DE3424216A1 - Lichtempfindliche silicon-polyamidsaeure-zusammensetzung, verfahren zu ihrer herstellung und ihre verwendung - Google Patents
Lichtempfindliche silicon-polyamidsaeure-zusammensetzung, verfahren zu ihrer herstellung und ihre verwendungInfo
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Description
J 933O-RD-14337 ^
GENERAL ELECTRIC COMPANY
Lichtempfindliche Silicon-polyamidsäure-Zusammensetzung,
Verfahren zu ihrer Herstellung und ihre Verwendung
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine lichtempfindliche Silicon-aromatische-Polyamidsäure, brauchbar als Photoresist,
überführbar in ein bemustertes Dielektrikum. Insbesondere bezieht sich die Erfindung auf ein Verfahren zum Modifizieren einer Silicon-aromatischen-Polyamidsäure mit kerngebundenen
Acrylatamid-Gruppen, die durch eine Umsetzung zwischen einem Acryl-organoisocyanat und Silicon-polyamidsäure
eingeführt werden.
Vor der vorliegenden Erfindung werden Photoresist-ähnliche Materialien beschrieben, die auf einer photoreaktiven Vorstufe
basieren, wie von Rubner et al., Production of Highly Heat-Resistant Film Patterns from Photoreactive Polymeric Precur-
sors, Teil 1; General Principle (Jan. 1976) and Production of Highly Heat-Resistant Film Patterns from Photoreactive
Polymeric Precursors, Teil 2; Polyimide Film Patterns (Mai 1976), Siemens Forsch.-u. Entwickl.-Ber. Band 5 (1976) Nr. 2,
Springer-Verlag, gezeigt. Ein photoreaktives Polyamid wird hergestellt, indem anfangs eine Reaktion zwischen einem aromatischen
Dianhydrid, z.B. Pyromellitsäure-dianhydrid, und Allylalkohol bewirkt wird. Der anfallende aromatische Dicarbonsäure-diester
wird dann in das entsprechende aromatische Disäurechlorid durch Reaktion mit Thionylchlorid übergeführt,
der dann mit einem aromatischen Diamin weiter zu einem photoreaktiven aromatischen Polyamidester umgesetzt
wird. Die vorgenannte photoreaktive Polyimid-Vorstufe wird
dann durch Spin-Beschichten auf ein Substrat aufgebracht und mit Hilfe einer Maske belichtet, darauf die behandelte Oberfläche
mit einem organischen Lösungsmittel zu einem Negativ-Photoresist entwickelt. Der negativ bemusterte aromatische
Polyamidester wird dann erwärmt, um ihn in ein bemustertes Polyimid umzuwandeln.
Obgleich wertvolle Ergebnisse mit dem vorerwähnten photoreaktiven aromatischen Polyamidester erzielt worden sind, wissen
die Fachleute, daß die Verwendung eines Chlorierungsmittels, wie von Thionylchlorid, zur Umwandlung der aromatischen
Dicarbonsäure in das entsprechende Säurechlorid vor der Polymerisationsreaktion mit aromatischem Diamin zur Bildung eines
verunreinigenden Restchlorids führen kann, das die Brauchbarkeit des anfallenden aromatischen Polyimids als Dielektrikum
stören kann.
Die vorliegende Erfindung beruht auf der Feststellung, daß
lichtempfindliche Polyamidsäure, die als Photoresist brauchbar
und in eine bemusterte Isolierschicht frei von Chloridverunreinigung umwandelbar ist, hergestellt werden kann, indem
zunächst eine Silicon-aromatische—Polyamidsäure., bestehend
im wesentlichen aus chemisch kombinierten Einheiten der Formeln
HOC
COH
-N-C Τ3Ϊ
ν Ο
0 *
r hoc
-N
COH
-N-R^ (SiO)
'3 η·
(1)
(2)
worin R ein vxerwertiger aromatischere .,_ .-Rest, ausgewählt
unter
0 0 η m C-Q-C
und
0-R5-0
-'- w 3*24216
R ein zweiwertiger organischer C,,_..,-Rest, R ein zweiwertiger
organischer C/2_o\ ""Rest ist, R unter einwertigen
C(i_i3\-Kohlenwasserstoffresten und substituierten einwertigen
C,..«-»-Resten ausgewählt ist, Q ein zweiwertiger Rest
der Formel
-ZR4Z-
4 5 ist, Z unter -0- und -NH- ausgewählt ist, R und R. unter organischen C,2_1β.-Resten ausgewählt und η eine ganze Zahl
von 1 bis 20 einschließlich ist, hergestellt wird.
Die obige Silicon-aromatische-Polyamidsäure kann mit einem
Isocyanatoorganoacrylat zu einer modifizierten Silicon-aromatischen-Polyamidsäure
mit chemisch gebundenen Acrylatamidgruppen umgesetzt werden, die über Stickstoff-kerngebundenen
Kohlenstoff-Bindungen an das Silicon-aromatische-Polyamidsäure-Rückgrat
gebunden sind. Darauf kann der modifizierten Silicon-aromatischen-Polyamidsäure ein Sensibilisator zugesetzt
werden, um einen Photoresist herzustellen.
