DE4017992A1 - Transistor mit strommessfunktion - Google Patents
Transistor mit strommessfunktionInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf einen Transistor, der die
Funktion zum Erfassen der Stromstärke eines Hauptstroms hat,
und kann bei unterschiedlichen Arten von Transistoren ange
wandt werden, wie an bipolaren Transistoren, Transistoren
mit statischer bzw. Ladungsinduktion und Feldeffekttransi
storen.
Es sind Mehrfachemittertransistoren bekannt, die jeweils
eine gemeinsame Kollektorzone, eine gemeinsame Basiszone und
eine Anzahl von Emitterzonen haben. Um mit einem solchen
Mehrfachemittertransistor Strom zu messen, werden die mei
sten der Emitterzonen als Emitter eines Transistor-Haupt
teils für das Leiten eines Hauptstroms eingesetzt, während
einige wenige restliche Emitterzonen als Emitter eines
Meßteils des Transistors für die Strommessung verwendet
werden. Grunglegend fließt über den Meßteil ein schwacher
Strom bzw. Meßstrom, der zu dem über den Hauptteil des
Transistors fließenden Hauptstrom proportional ist. Auf
diese Weise kann durch das Messen der Stromstärke des schwa
chen Stroms mit einer externen Strommeßschaltung die Strom
stärke des Hauptstroms ermittelt werden.
In dem vorstehend beschriebenen herkömmlichen Transistor mit
der Strommeßfunktion haben der Hauptteil und der Meßteil des
Transistors eine gemeinsame Kollektorzone, eine gemeinsame
Basiszone und gesonderte Emitterzonen. Daher ändert sich bei
einer Änderung des Stroms und der Temperatur wegen der
Auswirkung des Emitteranschlußwiderstands bei der Strommes
sung die Basis-Emitter-Spannung sowohl des Hauptteils als
auch des Meßteils des Transistors, wodurch sich das Verhält
nis zwischen den in diese Transistorstrecken fließenden
Basisströmen ändert. Hierdurch wird dementsprechend das
Verhältnis zwischen dem Hauptstrom und dem Meßstrom verän
dert, was es schwierig macht, auf genaue Weise von der
Stromstärke des Meßstroms ausgehend die Stromstärke des
Hauptstroms zu ermitteln. Daher kann der Strom nicht mit
hoher Genauigkeit gemessen werden.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Transistor
mit Strommeßfunktion zu schaffen, der eine Strommessung mit
hoher Genauigkeit ohne Beeinträchtigung durch Strom- oder
Temperaturänderungen ermöglicht.
Die Aufgabe wird erfindungsgemäß mit den im kennzeichnenden
Teil des Patentanspruchs 1 aufgeführten Mitteln gelöst.
Bei einer vorteilhaften Ausgestaltung des erfindungsgemäßen
Transistors sind ferner gemäß Patentanspruch 3 Stromteiler
widerstände vorgesehen, die einen gemeinsamen Basisstrom in
einem konstanten Verhältnis aufteilen und die Teilströme den
jeweiligen Basiszonen des Hauptteils bzw des Meßteils des
Transistors zuführen. Die Stromteilerwiderstände können
nicht nur Polysilicium-Widerstände oder eindiffundierte
Widerstände sein, die mit dem Transistor integriert ausge
bildet sind, sondern auch gesonderte Widerstandskomponenten
außerhalb des Transistors.
Die erfindungsgemäße Gestaltung kann nicht nur an einem
bipolarem Transistor, sondern auch an einem Transistor mit
statischer bzw. Ladungsinduktion oder einem Feldeffekttran
sistor angewandt werden. Daher sind die Ausdrücke "Emitter",
"Basis" und "Kollektor" hier im breiten Sinne angewandt, so
daß sie jeweils auch die Bedeutung "Source", "Gate" und
"Drain" haben.
Gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel haben der Hauptteil
und der Meßteil des erfindungsgemäßen Transistors jeweils
einzelne gesonderte Basiszonen, denen jeweils aus einer
externen Ansteuerungsschaltung bzw. Treiberschaltung Basis
ströme zugeführt werden. Durch Konstanthalten des Verhält
nisses der Basisströme wird das Verhältnis der Emitterströme
auch dann immer konstant gehalten, wenn sich die Stromstärke
oder die Temperatur ändert. Auf diese Weise wird der für die
Messung herangezogene Strom immer zu dem Hauptstrom propor
tional gehalten. Dadurch wird es möglich, eine genaue Strom
messung zu erreichen, die nicht durch Änderungen des Stroms
und/oder der Temperatur beeinträchtigt ist.
Bei einem zweiten Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen
Transistors wird ein den beiden Transistorteilen bzw. Tran
sistorstrecken aus einer externen Treiberschaltung zugeführ
ter gemeinsamer Basisstrom durch die Stromteilerwiderstände
in einen Hauptbasisstrom und einen Meßbasisstrom geteilt,
wobei der Hauptbasisstrom in den Hauptteil des Transistors
und der Meßbasisstrom in den Meßteil des Transistors gelei
tet werden. Da in diesem Fall das Werteverhältnis zwischen
den Stromteilerwiderständen immer konstant ist, ist auch
immer das Stromstärkeverhältnis zwischen dem Hauptbasisstrom
und dem Meßbasisstrom konstant. Daher muß aus der externen
Treiberschaltung nicht jeweils ein Basisstrom der Hauptbasis
und der Meßbasis zugeführt werden, sondern nur einer schein
bar einzigen Basis ein gemeinsamer Basisstrom. Infolgedessen
kann die Treiberschaltung einfacher gestaltet sein. Darüber
hinaus sind trotz der scheinbar einzigen Basis die Basiszo
nen und die Emitterzonen praktisch unabhängig voneinander
ausgebildet. Daher ist das Funktionsprinzip das gleiche wie
bei dem ersten Ausführungsbeispiel, so daß unabhängig von
Änderungen des Stroms und der Temperatur eine Strommessung
mit hoher Genauigkeit ermöglicht ist.
Die Erfindung wird nachstehend anhand von Ausführungsbei
spielen unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher erläutert.
Fig. 1 ist eine Schnittansicht eines bipola
ren Transistors mit Strommeßfunktion gemäß einem ersten
Ausführungsbeispiel.
Fig. 2 zeigt ein Schaltungssymbol des Transi
stors mit dem Aufbau nach Fig. 1.
Fig. 3 ist eine Blockschaltung einer Über
stromschutzschaltung mit dem Transistor nach Fig. 1.
Fig. 4 ist eine Schnittansicht eines bipola
ren Transistors mit Strommeßfunktion gemäß einem zweiten
Ausführungsbeispiel.
Fig. 5 zeigt ein Schaltungssymbol des Transi
stors mit dem Aufbau nach Fig. 4.
Fig. 6 ist ein Blockschaltbild einer Über
stromschutzschaltung mit dem Transistor nach Fig. 4.
Fig. 7 ist eine Schnittansicht eines bipola
ren Transistors mit Strommeßfunktion gemäß einem dritten
Ausführungsbeispiel.
Gemäß Fig. 1 hat ein bipolarer Transistor mit Strommeßfunk
tion gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel zwei p-diffun
dierte Zonen 2 und 3, die Basiszonen bilden, welche in
Abstand voneinander in einem Oberflächenabschnitt eines
n-Halbleitersubstrats 1 ausgebildet sind, das eine gemeinsame
Kollektorzone bildet. In diese p-Diffusionszonen 2 und 3
sind jeweils n⁺-Zonen 4 und 5 eindiffundiert, die Emitterzo
nen bilden.
Die Oberfläche dieser Halbleiterzonen ist mit einer Oxid
schicht 6 wie einer Siliciumdioxid-Schicht (SiO2) überzogen,
während durch in der Oxidschicht 6 geformte Öffnungen hin
durch auf die p-Diffusionszonen 2 und 3 und die n⁺-
Diffusionszonen 4 und 5 ein Metall wie Aluminium aufgebracht
ist, um Elektroden 7a, 7b, 7c bzw. 7d zu bilden. Außerdem
ist auf der Unterseite des n-Substrats 1 eine Elektrode 8
angebracht.
