DE4007363A1 - Verfahren zur messung der dicke einer schicht auf einem traegermaterial - Google Patents
Verfahren zur messung der dicke einer schicht auf einem traegermaterialInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Mes
sung der Dicke einer Schicht auf einem Träger
material unter Verwendung von berührungslos
arbeitenden Sensoren.
Auf den unterschiedlichsten Gebieten der Tech
nik werden Trägermaterialien mit Schichten un
terschiedlichster chemischer Zusammensetzung
versehen. Hierzu zählen unter anderem das
Aufbringen von Lackierungen und hier insbe
sondere Pulverlackierungen sowie Kunststof
fe auf metallisches Trägermaterial. So wird
bei der Pulverlackierung zunächst Pulver
auf das Blech aufgebracht und anschließend
durch Brennen bleibend mit dem Trägermate
rial verbunden. Erst dann erfolgt zur Kon
trolle sowie zur optimalen Einstellung des
Beschichtungsprozesses die Messung der Dicke
der Lackschicht. Bei zu dünner Pulverschicht
bilden sich Inseln auf dem Trägermaterial
aus, wodurch der Oberflächenschutz beein
trächtigt ist. Um auch bei unvermeidlichen
Schwankungen der Dicke der Pulverschicht
eine hinreichende Qualität zu garantieren,
wird zur Sicherheit eine größere Schichtdic
ke an Pulver als unbedingt erforderlich auf
getragen, da die unmittelbar, d. h. vor dem
Brennvorgang erfolgte Messung nicht ohne er
heblichen Aufwand möglich ist. Hierzu einzig
bekannt ist das Beta-Rückstrahlverfahren, das
aus Gründen des Strahlenschutzes und dem Er
fordernis der Dekontaminierung des gemessenen
Materials einen derart erheblichen Aufwand
bedeutet, daß es sich für industrielle An
wendungen auf breiter Basis als ungeeignet
erweist.
Hiervon ausgehend hat sich die Erfindung die
Schaffung eines Verfahrens zum berührungslo
sen Messen der Dicke einer Schicht auf einem
Trägermaterial bei geringem Aufwand zur Aufga
be gemacht.
Gelöst wird diese Aufgabe unter Verwendung
eines ersten Sensors, der den Abstand der dem
Trägermaterial gegenüberliegenden Oberflä
che der Schicht mißt und einem weiteren
(zweiten) Sensor, der in gleicher Richtung
den Abstand der der Schicht zugewandten Ober
fläche des Trägermaterials erfaßt und durch
Differenzbildung die Schichtdicke ermittelt.
Der Kerngedanke der Erfindung besteht in der
Messung der jeweils den Sensoren zugewandten
Oberflächen von Schicht als auch Trägerma
terial. Unter der Voraussetzung, daß die
Schicht unmittelbar auf dem Trägermaterial
aufliegt und die Messung beider Sensoren in
gleicher Richtung, d. h. parallel zueinander
erfolgt, erhält man bei Differenzbildung die
Schichtdicke. Die normalerweise gegebene Vor
aussetzung zur Anwendung des vorgeschlagenen
Verfahrens ist, daß Schicht als auch Träger
material unterschiedliche physikalische
Eigenschaften aufweisen, die man sich durch
Verwendung zweier nach verschiedenen Prin
zipien arbeitenden Sensoren zunutze macht.
Der den Abstand zu der dem Trägermaterial ge
genüberliegenden Oberfläche der Schicht er
fassende Sensor nutzt ein Meßverfahren bzw.
physikalische Phänomene, die durch das Mate
rial der Schicht beeinflußt, ausgelöst oder
verändert werden. Der zweite, den Abstand der
Oberfläche des Trägermaterials ermittelnde
Sensor nutzt ein Meßverfahren, welches auf
das Trägermaterial und demgegenüber nicht
oder nur geringfügig auf das Material der
Schicht anspricht.
Durch Differenzbildung erhält man aus beiden
Abständen den gesuchten Wert der Schichtdicke.
Er kann in an sich üblicher Weise angezeigt
oder als Ist-Signal in einen Regelkreis zur
Optimierung des Auftrages des Materials der
Schicht eingesetzt und verwendet werden.
Der entscheidende Vorteil des erfindungsge
mäßen Verfahrens besteht im problemlosen Er
fassen und Regeln von Produktionsvorgängen,
die ein Beschichten von Trägermaterial zum
Gegenstand haben. Im vorerwähnten Spezial
fall der Pulverlackierung kann noch vor
dem Brennen die Pulverdicke auf den optima
len Wert eingestellt werden.
