DE3914180A1 - Verfahren zum betrieb und zum herstellen von stromlos metall abscheidenden badloesungen fuer die abscheidung praktisch rissfreier metallniederschlaege - Google Patents
Verfahren zum betrieb und zum herstellen von stromlos metall abscheidenden badloesungen fuer die abscheidung praktisch rissfreier metallniederschlaegeInfo
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Description
Die Herstellung von stromlos abgeschiedenen Kupferschichten und
solchen, die nachträglich durch galvanische Abscheidung verstärkt
werden, ist ein bedeutender Vorgang in der Herstellung von gedruckten
Schaltungen.
Die Zuverlässigkeit gedruckter Schaltungen für militärische und
mehr und mehr auch für kommerzielle Zwecke wird nach den Erfordernissen
der MIL Spec. P-55110-D überprüft.
Es mußte häufig festgestellt werden, daß stromlos abgeschiedene
Kupferschichten den Anforderungen nach der o. a. MIL Spezifikation
bezüglich ihres Verhaltens im Hitzebelastungstest nicht entsprachen.
Die Innenwand-Metallisierung von Löchern hält einer Belastung in
geschmolzenem Lötzinn für 10 Sekunden nicht stand. Bruchstellen treten
am häufigsten an der Lochkante zur Oberfläche auf.
Es konnte festgestellt werden, daß die meisten Fehlstellen in
der abgeschiedenen Kupferschicht bei längerem Badgebrauch und der
entsprechenden Anhäufung von Nebenprodukten sowie das Bad vergiftenden
Stoffen auftreten. Das Bad vergiftende Stoffe können in Spuren bei der
Badzugabe, durch Wasserverunreinigung und durch
Umweltluftverschmutzungen eingeschleppt werden. Viele anorganische
Stoffe wie Kupfer(I)ionen, Eisen, Silber, Gold, Antimon, Arsen und
andere Metalle sowie deren Verbindungen, wie auch viele organische
Stoffe können eine verheerende Wirkung sowohl auf die Badarbeit als
auch auf die Qualität der abgeschiedenen Metallschicht haben, selbst
wenn sie nur in Millionstel Teilen in der Badlösung vorhanden sind.
In der Beschreibung werden die folgenden Definitionen
verwendet:
"Anodische Reaktionsgeschwindigkeit" ist die Oxidationsgeschwindigkeit des Reduktionsmittels auf der Metalloberfläche in der Badlösung;
"kathodische Reaktionsgeschwindigkeit" ist die Reduktion der Metallionen zu Metall auf einer metallischen Oberfläche in der Badlösung;
"intrinsikante anodische Reaktionsgeschwindigkeit", r a′, ist die anodische Reaktionsgeschwindigkeit, gemessen auf der metallischen Oberfläche in der Badlösung unter Anlegen einer Spannung an die metallische Oberfläche, die etwas positiver ist als das Mischpotential;
"intrinsikante kathodische Reaktionsgeschwindigkeit", r c′, ist die kathodische Reaktionsgeschwindigkeit auf der Metalloberfläche, die etwas negativer ist als die dem Mischpotential entsprechende;
"stromlose Metallabscheidung unter kathodischer Steuerung" bedeutet, daß die kathodische Reaktionsgeschwindigkeit die Gesamtabscheidungsgeschwindigkeit bestimmt, d. h., die Abscheidungsgeschwindigkeit hängt ab von der Konzentration der auf die kathodische Reaktion wirkenden Badbestandteile, der Konzentration der Metallionen und/oder der Konzentration der depolarisierenden Badbestandteile für die Halbreaktion der Metallionen;
"stromlose Metallabscheidung unter anodischer Steuerung" bedeutet, daß die anodische Reaktionsgeschwindigkeit die Gesamtabscheidungsgeschwindigkeit bestimmt, d. h., die Abscheidungsgeschwindigkeit hängt ab von der Konzentration der auf die anodische Reaktion wirkenden Badbestandteile, der Konzentration der Reduktionsmittel und/oder der Depolarisatoren für die Halbreaktion der Reduktionsmittel;
Beim "Hitzebelastungstest" werden gedruckte Schaltungen mit durchplattierten Löchern mindestens 2 Stunden einer Temperatur von 120 bis 150°C ausgesetzt, ein Vorgang, mit dem bei der Herstellung gedruckter Schaltungen die restliche Feuchtigkeit vollständig entfernt wird. Nach diesem Ausheizvorgang werden die Schaltungen im Exsikkator auf Keramikplatten abgekühlt. Anschließend werden die Platten mit Flußmittel versehen und für 19 Sekunden bei einer Temperatur von 288°C in ein Tauchlötbad (65% Sn) gebracht und anschließend abgekühlt. Dann wird ein Mikroschliff in der senkrechten Ebene zur Lochmitte angefertigt und auf Risse mit 50 bis 100facher Vergrößerung untersucht. Von jedem Muster wird mindestens ein Mikroschliff von mindestens 3 Löchern angefertigt. Risse in der abgeschiedenen Kupferschicht zeigen an, daß die Abscheidung dem Hitzebelastungstest nicht standhält;
"Kupfer hoher Qualität" ist solches, das kleine Kristalle mit einer Korngröße von unter 10 Mikrometern und einer geringen Zahl von Fehlstellen im Kristall sowie von Zwillingsbildungen aufweist. Derartiges Kupfer hoher Qualität besteht den Hitzebelastungstest. Im Zusammenhang mit stromlos abgeschiedenem Kupfer ist der Ausdruck "zufriedenstellende Kupferqualität" gleichbedeutend mit "Kupfer hoher Qualität";
"Rißfreie Kupferschichten" sind stromlos abgeschiedene Kupferschichten, die frei von inneren Rissen, Sprüngen und Fehlstellen sind, die bei Hitzebelastung zu Rissen oder Sprüngen führen könnten. "Rißfestes" Kupfer ist solche, das auch unter Hitzebelastung oder im Gebrauch keine Risse oder Sprünge ausbildet.
