DE2604452C3 - Quarzkristallresonator mit einem abgeschrägte Flächen aufweisenden Kristallkörper - Google Patents
Quarzkristallresonator mit einem abgeschrägte Flächen aufweisenden KristallkörperInfo
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Description
Die Erfindung betrifft einen Ouarzkristallresonator mit einem abgeschrägte Flächen und einen rechteckigen
Grundriß aufweisenden Kristallkörper, bei welchem Kristallbereiche zu Dickenscherschwingungen anregbar
sind.
Ein derartiger Resonator ist aus oer DT-OS 15 91 672
bekannt.
Piezoelektrische Kristallresonatoren finden bekanntlich ein breites Anwendungsfeld als Bauteile für
beispielsweise Nachrichtengeräte. Quarzkristalle haben ausgezeichnete Eigenschaften, insbesondere hinsichtlich
der Querzahl Q, des Temperaturkoeffizienten usw. Quarzkristalle werden insbesondere als Komponenten
der Frequenzsteuerung in Sendern, Empfängern u. dgl. sowie für Filter mehrkanaliger Nachrichtensysteme
verwendet.
Von den verschiedenen Typen von Quarzkristallresonatoren, welche zur Zeit im Gebrauch sind, wird vor
allem ein Quarzkristallresonator verwendet, der als Dickenscherungsschwinger ausgebildet ist. Dieser
Quarzkristalltyp wird insbesondere in Quarzkristallfiltern mit relativ hohen Frequenzbereichen verwendet.
Der Grund hierfür liegt in der Deckungsgleichheii bezüglich der Temperaturcharakteristiken, des (?-Faktors,
in der ausreichenden Stoßfestigkeit und der Bearbeitbarkeit.
Derartige Quarzkristallresonatoren kommen in relativ hohen Frequenzbereichen, beispielsweise zwischen
50OkHz bis 50MHz zum Einsatz. Man verwendet für
die Kristallkörper verschiedene Ausgangsformen. Beispielsweise sind linsenförmige Kristallkörper in konvexer
und bikonvexer Ausführung mit rundem Grundriß aus den deutschen Auslegeschriften 12 44 250 und
10 81065 bekannt. Bei derartig geformten Kristallschwingern
ist es schwierig, die Kristallbereiche in der Nähe des Randes gleichförmig auszubilden. Außerdem
besteht bei derartigen Kristallschwingern die Gefahr, daß durch Oberschwingungen die Grundschwingungen
beeinträchtigt werden. Eine Resonatoranordnung, weiche einen Kristall mit rechteckigem Grundriß vom
Dickenscherschwingungstyp aufweist, ist aus der eingangs genannten deutschen Offenlegungsschrift
15 91672 bekannt Der Kristallkörper L.esitzt eine
ίο bikonvexe Querschnittsform. Um einen derartigen
Kristallresonator bei hohen Frequenzen einsetzen zu können und um die aus den Dickenscherschwingungen
erwähnten Vorteile erzielen zu können, ist es notwendig, daß man das Verhältnis von Dicke des Kristallkörpers
zur Länge des Kristallkörpers unter einen Wert von 0,05 bemißt. Um dies zu erreichen, muß man am
Ausgangskristallkörper eine relativ umfangreiche Schleifarbeit durchführen.
Aufgabe der Erfindung ist es daher, einen Quarzkri-Stallresonator zu zeigen, bei dem ohne Beeinträchtigung
der aus dem Dickenscherschwingungsverhalten des Kristallkörpers resultierenden Eigenschaften das Verhältnis
von Dicke zu Länge des Kristallkörpers auf 0,05 oder größer bemessen werden kann und bei dessen
Fertigstellung demzufolge eine relativ geringe Schleifarbeit notwendig ist.
Diese Aufgabe wird bei einem Quarzkristallresonator der eingangs genannten Art erfindungsgemäß dadurch
gelöst, daD die Ecken beider Hauptflachen des Kristallkörpers abgeschrägte Flächen aufweisen, welche
it< Richtung auf die Eckenpunkte zu steiler geneigt sind als die Hauptflächen des Kristallkörpers, und daß
die Hauptflächen sich bis zu den Mitten jeder der seitlichen Begrenzungsflächen des Kristallkörpers erstrecken.