Durch den vorstehend beschriebenen Aufbau sind eine Haupt-
npn-Transistorstrecke bzw. ein Hauptteil TM des npn-
Transistors mit einer Kollektorzone, einer Basiszone und
einer Emitterzone, die jeweils durch das n-Substrat 1, die
p-Diffusionszone 2 bzw. die n⁺-Diffusionszone 4 gebil
det sind, und eine Meß-npn-Transistorstrecke bzw. ein Meß
teil TS des npn-Transistors mit einer Kollektorzone, einer
Basiszone und einer Emitterzone geschaffen, die jeweils
durch das n-Substrat 1, die p-Diffusionszone 3 bzw. die n⁺-
Diffusionszone 5 gebildet sind. D.h., der Hauptteil TM und
der Meßteil TS des Transistors haben eine gemeinsame Kollek
torzone, gesonderte Basiszonen und gesonderte Emitterzonen.
Gemäß Fig. 2 haben die beiden Transistorteile TM und TS
einen gemeinsamen Kollektor C, während für die Transistor
teile die Emitter gesondert als ein Emitter EM (Hauptemit
ter) für den Hauptteil TM und ein Emitter ES (Meßemitter)
für den Meßteil TS ausgebildet sind. Ferner sind die Basen
gesondert als eine Basis BM (Hauptbasis) für den Hauptteil
TM und eine Basis BS (Meßbasis) für den Meßteil TS des
Transistors ausgebildet.
In dem Transistor mit dem vorstehend beschriebenen Aufbau
fließt in den gemeinsamen Kollektor C ein Kollektorgesamt
strom IC, während aus dem Hauptemitter EM ein Emitterstrom
bzw. Hauptemitterstrom IEM abfließt, der einem in die Haupt
basis BM fließenden Basisstrom bzw. Hauptbasisstrom IBM
entspricht, und aus dem Meßemitter ES ein schwacher Emitter
strom bzw. Meßemitterstrom IES abfließt, der einem in die
Meßbasis BS fließenden Basisstrom bzw. Meßbasisstrom IBS
entspricht. Falls in diesem Fall das Verhältnis zwischen den
Basisströmen IBM und IBS konstant ist, ist das Verhältnis
zwischen den Emitterströmen IEM und IES und daher auch das
Verhältnis zwischen dem Meßemitterstrom IES und dem Kollek
torstrom IC konstant.
Da bei diesem Ausführungsbeispiel die beiden Basen BM und BS
unabhängig voneinander gesondert ausgebildet sind, leitet
eine externe Schaltung gesonderte Basisströme in die Basen.
Wenn der Kollektorstrom IC gemessen werden soll, der einen
Hauptstrom darstellt, wird mittels einer externen Strommeß
schaltung die Stromstärke des Meßemitterstroms IES erfaßt,
wobei das Verhältnis zwischen dem Hauptbasisstrom IBM und
dem Meßbasisstrom IBS aus der externen Schaltung konstant
gehalten wird. Auf diese Weise kann dann die Stromstärke des
Kollektorstroms IC ermittelt werden, da die Stromstärke des
Meßemitterstroms IES zu derjenigen des Kollektorstroms IC
proportional ist.
Bei dem vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispiel führt
die externe Schaltung den getrennten Basen BM und BS die
Basisströme IBM und IBS mit einem konstanten Verhältnis zu,
so daß gemäß der vorstehenden Beschreibung das Verhältnis
zwischen den Basisströmen IBM und IBS selbst dann konstant
gehalten werden kann, wenn sich der Strom und/oder die
Temperatur ändert. Da infolgedessen das Verhältnis zwischen
dem Hauptstrom, nämlich dem annähernd dem Hauptemitterstrom
IEM entsprechenden Kollektorstrom IC und dem Meßstrom,
nämlich dem Meßemitterstrom IES immer ohne Beeinträchtigung
durch Strom- oder Temperaturänderungen konstant gehalten
werden kann, kann aus dem Meßwert des Meßemitterstroms IES
immer genau die Stromstärke des Kollektorstroms IC ermittelt
werden.
Als nächstes wird anhand der Fig. 3 ein Beispiel für eine
Überstromschutzschaltung beschrieben, in der der Transistor
mit der Strommeßfunktion gemäß dem ersten Ausführungsbei
spiel eingesetzt ist und die den Transistor selbst gegen
einen Überstrom schützt.
Gemäß Fig. 3 ist ein Transistor T mit Strommeßfunktion an
seinem Kollektor C über eine Last 11 mit dem positiven
Anschluß einer Gleichstromquelle 12 verbunden, an seinem
Hauptemitter EM über einen gemeinsamen Anschluß 13 mit dem
negativen Anschluß der Gleichstromquelle 12 verbunden und an
seinem Meßemitter ES über einen für die Strommessung einge
setzten Widerstand RS mit dem gemeinsamen Anschluß 13 ver
bunden. Ferner sind eine Hauptbasis BM und eine Meßbasis BS
an eine Ansteuerungs- bzw. Treiberschaltung 14 angeschlos
sen, aus der sie mit Basisströmen IBM bzw. IBS mit einem
konstanten Verhältnis gespeist werden.
Die an dem an den Meßemitter ES angeschlossenen Strommeßwider
stand RS abfallende Spannung ist an einen Gleichspannungs
verstärker 15 angelegt, dessen Ausgangsspannung zusammen mit
einer Bezugsspannung VREF aus einer Bezugsspannungsquelle 16
an eine Entscheidungs- und Steuerschaltung 17 angelegt ist.
Die von dem Entscheidungsergebnis abhängige Ausgangsspannung
der Steuerschaltung 17 ist als Steuersignal an einen Steuer
eingang s der Treiberschaltung 14 angelegt.
Die spezielle Funktionsweise der Überstromschutzschaltung
ist folgende:
Zuerst führt dann, wenn an einen Eingang d der Treiberschal
tung 14 ein Ansteuerungssignal angelegt wird, die Treiber
schaltung 14 den Basen BM und BS des Transistors T Basis
ströme IBM und IBS mit einem konstanten Verhältnis zwischen
diesen zu. Infolgedessen wird der Transistor T leitend, so
daß über die Last 11 ein Kollektorstrom IC fließt, welcher
der Hauptstrom ist. Dabei fließt über den Strommeßwiderstand
RS ein schwacher Meßemitterstrom IES, so daß an dem Wider
stand RS eine Spannung entsteht, die genau zu dem Kollektor
strom IC proportional ist. Die Spannung wird durch den
Gleichspannungsverstärker 15 mit einem konstanten Verstär
kungsfaktor verstärkt.
Die Ausgangsspannung des Gleichspannungsverstärkers 15 liegt
an der Entscheidungs- und Steuerschaltung 17 an, in der sie
mit der Bezugsspannung VREF verglichen wird. Falls aus
irgendeinem Grund die Last 11 kurzgeschlossen ist, so daß
der Kollektorstrom IC übermäßig hoch wird und die Ausgangs
spannung des Gleichspannungsverstärkers 15 höher als die
Bezugsspannung VREF wird, verringert die Steuerschaltung 17
die dem Transistor T zugeführten Basisströme IBM und IBS.
Durch diese Gegenkopplung sind die Last 11 und die Gleich
stromquelle 12 gegen übermäßig hohen Strom geschützt.
In den Fig. 1 ist 3 ist zwar ein bipolarer npn-Transistor
dargestellt, jedoch kann natürlich der Transistor statt
dessen ein pnp-Transistor sein. Auch in diesem Fall ergeben
sich die gleichen Wirkungen.
Die Fig. 4 ist eine Schnittansicht eines bipolaren Transi
stors mit Strommeßfunktion gemäß einem zweiten Ausführungs
beispiel, während die Fig. 5 ein Schaltungssymbol dieses
Transistors zeigt.
Bei dem zweiten Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 4 sind in
vorbestimmten Lagen auf der Oxidschicht 6 des Transistors
gemäß dem in Fig. 1 gezeigten ersten Ausführungsbeispiel
zwei Basisstrom-Teilerwiderstände RBM und RBS aus Polysili
cium gebildet. Ferner sind eine Elektrode 7a, die sich von
dem p-Diffusionsbereich 2 zu dem Widerstand RBM erstreckt,
eine Elektrode 7b, die sich von dem p-Diffusionsbereich 3 zu
dem Widerstand RBS erstreckt, und eine Elektrode 7e gebil
det, die sich von dem Widerstand RBM zu dem Widerstand RBS
erstreckt.