"Anodische Reaktionsgeschwindigkeit" ist die Oxidationsgeschwindigkeit des Reduktionsmittels auf der Metalloberfläche in der Badlösung;
"kathodische Reaktionsgeschwindigkeit" ist die Reduktion der Metallionen zu Metall auf einer metallischen Oberfläche in der Badlösung;
"intrinsikante anodische Reaktionsgeschwindigkeit", r a′, ist die anodische Reaktionsgeschwindigkeit, gemessen auf der metallischen Oberfläche in der Badlösung unter Anlegen einer Spannung an die metallische Oberfläche, die etwas positiver ist als das Mischpotential;
"intrinsikante kathodische Reaktionsgeschwindigkeit", r c′, ist die kathodische Reaktionsgeschwindigkeit auf der Metalloberfläche, die etwas negativer ist als die dem Mischpotential entsprechende;
"stromlose Metallabscheidung unter kathodischer Steuerung" bedeutet, daß die kathodische Reaktionsgeschwindigkeit die Gesamtabscheidungsgeschwindigkeit bestimmt, d. h., die Abscheidungsgeschwindigkeit hängt ab von der Konzentration der auf die kathodische Reaktion wirkenden Badbestandteile, der Konzentration der Metallionen und/oder der Konzentration der depolarisierenden Badbestandteile für die Halbreaktion der Metallionen;
"stromlose Metallabscheidung unter anodischer Steuerung" bedeutet, daß die anodische Reaktionsgeschwindigkeit die Gesamtabscheidungsgeschwindigkeit bestimmt, d. h., die Abscheidungsgeschwindigkeit hängt ab von der Konzentration der auf die anodische Reaktion wirkenden Badbestandteile, der Konzentration der Reduktionsmittel und/oder der Depolarisatoren für die Halbreaktion der Reduktionsmittel;
Beim "Hitzebelastungstest" werden gedruckte Schaltungen mit durchplattierten Löchern mindestens 2 Stunden einer Temperatur von 120 bis 150°C ausgesetzt, ein Vorgang, mit dem bei der Herstellung gedruckter Schaltungen die restliche Feuchtigkeit vollständig entfernt wird. Nach diesem Ausheizvorgang werden die Schaltungen im Exsikkator auf Keramikplatten abgekühlt. Anschließend werden die Platten mit Flußmittel versehen und für 19 Sekunden bei einer Temperatur von 288°C in ein Tauchlötbad (65% Sn) gebracht und anschließend abgekühlt. Dann wird ein Mikroschliff in der senkrechten Ebene zur Lochmitte angefertigt und auf Risse mit 50 bis 100facher Vergrößerung untersucht. Von jedem Muster wird mindestens ein Mikroschliff von mindestens 3 Löchern angefertigt. Risse in der abgeschiedenen Kupferschicht zeigen an, daß die Abscheidung dem Hitzebelastungstest nicht standhält;
"Kupfer hoher Qualität" ist solches, das kleine Kristalle mit einer Korngröße von unter 10 Mikrometern und einer geringen Zahl von Fehlstellen im Kristall sowie von Zwillingsbildungen aufweist. Derartiges Kupfer hoher Qualität besteht den Hitzebelastungstest. Im Zusammenhang mit stromlos abgeschiedenem Kupfer ist der Ausdruck "zufriedenstellende Kupferqualität" gleichbedeutend mit "Kupfer hoher Qualität";
"Rißfreie Kupferschichten" sind stromlos abgeschiedene Kupferschichten, die frei von inneren Rissen, Sprüngen und Fehlstellen sind, die bei Hitzebelastung zu Rissen oder Sprüngen führen könnten. "Rißfestes" Kupfer ist solche, das auch unter Hitzebelastung oder im Gebrauch keine Risse oder Sprünge ausbildet.
Aufgabe der Erfindung ist ein Verfahren zum Betrieb und zur
Erhaltung stromlos Kupfer abscheidender Badlösungen, bei dem
sichergestellt ist, daß die abgeschiedene Kupferschicht rißfrei ist
und gute physikalische Eigenschaften aufweist.
Eine weitere Aufgabe der Erfindung ist die Zusammensetzung von
stromlos Kupfer abscheidenden Badlösungen, mit denen rißfreie
Kupferschichten und solche, die auch nach einer Wärmebehandlung keine
Sprünge aufweisen, abgeschieden werden können, und die den
Hitzebelastungstest bei 288°C unbeschadet überstehen.
Diese Aufgaben werden durch die im Kennzeichen der Ansprüche 1
und 10 angegebenen Merkmale gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen
ergeben sich aus den Unteransprüchen.
In einer Ausgestaltungsform der Erfindung werden die
Konzentration der Kupferionen und der pH-Wert ausreichend erhöht und
die Konzentration des Reduktionsmittels ausreichend reduziert, um die
ursprüngliche Abscheidungsgeschwindigkeit im wesentlichen
aufrechtzuerhalten.
In einer anderen Ausgestaltungsform werden die Konzentration
der Kupferionen und der pH-Wert ausreichend erhöht und die Konzentration
des Reduktionsmittels ausreichend reduziert, um das Verhältnis
der intrinsikanten anodischen zur intrinsikanten kathodischen
Reaktionsgeschwindigkeit auf dem oder unterhalb des ursprünglich
gewählten Wertes zu halten.
Die weiteren, im folgenden beschriebenen Ausgestaltungsformen
beschreiben Verfahren zur Konstanthaltung und Steigerung der Abscheidungsgeschwindigkeiten.
Die Badlösung nach der Erfindung ist durch das molare Verhältnis
der Konzentration des Reduktionsmittels zu derjenigen der
Kupferionen gekennzeichnet, das nicht größer als 1,2 und vorzugsweise
gleich 1,2 sein darf. Die besten Ergebnisse werden bei einem Wert von
unter 1,2 erzielt.
Fig. 1 ist die schematische Darstellung einer Anlage zur
Durchführung elektrochemischer Messungen, wie sie nachfolgend beschrieben
werden.
Fig. 2 ist ein Diagramm des angelegten Potentials über die
Zeit, wie im Beispiel 1 beschrieben.
Fig. 3 ist ein Diagramm des Stromverlaufs über dem angelegten
Potential, wie im Beispiel 1 beschrieben.
Die Erfindung ist am Beispiel alkalischer stromlos arbeitender
Bäder beschrieben; sie ist aber nicht auf derartige alkalische
Badlösungen begrenzt.
Viele stromlos arbeitende Kupferbadlösungen scheiden zu Beginn
Kupfer guter Qualität ab. Die Erfahrung hat aber gezeigt, daß mit dem
Altern der Lösung die Qualität der abgeschiedenen Kupferschicht
abnimmt und das Bad als ganzes oder teilweise ersetzt werden muß. Das
Alter einer stromlos Metall abscheidenden Badlösung wird durch die bei
der Abscheidungsreaktion entstehenden Nebenprodukte sowie durch die
Anhäufung vergiftender Stoffe bestimmt. Die Konzentration der
Nebenprodukte kann über die spezifische Dichte der Badlösung bestimmt
werden. Nur unter unveränderlichen Badarbeitsbedingungen kann auch die
Konzentration der vergiftenden Stoffe durch Dichte-Bestimmung erfaßt
werden. Nach der Lehre nach der Erfindung kann die brauchbare
Lebensdauer solcher Badlösungen verlängert werden, indem das molare
Verhältnis des Reduktionsmittels zum Kupfer gesteuert wird, sowie
durch die Erhöhung des pH-Wertes und der Kupferkonzentration der
Badlösung, um adäquate Abscheidungsgeschwindigkeiten bei dem
gewünschten Mol-Verhältnis aufrechtzuerhalten.
Zu den als Kupferionenquelle in stromlos arbeitenden Bädern
geeigneten Kupferverbindungen zählen u. a. Kupfersulfate, Kupferhydroxide,
basische Kupfersulfate und -karbonate sowie lösliche
Kupferkomplexe. Vorzugsweise werden Kupfer(II)sulfat und
Kupfer(II)chlorid verwendet. Eine weitere Kupferionenquelle ist
metallisches Kupfer, das durch elektrochemische Auflösung entweder
direkt in die Badlösung oder in einem geeigneten Elektrolyten und dann
durch eine Membran in das Abscheidungsbad diffundiert wird.
Die untere Grenze der Kupferionenkonzentration in der Badlösung
muß ausreichend hoch gewählt werden, um ein Verhältnis von
intrinsikanter kathodischer zu intrinsikanter anodischer
Reaktionsgeschwindigkeit von über 90% aufrechtzuerhalten. An der
oberen Konzentrationsgrenze wird das metallische Kupfer nur an den zu
metallisierenden Oberflächen abgeschieden und fällt nicht in der
Badlösung aus. Die obere Grenze hängt ebenfalls von dem zur Steuerung
der homogenen Kupferabscheidung gewählten Stabilisator ab. In den
meisten Fällen beträgt die Kupferkonzentration mehr als 0,01 molar und
weniger als 0,02 molar.
