DE2437348A1 - Verfahren zur herstellung von reliefstrukturen - Google Patents
Verfahren zur herstellung von reliefstrukturenInfo
- Publication number
- DE2437348A1 DE2437348A1 DE2437348A DE2437348A DE2437348A1 DE 2437348 A1 DE2437348 A1 DE 2437348A1 DE 2437348 A DE2437348 A DE 2437348A DE 2437348 A DE2437348 A DE 2437348A DE 2437348 A1 DE2437348 A1 DE 2437348A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- radiation
- groups
- soluble polymeric
- polymeric precursors
- ester
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 11
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 8
- 239000012704 polymeric precursor Substances 0.000 claims description 16
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 10
- 125000003178 carboxy group Chemical group [H]OC(*)=O 0.000 claims description 8
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 8
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims description 4
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims description 4
- 150000001805 chlorine compounds Chemical class 0.000 claims description 4
- 150000004985 diamines Chemical class 0.000 claims description 4
- 150000001991 dicarboxylic acids Chemical class 0.000 claims description 4
- 125000005442 diisocyanate group Chemical group 0.000 claims description 4
- -1 N-substituted maleimide groups Chemical group 0.000 claims description 3
- GNOIPBMMFNIUFM-UHFFFAOYSA-N hexamethylphosphoric triamide Chemical compound CN(C)P(=O)(N(C)C)N(C)C GNOIPBMMFNIUFM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 3
- 238000007259 addition reaction Methods 0.000 claims description 2
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 claims description 2
- 125000005036 alkoxyphenyl group Chemical group 0.000 claims description 2
- 125000002947 alkylene group Chemical group 0.000 claims description 2
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 claims description 2
- 125000002837 carbocyclic group Chemical group 0.000 claims description 2
- 238000006482 condensation reaction Methods 0.000 claims description 2
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 claims description 2
- 125000005059 halophenyl group Chemical group 0.000 claims description 2
- 125000000623 heterocyclic group Chemical group 0.000 claims description 2
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 claims description 2
- RPDJEKMSFIRVII-UHFFFAOYSA-N oxomethylidenehydrazine Chemical compound NN=C=O RPDJEKMSFIRVII-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 125000005429 oxyalkyl group Chemical group 0.000 claims description 2
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 claims description 2
- 238000006068 polycondensation reaction Methods 0.000 claims description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 2
- 238000005496 tempering Methods 0.000 claims description 2
- 150000001735 carboxylic acids Chemical class 0.000 claims 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M methacrylate group Chemical group C(C(=C)C)(=O)[O-] CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims 1
- VVBLNCFGVYUYGU-UHFFFAOYSA-N 4,4'-Bis(dimethylamino)benzophenone Chemical compound C1=CC(N(C)C)=CC=C1C(=O)C1=CC=C(N(C)C)C=C1 VVBLNCFGVYUYGU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylformamide Chemical compound CN(C)C=O ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 6
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 3
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 3
- YBRVSVVVWCFQMG-UHFFFAOYSA-N 4,4'-diaminodiphenylmethane Chemical compound C1=CC(N)=CC=C1CC1=CC=C(N)C=C1 YBRVSVVVWCFQMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 2
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 2
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 2
- 150000003949 imides Chemical group 0.000 description 2
- 238000002329 infrared spectrum Methods 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 2
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- FYSNRJHAOHDILO-UHFFFAOYSA-N thionyl chloride Chemical compound ClS(Cl)=O FYSNRJHAOHDILO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000004304 visual acuity Effects 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BVEIKFLZWBDLJG-UHFFFAOYSA-N 1-butylanthracene-9,10-dione Chemical compound O=C1C2=CC=CC=C2C(=O)C2=C1C=CC=C2CCCC BVEIKFLZWBDLJG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VLDPXPPHXDGHEW-UHFFFAOYSA-N 1-chloro-2-dichlorophosphoryloxybenzene Chemical compound ClC1=CC=CC=C1OP(Cl)(Cl)=O VLDPXPPHXDGHEW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HIDBROSJWZYGSZ-UHFFFAOYSA-N 1-phenylpyrrole-2,5-dione Chemical compound O=C1C=CC(=O)N1C1=CC=CC=C1 HIDBROSJWZYGSZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NLGDWWCZQDIASO-UHFFFAOYSA-N 2-hydroxy-1-(7-oxabicyclo[4.1.0]hepta-1,3,5-trien-2-yl)-2-phenylethanone Chemical compound OC(C(=O)c1cccc2Oc12)c1ccccc1 NLGDWWCZQDIASO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WOBHKFSMXKNTIM-UHFFFAOYSA-N Hydroxyethyl methacrylate Chemical compound CC(=C)C(=O)OCCO WOBHKFSMXKNTIM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FXHOOIRPVKKKFG-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylacetamide Chemical compound CN(C)C(C)=O FXHOOIRPVKKKFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 206010034960 Photophobia Diseases 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M acrylate group Chemical group C(C=C)(=O)[O-] NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 150000001732 carboxylic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 1
- 239000003999 initiator Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 208000013469 light sensitivity Diseases 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000005580 one pot reaction Methods 0.000 description 1
- UGQZLDXDWSPAOM-UHFFFAOYSA-N pyrrolo[3,4-f]isoindole-1,3,5,7-tetrone Chemical compound C1=C2C(=O)NC(=O)C2=CC2=C1C(=O)NC2=O UGQZLDXDWSPAOM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/038—Macromolecular compounds which are rendered insoluble or differentially wettable
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/038—Macromolecular compounds which are rendered insoluble or differentially wettable
- G03F7/0388—Macromolecular compounds which are rendered insoluble or differentially wettable with ethylenic or acetylenic bands in the side chains of the photopolymer
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Macromolecular Compounds Obtained By Forming Nitrogen-Containing Linkages In General (AREA)
- Polyurethanes Or Polyureas (AREA)
- Macromonomer-Based Addition Polymer (AREA)
- Polymers With Sulfur, Phosphorus Or Metals In The Main Chain (AREA)
Description
Verfahren zur Herstellung von Reliefstrukturen
Zusatz zu Patent (Patentanmeldung P 23 08 830.4;
VPA 73/7531)
Die Erfindung bezieht sich auf eine Verbesserung und weitere Ausbildung des Verfahrens nach dem Patent (Patentanmeldung
P 23 08 830.4) zur Herstellung von Reliefstrukturen
aus hochwärmebeständigen Polymeren durch Auftragen strahlungsempfindlicher löslicher polymerer Vorstufen in Form einer
Schicht oder Folie auf ein Substrat, Bestrahlen der strahlungsempfindlichen Schicht oder Folie durch Negativvorlagen,
Herauslösen oder Abziehen der nicht bestrahlten Schicht- oder Folienteile und gegebenenfalls anschließendes Tempern der erhaltenen Reliefstrukturen, unter Verwendung von Polyadditions- oder Polykondensationsprodukten polyfunktioneller carbocyclischer oder heterocyclischer, strahlungsempfindliche Reste
tragender Verbindungen mit Diaminen, Diisocyanaten, Bissäurechloriden oder Dicarbonsäuren als lösliche polymere Vorstufen, wobei
Schicht oder Folie auf ein Substrat, Bestrahlen der strahlungsempfindlichen Schicht oder Folie durch Negativvorlagen,
Herauslösen oder Abziehen der nicht bestrahlten Schicht- oder Folienteile und gegebenenfalls anschließendes Tempern der erhaltenen Reliefstrukturen, unter Verwendung von Polyadditions- oder Polykondensationsprodukten polyfunktioneller carbocyclischer oder heterocyclischer, strahlungsempfindliche Reste
tragender Verbindungen mit Diaminen, Diisocyanaten, Bissäurechloriden oder Dicarbonsäuren als lösliche polymere Vorstufen, wobei
a) die strahlungsempfindliche Reste R tragenden Verbindungen
zwei für Additions- oder Kondensationsreaktionen geeignete Carboxyl-, Carbonsäurechlorid-, Amino-, Isocyanat- oder
Hydroxylgruppen und teilweise in ortho- oder peri-Stellung dazu esterartig an Carboxylgruppen gebundene strahlungsreaktive
Gruppen der folgenden Struktur
6 0 9 8 0 8/0835
VPA 74/7572
-0-CH2-C=CH2
COR.
-RO-CO-(CH=CH)
COR,
R = Oxyalkyl
R1= Alkyl, Phenyl, R Alkoxyphenyl,
Halogenphenyl
n=1,2.
-RO-CO-C=CH
R9 » H, Cl, Alkyl, * Alkoxy
R, = carbocycl. oder heterocycl.
aromat.Rest,über Ring-C gebunden
CH=CH-R-
enthalten, und wobei
b) die mit diesen Verbindungen umzusetzenden Diamine, Diisocyanate,
Bis-säurechloride oder Dicarbonsäuren mindestens ein cyclisches Strukturelement enthalten.
Es wurde nun gefunden, daß man strahlungsempfindlichere lösliche polymere Vorstufen erhalten kann, die wesentlich kürzere
Bestrahlungszeiten erfordern, wenn bei der Herstellung
von Reliefstrukturen nach Patent (Patentanmeldung
P 23 08 830.4) an Stelle der unter a) angegebenen esterartig an Carboxylgruppen gebundenen strahlungs&ktiven Gruppen
609808/0835
2 4 3 7 3 U
VPA 74/7572
Oxyalkylmethacrylat- und-acrylatgruppender folgenden Struktur
-OR1OC -C= CH2 ,
worin R Wasserstoff oder Methyl und R1 Alkylen sind, verwendet
werden.
Die Herstellung der löslichen polymeren Vorstufen kann bei Verwendung von Hexamethylphosphorsäuretriamid als Lösungsmittel
in einer Ein-Topf-Reaktion erfolgen.
Zur Steigerung der Vernetzungsgeschwindigkeit können gebräuchliche
Photoinitiatoren und/oder -senöilisatoren eingesetzt
werden, vgl. Industrie Chimique Beige 24, 739-64 (1959) bzw. Light-Sensitive Systems by J. KOSAR, John Wiley & Sons Inc.,
New York 1965, 143-46 und 160-88. Gut geeignete Sensibilisatoren und/oder Initiatoren sind z. B. Michler's Keton und/
oder Benzoinäther, 2-tert. Butyl-9.10-anthrachinon, 1.2-Benz-9.10-anthrachinon,
4.4'-Bis(diäthylamino)-benzophenon.
Außerdem können zu diesem Zweck die löslichen polymeren Vorstufen mit weiteren strahlungsempfindlichen, copolymerisationfähigen
Verbindungen kombiniert werden. Gut geeignet sind z.B. Verbindungen, die eine oder mehrere N-substituierte Maleinimidgruppen
enthalten.
Nach dem Verfahren der vorliegenden Erfindung können kantenscharfe
Reliefstrukturen aus hochwärmebeständigen Polymeren unter Ausnutzung der erhöhten Lichtempfindlichkeit der verwendeten
gut zugänglichen löslichen polymeren Vorstufen hergestellt werden. Es ist besonders geeignet zur Herstellung
von miniaturisierten Schaltungen und von Schutzschichten für Halbleiterbauteile, ferner für Lötschutzschichten auf Mehrlagenschaltungen,
als miniaturisierte Isolierschichten auf elektrisch leitenden und/oder halbleitenden und/oder isolierenden
Basismaterialien und für Schichtschaltungen, als Iso-
B Π 9 8 0 B/0 8 3 5
VPA 74/7572
lierschichten für gedruckte Schaltungen mit galvanisch erzeugten
Leiterbahnen, als optisch abfragbare Bildspeicher und für Druckformen.
Die Erfindung wird durch die folgenden Beispiele näher erläutert.
21,8 Gewichtsteile Pyromellitsäuredianhydrid wurden in 100 Volumteilen Hexamethylphosphorsäuretriamid gelöst, unter Eiskühlung
und Rühren tropfenweise mit 26 Gewichtsteilen Methacrylsäure-2-hydroxyäthylester
versetzt, und dann 4 Tage bei Raumtemperatur gerührt. Die Lösung wurde anschließend bei
-5 bis -100C tropfenweise mit 24 Gewichtsteilen Thionylchlorid
versetzt und eine Stunde weitergerührt. Dann wurde eine Lösung von 19,8 Gewichtsteilen 4,4'-Diaminodiphenylmethan
in 50 Volumteilen Dimethylacetamid zugetropft, zuletzt ohne Kühlung eine Stunde weitergerührt.
Die lösliche polymere Vorstufe wurde durch Zutropfen der Lösung zu 2000 Volumteilen Wasser ausgefällt und mit Wasser
und Äthanol gewaschen.
5 Gewichtsteile der polymeren Vorstufe und 0,1 Gewichtsteil
Michler's Keton wurden in 20 Volumteilen Dimethylformamid
gelöst. Dann wurde die Lösung fiHriert und auf Aluminiumfolie zu gleichmäßigen Filmen geschleudert, die nach Verdampfen
des Lösungsmittels 3/um stark waren. Die Filme wurden mit einer 500 W-Quecksilberhöchstdrucklampe im Abstand von 23 cm
durch eine Kontaktkopie 2 min bestrahlt, 30 see in y -Butyrolacton
getaucht und mit Toluol gewaschen. Es wurde ein Auflösungsvermögen < 20/um bei guter Kantenschärfe erreicht.
Die erhaltenen Muster wurden 20 min bei 3000C getempert.
Dabei blieben Auflösungsvermögen und Kantenschärfe unverän-
B 0 9 8/18/ f) S 3 5
VPA 74/7572
dert, die Reliefstrukturen wiesen dann die hervorragenden
thermischen, mechanischen, elektrischen und chemischen Eigenschaften des Polyimids Polydiphenylmethanpyromellitimid auf.
Das IR-Spektrum der getemperten Proben zeigte die für die Imidstruktur typische Bande bei 5,6 /um.
Statt 4,4'-Diaminodiphenylmethan wurde 4.4t-Diaminodiphenyläther
verwendet, ansonsten wurde wie in Beispiel 1 verfahren.
5 Gewichtsteile der polymeren Vorstufe, 0,5 Gewichtsteile Maleinanil und 0,05 Gewichtsteile Michler's Keton wurden in
20 Volumteilen Dimethylformamid gelöst, filtriert und auf Aluminiumfolien zu gleichmäßigen Filmen geschleudert, die
nach Verdampfen des Lösungsmittels 2/um stark waren. Die Filme
wurden, wie in Beispiel 1 beschrieben, 60 see bestrahlt, 30 see in ^-Butyrolacton entwickelt und mit Toluol gewaschen.
Es wurde ein Auflösungsvermögen < 20 /um bei guter Kantenschärfe erreicht. Die erhaltenen Muster wurden 20 min bei
3000C getempert. Dabei blieben Auflösungsvermögen und Kantenschärfe
unverändert, die Reliefstrukturen wiesen dann die hervorragenden thermischen, mechanischen, elektrischen und
chemischen Eigenschaften des Polyimids Polydiphenyloxidpyromellitimid
auf. Das IR-Spektrum der getemperten Proben zeigte die für die Imidstruktur typische Bande bei 5,6/um.
6 Patentansprüche
0 Figuren
0 Figuren
- 6
09808/0835
Claims (6)
1) Verfahren zur Herstellung von Reliefstrukturen aus hochwärmebeständigen Polymeren durch Auftragen strahlungsempfindlicher
löslicher polymerer Vorstufen in Form einer Schicht oder Folie auf ein Substrat, Bestrahlen der strahlungsempfindlichen
Schicht oder Folie durch Negativvorlagen, Herauslösen oder Abziehen der nicht bestrahlten Schicht- oder Folienteile
und gegebenenfalls anschließendes Tempern der erhaltenen Reliefstrukturen, unter Verwendung von Polyadditions- oder
Polykondensationsprodukten polyfunktioneller carbocyclischer oder heterocyclischer, strahlungsempfindliche Reste tragender
Verbindungen mit Diaminen, Diisocyanaten, Bis-säurechloriden oder Dicarbonsäuren als lösliche polymere Vorstufen,
wobei
a) die strahlungsempfindliche Reste R tragenden Verbindungen zwei für Additions- oder Kondensationsreaktionen geeignete
Carboxyl-, Carbonsäurechlorid-, Amino-, Isocyanat- oder Hydroxylgruppen und teilweise in ortho- oder peri-Stellung
dazu esterartig an Carboxylgruppen gebundene strahlungsreaktive Gruppen der folgenden Struktur
-0-CH0-C=CH0
2 , 2
COR.
-RO-CO-(CH=CH)
-0 —
COR.
R = Oxy alkyl
R1= Alkyl, Phenyl, Alkoxyphenyl,
Halοgenphenyl
n=1,2.
6 0 9 8 0 8 / 0 8 3 5
VPA 74/7572
-RO-CO-C=CH CN
R2 = R, =
H, Cl, Alkyl, Alkoxy
carbocycl. oder heterocycl. aromat.Rest, über
Ring-C gebunden
- CH=CH-R-
—0
CH=CH-R-
enthalten, und wobei
b) die mit diesen Verbindungen umzusetzenden Diamine, Diisocyanate,
Bis-säurechloride oder Dicarbonsäuren mindestens ein cyclisches Strukturelement enthalten, nach Patent .....
(Patentanmeldung P 23 08 830.4), dadurch gekennzeichnet, daß an die Stelle der unter a) angegebenen esterartig an Carboxylgruppen
gebundenen strahlungsreaktiven Gruppen esterartig an Carboxylgruppen gebundene strahlungsreaktive Gruppen
folgender Struktur
R -OR1OC-C=CH,
R=H, CH3 R'= Alkylen
treten.
2) Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
als esterartig an Carboxylgruppen gebundene strahlungsreaktive Gruppen ß-Oxyäthylmethacrylatgruppen verwendet werden.
3) Verfahren nach Anspruch 1 bis 2, dadurch gekennzeichnet, daß die löslichen polymeren Vorstufen zusammen mit Verbindungen
bestrahlt werden, die eine oder mehrere N-substituierte Maleinimidgruppen enthalten.
4) Verfahren nach Anspruch 1 bis 3» dadurch gekennzeichnet, daß die löslichen polymeren Vorstufen zusammen mit Maleinanil
bestrahlt werden.
6 0 9 8 0 8/0835
VPA 74/7572
5) Verfahren nach Anspruch 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Maleinanilanteil<20 Gewichtsprozent, vorzugsweise
zwischen 2 und 10 Gewichtsprozent beträgt.
6) Verfahren nach Anspruch 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die löslichen polymeren Vorstufen in Hexamethylphosphorsäuretriamidlösung
hergestellt werden.
8 0 8/0835
Priority Applications (10)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19742437348 DE2437348B2 (de) | 1974-08-02 | 1974-08-02 | Verfahren zur herstellung von reliefstrukturen |
AT450775A AT359288B (de) | 1974-08-02 | 1975-06-12 | Verfahren zur herstellung von reliefstrukturen |
BE158565A BE831681R (fr) | 1974-08-02 | 1975-07-24 | Procede de fabrication de structures en relief |
US05/598,829 US4040831A (en) | 1974-08-02 | 1975-07-24 | Method for the preparation of relief structures |
IT25727/75A IT1049569B (it) | 1974-08-02 | 1975-07-25 | Procedimento per formare strutture in rilievo costituite di polimeri molto resistenti al calore |
FR7523799A FR2280925A2 (fr) | 1974-08-02 | 1975-07-30 | Procede de fabrication de structures en relief |
JP9412075A JPS5541422B2 (de) | 1974-08-02 | 1975-08-01 | |
NLAANVRAGE7509204,A NL180144C (nl) | 1974-08-02 | 1975-08-01 | Werkwijze ter vervaardiging van reliefstructuren uit fotopolymeren. |
GB32364/75A GB1512973A (en) | 1974-08-02 | 1975-08-01 | Radiationsensitive prepolymers and their use for the production of relief structures |
US05/972,432 USRE30186E (en) | 1974-08-02 | 1978-12-22 | Method for the preparation of relief structures |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19742437348 DE2437348B2 (de) | 1974-08-02 | 1974-08-02 | Verfahren zur herstellung von reliefstrukturen |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2437348A1 true DE2437348A1 (de) | 1976-02-19 |
DE2437348B2 DE2437348B2 (de) | 1976-10-07 |
Family
ID=5922319
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19742437348 Granted DE2437348B2 (de) | 1974-08-02 | 1974-08-02 | Verfahren zur herstellung von reliefstrukturen |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4040831A (de) |
JP (1) | JPS5541422B2 (de) |
AT (1) | AT359288B (de) |
BE (1) | BE831681R (de) |
DE (1) | DE2437348B2 (de) |
FR (1) | FR2280925A2 (de) |
GB (1) | GB1512973A (de) |
IT (1) | IT1049569B (de) |
NL (1) | NL180144C (de) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0019122A2 (de) * | 1979-05-16 | 1980-11-26 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur phototechnischen Herstellung von Reliefstrukturen |
US4757098A (en) * | 1985-04-17 | 1988-07-12 | Merck Patent Gesellschaft Mit Beschrankter Haftung | Stabilized solutions of radiation-crosslinkable polymer precursors of highly heat-resistant polymers |
US4849051A (en) * | 1987-05-18 | 1989-07-18 | Siemens Aktiengesellschaft | Heat resistant positive resists and method for preparing heat-resistant relief structures |
EP0333655A2 (de) * | 1988-03-17 | 1989-09-20 | Ciba-Geigy Ag | Negativ-Fotoresists vom Polyimid-Typ mit 1,2-Disulfonen |
US5856065A (en) * | 1996-03-27 | 1999-01-05 | Olin Microelectronic Chemicals, Inc. | Negative working photoresist composition based on polyimide primers |
US6582879B2 (en) | 2001-03-27 | 2003-06-24 | Korea Research Institute Of Chemical Technology | Reactive photo acid-generating agent and heat-resistant photoresist composition with polyamide precursor |
CN109698115A (zh) * | 2017-10-23 | 2019-04-30 | 东京毅力科创株式会社 | 半导体装置的制造方法 |
Families Citing this family (41)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5952822B2 (ja) * | 1978-04-14 | 1984-12-21 | 東レ株式会社 | 耐熱性感光材料 |
DE2967162D1 (en) * | 1978-09-29 | 1984-09-13 | Hitachi Ltd | Light-sensitive polymer composition |
DE2933828A1 (de) * | 1979-08-21 | 1981-03-12 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Polyoxazol-vorstufen sowie deren herstellung. |
US4369247A (en) * | 1980-09-03 | 1983-01-18 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Process of producing relief structures using polyamide ester resins |
US4414312A (en) * | 1980-09-03 | 1983-11-08 | E. I. Du Pont De Nemours & Co. | Photopolymerizable polyamide ester resin compositions containing an oxygen scavenger |
US4410612A (en) * | 1980-09-03 | 1983-10-18 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Electrical device formed from polymeric heat resistant photopolymerizable composition |
US4329419A (en) * | 1980-09-03 | 1982-05-11 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Polymeric heat resistant photopolymerizable composition for semiconductors and capacitors |
JPS58223149A (ja) * | 1982-06-22 | 1983-12-24 | Toray Ind Inc | 感光性ポリイミド用現像液 |
US4579809A (en) * | 1982-10-22 | 1986-04-01 | Ciba-Geigy Corporation | Positive image formation |
US4548891A (en) * | 1983-02-11 | 1985-10-22 | Ciba Geigy Corporation | Photopolymerizable compositions containing prepolymers with olefin double bonds and titanium metallocene photoinitiators |
EP0119719B1 (de) * | 1983-03-03 | 1987-05-06 | Toray Industries, Inc. | Strahlungsempfindliche Polymermasse |
DE3411660A1 (de) * | 1984-03-29 | 1985-10-03 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zur herstellung von polyimid- und polyisoindolochinazolindion-vorstufen |
US4741988A (en) * | 1985-05-08 | 1988-05-03 | U.S. Philips Corp. | Patterned polyimide film, a photosensitive polyamide acid derivative and an electrophoretic image-display cell |
DE3717933A1 (de) * | 1987-05-27 | 1988-12-08 | Hoechst Ag | Photopolymerisierbares gemisch, dieses enthaltendes aufzeichnungsmaterial und verfahren zur herstellung von hochwaermebestaendigen reliefstrukturen |
US5270431A (en) * | 1987-07-23 | 1993-12-14 | Basf Aktiengesellschaft | Preparation of oligomeric or polymeric radiation-reactive intermediates for solvent-structured layers |
DE3837612A1 (de) * | 1988-11-05 | 1990-05-23 | Ciba Geigy Ag | Positiv-fotoresists von polyimid-typ |
US5006488A (en) * | 1989-10-06 | 1991-04-09 | International Business Machines Corporation | High temperature lift-off process |
DE4217688A1 (de) * | 1992-05-29 | 1993-12-02 | Basf Lacke & Farben | Durch Einwirkung von Strahlung vernetzendes Gemisch und dessen Verwendung zur Herstellung hochtemperaturbeständiger Reliefstrukturen |
DE4218718A1 (de) * | 1992-06-06 | 1993-12-09 | Basf Lacke & Farben | Verfahren zur Herstellung strukturierter Schichten wärmebeständiger Polykondensate |
US5756260A (en) * | 1993-02-16 | 1998-05-26 | Sumitomo Bakelite Company Limited | Photosensitive polyimide resin composition containing a stabilizer and method for formation of relief pattern using same |
KR100384746B1 (ko) * | 1994-09-13 | 2003-08-25 | 제온 코포레이션 | 감광성 폴리이미드 수지 조성물 |
JP3170174B2 (ja) | 1995-04-18 | 2001-05-28 | 日本ゼオン株式会社 | ポリイミド系樹脂組成物 |
US5886136A (en) * | 1995-09-12 | 1999-03-23 | Nippon Zeon Co., Ltd. | Pattern forming process |
US5648451A (en) * | 1995-10-10 | 1997-07-15 | Sumitomo Bakelite Company Limited | Process for producing photosensitive resin |
EP1012672B1 (de) * | 1997-09-11 | 2003-08-13 | Arch Specialty Chemicals, Inc. | Eine negativ arbeitende fotoresistzusammensetzung auf basis von polyimid-vorläufern |
US6160081A (en) * | 1997-10-31 | 2000-12-12 | Nippon Zeon Co., Ltd. | Photosensitive polyimide resin composition |
JP4529252B2 (ja) | 1999-09-28 | 2010-08-25 | 日立化成デュポンマイクロシステムズ株式会社 | ポジ型感光性樹脂組成物、パターンの製造法及び電子部品 |
US6511789B2 (en) | 2000-06-26 | 2003-01-28 | Arch Specialty Chemicals, Inc. | Photosensitive polyimide precursor compositions |
US7141614B2 (en) * | 2001-10-30 | 2006-11-28 | Kaneka Corporation | Photosensitive resin composition and photosensitive films and laminates made by using the same |
KR20060002751A (ko) * | 2003-03-11 | 2006-01-09 | 후지필름 일렉트로닉 머티리얼스 유.에스.에이., 아이엔씨. | 새로운 감광성 수지 조성물들 |
TWI407255B (zh) * | 2005-09-22 | 2013-09-01 | Hitachi Chem Dupont Microsys | 負片型感光性樹脂組成物、圖案形成方法以及電子零件 |
KR20080104308A (ko) * | 2006-03-16 | 2008-12-02 | 아사히 가라스 가부시키가이샤 | 네거티브형 감광성 함불소 방향족계 수지 조성물 |
KR101025395B1 (ko) * | 2006-06-20 | 2011-03-28 | 히다치 가세이듀퐁 마이쿠로시스데무즈 가부시키가이샤 | 네거티브형 감광성 수지 조성물, 패턴의 제조방법 및 전자부품 |
KR101438857B1 (ko) * | 2007-03-12 | 2014-09-05 | 히다치 가세이듀퐁 마이쿠로시스데무즈 가부시키가이샤 | 감광성 수지 조성물, 그 수지 조성물을 이용한 패턴 경화막의 제조방법 및 전자부품 |
JP5277867B2 (ja) * | 2007-10-29 | 2013-08-28 | 日立化成デュポンマイクロシステムズ株式会社 | ポジ型感光性樹脂組成物、パタ−ンの製造方法及び電子部品 |
JP6028731B2 (ja) | 2011-07-26 | 2016-11-16 | Jnc株式会社 | 光硬化性インクジェットインクおよび電子回路基板 |
EP2997075B1 (de) | 2013-05-17 | 2021-12-15 | FujiFilm Electronic Materials USA, Inc. | Neuartiges polymer und wärmehärtende zusammensetzung damit |
US10563014B2 (en) | 2017-09-11 | 2020-02-18 | Fujifilm Electronic Materials U.S.A., Inc. | Dielectric film forming composition |
JP2022550611A (ja) | 2019-10-04 | 2022-12-02 | フジフイルム エレクトロニック マテリアルズ ユー.エス.エー., インコーポレイテッド | 平坦化プロセス及び組成物 |
KR20230145070A (ko) | 2021-02-16 | 2023-10-17 | 솔베이 스페셜티 폴리머스 이태리 에스.피.에이. | 낮은 유전 손실을 갖는 폴리이미드 |
KR20230146530A (ko) | 2021-02-16 | 2023-10-19 | 솔베이 스페셜티 폴리머스 이태리 에스.피.에이. | 낮은 유전 손실률을 갖는 폴리이미드 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3475176A (en) * | 1966-09-06 | 1969-10-28 | Eastman Kodak Co | Azide sensitized photosensitive prepolymer compositions |
US3650746A (en) * | 1969-06-16 | 1972-03-21 | Grace W R & Co | Dual image formation on separate supports of photocurable composition |
US3858510A (en) * | 1971-03-11 | 1975-01-07 | Asahi Chemical Ind | Relief structures prepared from photosensitive compositions |
US3801638A (en) * | 1971-03-12 | 1974-04-02 | Gaf Corp | Triacrylyldiethylenetriamine,method of producing the same,and photopolymerization process and system utilizing the same |
BE793732A (fr) * | 1972-01-10 | 1973-05-02 | Grace W R & Co | Composition contenant un polyene et un polythiol |
NL177718C (nl) * | 1973-02-22 | 1985-11-01 | Siemens Ag | Werkwijze ter vervaardiging van reliefstructuren uit warmte-bestendige polymeren. |
US3847767A (en) * | 1973-03-13 | 1974-11-12 | Grace W R & Co | Method of producing a screen printable photocurable solder resist |
-
1974
- 1974-08-02 DE DE19742437348 patent/DE2437348B2/de active Granted
-
1975
- 1975-06-12 AT AT450775A patent/AT359288B/de not_active IP Right Cessation
- 1975-07-24 US US05/598,829 patent/US4040831A/en not_active Expired - Lifetime
- 1975-07-24 BE BE158565A patent/BE831681R/xx not_active IP Right Cessation
- 1975-07-25 IT IT25727/75A patent/IT1049569B/it active
- 1975-07-30 FR FR7523799A patent/FR2280925A2/fr active Granted
- 1975-08-01 NL NLAANVRAGE7509204,A patent/NL180144C/xx not_active IP Right Cessation
- 1975-08-01 JP JP9412075A patent/JPS5541422B2/ja not_active Expired
- 1975-08-01 GB GB32364/75A patent/GB1512973A/en not_active Expired
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0019122A2 (de) * | 1979-05-16 | 1980-11-26 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur phototechnischen Herstellung von Reliefstrukturen |
EP0019122A3 (en) * | 1979-05-16 | 1981-05-27 | Siemens Aktiengesellschaft Berlin Und Munchen | Process for the phototechnical production of relief structures |
US4757098A (en) * | 1985-04-17 | 1988-07-12 | Merck Patent Gesellschaft Mit Beschrankter Haftung | Stabilized solutions of radiation-crosslinkable polymer precursors of highly heat-resistant polymers |
US4849051A (en) * | 1987-05-18 | 1989-07-18 | Siemens Aktiengesellschaft | Heat resistant positive resists and method for preparing heat-resistant relief structures |
EP0333655A2 (de) * | 1988-03-17 | 1989-09-20 | Ciba-Geigy Ag | Negativ-Fotoresists vom Polyimid-Typ mit 1,2-Disulfonen |
EP0333655A3 (de) * | 1988-03-17 | 1990-02-28 | Ciba-Geigy Ag | Negativ-Fotoresists vom Polyimid-Typ mit 1,2-Disulfonen |
US5856065A (en) * | 1996-03-27 | 1999-01-05 | Olin Microelectronic Chemicals, Inc. | Negative working photoresist composition based on polyimide primers |
US6582879B2 (en) | 2001-03-27 | 2003-06-24 | Korea Research Institute Of Chemical Technology | Reactive photo acid-generating agent and heat-resistant photoresist composition with polyamide precursor |
CN109698115A (zh) * | 2017-10-23 | 2019-04-30 | 东京毅力科创株式会社 | 半导体装置的制造方法 |
CN109698115B (zh) * | 2017-10-23 | 2023-11-03 | 东京毅力科创株式会社 | 半导体装置的制造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL180144C (nl) | 1987-01-02 |
NL7509204A (nl) | 1976-02-04 |
FR2280925A2 (fr) | 1976-02-27 |
IT1049569B (it) | 1981-02-10 |
JPS5541422B2 (de) | 1980-10-24 |
US4040831A (en) | 1977-08-09 |
ATA450775A (de) | 1980-03-15 |
AT359288B (de) | 1980-10-27 |
NL180144B (nl) | 1986-08-01 |
DE2437348B2 (de) | 1976-10-07 |
GB1512973A (en) | 1978-06-01 |
JPS5140922A (de) | 1976-04-06 |
FR2280925B2 (de) | 1983-03-11 |
BE831681R (fr) | 1975-11-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2437348A1 (de) | Verfahren zur herstellung von reliefstrukturen | |
DE3424216C2 (de) | Lichtempfindliches Gemisch mit einer Polyamidsäure, Verfahren zu seiner Herstellung und seine Verwendung | |
DE2914619C2 (de) | Lichtempfindliches Gemisch | |
EP0026820B1 (de) | Verfahren zur Herstellung hochwärmebeständiger Reliefstrukturen, danach hergestellte Reliefstrukturen und deren Verwendung | |
EP0103225A2 (de) | Fotolacke zur Ausbildung von Reliefstrukturen aus hochwärmebeständigen Polymeren | |
USRE30186E (en) | Method for the preparation of relief structures | |
EP0157930B1 (de) | Verfahren zur Herstellung von Polyimid- und Polyisoindolochinazolindion-Reliefstrukturen | |
EP0041678B1 (de) | Verfahren zur Herstellung hochwärmebeständiger Reliefstrukturen und deren Verwendung | |
EP0026821B1 (de) | Verfahren zur Herstellung hochwärmebeständiger Reliefstrukturen, danach hergestellte Reliefstrukturen und deren Verwendung | |
DE3411714A1 (de) | Verfahren zur herstellung von polyimidazol- und polyimidazopyrrolon-reliefstrukturen | |
EP0026299B1 (de) | Verfahren zur Herstellung hochwärmebeständiger Reliefstrukturen, danach hergestellte Reliefstrukturen und deren Verwendung | |
US4088489A (en) | Method for the preparation of relief structures | |
DE2437422C3 (de) | Verfahren zur Herstellung von Reliefstrukturen | |
DE2462105C3 (de) | ||
DE2462101B2 (de) | ||
DE2437369C3 (de) | Verfahren zur Herstellung von Reliefstrukturen | |
DE2462196C3 (de) | ||
DE2437369A1 (de) | Verfahren zur herstellung von reliefstrukturen | |
DE2308830C3 (de) | Verfahren zur Herstellung von Reliefstrukturen | |
DE2437413A1 (de) | Verfahren zur herstellung von reliefstrukturen | |
DE2437397A1 (de) | Verfahren zur herstellung von reliefstrukturen | |
DE2437383B2 (de) | Verfahren zur herstellung von reliefstrukturen | |
DE2308830B2 (de) | Verfahren zur Herstellung von Reliefstrukturen |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 |