DE2619853A1 - Aufsatzkamera fuer mikroskope - Google Patents

Aufsatzkamera fuer mikroskope

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Description

ERNST LBftTZ GMBH
UruerZeichen: Λ 2033/]} ;2Ö|13 633 Wetzlar,den 30. AprLl 1'J7U
Pot Ii i. η/Μη
Auf s;i by.kntiiorn für Mikroskope
Die Erfindung betrifft eine Aufsatzkamera mit Beliohtungsraessung für Mikroskope zur fotografischen Fixierung eines Objektes bzw. Objektdetails.
Es ist bei derartigen Kameras bekannt, Integralmessungen der Objekthelligkeit über das gesamte Bildfeld durchzuführen, es ist aber auoh bereits bekannt, gegebenenfalls wahlweise, die Helligkeit eines bestimmten Bilddetails auszumessen·
Um dem Betrachter einerseits das Bildfeld kenntlich zu machen, ihn aber andererseits darüber zu informieren, welches engere Gebiet innerhalb des Bildfeldes im Falle einer Detailmesaung mit seiner Helligkeit ausgemessen wird, 1st es bekannt, in den Beobachtungastrahlengang sowohl Markierungen des Bildfeldes als auoh Markierungen des Detail-Meßfeldes in den Beobaoh— tungsstrahlengang einzuspiegeln. Man hat daher bereits die Bildfeldmarkierungen und zentral darin die Meßfeldmarkierung auf einer gemeinsamen Trägerplatte angebracht und von dort her die Markierungen in den Beobaohtungsstrahlengang eingespiegelt.
Dabei hat es sich allerdings als nachteilig erwiesen, daß der Moßfleok für die Detailmessung starr in der Mitte des Bildfeldes angeordnet war. Dies bedeutet nämlich, daß - falls das gewünschte Detail außerhalb dieser Mitte lag - das Objekt erst so eingerichtet werden mußte, daß das gewünschte Detail in diese Bildmitte geriet. Zur Vermeidung dieses Nachteils i8*- ea naheliegend, statt das Objekt zu verschieben, die Meß-
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f eldraarkierung und den Meßsfcrahlengang zu verschieben, wie dies von Fotometern her bekannt ist.
Dabei bestand jedoch die Aufgabe, diese Verschiebung in der Weise zu bewirken, daß dabei die Bildfeldraarkierung ihre Lage unverändert beibehielt und nur das Meßfeld bzw. die Meßfeldmarkierung versohoben wird.
Gemäß der Erfindung ist diese Aufgabe dadurch gelöst, daß die Meßfeldmarkierung und die Bildfeldroarkierung auf zwei getrennten Platten angebracht sind, von denen die Meßfeldmarkierungsplatte als Meßfeldblende ausgebildet ist, und daß die beiden naoh Form und Größe unterschiedlichen Markierungen gleiohzeitig in den Beobachtungsstrahlengang eingespiegelt werden.
Zweokmäßigerweise ist dabei für jede der Markierungen ein gesonderter Projektor vorgesehen, die jedooh gemäß einem weiteren Merkmal der Erfindung beide von einer gemeinsamen Lichtquelle gespeist werden.
Um außerdem statt der Detailmessung auoh eine Integralmessung vornehmen zu können, wird ferner vorgeschlagen, die die Meßfeldmarkierung bildende Meßfeldblende gegen eine Blende der gleichen Art, aber anderer Abmessung austauschbar zu machen. Für dieses Lösungsprinzip werden verschiedene konkrete Lösungsformen vorgeschlagen. So kann z.B. die die Bildfeldmarkierung tragende Platte gegen eine Platte austauschbar gemacht sein, auf der beliebige andere Ziffern oder Zeichen angebracht sind, die dem Mikroskopbild überlagert und daher mitgesehen und auch mitfotografiert worden.
Ferner kann die Einrichtung derart getroffen .τ in, daß die die Meßfoldblende tragende Platte in an sich bekannter Weise
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in zwei zueinander senkreohben Koordinaten verstellbar ist und gegen eine Platte austauschbar ist, die aine Blende gleicher Art, aber anderer Abmessung für die Integralmessung trägt. Diese Platte darf naturgemäß nicht verschiebbar sein. Dagegen ist es ein Merkmal der Erfindung, daß die verstellbare Meßfeldblenden-Platte beim Piattenaustausoh immer die Position innerhalb der Koordinaten beibehält, auf die sie eingestellt ist. Für diese Verstellung in den Koordinaten können auch Fernbedienungsmittel vorgesehen sein*
Auch für die Beleuchtung der gerade eingeschalteten Blendenplatte und Bildfeldmarkierungsplatte sind verschiedene Ausführungsmöglichkeiten denkbar. Grundsätzlich ist daran gedacht, für jede Platte einen getrennten Projektor vorzusehen, die aber beide von einer gemeinsamen Lichtquelle gespeist werden. Diese Speisung kann mittels der bekannten Lichtleiter erfolgen. Bs ist jedoch auch möglioh, nur die Bildfeldmarkierung über einen Projektor zu beleuchten und die Meßfeldblende mittels einer Leuchtdiode zu beleuchten, die zusammen mit der Meßfeldblenden-Platte verstellbar und während des Meßvorganges aussohaltbar ist.
