DE2615787C2 - Schaltungsanordnung zur Bestimmung der Signalverzögerungszeit monolithisch integrierter digitaler Halbleiterschaltungen - Google Patents
Schaltungsanordnung zur Bestimmung der Signalverzögerungszeit monolithisch integrierter digitaler HalbleiterschaltungenInfo
- Publication number
- DE2615787C2 DE2615787C2 DE2615787A DE2615787A DE2615787C2 DE 2615787 C2 DE2615787 C2 DE 2615787C2 DE 2615787 A DE2615787 A DE 2615787A DE 2615787 A DE2615787 A DE 2615787A DE 2615787 C2 DE2615787 C2 DE 2615787C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- circuit
- input
- circuits
- counter
- circuit arrangement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 17
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract description 41
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 3
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 206010065929 Cardiovascular insufficiency Diseases 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/3193—Tester hardware, i.e. output processing circuits with comparison between actual response and known fault free response
- G01R31/31937—Timing aspects, e.g. measuring propagation delay
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2853—Electrical testing of internal connections or -isolation, e.g. latch-up or chip-to-lead connections
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/30—Marginal testing, e.g. by varying supply voltage
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US05/572,806 US4058767A (en) | 1975-04-29 | 1975-04-29 | Apparatus and process for testing AC performance of LSI components |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE2615787A1 DE2615787A1 (de) | 1976-11-11 |
| DE2615787C2 true DE2615787C2 (de) | 1987-04-30 |
Family
ID=24289429
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE2615787A Expired DE2615787C2 (de) | 1975-04-29 | 1976-04-10 | Schaltungsanordnung zur Bestimmung der Signalverzögerungszeit monolithisch integrierter digitaler Halbleiterschaltungen |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4058767A (enExample) |
| JP (1) | JPS6029906B2 (enExample) |
| DE (1) | DE2615787C2 (enExample) |
| FR (1) | FR2309879A1 (enExample) |
| GB (1) | GB1515245A (enExample) |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4161029A (en) * | 1977-09-19 | 1979-07-10 | Frye George J | Automatic transient response analyzer system |
| GB1599069A (en) * | 1978-05-31 | 1981-09-30 | Ferranti Ltd | Testing of circuit arrangements |
| DE2833608C2 (de) * | 1978-07-31 | 1986-07-10 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Vorrichtung zum Bestimmen der Signallaufzeit in integrierten digitalen Halbleiterschaltungen |
| US4225957A (en) * | 1978-10-16 | 1980-09-30 | International Business Machines Corporation | Testing macros embedded in LSI chips |
| US4562554A (en) * | 1983-06-09 | 1985-12-31 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Universal microcomputer for individual sensors |
| US4564943A (en) * | 1983-07-05 | 1986-01-14 | International Business Machines | System path stressing |
| US4527907A (en) * | 1983-09-06 | 1985-07-09 | Fairchild Camera And Instrument Corporation | Method and apparatus for measuring the settling time of an analog signal |
| GB2200465B (en) * | 1987-01-16 | 1991-10-02 | Teradyne Inc | Automatic test equipment |
| JPH01163840A (ja) * | 1987-12-21 | 1989-06-28 | Nec Corp | 遅延時間チエック方式 |
| US4878209A (en) * | 1988-03-17 | 1989-10-31 | International Business Machines Corporation | Macro performance test |
| JPH06249919A (ja) * | 1993-03-01 | 1994-09-09 | Fujitsu Ltd | 半導体集積回路装置の端子間接続試験方法 |
| US5796751A (en) * | 1996-07-22 | 1998-08-18 | International Business Machines Corporation | Technique for sorting high frequency integrated circuits |
| DE10127656B4 (de) * | 2001-06-07 | 2008-09-18 | Qimonda Ag | Vorrichtung und Verfahren zur Untersuchung des Signalverhaltens von Halbleiterschaltungen |
| CN109308427A (zh) * | 2018-08-08 | 2019-02-05 | 上海华虹集成电路有限责任公司 | 一种扩展测试通道的方法和电路 |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3673397A (en) * | 1970-10-02 | 1972-06-27 | Singer Co | Circuit tester |
| DE2121330C3 (de) * | 1971-04-30 | 1974-10-17 | Ludwig 6369 Dortelweil Illian | Verfahren und Schaltungsanordnung zum Prüfen digital arbeitender elektronischer Geräte und ihrer Bauteile |