Eine Ausgestaltung der Erfindung für einen plankonvexen Kristallkörper wird darin gesehen, daß die in den
Ecken der ebenen Hauptfläche vorgesehenen abgeschrägten Flächen zwei Flächenbereiche mit zueinander
unterschiedlichen Neigungswinkeln aufweisen.
F.ine weitere Ausgestaltung der Erfindung wird bei einem Quarzkristallresonator mit bikonvexem Kristallkörper
darin gesehen, daß die in den Ecken beider Hauptflächen vorgesehenen abgeschrägten Flächen aus
zwei Flächenbereichen mit zueinander unterschiedlichen Neigungswinkeln gebildet werden.
Vorteile der Erfindung können darin gesehen werden, daß bei der Herstellung des Quarzkristallresonators das
Schwingungsverhalten bei der Grundirequenz sowie
Änderungen des Schwingungsverhaltens aufgrund von Temperaturänderungen die gleichen sind wie beim
Ausgangskristall vor dem Schleifen. Zudem kann man den Kristallkörper ohne Schwingungsverlust lagern.
Man kann daher einen Kristallkörper mit geringen Abmessungen leicht herstellen.
In den Figuren sind Ausführungsbeispiele der Erfindung dargestellt. Anhand dieser Figuren soll die
Erfindung noch näher erläutert werden. Es zeigen
F i g. 1 und 2 die Wirkungsweise eines Quarzkristall,
der als Dickenscherungsschwinger arbeitet,
F i g. 3A, B einen Quarzkristall mit ebenen Hauptflächen,
Fig.4A bis 6B einen plankonvexen Quarzkristallresonator
und seine Herstellung,
Fig. 7A bis 9B einen bikonvexen Quarzkristallresonator
und seine Herstellung und
Fig. 10 eine Kurvendarstellung, welche die Beziehung zwischen Widerstand und Verhältnis von Dicke zu
Konturenlänge des Quarzkristalls darstellt
In den F i g. 1 und 2 ist das Dickenscherungsschwingen eines Quarzkristallresonators gezeigt Der Resonator
ist in der einen Figur als rechtwinklige Platte und in der anderen Figur bikonvex ausgebildet. Wie durch
Vektoren 50a und 60a gezeigt ist ergeben sich die maximalen Verschiebungen in entgegengesetzten Richtungen
in den mittleren Bereichen an den entgegengesetzt liegenden Hauptflächen des Quarzkristallresonators.
Die Verschiebungen an den beiden Hauptfläehen nehmen hinsichtlich der Größe allmählich von den
mittleren Bereichen zu den entgegengesetzt liegenden Seiten ab, wie das durch entsprechende Vektordarstellungen
50a bis 50c/ und 60a bis 60c/ gezeigt ist. Im
dargestellten Ausführungsbeispiel werden die Verschiebungen in einem bestimmten Bereich vernachlässigbar,
wobei dieser Bereich in der Figur durch strichpunktierte Linien abgegrenzt ist und mit 90 bezeichnet ist.
Dieses Schwingungsverhalten tritt dann auf, wenn das Verhältnis von Dicke b zur Konturen'änge a des
Kristalls, d. h. b/a, ausreichend klein ist, beispielsweise
unter 0,05 liegt. Wenn das Verhältnis b/a größer als 0,05 ist, ergibt sich ein deutliches Formscherungsschwingungsverhalten,
welches das Dickenscherungsschwingungsverhalten merklich beeinflußt Demzufolge wächst der Schwingungsverlust durch Trägerelemente,
welche den Kristaü mechanisch stützen, an, d. h. die Grundschwingung der Dickenscherungsschwingung
wird durch die Trägerelemente beeinflußt.
Ein erstes Ausführungsbeispiel der Erfindung, mit dem man die im vorstehenden erwähnten Nachteile
beseitigen kann, ist in den Fig. 3A und 3B dargestellt. Bei diesem Ausführungsbeispiel wird eine Platte mit
einer bestimmten Eigenfrequenz, bei der mechanische Resonanz auftreten kann, an ihren Ecken 16 geschliffen,
so daß sich verjüngende Eckenbereiche ergeben. Es verbleiben unbearbeitete mittlere Bereiche in den
Hauptfläehen 18 des Kristallkörpers 10. Die Dicke des Kristallkörpers entlang einer geraden Linie, welche die
Mitten entgegengesetzt liegender seitlicher Begrenzungsflächen verbindet, und auch die Längen der
entsprechenden geraden Linien bleiben die gleichen wie die bei der ursprünglichen Quarzplatte. Das bedeutet,
daß der endgültige Kristallkörper eine Gestalt aufweist, wie sie in der Fig. 3A in der Draufsicht und in der
Fig.3B in der Seitenansicht gezeigt ist. Der Aufwand
an Schleifarbeit ist bei diesem Ausführungsbeispiel gering.
Ein weiteres Ausführungsbeispiel ist in den F i g. 4A bis 6B gezeigt. Bei der Herstellung dieses Quarzkristallresonators
wird zunächst ein rechtwinkliger Quarzkristall vom plankonvexen Typ hergestellt, bei dem das
b/a-Verhältnis größer als 0,05 ist und welcher eine bestimmte Eigenfrequenz aufweist. Die Minen λ. β, γ
und δ der seitlichen Begrenzungsflächen des Quarzkristalls 110 behalten die gleiche Dicke bzw. den gleichen
Abstand voneinander, wie das bei der ursprünglichen Kristallplatte vor dem Schleifen der Fall war. Die Ecken
114 der ebenen Hauptfläche 113 des Quarzkristall 110
werden in der Weise geschliffen, daß sie abgeschrägte Kristallflächen 115 bilden, wie das aus den F i g. 4A und
4B zu ersehen ist. Zusätzliche abgeschrägte Kristallflächen 116, deren Neigung verschieden ist von der der
gewölbten Hauptfläche 112 des Quarzkristalls 110, werden durch Schleifen in den Ecken 114 in die
gewölbte Hauptfläche 112 eingeformt, wie das in F i g. 5A und 5B dargestellt ist. Zusätzliche abgeschrägte
Flächen 117 werden an den Ecken 114 in die ebene Hauptfläche 113 eingeformt Di·.: zusätzlichen abgeschrägten
Flächen 117 grenzen an die abgeschrägten Kristallflächen 115 an, welche in einem stärkeren Maße
geneigt sind als die Flächen 117, wie das auch aus den F i g. 6A und 6B zu ersehen ist Bei diesem Ausführungsbeispiel besitzt der fertige plankonvexe Kristallresonator
in den Kristallecken einen keilförmigen Querschnitt
Der auf diese Weise hergestellte Quarzkristallresonator besitzt entlang der X- und V-Achsen die gleiche
Dicke wie die Ausgangskristallplatte.
Bei diesem Aufbau arbeitet der Quarzkristallresonator bezüglich seines Schwingungsverhaltens, insbesondere
bezüglich der Grundschwingungen in der gleichen Weise wie der ursprüngliche Quarzkristallresonator
vom plankonvexen Typ, ohne daß das Grundschwingungsverhalten beeinträchtigt wird.
in den Fig. 7A bis 9B ist ein weiteres Ausführungsbeispiel dargestellt Bei diesem Ausführungsbeispiel ist
der Ausgangskristall vom bikonvexen Typ. Die Dicke und die Länge des bikonvexen Ausgangskristalis
entlang der Linien, welche die Mittelpunkte bei α und γ
sowie β und ö auf den entsprechenden entgegengesetzt
liegenden sei'lichen Begrenzungsflächen verbinden, sind die gleichen wie beim rechtwinkligen Ausgangskristall.
Der bikonvexe Ausgangskristall hat eine bestimmte Eigenfrequenz und das b/a-Verhältnis ist größer als
0,05.