In ähnlioher Weise können auoh die Projekbionsmittel für die Meßfeldblendenbeleuohtung weggelassen werden, und die Stirnseite des die Liohtstrahlon vermittelnden Lichtleiters kann direkt hinter die Moßfeldblendenöffnung gesetzt werden. Das Lichtleiterende muß dann mit der Meßfeldblenden-Platte gemeinsam verstellbar und während des Meßvorganges ausschwenkbar sein.
Außerdem kann die Helligkeit der Lichtquelle regelbar gemacht sein, damit die Helligkeit des Blendoii- bzw. Meßfeldmarkierungsbildes an die Objekthelligkeit angloiohbar ist
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und Überstrahlungen vermieten werden können.
In der Zeichnung ist die Erfindung In einem Ausführungsbeispiel in sohematisohex" perspektivischer Ansicht dargestellt.
Über einem MikroskopObjektiv 1 ist ein Strahlenteiler 2 angeordnet, der die vom Objekt 3 kommenden Strahlen teilweise in ein Okular k reflektiert. Dieser Strahlengang ist der eigentliche Beobachtungss trahlengang.
Der durch den Strahlenteiler 2 tretende Strahlenteil gelangt in ein Fotookular 5 und von dort aus durch einen Teilerwürfel 6 und einen KameraVerschluß 7 in ein Kameraobjektiv 9 und zur Filmebene 10. Dies ist der eigentliche Abbildungsstrahlengang.
Am Teilerwiirfel 6 wird ein Meßs fcrahlengang abgezweigt, der durch ein Objektiv 11, einen weiteren Teilerwürfel 12, eine Feldlinse I3 und durch eine Meßfeldblende \h tritt. Letztere ist di_e Blonde für die Detailmessung, die in an sich bekannter Weise nach zwei Koordinaten verschiebbar ist. Daneben ist eine weitere Meßfe.ldblende 15 zur Integralmessung angeordnet, die wahlweise gegen die Meßfeldblande \h austauschbar ist. Die Integral-Meßfoldblende 15 darf in eingeschaltetem Zustand nicht in Richtung der Koordinaten verschiebbar sein»
Hinter der Meßfeldblende ik trifft der Meßstrahl auf" einen Drohspiegel Ιό, der in zwei Endstellungon schwenkbar ist. In einer dieser Stellungen wird der Meßstrahl zu einem Liohtempfanger 17» z.Bo einem Sekundär-EIelet ronenvervielfaohor, reflektiert. Gleichzeitig dient dieso Stellung dazu,
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einen nooh zu beschreibenden Beleuchtungsstrahlengang abzudecken bzw. auszublenden, damit während des Meßvorganges kein Streulicht zum Lichtempfänger gelangt. Außerdem wird diese Spiegelstellung eingenommen, wenn die Integral-Meßfeldblendo 15 eingeschaltet ist. Damit wird verhindert, daß diese Integral-Meßfeldblende dem Mikroskopbild im Beobaohtungsokular Ί in störender Weise überlagert wird.
In der anderen Endstellung reflektieft der Drehspiegel 16 einen Beleuchtungsstrahl von hinten auf die Meßfeldblende 1'+. Das Licht des Beleuohtungsstrahles kommt von einer nioht dargestellten Lichtquelle und wird dort mittels eines Lichtleiters 18a abgezweigt. Dem Ende dieses Liohtleiters steht eine Feldlinse 19 gegenüber, die die auf dem Lichtleiter austretenden Strahlen über den Drehspiegel 16 zur Meßfeldblende projiziert. Über die Feldlinse 13, den Teilerwürfel 12, das Objektiv 11 und den Teilerwürfel 6 wird ein erstes Bild der Meßfeldblende in der Zwischenbildebene des Foto— okulars 5 entworfen. Danaoh verlaufen die Strahlen weiter zur Reflexionsfläche des Strahlentoilers 2, von dort durch eine Linse 20, über einen Tripelspiegel 21, wieder duroh die Linse 20 und durch den Strahlenteiler 2 in das Okular '4, wo ein zweites Bild der Meßfeldblende entsteht. Duroh Überlagerung dieses Bildes der Meßfeldblende mit dem Objektbild ist es für den Beobachter möglich zu erkennen, von welohem Objekt-Detail die Strahlen durch die Meßfoldblende 14 zum Lichtempfänger I7 gelangen, wenn der Drehspiegel 16 in seine andere Endsteilung gekippt wird.
Außerdem ist neben dem Teilerwürfel 12 eine Striohplatte angeordnet, welche die Markierungen zur S i clitbnrmachung des Bildfeldes trägt. Dioso stationäre StrichpJ ;i I. fcn wird von hinten über eine Foldlinse 23 mittels eines I1chtleiters 18b
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von der gleichen Lichtquelle beleuchtet, die auoh die Meßfeldblende 14 beleuchtet. Ein Bild der Strichplattenmarkierung wird ebenfalls im Okular 4 entworfen. Und zwar nehmen die abbildenden Strahlen vom.Teilerwürfel 12 aus den gleichen Veg, den auch die die Meßfeldblende abbildenden Strahlen durchlaufen, d,h. über das Objektiv 11, den Teilerwürfel 6, das Fotookular 5» den Strahlenteiler 2, die Linse 20 und den Tripelspiegel 21.
Duroh die gleichzeitige, aber getrennte Einspiegelung zweier nach Form und Größe unterschiedlicher Markierungen ist es somit möglich, die eine Markierung (=Meßfeidblende) verschiebbar zu machen, während die andere Markierung (=Bildfeldbegrenzung) ortsfest verbleibt.
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Claims (1)

  1. Ansprüche
    ./ Aursatzkamera für Mikroskope mit einer Vorrichtung zur Mossring· dor Helligkeit eines Objektdetails und mit Markierungen zur Sichtbarmachung mindestens des Detail-Meßfeldes und des Bildfeldes der Kamera im Beobachtungsstrahlengang, dadurch gekennzeichnet, daß die Meßf eldmarkierung (lh) und die Bildf eldmarkieruiig (22) auf zwei getrennten Platten angebracht sind, von denen die Meßfeldmarkiorungsplatte als Meßfeldbiende (i4) ausgebildet ist, und daß die beiden nach Form und Größe unterschiedlichen Markierungen (lh, 22) gleichzeitig in den Beobaohtungsstrahlongang eingespiegelt werden.
    Aufsa tzkainora nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die die Bildf eldmarkieruiig (22) tragende Platte gegen eine Platte austauschbar ist, die beliebige andere Markierungen trägt, dlo dem Mikroskopbild überlagert, im Okular sichtbar gemacht und in der Bildebene (1O) mitfotografierfc werden.
    Aufsatzkamera nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die die Meßfeldinarkierung {lh) tragende und in an sich bekannter Weise in zwei Koordinaten verstellbare Platte gegen eine eine Blende gleicher Art, aber anderer Abmessung tragende ortsfeste, aber austauschbare Platte austauschbar ist und daß die die Meßfeldmarkierung (i'f) tragende Platte bei dem Austauschvorgang ihre Position in den Koordinaten beibehält.
    Aufsatzkamera nach Anspruch 'J9 dadurch gpkonnzoich.net, daß für die Verstellung der die Meßf eldnr»« I' i orung ( 1 *l· )
    tragenden Platte in den Koordinaten Mittel zur Fernbedie-
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    llung vorgesehen sind.
    5. Aufsatzkamera nach den Ansprüchen 1 bis h, dadurch gekennzeichnet, daß für die Beleuchtung der MeßfeLdblende (i'O und der BildfeIdmarkiorung (22) je ein gesonderter Projektor (18a; 19 und 18b; 23) vorgesehen ist.
    6. Auf satzkatnera nach den Ansprüchen 1 bis h, dadurch gekennzeichnet, daß für die Beleuchtung der Meßfeldblende (14) eine mit dieser in den Koordinaten verschiebbare, währenddes Moßvorgangos ausschaltbare Leuchtdiode und für die JJeleuchtung der BL Idf eldmarkierung (22) ein Projektor vorgesehen sind.
    7. Aufsatzkamera nach den Ansprüchen 1 bis h, dadurch gekennzeichnet, daß für die Beleuchtung der Meßfeldblende (i^) ein an sich bekannter Lichtleiter vorgesehen ist, der mit seiner Stirnseite gegenüber der Meßfeldblendo steht und mit dieser zusammen in den Koordinaten bewegbar ist, und daß für die Beleuchtung der BiJdfeldmarkierung (22) ein Projektor vorgesehen ist.
    8. Aufsatzkamera nach den Ansprüchen 5 und 7» dadurch gekennzeichnet, daß für die Beleuchtung der MoßfoldbLende (1'l·) und der Bi Idfoldmarkiex^ung (22) eine gemeinsame Lichtquelle vorgesehen 1st.
    9c Aufsatzkamera nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle getrennt vom Lichtempfanger (17) angeordnet ist.
    IO„ Aufsatzkamera nach den Ansprüchen 5 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle zur Λη;-τ-· i.ohung dor Helligkeit dor Meßfeldblende (\h) und der JJi 1 d Ce ldmarkierung (22) an die Helligkeit des Mikroskopbilde;· Ln an sich bekannter Weise in ihrer Helligkeit regelbar ist.
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