Nach einer Ausführungsform der Erfindung werden die Konzentration
der Kupferionen und der pH-Wert während des Badbetriebes
erhöht, um das Ansteigen der Konzentration der Reaktions-Nebenprodukte
sowie der vergiftenden Stoffe auszugleichen. Danach wird die
Kupferkonzentration während des Badbetriebes um 20 bis 200%, am besten
um zwischen 40 und 100%, angehoben und der pH-Wert wird ebenfalls
erhöht.
Zur Reduktion des Kupfers geeignete Reduktionsmittel sind u. a.
Formaldehyd und Formaldehyd-Verbindungen wie Formaldehydbisulfit,
Paraformaldehyd, Dimethylhydantoin und Trioxan. Weitere geeignete
Reduktionsmittel sind Borhydride wie Borane und Borohydride wie
Alkalimetallborhydride.
Die obere Konzentrationsgrenze für Reduktionsmittel in stromlos
Kupfer abscheidenden Bädern ist die, bei der ein Verhältnis von 110%
der intrinsikanten anodischen zur intrinsikanten kathodischen
Reaktionsgeschwindigkeit besteht. An der unteren Grenze tritt die
vollständige Badpassivierung ein, d. h., auf einer blanken
Kupferoberfläche wird überhaupt kein Kupfer mehr abgeschieden.
Vorzugsweise liegt die untere Grenze der anodischen Reaktionsgeschwindigkeit
bei 75 bis 85% der kathodischen Reaktionsgeschwindigkeit.
Für Formaldehyd-Reduktionsmittel hängen die Grenzen
weitgehend von den Badzusätzen, vom pH und sehr stark von der
Temperatur ab. In Badlösungen, in denen das Verhältnis der
intrinsikanten anodischen und intrinsikanten kathodischen Reaktionsgeschwindigkeiten
nicht bestimmt wird, sollte die Konzentration des
Formaldehyds mit über 0,01 molar angesetzt und keinesfalls mehr als
das 1,2fache der molaren Kupferionen-Konzentration betragen. Am
besten sollte die molare Formaldehyd-Konzentration gleich der molaren
Kupferionen-Konzentration oder geringer als diese sein.
Geeignete Mittel zum Einstellen des pH Wertes sind Alkalimetallhydroxide
und Kupferoxid. Während der Arbeit eines alkalischen
Kupferabscheidungsbades sinkt der pH-Wert in der Regel und muß durch
Zugabe von Hydroxid auf einem konstanten Wert gehalten werden. Steigt
der pH an, so muß er durch Zugabe von Säuren auf den gewünschten Wert
gebracht werden. Wird Formaldehyd als Reduktionsmittel verwendet, so
hängt dessen Aktivität sowohl vom pH als auch von der Konzentration
des Formaldehyds ab. Deshalb muß zur Steigerung der Aktivität des
Reduktionsmittels und damit der intrinsikanten anodischen
Reaktionsgeschwindigkeit, wie nachstehend beschrieben, entweder die
Konzentration des Formaldehyds oder diejenige des Alkalihydroxids
erhöht werden. Soll während der Arbeit eines stromlos Metall
abscheidenden Bades die intrinsikante anodische
Reaktionsgeschwindigkeit erhöht werden, wird vorzugsweise der pH
erhöht, während die Konzentration des Formaldehyds entweder konstant
gehalten oder reduziert wird.
Nach einer weiteren Ausführungsform der Erfindung wird bei
Alterung der Lösung die intrinsikante Reaktionsgeschwindigkeit erhöht,
indem die Kupferkonzentration um 40 bis 100% erhöht wird, und die
kathodische Reaktionsgeschwindigkeit wird durch eine Erhöhung des pH-
Wertes um 0,1 bis 1, am besten um 0,2 bis 0,6 pH-Einheiten gesteigert.
Bei Badzusammensetzungen mit Formaldehyd als Reduktionsmittel
liegt der pH in der Regel zwischen 9,5 und 14. Beträgt das molare
Konzentrationsverhältnis von Reduktionsmittel zu Kupferkonzentration
weniger als 1,2, so liegt der pH vorzugsweise über 11,9 oder noch
besser über 12,2.
Dem Fachmann sind geeignete Komplexer für stromlos Metall abscheidende
Badlösungen bekannt. Dazu zählen u. a. Ethylendinitrilotetra-
Essigsäure (EDTA), Hydroxyethylethylendiamintri-Essigsäure
(HEDTA), Diethylentrinitrilopenta-Essigsäure (DTPA), Nitrilotri-
Essigsäure (NTA), Triethanolamin, Tetrakis(2-hydroxypropyl)
ethylendiamin (THPED), Pentahydroxypropyldiethylentriamin,
Weinsäure und deren Salze (Rochelle-Salz).
In der Vergangenheit wurden bereits zahlreiche Zusätze zu
stromlos Kupfer abscheidenden Badlösungen vorgeschlagen. Diese Zusätze
können je nach ihrer Funktion in verschiedene Gruppen eingeteilt
werden. Die meisten Badzusätze haben jedoch mehr als eine Funktion in
der Badlösung, weshalb eine derartige Einteilung einigermaßen
willkürlich ist. Fast alle Badzusätze wirken sich auf die
Oxidationsgeschwindigkeit des Reduktionsmittels aus (die anodische
Reaktion) oder die Reduktion des Kupferions zu Metall (die kathodische
Reaktion).
Eine Gruppe von Badzusätzen sind die anionischen, die nichtionischen,
die amphoterischen oder die kationischen Benetzer. Die
Auswahl des Benetzers hängt von der Temperatur und von der Ionenkonzentration
der Badlösung ab. Vorzugsweise werden Benetzer gewählt,
deren Trübungspunkt bei der Arbeitstemperatur und der vorliegenden
Ionenkonzentration nicht erreicht wird. Geeignete Benetzer sind solche
mit Polyethoxygruppen oder fluorinierte Benetzer wie beispielsweise
Alkylphenoxypolyethoxy-Phosphate, Polyethoxypolypropoxy-
Blockcopolymere, anionische Perfluoroalkylsulfonate und Carboxylate,
nicht-ionische fluorinierte Alkylalkoxylate und kationische
fluorinierte quaternäre Ammoniumverbindungen.
Eine zweite Gruppe von Zusätzen sind Stabilisatoren, die den
Spontanzerfall der Badlösung sowie die Abscheidung von Kupfer in
unerwünschten Bezirken verhindern. Zusätze, die als Stabilisatoren
dienen und unerwünschte Kupferabscheidungen verhindern, sind zum
Beispiel Sauerstoff oder Luft, die der Badlösung durch heftiges Rühren
zugegeben werden. Ebenfalls geeignet sind zweiwertige
Schwefelverbindungen wie Thiole, Merkaptane und Thiolether, Selenverbindungen
wie Selencyanate, zweiwertige Quecksilberverbindungen wie
Mercurichlorid und Phenylmercury, und Kupfer(I)komplexer wie Cyanide,
2,2′-dipyridyl und 1,10-Phenanthroline.
Eine dritte Gruppe von Badzusätzen bewirkt eine Verbesserung
der Kupferqualität durch Steigerung der Duktilität und gleichzeitiges
Verringern von Wasserstoffeinschlüssen. Zu dieser Gruppe gehören
Polyalkylenether, Cyanide, Nitrile, Verbindungen von Vanadium, Arsen
und Wismut, Nickelsalze, 2,2′-dipyridyl, 1,10-Phenanthroline und
einige organische Silikone.