Erfindungsgemäß wird ein Photoresist geschaffen, der auf Gewichtsbasis
(A) bis zu 95 % eines inerten organischen Lösungsmittels,
(B) wenigstens 5 % einer modifizierten Silicon-aromatischen -Polyamidsäure, im wesentlichen bestehend aus
chemisch verbundenen Einheiten der Formeln
-N-C' 'CNR1' 0 0
■"· O ™
1 Λ
H / \ H 2 *
-NC C-N-R^(SiO)
M It I ·5
O 0 RJ
(4)
(C) eine wirksame Menge Sensibilisator, worin Q
ein einwertiger Rest, ausgewählt unter Carboxy- und Acrylatamidgruppen
der Formel
0 0
C Il Q H
(R ),C=C-C-O-R N-C-
(5)
ist und wenigstens 10 Mol-% Resteder Formel (5), bezogen auf
die Gesamt-Mole der Carboxyreste und Reste der Formel (5) in
R2,
dem Silicon-aromatischen-Polyamid vorliegen, R, R
und η wie zuvor definiert sind, R und R unter Wasserstoff und CZ1-QV-Alkylresten ausgewählt sind und R ein zweiwertiger
organischer C,- ^3,-Rest ist, umfaßt.
Erfiridungsgemäß wird auch ein Verfahren zum Aufbringen
eines Musters einer isolierenden Silicon-aromatischen-Polyimid-Schicht
auf ein Substrat geschaffen, das
(1) das Dreh-Beschichten eines Substrats unter praktisch lichtfreien Bedingungen mit einer Photoresist- Zusammensetzung, die eine organische Lösungsmittel-Lösung
einer modifizierten Silicon-aromatischen -Polyamidsäure, im wesentlichen bestehend aus
chemisch kombinierten Einheiten der Formel (3) und
(4) mit wenigstens 10 Mol-% kerngebundenen Acrylatamin-Gruppen
der Formel (5), bezogen auf die Gesamt MoIe der Carboxygruppen und kerngebundenen Acrylatamid-Gruppen
in der modifizierten Silicon-aromatischen -Polyamidsäure, umfaßt/
(2) das Trocknenlassen des drehbeschichteten Photoresists aus (1),
(3) das Belichten des behandelten Substrats, während es maskiert ist, für eine Zeit, die ausreicht, die
kerngebundenen Acrylatamid-Gruppen der modifizierten Silicon-Polyamidsäure zu vernetzen,
(4) das Entwickeln des anfallenden, mit vernetzter modifizierter
Silicon-aromatischer-Polyamidsäure behandelten Substrats und
(5) das Erwärmen des entwickelten, mit modifizierter Silicon-aromatischer-Polyamidsäure behandelten Substrats
auf eine zur Umwandlung aromatischer Polyamidsäure in aromatisches Polyimid ausreichende
Temperatur
umfaßt.
Unter R der Formel (1) fallende Reste sind z.B. C(2-g\"~
Alkylenreste, wie Dimethylen, Trimethylen, Tetramethylen; CZg1-1Oν-Arylenreste, z.B. Phenylen, Xylol, Toluol; Aralkylenreste,
wie Benzyl, Phenylethyl und substituierte, z.B. HaIogen-substituierte
C,- o%"Alkylen-, Cfg_i3\-Arylen- und Aralkylenreste.
Unter R fallende Reste sind z.B. C/2_8) "A^Y1"
enreste und Arylenreste von R . Unter R fallende Reste werden
ausgewählt unter einwertigen C,,«-.-KohlenwasserStoffresten,
wie CZ1-8\-Alkyl, z.B. Methyl, Ethyl, Propyl, c/g_i3)
Arylreste, wie Phenyl, Tolyl, XyIyI,und halogenierte Deriva-
3 4
te von solchen R -Resten, wie Chlorphenyl. Unter R fallende
- if - 43
Reste sind z.B. Alkylenreste und Arylenreste von R .
Einige der unter R fallendenReste sind z.B.
worin Q unter S,
ir
-S-
Il
CH
Il J
und -C-
CH.
ausgewählt ist.
Unter R und R fallende Reste sind z.B. Wasserstoff und
C( -Qj-Alkylreste, wie Methyl, Ethyl, Propyl, Butyl. Unter
RO fallende Reste sind Alkylen- und Arylenreste, wie oben
für R definiert.
Die Isocyanatoorganoacrylate, die bei der praktischen Durchführung
der Erfindung verwendet werden können, um die Silicon-polyamidsäuren
zu modifizieren, fallen unter die folgende
Formel
(R6),C=C-C-OR8NCO ,
R7
6 7 8
worin R , R und R wie zuvor definiert sind. Insbesondere fallen darunter Isocyanatoethylmethacrylat, Isocyanatopropyl-
worin R , R und R wie zuvor definiert sind. Insbesondere fallen darunter Isocyanatoethylmethacrylat, Isocyanatopropyl-
methacrylate Isocyanatoethylacrylat, Isocyanatoethylcrotonat.
Die Silicon-polyamidsäure, die im wesentlichen aus chemisch ' zusammenhängenden Einheiten der Formeln (1) und (2) besteht,
die bei der praktischen Durchführung der Erfindung zur Herstellung lichtempfindlicher modifizierter Silicon-polyamidsäure
verwendet werden kann, kann hergestellt werden, indem zunächst aroamtisches Dianhydrid mit einem Gemisch aus
aromatischem Diamin und in Aminoorgano endendem Polydiorganosiloxan und einem geeigneten organischen Lösungsmittel unter
Umgebungsbedingungen umgesetzt wird-. Geeignete aromatische Dianhydride, die verwendet werden können, sind z.B. Pyromellitsäuredianhydrid,
Benzophenondianhydrid, Anhydride, die
sich von Trimellitsäureanhydrid und organischen Diaminen oder organischen Glykolen und aromatischen Bis(etheranhydriden)
wie z.B. 2,2-Bis/"4-(2,3-dicarboxyphenoxy)phenyl/propan-dianhydrid
und 2,2-Bis/4-(3,4-dicarboxyphenoxy)phenyl./propandianhydrid,
ableiten. Einige der aromatischen Diamine, die bei der Synthese der Silicon-polyamidsäure verwendet werden
können^ sind z.B. m-Phenylendiamin, p-Phenylendiamin, 4,4'-Diaminodiphenylpropan,
4,4'-Diaminodiphenylmethan, Benzidin,
4,4'-Diaminodiphenylsulfid/ 4/4>-Diaminodiphenylsulfon/ 4,4'-Diaminodiphenylether.
