DE3810899A1 - Verfahren zur herstellung eines halbleiterlasers - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen eines
Halbleiterlasers gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs
1 und insbesondere ein Verfahren zum Herstellen eines Halb
leiterlasers, der innerhalb einer Informationsabtasteinheit
eines optischen Plattenabspielgeräts bzw. Compact-Disc-
Players zum Einsatz kommt.
Ein nach einem konventionellen Verfahren hergestellter
Halbleiterlaser ist in Fig. 2 gezeigt. Mit dem Bezugszei
chen 1 ist eine kreisförmige Montageplatte bezeichnet, die
einen Halbleiterlaserchip und einen SPD-Chip (sensitive
Photodiode) trägt. Ferner sind ein Kathodenanschluß 2 für
den Halbleiterlaserchip und ein Anodenanschluß 3 für den
SPD-Chip vorhanden. Eine Covar-Kappe 4 enthält ein für La
serlicht transparentes Fenster 5 und ist mit der kreis
förmigen Montageplatte 1 über eine ringförmige Buckel
schweißnaht verbunden. Ein Eisenblockständer 6, dessen
Oberfläche vergoldet ist, ist auf der kreisförmigen Monta
geplatte 1 angeordnet, und zwar im Inneren der Kappe 4. Der
auf der kreisförmigen Montageplatte 1 befestigte Eisen
blockständer 6 trägt einen Halbleiterlaserchip 7, wobei
zwischen dem Eisenblockständer 6 und dem Halbleiterlaser
chip 7 ein Siliciumunterteil 8 angeordnet ist. Mit dem Be
zugszeichen 9 ist ein Überwachungs-SPD-Chip bezeichnet, der
an einer vorbestimmten Position auf der Montageplatte 1 in
der Nachbarschaft des Halbleiterlaserchips 7 befestigt ist.
Die Montagefläche des SPD-Chips 9 liegt in einer Fläche,
die relativ zur Montageplatte 1 geneigt ist, so daß das re
flektierte Licht nicht auf den Halbleiterlaserchip 7 auf
treffen kann. Eine Linse 10 ist am Fenster 5 der Kappe 4
angebracht. Ein Draht 11, der z. B. aus Gold bestehen kann,
dient zur Verbindung des Halbleiterlaserchips 7 mit dem Ka
thodenanschluß 2, während ein anderer Draht 11′ den SPD-
Chip 9 mit dem Anodenanschluß 3 verbindet. Ein Anodenan
schluß für den Laserchip 7 trägt das Bezugszeichen 12.
Im folgenden wird die Herstellung dieses konventionellen
Halbleiterlasers im einzelnen beschrieben.
Zuerst wird der Blockständer 6 an einer bestimmten Position
auf der Montageplatte 1 (Grundplatte) befestigt. Dann wird
der Halbleiterlaserchip 7 am Blockständer 6 über das Sili
ciumunterteil 8 fest angebracht. Der SPD-Chip 9 (sensitive
Photodiode) wird auf seiner Montagefläche angeordnet, die,
wie bereits erwähnt, schräg zur Fläche der Montageplatte 1
verläuft. Im Anschluß daran werden der Halbleiterlaserchip
7 und der Kathodenanschluß 2 einerseits sowie der SPD-Chip
9 und der Anodenanschluß 3 andererseits über Leitungen 11,
11′ jeweils miteinander verbunden. Zuletzt wird die Kappe 4
auf der Montageplatte 1 befestigt, und zwar mittels einer
ringförmigen Buckelschweißnaht (ring projection welding),
um den Raum, in dem sich der Halbleiterlaserchip 7, der
SPD-Chip 9, und dergleichen, befinden, abzudichten.
Auf diese Weise wird der Halbleiterlaser erhalten. Seine
Herstellung ist jedoch kompliziert und teuer, da der Block
ständer 6, der Kathodenanschluß 2 und der Anodenanschluß 3
separate Teile bilden. Ferner befinden sich die jeweiligen
Verbindungs- bzw. Bondflächen in verschiedenen Ebenen, wäh
rend die Kappe 4 mit der Montageplatte 1 über eine Buckel
schweißnaht verbunden werden muß.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zu
schaffen, mit dessen Hilfe ein Halbleiterlaser bei verrin
gerter Montagearbeit und mit geringeren Kosten hergestellt
werden kann.
Die Lösung der gestellten Aufgabe ist im kennzeichnenden
Teil des Patentanspruchs 1 angegeben. Vorteilhafte Ausge
staltungen der Erfindung sind den Unteransprüchen zu ent
nehmen.
