shielding
US8368185B2 (en) * 2009-11-19 2013-02-05 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Semiconductor device packages with electromagnetic interference shielding
TWI497679B (zh) * 2009-11-27 2015-08-21 Advanced Semiconductor Eng 半導體封裝件及其製造方法
US8569894B2 (en) 2010-01-13 2013-10-29 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Semiconductor package with single sided substrate design and manufacturing methods thereof
TWI411075B (zh) 2010-03-22 2013-10-01 Advanced Semiconductor Eng 半導體封裝件及其製造方法
TWI540698B (zh) 2010-08-02 2016-07-01 日月光半導體製造股份有限公司 半導體封裝件與其製造方法
US9406658B2 (en) 2010-12-17 2016-08-02 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Embedded component device and manufacturing methods thereof
US8576037B1 (en) 2011-05-04 2013-11-05 Scientific Components Corporation Dual output autotransformer
US8644029B1 (en) 2011-07-28 2014-02-04 Scientific Components Corporation Surface mount bias tee
US8704341B2 (en) 2012-05-15 2014-04-22 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Semiconductor packages with thermal dissipation structures and EMI shielding
US8653634B2 (en) 2012-06-11 2014-02-18 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. EMI-shielded semiconductor devices and methods of making
JP5991297B2 (ja) 2013-02-15 2016-09-14 株式会社村田製作所 有極型ローパスフィルタ、およびこれを備えた分波器
TWI733450B (zh) * 2020-05-15 2021-07-11 台灣愛司帝科技股份有限公司 晶片承載結構、晶片置放系統與晶片置放方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3536908C2 (de) * 1984-10-18 1988-04-14 Sanyo Electric Co., Ltd., Moriguchi, Osaka, Jp
DE4008507A1 (de) * 1989-03-23 1990-09-27 Murata Manufacturing Co Laminiertes lc-filter
DE9110829U1 (de) * 1991-08-31 1991-12-19 Vogt Electronic Ag, 8391 Obernzell, De
DE4101790C1 (en) * 1991-01-18 1992-07-09 Technisch-Wissenschaftliche-Gesellschaft Thiede Und Partner Mbh, O-1530 Teltow, De Chip-support arrangement prodn. - in tape form, in dual-in-line format by film-bond technology

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3648132A (en) * 1970-04-20 1972-03-07 Illinois Tool Works Multilayer capacitor and process for adjusting the value thereof
US4439814A (en) * 1982-08-12 1984-03-27 General Electric Company Laser adjustable capacitor and fabrication process
US4516092A (en) * 1983-02-18 1985-05-07 Sfe Technologies Leadless filter component
JPS6041312A (ja) * 1983-08-16 1985-03-05 Tdk Corp 回路素子
JPS6197809A (ja) * 1984-10-18 1986-05-16 Sanyo Electric Co Ltd インダクタンス素子
JPH0234444B2 (ja) * 1984-10-18 1990-08-03 Sanyo Electric Co Indakutansusoshinokeiseihoho
JPH063769B2 (ja) * 1984-11-20 1994-01-12 三洋電機株式会社 インダクタンス素子の形成方法
JPH0234446B2 (ja) * 1984-10-29 1990-08-03 Sanyo Electric Co Indakutansusoshi
JPH0234445B2 (ja) * 1984-10-29 1990-08-03 Sanyo Electric Co Indakutansusoshinokeiseihoho
JPH0234442B2 (ja) * 1984-10-29 1990-08-03 Sanyo Electric Co Indakutansusoshinokeiseihoho
JPH0614490B2 (ja) * 1984-11-20 1994-02-23 三洋電機株式会社 インダクタンス素子の形成方法
JPS61105809A (ja) * 1984-10-29 1986-05-23 Sanyo Electric Co Ltd インダクタンス素子の形成方法
JPH0234443B2 (ja) * 1984-10-18 1990-08-03 Sanyo Electric Co Indakutansusoshinokeiseihoho
JPS61233818A (ja) * 1985-04-09 1986-10-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 太陽電池式電子卓上計算機
EP0218832B1 (de) * 1985-09-30 1990-11-22 Siemens Aktiengesellschaft Bauelement für die Oberflächenmontage und Verfahren zur Befestigung eines Bauelements für die Oberflächenmontage
JPH0754973Y2 (ja) * 1986-07-01 1995-12-18 株式会社村田製作所 Lc複合部品
US4810983A (en) * 1986-12-22 1989-03-07 Murata Manufacturing Co., Ltd. Chip type LC composite component
JPH03156905A (ja) * 1989-11-14 1991-07-04 Mitsubishi Electric Corp 積層形コンデンサを用いた電子部品
MY105486A (en) * 1989-12-15 1994-10-31 Tdk Corp A multilayer hybrid circuit.
JP3013480B2 (ja) * 1991-03-12 2000-02-28 安藤電気株式会社 Icソケットのicコンタクト機構
CA2079964C (en) * 1992-01-22 1997-12-16 Mitsutoshi Kamakura Apparatus and method for manufacturing optical module
US5182536A (en) * 1992-07-01 1993-01-26 At&T Bell Laboratories Surface mount current transformer structure

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3536908C2 (de) * 1984-10-18 1988-04-14 Sanyo Electric Co., Ltd., Moriguchi, Osaka, Jp
DE4008507A1 (de) * 1989-03-23 1990-09-27 Murata Manufacturing Co Laminiertes lc-filter
DE4101790C1 (en) * 1991-01-18 1992-07-09 Technisch-Wissenschaftliche-Gesellschaft Thiede Und Partner Mbh, O-1530 Teltow, De Chip-support arrangement prodn. - in tape form, in dual-in-line format by film-bond technology
DE9110829U1 (de) * 1991-08-31 1991-12-19 Vogt Electronic Ag, 8391 Obernzell, De

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109413988A (zh) * 2018-12-20 2019-03-01 宁波润烨机械有限公司 防跑偏可更换吸嘴的贴片机

Also Published As

Publication number Publication date
US5726612A (en) 1998-03-10
DE4340594A1 (de) 1994-06-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE4340594C2 (de) Verfahren zur Herstellung und zum Einstellen der Charakteristik eines oberflächenmontierbaren chipförmigen LC-Filters
DE102010042544B9 (de) Dünnfilmbauelemente für Oberflächenmontage
DE4330108C2 (de) Dielektrische Filteranordnung
DE4008507C2 (de) Laminiertes LC-Filter
DE19655266B4 (de) Elektronisches Bauelement
DE69936827T2 (de) Baugruppe und verfahren zur herstellung
DE10048290C2 (de) Induktiver Sensor
DE2915240A1 (de) Gedruckte schaltung
DE60032209T2 (de) Nichtreziproke anordnung mit konzentrierten elementen
DE102005028498B4 (de) Elektrisches Vielschichtbauelement
DE4338084C2 (de) Kombiniertes Bauelement aus einem Mehrschichtsubstrat mit integrierter Spule und einem induktiven Bauelement
EP0538280A1 (de) Schalteranordnung mit regelbarem widerstand.
EP0249277A2 (de) Passives elektrisches Bauelement
DE60118118T2 (de) Elektronische Schaltung, geeignet für Verkleinerung und einfache Ausgangseinstellung
DE4420060C2 (de) Streifenleitungsfilter
DE102005012395A1 (de) Durchführungsfilter und elektrisches Mehrschicht-Bauelement
DE4401173C2 (de) Verzögerungsleitung
DE10335331A1 (de) Elektrisches Bauelement mit überlappenden Elektroden und Verfahren zur Herstellung
DE19929735A1 (de) Elektronikkomponente
DE102007013751A1 (de) Tiefpassfilter und Tiefpassfilter-Anordnung
DE19814688A1 (de) Chip-artiges piezoelektrisches Filter
DE10117291A1 (de) Variabler Induktor
DE10064445A1 (de) Elektrisches Vielschichtbauelement und Anordnung mit dem Bauelement
DE4036079A1 (de) Elektronisches bauteil und elektronische vorrichtung mit einem derartigen bauteil
EP0431625B1 (de) Varistor hoher Kapazität

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
R071 Expiry of right
R071 Expiry of right