Einige der in Aminorgano endenden Polydiorganosiloxane, die
in Kombination mit dem vorerwähnten aromatischen Dianhydrid und aromatischem Diamin verwendet werden können, fallen unter
die folgende Formel
R3
ΝΗ,-R2(SiO) Ε2-ΝΗ- (6)
λ , η 2
R3
2 3
worin R , R und η wie zuvor definiert sind.
worin R , R und η wie zuvor definiert sind.
Bei der Bildung der Silicon-polyamidsäure können praktisch gleiche Mole aromatischen Dianhydrids und der Diamin-Kompo-
nente eingesetzt werden/ die das aromatische Diamin und ein
in Amin endendes Polydiorganosiloxan einschließt. In Kombination mit dem aromatischen Dihydrid und dem aromatischen Diamin
kann genügend in Amin endendes Polydiorganosiloxan verwendet werden, um eine Silicon-polyamidsäure mit etwa 5 bis
40 Gew.-% Diorganosiloxan-Einheiten, bezogen auf das Gesamtgewicht
der Silicon-polyamidsäure, zu erhalten.
Das Modifizieren der Silicon-polyamidsäure kann durch Bewegen oder Rühren eines Gemischs der Silicon-polyamidsäure und des
Isocyanatoorganoacrylats unter praktischem Ausschluß von Licht und in Gegenwart eines geeigneten organischen Lösungsmittels
erreicht werden. Vorzugsweise wird die Siliconpolyamidsäure als eine Lösung in einem polaren, aprotischen
Lösungsmittel bei etwa 5 bis 50 % Feststoffgehalt verwendet.
Geeignete dipolare aprotische Lösungsmittel sind z.B. N-Methylpyrrolidon, Dimethylformamid, Dimethylacetamid usw.
Das Reaktionsgemisch kann bei Raumtemperatur für 2 bis 24 h
gerührt werden. In manchen Fällen entwickelt sich sofort Kohlendioxid, es hat sich als nützlich erwiesen, ein nichtpolares organisches Lösungsmittel, wie Toluol, zuzusetzen,
um die Anfangs-Viskosität der Lösung herabzusetzen. Wie gefunden wurde/ liefert ein Verhältnis von etwa 0,2 Mol bis
1,2 Mol des Isocyanatoorganoacrylats pro Mol Carboxy der Silicon-polyamidsäure wirksame Ergebnisse. Nach dem Modifizieren
der Silicon-polyamidsäure mit dem Isocyanatoorganoacrylat
kann das anfallende modifizierte Polymer mit einem geeigneten Photoinitiator sensibilisiert werden. Es können
1 bis 10 Gew.-% Photoinitiator, bezogen auf das Gewicht der
Äcrylatorganoamid-modifizierten Silicon-polyamidsäure verwendet werden. Geeignete Photoinitiator-Sensibilisatoren
sind z.B* Michler's Keton, Benzophenon, Chlorthioxanthon,
2,2-Dimethoxy-2-phenylacetophenon, jeweils mit N-Methyldiethanolamin.
Die sensibilisierte, Silicon-modifizierte Polyamidsäure-Lösung kann dann unter Ausschluß von Licht bei Temperaturen
unter etwa 10°C für eine längere Lagerzeit aufbewahrt werden/
z.B. 6 Monate oder mehr/ ohne daß eine wesentliche Modifikation in der Photoresist-Lösung eintritt.
Eine typische Arbeitsweise zum Aufbringen einer gemusterten Silicon-polyimid-Isolierschicht auf ein Substrat besteht darin,
die Substratoberfläche/ wie eine Silicon-Waferfzu reinigen,
gefolgt von einem Spin-Beschichten (spin coating) der Substratoberfläche mit der sensibilisierten Silicon-modifizierten
Polyamidsäure. Das behandelte Substrat kann dann etwa 1 h bei IQO0C getrocknet und danach maskiert und in herkömmlicher
Weise belichtet werden. Typische Zeiten sind z.B. 30 s
auf einem PPG-UV-Gerät, 5 min unter einer RS-Sonnenlichtlampe
(Höhensonne). Unbelichtete Flächen, können dann mit 0,5 η NaOH
entwickelt werden. Die restliche gemusterte Silicon-modifizierte
Polyamidsäure kann dann bei Temperaturen im Bereich von 120 bis 4000C für etwa 0,5 bis 3 h unter Umwandlung in eine
Silicon-polyimid-Isolierschicht bei Temperaturen von wenigstens
3000C für etwa 1 h thermisch getempert werden.
Weiter wurde gefunden, daß die Reaktion zwischen dem Isocyanatoorganoacrylat
und der Silicon-polyamidsäure durch die Verwendung eines Amins, wie Triethylamin, 1,4-Diazobicyclo/5,2,27-octan,
oder eine Zinnverbindung, wie Dibutylzinndilaurat, Dibutylzinndiacetat,
die zu etwa 0,1 bis 25 Gew.-%, bezogen auf das Gewicht des verwendeten Isocyanatoorganoacrylats, verwendet
werden kann, erleichtert werden kann.
Um dem Fachmann die praktische Durchführung der Erfindung zu erleichtern, sind die folgenden Beispiele zur Veranschaulichung,
keineswegs zur Beschränkung, gegeben. Alle Teile sind auf das Gewicht bezogen.
23,22 g (0,12 Mol) Methylendianilin, dann 12,6 g (0,05 Mol)
Bis-1,S-^-aminopropyltetramethyldisiloxan werden zu einer
Lösung von 54,00 g (0,17 Mol) 3,3',4,4'-Eenzophenontetracarbonsäure-dianhydrid,
gelöst in 250 ml trockenem N-Methylpyrrolidon, gegeben. Die Zugabe erfolgt unter einer Stickstoff
atmosphäre. Die anfallende Lösung wird 24 h bei Raumtemperatur gerührt. Aufgrund des Herstellungsverfahrens wird
eine Silicon-polyamidsäure mit etwa 18 Gew.-% chemisch kombiniertem Dimethylsiloxan, bezogen auf das Gesamtgewicht
der Silicon-polyamidsäure, hergestellt.
Bei Raumtemperatur werden für etwa 24 h unter Stickstoffatmosphäre
und Lichtausschluß 35 g einer 28 % Feststoffe enthaltenden Lösung der oben beschriebenen Silicon-polyamidsäure
in N-Methylpyrrolidon und 5,5 g Isocyanatoethylmethacrylat
gerührt. Sofort entwickelt sich Kohlendioxid. Das Gemisch wird mit 15g Toluol versetzt, um seine Spin-Beschichtungseigenschaften
zu verbessern. Außerdem werden dem Gemisch 4 Teile Michler's Keton und 4 Teile N-Methyldiethanolamin
zugesetzt:. Die anfallende Lösung wird dann bei 40C unter Lichtausschluß aufbewahrt. Aufgrund des Herstellungsverfahrens
wird eine lichtempfindliche Silicon-polyamidsäure mit etwa 100 Mol-% kerngebundenen Methacrylatethylamid-Gruppen,
bezogen auf die Gesamtmole solcher Gruppen und von Carboxy in der modifizierten Silicon-polyamidsäure,
erhalten.
Eine Säure-gewaschene Siliziumscheibe wird mit der lichtempfindlichen
Silicon-polyamidsäure. von Beispiel 1 dreh-beschichtet und die erhaltene behandelte Wafer bei 100 0C 1 h
getrocknet. Die Wafer wird dann maskiert und 30 s einem PPG-ÜV-Gerät
oder 5 min einer RS-Höhensonne ausgesetzt. Die Scheibe
wird dann mit einer 0,5 η wässrigen NaOH-Lösung entwickelt.
Es wird eine Siliziumscheibe mit einer gemusterten Siliconpolyamidsäure-Isolierschicht
auf ihrer Oberfläche erhalten. Die Wafer wird dann 1 h auf 200eC, anschließend 1 h auf
3000C erhitzt. Es wird eine Siziliumscheibe mit einer gemusterten
modifizierten Silicon-polyimid-Isolierschicht auf ihrer Oberfläche erhalten.
Eine Reihe von lichtempfindlichen Methacrylatethylamid-substituierten
Silicon-polyaraidsäuren wird gemäß Beispiel 1 hergestellt, wobei 0 bis 1,5 Äquivalente Isocyanatoethylmethacrylat
pro Äquivalent Carboxy der Silicon-polyamidsäure eingesetzt werden, um das Verhältnis von Isocyanatoethylmethacrylat zu
Carboxy zu bestimmen, das für optimale Lichtvernetzungseigenschaften in der sich ergebenden lichtempfindlichen Siliconpolyamidsäure
nötig ist. Befriedigende Vernetzung kann mit Lösungen erzielt werden, die nach 24 h Aufbewahrung gelfrei
sind. Außerdem sollten die vernetzten Filme dem Verdünnen nach einminütigem Entwickeln mit wässriger, 0,5 η NaOH-Lösung
widerstehen können. Die folgenden Ergebnisse werden erhalten, wobei "IEM" Isocyanatoethylmethacrylat ist.
Bestimmung des optimalen Verhältnisses von IEM zu
Carbonsäure
Äquivalent Lösung nach Umsetzung Belichtungs- und Entwick-IEM/COOHa (24 h)
lungsergebnisseb
kein Muster, Film gelöst Muster, Film verdünnt Muster, etwas Verdünnung
Muster, minimale Verdünnug Muster, minimale Verdünnung
0 | kein | Gel |
0,2 | kein | Gel |
0,5 | kein | Gel |
1,0 | kein | Gel |
1,2 | kein | Gel |
1,5 | Gel |
aReaktion bei Raumtemperatur unter Verwendung von 40%iger
Silicon-polyamidsäure-Lösung in N-Methylpyrrolidon
1,8 um-Filme (getrocknet 6O°C/2O min) vor 30 s Belichten
(PPG-UV-Gerät) und 1 min Entwickler (0,5 η NaOH)
Die obigen Ergebnisse zeigen, daß ein 1:1-Verhältnis von
Isocyanatoethylmethacrylat zu Carboxy optimale Vernetzungseigenschaften liefert.
Verschiedene Sensibilisatoren zum Umwandeln der Siliconpolyamidsäure
von Beispiel 1, modifiziert mit Methacrylatethylamidgruppen, oder "modifizierte SiIicon-polyamidsäure",
in den lichtempfindlichen Zustand werden ermittelt. Die Wirksamkeit des Sensibilisators wird gemessen, indem die
Dicke der modifizierten Silicon-polyamidsäure nach Belichtung und Entwicklung bestimmt wird. Wie in Tabelle II unten gezeigt,
erweist sich Michler's Keton als wirksamster Sensibilisator,
wo "Polymer" und PSiPI Isocyanatoethylmethacrylatmodifizierte Silicon-polyamidsäure sind:
Tabelle II Sensibilisator-Wirksamkeit bei Härten von PSiPI
Sensibilisator % Sensibilisa- Entwickler13 tor in Polymera Zeitc (min) |
- | 0,1 | % der Ausgangs- Filmdicke" nach Belichtung0 |
kein | 3 | 0,5 | 0 |
2,2-Dimethoxy- 2-phenylaceto- phenon |
3 | 1,5 | 32 |
Benzophenon | 3 | 1,5 | 24 |
Michler's Keton | 4 | 2 | 80 |
2-ChIorth ioxanthon | 60 |
Gleicher Porzentsatz an N-Methyldiethanolamin zu jeder Probe
gegeben
b0,5 η NaOH
die Entwicklungszeit wurde durch die Zeit bestimmt, die nötig war, das Muster zu öffnen
Ausgangsfilme getrocknet bei 100°C/1 hf ausgenommen der
2-Chlorthioxanthon-Film (100°C/2 h)
e5 min 25,4 cm (10 ") unter 4 RS-Höhensonnen belichtet.
Die obigen Ergebnisse zeigen, daß Michler's Keton der wirksamste
Sensibilisator für die Härtung der modifizierten Silicon-polyamidsäure
ist.
Eine weitere Untersuchung erfolgte zur Bestimmung der optimalen
Konzentration an Michler's Keton zur Aufrechterhaltung des maximalen Prozentsatzes der Ausgangsfilmdicke nach 5 min
Belichten unter einer RS-Höhensonne mit nachfolgender Entwicklung in einer 0,5 η NaOH-Lösung. Die folgenden Ergebnisse
wurden erhalten:
Einfluß der Sensibilisator-Konzentration auf die Filmdicke
% Michler's Ketona Entwickler13-Zeitc % der Ausgangsfilm-
(min) dicket nach Belichten und Entwickeln
2 2 63
4 2 85
6 2 91
8 3 92
10 3 92
aSiehe Tabelle II
siehe Tabelle II
csiehe Tabelle II
Ausgangsfilme getrocknet bei 100°C/1 h,
Die obigen Ergebnisse zeigen, daß eine optimale Konzentration
an Michler's Keton im Hinblick auf die Erhaltung der
Dicke vernetzter Silicon-polyamidsäure etwa 4 bis 6 Gew.-% der modifizierten Silicon-polyamidsäure ist. Zudem zeigten
Filme, die unter Verwendung von Michler's Keton/N-Methyldiethanolamin-Sensibilisatorsystem
bei 4 % hergestellt worden sind, identisches Entwicklungsverhalten, wenn sie in Luft
oder Stickstoff belichtet wurden. Zwei um-Filme behielten
nach äquivalenten Belichtungszeiten unter RS-Höhensonnen 71 %
ihrer ursprünglichen Dicke nach 6 min Entwicklung in 0,5 η NaOH. Weiter wurde gefunden, daß Härtungen bis herab zu 30 s
unter Verwendung besonderer Ausstattung, wie eines PPG-UV-Geräts, erzielbar waren. In besonderen Situationen jedoch
können sowohl Wärme als auch Licht nötig sein.
Unter Raumbedingungen wurden 1 Mol einer 30%igen Lösung von
2,2-Bis/4- (3,4-dicarboxyphenoxy) phenyl_7propandianhydrid,
0,3 Mol Bis-1,3-y-aminopropyltetramethyldisiloxan und 0,7
Mol Methylendianilin in N-Methylpyrrolidon gerührt. Nach 2 h
Rühren wurde eine Silicon-polyamidsäure erhalten.
Ein Gemisch aus 3,5 g einer 30%igen Lösung der obigen Silicon-polyamidsäure,
0,55 g Isocyanatoethylmethacrylat und 5 Tropfen Triethylamin in N-Methylpyrrolidon wurde 19 h" unter
Umgebungsbedingungen gerührt. Aufgrund der Herstellungsmethode und der IR-Daten wurde eine Silicon-polyamidsäure mit
kerngebundenen Methacrylatethylamid-Gruppen erhalten.
Die obige modifizierte Silicon-polyamidsäure erwies sich als brauchbar als Licht-zu-musternde dielektrische Zusammensetzung
auf einem Kupfer-plattierten Laminat.
Obgleich die obigen Beispiele nur auf einige wenige der sehr vielen Variablen, die bei der praktischen Durchführung der
Erfindung Anwendung finden können, gerichtet ist, sollte klar sein, daß sich die vorliegende Erfindung auf eine viel
größere Vielfalt von Silicon-polyamidsäuren und Isocyanatoalkylacrylaten,
Sensibilisatoren, Verfahren zur Herstellung solcher lichtempfindlichen Silicon-polyamidsäure und Verfahren
zum Aufbringen gemusterter Isolierschichten aus Siliconpolyimid auf verschiedene Substrate richtet.