Kurzgefaßt wird nach der Erfindung ein Leitungsrahmen her
gestellt, der in seinem zentralen Bereich eine als An
schlußfläche dienende Leitung aufweist sowie zwei weitere
Leitungen, die an beiden Seiten der im Zentralbereich lie
genden Leitung angeordnet und mit dieser über Verbindungs
stege verbunden sind. Mit der im Zentralbereich des Lei
tungsrahmens liegenden Leitung werden ein Halbleiterlaser
chip und ein lichtempfangender Chip (lichtempfindliche Dio
de) verbunden. Die einzelnen Chips werden mit jeweils einer
der weiteren Leitungen verbondet. Anschließend werden Teile
dieser Leitungen sowie die Bonddrähte und beide Chips von
transparentem Kunststoffmaterial dicht eingegossen bzw. um
hüllt, um eine betriebssichere Anordnung zu erhalten. Ver
bindungsstege zur Verbindung der weiteren Leitungen mit der
im Zentralbereich liegenden Leitung des Leitungsrahmens
werden zertrennt bzw. herausgeschnitten.
Ein Halbleiterlaser nach der Erfindung wird nachfolgend an
hand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 die Art und Weise, in der ein Halbleiterlaser ge
mäß dem Verfahren nach der Erfindung hergestellt
wird, und
Fig. 2 eine perspektivische Ansicht eines konventionellen
Halbleiterlasers, der nach einem herkömmlichen
Verfahren hergestellt worden ist.
Die Erfindung wird nachfolgend unter Bezugnahme auf die
Fig. 1 näher beschrieben.
Entsprechend der Fig. 1 ist ein Leitungsrahmen 21 (lead
frame) vorhanden, der ein Metall enthält, z. B. Covar (Co-
VaRh-Legierung). Dieser Leitungsrahmen 21 weist eine Leitung
24 mit zwei plättchenförmigen Anschlußflächen 24 a, 24 b auf,
von denen eine zur Befestigung des Halbleiterlaserchips 22
und eine andere zur Befestigung des SPD-Chips 23 (sensitive
Photodiode) dient. Ferner gehören zum Leitungsrahmen 21
zwei Leitungen 26 und 27, von denen eine als Kathodenan
schluß für den Halbleiterlaserchip 22 und eine andere als
Anodenanschluß für den SPD-Chip 23 verwendet wird. Der Lei
tungsrahmen 21 läßt sich z. B. mit vorbestimmter Form durch
einen Stanzvorgang erzeugen. Drähte aus z. B. Gold sind mit
dem Bezugszeichen 28 versehen. Durch diese Drähte 28 werden
der Halbleiterlaserchip 22 und die Leitung 26 einerseits
sowie der SPD-Chip 23 und die Leitung 27 andererseits mit
einander verbunden. Eine transparente Verpackung bzw. Um
hüllung 29 enthält ein MG-18 Harz und wird von der Firma
Toray Hysole Co., Ltd. hergestellt. Durch diese Kunststoff
umhüllung 29 werden der Leitungsrahmen 21, der Halbleiter
laserchip 22, der SPD-Chip 23 und die Leitungen 26 und 27
dicht umschlossen.
Nachfolgend wird das Verfahren zur Herstellung dieses Halb
leiterlasers im einzelnen beschrieben.
Zuerst wird der Leitungsrahmen 21 hergestellt, der in sei
nem Zentralbereich die Leitung 24 mit den beiden plättchen
förmigen Anschlußflächen 24 a, 24 b und in seinen Seitenbe
reichen die beiden Leitungen 26 und 27 aufweist, wobei in
Fig. 1(a) die Leitung 26 links von der Leitung 24 liegt,
während die Leitung 27 rechts von der Leitung 24 angeordnet
ist. Beide Leitungen 26 und 27 sind mit der Leitung 24 über
Verbindungsstege 25 verbunden. Anschließend wird der Halb
leiterlaserchip 22 auf der plättchenförmigen Anschlußfläche
24 b angeordnet, während der SPD-Chip 23 auf der plättchen
förmigen Anschlußfläche 24 a befestigt wird. Danach wird die
Leitung 24 des Leitungsrahmens 21 verbogen bzw. abgeknickt,
so daß die Montagefläche 24 a für den SPD-Chip 23 unter ei
nem vorbestimmten Winkel relativ zur Montagefläche 24 b für
den Halbleiterlaserchip 22 zu liegen kommt, wie in Fig.