Die Zusätze der dritten Gruppe bewirken eine Badstabilisierung
und können allein sowie zusammen mit anderen Stabilisatoren verwendet
werden. Die Konzentration der Stabilisatoren und/oder
Duktilitätsverbesserer in stromlos Metall abscheidenden Badlösungen
hängt von den gewählten Zusätzen und von der Konzentration der
Kupferionen, des Reduktionsmittels sowie vom pH-Wert ab. Im allgemeinen
soll die Konzentration an Zusätzen einerseits ausreichen, um
unerwünschte Kupferabscheidungen zu vermeiden, andererseits aber
deutlich unterhalb derjenigen liegen, die sowohl die Abscheidung als
auch die chemische Reaktion völlig zum Erliegen bringt.
Eine vierte Gruppe von Badzusätzen sind die Beschleuniger für
die Abscheidungsgeschwindigkeit (auch bekannt als Depolarisatoren),
wie in US-A 43 01 196 beschrieben. Dabei handelt es sich um Verbindungen,
die delokalisierte pi-Bindungen enthalten wie aromatische
heterozyklische Stickstoff- und Schwefelverbindungen, aromatische
Amine und nicht-aromatische Stickstoffverbindungen mit wenigstens
einer delokalisierten pi-Bindung. Hierzu gehören Purine, Pyrimidine,
Pyridine, Thiazine, Triazine und Thiol-Derivate.
Vorzugsweise sind Depolarisatoren bzw. Beschleuniger in einer
kleinen, aber wirkungsvollen Menge vorhanden von beispielsweise
mindestens 0,0001 bis 2,5 g/l, am besten von 0,0005 bis 1,5 g/l, und
meistens zwischen 0,001 bis 0,5 g/l. Im allgemeinen hängt die Menge an
beschleunigenden oder depolarisierenden Zusätzen von der Verbindung
selbst sowie von der Badzusammensetzung ab.
Obgleich seit Jahren bekannt ist, daß stromlos abgeschiedenes
Kupfer bezüglich seiner physikalischen Eigenschaften galvanisch
abgeschiedenem Kupfer unterlegen ist, was sich insbesondere auch auf
die Widerstandsfähigkeit gegen Wärmebelastung bezieht, konnte
überraschend festgestellt werden, daß auch stromlos Kupfer hoher
Duktilität und Wärmebelastbarkeit abgeschieden werden kann, wenn die
Badlösung so zusammengesetzt ist, daß die intrinsikante anodische
Reaktionsgeschwindigkeit weniger als 110% der intrinsikanten
kathodischen Reaktionsgeschwindigkeit beträgt.
Das intrinsikante Geschwindigkeitsverhältnis kann durch Messen
der Geschwindigkeit der einzelnen Halbreaktionen in der Nähe des
Mischpotentials bestimmt werden, beispielsweise der einen bei +10 mV
und der anderen bei -10 mV, oder durch kontinuierliches Anwachsen oder
Reduzieren des Potentials, ausgehend vom Mischpotential unter
gleichzeitigem Messen des Stromes.
Nach einem Verfahren kann die intrinsikante anodische Reaktionsgeschwindigkeit
am Mischpotential durch Potentialänderung an der
Arbeitselektrode während des Abscheidungsvorgangs aus den Stromwerten
geschätzt werden. Das Potential zwischen der Arbeits- und einer
Vergleichseleketrode wird linear zwischen E mp (Mischpotential) und +30 mV
vom Mischpotential (E mp) variiert, indem ein Strom von der
Arbeitselektrode zur Vergleichselektrode fließt und gleichzeitig das
Potential und der anodische Strom gemessen werden, während sich das
Potential ändert. Alternativ kann auch zwischen der Arbeitselektrode
und der Gegenelektrode gemessen werden, wenn letztere sehr viel größer
als die Arbeitselektrode ist; die Gegenelektrode kann auch als
Referenzelektrode dienen, da der Strom zwischen dieser und der
Arbeitselektrode viel zu klein ist, um das Potential der Gegenelektrode
zu beeinflussen. Die intrinsikante anodische Reaktionsgeschwindigkeit
bei E mp kann aus der Steilheit der Stromverlaufskurve, aufgetragen
gegen das Potential von -30 mV bis zum Mischpotential bestimmt werden.
Wird die intrinsikante kathodische Abscheidungsgeschwindigkeit
größer gehalten als die intrinsikante anodische Abscheidungsgeschwindigkeit,
d. h., wenn r a′/r c′ kleiner als 1,1 besser kleiner als
1,05 und am besten kleiner als 1,0 ist, so konnte festgestellt werden,
daß das abgeschiedene Kupfer überlegene physikalische Eigenschaften
aufweist. Um das gewünschte Verhältnis aufrechtzuerhalten, kann es
wünschenswert sein, die intrinsikante kathodische
Reaktionsgeschwindigkeit zu erhöhen bzw. diese stärker zu erhöhen als
die Geschwindigkeit der intrinsikanten anodischen Reaktion.
Als Verfahren zum Erhöhen der kathodischen Reaktionsgeschwindigkeit
eignen sich die folgenden:
- (1) Erhöhen der Konzentration der auf die kathodische Reaktion wirkenden Badbestandteile, nämlich der Metallionen;
- (2) Zugabe eines Beschleunigers für die kathodische Reaktion, wie beispielsweise einer katalytischen oder depolarisierenden Verbindung; und
- (3) Vergrößern der für die kathodische Reaktion zur Verfügung stehenden Oberfläche, beispielsweise durch Reduzieren der vergiftenden Stoffe oder der Stabilisator-Konzentration, die beide die Oberfläche der Elektroden blockieren; das erreicht man durch Verdünnen der Badlösung mit frischer Badlösung oder durch eine Kohlebehandlung der Lösung. Dadurch werden die vergiftenden Stoffe, die die Oberfläche blockieren, entfernt. Ist die Konzentration der Metallionen zu hoch, kann es zu unkontrollierten Metallabscheidungen außerhalb der gewünschten Bezirke sowie zum Ausfällen des Kupfers in der Badlösung kommen. Bei den meisten stromlos Kupfer abscheidenden Badlösungen tritt dies oberhalb einer Kupferionen-Konzentration von 0,08 und 0,12 Mol/l ein.
Durch die während des Abscheidungsvorgangs gebildeten Nebenprodukte
und die möglicherweise eingeschleppten vergiftenden Stoffe
wächst normalerweise das Verhältnis r a/r c an. Es kann unter 1,0
gehalten werden, wenn die anodische und die kathodische Reaktionsgeschwindigkeit
erhöht werden oder wenn die intrinsikante
anodische Reaktionsgeschwindigkeit weniger stark ansteigt als die
kathodische. Die intrinsikante anodische Reaktionsgeschwindigkeit kann
erhöht werden, indem
- (1) die Konzentration des Reduktionsmittels (beispielsweise Formaldehyd) reduziert und gleichzeitig der pH-Wert erhöht wird, oder
- (2) die Konzentration des anodischen Depolarisators, beispielsweise heterozyklische aromatische Stickstoff- oder Schwefelverbindungen, erhöht wird.
Wird die Formaldehyd-Konzentration
zu stark reduziert, kann das Mischpotential (E mp) der Lösung auf 50
bis 200 mV ansteigen und die Badlösung wird passiv, d. h., es findet
keine Abscheidung statt. Häufig wird die Lösung bei einer höheren
Temperatur wieder aktiv. Es wurde festgestellt, daß zum Anheben der
anodischen Reaktionsgeschwindigkeit das Produkt aus der Konzentration
des Formaldehyds und der Quadratwurzel der Konzentration der
Hydroxidionen (CH₂O)(OH-)0,5, erhöht werden muß. Unabhängig davon, ob
die Formaldehyd-Konzentration erhöht, konstant gehalten oder reduziert
wird, ist die intrinsikante anodische Reaktionsgeschwindigkeit nur vom
Produkt (CH₂O)(OH-)0,5 abhängig.
