DE4327712A1 - Sensoranordnung und Verfahren zum Erfassen von Eigenschaften der Oberflächenschicht eines metallischen Targets - Google Patents
Sensoranordnung und Verfahren zum Erfassen von Eigenschaften der Oberflächenschicht eines metallischen TargetsInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Sensoranordnung und ein
Verfahren zum Erfassen von Eigenschaften der Oberflächenschicht
eines metallischen Targets, wobei vorausgesetzt wird, daß die
Leitfähigkeit und die Permeabilität des Grundmaterials des Tar
gets bekannt sind.
Unter dem Erfassen von Eigenschaften der Oberflächenschicht ei
nes metallischen Targets sind bspw. die Überprüfung der Homoge
nität der Oberflächenschicht des Targets oder auch das Erkennen
von Schäden in der Struktur der Targetoberfläche zu verstehen.
Besondere Bedeutung kommt der Anwendung der vorliegenden Erfin
dung zur Messung von Beschichtungsdicken zu. In diesem Falle
besteht das Target aus einem metallischen Grundmaterial und ei
ner Beschichtung, die der Oberflächenschicht entspricht und
vorzugsweise aus einem anderen metallischen Material als dem
Grundmaterial gebildet ist. Das Grundmaterial dient also als
Träger für die Beschichtung bzw. Oberflächenschicht. In der
Praxis ist es oftmals erforderlich, die Dicke einer solchen Be
schichtung festzustellen. Dies erweist sich jedoch als proble
matisch, wenn die Beschichtung dabei nicht zerstört werden
soll.
Es sind zwar bereits Verfahren zur Dickenmessung für Folien,
Bändern oder dgl. aus nichtleitenden Materialien bekannt, wel
che sich aber weder bezüglich der verwendeten Sensoren noch
bezüglich des Verfahrens bzw. des dem Verfahren zugrundeliegen
den Meßprinzips ohne weiteres auf die Messung der Schichtdicke
einer metallischen Oberflächenschicht auf einem metallischen
Grundmaterial übertragen lassen. Das für eine bestimmte Meßan
wendung verwendete Meßverfahren und insbesondere die im Rahmen
dieses Verfahrens eingesetzten Sensortypen werden nämlich in
erster Linie in Abhängigkeit davon gewählt, ob die Schicht, de
ren Dicke bestimmt werden soll, aus einem leitenden oder einem
nichtleitenden Material besteht.
Der vorliegenden Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, eine
Sensoranordnung und ein Verfahren zum Erfassen von Eigenschaf
ten der Oberflächenschicht eines metallischen Targets anzuge
ben, womit eine zerstörungsfreie und bezüglich der Exaktheit
der Sensorpositionierung möglichst unkritische Messung durchge
führt werden kann.
Die erfindungsgemäße Sensoranordnung, bei der die voranstehende
Aufgabe gelöst ist, ist durch die Merkmale des Patentanspruches
1 beschrieben und gekennzeichnet durch eine Kombination von
mindestens einem Wirbelstromsensor mit mindestens einem Wegmeß
sensor, wobei die Eindringtiefe der vom Wirbelstromsensor er
zeugten Wirbelströme mindestens dem doppelten der Dicke der
Oberflächenschicht entspricht und der Wegmeßsensor zur Bestim
mung des Abstandes der Sensoranordnung zur Targetoberfläche
dient.
Das erfindungsgemäße Verfahren, bei dem die voranstehende Auf
gabe gelöst ist, ist durch die Merkmale des Patentanspruches 10
beschrieben und dadurch gekennzeichnet, daß die Sensoranordnung
derart bezüglich der Targetoberfläche positioniert wird, daß
die vom Wirbelstromsensor erzeugten Wirbelströme zumindest die
zu untersuchende Oberflächenschicht des Targets durchdringen,
daß mit Hilfe des Wegmeßsensors der Abstand des Wirbelstromsen
sors von der Targetoberfläche erfaßt wird und daß die Meß
signale des Wirbelstromsensors und des Wegmeßsensors unter Zu
grundelegung einer in Abhängigkeit von der Frequenz der Wirbel
ströme und von der Leitfähigkeit und Permeabilität des Grundma
terials des Targets zu bestimmenden, hypothetischen Eindring
tiefe der Wirbelströme ausgewertet werden.
Erfindungsgemäß ist zunächst erkannt worden, daß die Eindring
tiefe, auch Skintiefe genannt, von hochfrequenten Wirbelströmen
in Metalloberflächen über die Funktion
von der Frequenz der Wirbelströme, der Leitfähigkeit ϕ und
der Permeabilität µ abhängt. Sind also die Frequenz f der von
einem Wirbelstromsensor erzeugten Wirbelströme und die
Leitfähigkeit ϕ sowie die Permeabilität µ eines Targets be
kannt, so kann die Eindringtiefe der von dem Wirbelstromsensor
erzeugten Wirbelströme berechnet werden. Abweichungen einer
tatsächlich gemessenen Eindringtiefe von der zu erwartenden,
vorab berechneten Eindringtiefe lassen Rückschlüsse auf die Ei
genschaften der Oberflächenschicht des Targets zu, die von den
Wirbelströmen durchdrungen wird. Erfindungsgemäß ist ferner er
kannt worden, daß zur Umsetzung des vorab beschriebenen Prin
zips in ein praktikables Meßverfahren Maßnahmen notwendig sind,
um die jeweils von Messung zu Messung in zufälliger Weise vari
ierenden Meßbedingungen, wie z. B. unterschiedliche
Sensorpositionierungen, zu erfassen, so daß sie bei der
Meßwertauswertung berücksichtigt werden können. Erfindungsgemäß
wird dazu ein Kombinationssensor vorgeschlagen, d. h. eine Sen
soranordnung, die mindestens einen Wirbelstromsensor und minde
stens einen Wegmeßsensor umfaßt. Mit Hilfe des Wegmeßsensors
läßt sich nun auf einfache Weise der Abstand der Sensoranord
nung und insbesondere des Wirbelstromsensors zur Targetoberflä
che bestimmen. Es ist schließlich noch erkannt worden, daß eine
besonders hohe Zuverlässigkeit der Messung dann erzielt werden
kann, wenn die zu erwartende Eindringtiefe der vom Wirbelstrom
sensor erzeugten Wirbelströme mindestens dem doppelten der
Dicke der Oberflächenschicht entspricht.
Es gibt nun verschiedene Realisierungsmöglichkeiten für die
beiden Sensortypen der Sensoranordnung. Bei der Wahl eines Wir
belstromsensors sind solche Sensoren zu bevorzugen, mit denen
sich hochfrequente Wirbelströme erzeugen lassen, da der voran
stehend angegebene funktionale Zusammenhang zwischen der Ein
dringtiefe bzw. der Skintiefe und der Frequenz der Wirbelströme
in erster Linie für hochfrequente Wirbelströme gegeben ist.
Zwar ist auch ein funktionaler Zusammenhang zwischen der Skin
tiefe und der Frequenz der Wirbelströme bei niedrigeren Fre
quenzen anzunehmen, dieser ist aber der Auswertung weniger ein
fach zugänglich.
Als Wegmeßsensor kommen kapazitiv oder auch optisch arbeitende
Sensoren in Betracht. Unabhängig vom Sensortyp sind bei der
Auswahl konkreter Sensoren solche mit einer robusten Bauweise
bzw. Kapselung zu bevorzugen, da die erfindungsgemäße Sensoran
ordnung in der Regel bewegt wird und auch für den Kontakt mit
dem Target geeignet sein muß.
Auch im Hinblick auf die möglichen Anordnungen des Wirbelstrom
sensors bezüglich eines oder mehrerer Wegmeßsensoren sind ver
schiedene vorteilhafte Realisierungsmöglichkeiten der erfin
dungsgemäßen Sensoranordnung denkbar. Die Anordnung des Wirbel
stromsensors und eines Wegmeßsensors in einer Achse erweist
sich als besonders vorteilhaft, da bei dieser Anordnung eine
durch das Verkippen der Sensoranordnung bedingte Meßsignalver
fälschung praktisch ausgeschlossen ist. Konkret könnte der ka
pazitiv oder optisch arbeitende Wegmeßsensor im Inneren der
Spule des Wirbelstromsensors und parallel zur Spulenachse ange
ordnet sein. Aber auch wenn die Sensoren der Sensoranordnung
nicht in einer Achse, sondern nebeneinander angeordnet sind,
kann ein auf ein Verkippen der Sensoranordnung zurückzuführen
der Meßfehler wirkungsvoll dadurch vermieden werden, daß meh
rere Wegmeßsensoren im wesentlichen gleichmäßig am Umfang des
Wirbelstromsensors verteilt angeordnet sind. Eine Verkippung
kann auf diese Weise nicht nur erfaßt, sondern auch bei der
Auswertung der Meßwertsignale berücksichtigt werden.
Zur Auswertung kann eine gesonderte, von der Sensoranordnung
räumlich getrennte Auswerteeinheit vorgesehen sein, was sich
immer dann anbietet, wenn die Targetoberfläche schlecht zugäng
lich ist. In diesem Falle sollte die Sensoranordnung so klein
wie möglich, d. h. ohne zusätzliche, den Aufbau der Sensoranord
nung erweiternde Einheiten, ausgeführt sein, da die Sensoran
ordnung zur Durchführung einer Messung entweder direkt auf die
Targetoberfläche gehalten oder gedrückt wird oder auch in einem
Abstand zur Targetoberfläche geführt wird, wobei immer zu be
denken ist, daß die tatsächliche Eindringtiefe der vom Wirbel
stromsensor der Sensoranordnung erzeugten Wirbelströme minde
stens dem doppelten der Dicke der zu untersuchenden Oberflä
chenschicht entsprechen sollte.
Wie bereits eingangs angedeutet können mit dem erfindungsgemä
ßen Verfahren in Verbindung mit der erfindungsgemäßen Sensoran
ordnung unterschiedliche Eigenschaften der zu untersuchenden
Oberflächenschicht erfaßt werden. Das Target kann z. B. aus ei
nem einzigen metallischen Material mit bekannter Leitfähigkeit
und Permeabilität bestehen. Das bedeutet, daß das Material der
Oberflächenschicht mit dem Grundmaterial des Targets identisch
ist. Mit Hilfe des erfindungsgemäßen Verfahrens lassen sich nun
Inhomogenitäten in der Oberflächenschicht, d. h. bis zu einer
bestimmten Tiefe von der Targetoberfläche ausgehend, feststel
len. Auch Schäden in der Struktur der Targetoberfläche können
erkannt werden.
Bei dem Target kann es sich aber auch um ein beschichtetes Ob
jekt handeln. Beispielhaft sei hier eine mit Chrom beschichtete
Messingwalze genannt. Das Target besteht also aus der Messing
walze, die das Grundmaterial bildet und der Chrombeschichtung,
die hier als Oberflächenschicht bezeichnet wird. Sowohl die
Leitfähigkeit und Permeabilität des Grundmaterials als auch die
Leitfähigkeit und Permeabilität des Oberflächenmaterials werden
als bekannt vorausgesetzt. Dann läßt sich mit dem erfindungsge
mäßen Verfahren die Dicke der Beschichtung bzw. der Oberflä
chenschicht aufgrund einer funktionalen Beziehung zwischen der
Frequenz der vom Wirbelstromsensor erzeugten Wirbelströme und
der Leitfähigkeiten und Permeabilitäten des Grundmaterials und
des Materials der Oberflächenschicht numerisch berechnen. Die
ses Verfahren zur Bestimmung der Dicke der Oberflächenschicht
mit Hilfe einer erfindungsgemäßen Sensoranordnung ist besonders
vorteilhaft, da die Messung zerstörungsfrei erfolgt. Die Mes
sung ist außerdem im wesentlichen abstandsunabhängig, so daß
nur sehr geringe Anforderungen an die Positionierung der Sen
soranordnung gestellt werden müssen. Da die Materialdaten in
der Regel sehr genau bekannt sind, entfällt auch die Notwendig
keit einer Kalibrierung der Sensoranordnung. Schließlich sei
noch erwähnt, daß das erfindungsgemäße Verfahren sowohl auf
ferromagnetische Grundmaterialien mit einer nichtferromagneti
schen oder ferromagnetischen Oberflächenschicht, als auch auf
nichtferromagnetische Grundmaterialien mit einer nichtferromag
netischen oder ferromagnetischen Oberflächenschicht anwendbar
ist.
Im Zusammenhang mit der Figurenbeschreibung wird näher auf den
funktionalen Zusammenhang zwischen der Dicke der Oberflächen
schicht a, der Frequenz der Wirbelströme f und der
Leitfähigkeiten ϕ und Permeabilitäten µ des Grundmaterials
und des Materials der Oberflächenschicht eingegangen.
Es gibt nun verschiedene Möglichkeiten, den Gegenstand der vor
liegenden Erfindung in vorteilhafter Weise auszugestalten und
weiterzubilden. Dazu ist einerseits auf die den Patentansprü
chen 1 und 10 nachgeordneten Patentansprüche, andererseits auf
die Erläuterung zweier Ausführungsbeispiele der erfindungsgemä
ßen Lehre anhand der Zeichnung zu verweisen. In Verbindung mit
der Zeichnung soll außerdem nochmals das der Erfindung zugrun
deliegende Modell erläutert werden. In der Zeichnung zeigt
Fig. 1 in einer schematischen Darstellung ein Ausführungs
beispiel einer erfindungsgemäßen Sensoreinrichtung,
Fig. 2 in einer schematischen Darstellung ein weiteres Aus
führungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Sensorein
richtung,
Fig. 3 die ideelle Stromverteilung in einem metallischen Tar
get aus einheitlichem Material und
Fig. 4 die ideelle Stromverteilung in einem Target, wobei
sich das Material der Oberflächenschicht von dem der
Grundschicht des Targets unterscheidet.
Die Fig. 1 und 2 zeigen jeweils eine Sensoranordnung 1, die
in einem Abstand zur Oberfläche 4 eines Targets 2 geführt ist.
In den beiden dargestellten Ausführungsbeispielen umfaßt das
Target 2 jeweils ein Grundmaterial 8 sowie eine Oberflächen
schicht 3. Das Grundmaterial 8 bildet praktisch einen Träger,
der durch die Oberflächenschicht 3 beschichtet ist. Wie bereits
erwähnt, besteht das Target 2 aus einem oder mehreren sich un
terscheidenden metallischen Materialien. In den hier darge
stellten Ausführungsbeispielen unterscheidet sich das Grundma
terial 8 von dem Material der Oberflächenschicht 3. Als Bei
spiel für eine solche Materialkombination sei hier Messing als
Grundmaterial und Chrom als Material der Oberflächenschicht ge
nannt. Unter bestimmten Bedingungen, auf die nachfolgend noch
eingegangen wird, sind aber auch andere Materialkombinationen
möglich.
Erfindungsgemäß umfassen beide in den Fig. 1 und 2 darge
stellten Sensoranordnungen 1 eine Kombination von einem Wirbel
stromsensor 5 mit einem Wegmeßsensor 6. Die ideelle Eindring
tiefe der vom Wirbelstromsensor 5 erzeugten Wirbelströme soll
mindestens dem doppelten der Dicke der Oberflächenschicht 3 des
Targets 2 entsprechen. Der Wegmeßsensor 6 bzw. 7 dient zur Be
stimmung des Abstandes der gesamten Sensoranordnung 1 zur Tar
getoberfläche 4. Tatsächlich mißt der Wegmeßsensor 6 bzw. 7
seinen eigenen Abstand zur Targetoberfläche 4. Da aber davon
auszugehen ist, daß die Sensoranordnung starr ist, da der
Wirbelstromsensor 5 und der Wegmeßsensor 6 bzw. 7 in einem ge
meinsamen starren Gehäuse angeordnet sind, läßt sich aus dem
Abstand des Wegmeßsensors 6 bzw. 7 zur Targetoberfläche 4
sowohl der Abstand der gesamten Sensoranordnung 1 zur Target
oberfläche 4 als auch der Abstand des Wirbelstromsensors 5 zur
Targetoberfläche 4 bestimmen.
Mit dem Wirbelstromsensor 5 sind hochfrequente Wirbelströme er
zeugbar, was in Verbindung mit den Fig. 3 und 4 näher erläu
tert wird.
Bei dem in Fig. 1 dargestellten Wegmeßsensor handelt es sich um
einen kapazitiv arbeitenden Wegmeßsensor im Gegensatz zu dem in
Fig. 2 dargestellten Wegmeßsensor 7, der nach einem optischen
Meßprinzip arbeitet.
In beiden Fällen sind der Wirbelstromsensor 5 und der Wegmeß
sensor 6 bzw. 7 in einer Achse angeordnet, indem der Wegmeßsen
sor 6 bzw. 7 im Inneren der Spule des Wirbelstromsensors 5 und
parallel zur Spulenachse angeordnet sind.
Die Auswertung der Meßsignale des Wirbelstromsensors 5 und des
Wegmeßsensors 6 bzw. 7 wird erheblich dadurch vereinfacht, daß
die aus Wirbelstromsensor 5 und Wegmeßsensor 6 bzw. 7 gebildete
Sensorkombination auf das Grundmaterial 8 des Targets lineari
siert bzw. nullpunktabgeglichen ist. In diesem Falle lassen
sich nämlich Abweichungen von einem ideellen erwarteten Meßwert
besonders einfach feststellen und auswerten.
Nachdem nun zwei vorteilhafte Realisierungmöglichkeiten von
Sensoranordnungen beschrieben und erläutert wurden, soll im
folgenden anhand der Fig. 3 und 4 das dem vorgeschlagenen
Verfahren zur Messung von Beschichtungsdicken zugrundeliegende
Meßprinzip näher erläutert werden.
Voraussetzung für diese Schichtdickenmessung von elektrisch
leitfähigen Metallen ist, daß die kombinierten Metalle unter
schiedliche Leitfähigkeiten besitzen bzw. sich in ihrer relati
ven Permeabilitätszahl unterscheiden. Ferner muß die Beschich
tungsdicke dünner als die doppelte bis dreifache Eindringtiefe
des Wirbelstromsensors sein. Mit diesem Verfahren ist z. B. eine
Dicke von 0,3 mm Chrom auf Aluminium oder einem anderen ferro-
oder nichtferromagnetischen Metall ausreichend genau meßbar,
d. h. bis zu einer Genauigkeit von 1 µm. Dazu wird ein auf das
Grundmaterial (dicken-) linearisiertes Sensorpaar auf die Be
schichtung gehalten bzw. gedrückt, wobei Abstandsschwankungen
bis zu 0,5 mm keine oder nur eine geringe Rolle spielen. Dabei
ergibt sich im Vergleich zur Messung auf das Grundmaterial eine
Meßwertverschiebung, die auch als Nullpunktversatz bezeichnet
werden kann. Diese Meßwertverschiebung steht nun in einem ma
thematischen Zusammenhang zum Leitfähigkeitsverhältnis der kom
binierten Materialien und zur Dicke der Beschichtung.
Wie bereits eingangs erwähnt besteht folgender Zusammenhang
zwischen der Eindringtiefe bzw. Skintiefe von hochfrequenten
Wirbelströmen in Metalloberflächen und der Frequenz f dieser
Wirbelströme, der Leitfähigkeit ϕ und der Permeabilität µ:
Daraus ergibt sich eine Stromverteilung an der Oberfläche, wie
sie in Fig. 3 dargestellt ist. Der Wirbelstromsensor mißt also
in Wirklichkeit nicht gegen die Oberfläche des Metalls, sondern
gegen einen Punkt der je nach Skintiefe mehr oder weniger tief
im Metall liegt und mit xs bezeichnet ist.
In einer Modellrechnung kann dieser Punkt z. B. als Schwerpunkt
xs der Stromverteilungsfunktion angenommen werden (dabei werden
Reflexionsdämpfung- und Nahfeldbetrachtungen vernachlässigt).