Aus dem vorstehenden ist ersichtlich, daß zusätzlich zu dem
Aufbau des Transistors gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel
der Transistor gemäß dem zweiten Ausführungsbeispiel einen
derartigen Aufbau hat, daß die Basiszonen, nämlich die p-
Diffusionszonen 2 und 3 des Hauptteils TM bzw. des Meßteils
TS des Transistors jeweils mit den Enden der Basisstromtei
ler-Widerstände RBM und RBS verbunden sind, deren andere
Enden mit der gemeinsamen Basiselektrode 7e verbunden sind.
Gemäß der Darstellung in Fig. 5 als Schaltungssymbol haben
bei diesem Aufbau die beiden Transistorstrecken bzw. Transi
storteile TM bzw. TS den gemeinsamen Kollektor C, während
die Emitter gesondert als ein Emitter EM (Hauptemitter) für
den Hauptteil TM und als Emitter ES (Meßemitter) für den
Meßteil TS des Transistors ausgebildet sind und die Basen
jeweils mit einem Ende der beiden sich von den getrennten
Basiszonen weg erstreckenden Widerstände RBM und RBS verbun
den sind, so daß eine scheinbar einzige Basis B gebildet
ist.
Die Widerstandswerte der Basisstromteiler-Widerstände RBM
und RBS werden derart angesetzt, daß RBM « RBS gilt, wäh
rend jeweilige innere Basis-Emitter-Widerstände RBE und RBE,
der Transistorstrecken TM und TS derart gewählt werden, daß
RBE « RBM und RBE, « RBS gilt. Die Widerstandswerte der
Widerstände RBM und RBS sowie das Verhältnis zwischen diesen
können auf geeignete Weise durch Festlegen der Dimensionie
rung der Widerstände, nämlich der Breite, der Länge, der
Dicke und der Form bestimmt werden. Alternativ kann im
voraus eine große Anzahl von Grund-Widerständen gleicher
Größe geformt werden und diese Widerstände können dann in
Reihe oder parallel geschaltet werden, um Widerstände RBM
und RBS mit den gewünschten Widerstandswerten und dem ge
wünschten Verhältnis zu erhalten.
In dem Transistor mit dem vorstehend beschriebenen Aufbau
wird ein aus einer externen Treiberschaltung in die Basis B
geleiteter Basisstrom IB durch die Widerstände RBM und RBS
in Ströme IBM und IBS (IBM » IBS) geteilt, von denen der
Strom IBM als Hauptbasisstrom zu der Basiszone des Haupt
teils TM des Transistors fließt und der Strom IBS als Meßba
sisstrom zu der Basiszone des Meßteils TS des Transistors
fließt. Andererseits fließt in den gemeinsamen Kollektor C
ein Gesamt-Kollektorstrom IC, während an dem Hauptemitter EM
ein dem Hauptbasisstrom IBM entsprechender Emitterstrom bzw.
Hauptemitterstrom IEM abfließt und an dem Meßemitter ES ein
dem Meßbasisstrom IBS entsprechender schwacher Emitterstrom
bzw. Meßemitterstrom IES abfließt.
Das die beiden Widerstände RBM und RBS bildende Polysilicium
hat einen bestimmten Temperaturkoeffizienten. Da jedoch die
Widerstände RBM und RBS aus dem gleichen Polysilicium
geformt sind, ist das Verhältnis zwischen ihren Widerstands
werten unabhängig von Temperaturschwankungen immer konstant.
Da infolgedessen das Verhältnis zwischen Widerstandswerten
der Widerstände RBM und RBS konstant ist, ist auch immer das
Verhältnis zwischen den Stromstärken des Hauptbasisstroms
IBM und des Meßbasisstroms IBS konstant. Daher ist dann,
wenn der aus der externen Treiberschaltung der scheinbar
einzigen Basis B zugeführte gemeinsame Basisstrom IB kon
stant ist, die Stromstärke eines jeden der Basisströme IBM
und IBS immer konstant.