1(c) gezeigt ist. Gemäß Fig. 1(c) wurde die plättchenförmi
ge Anschlußfläche 24 a abgewinkelt. Bei dem in Fig. 1(b)
oder 1(c) gezeigten Zustand ist der SPD-Chip 23 mit der
Leitung 27 verbunden, während der Halbleiterlaserchip 22
mit der Leitung 26 verbunden ist. Die jeweiligen Bereiche
der Leitungen 26 und 27, die Leitungen 28, der Halbleiter
laserchip 22 und der SPD-Chip 23 werden zuletzt von einem
transparenten Material 29 dicht umschlossen, beispielsweise
unter Anwendung eines Spritzpreßverfahrens. Die Verbin
dungsstege 25 des Leitungsrahmens 21 werden zerschnitten
bzw. herausgeschnitten.
Beim Ausführungsbeispiel nach der Erfindung sind der Halb
leiterlaserchip 22 und der SPD-Chip 23 mit demselben Lei
tungsrahmen 21 verbunden. Die jeweiligen Drahtbondoberflä
chen liegen in derselben Ebene. Hierdurch wird beim Draht
bonden eine größere Zuverlässigkeit erzielt, was zu einem
effizienteren Herstellungsverfahren führt.
Entsprechend dem zuvor beschriebenen Ausführungsbeispiel
sind der Halbleiterlaserchip 22, der SPD-Chip 23 und die
Leitungen 26 und 27 vom transparenten Kunststoffmaterial 29
dicht eingeschlossen, worauf die Erfindung allerdings nicht
beschränkt ist. Ferner kann die Oberfläche der transparen
ten Umhüllung 29 eine konkave Form aufweisen, so daß der
Laser auch mit einer Linsenfunktion ausgestattet ist. Die
Anzahl der Bauteile läßt sich auf diese Weise weiter ver
ringern.
Die SPD-Chip-Montagefläche 24 a der Leitung 24 wird beim
obigen Ausführungsbeispiel abgewinkelt, nachdem der Halb
leiterlaserchip 22 und der SPD-Chip 23 mit dem Leitungsrah
men 21 verbunden worden sind. Die Montagefläche 24 a kann
jedoch auch abgewinkelt werden, bevor die Chips 22 und 23
montiert werden.
Es wurde erwähnt, daß die transparente Umhüllung 29 mittels
eines Spritzpreßverfahrens (transfer molding method) herge
stellt werden kann. Es ist aber auch möglich, die transpa
rente Umhüllung 29 durch ein Gießverfahren herzustellen
(potting method).
Entsprechend der Erfindung wird ein Leitungsrahmen herge
stellt, der in seinem Zentralbereich eine Leitung mit zwei
plättchenförmigen Anschlußflächen aufweist, und der zwei
weitere Leitungen besitzt, die über Verbindungsstege mit
der im Zentralbereich liegenden Leitung verbunden sind. Die
beiden weiteren Leitungen liegen jeweils an einer Seite der
im Zentralbereich liegenden Leitung. Ein Halbleiterchip und
ein Licht empfangender Chip werden mit der Zentralleitung
bzw. ihren plättchenförmigen Anschlußflächen verbunden, wo
bei jeweils ein Chip über einen Leitungsdraht mit einer der
weiteren Leitungen verbunden wird. Anschließend werden
Teile der genannten Leitungen, die Drähte und beide Chips
von einem transparenten Material dicht abgekapselt, wobei
das transparente Material z. B. ein Harz bzw. Kunststoff
oder dergleichen sein kann. Die Verbindungsstege des Lei
tungsrahmens werden dann zerschnitten bzw. herausgetrennt.
Es ist somit nicht mehr erforderlich, separat einen Block
ständer, einen Kathodenanschluß und einen Anodenanschluß
vorzusehen, wie dies beim Stand der Technik der Fall ist.
Ferner ist es nach der Erfindung möglich, die jeweiligen
Drahtbondoberflächen in derselben Ebene anzuordnen, was zu
einer Vereinfachung des Herstellungsverfahren und zu einer
Kostenreduzierung führt. Ferner können bei Verwendung des
Leitungsrahmens gleichzeitig mehrere transparente Umhüllun
gen erzeugt werden. Es ist möglich, den Leitungsrahmen in
einer Ebene vielfach vorzusehen, so daß eine Vielzahl von
zusammenhängenden Halbleiterlasern gleichzeitig hergestellt
werden kann. Nach Fertigstellung der Halbleiterlaser und
Umhüllung der jeweiligen Bereiche mit dem transparenten Ma
terial kann dann der Leitungsrahmen in entsprechender Weise
zerschnitten werden, um einzelne Halbleiterlaser zu erhal
ten.
Claims (7)
1. Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterlasers,
gekennzeichnet durch:
- - einen Prozeß zur Herstellung eines Leitungsrahmens (21), der in seinem Zentralbereich eine als Anschlußfläche die nende Leitung (24) und zwei weitere Leitungen (26, 27) aufweist, die an beiden Seiten der im Zentralbereich lie genden Leitung (24) angeordnet und mit dieser über Ver bindungsstege (25) verbunden sind,
- - einen Prozeß zur Montage eines Halbleiterlaserchips (22) und eines lichtempfangenden Chips (23) auf der im Zen tralbereich liegenden Leitung (24) des Leitungsrahmens (21),
- - einen Prozeß zur Verbindung des Halbleiterlaserchips (22) und des lichtempfangenden Chips (23) mit jeweils einer der weiteren Leitungen (26, 27) über Drähte (28),
- - einen Prozeß zur dichten Umhüllung von Teilen der Leitun gen (24, 26, 27), der Drähte (28) und beider Chips (22, 23) mit transparentem Material (29), und
- - einen Prozeß zum Herausschneiden bzw. Zerschneiden der Verbindungsstege (25) des Leitungsrahmens (21).
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Oberfläche der transparenten Umhüllung (29) eine
konkave Form aufweist.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß die transparente Umhüllung (29) durch ein
Spritzpreßverfahren hergestellt wird.
4. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß die transparente Umhüllung (29) durch ein
Gieß- bzw. Vergußverfahren hergestellt wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß der Halbleiterlaserchip (22) und der
lichtempfindliche Chip (23) auf zwei verschiedenen, plätt
chenförmigen Anschlußflächen (24 b, 24 a) der im Zentralbe
reich liegenden Leitung (24) angeordnet werden, und daß
beide Anschlußflächen (24 b, 24 a) durch Abbiegen wenigstens
einer dieser Anschlußflächen relativ zueinander geneigt
werden.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet,
daß diejenigen Anschlußflächen (24 a), die den lichtempfan
genden Chip (23) (photoempfindliche Diode) trägt, aus der
Ebene des Leitungsrahmens (21) herausgekippt wird.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch
gekennzeichnet, daß mehrere Leitungsrahmen (21) zusammen
hängend in einer Ebene nebeneinanderliegend erzeugt und
nach Bildung der transparenten Umhüllungen (29) zur Er
zeugung einzelner Laser entsprechend zertrennt werden.
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---|---|
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0366472A2 (de) * | 1988-10-28 | 1990-05-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Halbleiterlaser-Vorrichtung |
EP0607700A3 (de) * | 1992-12-24 | 1994-11-30 | Sharp Kk | Halbleiterlaservorrichtung. |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03109362U (de) * | 1990-02-26 | 1991-11-11 | ||
JPH03274781A (ja) * | 1990-03-23 | 1991-12-05 | Rohm Co Ltd | レーザダイオード |
US5966230A (en) * | 1990-05-29 | 1999-10-12 | Symbol Technologies, Inc. | Integrated scanner on a common substrate |
US5156999A (en) * | 1990-06-08 | 1992-10-20 | Wai-Hon Lee | Packaging method for semiconductor laser/detector devices |
US5485479A (en) * | 1990-11-07 | 1996-01-16 | Fuji Electric Co., Ltd. | Semiconductor laser device encapsulated in a transparent resin layer |
US5319182A (en) * | 1992-03-04 | 1994-06-07 | Welch Allyn, Inc. | Integrated solid state light emitting and detecting array and apparatus employing said array |
US5389578A (en) * | 1994-01-04 | 1995-02-14 | Texas Instruments Incorporated | Optical coupler |
US5808325A (en) * | 1996-06-28 | 1998-09-15 | Motorola, Inc. | Optical transmitter package assembly including lead frame having exposed flange with key |
EP0851414A3 (de) * | 1996-12-26 | 2000-09-27 | Sanyo Electric Co. Ltd | Optische Abtastvorrichtung und Abspielgerät |
JP2001034983A (ja) * | 1999-07-14 | 2001-02-09 | Sankyo Seiki Mfg Co Ltd | 光ピックアップ装置用受発光素子 |
US6577656B2 (en) | 2001-03-13 | 2003-06-10 | Finisar Corporation | System and method of packaging a laser/detector |
