DE3330068A1 - Hybrid-integrierte schaltung und verfahren zur herstellung derselben - Google Patents
Hybrid-integrierte schaltung und verfahren zur herstellung derselbenInfo
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Description
1A-4256
DKK-42C
DKK-42C
DENKI KAGAKU KOGYO KABUSHIKI KAISHA Tokyo, Japan
Hybrid-integrierte Schaltung und Verfahren zur Herstellung derselben
Die vorliegende Erfindung betrifft eine hybrid-integrierte Schaltung, welche sowohl die Verbindung eines
Halbleiterelements mit einem Schaltungsteil über einen Aluminiumdraht oder Golddraht gestattet als auch die
Verbindung eines externen Anschlusses, eines Halbleiterelements oder eines anderen Schaltungselements mit
einem anderen Schaltungsteil durch Löten in der Schaltung. Die Schaltungsanordnung wird hergestellt durch
selektives Ätzen eines ersten und eines zweiten leitfähigen Metalls, wie Aluminium und Kupfer, welche auf
ein gemeinsames Substrat laminiert sind, dergestalt,
3330Q68 'Ψ·
--2—
daß die Oberflächen der Metalle selektiv freigelegt
werden.
Herkömmliche, hybrid-integrierte Schaltungen werden hergestellt durch Ausbildung eines Schaltungsmusters
auf einem Substrat aus Glas oder Keramikmaterial durch Aufdampfen oder durch Druckverfahren oder dergl. oder
durch Ausbildung einer Schaltung im Wege der Ätzung eines mit Kupfer laminierten Substrats. Letzteres wird
hergestellt durch Taminierung einer isolierenden Schicht
und einer Kupferfolie auf eine Basisplatte aus Aluminium oder Eisen. An die Ausbildung des Schaltungsmusters
schließt sich die Verbindung der Schaltungselemente durcx. L?ten an. Im allgemeinen wird die Schaltung
mit den Körpern von Halbleitern, externen Verbindungsanschlüssen, Chipelementen,z.B. Chipkondensatoren,
Chipwiderständen oder dergl., verbunden, und außerdem wird die Schaltung über Gold- oder Aluminiumdrähte
mit den Halbleiteranschlüssen verbunden.
In bezug auf die Verbindung des Substrats mit dem Goldoder Aluminiumdraht gibt es verschiedene Behandlungsvorschläge, z.B. die Plattierung mit einem Edelmetall,
wie Gold oder Silber; die Nickelplattierung (JA-AS 3461/1977); Aluminium-Aufdampfung (JA-OS 28662/1976)
und Metallpelletverbindung (JA-AS 37110/1970). Wenn eine Plattierungsbehandlung durchgeführt wird, so wird
eine Anlage für diese Plattierungsbehandlung benötigt, und es ist ferner erforderlich, die Güte der Oberfläche
und die Dicke der Plattierungsschicht sorgfältig
zu steuern. Wenn andererseits ein Metallpellet verwendet wird, so ist die Anzahl der Verbindungsvorgänge
größer als die Anzahl der Verbindungen der Halbleiter-
körper mit dem Ergebnis, daß das Gesamtverbindungsverfahren
kompliziert ist.
Im Falle der Durchführung eines Drahtverbindungsverfahrens unter Ultraschall-Schwingungsbehandlung mit
einem Aluminiumdraht kommt es ebenfalls zu nachteiligen Erscheinungen. Wenn dabei beispielsweise eine
Schaltung mit freiliegendem Kupfer auf einer Isolierschicht aus hochpolymerem Harz verwendet wird, so
kommt es zu einem sog. Austritt der Ultraschallwellen, da die isolierende Schicht einen niedrigen Young-Modul
aufweist. Dies verhindert eine zufriedenstellende Verbindung. Andererseits hat auch die Plattierung mit
Edelmetall oder die Plattierung mit Nickel Nachteile, da eine äußerst hohe Güte der für die Verbindung zu
verwendenden Oberflächenbereiche erforderlich ist und da ferner die Bedingungen, welche bei der Verbindung
unter Anwendung von Ultraschallschwingungen eingehalten werden müssen, sich in engen Grenzen halten.
Es ist somit Aufgabe der vorliegenden Erfindung, die vorgenannten Nachteile der herkömmlichen Verfahren zu
überwinden und ein Verfahren zur Herstellung einer hybrid-integrierten Schaltung zu schaffen, welches die
Verbindung von Halbleiterelementen mit einem Schaltungsteil über einen Aluminiumdraht oder einen Golddraht
gestattet und außerdem die Verbindung der Elemente selbst mit einem anderen Schaltungsteil durch
Löten.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein Verfahren
zur Herstellung einer hybrid-integrierten Schaltung gelöst, bei dem man ©ine isolierende Schicht, welche
gegebenenfalls selbst mit einem Metallsubstrat lami-
niert sein kann, mit einer Alimiinium-Kupfer-Verbundfolie
laminiert. Sodann erfolgt eine Ätzbehandlung der Aluminium-Kupfer-Verbundfolie mit Ätzmitteln, die
einen Aluminiumschaltungsteil bilden sowie einen Kupferschaltungsteil. Sodann wird ein Halbleiterelement
mit dem Aluminiumschaltungsteil über einen Aluminiumdraht oder Golddraht verbunden, während andererseits
ein Schaltungselement mit dem Kupferschaltungsteil durch Löten verbunden wird.
Ferner wird erfindungsgemäß eine hybrid-integrierte
Schaltung geschaffen, welche nach obigem Verfahren hergestellt wurde.
Im folgenden wir! die Erfindung anhand von Zeichnungen
näher erläutert; es zeigen:
Fig. 1 bis 3 Schnittansichten zur Veranschaulichung der Stufen der Herstellung der Schaltung gemäß
dem erfindungsgemäßen Verfahren;
Fig. 4 einen Schnitt zur Veranschaulichung der Ausbildung einer Schaltung auf einem Schaltungssubstrat
gemäß den Fig. 1 bis 3;
Fig. 5 bis 7 Schnittansichten zur Veranschaulichung einer weiteren Ausführungsform des erfindungsgemäßen
Verfahrens, nämlich der Stufe zur Bildung einer Schaltung;
Fig. 8 eine Schnittansicht zur Veranschaulichung der Aufbringung yon Schaltungselementen auf der
Schaltung gemäß den Fig. 5 bis 7; und
Fig. 9 ein Diagramm der Beziehung der Ausgangsleistung zum Zeitpunkt der Drahtverlötung unter Ultraschallbehandlung
einerseits und der Zugfestigkeit andererseits .
• r *
Im folgenden soll eine erste Ausführungsform der Erfindung
anhand der Fig. 1 bis 4 erläutert werden. Ein Schaltungssubstrat wird hergestellt, indem man eine
leitfähige Metallschicht 9, bestehend aus zwei laminierten Metallfolien, Metallfilmen oder -schichten,
wie einer Aluminiumschicht 2 als untere Schicht und einer Kupferschicht 3 als obere Schicht, auf eine
isolierende Schicht 1 aufbringt,welche als Trägerkörper
vorliegen kann. Das so erhaltene ochaltungssubstrat wird einer Ätzbehandlung unterzogen. Dabei wird
ein Ätzmittel verwendet, welches sich dazu eignet, nur die obere Metallschicht aufzulösen. Es wird ein weiteres
Ätzmittel verwendet, welches nur die untere Metallschicht auflöst. Dabei wird jeweils die Metallschicht
mit einem vorbestimmten ochaltungsmustar freigelegt.
Auf diese Weise erhält man ein Schaltungssubstrat für
eine hybrid-integrierte Schaltung. Sodann werden Halbleiterelemente mit einer Aluminiumschaltung verbunden,
welche auf einem Aluminiumleitungspfad ausgebildet ist, und zwar mit Hilfe eines Aluminium- oder eines
Golddrahts durch Anwendung von Ultraschall. Ferner werden Schaltungselemente mit der Kupferschaltung verbunden,
welche im Kupferleitungspfad ausgebildet ist, und zwar ebenfalls durch Löten. Bei einer alternativen
Ausführungsform kann die leitfähige Metallschicht 9 zusammengesetzt sein aus einer oberen Aluminiumschicht
und einer unteren Kupferfolie als untere Schicht.
Die Fig. 5 bis 8 zeigen eine weitere Ausführungsform
der Erfindung. Hier besteht eine leitfähige Metallschicht 9 aus einer Aluminiumfolie 2 als obere Schicht
und einer Kupferfolie 3 als untere Schicht. Beide sind über eine Isolierschicht 1 mit einem Metallkörper 8 verbunden.
Die leitfähige Metallschicht 9 kann aus einer
'6 '
Kupferfolie 3 als obere Schicht und einer Aluminiumfolie 2 als untere Schicht bestehen.
Die isolierende Schicht 1 der Erfindung kann aus einem organischen Polymeren, wie einem Epoxyharz, einem
Phenolharz, einem Silikonharz, einem Polyimidharz oder dergl., bestehen. Ferner kann sie auch aus einem
anorganischen Material bestehen oder aus einem zusammengesetzten Material, bestehend aus einem anorganischen
Material und einem organischen Polymeren, wie Glas-Epoxy. Es ist besonders erwünscht, ein Verbundmaterial
zu verwenden, welches aus einem organischen Polymeren und einem anorganischen Pulver mit ausgezeichneter
wärmeleitfähigkeit, wie Berylliumoxid, Bornitrid, Aluminiumoxid, Magnesiumoxid, Siliciumdioxid
oder dergl., besteht und welches in einer Menge einverleibt wird, die größer ist als die Menge des
organischen Polymeren. Dies geschieht deshalb, weil die Wärmeleitfähigkeit des anorganischen Pulvers hoch
ist und das Phänomen des Austritts einer Ultraschallwelle unterbindet.
Das Schaltungssubstrat zeigt ferner eine ausgezeichnete Wärmeleitfähigkeit, da es nämlich aus einer Kombination
einer metallischen Basisplatte und einer isolierenden Schicht besteht. Ein solches Substrat ist optimal
für die Zwecke einer hybrid-integrierten Hochleistungsschaltung.
Die Aluminiumfolie und die Kupferfolie haben jeweils eine Dicke von 0,1 bis 100 /um. Die laminierte Aluminium-Kupfer-Verbundfolie
kann erhalten werden durch Aufeinanderlegen von zwei Folien oder durch Ausbil-
dung einer Kupferschicht auf der Aluminiumfolie durch Plattierung oder durch Ausbildung von Zink- und
Kupfarechichten auf der Aluminiumfolie durch Plattierung
in dieser Reihenfolge.
Im folgenden soll die Herstellung der hybrid-integrierten Schaltung erläutert werden. Ein Resistmaterial
wird durch Siebdruck auf die laminierte Aluminium-Kupfer-Verbundfolie aufgebracht und getrocknet. Die
erste metallische Schicht 3 des oberen Teils der Verbundfolie 9 wird sodann einer Ätzbehandlung unterzogen,
indem man ein selektives Ätzmittel einwirken läßt. Man erhält dabei ein vorbestimmtes Schaltungsmuster
(Fig. 2). Sodann wird der Resist entfernt. Falls erforderlich, kann der Resist auch für die Durchführung
der nächsten Stufe verbleiben.
Sodann wird erneut ein Resist durch Siebdruck auf das Schaltungssubstrat aufgebracht und getrocknet. Nun erfolgt
wiederum eine Ätzbehandlung mit einem Ätzmittel, welches nur auf die zweite Metallschicht 2 des unteren
Teils der Verbundfolie 9 einwirkt. Hierdurch erhält man wiederum ein vorbestimmtes Schaltungsmuster der
zweiten Metallschicht. Auf diese Weise erhält man eine Schaltung auf dem Substrat gemäß den Fig. 3 und 7.
Auf dem Schaltungssubstrat dient eine Kupferschaltung 31 dazu, einzelne Schaltungselemente durch Löten zu
verbinden,und der Aluminiumschaltungsteil 21 dient
zur Verbindung eines Aluminiumdrahts oder eines Golddrahts 6.
Die Fig. 4 und 8 zeigen Schaltungssubstrate mit einer Halbleitereinrichtung 5 und einem externen Anschluß 7.
Die Halbleitereinrichtung 5 und der externe Anschluß
7 werden mit dem Kupferschaltungsteil 31 über eine
Lotschicht 4 verbunden. Andererseits wird die Halbleitereinrichtung
5 elektrisch mit dem Aluminiumschaltungsteil 21 über den Aluminiumdraht oder den Golddraht
6 verbunden. Der externe Anschluß 7 kann mit dem Kupferschaltungsteil 3' mittels eines leitfähigen Bindemittels
anstelle der Lotschicht 4 verbunden werden. Ferner kann der externe Anschluß auch mit dem Kupferschaltungsteil 31 über einen Kühlkörper verbunden werden,
z.B. eine Kupferplatte, und zwar durch Löten.
Bei den vorerwähnten Ausführungsformen werden die ersten
und zweiten Metallschichten nacheinander geätzt. Dabei verwendet stan ein Ätzmittel, welches nur zum Ätzen
der ersten Metallschicht geeignet ist, und sodann ein weiteres Ätzmittel, welches nur zum Ätzen der zweiten
Metallschicht geeignet ist. Hierdurch erhält man die jeweiligen, vorbestimmten Schaltungsmuster. Es ist
auch möglich, die vorbestimmten Schaltungsmuster durch Ätzen sowohl der ersten Metallschicht als auch der
zweiten Metallschicht mit einem gemeinsamen Ätzmittel, wie Eisen(III)-chlorid, zu ätzen und dann nur die erste
Metallschicht mit einem weiteren Ätzmittel zu ätzen, welches selektiv nur die erste Metallschicht
zu ätzen vermag.
Bei dem erfindungsgemäßen Schaltungssubstrat kann entweder der Aluminiumschaltungsteil oder der Kupferschaltungsteil
freiliegen, sofern dieser Schaltungsteil nicht für das Auflöten von Schaltungselementen oder für
die Verbindung mit Draht, nämlich dem Aluminiumdraht oder dem Golddraht 6, benötigt wird.
Es kommen verschiedene Ätzmittel in Frage, welche selektiv in bezug auf Kupfer wirken, d.h. welche Kupfer
zu ätzen vermögen, nicht jedoch Aluminium. Man kann beispielsweise ein Ätzmittel vom Schwefelsäure-Wasserstoffperoxid-Typ
verwenden (z.B. Perma Etch, hergestellt von Ebara Densan K.K.); eine wäßrige Lösung von
Persulfat, wie Ammoniumpersulfat, Natriumpersulfat
oder dergl.. Diese Ätzmittel sind besonders vorteilhaft, da es nicht nötig ist, einen Schutzfilm zu verwenden,
mit dem die rückwärtige Fläche des Metallkörpers 8 im Falle der Fig. 8 geschützt werden muß, wenn man eine
Aluminiumplatte als Metallkörper verwendet.
Als Ätzmittel, welches in bezug auf Aluminium selektiv
wirkt, d. h· welches Aluminium zu ätzen vermag, nicht jedoch Kupfer, kann man beispielsweise ein Mittel verwenden, welches erhalten wird durch Auflösung eines
Nitrats, wie Natriumnitrat, oder eines Nitrits, wie Natriumnitrit, in der wäßrigen Lösung einer starken,
anorganischen Base, wie Natriumhydroxid, Kaliumhydroxid usw.; ein solches Ätzmittel wird vorzugsweise
verwendet, da es nur minimal zur Entwicklung von Wasserstoff führt und vorzügliche Ätzeigenschaften hat. Falls
erwünscht, kann man ein Entschlackungsmittel zusetzen sowie ein Chelatisierungsmittel für Aluminium.
Im folgenden wird die Erfindung anhand von Beispielen und Vergleichsbeispielen näher erläutert.
Es wird der Aufbau gemäß Fig. 1 gewählt. Als Trägerplatte 1 wird eine isolierende Platte aus Glas-Epoxy-Material
mit einer Dicke von 1,6 mm verwendet. Eine
Aluminium-Kupfer-Verbundfolie 9, bestehend aus einer
Aluminiumfolie 2 mit einer Dicke von 15/um und einer Kupferfolie 3 mit einer Dicke von 35/um, wird auf diese
isolierende Trägerplatte 1 aus Glas-Epoxy-Material
laminiert, wobei die Kupferfolie nach außen weist. Sodann wird auf die Außenseite der Kupferfolie ein Ätzresist
(alkalisch entfernbarer Lack DA-200B, hergestellt von Sanwa Kagaku Company) aufgebracht, und zwar
durch Siebdruck, und 10 min bei 8O0C getrocknet. Sodann
wird die Kupferfolienoberfläche einer Sprüh-Ätzbehandlung unterzogen, wobei man Perma Etch (Warenzeichen
der Ebara Densan K.K.) als selektives Ätzmittel für Kupfer während 2 min bei 54GC einwirken läßt. Dann
wird mit einer 2%igen wäßrigen Lösung von Natriumhydroxid gewascLeiip um den Ätzresist zu entfernen. Auf
diese Weise erhält man den Kupferschaltungsteil 3'.
Sodann wird ein Ätzresist, welcher gegen starke Basen beständig ist, aufgebracht (MR-500, hergestellt von
Asahi Kaken Company), und zwar durch Siebdruck auf das Substrat mit dem Kupferschaltungsteil 3'. Danach
erfolgt eine lOminütige Trocknung bei 1000C. Sodann
sprüht man auf dieses Substrat eine wäßrige Lösung einer starken Base, bestehend aus 100 g/l Natriumhydroxid
und 2 g/l Kaliumhydroxid. Man läßt diese Ätzlösung 3 min bei 500C einwirken. Auf diese Weise erhält
man ein Schaltungssubstrat 10 mit dem Kupferschaltungsteil
31 und dem Aluminiumschaltungsteil 2f gemäß Fig.3.
Beispiel 2
Es wird eine Aluminium-Kupfer-Verbundfolie gemäß Fig.1
hergestellt. Die Oberfläche der Verbundfolie wird mit einem Epoxyharz beschichtet, welche? mit einem anorga-
-^Ionischen Pulver gefüllt ist (Ramdite, hergestellt von
Denki Kagaku Kogyo K.K.). Die Beschichtung hat eine
Dicke von 100 /um. Sodann bringt man auf diese Beschichtungsschicht
eine Aluminiumplatte 8 mit einer Dicke von 2 mm auf. Das Ganze wird nun bei Zimmertemperatur
unter Druck gehärtet oder konsolidiert, wobei man ein Trägersubstrat mit einer Isolierschicht 1 erhält.
Auf die rückwärtige Seite des Trägersubstrats bringt man einen Schutzfilm aus Vinylchloridharz auf. Sodann
wird auf die Aluminiumschicht ein Ätzresist durch Siebdruck aufgebracht, und nun erfolgt die Ätzbehandlung
der Aluminiumschicht gemäß Beispiel 1. Dabei erhält man die Aluminiumschaltung gemäß Fig. 6.
Ί.ίη selektives Ätzmittel für Kupfer wird bereitet, indem
man eine kleine Menge TEC H (hergestellt von Tokai Denka K.K.) als Ätzbeschleunigungsmittel einer wäßrigen
ι.··αιπΐ£ΐ Von Amiiioninmpersiii fat" (150 g/l) zusetzt. Die
Kupferschicht wird nun einer Äl£i»ehan«l!.ung wain-omi
2 min bei 400C unterzogen. Man erhält auf diese Weise
eine Schaltung 10 mit einem Aluminiumschaltungsteil 2'
und einem Kupferschaltungsteil 3f gemäß Fig. 7.
Es werden die folgenden drei Testproben hergestellt: Ein Schaltungssubstrat 10 nach dem Verfahren des Beispiels
2 und
zwei Schaltungssubsträte, bei denen die Laminierung mit
einer Kupferfolie mit einer Dicke von 35/um anstelle der Aluminium-Kupfer-Verbundfolie des Beispiels 2 vorliegt,
wobei in einem Falle eine Beschichtung mit einer Goldplattierungsschicht mit einer Dicke von 1 /um
JJJUUDO
vorliegt und im anderen Falle eine Plattierung mit einer Nickelschicht mit einer Dicke von 5/um. Ein
Aluminiumdraht mit einem Durchmesser von 30 /um wird mit jeder Testprobe verbunden, und zwar durch Ultraschallverbindung,
und die Drahtverbindungscharakteristik wird jeweils untersucht. Die Ergebnisse sind in
Fig. 9 zusammengestellt. Das Drahtverbindungsverfahren
erfolgt mit dem Gerät Wire Bonder USW-5Z6OS, hergestellt von Chiöonpa Kogyo Company. In Fig. 9 ist auf
der Ordinate die Zugfestigkeit des Aluminiumdrahts aufgetragen und auf der Abszisse die Ultraschallausgangsleistung.
Man erkennt aus der Figur, daß das Schaltungssubstrat mit einer Verbindungsfläche (Verbindungsauge)
aus einer Aluminiumfolie mit einer Dicke von 15/um zu s„.iisr höheren Zugfestigkeit führt als die
anderen Verbindungsflächen und daß auch die Fluktuationen in bezug auf die Zugfestigkeitswerte gering sind.
Die Tatsache, daß die Zugfestigkeit im Falle der Plattierungsbehandlung
in großem Maße fluktuiert, bedeutet, daß der Zustand der Oberfläche der durch Plattierung
aufgebrachten Metallechicht in hohem Maße die Drahtbindungseigenschaften
beeinflußt. Somit hat eine Bindungsfläche, welche durch Plattierung aufgebracht wurde,
einen vermeidbaren Nachteil.
Sin weiterer Test der Drahtbindeeigenschaften wurde durchgeführt unter Verwendung des SchaltungsSubstrats
aus einer Aluminiumschicht mit einer Goldplattierungssc'licht
gemäß Vergleichsbeispiel. Zum Vergleich wurde ein Schaltungssubstrat mit einer Aluminiumschicht gemäß
Beispiel 2 herangezogen. Es wurde jeweils ein Golddraht mit einem Durchmesser von 25/um durch Ultraschallbehandlung
verbunden. Es wurde ein NTC Manual Bonder WA1472 (hergestellt von Kaijo Denki Company) verwendet. Das
-.43--
Drahtverbindungsverfahren wurde unter Anwendung von
Druck und Ultraschall bei 25O0C durchgeführt. Die Zugfestigkeitswerte
betrugen bei beiden Testproben etwa 5 g. Die Zugfestigkeitsversuche wurden jeweils bis zur
Ablösung des Drahts durchgeführt. Man erkennt daraus, daß die Drahtbindecharakteristika ausreichen, selbst
wenn man einen Golddraht mit einem Drahtverbindungsverfahren mit dem Verbindungsauge aus der Aluminiumfolie
mit einer Dicke von 15 /um verbindet (erfindungsgemäß) .
Es kann somit erfindungsgemäß eine neuartige hybridintegrierte Schaltung geschaffen werden, indem man die
gewünschten Bereiche der Oberflächen sowohl von Kupfer als auch von Aluminium freilegt, und zwar unter Durchführung
einer doppelten, selektiven Ätzbehandlung einer Aluminium-Kupfer-Verbundfolie, welche auf eine
isolierende Schicht laminiert wurde. Sodann erfolgt die Verbindung eines Aluminiumdrahtes oder eines Golddrahtes
mit der Schaltung und auch die Verbindung des Schaltungselements mit der Schaltung.
Claims (8)
- PatentansprücheVerfahren zur Herstellung einer hybrid-integrierten Schaltung, dadurch gekennzeichnet, daß man eine Aluminium-Kupfer-Verbundfolie auf eine isolierende Schicht laminiert, welche gegebenenfalls selbst mit einem Metallsubstrat laminiert ist, sodann die Aluminium-Kupfer-Verbundfolie mit Ätzmitteln zur Ausbildung eines Aluminiumschaltungsteils und eines Kupferschaltungsteils ätzt und sodann ein Halbleiterelement mit dem Aluminiumschaltungsteil über einen Aluminiumdraht oder einen Golddraht verbindet, während ein Schaltungselement auf den Kupferschaltungsteil aufgelötet wird.
- 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich net, daß die Aluminium-Kupfer-Verbundfolie erhalten wird durch Aufeinanderlegen einer Aluminiumfolie und einer Kupferfolie.
- 3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich net, daß die obere Schicht der Aluminium-Kupfer-Verbundfolie zuerst einer Ätzbehandlung mit einem Ätzmittel unterzogen wird, welches in bezug auf die obere Schicht selektiv wirkt, unter Ausbildung einer vorbestimmten Schaltung, worauf man die untere Schicht der Folie einer Ätzbehandlung unterzieht mit einem Ätzmittel, welches in bezug auf die untere Schicht selektiv wirkt, unter Ausbildung einer vorbestimmten Schaltung.
- 4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeich net, daß die obere Schicht aus Kupfer und die untere Schicht aus Aluminium besteht.
- 5. Verfahren nach Anspruch 3» dadurch gekennzeichnet, daß die obere Schicht aus Aluminium und die untere Schicht aus Kupfer besteht.
- 6. Hybrid-integrierte Schaltung mit einer Aluminium-Kupfer-Verbundfolie auf einer Isolierungsschicht, welche gegebenenfalls selbst mit einem Metallsubstrat laminiert ist, wobei die obere Metallfolie der Aluminium-Kupfer-Verbundfolie einer Ätzbehandlung unterzogen wurde mit einem Ätzmittel, welches nur die obere Metall folie aufzulösen vermag, und zwar unter Ausbildung eines vorbestimmten Schaltungsmusters, und wobei man die untere Metallfolie einer Ätzbehandlung unterzieht mit einem Ätzmittel, welches sich nur zur Auflösung der unteren Metallfolie eignet, unter Ausbildung eines vorbestimmten Schaltungsmusters, wobei man eine Schaltung mit einem Aluminiumschaltungsmuster und einem Kupferschaltungsmuster erhält und wobei ein Halbleiterelement mit dam Aluminiumschaltungsmuster über einen Aluminiumdraht oder einen Golddraht verbunden ist, während ein Schaltungselement durch Löten mit dem Kupferschaltungsteil verbunden ist,
- 7. Hybrid-integrierte Schaltung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Kupferfolie der AIuminium-Kupfer-Verbundfolie mit der isolierenden Schicht verbunden ist.
- 8. Hybrid-integrierte Schaltung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Aluminiumfolie der Aluminium-Kupfer-Verbundfolie mit der isolierenden Schicht verbunden ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57142726A JPS5933894A (ja) | 1982-08-19 | 1982-08-19 | 混成集積用回路基板の製造法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3330068A1 true DE3330068A1 (de) | 1984-02-23 |
DE3330068C2 DE3330068C2 (de) | 1988-12-01 |
Family
ID=15322152
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19833330068 Granted DE3330068A1 (de) | 1982-08-19 | 1983-08-19 | Hybrid-integrierte schaltung und verfahren zur herstellung derselben |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4521476A (de) |
JP (1) | JPS5933894A (de) |
DE (1) | DE3330068A1 (de) |
GB (1) | GB2125618B (de) |
IT (1) | IT1163829B (de) |
NL (1) | NL188720C (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2560437A1 (fr) * | 1984-02-28 | 1985-08-30 | Citroen Sa | Procede de report a plat d'elements de puissance sur un reseau conducteur par brasage de leurs connexions |
EP0335679A2 (de) * | 1988-03-30 | 1989-10-04 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Verschweisstes Keramik-Metall-Verbundsubstrat, damit aufgebaute Schaltkarte und Verfahren zur Herstellung derselben |
DE102011050424B4 (de) * | 2011-05-17 | 2017-09-28 | Ksg Leiterplatten Gmbh | Verfahren zum Herstellen eines Halbzeuges für eine ein- oder mehrlagige Leiterplatte |
Families Citing this family (46)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6121983A (ja) * | 1984-07-07 | 1986-01-30 | 工業技術院長 | 非酸化物系セラミックス―金属複合材料の製造方法 |
FR2574222B1 (fr) * | 1984-12-04 | 1987-05-29 | Sintra | Procede de fabrication d'un substrat pour circuit hybride comportant des connexions faiblement resistives |
JPS61176142A (ja) * | 1985-01-31 | 1986-08-07 | Toshiba Corp | 基板構造体 |
DE3517965A1 (de) * | 1985-05-18 | 1986-11-20 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Verfahren zur herstellung einer elektrischen schaltung in hybridtechnik |
JPS61284991A (ja) * | 1985-06-11 | 1986-12-15 | 電気化学工業株式会社 | アルミニウム/銅複合箔張基板の回路形成法 |
JPS6239090A (ja) * | 1985-08-14 | 1987-02-20 | 松下電工株式会社 | アルミニウムワイヤ−ボンデイング用プリント配線板の製造方法 |
JPH0714105B2 (ja) * | 1986-05-19 | 1995-02-15 | 日本電装株式会社 | 混成集積回路基板及びその製造方法 |
JPS6318697A (ja) * | 1986-07-11 | 1988-01-26 | 日本電気株式会社 | 多層配線基板 |
JPS6331193A (ja) * | 1986-07-24 | 1988-02-09 | 三井金属鉱業株式会社 | プリント配線板の導体パタ−ン形成法 |
JPS6383256A (ja) * | 1986-09-26 | 1988-04-13 | Futaba Corp | アルミニウム蒸着膜付銅部材 |
JPS6390890A (ja) * | 1986-10-03 | 1988-04-21 | 株式会社 潤工社 | プリント基板 |
GB8803519D0 (en) * | 1988-02-16 | 1988-03-16 | Emi Plc Thorn | Electrical connectors |
JPH0634439B2 (ja) * | 1988-05-10 | 1994-05-02 | 電気化学工業株式会社 | プリント配線板の製造方法 |
KR920005459B1 (ko) * | 1988-08-30 | 1992-07-04 | 가부시기가이샤 히다찌세이사꾸쇼 | 금속의 균질화방법 및 회로기판 |
JPH0390872A (ja) * | 1989-09-01 | 1991-04-16 | Toshiba Corp | 半導体装置 |
JP2608980B2 (ja) * | 1990-09-11 | 1997-05-14 | 電気化学工業株式会社 | 金属板ベース多層回路基板 |
JP2500523B2 (ja) * | 1990-12-28 | 1996-05-29 | 日本電装株式会社 | 基板および基板の製造方法 |
EP1132961B1 (de) * | 1991-07-24 | 2011-01-05 | Denki Kagaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Verfahren zur Herstellung eines Schaltungssubstrates mit einem montierten Halbleiterelement |
JPH05102155A (ja) * | 1991-10-09 | 1993-04-23 | Sony Corp | 銅配線構造体及びその製造方法 |
US5311404A (en) * | 1992-06-30 | 1994-05-10 | Hughes Aircraft Company | Electrical interconnection substrate with both wire bond and solder contacts |
GB2273257B (en) * | 1992-06-30 | 1996-03-27 | Hughes Aircraft Co | Electrical interconnection substrate with both wire bond and solder contacts |
KR100307465B1 (ko) * | 1992-10-20 | 2001-12-15 | 야기 추구오 | 파워모듈 |
JPH07231015A (ja) * | 1994-02-17 | 1995-08-29 | Sanyo Electric Co Ltd | 半導体装置及びその製造方法 |
JP3225854B2 (ja) * | 1996-10-02 | 2001-11-05 | 株式会社デンソー | 厚膜回路基板及びそのワイヤボンディング電極形成方法 |
US6194127B1 (en) * | 1998-05-27 | 2001-02-27 | Mcdonnell Douglas Corporation | Resistive sheet patterning process and product thereof |
DE10050601B4 (de) * | 1999-10-13 | 2013-05-08 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Haltevorrichtung für elektronische Bauteile und Halteverfahren für solche Bauteile |
US6506062B1 (en) | 2001-08-01 | 2003-01-14 | Visteon Global Technologies, Inc. | Circuit board having an integrated circuit board connector and method of making the same |
DE10230712B4 (de) * | 2002-07-08 | 2006-03-23 | Siemens Ag | Elektronikeinheit mit einem niedrigschmelzenden metallischen Träger |
JP2005026525A (ja) * | 2003-07-03 | 2005-01-27 | Shinko Electric Ind Co Ltd | 配線基板および配線基板の製造方法 |
US7868468B2 (en) * | 2004-11-12 | 2011-01-11 | Stats Chippac Ltd. | Wire bonding structure and method that eliminates special wire bondable finish and reduces bonding pitch on substrates |
WO2006053277A2 (en) * | 2004-11-12 | 2006-05-18 | Chippac, Inc. | Wire bond interconnection |
US7731078B2 (en) * | 2004-11-13 | 2010-06-08 | Stats Chippac Ltd. | Semiconductor system with fine pitch lead fingers |
US8519517B2 (en) | 2004-11-13 | 2013-08-27 | Stats Chippac Ltd. | Semiconductor system with fine pitch lead fingers and method of manufacturing thereof |
DE102004058016B4 (de) * | 2004-12-01 | 2014-10-09 | Epcos Ag | Mit akustischen Oberflächenwellen arbeitendes Bauelement mit hoher Bandbreite |
JP4595665B2 (ja) * | 2005-05-13 | 2010-12-08 | 富士電機システムズ株式会社 | 配線基板の製造方法 |
IL182371A0 (en) * | 2006-04-04 | 2007-07-24 | Hanita Coatings R C A Ltd | Patterns of conductive objects on a substrate and method of producing thereof |
US7972710B2 (en) * | 2006-08-31 | 2011-07-05 | Antaya Technologies Corporation | Clad aluminum connector |
US8164176B2 (en) * | 2006-10-20 | 2012-04-24 | Infineon Technologies Ag | Semiconductor module arrangement |
US7701049B2 (en) * | 2007-08-03 | 2010-04-20 | Stats Chippac Ltd. | Integrated circuit packaging system for fine pitch substrates |
TWI338562B (en) * | 2007-12-27 | 2011-03-01 | Unimicron Technology Corp | Circuit board and process thereof |
US20090273907A1 (en) * | 2008-04-30 | 2009-11-05 | Unimicron Technology Corp. | Circuit board and process thereof |
EP2315242A1 (de) * | 2009-10-23 | 2011-04-27 | ABB Technology AG | Schaltungsanordnung und Herstellungsverfahren dafür |
DE102014217186A1 (de) * | 2014-08-28 | 2016-03-03 | Continental Automotive Gmbh | Verfahren zum Herstellen eines Schaltungsträgers und Schaltungsträger für elektronische Bauelemente |
CN104219875A (zh) * | 2014-09-15 | 2014-12-17 | 景旺电子科技(龙川)有限公司 | 一种线路金属基板的制造方法及线路金属基板 |
DE102015111667A1 (de) * | 2015-07-17 | 2017-01-19 | Rogers Germany Gmbh | Substrat für elektrische Schaltkreise und Verfahren zur Herstellung eines derartigen Substrates |
JP6951456B2 (ja) * | 2017-03-07 | 2021-10-20 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | 熱伝導性プレートを備える超音波撮像装置 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3377259A (en) * | 1965-03-15 | 1968-04-09 | Gen Dynamics Corp | Method for preventing oxidation degradation of copper by interposing barrier betweencopper and polypropylene |
US3469148A (en) * | 1967-11-08 | 1969-09-23 | Gen Motors Corp | Protectively covered hybrid microcircuits |
US3607379A (en) * | 1968-01-22 | 1971-09-21 | Us Navy | Microelectronic interconnection substrate |
DE2360694A1 (de) * | 1972-12-07 | 1974-06-20 | Accra Point Arrays | Schaltungsbaueinheit und verfahren zu ihrer herstellung |
US3967371A (en) * | 1970-01-06 | 1976-07-06 | Sescosem- Societe Europeenne Des Semi-Conducteurs Et De Microelectronique | Methods of manufacturing multilayer interconnections for integrated circuits and to integrated circuits utilizing said method |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3997380A (en) * | 1970-04-17 | 1976-12-14 | Compagnie Internationale Pour L'informatique | Method of engraving a conductive layer |
JPS5146904B2 (de) * | 1971-09-30 | 1976-12-11 | ||
US3791858A (en) * | 1971-12-13 | 1974-02-12 | Ibm | Method of forming multi-layer circuit panels |
US3983284A (en) * | 1972-06-02 | 1976-09-28 | Thomson-Csf | Flat connection for a semiconductor multilayer structure |
US4072516A (en) * | 1975-09-15 | 1978-02-07 | Fiber Materials, Inc. | Graphite fiber/metal composites |
JPS5317747A (en) * | 1976-08-02 | 1978-02-18 | Sasaki Mooru Kk | Natural light inlet tube |
US4190474A (en) * | 1977-12-22 | 1980-02-26 | Gould Inc. | Method of making a printed circuit board having mutually etchable copper and nickel layers |
FR2435883A1 (fr) * | 1978-06-29 | 1980-04-04 | Materiel Telephonique | Circuit integre hybride et son procede de fabrication |
JPS57122592A (en) * | 1981-01-23 | 1982-07-30 | Tokyo Shibaura Electric Co | Method of producing hybrid integrated circuit |
US4404059A (en) * | 1982-05-26 | 1983-09-13 | Livshits Vladimir I | Process for manufacturing panels to be used in microelectronic systems |
-
1982
- 1982-08-19 JP JP57142726A patent/JPS5933894A/ja active Pending
-
1983
- 1983-06-22 US US06/506,589 patent/US4521476A/en not_active Expired - Lifetime
- 1983-06-22 GB GB08317006A patent/GB2125618B/en not_active Expired
- 1983-07-15 NL NL8302539A patent/NL188720C/xx not_active IP Right Cessation
- 1983-07-21 IT IT2216483A patent/IT1163829B/it active
- 1983-08-19 DE DE19833330068 patent/DE3330068A1/de active Granted
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3377259A (en) * | 1965-03-15 | 1968-04-09 | Gen Dynamics Corp | Method for preventing oxidation degradation of copper by interposing barrier betweencopper and polypropylene |
US3469148A (en) * | 1967-11-08 | 1969-09-23 | Gen Motors Corp | Protectively covered hybrid microcircuits |
US3607379A (en) * | 1968-01-22 | 1971-09-21 | Us Navy | Microelectronic interconnection substrate |
US3967371A (en) * | 1970-01-06 | 1976-07-06 | Sescosem- Societe Europeenne Des Semi-Conducteurs Et De Microelectronique | Methods of manufacturing multilayer interconnections for integrated circuits and to integrated circuits utilizing said method |
DE2360694A1 (de) * | 1972-12-07 | 1974-06-20 | Accra Point Arrays | Schaltungsbaueinheit und verfahren zu ihrer herstellung |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2560437A1 (fr) * | 1984-02-28 | 1985-08-30 | Citroen Sa | Procede de report a plat d'elements de puissance sur un reseau conducteur par brasage de leurs connexions |
EP0159208A1 (de) * | 1984-02-28 | 1985-10-23 | Automobiles Peugeot | Verfahren zur Herstellung miniaturisierter elektronischer Leistungsanordnungen |
EP0335679A2 (de) * | 1988-03-30 | 1989-10-04 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Verschweisstes Keramik-Metall-Verbundsubstrat, damit aufgebaute Schaltkarte und Verfahren zur Herstellung derselben |
EP0335679A3 (en) * | 1988-03-30 | 1990-01-24 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Bonded ceramic-metal composite substrate, circuit board constructed therewith and methods for production thereof |
EP0596582A1 (de) * | 1988-03-30 | 1994-05-11 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Verschweisstes Keramik-Metall-Verbundsubstrat und damit aufgebaute Schaltkarte |
DE102011050424B4 (de) * | 2011-05-17 | 2017-09-28 | Ksg Leiterplatten Gmbh | Verfahren zum Herstellen eines Halbzeuges für eine ein- oder mehrlagige Leiterplatte |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
IT1163829B (it) | 1987-04-08 |
IT8322164A0 (it) | 1983-07-21 |
NL188720B (nl) | 1992-04-01 |
NL188720C (nl) | 1992-09-01 |
IT8322164A1 (it) | 1985-01-21 |
JPS5933894A (ja) | 1984-02-23 |
DE3330068C2 (de) | 1988-12-01 |
US4521476A (en) | 1985-06-04 |
GB8317006D0 (en) | 1983-07-27 |
NL8302539A (nl) | 1984-03-16 |
GB2125618B (en) | 1986-07-02 |
GB2125618A (en) | 1984-03-07 |
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