DE4017992A1 - Transistor mit strommessfunktion - Google Patents

Transistor mit strommessfunktion

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Shogo Mori
Tetsuo Tateishi
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Toyoda Jidoshokki Seisakusho KK
Toyoda Automatic Loom Works Ltd
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Description

Die Erfindung bezieht sich auf einen Transistor, der die Funktion zum Erfassen der Stromstärke eines Hauptstroms hat, und kann bei unterschiedlichen Arten von Transistoren ange­ wandt werden, wie an bipolaren Transistoren, Transistoren mit statischer bzw. Ladungsinduktion und Feldeffekttransi­ storen.
Es sind Mehrfachemittertransistoren bekannt, die jeweils eine gemeinsame Kollektorzone, eine gemeinsame Basiszone und eine Anzahl von Emitterzonen haben. Um mit einem solchen Mehrfachemittertransistor Strom zu messen, werden die mei­ sten der Emitterzonen als Emitter eines Transistor-Haupt­ teils für das Leiten eines Hauptstroms eingesetzt, während einige wenige restliche Emitterzonen als Emitter eines Meßteils des Transistors für die Strommessung verwendet werden. Grunglegend fließt über den Meßteil ein schwacher Strom bzw. Meßstrom, der zu dem über den Hauptteil des Transistors fließenden Hauptstrom proportional ist. Auf diese Weise kann durch das Messen der Stromstärke des schwa­ chen Stroms mit einer externen Strommeßschaltung die Strom­ stärke des Hauptstroms ermittelt werden.
In dem vorstehend beschriebenen herkömmlichen Transistor mit der Strommeßfunktion haben der Hauptteil und der Meßteil des Transistors eine gemeinsame Kollektorzone, eine gemeinsame Basiszone und gesonderte Emitterzonen. Daher ändert sich bei einer Änderung des Stroms und der Temperatur wegen der Auswirkung des Emitteranschlußwiderstands bei der Strommes­ sung die Basis-Emitter-Spannung sowohl des Hauptteils als auch des Meßteils des Transistors, wodurch sich das Verhält­ nis zwischen den in diese Transistorstrecken fließenden Basisströmen ändert. Hierdurch wird dementsprechend das Verhältnis zwischen dem Hauptstrom und dem Meßstrom verän­ dert, was es schwierig macht, auf genaue Weise von der Stromstärke des Meßstroms ausgehend die Stromstärke des Hauptstroms zu ermitteln. Daher kann der Strom nicht mit hoher Genauigkeit gemessen werden.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Transistor mit Strommeßfunktion zu schaffen, der eine Strommessung mit hoher Genauigkeit ohne Beeinträchtigung durch Strom- oder Temperaturänderungen ermöglicht.
Die Aufgabe wird erfindungsgemäß mit den im kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs 1 aufgeführten Mitteln gelöst.
Bei einer vorteilhaften Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Transistors sind ferner gemäß Patentanspruch 3 Stromteiler­ widerstände vorgesehen, die einen gemeinsamen Basisstrom in einem konstanten Verhältnis aufteilen und die Teilströme den jeweiligen Basiszonen des Hauptteils bzw des Meßteils des Transistors zuführen. Die Stromteilerwiderstände können nicht nur Polysilicium-Widerstände oder eindiffundierte Widerstände sein, die mit dem Transistor integriert ausge­ bildet sind, sondern auch gesonderte Widerstandskomponenten außerhalb des Transistors.
Die erfindungsgemäße Gestaltung kann nicht nur an einem bipolarem Transistor, sondern auch an einem Transistor mit statischer bzw. Ladungsinduktion oder einem Feldeffekttran­ sistor angewandt werden. Daher sind die Ausdrücke "Emitter", "Basis" und "Kollektor" hier im breiten Sinne angewandt, so daß sie jeweils auch die Bedeutung "Source", "Gate" und "Drain" haben.
Gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel haben der Hauptteil und der Meßteil des erfindungsgemäßen Transistors jeweils einzelne gesonderte Basiszonen, denen jeweils aus einer externen Ansteuerungsschaltung bzw. Treiberschaltung Basis­ ströme zugeführt werden. Durch Konstanthalten des Verhält­ nisses der Basisströme wird das Verhältnis der Emitterströme auch dann immer konstant gehalten, wenn sich die Stromstärke oder die Temperatur ändert. Auf diese Weise wird der für die Messung herangezogene Strom immer zu dem Hauptstrom propor­ tional gehalten. Dadurch wird es möglich, eine genaue Strom­ messung zu erreichen, die nicht durch Änderungen des Stroms und/oder der Temperatur beeinträchtigt ist.
Bei einem zweiten Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen Transistors wird ein den beiden Transistorteilen bzw. Tran­ sistorstrecken aus einer externen Treiberschaltung zugeführ­ ter gemeinsamer Basisstrom durch die Stromteilerwiderstände in einen Hauptbasisstrom und einen Meßbasisstrom geteilt, wobei der Hauptbasisstrom in den Hauptteil des Transistors und der Meßbasisstrom in den Meßteil des Transistors gelei­ tet werden. Da in diesem Fall das Werteverhältnis zwischen den Stromteilerwiderständen immer konstant ist, ist auch immer das Stromstärkeverhältnis zwischen dem Hauptbasisstrom und dem Meßbasisstrom konstant. Daher muß aus der externen Treiberschaltung nicht jeweils ein Basisstrom der Hauptbasis und der Meßbasis zugeführt werden, sondern nur einer schein­ bar einzigen Basis ein gemeinsamer Basisstrom. Infolgedessen kann die Treiberschaltung einfacher gestaltet sein. Darüber­ hinaus sind trotz der scheinbar einzigen Basis die Basiszo­ nen und die Emitterzonen praktisch unabhängig voneinander ausgebildet. Daher ist das Funktionsprinzip das gleiche wie bei dem ersten Ausführungsbeispiel, so daß unabhängig von Änderungen des Stroms und der Temperatur eine Strommessung mit hoher Genauigkeit ermöglicht ist.
Die Erfindung wird nachstehend anhand von Ausführungsbei­ spielen unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher erläutert.
Fig. 1 ist eine Schnittansicht eines bipola­ ren Transistors mit Strommeßfunktion gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel.
Fig. 2 zeigt ein Schaltungssymbol des Transi­ stors mit dem Aufbau nach Fig. 1.
Fig. 3 ist eine Blockschaltung einer Über­ stromschutzschaltung mit dem Transistor nach Fig. 1.
Fig. 4 ist eine Schnittansicht eines bipola­ ren Transistors mit Strommeßfunktion gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel.
Fig. 5 zeigt ein Schaltungssymbol des Transi­ stors mit dem Aufbau nach Fig. 4.
Fig. 6 ist ein Blockschaltbild einer Über­ stromschutzschaltung mit dem Transistor nach Fig. 4.
Fig. 7 ist eine Schnittansicht eines bipola­ ren Transistors mit Strommeßfunktion gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel.
Gemäß Fig. 1 hat ein bipolarer Transistor mit Strommeßfunk­ tion gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel zwei p-diffun­ dierte Zonen 2 und 3, die Basiszonen bilden, welche in Abstand voneinander in einem Oberflächenabschnitt eines n-Halbleitersubstrats 1 ausgebildet sind, das eine gemeinsame Kollektorzone bildet. In diese p-Diffusionszonen 2 und 3 sind jeweils n⁺-Zonen 4 und 5 eindiffundiert, die Emitterzo­ nen bilden.
Die Oberfläche dieser Halbleiterzonen ist mit einer Oxid­ schicht 6 wie einer Siliciumdioxid-Schicht (SiO2) überzogen, während durch in der Oxidschicht 6 geformte Öffnungen hin­ durch auf die p-Diffusionszonen 2 und 3 und die n⁺- Diffusionszonen 4 und 5 ein Metall wie Aluminium aufgebracht ist, um Elektroden 7a, 7b, 7c bzw. 7d zu bilden. Außerdem ist auf der Unterseite des n-Substrats 1 eine Elektrode 8 angebracht.