Für bei höheren Temperaturen arbeitende Bäder kann die
Quadratwurzel der Konzentration der Hydroxidionen (OH-)0,5 aus dem pH-
Wert bei Zimmertemperatur (25°C) abgeleitet werden.
Für den Fall, daß durch das Bad vergiftende Stoffe die Abscheidungsgeschwindigkeit
verlangsamt und gleichzeitig die Qualität
des abgeschiedenen Kupfers durch zeitweilige Blockierung von Teilen
der Oberfläche herabgesetzt wird, muß der Abscheidungsstrom, der durch
die anodische Halbreaktion hervorgerufen wird, durch Erhöhung des pH-
Wertes gesteigert werden. Da dies die intrinsikante anodische
Reaktionsgeschwindigkeit erhöht, muß auch die Konzentration der
Kupferionen erhöht werden, um das Verhältnis der intrinsikanten
Reaktionsgeschwindigkeiten (r a/rc) auf den ursprünglichen Wert vor der
Vergiftung der Badlösung oder auf einen Wert unter 1,1
zurückzubringen.
Das Verhältnis der intrinsikanten Geschwindigkeit der anodischen
und der kathodischen Teilreaktionen wird durch Messen des
Strom/Potential-Verhältnisses in einem engen Potentialbereich
(beispielsweise zwischen -30 mV und +30 mV vom Mischpotential, E mp)
bestimmt. Dieses Verhältnis wird in zweifacher Weise verwendet. Beide
Verfahren lassen ähnliche Schlüsse auf die Qualität des abgeschiedenen
Kupfers zu.
Nach einem Verfahren wird der kathodische Strom, i c, bei einem
Potential, das 10 mV negativ bezogen auf das Mischpotential ist (das
ist das Überpotential, Eta = -10 mV gegen E mp) als Geschwindigkeit der
kathodischen Halbreaktion angenommen (r c) - 10 mV oder, vereinfacht, r c;
der anodische Strom, i a, wird bei einem Potential, das 10 mV positiv
gegenüber dem Mischpotential E mp ist (das ist das Überpotential Eta =
+10 mV gegen E mp) als Geschwindigkeit der anodischen Teilreaktion
angenommen (r a) + 10 mV oder, vereinfacht, r a.
Alternativ, mittels Computerverfahren, wird die intrinsikante
Geschwindigkeit der Halbreaktion nach der folgenden Formel bestimmt:
In dieser Formel ist r′ die Teilgeschwindigkeit, i j ist die
Stromdichte bei einem Überpotential, η j (Eta), bezogen auf das
Mischpotential, E mp, und E j wird berechnet aus dem Überpotential gegen
E mp, η j , (Eta), entsprechend der Gleichung
E j = 10( η j /b a) - 10(-η j /b c).
In dieser Gleichung sind b a und b c die Tafel-Steilheit. Für
eine elektrochemische Reaktion wurde bei Tafel die folgende Abhängigkeit
des Überpotentials, Eta, gefunden, wenn das Überpotential Eta
vom thermodynamischen Gleichgewicht gegen den Logarithmus des Stroms,
log i, aufgetragen wird:
η = a - b (log i).
In den meisten stromlosen Metallabscheidungslösungen gilt für
die anodische Reaktion
CH₂O + 2 OH- = HCOO- + H₂O + 1/2 H₂ + e-
die Konstante b a hat einen Wert von 940 mV/Dekade, und für die
kathodische Reaktion gilt
CuL n + 2 + 2e- = Cu⁰ + L n
b c hat den Wert 310 mV/Dekade.
Die kathodische Teilreaktionsgeschwindigkeit, r c′, wird nach
der Erfindung erhalten, indem die obige Gleichung auf einen Satz von
Paaren experimenteller Werte (i j, Ej) des kathodischen Potentialbereichs,
beispielsweise zwischen -30 mV gegen E mp zu E mp angewendet
wird. Entsprechend wird die anodische Teilreaktionsgeschwindigkeit,
r a′, erhalten, indem die o. g. Gleichung auf einen
Satz von Paaren experimenteller Werte des anodischen Potentialbereichs,
beispielsweise zwischen E mp zu E = +30 mV gegen E mp angewendet
wird.
Die zur Kalkulation der intrinsikanten Reaktionsgeschwindigkeit
verwendeten Ströme werden in einem Potentialbereich in der Nähe des
Mischpotentials E mp gemessen, beispielsweise zwischen 10 und 50 mV vom
Mischpotential. Hier können gewisse Ungenauigkeiten in der Bestimmung
der intrinsikanten Reaktionsgeschwindigkeiten auftreten, da die
Gleichung absolute Gültigkeit nur in unmittelbarer Nähe des
Mischpotentials aufweisen. Werden für eine bestimmte Lösung die
Überpotentiale und die Ströme überprüft, kann man feststellen, daß in
der Nähe des Mischpotentials das Überpotential von der Tafelgleichung
abweicht (semilogarithmisch). Die Strommessungen zur Bestimmung der
intrinsikanten anodischen und kathodischen Reaktionsgeschwindigkeiten
müssen in einem Bereich vorgenommen werden, in dem die
semilogarithmische Beziehung nicht linear ist. Dieser Bereich liegt
oft innerhalb +/-40 mV vom Mischpotential und ist von der
Zusammensetzung der Badlösung abhängig. Der zulässige Fehler hängt vom
festgesetzten Wert des Verhältnisses der intrinsikanten anodischen und
kathodischen Reaktionsgeschwindigkeiten ab und damit von der
Zusammensetzung der Badlösung.
Eine Vorrichtung zur Durchführung der erfindungsgemäßen elektrochemischen
Messungen von r a, r c, r a′ und r c′ ist in Fig. 1
dargestellt und besteht aus einer elektrochemischen Zelle (110), einem
Potentiostat mit Funktionsgenerator (120) und einem Recorder (130).
Für eine typische Messung wird eine Allglas-Zelle mit drei
Elektroden verwendet. Die Prüfelektrode besteht aus Platindraht (3,8 mm²;
Länge 2,0 mm, Durchmesser 0,6 mm) und die Hilfselektrode ist ein
Platinzylinder (10 mm²). Beide Elektroden sind mit einem Kupferüberzug
versehen. Die Abscheidung wurde in einer sauren Kupferlösung
(CuSO₄ · 5 H₂O - 188 g/l; H₂SO₄ - 74 g/l) bei 10 mA/cm² für 1,5 Minuten
durchgeführt. Als Referenzelektrode diente eine gesättigte Calomel-
Elektrode (SCE).
Die Testelektrode (111, Fig. 1), eine Hilfselektrode (112) und
eine Referenzelektrode (113) sind mit dem Potentiostat (120)
verbunden. Der Potentiostat mit dem Funktionsgenerator wurde mit
Gleichstrom für eine lineare Spannungsabtastung (LSV) verwendet. Die
Wellenform der Abtastung, wie in Fig. 2 gezeigt, hat einen linearen
Verlauf. Der Strom wird fortlaufend gemessen; hat das Potential seinen
Endwert erreicht, wird es auf diesem für kurze Zeit belassen und dann
auf den Ausgangswert, manuell oder automatisch, zurückgesetzt.
Eine stromlos Kupfer abscheidende Badlösung mit hoher Cu-Konzentration
und entsprechend hoher Dichte wurde hergestellt. Das
Verhältnis der molaren Konzentration des Formaldehyd-Reduktionsmittels
und des Kupfers betrug 0,67. Die Badlösung hatte die folgende
Zusammensetzung:
Kupfersulfat | |
0,12 Mol/l | |
Ethylendinitrilotetra-Essigsäure | 0,20 Mol/l |
Formaldehyd | 0,08 Mol/l |
pH (25°C) | 11,9 |
(CH₂O)(OH-)0,5 | 0,007 (m/l)1,5 |
Cyanid (Orion Elektrode) | 100 mV gegen SCE |
Vanadiumpentoxid | 5 mg/l |
Spez. Dichte | 1,124 |
Arbeitstemperatur | 75°C |
r a | 0,14 mA/cm² |
r c | 0,16 mA/cm² |
Verhältnis (r a/rc) | 0,88 |
r a′ | 1,13 mA/cm² |
r c′ | 1,96 mA/cm² |
Verhältnis (r a′/rc′) | 0,58 |
Nach dem Additiv-Verfahren hergestellte gedruckte Schaltungen
wurden in dieser Lösung mit einem Kupferüberzug versehen. Nach dem
Metallisieren wurden die Platten einem Hitzebelastungstest bei einer
Temperatur von 288°C für 10 Sekunden unterzogen. Es wurde keine
Rißbildung in der Kupferschicht festgestellt. Dies bestätigt die zuvor
beschriebene Theorie über das Verhältnis von intrinsikanter anodischer
zu kathodischer Reaktionsgeschwindigkeit.
Eine stromlos Kupfer abscheidende Arbeitsbadlösung wurde entsprechend
der unten gegebenen Zusammensetzung betrieben. Diese Zusammensetzung
liefert bekannterweise Kupferniederschläge hoher
Qualität. Nach längerem Badbetrieb hatten sich aber Nebenprodukte und
vergiftende Stoffe angesammelt, so daß sich das Verhältnis der
Reaktionsgeschwindigkeiten verändert hatte. Die elektrochemische
Analyse ergab ein Verhältnis von 1,1 und 1,05, was bedeutet, daß die
Lösung im Grenzbereich arbeitet. Die Abweichung des elektrochemisch
ermittelten Verhältnisses von dem guten Verhältnis hat ihre Ursache in
einem unbekannten vergiftenden Stoff in der Badlösung. Die in dieser
Badlösung hergestellten Schaltungsplatten wiesen nach dem
Hitzebelastungstest Risse in 20% der Lochwandmetallisierungen auf.
Das Bad hatte die folgende Zusammensetzung:
Kupfersulfat | |
0,028 Mol/l | |
EDTA | 0,076 Mol/l |
Formaldehyd | 0,049 Mol/l |
pH (25°C) | 11,6 |
(HCHO)(OH-)0,5 | 0,0031 |
Natriumcyanid (Orion Elektrode) | -100 mV gegen SCE |
Vanadiumpentoxid | 0,0012 g/l |
Spezif. Dichte (bei 25°C) | 1,094 |
Temperatur | 75°C |
r a | 0,33 mA/cm² |
r c | 0,30 mA/cm² |
Verhältnis | 1,10 |
r a′ | 2,87 mA/cm² |
r c′ | 2,74 mA/cm² |
Verhältnis′ | 1,05 |
Hitzebelastungstest | 20% Risse |
Um Kupferabscheidungen guter Qualität zu erzielen, die dem
Hitzebelastungstest standhalten, wurde eine ähnliche Badlösung
hergestellt, die einen pH von 11,9 und ein Verhältnis von Formaldehyd
zu Kupfer von 0,84 aufwies. Die Lösung hatte die folgende
Zusammensetzung:
Kupfersulfat | |
0,056 Mol/l | |
EDTA | 0,110 Mol/l |
Formaldehyd | 0,047 Mol/l |
pH (bei 25°C) | 11,9 |
(CH₂O)(OH-)0,5 | 0,0042 (Mol/l)1,5 |
Natriumcyanid (Orion Elektrode) | -100 mV gegen SCE |
Vanadiumpentoxid | 0,004 g/l |
Spezif. Dichte | 1,066 (bei 25°C) |
Temperatur | 75°C |
r a | 0,33 mA/cm² |
r c | 0,40 mA/cm² |
Verhältnis | 0,83 |
r a′ | 1,69 mA/cm² |
r c′ | 1,98 mA/cm² |
Verhältnis′ | 0,85 |
Hitzebelastungstest | keine Risse |
Da die Kupferabscheidung durch die anodische Reaktion gesteuert
wurde und die anodische Reaktionsgeschwindigkeit nur sehr wenig erhöht
wurde, wirkte sich die Verdoppelung der Kupferkonzentration auf die
Abscheidungsgeschwindigkeit verhältnismäßig wenig aus. Das Kupfer
wurde mit der gleichen Geschwindigkeit abgeschieden und nach 17
Stunden war eine Schicht von 35 Mikrometern Dicke abgeschieden.
Um die Abscheidungsgeschwindigkeit zu erhöhen, wurde, da die
Konzentration der kathodischen Reaktionspartner bereits verdoppelt
war, der pH Wert auf 12,2 erhöht. Die Veränderungen der Badzusammensetzung
sind nachstehend angegeben:
pH Wert (bei 25°C) | |
12,2 | |
(CH₂O)(OH-)0,5 | 0,006 (Mol/l)1,5 |
Natriumcyanid | -110 mV gegen SCE |
Spezif. Dichte | 1,070 (bei 25°C) |
r a | 0,47 mA/cm² |
r c | 0,49 mA/cm² |
Verhältnis | 0,96 |
r a′ | 5,02 mA/cm² |
r c′ | 5,30 mA/cm² |
Verhältnis′ | 0,95 |
Hitzebelastungstest | keine Risse |
Aus dieser Lösung wurde in weniger als 8 Stunden eine 35
Mikrometer dicke Kupferschicht hoher Qualität abgeschieden. Dieses
Beispiel zeigt, wie die Lehre nach der Erfindung angewendet werden
kann, um Kupferniederschläge hoher Qualität bei hohen Abscheidungsgeschwindigkeiten
zu erzielen.
In diesem Beispiel wurde eine Versuchslösung vorsätzlich vergiftet,
um zu zeigen, wie nach der Lehre nach der Erfindung die
Badlösung wieder brauchbar gemacht oder die Badparameter so eingestellt
werden können, daß aus einer Lösung, in der sich vergiftende
Stoffe angesammelt haben, wieder Kupferniederschläge hoher Qualität
abgeschieden werden können.
Zu diesem Zweck wurde eine Kupferabscheidungslösung
hergestellt, die sowohl Cyanid wie Vanadium als Stabilisatoren
enthielt. In der nachstehenden Tabelle ist diese Lösung mit A
bezeichnet. Die elektrochemische Analyse von Lösung A ergab ein
Verhältnis der intrinsikanten anodischen zur intrinsikanten
kathodischen Reaktionsgeschwindigkeit, r a′/rc′, von 1,1, was angibt,
daß aus dieser Lösung rißfreies Kupfer abgeschieden wird.
Die Lösung wurde absichtlich mit 1 mg/l 2-Merkaptobenzothiazol
(2-MBT) vergiftet. Durch diese Zugabe wurde die Lösung passiv, d. h.,
es wurde kein Kupfer mehr abgeschieden und das Mischpotential lag
außerhalb des Abscheidungsbereichs.
Entsprechend der bekannten Praxis in der Handhabung stromlos
arbeitender Bäder werden in einem solchen Fall der Formaldehydgehalt
und der pH-Wert erhöht, um das Mischpotential in den Abscheidungsbereich
zurückzuverschieden und die Kupferabscheidung wieder
in Gang zu bringen. Die Formaldehyd-Konzentration wird um bis das
dreifache und der pH-Wert durch Zugabe von Natriumhydroxid um eine
pH-Einheit erhöht. Weiterhin wurde zur Erhöhung der kathodischen
Reaktionsgeschwindigkeit Kupfer zugegeben. Die so aufbereitete
Badlösung ist in der Tabelle mit B bezeichnet. Obwohl durch diese
Maßnahmen die Abscheidung mit erhöhter Geschwindigkeit wieder in Gang
gesetzt wurde, betrug das Verhältnis von Formaldehyd zu Kupfer 2,5 und
lag damit wesentlich über dem Grenzwert von 1,2. Wie zu erwarten,
ergab die elektrochemische Analyse der intrinsikanten anodischen und
kathodischen Reaktionsgeschwindigkeiten ein Verhältnis, R′, das
wesentlich größer als 1,1 war und bedeutete, daß das abgeschiedene
Kupfer Risse und Sprünge aufweisen würde.
Um das Verhältnis der Reaktionsgeschwindigkeiten herabzusetzen,
wurde die Lösung mit der ursprünglichen Formaldehyd-Konzentration und
einem Formaldehyd/Kupfer-Verhältnis von 0,7 erneut angesetzt (Lösung
C). Damit wurde das Verhältnis, R′, auf weniger als 1,1 reduziert und
rißfreies Kupfer wurde abgeschieden.
Um ein möglichst günstiges Verhältnis, R′, der intrinsikanten
Reaktionsgeschwindigkeiten zu erzielen, wurde die Konzentration des
anodischen Reaktanten, Formaldehyd, weiter reduziert. Die erhaltene
Badlösung ist in der Tabelle mit D bezeichnet. Das Verhältnis von
intrinsikanter anodischer zu intrinsikanter kathodischer
Reaktionsgeschwindigkeit, R′, liegt unter 1,0; aus Lösung
D kann rißfreies Kupfer hoher Qualität abgeschieden werden.
Dieses Beispiel zeigt, daß unter bestimmten Umständen Merkaptobenzothiazol
als Beschleuniger oder Depolarisator wirkt, und mit
erhöhtem pH-Wert und höherer Kupferkonzentration und gleichbleibender
oder reduzierter Formaldehydkonzentration eine Erhöhung der
Abscheidungsgeschwindigkeit bei guter Qualität der abgeschiedenen
Kupferschicht erzielt werden kann. Die Abscheidungsgeschwindigkeiten
der Lösungen C und D mit dem Beschleuniger bzw. Depolarisator lagen
bei 4,0 und 3,3 Mikrometern pro Stunde.
Das Beispiel 3 wurde als Großversuch in einem Abscheidungsbehälter
wiederholt, der mit einer Steuervorrichtung für stromlos
Kupfer abscheidende Bäder ausgerüstet war, die ständig sämtliche
Arbeitsparameter der Badlösung wie Kupfer- und Formaldehyd-Konzentration,
pH-Wert, Cyanidionenaktivität und Temperatur mißt. Die
Steuervorrichtung vergleicht automatisch die gemessenen Werte mit den
Sollwerten und bewirkt entsprechende Zusätze, so daß die Badparameter
stets innerhalb der Sollgrenzen gehalten werden.
Es war geplant, die Badlösung über 6 Zyklen zu verwenden, wobei
1 Zyklus einer Kupfersalzgehalt-Ergänzung entspricht. Dies hätte die
Erhöhung der spezifischen Dichte der Lösung zur Folge gehabt durch die
Entstehung von Reaktionsnebenprodukten wie Natriumsulfat und
Natriumformat. Das Verhältnis von intrinsikanter anodischer zu
kathodischer Reaktionsgeschwindigkeit, R′, wurde durch
elektrochemische Analyse bestimmt und lag bei unter 1,0, was anzeigt,
daß der Kupferniederschlag eine gute Rißfestigkeit aufweisen würde.
Die Lösung wurde zur Herstellung von Leiterzügen und
Lochwandmetallisierungen bei der Produktion gedruckter Schaltungen
nach dem Volladditiv-Verfahren verwendet. Die fertigen Platten wurden
dem Hitzebelastungstest bei 288°C für 10 Sekunden ausgesetzt und
mittels Mikroschliffen überprüft. Weder die Leiterzüge noch die
Lochwandungen wiesen Risse auf.
Die Zusammensetzung der Badlösung ist in der nachstehenden
Tabelle angegeben.
Der gleichen Lösung, aus der rißfreies Kupfer abgeschieden
wurde, wurden nun vorsätzlich 0,5 mg/l 2-Merkaptobenzothiazol (2-MBT)
zugegeben, um den Vergiftungseffekt durch organische Stoffe auf die
Badlösung zu simulieren. Die Vergiftung von Badlösungen mit
organischen Stoffen ist ein häufig auftretendes Problem beim Arbeiten
mit stromlos Kupfer abscheidenden Bädern, insbesondere, wenn diese
über 5 und mehr Zyklen arbeiten sollen. Quellen für derartige
organische vergiftende Stoffe sind häufig die Trägerplatten, aus denen
während des Verweilens in der Badlösung organische Stoffe gelöst
werden, oder die Lötmaske. Die vergiftenden Stoffe können auch
zufällig aus der Umgebung eingeschleppt werden.
Nach Zugabe des vergiftenden Stoffes wurde die Badlösung
praktisch passiv, die Abscheidungsgeschwindigkeit betrug noch 0,03
Mikrometer/Stunde und an den Lochwandungen wurde überhaupt kein Kupfer
mehr abgeschieden. Das Verhältnis der intrinsikanten anodischen und
kathodischen Reaktionsgeschwindigkeiten, R′, betrug mehr als 1,1, so
daß - selbst wenn Kupfer auf den Lochwandungen abgeschieden würde -
dieses den Hitzebelastungstest nicht bestehen würde. Die
Zusammensetzung der Lösung ist weiter unten angegeben.
Entsprechend Beispiel 3 wurde in einer der Badlösung entnommenen
Probe der pH-Wert erhöht, um die Abscheidung zu aktivieren.
Außerdem wurde die Kupferkonzentration erhöht, um das Verhältnis R′
unter 1,1 zu bringen. Durch die Erhöhung der Kupferkonzentration
verringerte sich das Verhältnis von Formaldehyd zu Kupfer von 1,7 auf
0,85. Sobald das Verhältnis R′ der Probelösung unter 1,1 lag, wurden
die Sollwerte für die Kupferkonzentration und den pH-Wert in der
Badsteuervorrichtung neu eingestellt. In dieser Lösung wurde
erneut Kupfer auf Schaltungsplatten abgeschieden, das nach dem
Hitzebelastungstest vollständige Rißfreiheit aufwies.
Die Zusammensetzung sowie die Daten dieser Lösung sind ebenfalls
in der nachstehenden Tabelle angegeben.
In diesem Beispiel wurde eine passive, vergiftete Lösung wieder
aktiviert, und durch Einstellen der intrinsikanten kathodischen und
anodischen Reaktionsgeschwindigkeiten entsprechend der Erfindung wurde
qualitativ hochwertiges, rißfreies Kupfer abgeschieden. Die Zugabe von
2-MBT, einer heterozyklischen stickstoff- und schwefelhaltigen
Verbindung und die Erhöhung der Kupferkonzentration und des pH-Wertes
hatten ein Ansteigen der Abscheidungsgeschwindigkeit um 70% zur Folge.
In diesem Beispiel wurde rißfreies Kupfer aus einer stromlos
Kupfer abscheidenden Badlösung bei niedriger Temperatur abgeschieden.
Eine erste, bei 30°C stromlos Kupfer abscheidende Badlösung wurde
angesetzt. Die Formaldehydkonzentration war höher als bei Lösungen,
die bei 75°C arbeiten, was allgemeine Praxis bei Lösungen ist, die bei
Zimmertemperatur arbeiten. Das Verhältnis der Formaldehyd- zur
Kupferkonzentration betrug 2,4. Die Abscheidungsgeschwindigkeit lag
bei nur 25 Mikrometern in 72 Stunden. Die Zusammensetzung dieser
ersten Lösung ist in der nachstehenden Tabelle angegeben. Wie aus
dieser Tabelle ersichtlich, ist das Verhältnis der intrinsikanten
anodischen und kathodischen Reaktionsgeschwindigkeiten größer als 1,1
und die mit dieser Lösung hergestellten Kupferschichten hielten dem
Hitzebelastungstest nicht Stand.
Entsprechend der Lehre nach der Erfindung wurde die Konzentration des
Reduktionsmittels, Formaldehyd, reduziert, um die anodische
Reaktionsgeschwindigkeit relativ zur kathodischen Reaktionsgeschwindigkeit
herabzusetzen. Das Verhältnis der Formaldehyd-
zur Kupferkonzentration betrug 0,5. Die entstandene Abscheidungslösung
ist die zweite Lösung in der nachstehenden Tabelle.
Die zweite Lösung wurde zur Herstellung von gedruckten Schaltungen
mit 25 Mikrometer dicken Kupferleitern verwendet. Es ist
schwierig, eine stromlose Kupferabscheidung auf katalytischen
Haftvermittlerschichten oder auf katalytischem Basismaterial bei
niedrigen Temperaturen und bei einem niedrigen Formaldehydgehalt in
Gang zu setzen. Deshalb wird vor der additiven Abscheidung auf dem zu
metallisierenden Leiterzugmuster sowie auf den Lochinnenwandungen eine
dünne, etwa 0,2 Mikrometer dicke Kupferschicht aus einer hierfür
geeigneten Lösung abgeschieden, die eine Formaldehyd-Konzentration von
0,13 Mol/l aufweist.
Die mit der zweiten Lösung hergestellten Schaltungsplatten
bestanden den Hitzebelastungstest, was erneut beweist, daß bei
Aufrechterhaltung eines Formaldehyd/Kupfer-Verhältnisses im Abscheidungsbad
von weniger als 1,2 rißfreie Kupferschichten erzielt werden.
Claims (14)
1. Verfahren zum Betrieb einer ohne äußere Stromzufuhr arbeitenden
Metallisierungsbadlösung zum Abscheiden von praktisch
rißfreien Kupferschichten hoher Qualität, die Kupferionen, mindestens
einen Komplexbildner für diese, einen Bestandteil zum Einstellen des
pH-Wertes, ein Reduktionsmittel, einen Stabilisator und/oder
Duktilitätspromotor enthält, und die ein bestimmtes Verhältnis von
intrinsikanter anodischer zu intrinsikanter kathodischer
Reaktionsgeschwindigkeit aufweist, dadurch gekennzeichnet, daß zur
Kompensation des Einflusses von im Badbetrieb gebildeten Reaktions-
Nebenprodukten bzw. diesen und im normalen Badbetrieb eingeschleppten
Verunreinigungen die Konzentration der Kupferionen und der pH-Wert
derart erhöht werden, daß die Qualität der abgeschiedenen
Kupferschicht und damit deren Rißfreiheit aufrechterhalten wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die Kupferionen-Konzentration und der pH-Wert entsprechend erhöht und
die Konzentration des Reduktionsmittels entsprechend reduziert wird,
um so die Abscheidungsgeschwindigkeit praktisch konstant zu halten.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die Kupferionen-Konzentration und/oder der pH-Wert ausreichend erhöht
und die Konzentration des Reduktionsmittels entsprechend reduziert
werden, um so das Verhältnis von intrinsikanter anodischer zu
intrinsikanter kathodischer Reaktionsgeschwindigkeit auf oder unter
dem ursprünglich bestimmten Wert zu halten.
4. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß die Mol-Konzentration des Reduktionsmittels
derart gewählt wird, daß sie das 1,2fache der Kupferionen-
Mol-Konzentration nicht übersteigt.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß
die Konzentration des Reduktionsmittels derart eingestellt wird, daß
sie diejenige der Kupferionen nicht übersteigt.
6. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 5,
dadurch gekennzeichnet, daß das Reduktionsmittel Formaldehyd ist.
7. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet,
daß der Badlösung ein Beschleuniger zugesetzt wird, ausgewählt
aus
- (i) heterozyklischen aromatischen Stickstoff- und Schwefelverbindungen,
- (ii) nicht-aromatischen Stickstoffverbindungen mit mindestens einer delokalisierten pi-Bindung,
- (iii) aromatischen Aminen, sowie Mischungen aus den vorstehenden Verbindungen, und daß der pH-Wert auf mindestens 11,9, gemessen bei 25°C, eingestellt wird.
8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß
der pH-Wert auf mindestens 12,2, vorzugsweise auf 12,5 eingestellt
wird.
9. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet,
daß die Kupferionen-Konzentration und der pH-Wert ausreichend
erhöht werden, um das ursprünglich bestimmte Verhältnis der
intrinsikanten anodischen zur intrinsikanten kathodischen Reaktionsgeschwindigkeit
wieder herzustellen oder zu unterschreiten; und
daß die Konzentration des Reduktionsmittels ausreichend reduziert
wird, um so die ursprüngliche Abscheidungsgeschwindigkeit zu erzielen.
10. Badlösung zum außenstromlosen Abscheiden von Kupferschichten
hoher Qualität, die Kupferionen, einen Komplexbildner für
diese, einen Bestandteil zum Einstellen des pH-Wertes sowie einen
Stabilisator und/oder Duktilitätspromotor enthält, dadurch
gekennzeichnet, daß die Mol-Konzentration des Reduktionsmittels das
1,2fache der Mol-Konzentration der Kupferionen nicht übersteigt.
11. Badlösung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß
die Mol-Konzentration des Reduktionsmittels jene der Kupferionen nicht
übersteigt.
12. Badlösung nach den Ansprüchen 10 und 11, dadurch gekennzeichnet,
daß diese weiterhin einen Beschleuniger mit einer delokalisierten
pi-Bindung enthält, ausgewählt aus
- (i) heterozyklischen aromatischen Stickstoff- und Schwefelverbindungen,
- (ii) nichtaromatischen Stickstoffverbindungen mit mindestens einer delokalisierten pi-Bindung,
- (iii) aromatischen Aminen, sowie Mischungen aus den vorstehenden Verbindungen, und daß der pH-Wert auf mindestens 11,9, gemessen bei 25°C, eingestellt wird.
13. Badlösung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß
der pH-Wert mindestens 12,5 beträgt.
14. Badlösung nach den Ansprüchen 10 bis 13, dadurch gekennzeichnet,
daß das Reduktionsmittel Formaldehyd ist.
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