In die Kristallecken 204 werden in die konvexe Hauptfläche 202 des Kristalls durch Schleifen der Ecken
204 abgeschrägte Flächen 205 eingeformt. Jede abgeschrägte Fläche besitzt eine Neigung, die von der
der konvexen Hauptfläche 202 abweicht, wie das aus den Fig. 7A und 7B zu ersehen ist. Dann werden die
Kristallecken 204 auf der konvexen Hauptfläche 202 geschliffen, so daß weitere abgeschrägte Flächen 206 in
den Ecken 204 entstehen, wie das in den F i g. 8A und 8B dargestellt ist. Die abgeschrägten Flächen 206 haben
eine andere Neigung als die konkave Hauptfläche 203. Ferner sind zusätzliche abgeschrägte Flächen 207 und
208 in den Eckenbereichen 204 der Hauptfläehen 202 und 203 eingefornU. Die zusätzlichen Flächen 207 und
208 stoßen an die entsprechenden geneigten Flächen
205 und 206 an, haben jedoch eine unterschiedliche Neigung gegenüber diesen. In den Ecken 204 ergibt sich
demgemäß ein keilförmiger Querschnitt, wie das aus der Fig. 9B zu ersehen ist.
Da der Quarzkristall dieses Ausführungsbeispiels, insbesondere entlang der -Y- und K-Achsen, die gleiche
Dicke beibehält wie der ursprüngliche Kristall, arbeitet der fertige Quarzkristall mit dem gleichen Schwingungsverhalten,
insbesondere mit dem gleichen Grundschwingungsverhalten wie der ursprüngliche Quarzkristall,
ohne daß das Grundschwingungsverhaiten unterdrückt wird.
Es sei darauf hingewiesen, daß bei starker Änderung der Dicke des Quarzkristalls, d. h. bei starker Änderung
der Abstände der Punkte α, β, γ und δ voneinander gegenüber dem bikonvexen Ausgangskristall das
Schwingungsverhalten und die Resonanzfrequenzen stark verändert werden.
Wenn man ferner den bikonvexen Ausgangsquarzkristall mit rechtwinkligem Grundriß mit einem anderen
Abschrägungsverfahren bearbeitet, beispielsweise mit einem Doppeltabschrägungsverfahren, bei dem die
Dicke des Kristalls an den genannten Punkten nicht erhalten bleibt, um beispielsweise eine leichte Abstützung des Kristalls mit einem geringen Schwingungsverlust
zu erzielen, läßt sich zwar unter Umständen ein
Quarzkristallresonator mit geringem Schwingungsverlust erhalten, jedoch besitzt dieser Kristallresonator
einen niedrigen (?-Faktor im Vergleich zum Ausgangskristallresonator.
Außerdem ist das Schwingungsverhalten dieses Resonators anders als das des Ausgangskristalls.
Hierzu 4 Blatt Zeichnungen
Claims (3)
1. Quarzkristallresonator mit einem abgeschrägte Flächen und einen rechteckigen Grundriß aufweisenden
Kristallkörper, bei welchem Kristallbereiche zu Dickenscherschwingungen anregbar sind, dadurch
gekennzeichnet, daß die Ecken (16, 114,204) beider Hauptfiächen (18,112,113,202,203)
des Kristallkörpers (10, UO, 200) abgeschrägte Flächen (115, 116, 205, 206, 207, 208) aufweisen,
weiche in Richtung auf die Eckenpunkte zu steiler geneigt sind als die Hauptflächen des Kristallkörpers,
und daß die Hauptfiächen sich bis zu den Mitten (α, β, γ, δ) jeder der seitlichen Begrenzungsflächen
des Kristallkörpers erstrecken.
2. Quarzkristallresonator mit plankonvexem Kristallkörper nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die in den Ecken (114) der ebenen Hauptfläche (113) vorgesehenen abgeschrägten
Flächen zwei Flächenbereiche (115, 117) mit zueinander unterschiedlichen Neigungswinkeln aufweisen
(F i g. 6B).
3. Quarzkristallresonator mit bikonvexem Kristallkörper nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die in den Ecken (204) beider Hauptflächen (202, 203) vorgesehenen abgeschrägten Flächen aus
jeweils zwei Flächenbereichen (205, 207 und 206, 208) mit zueinander unterschiedlichen Neigungswinkeln
gebildet sind (Fig. 9B).
Applications Claiming Priority (4)
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DE2604452A1 DE2604452A1 (de) | 1976-08-19 |
DE2604452B2 DE2604452B2 (de) | 1977-06-16 |
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