Claims (6)
1. River Road
Schenectady, N.Y./U.S.A.
Schenectady, N.Y./U.S.A.
Patentansprüche
1. Lichtempfindliche Silicon-polyamidsäure-Zusammensetzung,
gekennzeichnet durch
(A) bis zu 95 % eines inerten organischen Lösungsmittels,
(B) wenigstens 5 % einer modifizierten Silicon-aromatischen-Polyamidsäure,
im wesentlichen bestehend aus chemisch verbundenen Einheiten der Formeln
1 ι
N-C CNR
N N
0 0 J
H
NC
H«i ι «
C-N-R* (SiO) Si-R +—
R"3 RJ
(C) eine wirksame Menge Sensibilisator,
wobei Q ein einwertiger Rest ist, ausgewählt unter Carboxy
und Acrylatamid-Gruppen der Formel
0 0
(R6),C=C-C-O-R8N-C-
(R6),C=C-C-O-R8N-C-
R7
und wenigstens 10 Mol-% Reste der Formel (5), bezogen auf
die Carboxy- und die Reste der Formel (5) insgesamt in dem Silicon-aromatischen-Polyamid, vorliegen, wobei R ein vierwertiger
aromatischer C(6_3O»-Rest ist, ausgewählt unter
und
1 2
R ein zweiwertiger organischer (3/-,..,.-ReSt, R ein zweiwer-
3\ tiger C t-y_o\ -Alkylenrest ist, R unter einwertigen
Kohlenwasserstoffresten und substituierten einwertigen
C/I-IOX-Kohlenwasserstoffresten ausgewählt ist, Q ein zweiwertiger
Rest der Formel
-ZR4Z-
4 5
ist, Z unter -O- und -NH- ausgewählt ist, R und R unter organischen
C,, ,,.,.-Resten ausgewählt sind, R und R unter
8 Wasserstoff und C /<i_o\ -Alkylresten ausgewählt sind, R ein
zweiwertiger C ,.j ,3«-Organorest und η eine ganze Zahl von 1
bis 20 einschließlich ist.
2. Lichtempfindliche Silicon-polyamidsäure-Zusammensetzung
nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die kerngebundenen Acrylatalkylamid-Gruppen Methacrylatethylamid-Gruppen
sind..
3. Lichtempfindliche Silicon-polyamidsäure-Zusammensetzung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das organische
Lösungsmittel N-Methylpyrrolidon oder ein Gemisch
von N-Methylpyrrolidon und Toluol ist.
4. Lichtempfindliche Silicon-polyamidsäure-Zusammensetzung
nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet/daß der Sen-
sibilisator Michler's Keton oder ein Gemisch von Michler's
Keton und N-Methy!diethanolamin ist.
5. Verfahren zum Aufbringen eines Musters einer isolierenden Silicon-aromatischen-Polyimidschicht auf ein Substrat,
dadurch gekennzeichnet, daß
(1) ein Substrat praktisch unter Lichtausschluß mit einer Photoresist-Zusammensetzung dreh-beschichtet
wird, die eine organische Lösungsmittel-Lösung einer modifizierten Silicon-aromatischen-Polyamidsäure
mit wenigstens 10 Mol-% kerngebundener Acrylatamidgruppen, bezogen auf die Gesamt—Mole der Carboxygruppen
und kerngebundenen Acrylatamidgruppen in der modifizierten Silicon-aromatischen Polyamidsäure,
auf weist, bestehend im wesentlichen aus chemisch verbundenen Einheiten der Formeln
m m
O O
Q1 .Q1
S" ν R3 R3
H S^ ^V H
NC C-N-R2(SiOi Si-R2 (4)
» " Ii I'll '
0 0 R·5 R
(2) die durch Drehbeschichten aufgebrachte lichtempfindliche
Silicon-polyamidsäure von (1) trocknen gelassen wird,
(3) das behandelte Substrat, während es maskiert ist, ausreichend lange belichtet wird, um die kerngebundenen
Acrylatamidgruppen der modifizierten Siliconpolyamidsäure zu vernetzen,
(4) das anfallende, mit modifizierter Silicon-aromatischer
-Polyamidsäure behandelte Substrat entwickelt und
(5) das entwickelte, mit modifizierter Silicon-aromatischer-Polyamidsäure
behandelte Substrat auf eine Temperatur, die ausreicht, die aromatische Polyamidsäure
in aromatisches Polyimid umzuwandeln, erhitzt wird,
wobei R ein vierwertiger aromatischer C wählt unter
(6-30)
-Rest, ausge-
ünd
1 2
R ein zweiwertiger organischer C /o-m "Rest, R ein zweiwertiger
Ci2_gv-Alkylenrest ist, R3 unter einwertigen C^1-13,-Kohlenwasserstoffresten
und substituierten einwertigen C /-J-1Oi -Kohlenwasser stoff resten ausgewählt ist, Q ein zweiwertiger
Rest der Formel
-ZR4Z-
4 5 ist, Z unter -O- und -NH- ausgewählt ist, R und R unter organischen C10 1_.-'Resten, R und R unter Wasserstoff und
ι 8
C ,.,„.-Alky Ir es ten ausgewählt sind, R ein zweiwertiger
CZ1-13I-Organorest und η eine ganze Zahl von 1 bis 20 einschließlich
ist.
6. Verfahren zur Herstellung einer lichtempfindlichen Silicon-polyamidsäure/
dadurch gekennzeichnet, daß man
(1) ein Gemisch aus einer SiIicon-polyamidsäure, einem
Isocyanatoorganoacrylat und einem inerten organischen Lösungsmittel unter Lichtausschluß und inerter
Atmosphäre bewegt,
(2) das in (1) gebildete Kohlendioxid sich vom Gemisch trennen läßt und
(3) eine wirksame Menge eines Sensibilisators dem anfallenden
Gemisch zusetzt.
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0337698A2 (de) * | 1988-04-11 | 1989-10-18 | Chisso Corporation | Lichtempfindliches Polymer |
EP0373952A2 (de) * | 1988-12-16 | 1990-06-20 | Hitachi Chemical Co., Ltd. | Lichtempfindliche Kunststoffzusammensetzung und lichtempfindliches Element unter Verwendung dieser Zusammensetzung |
EP0475086A1 (de) * | 1990-09-12 | 1992-03-18 | Hitachi, Ltd. | Lichtempfindliche Polymerzusammensetzung |
Families Citing this family (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4690997A (en) * | 1984-01-26 | 1987-09-01 | General Electric Company | Flame retardant wire coating compositions |
US4837126A (en) * | 1985-06-07 | 1989-06-06 | W. R. Grace & Co. | Polymer composition for photoresist application |
US4717643A (en) * | 1985-08-06 | 1988-01-05 | Hercules Incorporated | No thermal cure dry film solder mask |
JPS62180360A (ja) * | 1986-02-03 | 1987-08-07 | ゼネラル・エレクトリツク・カンパニイ | 光パタ−ン化可能なポリイミド組成物とその製法 |
US4782009A (en) * | 1987-04-03 | 1988-11-01 | General Electric Company | Method of coating and imaging photopatternable silicone polyamic acid |
US5270431A (en) * | 1987-07-23 | 1993-12-14 | Basf Aktiengesellschaft | Preparation of oligomeric or polymeric radiation-reactive intermediates for solvent-structured layers |
JPH01283554A (ja) * | 1988-05-11 | 1989-11-15 | Hitachi Ltd | 耐熱感光性重合体組成物 |
EP0430220B1 (de) * | 1989-11-30 | 1997-05-07 | Sumitomo Bakelite Company Limited | Lichtempfindliche Harzzusammensetzung und ihre Verwendung zur Herstellung eines Halbleiterapparats |
JP2516276B2 (ja) * | 1990-09-12 | 1996-07-24 | 住友ベークライト株式会社 | 感光性樹脂組成物 |
JPH0457376U (de) * | 1990-09-20 | 1992-05-18 | ||
JP2890213B2 (ja) * | 1991-02-25 | 1999-05-10 | チッソ株式会社 | 感光性重合体組成物及びパターンの形成方法 |
JP2546940B2 (ja) * | 1991-11-06 | 1996-10-23 | 住友ベークライト株式会社 | 感光性樹脂組成物 |
JP2557331B2 (ja) * | 1992-06-24 | 1996-11-27 | 東芝ケミカル株式会社 | 感光性ポリイミド組成物 |
JP3211108B2 (ja) * | 1992-06-25 | 2001-09-25 | チッソ株式会社 | 感光性樹脂組成物 |
JP2787531B2 (ja) * | 1993-02-17 | 1998-08-20 | 信越化学工業株式会社 | 感光性樹脂組成物及び電子部品用保護膜 |
EP0622682B1 (de) * | 1993-04-28 | 1998-03-04 | Hitachi Chemical Co., Ltd. | Photoempfindliche Harzzusammensetzung |
US5616448A (en) * | 1995-01-27 | 1997-04-01 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Photosensitive resin composition and a process for forming a patterned polyimide film using the same |
CN1061058C (zh) * | 1996-01-09 | 2001-01-24 | 河北工业大学 | 耐热光敏聚酰亚胺 |
US5856065A (en) * | 1996-03-27 | 1999-01-05 | Olin Microelectronic Chemicals, Inc. | Negative working photoresist composition based on polyimide primers |
US5914354A (en) * | 1996-08-12 | 1999-06-22 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Radiation-sensitive resin composition |
US6010825A (en) * | 1997-09-11 | 2000-01-04 | Olin Microelectronics Chemicals, Inc. | Negatively acting photoresist composition based on polyimide precursors |
DE69934960T2 (de) * | 1998-10-30 | 2007-12-06 | Hitachi Chemical Dupont Microsystems Ltd. | Tetracarbonsäuredianhydrid, Derivat und Herstellung davon, Polyimidvorläufer, Polyimid, Harzzusammensetzung, photoempfindliche Harzzusammensetzung, Verfahren zur Erzeugung von Prägemustern und elektronisches Bauteil |
US6342333B1 (en) | 1999-09-23 | 2002-01-29 | Hitachi Chemical Dupont Microsystems, L.L.C. | Photosensitive resin composition, patterning method, and electronic components |
KR100490402B1 (ko) * | 2002-04-16 | 2005-05-17 | 삼성전자주식회사 | 유기 감광체용 오버코트 형성용 조성물 및 이로부터형성된 오버코트층을 채용한 유기 감광체 |
KR100453046B1 (ko) * | 2002-04-16 | 2004-10-15 | 삼성전자주식회사 | 유기 감광체용 오버코트 형성용 조성물 및 이로부터형성된 오버코트층을 채용한 유기 감광체 |
JP4961972B2 (ja) * | 2006-03-09 | 2012-06-27 | Jnc株式会社 | 絶縁層形成用組成物および絶縁膜 |
KR102087261B1 (ko) * | 2017-02-16 | 2020-03-10 | 삼성에스디아이 주식회사 | 감광성 수지 조성물, 이를 이용한 블랙 화소 격벽층 및 디스플레이 장치 |
KR102064297B1 (ko) | 2017-02-16 | 2020-01-09 | 삼성에스디아이 주식회사 | 감광성 수지 조성물, 이를 이용한 블랙 화소 격벽층 및 디스플레이 장치 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0020773A1 (de) * | 1978-09-29 | 1981-01-07 | Hitachi, Ltd. | Lichtempfindliche polymer-zusammensetzung |
GB2101149A (en) * | 1981-04-14 | 1983-01-12 | Hitachi Chemical Co Ltd | Process for producing polyamide acid silicon type intermediate and polyimide silicon copolymer resin |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US30186A (en) * | 1860-09-25 | John j | ||
JPS532911B1 (de) * | 1971-07-09 | 1978-02-01 | ||
USRE30186E (en) | 1974-08-02 | 1980-01-08 | Siemens Aktiengesellschaft | Method for the preparation of relief structures |
US4017340A (en) * | 1975-08-04 | 1977-04-12 | General Electric Company | Semiconductor element having a polymeric protective coating and glass coating overlay |
US4140572A (en) * | 1976-09-07 | 1979-02-20 | General Electric Company | Process for selective etching of polymeric materials embodying silicones therein |
JPS5946380B2 (ja) * | 1977-04-13 | 1984-11-12 | 株式会社日立製作所 | 画像の形成方法 |
JPS6046421B2 (ja) * | 1978-03-01 | 1985-10-16 | 東レ株式会社 | 耐熱性感光材料 |
JPS5545746A (en) * | 1978-09-29 | 1980-03-31 | Hitachi Ltd | Reactive polymer composition |
DE3107633A1 (de) * | 1981-02-27 | 1982-09-16 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zur herstellung duenner polyimidschichten" |
JPS57168942A (en) * | 1981-04-13 | 1982-10-18 | Hitachi Ltd | Photosensitive polymer composition |
JPS57168943A (en) * | 1981-04-13 | 1982-10-18 | Hitachi Ltd | Coating liquid for thin film formation |
US4548891A (en) * | 1983-02-11 | 1985-10-22 | Ciba Geigy Corporation | Photopolymerizable compositions containing prepolymers with olefin double bonds and titanium metallocene photoinitiators |
DE3463576D1 (en) * | 1983-03-03 | 1987-06-11 | Toray Industries | Radiation sensitive polymer composition |
-
1983
- 1983-08-29 US US06/527,581 patent/US4515887A/en not_active Expired - Lifetime
-
1984
- 1984-03-27 IE IE746/84A patent/IE55344B1/en not_active IP Right Cessation
- 1984-04-27 GB GB08410771A patent/GB2145728B/en not_active Expired
- 1984-05-01 NL NL8401374A patent/NL8401374A/nl not_active Application Discontinuation
- 1984-06-30 DE DE3424216A patent/DE3424216C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1984-08-22 FR FR8413058A patent/FR2555597B1/fr not_active Expired
- 1984-08-24 JP JP59175264A patent/JPH0797214B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1984-08-29 KR KR1019840005282A patent/KR900008949B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1984-08-29 MX MX202557A patent/MX168017B/es unknown
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0020773A1 (de) * | 1978-09-29 | 1981-01-07 | Hitachi, Ltd. | Lichtempfindliche polymer-zusammensetzung |
GB2101149A (en) * | 1981-04-14 | 1983-01-12 | Hitachi Chemical Co Ltd | Process for producing polyamide acid silicon type intermediate and polyimide silicon copolymer resin |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0337698A2 (de) * | 1988-04-11 | 1989-10-18 | Chisso Corporation | Lichtempfindliches Polymer |
EP0337698A3 (en) * | 1988-04-11 | 1990-06-06 | Chisso Corporation | Photosensitive polymer |
EP0373952A2 (de) * | 1988-12-16 | 1990-06-20 | Hitachi Chemical Co., Ltd. | Lichtempfindliche Kunststoffzusammensetzung und lichtempfindliches Element unter Verwendung dieser Zusammensetzung |
EP0373952A3 (en) * | 1988-12-16 | 1990-10-03 | Hitachi Chemical Company Ltd. | Photosensitive resin composition and photosensitive element using the same |
EP0475086A1 (de) * | 1990-09-12 | 1992-03-18 | Hitachi, Ltd. | Lichtempfindliche Polymerzusammensetzung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2555597A1 (fr) | 1985-05-31 |
KR900008949B1 (ko) | 1990-12-15 |
US4515887A (en) | 1985-05-07 |
GB8410771D0 (en) | 1984-06-06 |
NL8401374A (nl) | 1985-03-18 |
GB2145728A (en) | 1985-04-03 |
KR850001797A (ko) | 1985-04-01 |
JPH0797214B2 (ja) | 1995-10-18 |
IE55344B1 (en) | 1990-08-15 |
JPS60100143A (ja) | 1985-06-04 |
DE3424216C2 (de) | 1993-10-21 |
IE840746L (en) | 1985-02-28 |
GB2145728B (en) | 1987-07-01 |
MX168017B (es) | 1993-04-28 |
FR2555597B1 (fr) | 1987-08-07 |
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DE2462101C3 (de) | ||
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DE2437422B2 (de) | Verfahren zur herstellung von reliefstrukturen | |
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