Es ist daher nicht erforderlich, daß die externe Treiber
schaltung wie bei dem ersten Ausführungsbeispiel die Haupt
basis BM und die Meßbasis BS mit ihren jeweiligen Basisströ
men IBM und IBS mit konstantem Verhältnis zwischen den
Strömen speist. Die externe Treiberschaltung muß lediglich
der scheinbar einzigen Basis B den gemeinsamen Basisstrom IB
zuführen, um dem Hauptteil und dem Meßteil die Basisströme
IBM und IBS mit einem konstanten Verhältnis zuzuführen. Die
externe Treiberschaltung kann daher hinsichtlich der Schal
tungsanordnung vereinfacht sein. Wenn beispielsweise gemäß
der Darstellung in Fig. 6 eine Überstromschutzschaltung mit
dem Transistor gemäß diesem zweiten Ausführungsbeispiel
aufgebaut wird, muß die Treiberschaltung 14 für die Ansteue
rung des Transistors lediglich den gemeinsamen Basisstrom IB
steuern, der der scheinbar einzigen Basis B des Transistors
T zugeführt wird.
Ferner ist das Funktionsprinzip des Transistors gemäß dem
zweiten Ausführungsbeispiel das gleiche wie dasjenige des
Transistors gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel, da trotz
der scheinbar einzigen Basis B die Basiszonen, nämlich die
p-Diffusionszonen 2 und 3, und die Emitterzonen, nämlich die
n⁺-Diffusionszonen 4 und 5 jeweils unabhängig voneinander
gestaltet sind. Auf diese Weise ist unabhängig von Änderun
gen des Stroms und/oder der Temperatur eine hochgenaue
Strommessung ermöglicht. D.h., solange das Verhältnis zwi
schen den Stromteilerwiderständen RBM und RBS konstant
gehalten ist, kann das Verhältnis zwischen dem (ungefähr dem
Hauptemitterstrom IEM entsprechenden) Kollektorstrom IC, der
den Hauptstrom darstellt, und dem Meßemitterstrom IES, der
der Meßstrom ist, ständig konstant gehalten werden. Auf
diese Weise kann aus dem Meßwert des Meßemitterstroms IES
immer mit hoher Genauigkeit die Stromstärke des Kollektor
stroms IC ermittelt werden.
Die Fig. 7 ist eine Schnittansicht eines bipolaren Transi
stors mit Strommeßfunktion gemäß einem dritten Ausführungs
beispiel.
Bei diesem dritten Ausführungsbeispiel ist der Leitfähig
keitstyp einer jeden Halbleiterzone zu demjenigen der
entsprechenden Zone bei dem ersten und zweiten Ausführungs
beispiel entgegengesetzt, so daß ein pnp-Transistor gebildet
ist, und Stromteilerwiderstände RBM und RBS sind als eindif
fundierte Widerstände ausgebildet.
Gemäß Fig. 7 sind an einem Oberflächenabschnitt eines
p-Halbleitersubstrats 21, das eine gemeinsame Kollektorzone
bildet, in gegenseitigem Abstand zwei n-Diffusionszonen 22
und 23 als Basiszonen gebildet, in denen jeweils p⁺-
Diffusionszonen 24 und 25 als Emitterzonen gebildet sind.
Außerdem sind an einer vorbestimmten Stelle des Oberflächen
abschnitts des p-Substrats 21 zwei Diffusionszonen als
Basisstromteiler-Widerstände RBM und RBS gebildet. Die
Widerstandswerte der Widerstände RBM und RBS sowie das
Verhältnis zwischen diesen Widerstandswerten können gleicher
maßen wie bei den Polysiliciumwiderständen bei dem zweiten
Ausführungsbeispiel festgelegt werden. Die ganze Oberfläche
des Halbleitersubstrats ist mit einer Oxidschicht 26 überzo
gen. Durch in der Oxidschicht 26 geformte Öffnungen hindurch
sind eine Elektrode 27a auf der n-Diffusionszone 22 und dem
Widerstand RBM, eine Elektrode 27b auf der n-Diffusionszone
23 und dem Widerstand RBS, eine Elektrode 27c auf der p⁺-
Diffusionszone 24, eine Elektrode 27d auf der p⁺-Diffu
sionszone 25 und eine Elektrode 27e auf der Verbindungstelle
zwischen den Widerständen RBM und RBS gebildet. Ferner ist
auf der ganzen unteren Fläche des Substrat 21 eine Elektrode
28 gebildet.
Der vorstehend beschriebene Aufbau ergibt eine Hauptstrecke
bzw. einen Hauptteil TM eines pnp-Transistors mit einer
Kollektorzone, einer Basiszone und einer Emitterzone, die
jeweils durch das p-Substrat 21, die n-Diffusionszone 22 und
die p⁺-Diffusionszone 24 gebildet sind, und eine Meßstrecke
bzw. einen Meßteil TS des pnp-Transistors mit einer Kollek
torzone, einer Basiszone und einer Emitterzone, die jeweils
durch das p-Substrat 21, die n-Diffusionszone 23 und die
p⁺-Diffusionszone 25 gebildet sind. Wie bei dem ersten und
zweiten Ausführungsbeispiel haben die beiden Transistor
strecken bzw. Transistorteile TM und TS eine gemeinsame
Kollektorzone, gesonderte Basiszonen und gesonderte Emitter
zonen. Die Transistorstrecken TS und TM sind an ihren jewei
ligen Basiszonen, nämlich an den n-Diffusionszonen 22 und 23
mit jeweils einem Ende der Widerstände RBM und RBS verbun
den, deren andere Enden mit der gemeinsamen Basiselektrode
27e verbunden sind.
Das Schaltungssymbol des Transistors gemäß dem vorstehend
beschriebenen dritten Ausführungsbeispiel ist das gleiche
wie das in Fig. 5 gezeigte mit der Ausnahme, daß die jewei
ligen Stromflußrichtungen entgegengesetzt sind. Daher ermög
licht der Transistor gemäß diesem dritten Ausführungsbei
spiel wie bei dem zweiten Ausführungsbeispiel eine von
Strom- oder Temperaturänderungen unabhängige genaue Strom
messung, wobei darüberhinaus die Treiberschaltung für das
Zuführen eines Basisstroms einfach aufgebaut sein kann.
Bei dem Formen der Widerstände durch das Eindiffundieren von
Fremdatomen in Halbleiterzonen müssen die Leitfähigkeitsty
pen berücksichtigt werden, damit die Transistoreigenschaften
nicht durch sich ergebende parasitäre Elemente beeinträch
tigt werden.
Bei dem zweiten und dritten Ausführungsbeispiel werden die
Basisstromteiler-Widerstände RBM und RBS innerhalb der
Vorrichtung geformt. Diese Widerstände können natürlich
außerhalb der Vorrichtung gebildet werden. Es ist jedoch
vorzuziehen, die beiden Widerstände in der Vorrichtung
auszubilden. In diesem Fall können die Widerstände im glei
chen Herstellungsschritt unter Verwendung des gleichen
Materials gebildet werden, so daß es leicht ist, Widerstände
mit gleichen Temperaturkoeffizienten zu erhalten. Infolge
dessen kann das sich durch die Stromteilung durch die Wider
stände ergebende Stromstärkeverhältnis zwischen den Basis
strömen IBM und IBS genauer konstant gehalten werden. Hin
sichtlich der Art und Weise des Herstellens der Widerstände
in der Vorrichtung besteht keinerlei Einschränkung auf die
im Zusammenhang mit den Ausführungsbeispielen beschriebenen.
Vielmehr können die Widerstände auf irgendeine beliebige
Weise hergestellt werden, soweit damit das Verhältnis zwi
schen den beiden Widerstandswerten konstant gehalten werden
kann und die Transistoreigenschaften nicht beeinträchtigt
werden.
Die beschriebene Gestaltung kann außer bei einem bipolaren
Transistor auch bei verschiedenen Arten von Transistoren wie
Transistoren mit statischer bzw. Ladungsinduktion und Feld
effekttransistoren angewandt werden.
