DE3536245C2 - Verfahren zur automatischen Bereichskontrolle für eine Meßvorrichtung für die optische Dichte oder den Rasterpunkt-Flächenanteil - Google Patents
Verfahren zur automatischen Bereichskontrolle für eine Meßvorrichtung für die optische Dichte oder den Rasterpunkt-FlächenanteilInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur automatischen
Bereichskontrolle für eine Meßvorrichtung für die optische Dichte oder
den Rasterpunkt-Flächenanteil, bei welchem mit Hilfe eines
photoelektrischen Wandlerelements Licht, das von einem zu messenden
Gegenstand abgegeben oder reflektiert wird, in einen lichtelektrischen
Strom umgewandelt wird, bei welchem mit Hilfe eines
Operationsverstärkers der lichtelektrische Strom in ein Spannungssignal
umgewandelt und verstärkt wird, bei welchem mit Hilfe eines
Analog/Digital-Wandlers dieses Spannungssignal von einem Analogwert
in einen Digitalwert umgewandelt wird, bei welchem mit Hilfe einer
Operations-Steuereinheit in Abhängigkeit von dem Digitalsignal
Wiedergabedaten ausgegeben werden, und bei welchem mit Hilfe eines
Verstärkungs-Schaltkreises mit mehreren Rückführwiderständen und
Analogschaltern zwischen den Eingangs- und Ausgangsklemmen des
Operationsverstärkers ein Meßbereich geschaltet wird.
Die Erfindung betrifft ferner eine Vorrichtung zum Messen der
optischen Dichte oder des Rasterpunkt-Flächenanteils mit einem
photoelektrischen Wandlerelement für eine photoelektrische Umwandlung
von Licht in einen lichtelektrischen Strom, das von einem zu
messenden Gegenstand abgegeben oder reflektiert wird, mit einem
Operationsverstärker für die Umwandlung des lichtelektrischen Stromes
in ein Spannungssignal für die Verstärkung eines Spannungssignals,
mit einem Analog/Digital-Wandler für die Umwandlung des
Spannungssignals von einem Analogwert in einen Digitalwert, mit einer
Operationseinheit für die Ausgabe eines die anzuzeigenden Daten
darstellenden Datensignals in Abhängigkeit von dem Digitalsignal, mit
einer Wiedergabevorrichtung zur Wiedergabe der Daten und mit einem
Verstärkungsschaltkreis mit mehreren zwischen die Eingangs- und
Ausgangsklemmen des Operationsverstärkers geschalteten
Rückführwiderständen, wobei die Analogschalter jeweils mit den
Rückführwiderständen verbunden sind.
Ein Meßgerät für die optische Dichte ist ein In
strument, welches die Intensitäten einer Lichtquelle für
die Bestrahlung eines Probestückes und eines von diesem
Probestück übertragenen oder reflektierten Lichtes wieder
gibt. Im allgemeinen wird das von einem Probestück wieder
gegebene Licht durch ein photoelektrisches Wandlerelement
in ein elektrisches Signal umgewandelt. Das elektrische Sig
nal wird dann durch entweder eine analoge Vorrichtung oder
durch eine digitale Vorrichtung, wie einem Mikrocomputer,
in einen Dichtewert umgewandelt, nachdem das elektrische
Signal von einem Analogsignal in ein Digitalsignal umgewan
delt worden ist. Der Dichtewert wird daraufhin angezeigt.
Ein Meßgerät für den Rasterpunkt-Flächenanteil ist ein
Instrument, welches eine Abstufung (Gesamtdichte) mißt,
die von einer Änderung in den Rasterpunktbereichen mißt,
und zwar in Abhängigkeit von der Messung der Übertragung
oder Reflexion von einem zu messenden Probestück. Optische
Dichtemesser und Meßgeräte für den Rasterpunkt-Flächenanteil
können im allgemeinen verwendet werden, wenn für die jewei
ligen Meßgeräte verschiedene Berechnungsverfahren für die
wiederzugebenden Werte verwendet werden. Es soll zuerst
ein optisches Dichtemeßgerät und anschließend ein Raster
punkt-Flächenanteil-Meßgerät erläutert werden. Für einen
optischen Dichtemesser ist es erforderlich, die Lichtmenge
über einen weiten optischen Dichtebereich zu messen. Des
halb ist ein Verstärker mit programmierbarer Verstärkung
zwischen einem photoelektrischen Umwandlungselement und
einem Analog/Digital-Wandler vorgesehen, um ein kleines
Eingangssignal zu verstärken darauf das verstärkte Analog
signal in ein Digitalsignal umzuwandeln. Dies ist eines der
Verfahren zur Sicherstellung der Genauigkeit der Analog/
Digital-Umwandlung.
Fig. 4 ist ein Blockschaltbild, welches ein Bei
spiel einer solchen Meßvorrichtung für die optische Dichte
zeigt. Ein System, welches einen Fühler, einen Verstärker
mit programmierbarer Verstärkung, einen Analog/Digital-
Wandler und einen Mikrocomputer enthält, ist allgemein be
kannt. Beispielsweise ist ein Analog/Digital-Wandler bekannt.
Ein solches System enthält einen Analog-Multiplexor, einen
Verstärker mit programmierbarer Verstärkung, einen Probe
stück-Haltekreis, einen Analog/Digital-Wandler und eine
Zentraleinheit CPU. Durch Entfernung des Analog-Multiplexors
und den Probestück-Haltekreis und durch Hinzufügung einer
Lichtquelle, eines photoelektrischen Wandlerelements 11, eines
Vorverstärkers 12 und einer Wiedergabevorrichtung 16 kann
eine übliche optische Dichte-Meßvorrichtung, wie sie in Fig. 4
gezeigt ist, hergestellt werden, wobei das auf dem Markt zur
Verfügung stehende obengenannte System verwendet wird. Angenom
men, daß der Dichte-Meßbereich der Meßvorrichtung für die
optische Dichte der vorgenannten Art 0,0 bis 4,0 beträgt,
wird der Verstärkungsschaltbereich des Verstärkers 13 mit
programmierbarer Verstärkung X1 bis X1000. Mit einem so
weiten Bereich der Verstärkungsschaltung wird üblicherweise
eine Abweichung der Ausgangsspannung des Vorverstärkers 12
auch von dem Verstärker 13 mit programmierbarer Verstärkung
verstärkt. Um somit eine sehr genaue Messung sicherzustellen,
muß der Vorverstärker 12 eine hohe Präzision aufweisen, was
zu einem teueren Vorverstärker 12 führt.
Fig. 5 ist eine Schaltungsdarstellung, die ein
Beispiel eines üblichen Bereichs-Schaltkreises zeigt. Der
oben erwähnte Nachteil der Meßvorrichtung für die optische
Dichte gilt auch für einen Nachteil, der einem Beleuchtungs
messer anhaftet, während dessen Bereich geschaltet wird.
Eines der bekannten Verfahren zur Lösung dieses Problems
ist die Verwendung des Bereichs-Schaltkreises nach Fig. 5
(s. "Practical Electronic Circuit Handbook" (veröffent
licht durch CQ Publishing Co.Ltd. im Oktober 1975)). Die
Bereichsumschaltung des Kreises erfolgt durch Änderung des
Wertes eines Rückführwiderstandes 17 eines Vorverstärkers
12 mit Hilfe eines Bereichsschalters 18, und zwar ohne Ver
stärkung einer Abweichungsspannung des Vorverstärkers 12.
Jedoch wird ein Vormagnetisierungsstrom des Vorverstärkers
12 verstärkt, so daß ein Verstärker mit FET-Transistoren
und einem kleinen Vormagnetisierungsstrom als Vorverstärker
12 verwendet werden sollte.
Fig. 6 ist ein Schaltbild, welches ein Beispiel
einer üblichen Meßvorrichtung für die optische Dichte zeigt,
welcher der Bereichsumschaltekreis nach Fig. 5 zugeordnet ist.