JP2003031885A (ja) * | 2001-07-19 | 2003-01-31 | Toshiba Corp | 半導体レーザ装置 |
JP3987716B2 (ja) * | 2001-12-10 | 2007-10-10 | シャープ株式会社 | 半導体レーザ装置およびその製造方法 |
WO2007118364A1 (fr) * | 2006-04-19 | 2007-10-25 | Topson Optoelectronics Semi Co | Structure d'éclairage décorative à led |
FR2910286B1 (fr) * | 2006-12-20 | 2009-04-17 | Oreal | Composition comprenant des composes silicones encapsules |
US9166131B2 (en) * | 2013-07-17 | 2015-10-20 | Tai-Yin Huang | Composite LED package and its application to light tubes |
CN114696209A (zh) * | 2020-12-28 | 2022-07-01 | 新光电气工业株式会社 | 半导体封装用管座 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AT270766B (de) * | 1966-05-10 | 1969-05-12 | Siemens Ag | Photoelektronisches Bauelement |
US3660669A (en) * | 1970-04-15 | 1972-05-02 | Motorola Inc | Optical coupler made by juxtaposition of lead frame mounted sensor and light emitter |
US3727064A (en) * | 1971-03-17 | 1973-04-10 | Monsanto Co | Opto-isolator devices and method for the fabrication thereof |
GB1565550A (en) * | 1975-12-04 | 1980-04-23 | Siemens Ag | Optoelectronic couplers |
DE3429255A1 (de) * | 1983-08-08 | 1985-02-28 | Hitachi Iruma Electronic Co., Ltd., Iruma, Saitama | Licht emittierende vorrichtung und ein sie einsetzendes optisches signalverarbeitungssystem |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3264712A (en) * | 1962-06-04 | 1966-08-09 | Nippon Electric Co | Semiconductor devices |
US3611061A (en) * | 1971-07-07 | 1971-10-05 | Motorola Inc | Multiple lead integrated circuit device and frame member for the fabrication thereof |
GB1557685A (en) * | 1976-02-02 | 1979-12-12 | Fairchild Camera Instr Co | Optically coupled isolator device |
JPS588968U (ja) * | 1981-07-13 | 1983-01-20 | 日本インタ−ナシヨナル整流器株式会社 | 半導体素子用リ−ドフレ−ム |
US4641418A (en) * | 1982-08-30 | 1987-02-10 | International Rectifier Corporation | Molding process for semiconductor devices and lead frame structure therefor |
JPS6063977A (ja) * | 1983-09-17 | 1985-04-12 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体レ−ザ装置 |
JPS63136684A (ja) * | 1986-11-28 | 1988-06-08 | Hitachi Ltd | 光電子装置およびその製造方法ならびにその方法に用いるリ−ドフレ−ム |
-
1987
- 1987-03-31 JP JP62079935A patent/JPH0691296B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1988
- 1988-01-05 KR KR1019880000010A patent/KR910007042B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1988-03-30 DE DE3810899A patent/DE3810899A1/de active Granted
- 1988-03-30 US US07/175,356 patent/US4877756A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AT270766B (de) * | 1966-05-10 | 1969-05-12 | Siemens Ag | Photoelektronisches Bauelement |
US3660669A (en) * | 1970-04-15 | 1972-05-02 | Motorola Inc | Optical coupler made by juxtaposition of lead frame mounted sensor and light emitter |
US3727064A (en) * | 1971-03-17 | 1973-04-10 | Monsanto Co | Opto-isolator devices and method for the fabrication thereof |
GB1565550A (en) * | 1975-12-04 | 1980-04-23 | Siemens Ag | Optoelectronic couplers |
DE3429255A1 (de) * | 1983-08-08 | 1985-02-28 | Hitachi Iruma Electronic Co., Ltd., Iruma, Saitama | Licht emittierende vorrichtung und ein sie einsetzendes optisches signalverarbeitungssystem |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0366472A2 (de) * | 1988-10-28 | 1990-05-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Halbleiterlaser-Vorrichtung |
EP0366472A3 (en) * | 1988-10-28 | 1990-12-05 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Semiconductor laser apparatus |
US5068866A (en) * | 1988-10-28 | 1991-11-26 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Semiconductor laser apparatus |
EP0607700A3 (de) * | 1992-12-24 | 1994-11-30 | Sharp Kk | Halbleiterlaservorrichtung. |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4877756A (en) | 1989-10-31 |
JPS63244895A (ja) | 1988-10-12 |
KR880011939A (ko) | 1988-10-31 |
JPH0691296B2 (ja) | 1994-11-14 |
DE3810899C2 (de) | 1993-06-24 |
KR910007042B1 (ko) | 1991-09-16 |
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