DE253733C - - Google Patents

Info

Publication number
DE253733C
DE253733C DE1910253733D DE253733DD DE253733C DE 253733 C DE253733 C DE 253733C DE 1910253733 D DE1910253733 D DE 1910253733D DE 253733D D DE253733D D DE 253733DD DE 253733 C DE253733 C DE 253733C
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
negative
normal
light
constant
aperture
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE1910253733D
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Application granted granted Critical
Publication of DE253733C publication Critical patent/DE253733C/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/10Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
    • G01J1/20Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle
    • G01J1/22Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle using a variable element in the light-path, e.g. filter, polarising means
    • G01J1/24Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle using a variable element in the light-path, e.g. filter, polarising means using electric radiation detectors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

KAISERLICHES
PAT E N TAtI Τ?
C'-
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Messen der Lichtdurchlässigkeit photographischer Negative. Das Licht einer konstanten Lichtquelle fällt dabei zunächst auf das. zu untersuchende Negativ, dringt durch dieses entsprechend dessen Dichte durch, geht durch eine regulierbare Blende und gelangt dann auf eine Selenzelle. Der elektrische Widerstand dieser
ίο Selenzelle, der sich bekanntlich entsprechend der Stärke des auffallenden Lichtes ändert, soll hier bei den verschiedenen Messungen dadurch konstant . erhalten werden, daß die Größe der Blendenöffnung je nach der Lichtdurchlässigkeit der zu messenden Medien verändert wird.
Auf dem gleichen Prinzip .beruhende Selenphotometer sind bekannt; vgl. z. B. Patentschrift 189551, Kl. 42 h. Bei diesen handelt es sich um Messungen der absoluten Lichtstärken verschiedener Lichtquellen. Hierbei treten Ungenauigkeiten der Messung infolge der verschiedenen Lichtqualitäten der einzelnen Lichtquellen, namentlich veranlaßt durch den verschiedenen Gehalt an ultravioletten Strahlen, auf.
Im vorliegenden Falle wird immer die gleiche Lichtquelle, also die gleiche Lichtqualität benutzt, so daß bei den beabsichtigten relativen Dichtigkeitsmessungen von photographischen Negativen jene Ungenauigkeiten der Messung ausgeschaltet sind.
Bei derartigen Messungen wird zweckmäßig so vorgegangen, daß der Widerstand der Selenzelle, also die darauf fallende Lichtmenge, immer gleichgemacht wird. Diese Regelung der Lichtmenge erfolgt durch eine zwischen das zu prüfende Negativ und die Selenzelle eingefügte verstellbare Blende; je lichtdurchlässiger das Negativ ist, um so kleiner muß die Blendenöffnung gestellt werden, und umgekehrt. Um den Widerstand der Selenzelle nur wenig oder gar nicht zu verändern, und dadurch die durch die Trägheitserscheinungen der Selenzelle hervorgerufenen Fehler mögliehst zu vermindern, stellt man die Blendenöffnung möglichst schon vorher schätzungsweise der Lichtdurchlässigkeit des zu messenden Negativs entsprechend ein. Zweckmäßig wird eine Einrichtung getroffen, mittels deren beim Einschieben des Negativs sogleich die vorbereitete Blende an ihre Stelle gebracht wird. Eine zweite unveränderliche Blende, deren Größe geringer ist als die kleinste öffnung der Meßblende, wird zusammen mit einem Normalnegativ in den Gang der Lichtstrahlen gebracht und dadurch die Normallichtstärke des auf die Selenzelle fallenden Lichtes festgelegt.
Durch diese Einrichtung wird erreicht, daß die Selenzelle nach der Umstellung von Negativ und Blende sofort wieder ungefähr die normale Lichtmenge empfängt.
Der Meßvorgang mit dem hier angegebenen Apparat gestaltet sich folgendermaßen:
Vorausgesetzt, das Galvanometer zeigte bei eingeschaltetem Normalnegativ und eingeschalteter Normalblende auf den Teilstrich 12. Dann schaltet man das zu messende Negativ und die Meßblende ein und ändert die Blendenöffnung so lange, bis das Galvanometer wieder auf 12 zeigt. Nun folgt noch eine
Kontrolle mit dem Normalnegativ und der Normalblende. Da inzwischen einige Zeit vergangen ist, wird jetzt die Galvanometernadel beispielsweise auf 12,5 zeigen. Man muß dann die vorher gefundene Blendengröße für das zu untersuchende Negativ noch etwas korrigieren, und zwar wird man die Blende bei einer zweiten Messung desselben Negativs etwa so einzustellen haben, daß das Galvanometer auf 12,7 zeigt. In der Zeit, die seit dem ersten Einschalten des Normalnegativs bis zu seinem jetzt erfolgten Wiedereinschalten vergangen ist, wird nämlich der Widerstand der Selenzelle sich (latent) etwas erhöht haben, so daß er bei einer zweiten Kontrollmessung mit etwa 12,7 angenommen werden muß.
In Fig. ι der Zeichnung ist ein derartiger Apparat zur Dichtigkeitsmessung zweier Negative schematisch wiedergegeben.
Die beiden Negative, deren Dichtigkeit verglichen werden soll, sind in dem in einem Schlitz des Gehäuses verschiebbaren Rahmen ζ untergebracht, so daß die Negative nacheinander vor die konstante Lichtquelle I gebracht werden können.
Hinter dem Negativrahmen ζ kann ein Kondensator k angeordnet sein. Bei h, und zwar vor oder hinter einer Linse b, befindet sich die Meßblende. Am Ende des Gehäuses liegt die Selenzelle c.
Fig. 2 zeigt eine Vorrichtung zum Verstellen der Meßblende. Ein mit dem Stellring einer Irisblende h (Fig. 2) verbundener Hebel ist soweit verlängert, daß sein als Handhabe dienendes Ende sich außerhalb des Gehäuses befindet und mit einem Zeiger auf einer Skala / spielt. Auf . einer Schwinge m ist die Normalblende η so befestigt, daß sie durch Drehen der Schwinge konzentrisch vor die Blende h gestellt werden kann; durch Drehen der Schwinge m in entgegengesetzter Richtung wird sie so gestellt, daß sie die größte Öffnung der Meßblende h frei läßt.
Die Drehung der Schwinge m wird zweckmäßig gleichzeitig mit dem Verschieben des Negativrahmens ζ bewirkt. Die Schwinge m kann durch ein Uberfallgewicht s und Anschläge q in ihren Endlagen festgestellt werden.
Die Normalblende η kann auch mit dem Negativrahmen ζ so verbunden sein, daß sie mit dem Rahmen ζ vor- und zurückgeschoben wird (Fig. 3)·

Claims (2)

Patent-Ansprüche:
1. Verfahren zum Bestimmen der Dichte photographischer Negative durch Messung derjenigen Abblendung des von einer konstanten Lichtquelle auf das Negativ fallenden Lichtes, welche erforderlich ist, um das hindurchgelassene Licht auf eine Normalstärke zu bringen, dadurch gekennzeichnet, daß die Feststellung dieser Normalstärke mittels einer Selenzelle erfolgt, indem deren elektrischer Widerstand durch Änderung der Größe der Meßblende auf eine bestimmte Konstante gebracht wird.
2. Vorrichtung zur Ausführung des Verfahrens nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß an derselben zur Feststellung der Widerstandskonstante ein Normalnegativ derart gegen das zu messende Negativ austauschbar angeordnet ist, daß bei seiner Einschaltung eine Normalblende vor die Lichtquelle gebracht wird, deren Größe geringer ist als die kleinste Öffnung der Meßblende.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen.
DE1910253733D 1910-01-19 1910-01-19 Expired DE253733C (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE253733T 1910-01-19

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE253733C true DE253733C (de) 1912-11-16

Family

ID=34624942

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1910253733D Expired DE253733C (de) 1910-01-19 1910-01-19

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE253733C (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2844988A (en) * 1955-04-15 1958-07-29 Lize Octave Apparatus for determining necessary corrections of at least three constituent colorsof a colored image

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2844988A (en) * 1955-04-15 1958-07-29 Lize Octave Apparatus for determining necessary corrections of at least three constituent colorsof a colored image

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE741845C (de) Photographische Kamera mit Objektivblende, regelbarem Verschluss und einem elektrischen Belichtungsmesser
DE2804527A1 (de) Verfahren und anordnung zum abgleichen von abbildungssystemen
DE253733C (de)
DE669129C (de) Fotografische Kamera mit eingebautem elektrischem Belichtungsmesser
DE703215C (de) Photographische oder kinematographische Kamera mit Entfernungsmesser
DE848904C (de) Kamera mit auswechselbaren Objektiven verschiedener Lichtstaerke, bei der Blenden- und Verschlusszeiteinstellung mit einem Belichtungs-messer gekuppelt ist
AT60305B (de) Vorrichtung zum Bestimmen der Dichte photographischer Negative.
DE550973C (de) Vorrichtung zum Bestimmen der jeweils notwendigen Lichtmenge beim Herstellen von Kontaktkopien auf photographischen Schichttraegern
DE591704C (de) Winkelmesser, Theodolit o. dgl.
DE2039198C3 (de) Vorrichtung zur optischen Prüfung der Zahnteilung eines Zahnrades
DE2226962B2 (de) Belichtungssteuervorrichtung fuer eine kamera
DE908419C (de) Lichtelektrisches Kolorimeter
DE277755C (de)
DE800437C (de) Leuchtbildwaage zur Anzeige von Tara-, Brutto- und Nettogewichten
DE522914C (de) Totalrefraktometer
DE1051631B (de) Fotografische Kamera mit gekuppeltem Belichtungsmesser
DE550010C (de) Photographischer Belichtungs- und Entfernungsmesser
DE970724C (de) Optischer Feintaster
DE676898C (de) Verfahren und Einrichtung zur Messung des Gradienten photographischer Schichten
DE827585C (de) Vorrichtung zum Messen der Lichtdurchlaessigkeit photographischer Negative beim Kopieren
DE2506840C3 (de) Scheitelbrechwertmesser
DE576846C (de) Verfahren zum Bemessen der Belichtungsbedingungen beim photographischen Kopierprozess
DE1104726B (de) Belichtungsmesser fuer photographische oder kinematographische Zwecke
DE442025C (de) Einrichtung zur Kompensation der Selentraegheit fuer die Zwecke der Bildtelegraphie
DE1917698C3 (de) Mikrofilm-Schrittaufnahmegerät