Diese übliche Vorrichtung ist ein optischer Dichtemesser,
wie er in der ungeprüften japanischen Patentveröffentlichung
Nr. 56-79946 und GB-A 2064760 veröffentlicht worden ist. Dieses Meßgerät
enthält ein photoelektrisches Wandlerelement 11, einen Opera
tionsverstärker 19, einen Analog/Digital-Wandler 20, eine
Operations-Verarbeitungsschaltung 21, eine Wiedergabevorrich
tung 22, eine Rückführ-Widerstandsgruppe 23 (23a bis 23d)
und eine Analog-Schaltgruppe 24 (24a bis 24d). In
diesem Falle ist aber ein Analog-Schalter nicht ideal, sondern
er hat einen Leckstrom auch in einem Sperrzustand, und er
erzeugt einen Fehler bei der Messung. Dieser Meßfehler nimmt
im wesentlichen in Abhängigkeit von der Anzahl an Schaltern zu.
Um diesen Meßfehler zu verringern, wird ein Analogschalter
mit idealer Charakteristik benötigt, der keinen Leckstrom
und einen Einschaltwiderstand 0 und einen Ausschaltwiderstand
Unendlich aufweist. Aus diesem Grunde ist es erforderlich,
einen sehr teueren Analogschalter zu verwenden. Infolge
dessen sollte die Anzahl an Analogschaltern, die in einer
Meßvorrichtung für die optische Dichte verwendet werden,
im Hinblick auf die Verbesserung der Meßgenauigkeit der
Verkleinerung der Abmessungen und Verringerung der Kosten
möglichst klein sein.
Unabhängig von den obigen Problemen sind die meisten
üblichen Meßgeräte für die optische Dichte bzw. den Raster
punkt-Flächenanteil festmontierte Geräte unter Verwendung
einer stabilen Lichtquelle, deren Flimmern oder Änderung
vernachlässigt werden kann, und zwar aufgrund der Verwendung
einer Halogenlampe, die aus einer stabilisierten Spannungs
quelle gespeist wird. Deshalb sind diese üblichen Meßgeräte
für die Verwendung in einem üblichen Leuchttisch als Licht
quelle nicht geeignet, und sie können nicht als tragbare op
tische Dichte-Meßvorrichtungen oder Meßvorrichtungen für
den Rasterpunkt-Flächenanteil verwendet werden, und zwar auf
grund der großen Anzahl an Schaltelementen und der großen
Außenabmessung.
Unter den Meßgeräten zur Messung des Rasterpunkt-
Flächenanteiles dieser Art ist ein Meßgerät bekannt, das
von der Anmelderin entwickelt worden ist und das dazu dient,
den Rasterpunkt-Flächenanteil eines Druckoriginalfilmes zu
messen. Ein solches Gerät ist in Fig. 9 gezeigt. Dieses
Meßgerät ist anstelle des üblichen Meßgerätes mit fester
Montage entwickelt worden, und es ist so ausgebildet, daß
es eine kompakte Bauweise auf
weist und tragbar ist. Dieses Meßgerät zum Messen des Raster
punkt-Flächenanteiles kann infolgedessen für die Messung
an irgendeiner Stelle verwendet werden, sofern ein Leucht
tisch zur Verfügung steht.
Da aber der Leuchttisch fest montiert ist, kann
das Meßgerät zum Messen des Rasterpunkt-Flächenanteiles
nicht von seiner tragbaren Natur Gebrauch machen, und es
ist der Meßort beschränkt.
Ziel der Erfindung ist die Schaffung eines wirksa
men Bereichsschaltverfahrens für ein tragbares Meßgerät für
die optische Dichte/den Rasterpunkt-Flächenanteil, das als
Lichtquelle einen üblichen Leuchttisch verwenden kann, eine
Messung mit hoher Präzision liefert, und zwar auch unter den
Bedingungen eines Flimmerns der Lichtquelle aufgrund der
kommerziellen Netzfrequenz oder einer Lichtmengenänderung
aufgrund einer Änderung der Lage, wobei die Anzahl der Kom
ponenten verringert ist.
Ferner soll durch die Erfindung eine kompakte Licht
quellenanordnung geschaffen werden, die für die Verwendung
in Kombination mit einem tragbaren Meßgerät für den Raster
punkt-Flächenanteil geeignet ist.
Bei der tragbaren Meßvorrichtung für die optische
Dichte/den Rasterpunkt-Flächenanteil nach der Erfindung er
möglicht die Verwendung eines Tiefpaßfilters und einer be
sonderen automatischen Steuervorrichtung die Verwendung eines
üblichen Leuchttisches als Lichtquelle. Das automatische Meß
bereichs-Steuerverfahren nach der Erfindung ermöglicht es,
die Anzahl an Meßbereichsschaltungen zu verringern und die
Gesamtmeßzeit zu verkürzen. Infolgedessen kann die durch
eine Änderung des Meßortes hervorgerufene Änderung der Licht-
Menge leicht kompensiert werden. Ferner kann die Ansprechver
zögerungszeit aufgrund der Verwendung eines Tiefpaßfilters
wiedergewonnen werden, und es kann die Anzahl an Komponenten
verringert werden.
Dies wird erfindungsgemäß bei einem Verfahren der eingangs
genannten Art dadurch erreicht, daß mit Hilfe eines Tiefpaßfilters eine
Wechselstromkomponente des Spannungssignals vom
Operationsverstärker ausgeschaltet wird, daß das Spannungssignal
des Tiefpaßfilters mit Hilfe des Analog/Digital-Wandlers von einem
Analogwert in einen Digitalwert umgewandelt wird und daß die
Operationssteuereinheit die Schaltsteuersignale an den
Verstärkungsschaltkreis so ausgibt, daß die Operationssteuereinheit in
Abhängigkeit von einem Wert Vi, welcher durch die
Analog/Digital-Umwandlung eines gemessenen Wertes bei einer gegebenen
Verstärkung Gi einen Wert Ii = Vi/Gi in Abhängigkeit davon errechnet,
welcher von mehreren vorbestimmten Bereichen dem Wert Ii entspricht,
eine Verstärkung G + 1 auswählt und, wenn die Verstärkung Gi + 1
mit der Stromverstärkung übereinstimmt, der Wert Ii zu einem
gemessenen Höchstwert gemacht wird, während dann, wenn die
Verstärkung Gi + 1 nicht mit der Stromverstärkung Gi übereinstimmt,
durch eine Analog/Digital-Umwandlung des gemessenen Wertes bei der
Verstärkung Gi + 1 ein Wert Vi erhalten wird, um einen Wert Ii + 1 =
(Vi + 1) / (Gi + 1) zu errechnen, wobei ähnliche Vorgänge wiederholt
werden, bis eine Übereinstimmung erreicht ist.
Gegenstand der Erfindung ist ferner eine Vorrichtung zum Messen der
optischen Dichte oder des Rasterpunkt-Flächenanteils mit einem
photoelektrischen Wandlerelement für eine photoelektrische Umwandlung
von Licht in einen lichtelektrischen Strom, das von einem zu
messenden Gegenstand abgegeben oder reflektiert wird, mit einem
Operationsverstärker für die Umwandlung des lichtelektrischen Stromes
in ein Spannungssignal für die Verstärkung eines Spannungssignals,
mit einem Analog/Digital-Wandler für die Umwandlung des
Spannungssignals von einem Analogwert in einen Digitalwert, mit einer
Operationssteuereinheit für die Ausgabe eines die anzuzeigenden Daten
darstellenden Datensignals in Abhängigkeit von dem Digitalsignal, mit
einer Wiedergabevorrichtung zur Wiedergabe der Daten und mit einem
Verstärkungsschaltkreis mit mehreren Rückführwiderständen, die
parallel zwischen den Eingangs- und Ausgangsklemmen des
Operationsverstärkers geschaltet sind, wobei die Analogschalter jeweils
mit den Rückführwiderständen verbunden sind, wobei ein Tiefpaßfilter
zum Ausschalten einer Wechselstromkomponente des Spannungssignals
vom Operationsverstärker vorgesehen ist, wobei für die Umwandlung
des Spannungssignals vom Tiefpaßfilter von einem Analogwert in einen
Digitalwert der Analog/Digital-Wandler vorgesehen ist, und wobei die
Operationssteuereinheit für die Ausgabe von Schaltsteuersignalen für
die Ein-Aus-Steuerung der Analogschalter vorgesehen ist, wobei die
Analogschalter jeweils mit den Rückführwiderständen verbunden sind,
jedoch mit Ausnahme des Rückführwiderstandes mit größtem
Widerstandswert.
Gegenstand der Erfindung ist ferner eine Vorrichtung der eingangs
genannten Art, bei welcher ein Tiefpaßfilter zum Ausschalten einer
Wechselstromkomponente des Spannungssignals vom Operationsverstärker
vorgesehen ist, bei welcher für die Umwandlung des Spannungssignals
vom Tiefpaßfilter von einem Analogwert in einen Digitalwert der
Analog/Digital-Wandler vorgesehen ist, bei welcher die
Operationssteuereinheit für die Ausgabe von Schaltsteuersignalen für
die Ein-Aus-Steuerung der mit den Rückführwiderständen verbundenen
Analogschalter vorgesehen ist, wobei die Rückführwiderstände in Reihe
zwischen die Eingangs- und Ausgangsklemmen des
Operationsverstärkers geschaltet sind und die Analogschalter jeweils
zwischen die die Klemmen, mit Ausnahme der mit der Eingangsklemme
des Operationsverstärkers verbundenen Klemme, der
Rückführwiderstände und die Ausgangsklemme des Operationsverstärkers
geschaltet sind.
Gegenstand der Erfindung ist ferner eine Kompakt-
Lichtquellenanordnung für ein Übertragungs-Lichtmeßgerät mit einer
flachen Oberfläche zur Auflage eines zu messenden Gegenstandes und
mit einem Beleuchtungsabschnitt in einer Ecke der flachen Oberfläche
für eine Vorrichtung der eingangs genannten Art, gekennzeichnet
durch ein Meßgerätegehäuse an der Rückseite der flachen Oberfläche
zur Aufnahme des Meßgerätes und durch einen an der Rückseite der
flachen Oberfläche vorgesehenen Lichtquellengehäuseabschnitt zur
Aufnahme von Lichtquellenelementen einschließlich einer Batterie und
einer Lampe sowie eines optischen Systems, wobei Licht von dem
Lichtquellengehäuse dem Beleuchtungsabschnitt an der flachen
Oberfläche zugeführt wird.
Die Erfindung ist im folgenden Anhand von Ausführungs
beispielen näher erläutert. In der Zeichnung zeigen:
Fig. 1 schematisch ein Beispiel einer Schaltung
einer Meßvorrichtung für die optische Dich
te/den Rasterpunkt-Flächenanteil gemäß der
Erfindung,
Fig. 2 schematisch ein anderes Ausführungsbeispiel
der Schaltung für die optische Dichte/den
Rasterpunkt-Flächenanteil,
Fig. 3 eine Darstellung einer Abwandlung der Schal
tung,
Fig. 4 ein Blockschaltbild, welches ein Beispiel
einer üblichen Meßvorrichtung für die optische
Dichte zeigt,
Fig. 5 ein Schaltbild eines Beispiels eines üblichen
Verstärkungsschaltkreises,
Fig. 6 ein Schaltbild einer üblichen Meßvorrichtung
für die optische Dichte unter Verwendung des
Verstärkungsschaltkreises nach Fig. 5,
Fig. 7 (a) und (b) die Konstruktion einer kompakten Lichtquel
lenanordnung gemäß einem Ausführungsbei
spiel der Erfindung,
Fig. 8 die Konstruktion eines Meßgerätes für den
Rasterpunkt-Flächenanteil in Kombination mit
der Ausführung nach Fig. 7 und
Fig. 9 die Art der Verwendung eines Meßgerätes für
den Rasterpunkt-Flächenanteil in Kombination
mit der Lichtquelle nach Fig. 7, wobei deren
funktionelle Elemente dargestellt sind.
Es wird zunächst die Meßgenauigkeit beschrieben,
die während der Messung der optischen Dichte und des Raster
punkt-Flächenanteiles in Betracht gezogen werden muß. Die
optische Dichte D ist gegeben durch:
wobei I die Menge des gemessenen, übertragenen Lichtes dar
stellt und If die Menge an übertragenem Licht bei einem
Normalmaßstab darstellt. Wie später beschrieben, sollten
logI und logIf innerhalb der Genauigkeit von ± 0,005 liegen.
Deshalb ist gefordert, daß die Meßgenauigkeit für If und
I jeweils innerhalb ±If/86 und ±I/86 liegt und die Anzahl
effektiver Stellen des Meßwertes eine ausreichende Anzahl
aufweist.
Der Rasterpunkt-Flächenanteil A ist gegeben durch:
A = (1-I/If) × 100 (2)
Da, wie später beschrieben, die Genauigkeit genügt, wenn ein
Verhältnis I/If innerhalb einer Genauigkeit von ±0,5%
liegt, muß die Meßgenauigkeit für If±If/200 und für I einen
konstanten Wert von ±If/200 haben, und zwar unabhängig
von der Größe eines gemessenen Wertes. Infolgedessen ist bei
der Messung des Rasterpunkt-Flächenanteiles ein feinerer oder
engerer Bereich erforderlich als bei der Messung der optischen
Dichte. Jedoch wird bei der Messung des Rasterpunkt-Flächen
anteiles nur eine Nulljustierung gefordert, d. h. nur eine
Justierung eines Normalbereiches.
Fig. 1 zeigt ein Beispiel einer Schaltanordnung einer
Meßvorrichtung für die optische Dichte und den Rasterpunkt-
Flächenanteil gemäß der Erfindung. Zunächst soll die Funktion
der Meßeinrichtung für die optische Dichte beschrieben werden.
In dieser Ausführung enthält die Meßvorrichtung für die opti
sche Dichte ein Halbleiter-photoelektrisches Wandlerelement 1,
wie beispielsweise eine Photodiode, welche ein übertragenes
Licht oder von einem zu messenden Gegenstand reflektiertes
Licht photoelektrisch in einen lichtelektrischen Strom um
wandelt. Die Meßvorrichtung enthält ferner einen Operations
verstärker 2 für die Umwandlung des lichtelektrischen Stromes
in eine Spannung und für die Verstärkung dieses Signals. Fer
ner ist ein Tiefpaßfilter 6 für die Entfernung einer Wechsel
stromkomponente des Spannungssignals vom Operationsverstärker
2 vorgesehen. Die Vorrichtung enthält ferner einen Analog/
Digital-Wandler 3 für die Umwandlung eines analogen Spannungs
signals vom Filter 6 in ein Digitalsignal. Ferner ist eine
Operations-Steuereinheit 4 vorgesehen, die einen Mikrocom
puter für die Ausgabe von Schaltsteuersignalen #1 bis #3
und ein Datensignal enthält. Schließlich ist eine Wiedergabe
vorrichtung für die Anzeige der Daten von der Operations
steuereinheit 4 vorgesehen. Die Schaltsteuersignale #1 bis
#3 steuern die Einschaltung/Ausschaltung der analogen Schal
ter SW1 bis SW3, und zwar aufgrund des Digitalsignales von
dem Analog/Digital-Wandler 3 und in Übereinstimmung mit dem
automatischen Bereichssteuerverfahren nach der Erfindung,
das später beschrieben werden soll. Das Datensignal zeigt
die wiederzugebenden Daten an, die erhalten sind durch Um
wandlung des digitalen Signals vom Analog/Digitalwandler 3.
Zusätzlich ist ein Verstärkungsschaltkreis 7 vorgesehen,
in welchem mehrere Rückführwiderstände R, 9R, 90R und 900R
zwischen den Eingangs-und Ausgangsklemmen des Operations
verstärkers 2 in Reihe geschaltet sind, und es sind die
Analogschalter SW1 bis SW3 jeweils zwischen die Ausgangs
klemme des Operationsverstärkers und die jeweiligen Verbin
dungen von 900R und 90R, 90R und 9R sowie 9R und R geschal
tet. Ein Verstärker mit programmierbarer Verstärkung, des
sen Verstärkung durch die Operationssteuereinheit 4 gesteuert
wird, ist, wenn erforderlich, zwischen den Tiefpaßfilter 6
und den Analog-Digital-Wandler 3 geschaltet. Die Operation
der Analogschalter SW1 bis SW3 wird gemäß Tabelle 1 gesteuert,
wie es später beschrieben wird. Mit der oben beschriebenen
Anordnung wird die Anzahl an Analogschaltern auf drei redu
ziert im Vergleich mit vier Analogschaltern beim Stand der
Technik.
In Tabelle 1 zeigt das Symbol X an, daß sowohl Ein oder
Aus verwendet werden kann.
In dem Ausführungsbeispiel ist das Tiefpaßfilter
6 hinter dem Operationsverstärker 2 eingesetzt. Dies führt
zur Verwendung eines üblichen Leuchttisches anstelle einer
Lichtquelle, wie eine Halogenlampe, die mit einer konstan
ten Spannungsquelle gespeist wird, wie sie in der bekann
ten, fest montierten Meßvorrichtung für die optische Dichte
verwendet wird. Wenn ein üblicher Leuchttisch als Licht
quelle verwendet wird, bestehen folgende Nachteile: (F1) es
sind Flimmerkomponenten mit einer Frequenz in einem Meß
signal enthalten, die zweimal so hoch ist wie diejenige
einer Steuer-Spannungsquelle; (2) die Lichtmenge ändert
sich, wenn sich die Lage des Leuchttisches verändert. Das
Tiefpaßfilter 6 eliminiert das oben angegebene Problem (1)
und schaltet die Wechselstromkomponenten in einem gemessenen
Signal aus, so daß nur die Gleichstromkomponente gemes
sen wird.
Um in dieser Ausführung das oben angegebene Pro
blem (2) zu lösen, wird die übliche schwerfällige Justierung
mit Normalmaßstab von Hand durch einen veränderbaren Wider
stand nicht übernommen, sondern es wird das später beschrie
bene automatische Bereichssteuerverfahren eingeführt, wo
durch es ermöglicht wird, eine Justierung im Normalmaßstab
in kurzer Zeit auszuführen. Das automatische Bereichssteuer
verfahren nach der Erfindung hat das Problem gelöst, wonach
die Verwendung des Tiefpaßfilters 6 zu einer langen Ansprech
zeit eines Signals führt, in welcher Zeit sich der Meßbereich
(oder die Verstärkung) ändern kann, so daß eine Wartezeit
erforderlich ist, bis sich die Daten stabilisiert haben und
für eine Analog/Digitalumwandlung geeignet sind. Wenn ein
100 Hz-Flimmern um 1/100 verringert werden soll und ein RZ-
Filter erster Ordnung verwendet wird, dessen Sperrfrequenz
ein Hz beträgt und deren Zeitkonstante τ 0,16 Sekunden ist,
dann sind etwa 7 τ oder 1,12 Sekunden erforderlich, bis die
Ausgangsschwankung, die durch die Bereichsumschaltung hervor
gerufen wird, im Bereich von 1/1000 des Sollwertes liegt.
1/1000 entspricht hier der Auflösung von einem Zehn-Bit-
Analog/Digital-Wandler. Um diese Verzögerung zu verringern,
ist eine automatische Bereichssteuerung erwünscht, die schnell
ansprechen kann.
Fig. 2 zeigt ein anderes Beispiel einer Schalt
anordnung einer Meßvorrichtung für die optische Dichte bzw.
den Rasterpunkt-Flächenanteil. Diese Schaltung ist die
gleiche wie in Fig. 1, jedoch mit Ausnahme eines Verstärkungs
schaltkreises 8. In dem Verstärkungs-Schaltkreis 8 sind
mehrere Widerstände R, 10R, 100R und 900R parallelgeschaltet
zwischen den Eingangs- und Ausgangsklemmen des Operationsver
stärkers 2. Die Widerstände P, 10R und 100R, ausgenommen
der Widerstand 900R mit dem größten Wert unter diesen Wider
ständen, sind jeweils in Reihe geschaltet mit entsprechen
den Analogschaltern SW1 bis SW3. Die Arbeitsweise der Ana
logschalter SW1 bis SW3 wird gesteuert in Abhängigkeit von
Tabelle 2. Mit der oben beschriebenen Schaltungsanordnung
wird die Anzahl der Analogschalter auf drei reduziert im
Vergleich mit vier Analogschaltern bei der bekannten Anordnung.
Das Symbol X in Tabelle 2 zeigt, daß sowohl Ein und Aus
verwendet werden kann.
Es wird nunmehr die automatische Bereichssteuerung
nach der Erfindung beschrieben. In einer üblichen automatischen
Bereichssteuerung wird eine erste Messung bei weitestem Be
reich mit kleinstem Verstärkungsfaktor durchgeführt, um zu
prüfen, ob die höchste Stelle einen anderen Wert als Null
erhält. Im Falle des Ergebnisses Null wird der Bereich einer
nach dem anderen auf einen kleineren oder engeren Bereich
mit größerem Verstärkungsfaktor geschaltet. Ein gemessener
Wert wird bestimmt von einem Analog/Digital-Umwandlungswert,
wenn zu einer ersten Zeit die höchste Stelle und der
Bereichswert, das ist der Verstärkungswert zu dieser Zeit
von Null abweicht. Bei einer solchen üblichen automatischen
Bereichssteueroperation ergeben sich maximal vier Messungen,
bis der endgültig gemessene Wert erhalten wird, und zwar
aufgrund der Messungen bei X1 → X10 → X100 → X1000. Da
eine Messung mehr als 1,12 Sekunden benötigt, ergibt sich
eine Zeit bis zur Vervollständigung der Messung von mehr
als 4,48 Sekunden, was für eine Bedienungsperson als ver
hältnismäßig lang empfunden wird, und was einem verhältnis
mäßig geringen Arbeitswirkungsgrad entspricht.
Demgegenüber wird mit dem automatischen Bereichs
steuerverfahren nach der Erfindung die von dem Analog/Digital-
Wandler erhaltene Information positiv für die Verringerung
der gesamten Meßzeit verwendet. Nach der Erfindung wird eine
Analog/Digital-Umwandlung zuerst bei einem Bereich X1 durch
den Zehn-Bit-Analog/Digital-Wandler durchgeführt. Der Analog/
Digital-Umwandlungswert wird verglichen mit den Werten in
Tabelle 3, um eine zu wählende Verstärkung zu bestimmen und
eine weitere Analog/Digital-Umwandlung auszuführen.
A/D-Umwandlungswert | |
Auszuwählende Verstärkung | |
0∼9 | |
Stromverstärkung×100 | |
10∼99 | Stromverstärkung×10 |
100∼ | Stromverstärkung ist richtig |
Wenn die Stromverstärkung einem richtigen Bereich
entspricht, wird der Analog/Digital-Umwandlungswert zu die
ser Zeit für einen gemessenen Höchstwert verwendet. Nach
diesem Verfahren genügen drei Analog/Digital-Umwandlungen,
das ist bei den Bereichen X1 → X100 → X1000, um den X1000-
Bereich auszuwählen, wodurch die für die Messung erforder
liche Zeit reduziert wird. Wenn eine Bereichsüberschreitung
des Zehn-Bit-Analog/Digital-Wandlers festgestellt wird,
kann die Messung vom X10-Bereich oder von dem dem vollen
Maßstab zugeordneten Bereich ausgehen. In diesem Falle wird
der Bereich oder die Verstärkung gemäß Tabelle 4 ausgewählt.
A/D-Umwandlungswert | |
Auszuwählende Verstärkung | |
0∼9 | |
Stromverstärkung×100 | |
10∼99 | Stromverstärkung×10 |
100∼999 | Stromverstärkung ist richtig |
1000∼Bereichsüberschreitung | Stromverstärkung /10 |
In Tabelle 4 ist angegeben, daß die Verstärkung
auf 1/10 reduziert wird, wenn eine Bereichsüberschreitung
des Analog/Digital-Umwandlungswertes festgestellt wird.
Wenn bei einer solchen Anordnung der X1000-Bereich ausge
wählt werden soll, genügen nur zwei Analog/Digital-Umwand
lungen, d. h. der X10-Bereich → X1000-Bereich, wenn die
Messung von dem X10-Bereich ausgeht. Somit ist die gesamte
Meßzeit im Vergleich zu der bekannten Anordnung um die
Hälfte verringert.
Die oben beschriebene Verstärkungsauswahl kann
allgemein folgendermaßen beschrieben werden: Ein Wert Ii
wird einem Wert Vi entnommen, der durch eine Analog/Digital-
Umwandlung bei einer gegebenen Verstärkung Gi erhalten worden
ist, und zwar aufgrund einer Gleichung Ii = Vi/Gi. Dann wird
die folgende Verstärkung Gi + 1 ausgewählt, und zwar in Über
einstimmung damit, wo sich der Wert Ii unter den verschiede
nen voreingestellten Bereichen in Tabelle 5 befindet. Wenn
die gewählte Verstärkung Gi + 1 mit der Stromverstärkung
Gi übereinstimmt, dann wird der Wert Ii endlich der gemessene
Wert. Wenn er nicht übereinstimmt, wird erneut eine Messung
bei der Verstärkung Gi + 1 ausgeführt, und es werden ähnliche
Vorgänge wiederholt, bis eine Übereinstimmung erreicht ist.
Es wird hier darauf hingewiesen, daß der Wert Ii realisiert
wird durch Einstellung seines Maximum auf "1". Bei der
Einstellung der Bereiche für den praktischen Gebrauch wird
jeder Bereich durch Überlappung miteinander eingestellt, um
so den Spalt zwischen den Bereichen aufgrund von Fehlern
in den Werten der Schaltungselemente zu vermeiden.
Ii | |
Gi+1 | |
1∼0,316 | |
× 1 | |
0,316∼0,1 | × 3,16 |
0,1∼0,01 | × 10 |
0,01∼0,001 | × 100 |
0,001∼0 | × 1000 |
Als erste Verstärkung G wird die kleinste Verstärkung (X1)
oder die der Messung mit Normalmaßstab zugeordnete Verstär
kung verwendet. Wenn ein Verstärkungsverhältnis bezüglich
jeder Verstärkung den gleichen Wert hat, ist es nicht er
forderlich, den Wert Ii zu errechnen, sondern es wird die
nächste Verstärkung Gi + 1 durch Multiplikation des Stromes
Gi bestimmt, und zwar aufgrund des Vi-Wertes bei der Ver
stärkung Gi. Beispielsweise kann die Verstärkung Gi + 1
in Übereinstimmung mit Tabelle 6 bestimmt werden.
Vi | |
Gi+1 | |
Bereichsüberschreitung | |
Gi/10 | |
1∼0,1 | Stromverstärkung Gi |
0,1∼0,01 | Gi×10 |
0,01∼0 | Gi×100 |
Wenn der aufgrund Tabelle 6 errechnete Wert
der Verstärkung die vorbestimmte maximale oder minimale
Verstärkung überschreitet, wird entweder der Maximalwert
oder der Minimalwert verwendet.
Neben dem oben erwähnten automatischen Bereichs-
Steuerverfahren gibt es ein anderes Verfahren, um die Meß
zeit durch Vergrößerung der Ordnung des Filters zu redu
zieren. Wenn beispielsweise anstelle des Tiefpaßfilters
erster Ordnung ein Tiefpaßfilter zweiter Ordnung verwendet
wird und wenn beabsichtigt ist, die gleiche Dämpfungscharak
teristik wie bei dem RC-Filter bei 100 Hz zu erreichen,
dann wird die Sperrfrequenz fc 10 Hz, und es ergibt sich
eine Zeitkonstante von 0,0225 Sekunden. In diesem Falle
wird 7τ 0,157 Sekunden, so daß sich die für die Messung erfor
derliche Zeit im Vergleich mit 1,12 Sekunden wie bei dem
RC-Filter erster Ordnung verringert. Dieses Verfahren zur
Vergrößerung der Filterordnung in Kombination mit dem oben
beschriebenen automatischen Bereichssteuerverfahren ermög
licht eine weitere Verringerung der Meßzeit. Ferner wird
bei der Durchführung einer automatischen Bereichswahl die
Meßzeit verringert durch Verwendung des Bereiches bei einer
Justierung mit Normalmaßstab als Anfangsbereich.
Im folgenden wird die Funktion der Vorrichtung zur
Messung des Rasterpunkt-Flächenanteils beschrieben. Es ist
nicht erforderlich, den Rasterpunkt-Flächenanteil unter Ver
wendung eines Logarithmus zu messen, und es wird somit ein
enger Meßbereich möglich. Infolgedessen wird bei einer Messung,
nachdem eine Justierung im Normalmaßstab beendet ist,eine
Analog/Digital-Umwandlung ausgeführt, und zwar durch Fixieren
des entsprechenden Bereiches auf den dem Normalmaßstabs-
Wert zugeordneten Bereich. Es ist nicht erforderlich, den
Bereich umzuschalten, so daß die Meßzeit kürzer ist als
diejenige bei der Messung der optischen Dichte. Die Genauig
keit eines Wertes im Normalmaßstab bei der Messung eines
Rasterpunkt-Flächenanteiles muß aber eine höhere Genauig
keit haben als die Messung der optischen Dichte. Im einzelnen
liegt die Wiederholungsgenauigkeit, die normalerweise bei
der Messung der optischen Dichte gefordert wird, innerhalb
von ± 0,01, während die Wiederholungsgenauigkeit, die bei
der Messung des Rasterpunkt-Prozentsatzes bzw. Flächenan
teiles gefordert wird, innerhalb von ± 0,1% liegt. Um eine
solche Genauigkeit sicherzustellen, ist es erforderlich,
daß die Genauigkeit in der Lichtmengenmessung innerhalb
von ± 0,005 in der Dichtemessung ist, während sie ± 0,5%
in der Rasterpunkt-Messung ist. Die Minimum-Zähleranzeige
von 86 des Analog/Digital-Umwandlungswertes (ganze Zahl)
einer zu messenden Lichtmenge entspricht ± 0,005, während
der Minimum-Zählwert von 200 ± 0,5% entspricht. Der vor
genannte Minimum-Zählwert von 86 wird folgendermaßen be
stimmt: 0,005 der Meßgenauigkeit entspricht 1,0115 des
Durchlässigkeitsfaktors bzw. Übertragungsfaktors (Trans
missivity) so daß 0,0115 durch Operation (1.0115 - 1) er
halten wird, und es wird der Zählwert 86 erhalten durch
Division von 1 durch 0,0115. Ein anderer Minimum-Zähl
wert von 200 wird bestimmt durch Division von 1 durch 0,005
(0,5%). Durch Verwendung des Zehn-Bit-Analog/Digital-Wand
lers wird das maximal zulässige Verstärkungsverhältnis zwi
schen den Bereichen zu 1024/86 = 11,9 für die optische Dichte
und 1024/200 = 5,12 für den Rasterpunkt-Prozentsatz bzw.
-Flächenanteil. Deshalb müssen die Meßbereiche einer Meß
vorrichtung für sowohl optische Dichte als auch für den
Rasterpunkt-Prozentsatz bzw.-Flächenanteil auf den feineren
oder engeren Bereichen angeordnet werden, d. h. auf den Berei
chen für die Messung des Rasterpunkt-Prozentsatzes bzw.
-Flächenanteils. Bei einer solchen Anordnung nimmt die An
zahl der Bereiche zu, beispielsweise auf X1; X3; X3, 162;
X10; X31, 62; X100; X316, 2; X1000. In einem solchen Falle
führt die Einfühlung nur des oben erwähnten automatischen
Meßbereichs-Steuerkreises zu einer Erhöhung der Anzahl an
Widerständen und Analogschaltern, wodurch die Schaltungs
anordnung kompliziert wird.
Fig. 3 zeigt ein Beispiel einer Ersatzschaltung
in Bezug auf dieses Problem. Ein Verstärker 10 mit program
mierbarer Verstärkung ist in Reihe hinter den Operations
verstärker 2 geschaltet, und es sind insgesamt zwei Ver
stärker für die Bildung der Bereichs-Schaltkreise verwendet.
Bei dieser Anordnung muß die Anzahl an Widerständen und Ana
logschaltern an der ersten Stufe des Bereichs-Schaltkreises
im Vergleich mit dem Bereichs-Schaltkreis mit nur einem
Operationsverstärker 2 nicht erhöht werden. In der vorlie
genden Ausführung sind die Meßbereiche eingeteilt in X1, X10,
X100, X1000 in der ersten Stufe des Bereichs-Schaltkreises
und in X1; X3, 16 in der zweiten Stufe des Bereichs-Schalt
kreises. Die Schaltbereiche der ersten Stufe des Bereichs-
Schaltkreises, d. h. X1 bis X1000, während die Bereiche der
zweiten Stufe des Bereichs-Schaltkreises einen engen Bereich
umfassen, das ist X1 bis X3, 162. Deshalb besteht kein Pro
blem, daß eine Spannungsabweichung an der vorhergehenden
Stufe in großem Maße verstärkt wird. Die zweite Stufe des
Bereichs-Schaltkreises und der Operationsverstärker können
deshalb irgendwelche Arten von üblich verwendeten Operations
verstärkern sein. Da ferner der Operationsverstärker den
Tiefpaßfilter bildet, kann mit ihm der Operationsverstärker
des Bereichs-Schaltkreises gemeinsam verwendet werden. Wenn
eine Nulljustierung nur für die Bereiche X1 und X3, 162 aus
geführt werden, werden die ganzen Bereiche so eingestellt,
daß nur diejenigen Bereiche mit kleiner Verstärkung genau
eingestellt werden, während die Bereiche mit großer Ver
stärkung grob eingestellt werden, um die Anzahl an Bereichen
klein zu halten und so den Leckstrom zu verringern und die
Meßgenauigkeit zu verbessern. In diesem Falle kann der Be
reichs-Schaltkreis aus einer einzelnen Stufe bestehen.
Die optische Dichte D wird gemäß den folgenden
Gleichungen aus dem Meßwert (Verstärkung) G und dem Analog/
Digital-Umwandlungswert V, der wie oben beschrieben erhal
ten worden ist, folgendermaßen errechnet:
Reflexionsgrad T = (Gf × V)/(Vf × G) (3)
optische Dichte D = -log T (4),
wobei Gf und Vf die Verstärkung bei normalem Maßstab und
den gemessenen Wert eines Analog/Digital-Umwandlungswertes
darstellen, und wobei G und V die Meßwerte der Menge an
übertragenem Licht darstellen.
Wie oben beschrieben, kann nach dem erfindungsgemäßen
Steuerverfahren die Anzahl der Wahlmöglichkeiten der Meß
bereiche verringert werden, und es kann die Meßgenauigkeit
erhöht werden.
Der Rasterpunkt-Prozentsatz bzw. -Flächenanteil
A wird erhalten durch die folgende Gleichung:
Rasterpunkt-Prozentsatz bzw. -Flächenanteil A = (1 - T) × 100 (%) (5)
Es ist leicht, die obigen Operationen auszuführen und das
Operationsergebnis unter Verwendung einer Vorrichtung, wie
beispielsweise eines Mikrocomputers, anzuzeigen. Wie ferner
in der nicht geprüften japanischen Patentveröffentlichung
Nr. 55-27909 offenbart, wobei die Kompensation für die
"Fransen" und "Geisterbilder" bzw. "Doppelkonturen" der
Rasterpunkte leicht unter Verwendung eines Mikrocompu
ters oder dergleichen durchgeführt werden kann.
Die durch die Erfindung erreichten Vorteile sind
folgende:
- (1) Es kann eine kompakte und tragbare Meßvorrichtung für die optische Dichte/den Rasterpunkt-Prozentsatz bzw. -Flächenanteil verwirklicht werden.
- (2) Es kann ein üblicher Leuchttisch als Lichtquelle verwendet werden. Ferner kann eine Messung mit hoher Prä zision auch unter Bedingungen, wie Lichtquellenflimmern auf grund der Netzfrequenz oder einer Änderung der Lichtmenge durch eine Änderung der Meßlage, ausgeführt werden.
- (3) Ein besonderes, automatisches Bereichs-Steuer verfahren ermöglicht es, die Anzahl der auszuwühlenden Meß bereiche zu verringern und die Meßgenauigkeit zu erhöhen.
Die Fig. 7(a) und (b) zeigen die Konstruktion der
Lichtquellenanordnung gemäß einer Ausführung der Erfindung,
wobei Fig. 7 (a) eine perspektivische Ansicht von der Vorder
seite her und Fig. 7(b) eine perspektivische Ansicht von
der Rückseite her sind. Die kompakte Lichtquellenanordnung
weist einen Meßtischabschnitt 112 an der Oberseite eines
Hauptkörpers 111 auf. Ein zu messender Film liegt auf dem
Meßtisch 112. An einer Ecke des Meßtisches 112 ist ein Be
leuchtungsabschnitt 113 vorgesehen, auf dem ein Kreis mit
10 mm Durchmesser als Meßmarke dargestellt ist. Licht von
einer eingebauten Lichtquelle wird der Meßmarke zugeführt.
Ein Schalter 114 ist vorgesehen, um die eingebaute Licht
quelle ein- und auszuschalten.
Ein Gehäuse X für ein Rasterpunkt-Prozentsatz-
bzw. -Flächenanteil-Meßgerät und ein Lichtquellengehäuse Y
sind an der Rückseite des Hauptkörpers 111 ausgebildet.
Das Gehäuse X besitzt einen Raum, in den das Meßgerät für
den Rasterpunkt-Prozentsatz bzw. -Flächenanteil eingesetzt
werden kann. Die den Raum teilweise begrenzende Wand ist
mit einer Schiene 111A versehen, die in eine Nut eingreift,
die in dem Gehäuse für das Meßgerät für den Rasterpunkt-
Prozentsatz bzw. -Flächenanteil vorgesehen ist. Ein Vor
sprung 111B ist ebenfalls auf der Wand vorgesehen, wobei
dieser Vorsprung so ausgebildet ist, daß er in eine Höhlung
eingreift, die in dem Gehäuse für das Rasterpunkt-Prozent
satz-Meßgerät vorgesehen ist, eingreift und verhindert, daß
das Meßgerät aus dem Hauptkörper 111 herausgleitet. Die
gegenseitige Position zwischen dem Vorsprung und der Höhlung
können auch umgekehrt sein. Das Lichtquellengehäuse Y ent
hält eine Batterie, eine Lampe, eine reflektierende Platte,
eine Streuplatte usw., und es ist so ausgebildet, daß die
Batterie oder andere Teile ausgewechselt werden können, in
dem ein Deckel 115 entfernt wird.
Fig. 8 zeigt eine Außenansicht eines Meßgerätes
für den Rasterpunkt-Prozentsatz bzw. -Flächenanteil, das
mit der kompakten Lichtquellenanordnung 111 nach Fig. 7
kombiniert wird. Das Gehäuse enthält ein Bodengehäuse 121,
ein oberes Gehäuse 122 und einen Batteriedeckel 123.
Das Bodengehäuse 121 ist mit einer Nut 121A und
einer Höhlung 121B versehen, die jeweils mit der Schiene
111A und einem Vorsprung 111B des Hauptkörpers 111 der
Vorrichtung in Eingriff stehen. Zusammen mit diesen Ele
menten sind die kompakte Lichtquellenvorrichtung 110 und
das Meßgerät für den Rasterpunkt-Prozentsatz bzw. -Flächen
anteil 120 aneinander befestigt. Das Bezugszeichen 124
bezeichnet eine Meßeinheit für die Einführung von Meßlicht.
Das obere Gehäuse 122 ist mit einem Wiedergabe
fenster versehen, durch das das Meßergebnis angezeigt wird.
Ferner ist ein Schalter 126 und andere verschiedene Schal
ter 127, 128 vorgesehen. Ein Batteriedeckel 123 besitzt
keine zu betätigenden Elemente.
Fig. 9 zeigt, wie die Messung unter Verwendung
der kompakten Lichtquelle 110 nach Fig. 7 und des Raster
punkt-Prozentsatz-Meßgerätes nach Fig. 8 ausgeführt wird.
Der Schalter 114 für die kompakte Lichtquelle 110 wird be
tätigt, um die Batterie und die Lampe 116 miteinander zu
verbinden. Licht von der Lampe wird der Streuplatte 118 über
eine zerstreuende, reflektierende Platte 117 mit einer mat
tierenden Bearbeitung zur Bildung von gleichförmigem Licht
zugeführt. Aufgrund der reflektierenden Platte 117 kann ein
wirksamer Abstand zwischen der Lampe und der diffusen Platte
langgemacht werden, um dadurch die Einflüsse wie eine Störung
durch die reflektierende Spiegelfläche, zu verringern.
Das Licht wird einem Film 130 zugeführt, der auf
dem Meßtisch 112 (Fig. 7) der kompakten Lichtquellenanordnung
110 aufgelegt ist.
Das Licht, das von dem Film 130 übertragen wird,
wird dann der Meßeinheit 124 der Rasterpunkt-Prozentsatz
bzw. -Flächenanteil-Meßvorrichtung 120 zugeführt, um das
Licht auf photoelektrischem Wege mit einem Sensor 129 zu
messen und darauf mit einem Verstärker AMP zu verstärken.
Dann wird das verstärkte Signal durch einen Analog/Digital-
Wandler in ein digitales Signal umgewandelt, das dann in
einer Zentraleinheit (CPU) in ein Anzeigesignal umgewandelt
wird, das einer Anzeigevorrichtung 125 zugesandt wird.
Bei der Messung unter Verwendung der kompakten
Lichtquelle 110 und des Meßgerätes für den Rasterpunkt-
Prozentsatz bzw. -Flächenanteil ist der Beleuchtungsab
schnitt 113 (Fig. 7) der Rasterpunkt-Prozentsatz-Meßvor
richtung 120 mit der Meßeinheit 124 des Rasterpunkt-Prozent
satz-Messers 120 ausgerichtet. In diesem Falle kann das
Rasterpunkt-Prozentsatz-Meßgerät 120 richtig auf der kom
pakten Lichtquellenvorrichtung 110 aufgesetzt werden, so
daß der Arbeitswirkungsgrad gut ist und der Film 130 in
geeigneter Weise dazwischen angeordnet werden kann. Bei
der Ausrichtung des Rasterpunkt-Prozentsatz-Meßgerätes 120
paßt sich die Nut 121 A den Fingern der Bedienungsperson
an, so daß das Meßgerät leicht gehandhabt werden kann.
Außerdem kann die Positionsausrichtung leicht ausgeführt
werden, indem man auf die Meßmarke sieht, die eine verhält
nismäßig große Abmessung hat.
In der Ausführung ist das Rasterpunkt-Prozentsatz
meßgerät als Meßvorrichtung verwendet. Jedoch sind auch an
dere gewöhnliche Meßvorrichtungen anwendbar, die eine Licht
übertragung einschließen, wie beispielsweise Übertragungs-
Dichtemesser.
Wie oben beschrieben, ist die Lichtquellenvorrich
tung nach der Erfindung so ausgebildet, daß sie mit dem
Rasterpunkt-Prozentsatz-Meßgerät kompatibel ist, so daß die
Funktionen dieses Rasterpunkt-Prozentsatz-Meßgerätes voll
angewendet werden können. Dies bedeutet, daß die Lichtquellen
vorrichtung nicht nur für die Messung vorteilhaft ist, son
dern daß sie auch insoweit sehr nützlich ist, als die Außen
abmessung sehr klein ist, wenn das Rasterpunkt-Prozentsatz-
Meßgerät sich während des Transportes in der Lichtquellen
vorrichtung befindet.
Claims (13)
1. Verfahren zur automatischen Bereichskontrolle für eine
Meßvorrichtung für die optische Dichte oder den Rasterpunkt-
Flächenanteil, bei welchem mit Hilfe eines photoelektrischen
Wandlerelements Licht, das von einem zu messenden Gegenstand
abgegeben oder reflektiert wird, in einen lichtelektrischen Strom
umgewandelt wird, bei welchem mit Hilfe eines
Operationsverstärkers der lichtelektrische Strom in ein
Spannungssignal umgewandelt und verstärkt wird, bei welchem mit
Hilfe eines Analog/Digital-Wandlers dieses Spannungssignal von
einem Analogwert in einen Digitalwert umgewandelt wird, bei
welchem mit Hilfe einer Operations-Steuereinheit in Abhängigkeit
von dem Digitalsignal Wiedergabedaten ausgegeben werden, und
bei welchem mit Hilfe eines Verstärkungs-Schaltkreises mit
mehreren Rückführwiderständen und Analogschaltern zwischen den
Eingangs- und Ausgangsklemmen des Operationsverstärkers ein
Meßbereich geschaltet wird, dadurch gekennzeichnet, daß
mit Hilfe eines Tiefpaßfilters (6) eine Wechselstromkomponente des
Spannungssignals vom Operationsverstärker (2) ausgeschaltet
wird, daß das Spannungssignal des Tiefpaßfilters (6) mit Hilfe
des Analog/Digital-Wandlers (3) von einem Analogwert in einen
Digitalwert umgewandelt wird und daß die Operationssteuereinheit
(4) die Schaltsteuersignale an den Verstärkungsschaltkreis so
ausgibt, daß die Operationssteuereinheit (4) in Abhängigkeit von
einem Wert Vi, welcher durch die Analog/Digital-Umwandlung eines
gemessenen Wertes bei einer gegebenen Verstärkung Gi einen
Wert Ii = Vi/Gi in Abhängigkeit davon errechnet, welcher von
mehreren vorbestimmten Bereichen dem Wert Ii entspricht, eine
Verstärkung G + 1 auswählt und, wenn die Verstärkung Gi + 1 mit
der Stromverstärkung übereinstimmt, der Wert Ii zu einem
gemessenen Höchstwert gemacht wird, während dann, wenn die
Verstärkung Gi + 1 nicht mit der Stromverstärkung Gi
übereinstimmt, durch eine Analog/Digital-Umwandlung des
gemessenen Wertes bei der Verstärkung Gi + 1 ein Wert Vi erhalten
wird, um einen Wert Ii + 1 = (Vi + 1)/(Gi + 1) zu errechnen,
wobei ähnliche Vorgänge wiederholt werden, bis eine
Übereinstimmung erreicht ist.
2. Vorrichtung zum Messen der optischen Dichte oder des
Rasterpunkt-Flächenanteils mit einem photoelektrischen
Wandlerelement (1) für eine photoelektrische Umwandlung von Licht
in einen lichtelektrischen Strom, das von einem zu messenden
Gegenstand abgegeben oder reflektiert wird, mit einem
Operationsverstärker (2) für die Umwandlung des lichtelektrischen
Stromes in ein Spannungssignal für die Verstärkung eines
Spannungssignals, mit einem Analog/Digital-Wandler (3) für die
Umwandlung des Spannungssignals von einem Analogwert in einen
Digitalwert, mit einer Operationssteuereinheit für die Ausgabe
eines die anzuzeigen den Daten darstellenden Datensignals in
Abhängigkeit von dem Digitalsignal, mit einer
Wiedergabevorrichtung (5) zur Wiedergabe der Daten und mit einem
Verstärkungsschaltkreis (7; 8) mit mehreren Rückführwiderständen
(R, 10R, 100R, 900R), die parallel zwischen den Eingangs- und
Ausgangsklemmen des Operationsverstärkers (2) geschaltet sind,
wobei die Analogschalter (SW1-SW3) jeweils mit den
Rückführwiderständen (R, 10R, 100R) verbunden sind, dadurch
gekennzeichnet, daß ein Tiefpaßfilter (6) zum Ausschalten einer
Wechselstromkomponente des Spannungssignals vom
Operationsverstärker (2) vorgesehen ist, daß für die Umwandlung
des Spannungssignals vom Tiefpaßfilter (6) von einem Analogwert
in einen Digitalwert der Analog/Digital-Wandler (3) vorgesehen
ist, daß die Operationssteuereinheit (4) für die Ausgabe von
Schaltsteuersignalen für die Ein-Aus-Steuerung der Analogschalter
(SW1-SW3) vorgesehen ist, wobei die Analogschalter (SW1-SW3)
jeweils mit den Rückführwiderständen (R, 10R, 100R) verbunden
sind, jedoch mit Ausnahme des Rückführwiderstandes (900R) mit
größtem Widerstandswert.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß ein Verstärker (13) mit programmierbarer Verstärkung hin
ter den Verstärkungsschaltkreis und den Operationsverstärker
geschaltet ist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeich
net, daß in dem Verstärkungsschaltkreis die Breite eines
Bereiches genau auf einen einem Norm-Meßbereich zugehörigen
Bereich eingestellt ist und daß die Breite eines Bereiches
grob auf die anderen Meßbereiche eingestellt ist.
5. Vorrichtung zum Messen der optischen Dichte oder des
Rasterpunkt-Flächenanteils mit einem photoelektrischen
Wandlerelement (1) für eine photoelektrische Umwandlung von Licht
in einen lichtelektrischen Strom, das von einem zu messenden
Gegenstand abgegeben oder reflektiert wird, mit einem
Operationsverstärker (2) für die Umwandlung des lichtelektrischen
Stromes in ein Spannungssignal für die Verstärkung eines
Spannungssignals, mit einem Analog/Digital-Wandler (3) für die
Umwandlung des Spannungssignals von einem Analogwert in einen
Digitalwert, mit einer Operationseinheit für die Ausgabe eines die
anzuzeigenden Daten darstellenden Datensignals in Abhängigkeit
von dem Digitalsignal, mit einer Wiedergabevorrichtung (5) zur
Wiedergabe der Daten und mit einem Verstärkungsschaltkreis (7; 8)
mit mehreren zwischen die Eingangs- und Ausgangsklemmen des
Operationsverstärkers (2) geschalteten Rückführwiderständen
(R, 9R, 90R, 900R), wobei die Analogschalter (SW1-SW3) jeweils mit
den Rückführwiderständen (R, 9R, 90R, 900R) verbunden sind,
dadurch gekennzeichnet, daß
ein Tiefpaßfilter (6) zum Ausschalten einer Wechselstromkomponente
des Spannungssignals vom Operationsverstärker (2) vorgesehen ist,
daß für die Umwandlung des Spannungssignals vom Tiefpaßfilter
(6) von einem Analogwert in einen Digitalwert der
Analog/Digital-Wandler (3) vorgesehen ist, daß die
Operationssteuereinheit (4) für die Ausgabe von
Schaltsteuersignalen für die Ein-Aus-Steuerung der mit den
Rückführwiderständen verbundenen Analogschalter (SW1-SW3)
vorgesehen ist, wobei die Rückführwiderstände (R, 9R, 90R) in Reihe
zwischen die Eingangs- und Ausgangsklemmen des
Operationsverstärkers (2) geschaltet sind und die Analogschalter
(SW1-SW3) jeweils zwischen die Klemmen, mit Ausnahme der mit
der Eingangsklemme des Operationsverstärkers (2) verbundenen
Klemme, der Rückführwiderstände (R, 9R, 90R, 900R) und die
Ausgangsklemme des Operationsverstärkers (2) geschaltet sind.
6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeich
net, daß ein Verstärker mit programmierbarer Verstärkung
hinter den Verstärkungsschaltkreis und den Operationsverstär
ker geschaltet ist.
7. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeich
net, daß in dem Verstärkungsschaltkreis die Breite eines
Bereiches genau auf einen einem Norm-Meßbereich zugehörigen
Bereich eingestellt ist und daß die Breite eines Bereiches
grob auf die anderen Meßbereiche eingestellt ist.
8. Kompakt-Lichtquellenanordnung für ein Übertragungs-Lichtmeßgerät
mit einer flachen Oberfläche zur Auflage eines zu messenden
Gegenstandes und mit einem Beleuchtungsabschnitt (113) in einer
Ecke der flachen Oberfläche für eine Vorrichtung nach Anspruch 2
oder 5; gekennzeichnet durch ein Meßgerätegehäuse (120) an der
Rückseite der flachen Oberfläche (112) zur Aufnahme des
Meßgerätes und durch einen an der Rückseite der flachen
Oberfläche vorgesehenen Lichtquellengehäuseabschnitt (110) zur
Aufnahme von Lichtquellenelementen einschließlich einer Batterie
und einer Lampe (116) sowie eines optischen Systems, wobei Licht
von dem Lichtquellengehäuse dem Beleuchtungsabschnitt an der
flachen Oberfläche zugeführt wird.
9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeich
net, daß die Wand des Meßgerätegehäuses mit einer Schiene,
welche in das Gehäuse des Meßgerätes eingreift, und einem
Vorsprung oder einer Wölbung versehen ist, welche mit einer
anderen Wölbung oder einem anderen Vorsprung des Meßgeräte
gehäuses in Eingriff steht.
10. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,
daß der Beleuchtungsabschnitt an der linken Seite während
der Messung unter Verwendung der Kompakt-Lichtquellenanord
nung nahe der Bedienungsperson liegt.
11. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,
daß die Beleuchtungseinheit mit einer Meßmarke versehen ist,
welche den Bereich anzeigt, in dem eine Messung möglich ist.
12. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeich
net, daß das optische System eine reflektierende Platte
und eine Streuplatte enthält.
13. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeich
net, daß die reflektierende Platte eine reflektierende
Oberfläche mit einem Mattschliff aufweist.
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Publication number | Publication date |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: BEHN, K., DIPL.-ING., PAT.-ANW., 8134 POECKING |
|
8141 | Disposal/no request for examination | ||
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8180 | Miscellaneous part 1 |
Free format text: IM HEFT 2/93, SEITE 334, SP.1: DIE VEROEFFENTLICHUNG IST ZU STREICHEN |
|
8125 | Change of the main classification |
Ipc: G01J 1/42 |
|
D2 | Grant after examination | ||
8328 | Change in the person/name/address of the agent |
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|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |