DE1291534B - Belichtungsmesser mit Brueckenschaltung - Google Patents

Belichtungsmesser mit Brueckenschaltung

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DE1291534B
DE1291534B DEL51015A DEL0051015A DE1291534B DE 1291534 B DE1291534 B DE 1291534B DE L51015 A DEL51015 A DE L51015A DE L0051015 A DEL0051015 A DE L0051015A DE 1291534 B DE1291534 B DE 1291534B
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Germany
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photoresistors
resistance
light
resistor
bridge
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DEL51015A
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Brueckner Dietrich
Holle
Kreiling Rudolf
Dr Werner
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Ernst Leitz Wetzlar GmbH
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Ernst Leitz Wetzlar GmbH
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    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/10Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
    • G01J1/16Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

  • Zur Belichtungsmessung werden neben den bekannten Fotozellen, die in Abhängigkeit von der Intensität des auf sie auftreffenden Lichtes eine elektromotorische Kraft liefern, auch Fotowiderstände benutzt, wobei die aus der allgemeinen Elektrotechnik bekannten Schaltungsanordnungen zur Messung elektrischer Widerstände zum Teil übernommen werden können.
  • So ist es bekannt, den jeweiligen Widerstandswert, den ein Fotowiderstand in Abhängigkeit vom auf ihn auftreffenden Licht hat, mittels einer Wheatstoneschen Brückenschaltung zu messen.
  • Es ist beispielsweise (französische Patentschrift 1 355 542) eine Anordnung vorbeschrieben, bei der zwei Fotowiderstände verwendet sind, die in verschiedenen, nicht aneinander angrenzenden Zweigen einer solchen Brückenschaltung liegen. Auch ist es durch diese Literaturstelle bekannt, als Zweigwiderstand einen Fotowiderstand zu verwenden, dem ein Parallel- und ein Serienwiderstand als Trimmwiderstände zugeordnet sind.
  • Es ist ferner (schweizerische Patentschrift 258 022) bekannt, zwei Fotowiderstände gemeinsam in den gleichen Zweig einer Wheatstoneschen Brücke zu legen. Auch ist es (französische Patentschrift 928 642) nicht mehr neu, zwei untereinander gleiche Fotowiderstände in verschiedene, benachbarte Zweige einer Brücke zu schalten.
  • Daß man eine einstellbare Blende allein oder in Kombination mit Trimmwiderständen verwenden kann, um den Arbeitsbereich eines Fotowiderstandes zu beeinflussen, ist auch bekannt (österreichische Patentschrift 219 4t9).
  • Bekanntlich ändert ein aus einem Fotowiderstand und einem Ohmschen Widerstand aufgebauter Spannungsteiler sein Teilungsverhältnis, wenn man die Lichtstärke des auf den Fotowiderstand auftreffenden Lichtes ändert. Durchläuft man mit dem den Fotowiderstand treffenden Licht alle bei der Fotografie vorkommenden Lichtwerte, so zeigt das Spannungsverhältnis, wenn man es über den Lichtwerten als Abszisse aufzeichnet, einen S-förmigen Verlauf. Dieser bringt es mit sich, daß die Skalenanzeige für Lichtwerte auch S-förmig ist. Das heißt aber, bei der Lichtwerteskala sind die den einzelnen Lichtwerten zugeordneten Markierungen an den Enden der Skala zusammengedrängt, was natürlich die Ablesung der Skala erschwert. Erwünscht ist daher eine möglichst lineare Skalenanzeige, d. h. eine gleichmäßige Verteilung der den einzelnen Lichtwerten zugeordneten Markierungen über den gesamten Skalenbereich.
  • Um diesem Wunsch nachzukommen, wurde ein (in der deutschen Patentschrift 1 070 843) vorbeschriebener Belichtungsmesser geschaffen, der in einer Brückenschaltung einen Fotowiderstand als Zweigwiderstand enthält und bei dem die Widerstandscharakteristik des Brückenpotentiometers stufenweise S-lörmig aufgebaut ist. Bei der Berechnung der einzelnen Stufen dieses Polentiometers wurde von dem bekannten Widerstandsverlaufeines Fotowiderstandes (Widerstand als Funktion der Beleuchtungsstärkc) ausgegangen und errechnet, wie die einzelnen Stufen des Potentiometers ausgelegt sein müssen, damit sich bei Änderung der Beleuchtunvsstärke um konstante Faktoren fur den Potentiometerabgriff konstante Wege für gleiche Lichtwertstufen ergeben. Es soll also zwischen dem Logarithmus der Beleuchtungsstärke und dem Verschiebeweg hzw. dem Drehwinkel des Potentiometerabgriffs eine lineare Funktion bestehen.
  • Nachteilig bei diesem Belichtungsmesser ist, daß das Potentiometer als Stufenwiderstand ausgebildet sein muß, was wegen der Sonderfertigung einen ziemlichen Aufwand mit sich bringt und nur ein stufenweises Messen zuläßt. Darüber hinaus ergeben sich bei diesem Belichtungsmesser für bestimmte Brückenverstimmungen, z. B. + l-Lichtwert, Ströme im Diagonalzweig, die je nach Lage im Meßbereich untereinander unterschiedlich sind.
  • Der Erfindung lag daher die Aufgabe zugrunde, Anordnungen zu schaffen, bei denen die genannten Nachteile vermieden sind. Die neuen Anordnungen sollen mit bekannten, serienmäßig gefertigten Bauteilen bestückt sein, sie sollen die Durchführung kontinuierlicher Messungen erlauben. Darüber hinaus soll das Nullinstrument außer der Nullmarke Markierungen für bestimmte Lichtabweichungen erhalten können.
  • Zur Lösung dieser Aufgabe wurde bereits die Anwendung eines aus zwei Fotowiderständen sowie einem Ohmschen Widerstand als räumliche Baueinheit aufgebauten passiven Zweipols vorgeschlagen, der sich nach einem Vorabgleich in allen bekannten Belichtungsmesserschaltungen an Stelle eines Einzelfotowiderstandes verwenden läßt. Die beiden Fotowiderstände dieses Zweipols weisen bei gleicher Intensität des auf sie auftreffenden Lichtes um den Faktor 5 bis 50 voneinander unterschiedliche Widerstandswerte auf, und der Widerstandswert des Ohmschen Widerstandes ist so gewählt, daß der Gesamtwiderstand des Zweipols in der Mitte des logarithmisch gestuften Meßbereiches etwa dem geometrischen Mittelwert der Widerstandswerte der beiden Fotowiderstände entspricht, wozu bei Parallelschaltung der Fotowiderstände der Ohmsche Widerstand mit dem niederohmigen Fotowiderstand in Reihe, bei Serienschaltung der Fotowiderstände dagegen der Ohmsche Widerstand zu dem höherohmigen Fotowiderstand parallel liegt (deutsche Patentschrift 1 240 682).
  • Die vorliegende Erfindung hat eine weitere Lösungsmöglichkeit für die obengenannte Aufgabe zum Gegenstand. Sie betrifft einen Belichtungsmesser mit Brückenschaltung, bei dem im Diagonalzweig dieser Schaltung ein Meßwerk liegt, bei dem zwei Fotowiderstände verwendet sind, bei dem ferner die Widerstände zweier Brückenzweige zu einem linearen Potentiometer zusammengefaßt sind und der eine quasi lineare Teilung seiner Lichtwerteskala aufweist.
  • Dieser Belichtungsmesser zeichnet sich dadurch aus, daß die beiden Fotowiderstände untereinander gleich sind und in verschiedenen Zweigen der Brückenschaltung liegen, daß zu einem von ihnen mindestens ein Ohmscher Widerstand in Serie und mindestens ein Ohmscher Widerstand parallel geschaltet ist, daß der Gesamtwiderstandswert des oder der Parallelwiderstände 2,5- bis 6mal größer ist als der Widerstandswert, den die Fotowiderstände in der Mitte des Meßbereiches aufweisen, und daß der Gesamtwiderstandswert des oder der Reihenwiderstände um den gleichen Faktor kleiner gewählt ist. Die beiden Fotowiderstände können dabei Teile eines Doppelfotowiderstandes sein. Auch können optische Mittel zum Abgleich der beiden Fotowiderstände vorgesehen sein.
  • Sowohl der bereits vorgeschlagenen als auch der hier beschricbenen Lösung der oben aufgezeigten Aufgabe liegen folgende Uberlegungen zugrunde: Die obenerwähnte S-förmige Verzerrung des Spannungsteilerverhältnisses und damit des Spannungsverlaufs bei einem aus einem Fotowiderstand und einem Ohmschen Widerstand aufgebauten Spannungsteiler ist um so größer, je größer der Exponent des verwendeten Fotowiderstandes ist. Die Verzerrung des Spannungsteilerverhältnisses ist um so kleiner, je kleiner dieser Exponent ist. Bei Anwendung von Fotowiderständen mit hinreichend kleinen Exponenten könnte also für einen vorgegebenen Meßbereichsumfang auf spezielle Linearisierungsmaßnahmen verzichtet werden, weil man dann nur in dem Bereich arbeiten würde, für den die Änderungen des Spannungsteilerverhältnisses in bezug auf die Änderungen der Lichtwerte des auf den Fotowiderstand auftreffenden Lichtes linear verlaufen. So müßte beispielsweise für Beleuchtungsänderungen im Umfang von 14 Lichtwerten der Steigungsexponent des verwendeten Fotowiderstandes kleiner als 0.3 sein.
  • Solche Fotowiderstände, die gleichzeitig den sonstigen an Fotowiderstände zu stellenden Forderungen genügen, sind derzeit noch nicht serienmäßig herstellbar.
  • Diese Lösung der obengenannten Aufgabe scheidet also aus.
  • Man kann aber einen Spannungsteiler aus zwei Fotowiderständen aufbauen, die bei gleichen Beleuchtungsstärken gleiche Widerstandswerte aufweisen. Stellt man, wie in F i g. 1 gezeigt, die Widerstandskennlinien dieser beiden Fotowiderstände dar, so erhält man - im logarithmischen Maßstab in Abhängigkeit von den Lichtwerten (also über dem log der Beleuchtungsstärke) # zwei sich deckende Geraden A und B. Es ergibt sich dann ein konstantes Teilerverhältnis von A +B = 1/2. Schaltet man nun zu einem der beiden Fotowiderstände einen Ohmshen Widerstand 4 r0 parallel und einen Widerstand # @ in Ser@ weber γ0 der Widerstande@er der Foto-@ viderst @@in der Mitte des Meßbereiches und d ein wählbarer Zahlenfaktor ist, so wird aus dem Widerstandsverlauf von B der Widerstandsverlauf B', der in der Mitte des Bereiches sich dem Verlauf von B annähert, nach den Enden hin aber den Festwerten 4. r0 bzw. r0- zustrebt. Eine Berechnung des Teiler-4 A verhältnisses P = A + Bs führt zu dem Verlauf d+r d2 = d + 2rd2 + r + r2 4 mit r = 2-nL, wobei n der Steigungsexponent der Fotowiderstandskennlinie und L die Lichtwertzahl, gezählt von der Mitte des Meßbereiches aus, ist. Es läßt sich nun zeigen, daß man mit d # 3 bis 5 ein Optimum an Linearität des Verlaufes von P in einem möglichst großen Bereich von nL erhält.
  • Ausführungsbeispiele für den neuen Belichtungsmesser mit Brückenschaltung sind in den F i g. 2 und 3 dargestellt.
  • F i g. 2 zeigt eine Brückenschaltungsanordnung, bei der zwei untereinander gleiche Fotowiderstände 21, 22, die Teile eines Doppelfotowiderstandes 23 sind, in verschiedenen, benachbarten Zweigen der Brücke liegen. Zum Fotowiderstand 22 sind ein Trimmwiderstand 24 parallel sowie ein Trimmwiderstand 25 in Serie gelegt. Der Widerstand 24 ist in seinem Widerstandswert so bemessen, daß er 1,5- bis 6mal größer ist als der Widerstandswert eines der Fotowiderstände in der Mitte des Meßbereiches, der etwa bei Lichtwert 8 angenommen werden kann. Der Widerstand 25 ist um den gleichen Faktor kleiner bemessen als der Widerstandswert eines der Fotowiderstände in der Mitte des Meßbereiches. Des weiteren weist diese Brückenschaltung ein lineares Potentiometer 26 auf. Das im Diagonalzweig liegende Meßgerät besteht aus dem Meßwerk 27 sowie einem hochohmigen Vorwiderstand 28. Der Verbindungspunkt dieser beiden Bauteile kann über einen sehr hochohmigen Widerstand 29 sowie einen Schalter 30 mit der speisenden Quelle 31 verbunden werden.
  • Auch gestattet es der Schalter 30, der Quelle 31 einen Lastwiderstand 32 direkt parallel zu legen. Die MeB-brücke kann über einen Schalter 33 an Spannung gelegt werden. Es fungieren also der Schalter 33 als Betriebsschalter, der Schalter 30 als Prüfschalter für die Batteriespannungsprüfung unter Verwendung des vorhandenen Meßwerkes. Sie sind gegenseitig so verkoppelt, daß sie nicht gleichzeitig betätigt werden können.
  • In F i g. 3 ist eine Brückenschaltung mit zwei gleichen, Teile eines Fotowiderstandes 35 bildenden Fotowiderständen 36 und 37 d; gestellt denen zu Justierzwecken eine drehbare Blende 38 zugeordnet ist. Das Pete @itometer 39 weist für die Lichtwerte (von denen nur die Lichtwerte 1 8 und 15 als Anfangs-.
  • Mitten- uiid Endlagen für den Potentiometerabgriff wiedergegeben sind) Markierungen auf. Zum Fotowiderstand 37 sind ein Trimmwiderstand 40 parallel und ein Trimmwiderstand 41 in Reihe gelegt. Bei dieser Schaltung läßt sich ein Dreipunktabgleich durchführen, indem man bei Stellung des Potentiometerschleifers entsprechend der Marke für den Lichtwert 8 durch Drehen der Blende 38 abgleicht und anschließend den Abgleich für den Lichtwert 1 durch Trimmen des Widerstandes 40, den Abgleich für den Lichtwert 15 durch Trimmen des Widerstandes 41 durchführt.
  • Es sei noch erwähnt, daß der Körper des Potentiometers zu Justierzwecken drehbar gelagert sein kann.

Claims (5)

  1. Patentansprüche: 1. Belichtungsmesser mit Brückenschaltung, bei dem im Diagonalzweig dieser Schaltung ein Meßwerk liegt, bei dem zwei Fotowiderstände verwendet sind, bei dem ferner die Widerstände zweier Brückenzweige zu einem linearen Potentiometer zusammengefaßt sind und der eine quasi lineare Teilung seiner Lichtwerteskala aufweist, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden Fotowiderstände untereinander gleich sind und in verschiedenen Zweigen der Brückenschaltung liegen, daß zu einem von ihnen mindestens ein Ohmscher Widerstand in Serie und mindestens ein Ohmscher Widerstand parallel geschaltet ist, daß der Gesamtwiderstandswert des oder der Parallelwiderstände 2,5- bis 6mal größer ist als der Widerstandswert, den die Fotowiderstände in der Mitte des Meßbereiches aufweisen, und daß der Gesamtwiderstandswert des oder der Reihenwiderstände um den gleichen Faktor kleiner gewählt ist.
  2. 2. Belichtungsmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß bei beiden Fotowiderstände Teile eines Doppelfotowiderstandes sind.
  3. 3. Belichtungsmesser nach einem der Ansprüche 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß zum Abgleich der beiden Fotowiderstände optische Mittel vorgesehen sind.
  4. 4. Belichtungsmesser nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß zu Justierzwecken der Potentiometerkörper drehbar gelagert ist.
  5. 5. Belichtungsmesser nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß Schaltmittel zum Messen der Brückenbetriebsspannung vorgesehen sind.
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