Durch den vorstehend beschriebenen Aufbau sind eine Haupt- npn-Transistorstrecke bzw. ein Hauptteil TM des npn- Transistors mit einer Kollektorzone, einer Basiszone und einer Emitterzone, die jeweils durch das n-Substrat 1, die p-Diffusionszone 2 bzw. die n⁺-Diffusionszone 4 gebil­ det sind, und eine Meß-npn-Transistorstrecke bzw. ein Meß­ teil TS des npn-Transistors mit einer Kollektorzone, einer Basiszone und einer Emitterzone geschaffen, die jeweils durch das n-Substrat 1, die p-Diffusionszone 3 bzw. die n⁺- Diffusionszone 5 gebildet sind. D.h., der Hauptteil TM und der Meßteil TS des Transistors haben eine gemeinsame Kollek­ torzone, gesonderte Basiszonen und gesonderte Emitterzonen.
Gemäß Fig. 2 haben die beiden Transistorteile TM und TS einen gemeinsamen Kollektor C, während für die Transistor­ teile die Emitter gesondert als ein Emitter EM (Hauptemit­ ter) für den Hauptteil TM und ein Emitter ES (Meßemitter) für den Meßteil TS ausgebildet sind. Ferner sind die Basen gesondert als eine Basis BM (Hauptbasis) für den Hauptteil TM und eine Basis BS (Meßbasis) für den Meßteil TS des Transistors ausgebildet.
In dem Transistor mit dem vorstehend beschriebenen Aufbau fließt in den gemeinsamen Kollektor C ein Kollektorgesamt­ strom IC, während aus dem Hauptemitter EM ein Emitterstrom bzw. Hauptemitterstrom IEM abfließt, der einem in die Haupt­ basis BM fließenden Basisstrom bzw. Hauptbasisstrom IBM entspricht, und aus dem Meßemitter ES ein schwacher Emitter­ strom bzw. Meßemitterstrom IES abfließt, der einem in die Meßbasis BS fließenden Basisstrom bzw. Meßbasisstrom IBS entspricht. Falls in diesem Fall das Verhältnis zwischen den Basisströmen IBM und IBS konstant ist, ist das Verhältnis zwischen den Emitterströmen IEM und IES und daher auch das Verhältnis zwischen dem Meßemitterstrom IES und dem Kollek­ torstrom IC konstant.
Da bei diesem Ausführungsbeispiel die beiden Basen BM und BS unabhängig voneinander gesondert ausgebildet sind, leitet eine externe Schaltung gesonderte Basisströme in die Basen.
Wenn der Kollektorstrom IC gemessen werden soll, der einen Hauptstrom darstellt, wird mittels einer externen Strommeß­ schaltung die Stromstärke des Meßemitterstroms IES erfaßt, wobei das Verhältnis zwischen dem Hauptbasisstrom IBM und dem Meßbasisstrom IBS aus der externen Schaltung konstant gehalten wird. Auf diese Weise kann dann die Stromstärke des Kollektorstroms IC ermittelt werden, da die Stromstärke des Meßemitterstroms IES zu derjenigen des Kollektorstroms IC proportional ist.
Bei dem vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispiel führt die externe Schaltung den getrennten Basen BM und BS die Basisströme IBM und IBS mit einem konstanten Verhältnis zu, so daß gemäß der vorstehenden Beschreibung das Verhältnis zwischen den Basisströmen IBM und IBS selbst dann konstant gehalten werden kann, wenn sich der Strom und/oder die Temperatur ändert. Da infolgedessen das Verhältnis zwischen dem Hauptstrom, nämlich dem annähernd dem Hauptemitterstrom IEM entsprechenden Kollektorstrom IC und dem Meßstrom, nämlich dem Meßemitterstrom IES immer ohne Beeinträchtigung durch Strom- oder Temperaturänderungen konstant gehalten werden kann, kann aus dem Meßwert des Meßemitterstroms IES immer genau die Stromstärke des Kollektorstroms IC ermittelt werden.
Als nächstes wird anhand der Fig. 3 ein Beispiel für eine Überstromschutzschaltung beschrieben, in der der Transistor mit der Strommeßfunktion gemäß dem ersten Ausführungsbei­ spiel eingesetzt ist und die den Transistor selbst gegen einen Überstrom schützt.
Gemäß Fig. 3 ist ein Transistor T mit Strommeßfunktion an seinem Kollektor C über eine Last 11 mit dem positiven Anschluß einer Gleichstromquelle 12 verbunden, an seinem Hauptemitter EM über einen gemeinsamen Anschluß 13 mit dem negativen Anschluß der Gleichstromquelle 12 verbunden und an seinem Meßemitter ES über einen für die Strommessung einge­ setzten Widerstand RS mit dem gemeinsamen Anschluß 13 ver­ bunden. Ferner sind eine Hauptbasis BM und eine Meßbasis BS an eine Ansteuerungs- bzw. Treiberschaltung 14 angeschlos­ sen, aus der sie mit Basisströmen IBM bzw. IBS mit einem konstanten Verhältnis gespeist werden.
Die an dem an den Meßemitter ES angeschlossenen Strommeßwider­ stand RS abfallende Spannung ist an einen Gleichspannungs­ verstärker 15 angelegt, dessen Ausgangsspannung zusammen mit einer Bezugsspannung VREF aus einer Bezugsspannungsquelle 16 an eine Entscheidungs- und Steuerschaltung 17 angelegt ist.
Die von dem Entscheidungsergebnis abhängige Ausgangsspannung der Steuerschaltung 17 ist als Steuersignal an einen Steuer­ eingang s der Treiberschaltung 14 angelegt.
Die spezielle Funktionsweise der Überstromschutzschaltung ist folgende: Zuerst führt dann, wenn an einen Eingang d der Treiberschal­ tung 14 ein Ansteuerungssignal angelegt wird, die Treiber­ schaltung 14 den Basen BM und BS des Transistors T Basis­ ströme IBM und IBS mit einem konstanten Verhältnis zwischen diesen zu. Infolgedessen wird der Transistor T leitend, so daß über die Last 11 ein Kollektorstrom IC fließt, welcher der Hauptstrom ist. Dabei fließt über den Strommeßwiderstand RS ein schwacher Meßemitterstrom IES, so daß an dem Wider­ stand RS eine Spannung entsteht, die genau zu dem Kollektor­ strom IC proportional ist. Die Spannung wird durch den Gleichspannungsverstärker 15 mit einem konstanten Verstär­ kungsfaktor verstärkt.
Die Ausgangsspannung des Gleichspannungsverstärkers 15 liegt an der Entscheidungs- und Steuerschaltung 17 an, in der sie mit der Bezugsspannung VREF verglichen wird. Falls aus irgendeinem Grund die Last 11 kurzgeschlossen ist, so daß der Kollektorstrom IC übermäßig hoch wird und die Ausgangs­ spannung des Gleichspannungsverstärkers 15 höher als die Bezugsspannung VREF wird, verringert die Steuerschaltung 17 die dem Transistor T zugeführten Basisströme IBM und IBS. Durch diese Gegenkopplung sind die Last 11 und die Gleich­ stromquelle 12 gegen übermäßig hohen Strom geschützt.
In den Fig. 1 ist 3 ist zwar ein bipolarer npn-Transistor dargestellt, jedoch kann natürlich der Transistor statt dessen ein pnp-Transistor sein. Auch in diesem Fall ergeben sich die gleichen Wirkungen.
Die Fig. 4 ist eine Schnittansicht eines bipolaren Transi­ stors mit Strommeßfunktion gemäß einem zweiten Ausführungs­ beispiel, während die Fig. 5 ein Schaltungssymbol dieses Transistors zeigt.
Bei dem zweiten Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 4 sind in vorbestimmten Lagen auf der Oxidschicht 6 des Transistors gemäß dem in Fig. 1 gezeigten ersten Ausführungsbeispiel zwei Basisstrom-Teilerwiderstände RBM und RBS aus Polysili­ cium gebildet. Ferner sind eine Elektrode 7a, die sich von dem p-Diffusionsbereich 2 zu dem Widerstand RBM erstreckt, eine Elektrode 7b, die sich von dem p-Diffusionsbereich 3 zu dem Widerstand RBS erstreckt, und eine Elektrode 7e gebil­ det, die sich von dem Widerstand RBM zu dem Widerstand RBS erstreckt.
Aus dem vorstehenden ist ersichtlich, daß zusätzlich zu dem Aufbau des Transistors gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel der Transistor gemäß dem zweiten Ausführungsbeispiel einen derartigen Aufbau hat, daß die Basiszonen, nämlich die p- Diffusionszonen 2 und 3 des Hauptteils TM bzw. des Meßteils TS des Transistors jeweils mit den Enden der Basisstromtei­ ler-Widerstände RBM und RBS verbunden sind, deren andere Enden mit der gemeinsamen Basiselektrode 7e verbunden sind.
Gemäß der Darstellung in Fig. 5 als Schaltungssymbol haben bei diesem Aufbau die beiden Transistorstrecken bzw. Transi­ storteile TM bzw. TS den gemeinsamen Kollektor C, während die Emitter gesondert als ein Emitter EM (Hauptemitter) für den Hauptteil TM und als Emitter ES (Meßemitter) für den Meßteil TS des Transistors ausgebildet sind und die Basen jeweils mit einem Ende der beiden sich von den getrennten Basiszonen weg erstreckenden Widerstände RBM und RBS verbun­ den sind, so daß eine scheinbar einzige Basis B gebildet ist.
Die Widerstandswerte der Basisstromteiler-Widerstände RBM und RBS werden derart angesetzt, daß RBM « RBS gilt, wäh­ rend jeweilige innere Basis-Emitter-Widerstände RBE und RBE, der Transistorstrecken TM und TS derart gewählt werden, daß RBE « RBM und RBE, « RBS gilt. Die Widerstandswerte der Widerstände RBM und RBS sowie das Verhältnis zwischen diesen können auf geeignete Weise durch Festlegen der Dimensionie­ rung der Widerstände, nämlich der Breite, der Länge, der Dicke und der Form bestimmt werden. Alternativ kann im voraus eine große Anzahl von Grund-Widerständen gleicher Größe geformt werden und diese Widerstände können dann in Reihe oder parallel geschaltet werden, um Widerstände RBM und RBS mit den gewünschten Widerstandswerten und dem ge­ wünschten Verhältnis zu erhalten.
In dem Transistor mit dem vorstehend beschriebenen Aufbau wird ein aus einer externen Treiberschaltung in die Basis B geleiteter Basisstrom IB durch die Widerstände RBM und RBS in Ströme IBM und IBS (IBM » IBS) geteilt, von denen der Strom IBM als Hauptbasisstrom zu der Basiszone des Haupt­ teils TM des Transistors fließt und der Strom IBS als Meßba­ sisstrom zu der Basiszone des Meßteils TS des Transistors fließt. Andererseits fließt in den gemeinsamen Kollektor C ein Gesamt-Kollektorstrom IC, während an dem Hauptemitter EM ein dem Hauptbasisstrom IBM entsprechender Emitterstrom bzw. Hauptemitterstrom IEM abfließt und an dem Meßemitter ES ein dem Meßbasisstrom IBS entsprechender schwacher Emitterstrom bzw. Meßemitterstrom IES abfließt.
Das die beiden Widerstände RBM und RBS bildende Polysilicium hat einen bestimmten Temperaturkoeffizienten. Da jedoch die Widerstände RBM und RBS aus dem gleichen Polysilicium geformt sind, ist das Verhältnis zwischen ihren Widerstands­ werten unabhängig von Temperaturschwankungen immer konstant.
Da infolgedessen das Verhältnis zwischen Widerstandswerten der Widerstände RBM und RBS konstant ist, ist auch immer das Verhältnis zwischen den Stromstärken des Hauptbasisstroms IBM und des Meßbasisstroms IBS konstant. Daher ist dann, wenn der aus der externen Treiberschaltung der scheinbar einzigen Basis B zugeführte gemeinsame Basisstrom IB kon­ stant ist, die Stromstärke eines jeden der Basisströme IBM und IBS immer konstant.