| US3740646A (en) * | 1971-08-02 | 1973-06-19 | Ibm | Testing of non-linear circuits by accumulated result comparison |
| US3751695A (en) * | 1972-03-24 | 1973-08-07 | Amf Inc | One-way directional control means for synchronous a.c. motors |
| US3887869A (en) * | 1972-07-25 | 1975-06-03 | Tau Tron Inc | Method and apparatus for high speed digital circuit testing |
| US3783254A (en) * | 1972-10-16 | 1974-01-01 | Ibm | Level sensitive logic system |
| US3784907A (en) * | 1972-10-16 | 1974-01-08 | Ibm | Method of propagation delay testing a functional logic system |
| US3832535A (en) * | 1972-10-25 | 1974-08-27 | Instrumentation Engineering | Digital word generating and receiving apparatus |
| US3916306A (en) | 1973-09-06 | 1975-10-28 | Ibm | Method and apparatus for testing high circuit density devices |
| US3883801A (en) * | 1973-11-07 | 1975-05-13 | Bell Telephone Labor Inc | Fault testing of logic circuits |
-
1975
- 1975-04-29 US US05/572,806 patent/US4058767A/en not_active Expired - Lifetime
-
1976
- 1976-03-12 FR FR7608558A patent/FR2309879A1/fr active Granted
- 1976-03-23 JP JP51030924A patent/JPS6029906B2/ja not_active Expired
- 1976-03-24 GB GB11811/76A patent/GB1515245A/en not_active Expired
- 1976-04-10 DE DE2615787A patent/DE2615787C2/de not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2309879A1 (fr) | 1976-11-26 |
| JPS51132945A (en) | 1976-11-18 |
| JPS6029906B2 (ja) | 1985-07-13 |
| FR2309879B1 (enExample) | 1979-04-20 |
| US4058767A (en) | 1977-11-15 |
| GB1515245A (en) | 1978-06-21 |
| DE2615787A1 (de) | 1976-11-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE2311034C2 (de) | Verfahren zum Prüfen eines integrierte logische Verknüpfungs- und Speicherglieder enthaltenden Halbleiterchips | |
| DE69107463T2 (de) | Integrierte Schaltung, System und Verfahren zur Fehlererzeugung. | |
| DE2615787C2 (de) | Schaltungsanordnung zur Bestimmung der Signalverzögerungszeit monolithisch integrierter digitaler Halbleiterschaltungen | |
| DE3689228T2 (de) | Verfahren zur Modellierung und zur Fehlersimulation von komplementären Metalloxidhalbleiterschaltungen. | |
| DE2346617C3 (de) | Verfahren zur Prüfung der einseitig begrenzten Laufzeitverzögerung einer Funktionseinheit | |
| DE69031362T2 (de) | Verzögerungsfehler-Testvorrichtung | |
| DE2729053C2 (de) | Prüfverfahren für eine monolithisch integrierte stufenempfindliche, einseitig verzögerungsabhängige logische Einheit | |
| DE3788586T2 (de) | Schaltung zur Prüfung des Eingangsspannungssignals für eine halbleiterintegrierte Schaltung. | |
| DE69712236T2 (de) | Fehlerdiagnosevorrichtung für CMOS-integrierte Schaltungen und Diagnoseverfahren | |
| DE2854549C2 (enExample) | ||
| DE19952272A1 (de) | Verfahren und System zum Prüfen von auf eingebetteten Bausteinen basierenden integrierten Systemchip-Schaltungen | |
| DE10053758A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Fehlersimulation bei einer integrierten Halbleiterschaltung | |
| DE10101899A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Testen von Halbleiterbauelementen | |
| DE3702408C2 (enExample) | ||
| DE2659200A1 (de) | Pruefanordnung fuer einen fehlererkennungskreis | |
| DE10129329A1 (de) | Fehlersimulationsverfahren und Fehlersimulator für einen Halbleiter-IC | |
| DE19952262A1 (de) | Schaltungssystem und Verfahren zum Prüfen von Mikroprozessoren | |
| DE60307297T2 (de) | Verfahren und einrichtung zur ruhestrombestimmung | |
| DE10132241B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Testen von Halbleiterbauelementen | |
| DE19916903C2 (de) | Halbleitervorrichtung, Verfahren, Computerlesbares Medium und Computerprogramm zum Einstellen der Verzögerungszeit | |
| DE10393845T5 (de) | Halbleitertestgerät | |
| DE60122960T2 (de) | Digitale eingebaute Selbsttestschaltungsanordnung für Phasenregelschleife | |
| DE2235802C2 (de) | Verfahren und Einrichtung zur Prüfung nichtlinearer Schaltkreise | |
| DE60112211T2 (de) | Halbleitervorrichtung zum Bereitstellen einer zuverlässigen Datenanalyse von Signalen | |
| DE3785914T2 (de) | Vorgriffsendwertzaehler und methode zur erzeugung eines endzaehlerstandes als ausgangsignal. |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OD | Request for examination | ||
| D2 | Grant after examination | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |