DE3210578A1 - Schwingquarz - Google Patents
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Description
D I P L - P H Y S. F. E N D L I CTH gering **22. März 1982 E/m
PATENTANWALT
TELEFON: MÖNCHEN W 38 38
PHONE:
SSÄST PATENOUCHMONCHEN
DIPL-PHYS. F. ENDLICH. POSTFACH. D-8034 SERMERINS
TELEX: B2 1730 pit· D
Meine Akte: D-4951
Anmelderin: Kabushiki Kaisha Daini Seikosha, Tokyo, Japan
Schwingquarz
Die Erfindung betrifft einen Schwingquarz mit GT-Schnitt.
Schwingquarze miteinem GT-Schnitt benützen bekanntlich eine Frequenzcharakteristik
mit einer geringen Temperaturabhängigkeit. In einem Temperaturbereich zwischen O und 100 C beträgt die Frequenzänderung
zwar 1-2 ppm.
Fig. 1 zeigt die Schnittrichtungen eines Quarzresonators mit GT-Schnitt.
Die Y-Platte wird um die X-Achse um einen Winkel ψ =
49° - 56° gedreht und als in der neuen XZ'-Ebene um den Winkel
θ = +(40° - 50°) gedrehte Platte ausgeschnitten. Die Resonanzabstimmung des Schwingquarzes mit GT-Schnitt erfolgt durch Koppelung
von zwei Längsschwingungen, die von der Breite W bzw. der .
Länge L der Platte abhängen. Die Frequenz-Temperaturcharakteristik hängt von dem Schnittwinkel γ und dem Seitenverhältnis r = W/L ab
und eine sehr gute Temperaturcharakteristik kann erzielt werden, wenn r = 0,86 - O,98.
Fig. 2 zeigt Beispiele von Frequenz-Temperaturcharakteristiken unterschiedlicher Arten von Schwingquarzen. Die Kurve 1 zeigt die
Temperaturcharakteristik eines Stimmgabel-Biegeschwingers für Armbanduhren, Kurve 2 die Temperaturcharakteristik eines Dickenscher
schwin ge rs mit einem AT-Schnitt, der für private Instrumente
verwendet wird, und die Kurve 3 zeigt die Temperaturcharakteristik eines bekannten Flächenscherschwingers mit einem GT-Schnitt.
Zur Anpassung an den Verwendungszweck ist es im allgemeinen erforderlich,
eine gewünschte Resonanzfrequenz einzustellen. Bei Schwingquarzen für Verwendungszwecke mit hoher Präzision ist es
wünschenswert, eine Frequenzdispersion von weniger +(1O - 20) ppm
einzustellen. Die Temperaturcharakteristik des Schwingquarzes mit GT-Schnitt ist jedoch äußerst empfindlich für den Koppelungszustand
zwischen den beiden Schwingungsformen, so daß die Einstellung
der Frequenz ohne Verschlechterung der Temperaturcharakteristik
sehr schwierig ist. Bei durch mechanische Bearbeitung hergestellten verhältnismäßig großenrechteckförmigai Schwingquarzen
mit GT-Schnitt erfolgt eine grobe Frequenzeinstellung durch Schleifen der kurzen Seite, wonach das Verhältnis W/L durch
Schleifen der langen Seite eingestellt wird. Eine genauere Frequenzeinstellung erfolgt durch Schleifen der kurzen Seite und
das Verhältnis W/L wird durch Schleifen der langen Seite eingestellt. In dieser Weise wird die gewünschte Temperaturcharakteristik
erzielt und die Frequenz wird durch fortschreitendes Abschleifen jeder Seite eingestellt. Nachteile dieses Verfahrens
sind darin zu sehen, daß die Bearbeitung schwierig und langwierig ist, daß ein verhältnismäßig großer Ausschuß anfällt, daß
eine Massenproduktion nicht ohne weiteres möglich ist und daß die Herstellungskosten entsprechend hoch sind.
Es ist deshalb Aufgabe der Erfindung, einen Schwingquarz mit einem
GT-Schnitt anzugeben, der eine miniaturisierte Größe aufweist und sehr dünn ist, und der insbesondere in vereinfachter Weise
eine'genaue Einstellung der Frequenz mit weitgehender Temperaturunabhängigkeit
der Frequenz ermöglicht.
Anhand der Zeichnung soll die Erfindung beispielsweise näher erläutert
werden. Es zeigen:
Fig. 1 eine grafische Darstellung zur Erläuterung der. Schnittrichtungen
bei einem Schwingquarz mit einem GT-Schnitt;
Fig. 2 eine grafische Darstellung der Temperaturabhängigkeit der Frequenz bei unterschiedlichen Schwingquarzen mit
GT-Schnitt;
Fig. 3a eine Draufsicht und Fig. 3b eine Schnittansicht eines ersten Ausführungsbeispiels eines Schwingquarzes gemäß
der Erfindung;
Fig. 4a eine Teilansicht zur Erläuterung der Arbeitsweise eines
Fig. | 6a |
Fig. | 7 |
Fig. | 8a |
Fig. | 9 |
Fig. | 11 |
Schwingquarzes gemäß der Erfindung;
Fig. 4b eine grafische Darstellung der Frequenzabweichungen in Abhängigkeit von der Temperatur;
Fig. 4c eine grafische Darstellung der Frequenzabweichungen der Resonanzfrequenz in Abhängigkeit von der Anordnung un*-
terschiedlicher Massen;
Fig. 5 eine perspektivische Ansicht eines weiteren Ausführungsbeispiels ;
- 6d Draufsichten auf weitere Ausführungsbeispiele; eine Draufsicht auf ein weiteres Ausführungsbeispiel;
und 8b Schnittansichten abgewandelter Ausführungsbeispiele;
und 10 grafische Darstellung der Frequenzabweichung in Abhängigkeit von der Anordnung von Massen;
eine grafische Darstellung zur Erläuterung der Frequenzeinstellung bei einem Schwingquarz gemäß der Erfindung;
Fig. 12a und 12b teilweise weggebrochen dargestellte Schnittansichten
mit unterschiedlichen Anordnungen von Masken bei einem fotolithografischen Verfahren zur Herstellung
eines Schwingquarzes gemäß der Erfindung;
Fig. 13 und 14 eine Draufsicht auf einen Schwingquarz gemäß der Erfindung bei unterschiedlichen Schwingungszuständen;
Fig. 15 und 16 grafische Darstellungen der Frequenzänderung bei Längsschwingungen entlang der kurzen und der langen Seite
bei einer Entfernung der Massen;
Fig. 17a und 17b Draufsichten auf zwei weitere Ausführungsbeispiele
und
Fig. 18a und 18b Fig. 17 entsprechende Seitenansichten.
Bei dem in Fig. 3 dargestellten Ausführungsbeispiel ist ein Schwingquarz mit einem rechteckförmigen Resonanzteil 4 vorgesehen,
der eine Länge L und eine Breite W aufweist. Etwa im Zentrum der kurzen Seiten sind Stützteile 7 mit Hilfe von Brückenteilen 6 angeordnet.
Die Frequenz der Längsschwingungen der kurzen Seiten, welche Schwingung die Hauptschwingungsform ist, hängt von der
Breite W ab. Die Frequenz der Schwingungen der langen Seiten, welche Schwingung mit der ersten Schwingung gekoppelt ist, hängt
von der Länge L ab. Nahezu auf der gesamten Fläche der Oberseite
und Unterseite des Resonanzteils 4 ist jeweils eine Elektrode 5 vorgesehen. Wie aus Fig. 3a und 3b ersichtlich ist, sind die beiden
Elektroden 5 relativ zueinander in Richtung auf die Stützteile 7 verschoben angeordnet. Die beiden Elektroden können jedobh
auch über und unter demselben Stützteil angeordnet sein.
Anhand der Fig. 4 soll die Einstellung der Frequenz und der Temperaturcharakteristik bei dem Schwingquarz in Fig. 3 erläutert
werden. Fig. 4a zeigt eine schematische Darstellung der oberen Hälfte des Schwingquarzes in Fig. 3. Fig. 4b zeigt die Abweichungen
des primären Temperaturkoeffizienten tx. und des sekundären
Temperaturkoeffizientenβ , wenn entlang der langen Seiten des
Resonanzteils 4 in der Nähe der Stellen A-E aufgetragene Massen mit Hilfe eines Laserstrahls oder eines sonstigen Verfahrens entfernt
werden. Wenn Masse in der Nähe der Stelle A entfernt wird, ändern sich die beiden Koeffizienten V und & stark..in der negativen
Richtung. Wenn Masse in der Nähe der Stelle C entfernt wird, erfolgt eine Änderung der beiden Koeffizienten in der positiven
Richtung. Bei einer Entfernung von Masse in der Nähe der Stellen B und D erfolgt keine Änderung der beiden Koeffizienten, so daß
sich dann die Temperaturcharakteristik nicht ändert.
Fig. 4c zeigt die Abweichung der Hauptresonanzfrequenz, wenn Massen in der Nähe der Stellen A-E entfernt werden. Aus der
grafischen Darstellung ist ersichtlich, daß die Hauptresonanzfrequenz durch Entfernung von Masse an irgendeiner Stelle der
Stellen A-E erfolgt. Deshalb kann durch Ausnutzung des Effekts, daß die Hauptresonanzfrequenz ohne Änderung der Temperaturcharakteristik
geändert werden kann, wenn Masse in der Nähe der Stellen B und D entfernt wird, die Temperaturcharakteristik und die Frequenz
mit Hilfe der folgenden Verfahren oder Kombinationen davon eingestsLlt werden. (1.) Massen werden in der Nähe der Stellen B,
C und D aufgetragen, und die Masse des Punkts C wird entfernt, um die Temperaturcharakteristik einzustellen. Dann wird die Frequenz
durch die Masse in der Nähe der Stelle B oder D eingestellt. (2.) Die Massen werden in der Nähe der Stellen A, B, D und E aufgetragen
und die Massen an den Stellen A und/oder E werden entfernt, um die Temperaturcharakteristik einzustellen. Dann wird
die Frequenz durch Entfernung der Massen in der Nähe der Stellen B und D eingestellt.
Eine Einstellung kann jedoch nicht nur mit Hilfe einer Entfernung
von Masse erfolgen, da dergleiche Effekt erzielt werden kann, indem
Masse im Vakuum aufgedampft oder aufgesprüht wird, bei welchem Verfahren jedoch die Änderung der beiden Koeffizienten in
der entgegengesetzten Richtung erfolgt.
Bei dem in Fig. 5 dargestellten Ausführungsbeispiel sind Massen 10, 11 und 12 entlang den langen Seiten des Resonanzteils 4 vorgesehen.
Die Elektrode 5 ist im Bereich der Massen 10, 11 und .12 ausgespart, bedeckt aber die übrige Oberfläche des Resonanzteils
4 und erstreckt sich über den Brückenteil 6 zu dem Stützteil 7. Bei· diesem Ausführungsbeispiel wird die Hauptresonanzfrequenz
durch die Massen 10 und/oder 12 nach Einstellung der Temperaturcharakteristik durch die Masse 11 eingestellt.
Bei dem Ausführungsbeispiel in Fig. 6a dienen die Massen 9 und zur Änderung der Temperaturcharakteristik in der negativen Richtung,
und die Massen 10 und 12 zur Einstellung der Hauptresonanzfrequenz ohne Änderung der Temperaturcharakteristik. Die Temperaturcharakteristik
wird durch die Massen 9 und/oder 13 und dann die Frequenz durch die Massen 10 und/oder 12 eingestellt.
Bei dem Ausführungsbeispiel in Fig. 6b sit eine Anordnung von Massen 9-13 entlang den beiden langen Seiten des Resonanzteils
vorgesehen und die Temperaturcharakteristik kann in der positiven bzw. negativen Richtung durch die Massen 9 und 13 eingestellt
werden.
Bei dem Ausführungsbeispiel in Fig. 6c sind auf der einen Seite nur die Massen 11 und 12 und auf der anderen Seite nur die Massen
10 und 11 vorgesehen. Die Temperaturcharakteristik wird durch
die Massen 10 und 12 und die Frequenz durch die Masse 11 eingestellt.
Bei dem Ausführungsbeispiel in Fig. 6d ist eine getrennte Anordnung
von Massen vorgesehen. Die Temperaturcharakteristik wird
durch die Massen 9 und 13 und die Frequenz durch die Masse 11
eingestellt. Die Frequenz und die Temperaturcharakteristik werden eingestellt, indem die Massen auf jedem Befreich von mindestens
vier Bereichen an Stellen aufgetragen werden, wo sich die Temperaturcharakteristik
nicht ändert, und in sechs Bereichen, wo sich die Temperaturcharakteristik ändert. Wie aus Fig. 6a - 6d er-
sichtlich ist, können die Massen getrennt oder zusammenhängend
aufgetragen werden. Dergleiche Effekt wird ferner erzielt, wenn die Massen auf beiden Seiten oder auf nur einer Seite des Resonanzteils
aufgetragen werden.
Bei dem in Fig. 7 dargestellten Ausführungsbeispiel eines Schwingquarzes
mit GT-Schnitt sind Stützteile 15 in der Nähe der Mitte der kurzen Seiten eines Resonanzteils 14 vorgesehen und einstückig
mit diesem ausgebildet. Nahezu auf der gesamten Oberseite und Unterseite des Resonanzteils 14 ist jeweils eine Elektrode 16
aufgetragen. Es sind Aussparungen für Massen 17 und 18 vorgesehen,
die zur Einstellung der Frequenz und der Temperaturcharakteristik dienen. Die beiden Elektroden 16 sind in entgegengesetzten
Richtungen zueinander versetzt, so daß sie sich über den einen bzw. den anderen Stützteil 15 erstrecken. Die Massen 17
für die Frequenzeinstellung sind entlang den Schwingungsknoten der Längsschwingung aufgetragen und die Massen 18 für die Einstellung der Temperaturcharakteristik sind in den vier Ecken
des Resonanzteils 14 aufetragen.
Wie aus Fig. 8a ersichtlich ist, können die Massen 17 und 18 nur auf der einen Seite oder entsprechend Fig. 8b auf beiden Seiten
des Resonanzteils 14 aufgetragen werden.
Fig. 9 zeigt die Frequenzabweichung der Frequenzen H bzw. Lp für
die Längsschwingung der kurzen bzw. der langen Seite des Schwingquarzes in Abhängigkeit von dem Gewicht der für die Frequenzeinstellung
entfernten Massen 17 in Fig. 7, bezogen auf die betreffenden
Frequenzen vor der Entfernung der Massen 17. Die Kurve 19.
zeigt die Frequenzabweichung bei der Schwingungsform der kurzen
Seite und die Kurve 20 die Frequenzabweichung bei der Schwingungsform der langen Seite. Die Frequenz H„ der Schwingungsform der
kurzen Seite steigt entsprechend der Kurve 19 nahezu linear mit der Entfernung der Massen 17 an. Die Frequenz L„ der Schwingungsform
dar langen Seite fällt entsprechend der Kurve 2O nur geringfügig mit der Verringerung der Massen 17 ab.
Fig. 10 zeigt die Frequenzabweichung der Schwingungsform der kurzen
bzw. langen Seite in Abhängigkeit von der Verringerung des Gewichts der Massen 18 bei der Einstellung der Temperaturcharakteristik
beim Ausführungsbeispiel in Fig. 7. Die Kurve 19 zeigt die
Frequenzabweichung bei der Schwingungsform der kurzen Seite und
die Kurve 20 die Frequenzabweichung bei der Schwingungsform der
langen Seite. Die Frequenz H_ und auch die Frequenz L„ steigt
Γ Jt
jeweils nahezu linear mit der Verringerung der Massen 18 an. Die
Frequenzabweichung bei der Schwingungsform der langen Seite beträgt
weniger als die Hälfte der Frequenzabweichung bei der Schwingungsform der kurzen Seite. Aus Fig. 9 und 10 ist ersichtlich,
daß die Frequenzen der beiden Längsschwingungen durch Verringerung der Massen 17 und 18 geändert werden können. Es ergibt
sfah dadurch dergleiche Effekt wie bei der Änderung der Koppelung der beiden Längsschwingungsformen durch Änderung des Seitenverhältnisses
r = W/L in Fig. 3a. Deshalb können die Temperaturcharakteristik der Hauptschwingung der kurzen Seite und die Frequenz
H„ auf den gewünschten Wert eingestellt werden, indem eine Entfernung von Massen 17 und 18 erfolgt, ohne daß also eine Änderung
des Seitenverhältnisses erforderlich ist.
Fig. 11 betrifft die Frequenzeinstellung bei einem Schwingquarz
gemäß der Erfindung. Das Bezugszeichen 23 kennzeichnet den gewünschten Wert der Frequenz H der Hauptschwingungsform der kurzen
Seite. Das Bezugszeichen 24 kennzeichnet den gewünschten Wert der Resonanzfrequenz L„ der Schwingungsform der langen Seite,
Jc
falls die beiden Längsschwingungsformen dieselbe Koppelung wie das optimale Seitenverhältnis mit einer sehr guten Temperatur-·
charakteristik aufweist. D kennzeichnet den Zustand vor der Frequenzeinstellung.
Das Bezugszeichen 21 bezeichnet den durchschnittlichen Wert der Frequenz der Schwingungsform der kurzen Seite und"
das Bezugszeichen 31 bezeichnet dessen Dispersion. Das Bezugszeichen 22 bezeichnet den Durchschnittswert der Frequenz der
Schwingungsform der langen Seite und das Bezugszeichen 32 bezeichnet
dessen Dispersion. Vor der Frequenzeinstellung D werden die Massen 17 und 18 in Fig. 7 aufgetragen, so daß die beiden Frequenzen
niedriger als die gewünschten Werte sein können. Dann wird die Frequenz L' der S chwingungs form der langen Seite auf den
gewünschten Wert 24 durch Entfernung der Massen 18 zur Einstellung der Temperaturcharakteristik eingestellt. Durch die Linie E in
Fig. 11 sind die Frequenzen der Schwingungsform der kurzen bzw.
langen Seite nach Entfernung der Massen 18 gekennzeichnet. Dann wird die Frequenz Hp der Schwingungsform der kurzen Seite auf
den gewünschten Wert 23 durch Entfernung der Massen 17 in Fig. 7
für eine Frequenzeinstellung eingestellt. Durch die Linie F werden die Frequenzen der Schwingungsform der kurzen Seite und der
langen Seite nach Entfernung der Massen 17 gekennzeichnet. Deshalb ist es mit Hilfe des beschriebenen Verfahrens möglich, in
verhältnismäßig einfacher und kostensparender Weise Schwingquarze mit einem sehr geringen Temperaturkoeffizienten herzustellen.
In Verbindung mit Fig. 12 soll ein fotolithografisches Verfahren zur Herstellung eines Schwingquarzes gemäß der Erfindung erläutert
werden. Fig. 12 zeigt eine dünne Quarzplatte 25, obere
und untere Masken 26, und Ätzabschnitte 27 der Quarzplatte. Die Ätzgeschwindigkeit ist am größten in Richtung der Z-Achse (optische
Achse). Wenn sich die obere und untere Maske in einer Richtung senkrecht zu der Quarzplatte einander überlappen, wird der
Ätzabschnitt 27 der von der X-Achse um den Winkel ^V gedrehten
Quarzplatte ungleichmäßig, so daß eine genaue Dimensionierung
nicht ohne weiteres erzielt werden kann, wie aus Fig. 12a ersichtlich ist. Deshalb wird bei der Herstellung eines Schwingquarzes
gemäß der Erfindung die obere Maske relativ zu der unteren Maske entlang der 2'-Richtung um eine Verschiebungslänge 1
verschoben, damit ein ebener Ätzabschnitt hergestellt werden kann, wie aus Fig. 12b ersichtlich ist. Die relative Verschiebungslänge
1 = t/tanT/ wobei ^V der Winkel zwischen der Z-Achse und der
Quarzplatte ist und t die Dicke der Quarzplatte. Deshalb kann bei einer derartigen Verschiebung der Masken bei der Herstellung eines
Schwingquarzes eine sehr genaue Ausbildung erzielt werden, was zur Erzielung einer sehr guten Temperaturcharakteristik beiträgt.
Die Fig. 13 und 14 dienen zur Erläuterung der Schwingungsform
der langen Seite und der Schwingungsform der kurzen Seite eines
Schwingquarzes gemäß der Erfindung. Bei diesem Ausführungsbeispiel
ist ein Resonanzteil 34 mit einstückig daran ausgebildeten Stützteilen 37 vorgesehen. Die nicht dargestellten Elektroden
bedecken den größten Teil der Oberseite und der Unterseite des Resonanzteils 34 und erstrecken sich über beide Stützteile 37.
In der Nähe der Schwingungsknoten der Längsschwingung auf der langen
Seite und der kurzen Seite sind gestrichelt dargestellte Bereiche 35 und 36 vorgesehen, in denen zum Zwecke der Frequenzeinstellung
Massen aufgetragen bzw. entfernt werden.
Fig. 13 zeigt den Schwingungszustand der Längsschwingung der kurzen
Seite, bei dem die Bereiche 35 stark verschoben werden, während die Bereiche 36 in der Nähe des Schwingungsknotens der Längsschwingung
der kurzen Seite nur wenig verschoben sind. Deshalb wird die Frequenz H_ der Längsschwingung der kurzen Seite durch
das Gewicht der Massen geändert, aber nur wenig durch die Massen in den Bereichen 36 beeinflußt.
Fig. 14 zeigt den Schwingungszustand der Längsschwingung der langen
Seite, bei dem die Bereiche 35 in der Nähe des Schwingungsknotens der Längsschwingung der langen Seite nur wenig verschoben
werden, während die Bereiche 36 stark verschoben werden. Daraus ist ersichtlich, daß die Frequenz L„ der Schwingungsform der lan-
gen Seite durch Erhöhung oder Verringerung des Gewichts der Massen
in den Bereichen 36 in Fig. 14 verringert oder erhöht werden
kann, während die Massen in den Bereichen 35 keinen Einfluß ausüben.
Die grafischen Darstellungen in Fig. 15 und 16 zeigen die Änderung
der Frequenzen H und L„, wenn die Masse in den Bereichen 35 in
Fig. 13 und 14 verringert wird (Fig. 15)., während Fig. 16 die
Verringerung der Masse in Bereichen 36 betrifft. Deshalb können die Frequenzen Hx, und L„ unabhängig voneinander durch zusätzlich
aufgetragene Masse oder durch Entfernung von aufgetragener Masse auf dem Resonanzteil 34 eingestellt werden, wodurch die Koppelung
zwischen den beiden Längsschwingungsformen geändert wird. Deshalb
kann mit diesem Verfahren das Gleiche erreicht werden, wie mit den bekannten mechanischen Verfahren, bei dem das Seitenverhältnis
der Quarzplatte durch Schleifen und Polieren geändert wird.
Bei dem in Fig. 17a dargestellten Ausführungsbeispiel sind der
Resonanzteil 34 und die Stützteile 37 wie bei dem Ausführungsbeispiel in Fig. 13 und 14 ausgebildet. Bei dem Ausführungsbeispiel
in Fig. 17a sind jedoch die Massen 35 und 36 entlang den Schwingungsknoten der Schwingungsform entlang der langen Seite und der
kurzen Seite vorgesehen, wodurch eine noch genauere Frequenzeinstellung
möglich wird. Bei dem Ausführungsbeispiel in Fig. 17b
sind die Massen 35 zur Einstellung der Frequenz der einen Schwingungsform (der Längsschwingung der kurzen Seite bei diesem Beispiel)
rechtwinkelig zu der Resonanzrichtung verlängert, wodurch
die Frequenz der einen Schwingungsform stärker geändert werden
Die Querschnitte in Fig. 18 dienen zur Erläuterung, daß derglei-
che Effekt erzielt werden kann, wenn die Massen wie in Fig. 18a
auf der einen Seite oder wie in Fig. 18b auf beiden Seiten des
Resonanzteils aufgetragen werden.
Gemäß der Erfindung kann deshalb die Frequenz und die Temperaturcharakteristik
der Frequenz genau und in einfacher Weise eingestellt werden, indem Massen aufgetragen oder ganz oder teilweise
wieder entfernt werden. Da die Frequenz und die Temperaturcharakteristik
sich linear mit dem Zusatz oder der Entfernung von Massen ändern, ergibt sich eine erhebliche Vereinfachung der Einstellung
und das Herstellungsverfahren kann ohne weiteres automatisiert werden. Nach der Einstellung der Temperaturcharakteristik
erfolgt unabhängig davon eine Frequenzeinstellung. Deshalb können derartige Schwingquarze mit einem GT-Schnitt wesentlich
kostensparender hergestellt werden.
Derartige Schwingquarze können ferner sehr genau mit Hilfe fotolithografischer
Verfahren in Massenproduktion hergestellt werden, wonach die Frequenz und die Temperaturcharakteristik in der beschriebenen
Weise eingestellt werden, ohne daß mechanische Schleif- und Polierarbeiten zur Änderung des Seitenverhältnisses
erforderlich sind.
Durch eine genaue Einstellung der Temperaturcharakteristik ist auch eine Miniaturisierung derartiger Schwingquarze mit einem
GT-Schnitt möglich, was besonders vorteilhaft bei der Verwendung derartiger Schwingquarze in Quarzuhren und Meßinstrumenten ist.
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Claims (1)
- PatentansprücheSchwingquarz mit GT-Schnitt bestehend aus einem aus einer dünnen Quarzplatte hergestellten Resonanzteil und einstückig damit ausgebildeten Stützteilen, dadurch gekennzeichnet, daß entlang den Enden der langen Seiten des Resonanzteils Massen an Stellen aufgetragen sind, durch die die Frequenz-Temperaturcharakteristik nicht geändert wird, und/oder an Stellen, durch die die Frequenz-Temperaturcharakteristik geändert wird.Schwingquarz nach Anspruch 1, dadurch ge,kennzeichnet, daß die Massen zur Einstellung der Frequenz oder der Frequenz-Temperaturcharakteristik auf mindestens einem Bereich in der Nähe des Zentrums der langen Seite des Resonanzteils und auf mindestens einem Bereich in der Nähe der vier Ecken des Resonazteils■aufgetragen sind.Schwingquarz nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Elektroden nahezu die gesamte Oberfläche des Resonanzteils bedecken und im Bereich der zur Einstellung der Frequenz und der Frequenz-Temperaturcharakteristik aufgetragenen Massen Ausnehmungen aufweisen.Schwingquarz mit GT-Schnitt entsprechend dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1, bei dem eine Koppelung zwischen zwei Längsschwingungsformen vorgesehen ist, die von den kurzen Seiten und den langen Seiten des Resonanzteils abhängen, dadurchgekenn zeichnet, daß auf mehreren Stellen des Resonanzteils zur Frequenzeinstellung dienende Massen aufgetragen und/oder entfernt sind, um die Koppelung der beiden Längsschwingungsformen durch Änderung deren Frequenzen zu ändern und die Frequenz-Temperaturcharakteristik einzustellen.Schwingquarz nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Massen für die Frequenzeinstellung in der Nähe der Schwingungsknoten der beiden Längs s chwingungsformen vorgesehen sind.Schwingquarz nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekenn zei chnet, daß die Massen· für die Frequenzeinstellung auf derselben Oberfläche des Resonanzteils aufgetragen sind. ?Schwingquarz nach Anspruch 4 oder 5,- dadurch gekennzeichnet, daß die Massen für die Frequenzeinstellung auf beiden Seiten des Resonanzteils aufgetragen sind.Verfahren zur Herstellung eines Schwingquarzes mit einem GT-Schnitt nach einem der vorhergehenden Ansprüche mit einem fotolithografischen Verfahren, bei dem Masken auf gegenüberliegenden Seiten einer dünner Quarzplatte angeordnet werden, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden Masken mit einem Verschiebungsabstand 1 = t/tanV angeordnet · werden, wobei Y der Drehwinkel (49 - 56 ) der Quarzplatte und t die Dicke der Quarzplatte ist.
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---|---|---|---|
JP4337181A JPS57157616A (en) | 1981-03-25 | 1981-03-25 | Gt-cut quartz oscillator |
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---|---|---|---|
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Families Citing this family (59)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5833308A (ja) * | 1981-08-21 | 1983-02-26 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 結合水晶振動子 |
GB2117968B (en) * | 1982-03-16 | 1986-04-23 | Seiko Instr & Electronics | Gt-cut piezo-electric resonator |
US4642505A (en) * | 1984-03-05 | 1987-02-10 | Motorola, Inc. | Laser trimming monolithic crystal filters to frequency |
US4658175A (en) * | 1986-03-26 | 1987-04-14 | The Singer Company-Kearfott Division | Vibrating beam force transducer with A-frame beam root and frequency adjusting means |
US5216490A (en) * | 1988-01-13 | 1993-06-01 | Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Bridge electrodes for microelectromechanical devices |
US5187458A (en) * | 1989-09-21 | 1993-02-16 | Nihon Musen Kabushiki Kaisha | Composite longitudinal vibration mechanical filter having central frequency deviation elimination means and method of manufacturing same |
US5144184A (en) * | 1990-01-26 | 1992-09-01 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Micromechanical device with a trimmable resonant frequency structure and method of trimming same |
US5473945A (en) * | 1990-02-14 | 1995-12-12 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Micromechanical angular accelerometer with auxiliary linear accelerometer |
US5605598A (en) * | 1990-10-17 | 1997-02-25 | The Charles Stark Draper Laboratory Inc. | Monolithic micromechanical vibrating beam accelerometer with trimmable resonant frequency |
US5408119A (en) * | 1990-10-17 | 1995-04-18 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Monolithic micromechanical vibrating string accelerometer with trimmable resonant frequency |
US5129983A (en) * | 1991-02-25 | 1992-07-14 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Method of fabrication of large area micromechanical devices |
US5203208A (en) * | 1991-04-29 | 1993-04-20 | The Charles Stark Draper Laboratory | Symmetrical micromechanical gyroscope |
US5331852A (en) * | 1991-09-11 | 1994-07-26 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Electromagnetic rebalanced micromechanical transducer |
US5635639A (en) * | 1991-09-11 | 1997-06-03 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Micromechanical tuning fork angular rate sensor |
US5408877A (en) * | 1992-03-16 | 1995-04-25 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Micromechanical gyroscopic transducer with improved drive and sense capabilities |
US5767405A (en) * | 1992-04-07 | 1998-06-16 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Comb-drive micromechanical tuning fork gyroscope with piezoelectric readout |
US5349855A (en) * | 1992-04-07 | 1994-09-27 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Comb drive micromechanical tuning fork gyro |
DE4322144C2 (de) * | 1992-07-03 | 1997-06-05 | Murata Manufacturing Co | Vibratoreinheit |
DE4321949C2 (de) * | 1992-07-03 | 1997-07-10 | Murata Manufacturing Co | Vibratoreinheit |
DE4229449A1 (de) * | 1992-09-03 | 1994-03-10 | Abb Research Ltd | Faseroptischer Quarz-Spannungs-Sensor |
US5650568A (en) * | 1993-02-10 | 1997-07-22 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Gimballed vibrating wheel gyroscope having strain relief features |
JPH06268462A (ja) * | 1993-03-12 | 1994-09-22 | Seiko Electronic Components Ltd | Ns−gtカット水晶振動子の周波数調整方法 |
DE4419085C2 (de) * | 1993-05-31 | 1999-09-02 | Murata Manufacturing Co | Chipförmiger Baustein mit piezoelektrischer Resonanz |
US5621263A (en) * | 1993-08-09 | 1997-04-15 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Piezoelectric resonance component |
US5648746A (en) * | 1993-08-17 | 1997-07-15 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Stacked diezoelectric resonator ladder-type filter with at least one width expansion mode resonator |
GB2281159B (en) * | 1993-08-17 | 1997-10-01 | Murata Manufacturing Co | Ladder-type filter |
US5646348A (en) * | 1994-08-29 | 1997-07-08 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Micromechanical sensor with a guard band electrode and fabrication technique therefor |
US5581035A (en) * | 1994-08-29 | 1996-12-03 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Micromechanical sensor with a guard band electrode |
US5495135A (en) * | 1994-09-21 | 1996-02-27 | Motorola, Inc. | Piezoelectric resonator with an attenuated spurious response |
US5725729A (en) * | 1994-09-26 | 1998-03-10 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Process for micromechanical fabrication |
JP3114526B2 (ja) * | 1994-10-17 | 2000-12-04 | 株式会社村田製作所 | チップ型圧電共振部品 |
US5817942A (en) * | 1996-02-28 | 1998-10-06 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Capacitive in-plane accelerometer |
JPH1098350A (ja) * | 1996-07-31 | 1998-04-14 | Daishinku Co | 圧電振動デバイス |
US5892153A (en) * | 1996-11-21 | 1999-04-06 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Guard bands which control out-of-plane sensitivities in tuning fork gyroscopes and other sensors |
US5911156A (en) * | 1997-02-24 | 1999-06-08 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Split electrode to minimize charge transients, motor amplitude mismatch errors, and sensitivity to vertical translation in tuning fork gyros and other devices |
US5783973A (en) * | 1997-02-24 | 1998-07-21 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Temperature insensitive silicon oscillator and precision voltage reference formed therefrom |
US5952574A (en) * | 1997-04-29 | 1999-09-14 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Trenches to reduce charging effects and to control out-of-plane sensitivities in tuning fork gyroscopes and other sensors |
US6114795A (en) * | 1997-06-24 | 2000-09-05 | Tdk Corporation | Piezoelectric component and manufacturing method thereof |
JPH11168338A (ja) * | 1997-10-01 | 1999-06-22 | Murata Mfg Co Ltd | 圧電共振子、圧電共振子の周波数調整方法および通信機器 |
EP1078453B1 (de) * | 1998-05-08 | 2003-04-16 | Infineon Technologies AG | Dünnfilm-piezoresonator |
DE69941195D1 (de) * | 1999-05-31 | 2009-09-10 | Nanomotion Ltd | Beschleunigungs- und Bremsmethode mit einem piezoelektrischen Motor |
US6879085B1 (en) * | 2000-02-24 | 2005-04-12 | Nanomotion Ltd. | Resonance shifting |
AU2003226083A1 (en) * | 2002-03-26 | 2003-10-13 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Microelectromechanical sensors having reduced signal bias errors and methods of manufacturing the same |
US6707351B2 (en) * | 2002-03-27 | 2004-03-16 | Motorola, Inc. | Tunable MEMS resonator and method for tuning |
US8766745B1 (en) | 2007-07-25 | 2014-07-01 | Hrl Laboratories, Llc | Quartz-based disk resonator gyro with ultra-thin conductive outer electrodes and method of making same |
US7068126B2 (en) * | 2004-03-04 | 2006-06-27 | Discera | Method and apparatus for frequency tuning of a micro-mechanical resonator |
EP1645847B1 (de) * | 2004-10-08 | 2014-07-02 | STMicroelectronics Srl | Mikro-elektromechanische Vorrichtung mit Temperaturkompensation und Verfahren zur Temperaturkompensation in einer mikro-elektromechanischen Vorrichtung |
DE102007021920B8 (de) * | 2007-05-10 | 2011-12-29 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung zum Entwerfen eines mikromechanischen Bauelements mit angepasster Empfindlichkeit, Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements und eines mikromechanischen Systems |
US10266398B1 (en) | 2007-07-25 | 2019-04-23 | Hrl Laboratories, Llc | ALD metal coatings for high Q MEMS structures |
US7802356B1 (en) * | 2008-02-21 | 2010-09-28 | Hrl Laboratories, Llc | Method of fabricating an ultra thin quartz resonator component |
US8187902B2 (en) * | 2008-07-09 | 2012-05-29 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | High performance sensors and methods for forming the same |
WO2010096439A1 (en) * | 2009-02-17 | 2010-08-26 | Leversense, Llc | Resonant sensors and methods of use thereof for the determination of analytes |
US8912711B1 (en) | 2010-06-22 | 2014-12-16 | Hrl Laboratories, Llc | Thermal stress resistant resonator, and a method for fabricating same |
JP6023687B2 (ja) * | 2013-10-30 | 2016-11-09 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 光走査装置、該光走査装置を備えた画像形成装置、及び光走査装置における振動ミラー部の共振周波数の調整方法 |
US9977097B1 (en) | 2014-02-21 | 2018-05-22 | Hrl Laboratories, Llc | Micro-scale piezoelectric resonating magnetometer |
US9991863B1 (en) | 2014-04-08 | 2018-06-05 | Hrl Laboratories, Llc | Rounded and curved integrated tethers for quartz resonators |
US10031191B1 (en) | 2015-01-16 | 2018-07-24 | Hrl Laboratories, Llc | Piezoelectric magnetometer capable of sensing a magnetic field in multiple vectors |
US10175307B1 (en) | 2016-01-15 | 2019-01-08 | Hrl Laboratories, Llc | FM demodulation system for quartz MEMS magnetometer |
JP2021132315A (ja) * | 2020-02-20 | 2021-09-09 | セイコーエプソン株式会社 | 振動素子、振動デバイス、電子機器、移動体および振動素子の製造方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1524265A (en) * | 1975-09-10 | 1978-09-13 | Seikosha Kk | Method of adjusting a gt-cut quartz crystal osillator |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB479987A (en) * | 1936-06-12 | 1938-02-15 | Standard Telephones Cables Ltd | Piezo-electric crystal devices |
JPS4871896A (de) * | 1971-12-22 | 1973-09-28 | ||
JPS583602B2 (ja) * | 1974-11-09 | 1983-01-22 | セイコーエプソン株式会社 | スイシヨウシンドウシ |
JPS533178A (en) * | 1976-06-30 | 1978-01-12 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Crystal vibrator |
US4156156A (en) * | 1977-08-18 | 1979-05-22 | P. R. Mallory & Co. Inc. | Method for reducing the resonant frequency of a piezoelectric transducer |
JPS5476089A (en) * | 1977-11-30 | 1979-06-18 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Piezoelectric oscillator |
JPS54113297A (en) * | 1978-01-26 | 1979-09-04 | Seiko Epson Corp | Tuning fork-type crystal vibrator |
US4320320A (en) * | 1978-12-01 | 1982-03-16 | Kabushiki Kaisha Suwa Seikosha | Coupled mode tuning fork type quartz crystal vibrator |
DE2939844A1 (de) * | 1978-12-21 | 1980-07-10 | Seiko Instr & Electronics | Quarzschwinger |
JPS55105420A (en) * | 1979-02-06 | 1980-08-13 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Frequency control method for piezoelectric oscillator |
JPS55158718A (en) * | 1979-05-26 | 1980-12-10 | Nippon Dempa Kogyo Co Ltd | Temperature characteristic control method for piezoelectric oscillator |
JPS5752213A (en) * | 1980-09-12 | 1982-03-27 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Gt-cut quartz oscillator |
JPS57188121A (en) * | 1981-05-15 | 1982-11-19 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Frequency adjusting method of coupling oscillator |
JPS586616A (ja) * | 1981-07-02 | 1983-01-14 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 結合振動子の周波数調整方法 |
JPS5833308A (ja) * | 1981-08-21 | 1983-02-26 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 結合水晶振動子 |
-
1981
- 1981-11-20 US US06/323,487 patent/US4447753A/en not_active Expired - Lifetime
- 1981-12-15 FR FR8123397A patent/FR2502867B1/fr not_active Expired
-
1982
- 1982-03-23 DE DE19823210578 patent/DE3210578A1/de not_active Ceased
- 1982-03-24 GB GB8208607A patent/GB2098395B/en not_active Expired
- 1982-03-25 CH CH184982A patent/CH653209GA3/fr unknown
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1524265A (en) * | 1975-09-10 | 1978-09-13 | Seikosha Kk | Method of adjusting a gt-cut quartz crystal osillator |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2098395A (en) | 1982-11-17 |
CH653209GA3 (de) | 1985-12-31 |
FR2502867B1 (fr) | 1988-07-01 |
US4447753A (en) | 1984-05-08 |
GB2098395B (en) | 1985-11-20 |
FR2502867A1 (fr) | 1982-10-01 |
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