Nachfolgend werden konkrete Beispiele von
Sensoren angegeben, die sich zur Verwendung
beim erfindungsgemäßen Verfahren eignen. So
sind zur Messung der äußeren Schicht (erster
Sensor) in besonderer Weise geeignet ein ka
pazitiver Sensor oder ein Sensor, der Schall
wellen emittiert und die reflektierten Antei
le erfaßt und hieraus den Abstand ermittelt.
Nach diesen Prinzipien arbeitende Sensoren
sind allgemein bekannt, so daß es näherer Er
läuterungen ihrer Wirkungsweise nicht bedarf.
Auch eignen sich in besonderer Weise Senso
ren, die Lichtwellen emittieren, deren re
flektierter Anteil erfaßt und hieraus der Ab
stand nach dem Prinzip optischer Endmaße ge
nau ermittelt wird. Derartige Sensoren kön
nen zur Messung der äußeren Schicht und da
mit als erster Sensor und bei Verwendung von
transparentem Material für die Schicht auch
zur Erfassung des Abstandes der Oberfläche
des Trägermaterials und folglich als zweiter
Sensor Verwendung finden.
In der Praxis besteht das Trägermaterial
häufig aus Metall. Sofern die Schicht nicht
aus Metall aufgebaut ist - in diesem Fall könn
te der erste Sensor induktiv und/oder mag
netisch arbeiten - wird als zweiter Sensor
ein induktiver und/oder magnetischer Sensor
eingesetzt. Beim Lackieren, insbesondere Pul
verlackieren, beim Beschichten mit Kunst
stoff usw. besteht das Trägermaterial in
aller Regel aus Metall. Unter der Voraus
setzung, daß das Material der Schicht auf
den jeweiligen Sensor nicht anspricht, er
laubt das induktive oder magnetische Meß
verfahren ein präzises Ermitteln des Abstan
des des Trägermaterials mit Hilfe des (zwei
ten) Sensors.
Durch das berührungslose Arbeiten der Senso
ren empfiehlt sich das erfindungsgemäße Ver
fahren in besonderer Weise zur Ermittlung der
Dicken von Schichten aus Pulver, insbesonde
re Lackpulver, welches anschließend dem Ein
brennvorgang unterzogen wird, oder zur Er
mittlung der Dicke von Kunststoffschichten
oder auch zur Messung von Lackschichten im
nassen Zustand.
Der Regelfall ist, daß die aufgebrachte
Schicht mit dem Trägermaterial bleibend
verbunden ist. Die Anwendung des erfindungs
gemäßen Verfahrens ist hierauf allerdings
nicht beschränkt. So kann eine Bestimmung
der Dicke der Schicht auch dadurch erfolgen,
wenn sie nach Art einer Folie vorübergehend
am Trägermaterial aufliegt, in dem die Folie
über die Führungswalze geführt und im Augen
blick des Kontaktes gemessen wird. Um Fehl
messungen zu vermeiden, ist ein planes An
liegen der Folie unabdingbar.
Als besonders vorteilhafte Ausgestaltung
wird die Verwendung eines Dreipunktsensors
angesehen, durch den eine Abstandsmessung in
drei verschiedenen Punkten gleichzeitig vor
nehmbar wird. Ein Vergleich der jeweils er
haltenen Meßwerte zeigt an, ob und bejahen
denfalls in welchen Richtungen die Sensoren
gegen die durch die Oberflächen von Träger
material und/oder Sensoren gebildete Ebene
verkantet ist.
Ein Dreipunkt-Abstandsmeßsystem ist insbe
sondere dann von Vorteil, wenn die Sensoren
räumlich relativ zum Meßobjekt bewegbar
sind. Sie werden dann in einem definierten
Abstand zur beschichteten Oberfläche heran
geführt und führen dort ihre Messungen
durch. Die räumliche Verstellbarkeit er
laubt eine Anpassung an unterschiedlichste
Formen des Meßobjektes. Andererseits be
inhaltet sie die Gefahr zu Fehlmessungen durch
Verkanten relativ zur Oberfläche von Schicht
und Trägermaterial. Alternativ wäre denkbar,
die verkantete Lage beizubehalten und bei
der Ermittlung der Schichtdicke rechnerisch
zu berücksichtigen.