Es ist daher nicht erforderlich, daß die externe Treiber­ schaltung wie bei dem ersten Ausführungsbeispiel die Haupt­ basis BM und die Meßbasis BS mit ihren jeweiligen Basisströ­ men IBM und IBS mit konstantem Verhältnis zwischen den Strömen speist. Die externe Treiberschaltung muß lediglich der scheinbar einzigen Basis B den gemeinsamen Basisstrom IB zuführen, um dem Hauptteil und dem Meßteil die Basisströme IBM und IBS mit einem konstanten Verhältnis zuzuführen. Die externe Treiberschaltung kann daher hinsichtlich der Schal­ tungsanordnung vereinfacht sein. Wenn beispielsweise gemäß der Darstellung in Fig. 6 eine Überstromschutzschaltung mit dem Transistor gemäß diesem zweiten Ausführungsbeispiel aufgebaut wird, muß die Treiberschaltung 14 für die Ansteue­ rung des Transistors lediglich den gemeinsamen Basisstrom IB steuern, der der scheinbar einzigen Basis B des Transistors T zugeführt wird.
Ferner ist das Funktionsprinzip des Transistors gemäß dem zweiten Ausführungsbeispiel das gleiche wie dasjenige des Transistors gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel, da trotz der scheinbar einzigen Basis B die Basiszonen, nämlich die p-Diffusionszonen 2 und 3, und die Emitterzonen, nämlich die n⁺-Diffusionszonen 4 und 5 jeweils unabhängig voneinander gestaltet sind. Auf diese Weise ist unabhängig von Änderun­ gen des Stroms und/oder der Temperatur eine hochgenaue Strommessung ermöglicht. D.h., solange das Verhältnis zwi­ schen den Stromteilerwiderständen RBM und RBS konstant gehalten ist, kann das Verhältnis zwischen dem (ungefähr dem Hauptemitterstrom IEM entsprechenden) Kollektorstrom IC, der den Hauptstrom darstellt, und dem Meßemitterstrom IES, der der Meßstrom ist, ständig konstant gehalten werden. Auf diese Weise kann aus dem Meßwert des Meßemitterstroms IES immer mit hoher Genauigkeit die Stromstärke des Kollektor­ stroms IC ermittelt werden.
Die Fig. 7 ist eine Schnittansicht eines bipolaren Transi­ stors mit Strommeßfunktion gemäß einem dritten Ausführungs­ beispiel.
Bei diesem dritten Ausführungsbeispiel ist der Leitfähig­ keitstyp einer jeden Halbleiterzone zu demjenigen der entsprechenden Zone bei dem ersten und zweiten Ausführungs­ beispiel entgegengesetzt, so daß ein pnp-Transistor gebildet ist, und Stromteilerwiderstände RBM und RBS sind als eindif­ fundierte Widerstände ausgebildet.
Gemäß Fig. 7 sind an einem Oberflächenabschnitt eines p-Halbleitersubstrats 21, das eine gemeinsame Kollektorzone bildet, in gegenseitigem Abstand zwei n-Diffusionszonen 22 und 23 als Basiszonen gebildet, in denen jeweils p⁺- Diffusionszonen 24 und 25 als Emitterzonen gebildet sind. Außerdem sind an einer vorbestimmten Stelle des Oberflächen­ abschnitts des p-Substrats 21 zwei Diffusionszonen als Basisstromteiler-Widerstände RBM und RBS gebildet. Die Widerstandswerte der Widerstände RBM und RBS sowie das Verhältnis zwischen diesen Widerstandswerten können gleicher­ maßen wie bei den Polysiliciumwiderständen bei dem zweiten Ausführungsbeispiel festgelegt werden. Die ganze Oberfläche des Halbleitersubstrats ist mit einer Oxidschicht 26 überzo­ gen. Durch in der Oxidschicht 26 geformte Öffnungen hindurch sind eine Elektrode 27a auf der n-Diffusionszone 22 und dem Widerstand RBM, eine Elektrode 27b auf der n-Diffusionszone 23 und dem Widerstand RBS, eine Elektrode 27c auf der p⁺- Diffusionszone 24, eine Elektrode 27d auf der p⁺-Diffu­ sionszone 25 und eine Elektrode 27e auf der Verbindungstelle zwischen den Widerständen RBM und RBS gebildet. Ferner ist auf der ganzen unteren Fläche des Substrat 21 eine Elektrode 28 gebildet.