Bei dem ersten Ausführungsbeispiel sind der Hauptteil bzw.
die Hauptstrecke und der Meßteil bzw. die Meßstrecke des
Transistors mit jeweils gesonderten Basiszonen versehen. Auf
diese Weise ist es durch das Zuführen eines Basisstroms zu
der jeweiligen Basiszone aus einer externen Treiberschaltung
möglich, eine genaue Strommessungsfunktion ohne Beeinträch
tigung durch Schwankungen hinsichtlich des Stroms und/oder
der Temperatur zu erreichen.
Bei dem zweiten Ausführungsbeispiel ist es nicht erforder
lich, wie bei dem ersten Ausführungsbeispiel jeder der
beiden Basen, nämlich der Hauptbasis und der Meßbasis einen
Basisstrom zuzuführen, so daß daher nur einer scheinbar
einzigen Basis ein gemeinsamer Basisstrom zugeführt werden
muß. Eine Treiberschaltung für das Zuführen des Basisstroms
kann daher einfach aufgebaut sein. Ferner bilden zwar die
Basiszonen scheinbar eine einzige Basis, jedoch wird durch
die Basisstromteiler-Widerstände der gemeinsame Basisstrom
praktisch in einen Hauptbasisstrom und einen Meßbasisstrom
in einem konstanten Verhältnis aufgeteilt, die den jeweili
gen Basiszonen zugeleitet werden. Daher ist das Funktions
prinzip das gleiche wie bei dem ersten Ausführungsbeispiel,
so daß eine von Strom- oder Temperaturschwankungen unabhän
gige hochgenaue Strommessung ermöglicht ist.
Ein Transistor mit Strommeßfunktion weist einen Hauptteil
für das Führen eines Hauptstroms und einen Meßteil für das
Messen der Stromstärke des Hauptstroms auf. Der Hauptteil
und der Meßteil haben eine gemeinsame Kollektorzone, jeweils
einzelne getrennte Basiszonen und jeweils einzelne getrennte
Emitterzonen. Dies ermöglicht es, aus einer externen Trei
berschaltung einer jeweiligen Basiszone einen Basisstrom
zuzuführen. Infolgedessen kann ohne Beeinträchtigung durch
Schwankungen hinsichtlich des Stroms und der Temperatur eine
hochgenaue Strommessung ausgeführt werden. Ferner können
durch das Anschließen von Stromteiler-Widerständen an die
jeweiligen Basiszonen des Hauptteils und des Meßteils zum
Aufteilen eines gemeinsamen Basisstroms unter einem konstan
ten Verhältnis die Basiszonen als eine scheinbar einzige
Basis betrachtet werden. Auf diese Weise wird die Ansteue
rung der Basis erleichtert.
Claims (6)
1. Transistor mit Strommeßfunktion, mit einem Hauptteil für
das Führen eines Hauptstroms und einem Meßteil für das
Erfassen eines über den Hauptteil fließenden Stroms, dadurch
gekennzeichnet, daß der Hauptteil (TM) und der Meßteil (TS)
eine gemeinsame Kollektorzone (1; 21), jeweils einzelne
gesonderte Basiszonen (2, 3; 22, 23) und jeweils gesonderte
einzelne Emitterzonen (4, 5; 24, 25) haben.
2. Transistor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
in die gesonderten Basiszonen (2, 3; 22, 23) des Hauptteils
(TM) und des Meßteils (TS) des Transistors jeweils Basis
ströme (IBM, IBS) unter einem konstanten Stromstärkenver
hältnis zugeführt sind.
3. Transistor nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch Strom
teilerwiderstände (RBM, RBS) zum Aufteilen eines gemeinsamen
Basisstroms (IB) unter einem konstanten Verhältnis und zum
Zuführen der aufgeteilten Basisströme (IBM, IBS) zu den
Basiszonen (2, 3; 22, 23) des Hauptteils (TM) und des Meß
teils (TS) des Transistors.
4. Transistor nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
die Stromteilerwiderstände (RBM, RBS) mit dem Transistor
integriert ausgebildet sind.
5. Transistor nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß
die Stromteilerwiderstände (RBM, RBS) Widerstände aus Poly
silicium sind.
6. Transistor nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß
die Stromteilerwiderstände (RBM, RBS) eindiffundierte Wider
stände sind.
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