Die konkrete Durchführung der Ermittlung der
Schichtdicke wird im allgemeinen Fall da
durch erfolgen, daß der durch beide Sensoren
erfaßte Abstand stets gemessen und durch Dif
ferenzbildung erhalten wird. Allerdings ist
in Alternative hierzu möglich, bei räumlich
verstellbaren Sensoren durch Eingabe eines
bestimmten Abstandes, der durch einen Sen
sor ermittelt wird, alle Sensoren an das Meß
objekt bis zum voreingestellten Wert heran
zuführen. Der zweite Sensor ermittelt den
Abstand und folglich unmittelbar die Schicht
dicke. Die Messung erfolgt automatisch über
den einen nicht zur Erreichung des definier
ten Abstandes benötigten Sensors.
Weitere Einzelheiten, Merkmale und Vorteile
der Erfindung lassen sich dem nachfolgenden
Beschreibungsteil entnehmen, in dem anhand
der Zeichnung ein Ausführungsbeispiel der Er
findung näher erläutert ist. Sie zeigt in
schematisch gehaltener Darstellung eine zur
Durchführung des erfindungsgemäßen Verfah
rens geeignete Vorrichtung.
Bei dem Meßobjekt besteht das Trägermaterial
(1) aus einem Blech mit einer darauf angeord
neten Schicht (2), welches vor den beiden Sen
soren (3, 4) vorbeigeführt wird. Die Bewe
gungsrichtung ist durch den Pfeil (5) ange
geben.
In einem Gehäuse (6) sind nebeneinander der
erste Sensor (3) und sowie der zweite Sen
sor (4) untergebracht. Sie werden über eine
Leitung (7) versorgt, die gleichzeitig der
Weiterführung der Meßdaten an eine Auswerte
elektronik, eine Anzeige oder an einen Rech
ner dienen.
Die Änderung der räumlichen Positionierung
der Sensoren (3, 4) bzw. des beide umgeben
den Gehäuses (6) erfolgt über einen hier
nur ansatzweise gezeigten Arm (8).
Im Hinblick auf die Funktion erfaßt der
erste Sensor (3) den Abstand der Oberflä
che der Schicht (2), die diesem zugewandt
ist und der zweite Sensor (4) den ebenfalls
dem Sensor zugewandten Oberfläche des Trä
germaterials (1). Eine Differenzbildung
führt zum gewünschten Meßwert.
Claims (10)
1. Verfahren zur Messung der Dicke einer
Schicht auf einem Trägermaterial unter Ver
wendung von berührungslos arbeitenden Senso
ren, dadurch gekennzeich
net, daß ein erster Sensor (3) den Abstand
der dem Trägermaterial (1) gegenüberliegenden
Oberfläche der Schicht (2) mißt und ein wei
rerer (zweiter) Sensor (4) in gleicher Rich
tung den Abstand der der Schicht (2) zuge
wandten Oberfläche des Trägermaterials (1) er
faßt und durch Differenzbildung die Schicht
dicke ermittelt.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß der erste
Sensor (3) ein kapazitiver Sensor oder ein
Sensor ist, der Schallwellen emittiert, die
reflektierten Anteile erfaßt und hieraus den
Abstand ermittelt.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, da
durch gekennzeichnet, daß
bei einer Schicht (2) aus undurchsichtigem
Material der erste Sensor (3) oder bei einer
Schicht (2) aus transparentem Material der
zweite Sensor (4) Lichtwellen emittiert, den
reflektierten Anteil erfaßt und hieraus den
Abstand ermittelt.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß bei einer Schicht (2) aus Metall der erste
Sensor (3) und bei einem Trägermaterial (1)
aus Metall der zweite Sensor (4) ein indukti
ver und/oder magnetischer Sensor ist.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Trägermaterial (1) aus Metall besteht.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Schicht (2) aus Pulver, insbesondere
Lackpulver oder Kunststoff oder Lack in nassem
Zustand besteht.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Schicht (2) als Folie über eine Füh
rungswalze (=Trägermaterial (1)) geführt
und gemessen wird.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7,
gekennzeichnet durch
Dreipunktsensoren.
9. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Sensoren (3, 4) in demselben, in sei
ner räumlichen Position verstellbaren Gehäu
se (6) untergebracht sind.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 9,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Positionierung der Sensoren (3, 4)
durch Einstellung des Abstandes auf einen
vorgegebenen Wert erfolgt.
Priority Applications (2)
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ID=6401726
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