Der vorstehend beschriebene Aufbau ergibt eine Hauptstrecke bzw. einen Hauptteil TM eines pnp-Transistors mit einer Kollektorzone, einer Basiszone und einer Emitterzone, die jeweils durch das p-Substrat 21, die n-Diffusionszone 22 und die p⁺-Diffusionszone 24 gebildet sind, und eine Meßstrecke bzw. einen Meßteil TS des pnp-Transistors mit einer Kollek­ torzone, einer Basiszone und einer Emitterzone, die jeweils durch das p-Substrat 21, die n-Diffusionszone 23 und die p⁺-Diffusionszone 25 gebildet sind. Wie bei dem ersten und zweiten Ausführungsbeispiel haben die beiden Transistor­ strecken bzw. Transistorteile TM und TS eine gemeinsame Kollektorzone, gesonderte Basiszonen und gesonderte Emitter­ zonen. Die Transistorstrecken TS und TM sind an ihren jewei­ ligen Basiszonen, nämlich an den n-Diffusionszonen 22 und 23 mit jeweils einem Ende der Widerstände RBM und RBS verbun­ den, deren andere Enden mit der gemeinsamen Basiselektrode 27e verbunden sind.
Das Schaltungssymbol des Transistors gemäß dem vorstehend beschriebenen dritten Ausführungsbeispiel ist das gleiche wie das in Fig. 5 gezeigte mit der Ausnahme, daß die jewei­ ligen Stromflußrichtungen entgegengesetzt sind. Daher ermög­ licht der Transistor gemäß diesem dritten Ausführungsbei­ spiel wie bei dem zweiten Ausführungsbeispiel eine von Strom- oder Temperaturänderungen unabhängige genaue Strom­ messung, wobei darüberhinaus die Treiberschaltung für das Zuführen eines Basisstroms einfach aufgebaut sein kann.
Bei dem Formen der Widerstände durch das Eindiffundieren von Fremdatomen in Halbleiterzonen müssen die Leitfähigkeitsty­ pen berücksichtigt werden, damit die Transistoreigenschaften nicht durch sich ergebende parasitäre Elemente beeinträch­ tigt werden.
Bei dem zweiten und dritten Ausführungsbeispiel werden die Basisstromteiler-Widerstände RBM und RBS innerhalb der Vorrichtung geformt. Diese Widerstände können natürlich außerhalb der Vorrichtung gebildet werden. Es ist jedoch vorzuziehen, die beiden Widerstände in der Vorrichtung auszubilden. In diesem Fall können die Widerstände im glei­ chen Herstellungsschritt unter Verwendung des gleichen Materials gebildet werden, so daß es leicht ist, Widerstände mit gleichen Temperaturkoeffizienten zu erhalten. Infolge­ dessen kann das sich durch die Stromteilung durch die Wider­ stände ergebende Stromstärkeverhältnis zwischen den Basis­ strömen IBM und IBS genauer konstant gehalten werden. Hin­ sichtlich der Art und Weise des Herstellens der Widerstände in der Vorrichtung besteht keinerlei Einschränkung auf die im Zusammenhang mit den Ausführungsbeispielen beschriebenen.
Vielmehr können die Widerstände auf irgendeine beliebige Weise hergestellt werden, soweit damit das Verhältnis zwi­ schen den beiden Widerstandswerten konstant gehalten werden kann und die Transistoreigenschaften nicht beeinträchtigt werden.
Die beschriebene Gestaltung kann außer bei einem bipolaren Transistor auch bei verschiedenen Arten von Transistoren wie Transistoren mit statischer bzw. Ladungsinduktion und Feld­ effekttransistoren angewandt werden.