Bei einem geschichteten Aufbau des Targets ergibt sich ein ent
sprechendes Modell. Die Stromverteilung dieses Modells ist in
Fig. 4 dargestellt. Die Schwerpunktskoordinate xs ist hier auch
eine Funktion der Schichtdicke a und der beiden Skintiefen α
und β. Die Schichtdicke a läßt sich nun aus diesem funktionalen
Zusammenhang numerisch berechnen. Bevor auf diese Berechnung
näher eingegangen wird, sei noch darauf hingewiesen, daß das
experimentell ermittelte Verhalten dem aufgeführten Modell sehr
nahekommt. Kleinere Abweichungen sind durch die Abstimmung des
Sensors an der Flanke der Resonanzkurve und die im Modell vor
ausgesetzten Vereinfachungen zu erklären. Bemerkenswert ist die
geringe Veränderung der Linearitätskennlinie bei Messung gegen
nichtferromagnetische Metalle stark verschiedener Leitfähigkeit
bei einer deutlichen Nullpunkt-(Schwerpunkt)-Verschiebung von
ca. 160 µm.
Mit Hilfe des zweiten Sensors, des Wegmeßsensors, der gegen die
Oberfläche des Targets bspw. kapazitiv oder optisch mißt und
der vorteilhafterweise in derselben Achse wie der Wirbelstrom
sensor angeordnet ist, kann durch Differenzbildung der beiden
gemessenen Wege die Leitfähigkeit des Metalls oder die Dicke
der Beschichtung errechnet werden. Je nach Abstimmung des Wir
belstromsensors ergeben sich damit folgende realisierbare Meß
methoden:
- 1. Schichtdickenmessung
- 2. Leitfähigkeitsmessung von Metallen (Homogenität)
- 3. Erkennung von Schäden in der Struktur der Metalloberfläche bis zu einer Tiefe, die kleiner ist als die doppelte Skintiefe.
Schließlich sei noch auf die Auswertung der Sensorsignale ein
gegangen: Gemessen wird zum einen die Nullpunktverschiebung n
und zum anderen der Abstand dref des Wegmeßsensors zur Target
oberfläche. Konstruktionsbedingt sind gegeben eine Konstante c
und der Abstand d zwischen dem Wegmeßsensor und dem Wirbel
stromsensor. Schließlich geht noch eine Linearitätskorrektur
K(d, dref) nach der deutschen Patentanmeldung DE 40 11 717 A1
ein. Die Nullpunktverschiebung berechnet sich also wie folgt:
n = d-dref + c + K(d, dref).
Aus der Nullpunktverschiebung kann nun unter Berücksichtigung
der Sensor- und Elektronikkenndaten eine Schwerpunktverschie
bung xs nach dem oben genannten Modell berechnet werden.
xs = c₁n + c₂
Zu beachten ist, daß c₁ und c₂ schaltungsabhängige Konstanten
sind. xs ergibt sich also aus diesen schaltungsabhängigen Kon
stanten c₁ und c₂ und dem Meßwert n. Außerdem gilt aber, daß xs
eine Funktion der Skintiefen α und β der Beschichtung und
des Trägermetalls sowie der Schichtdicke a ist.
Die voranstehende Formel kann nunmehr nach a numerisch aufge
löst werden.
Abschließend sei darauf hingewiesen, daß die erfindungsgemäß
vorgeschlagene Sensoranordnung auch zur Messung von weiteren
Eigenschaften einer Oberflächenschicht eines Targets verwendet
werden kann. Im Rahmen der vorliegenden Erfindung liegen auch
Verfahren, die neben den beanspruchten Verfahrensschritten wei
tere ergänzende Maßnahmen umfassen.
Claims (16)
1. Sensoranordnung zum Erfassen von Eigenschaften der Ober
flächenschicht (3) eines metallischen Targets (2), wobei die
Leitfähigkeit und die Permeabilität des Grundmaterials (8) des
Targets (2) bekannt sind,
gekennzeichnet durch eine Kombination von
mindestens einem Wirbelstromsensor (5) mit mindestens einem
Wegmeßsensor (6), wobei die Eindringtiefe der vom Wir
belstromsensor (5) erzeugten Wirbelströme mindestens dem Dop
pelten der Dicke der Oberflächenschicht (3) entspricht und der
Wegmeßsensor (6) zur Bestimmung des Abstandes der Sensoranord
nung (1) zur Targetoberfläche (4) dient.
2. Sensoranordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß mit dem Wirbelstromsensor (5) hochfrequente Wirbelströme
erzeugbar sind.
3. Sensoranordnung nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß der Wegmeßsensor (6) kapazitiv arbeitet.
4. Sensoranordnung nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß der Wegmeßsensor (7) nach einem optischen
Meßprinzip arbeitet.
5. Sensoranordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß der Wirbelstromsensor (5) und der Wegmeß
sensor (6, 7) in einer Achse angeordnet sind.
6. Sensoranordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß der Wirbelstromsensor und der Wegmeßsensor
nebeneinander angeordnet sind.
7. Sensoranordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß mehrere Wegmeßsensoren im wesentlichen gleichmäßig am Umfang
des Wirbelstromsensors verteilt angeordnet sind.
8. Sensoranordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch
gekennzeichnet, daß sie auf das Grundmaterial (8) des Targets
linearisiert bzw. nullpunktsabgeglichen ist.
9. Sensoranordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch
gekennzeichnet, daß eine Auswerteeinheit für die Meßsignale des
Wirbelstromsensors (5) und des Wegmeßsensors (6, 7) vorgesehen
ist.
10. Verfahren zum Erfassen von Eigenschaften der Oberflächen
schicht (3) eines metallischen Targets (2) unter Verwendung ei
ner Sensoranordnung (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 9, wobei
die Leitfähigkeit und die Permeabilität des Grundmaterials (8)
des Targets (2) bekannt sind,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Sensoranordnung (1) derart bezüglich der Targetoberflä che (4) positioniert wird, daß die vom Wirbelstromsensor (5) erzeugten Wirbelströme zumindest die zu untersuchende Oberflä chenschicht (3) des Targets (2) durchdringen,
daß mit Hilfe des Wegmeßsensors (6, 7) der Abstand des Wirbelstromsensors (5) von der Targetoberfläche (4) erfaßt wird und daß die Meßsignale des Wirbelstromsensors (5) und des Weg meßsensors (6, 7) unter Zugrundelegung einer in Abhängigkeit von der Frequenz der Wirbelströme und von der Leitfähigkeit und der Permeabilität des Grundmaterials (8) des Targets (2) zu be stimmenden, hypothetischen Eindringtiefe der Wirbelströme aus gewertet werden.
dadurch gekennzeichnet,
daß die Sensoranordnung (1) derart bezüglich der Targetoberflä che (4) positioniert wird, daß die vom Wirbelstromsensor (5) erzeugten Wirbelströme zumindest die zu untersuchende Oberflä chenschicht (3) des Targets (2) durchdringen,
daß mit Hilfe des Wegmeßsensors (6, 7) der Abstand des Wirbelstromsensors (5) von der Targetoberfläche (4) erfaßt wird und daß die Meßsignale des Wirbelstromsensors (5) und des Weg meßsensors (6, 7) unter Zugrundelegung einer in Abhängigkeit von der Frequenz der Wirbelströme und von der Leitfähigkeit und der Permeabilität des Grundmaterials (8) des Targets (2) zu be stimmenden, hypothetischen Eindringtiefe der Wirbelströme aus gewertet werden.
11. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß es
zur Überprüfung der Homogenität der Oberflächenschicht (3) des
Targets (2) verwendet wird.
12. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß es
zur Erkennung von Schäden in der Struktur der Targetoberfläche
(4) verwendet wird.
13. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß es
zur Messung der Dicke der Oberflächenschicht (3) des Targets
(2) verwendet wird.
14. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 13, wobei die
Oberflächenschicht (3) aus einem anderen Material als dem
Grundmaterial (8) des Targets (2) gebildet ist und die Leitfä
higkeit und Permeabilität des Materials der Oberflächenschicht
(3) bekannt sind, dadurch gekennzeichnet, daß der Auswertung
der Meßsignale des Wirbelstromsensors (5) und des Wegmeßsensors
(6, 7) neben der Frequenz der Wirbelströme, der Leitfähigkeit
und der Permeabilität des Grundmaterials (8) des Targets (2)
auch die Leitfähigkeit und die Permeabilität des Materials der
Oberflächenschicht (3) zugrunde gelegt werden.
15. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 14, dadurch
gekennzeichnet, daß die Sensoranordnung (1) auf die Targetober
fläche (4) gehalten oder gedrückt wird.
16. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 14, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Messung berührungslos erfolgt, indem die
Sensoranordnung (1) in einem Abstand zur Targetoberfläche (4)
geführt wird.
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