Bei dem ersten Ausführungsbeispiel sind der Hauptteil bzw. die Hauptstrecke und der Meßteil bzw. die Meßstrecke des Transistors mit jeweils gesonderten Basiszonen versehen. Auf diese Weise ist es durch das Zuführen eines Basisstroms zu der jeweiligen Basiszone aus einer externen Treiberschaltung möglich, eine genaue Strommessungsfunktion ohne Beeinträch­ tigung durch Schwankungen hinsichtlich des Stroms und/oder der Temperatur zu erreichen.
Bei dem zweiten Ausführungsbeispiel ist es nicht erforder­ lich, wie bei dem ersten Ausführungsbeispiel jeder der beiden Basen, nämlich der Hauptbasis und der Meßbasis einen Basisstrom zuzuführen, so daß daher nur einer scheinbar einzigen Basis ein gemeinsamer Basisstrom zugeführt werden muß. Eine Treiberschaltung für das Zuführen des Basisstroms kann daher einfach aufgebaut sein. Ferner bilden zwar die Basiszonen scheinbar eine einzige Basis, jedoch wird durch die Basisstromteiler-Widerstände der gemeinsame Basisstrom praktisch in einen Hauptbasisstrom und einen Meßbasisstrom in einem konstanten Verhältnis aufgeteilt, die den jeweili­ gen Basiszonen zugeleitet werden. Daher ist das Funktions­ prinzip das gleiche wie bei dem ersten Ausführungsbeispiel, so daß eine von Strom- oder Temperaturschwankungen unabhän­ gige hochgenaue Strommessung ermöglicht ist.
Ein Transistor mit Strommeßfunktion weist einen Hauptteil für das Führen eines Hauptstroms und einen Meßteil für das Messen der Stromstärke des Hauptstroms auf. Der Hauptteil und der Meßteil haben eine gemeinsame Kollektorzone, jeweils einzelne getrennte Basiszonen und jeweils einzelne getrennte Emitterzonen. Dies ermöglicht es, aus einer externen Trei­ berschaltung einer jeweiligen Basiszone einen Basisstrom zuzuführen. Infolgedessen kann ohne Beeinträchtigung durch Schwankungen hinsichtlich des Stroms und der Temperatur eine hochgenaue Strommessung ausgeführt werden. Ferner können durch das Anschließen von Stromteiler-Widerständen an die jeweiligen Basiszonen des Hauptteils und des Meßteils zum Aufteilen eines gemeinsamen Basisstroms unter einem konstan­ ten Verhältnis die Basiszonen als eine scheinbar einzige Basis betrachtet werden. Auf diese Weise wird die Ansteue­ rung der Basis erleichtert.

Claims (6)

1. Transistor mit Strommeßfunktion, mit einem Hauptteil für das Führen eines Hauptstroms und einem Meßteil für das Erfassen eines über den Hauptteil fließenden Stroms, dadurch gekennzeichnet, daß der Hauptteil (TM) und der Meßteil (TS) eine gemeinsame Kollektorzone (1; 21), jeweils einzelne gesonderte Basiszonen (2, 3; 22, 23) und jeweils gesonderte einzelne Emitterzonen (4, 5; 24, 25) haben.
2. Transistor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in die gesonderten Basiszonen (2, 3; 22, 23) des Hauptteils (TM) und des Meßteils (TS) des Transistors jeweils Basis­ ströme (IBM, IBS) unter einem konstanten Stromstärkenver­ hältnis zugeführt sind.
3. Transistor nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch Strom­ teilerwiderstände (RBM, RBS) zum Aufteilen eines gemeinsamen Basisstroms (IB) unter einem konstanten Verhältnis und zum Zuführen der aufgeteilten Basisströme (IBM, IBS) zu den Basiszonen (2, 3; 22, 23) des Hauptteils (TM) und des Meß­ teils (TS) des Transistors.
4. Transistor nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Stromteilerwiderstände (RBM, RBS) mit dem Transistor integriert ausgebildet sind.
5. Transistor nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Stromteilerwiderstände (RBM, RBS) Widerstände aus Poly­ silicium sind.
6. Transistor nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Stromteilerwiderstände (RBM, RBS) eindiffundierte Wider­ stände sind.
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