DE2360762B2 - Integrierte Großschaltung zur Durchführung von Datenverarbeitungsoperationen und Prüfoperationen - Google Patents
Integrierte Großschaltung zur Durchführung von Datenverarbeitungsoperationen und PrüfoperationenInfo
- Publication number
- DE2360762B2 DE2360762B2 DE2360762A DE2360762A DE2360762B2 DE 2360762 B2 DE2360762 B2 DE 2360762B2 DE 2360762 A DE2360762 A DE 2360762A DE 2360762 A DE2360762 A DE 2360762A DE 2360762 B2 DE2360762 B2 DE 2360762B2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- circuit
- shift
- data
- master
- circuits
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 14
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims description 8
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 12
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- 230000008520 organization Effects 0.000 description 4
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000012549 training Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/027—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of logic circuits, with internal or external positive feedback
- H03K3/037—Bistable circuits
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3185—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
- G01R31/318533—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F7/00—Methods or arrangements for processing data by operating upon the order or content of the data handled
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/173—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using elementary logic circuits as components
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine integrierte üroßschaltung
zur Durchführung von Datenverarbeitungsoperationen und Prüfoperationen nach dem Oberbegriff des
Anspruchs 1.
Beim Entwurf von Schaltwerken für Rechenanlagen hatte man bisher volle Freiheit in der Ausführung und
Anordnung der Grundschaltungen, um die verschiedenen Funktionseinheiten zu konstruieren. Diese Unabhängigkeit und Flexibilität brachte aber auch oft
Schwierigkeiten in der Taktierung bzw. Ablaufsteuerung und beim Austesten der Schaltungen, und es war
eine komplizierte und sehr detaillierte Ausbildung des Wartungspersonals nötig. Vorteilhaft war, daß man die
Schaltungen optimieren und durch Kombination verschiedener Techniken den Schaltungsaufwand minimisieren konnte. Schnittstellenwerte waren vorgegeben,
und Parameter der Einzelteile oder Elementarschaltungen konnten gut gemessen werden. Nach Einführung
der Technik integrierter Großschaltungen hat man diese Schnittstellen und die Prüfmöglichkeiten für
elementare Schaltungsteile aber nicht mehr. Man kann nicht mehr jede einzelne Grundschaltung für sich testen.
Infolgedessen muß man die Schaltwerke in solche Abschnitte unterteilen, deren Eigenschaften nicht mehr
vom Umschaltverhalten der enthaltenen Elementarschaltungen abhängig sind.
Bei integrierter Großschaltungen kann man hunderte von Elementarschaltungen auf einem einzigen HaIb
das erste bistabile Schaltglied eingegeben werden,
und daß das zweite bistabile Schaltglied (12) des Master-/Slave-Flip-FIops ein Eingabetor (18) aufweist, das mit einem Ausgang (17) des ersten
bistabilen Schaltgliedes sowie mit einem zweiten
(19) der Taktsignaleingänge verbunden ist, so daß
die im ersten bistabilen Schaltgiied enthaltenen Daten jeweils zur Taktimpulszeit (Tc) in das zweite
bistabile Schaltglied übertragen werden.
3. Integrierte Großschaltung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 und 2, dadurch
gekennzeichnet, daß in jeder Grundschaltung ein,,,.
Ausgang (17) des ersten bistabilen Schaltgliedes (U)
mit einem Eingang (23) des ersten Verknüpfungsnetzwerkes (10) verbunden ist.
4. Integrierte Großschaltung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß in jeder Grundschaltung ein Ausgang
(20) des zweiten bistabilen Schaltgliedes (12) mit einem Eingang (23) des Verknüpfungsnetzwerkes
(10) sowie mit einem nachgeschalteten Verknüpfungsnetzwerk (21) verbunden ist.
5. Integrierte Großschaltung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 4. dadurch gekennzeichnet, daß in jeder Grundschaltung mehrere, aus
hintereinandergeschalteten Master-ZSIave-Flip-Flops bestehende Schieberegister mit denen anderer
Schaltwerke derart hintereinander schaltbar sind, daß der Schiebedatenausgang (34) der letzten Stufe
des vorhergehenden Schieberegisters jeweils mit dem Schiebedateneingang (33) der ersten Stufe des
nachfolgenden Schieberegisters verbunden ist.
leiterplättchen unterbringen. Hierdurch ergibt sich die Möglichkeit zur Reduzierung des Energieverbrauchs,
zur Erhöhung der Arbeitsgeschwindigkeit, sowie zur Verringerung der Kosten für die Schaltungen einer
Datenverarbeitungsanlage. Bevor dies erreicht werden kann, müssen aber viele Gesichtspunkte berücksichtigt
werden. Bei einer mittleren Datenverarbeitungsanlage mit ca. 40 000 Einzelschaltungen ist es z. B. nicht
ungewöhnlich, daß während der Entwicklungszeit 1500
oder mehr Änderungen vorgenommen werden. Solche laufenden Änderungen werden jedoch nahezu unmöglich, wenn die kleinste Modulareinheit bereits hunderte
von Schaltungen enthält.
sten von Funktionseinheiten, die als integrierte Großschaltungen ausgeführt sind, vor deren Einbau in die
Gesamtanlage. Auch müssen beim Entwurf bereits die später nach Inbetriebnahme erforderlich werdenden
Fehlerprüfungen durch entsprechende Ausgestaltung
der Schaltungen berücksichtigt werden.
Bisher konnte jede einzelne Elementarschaltung ausgetestet werden. Hierfür wurde auf Moduln eine
entsprechende Anzahl Anschlußpunkte vorgesehen. Bei der Technik integrierter Großschaltungen ist aber das
Verhältnis der Anzahl Elementarschaltungen zur Anzahl möglicher Anschlußpunkte wesentlich größer.
Ein Modul mit 100 Plättchen, die im Durchschnitt je Schaltungen tragen, enthält also ca. 30 000
Schaltungen. Ein Austesten einzelner Parameter für alle
Schaltungen ist deshalb unmöglich. Funktionsprüfungen an integrierten Großschaltungen, deren Entwurf den
früher üblichen Gesichtspunkten entspricht, können auch nicht alle Möglichkeiten erfassen und wären
deshalb nicht zuverlässig genug. En ist also eine neue Organisation bei der Anordnung der Schaltungen
notwendig, wenn man die vorhandenen Vorteile der integrierten Großschaltungen ausnutzen wilL
Es ist schon eine Schaltwerksorganisation vorge- ι ο schlagen yorden (P 23 49 377.8), bei der gleichartige
Grundschaltungen verwendet werden, die jflr verschiedene
Niveaus in der Hierarchie modularer Einheiten geeignet sind. Hierbei wurde eine Abhängigkeit der
Arbeitsweise vom Umschaltverhalten der Elementarschaltungen vermieden, so daß keine ungewollten
Schaltzustände infolge gegenseitiger Abhängigkeit entstehen können. Bei dieser Organisation war ein
Zugriff zu den Daten der einzelnen Speicherglieder und damit ein Funktionstest von Elemenurschaitungen ;o
möglich, indem Daten in sequentieller Form in eine Kette von solchen Speichergliedern eingeschoben bzw.
daraus ausgeschoben werden konnten. Jedoch waren hierfür besondere Schiebetaktsignale notwendig, deren
Impulse nicht überlappen durften, und es mußten während solchen Schiebeoperationen die normalen
Systemtaktsignale unterbrochen werden.
Eine ähnliche Organisation ist beispielswei se in der
US-PS 35 82 902 beschrieben worden, bei der einem bistabilen Schaltglied ein bistabiles Hilfsschaltglied
zugeordnet ist, das aber beim normalen Betrieb nicht verwendet wird. Erst beim Austesten der Schaltung und
der Zusammenschaltung mehrerer bistabiler Schaltglie- *°iler zu einem Schieberegister wird dieses zusätzliche
bistabile Schaltglied benötigt. J5
Da dieses bistabile Hilfsschaltglied nur für Testzwekke benötigt wird, ergibt sich insgesamt eine ungünstigere
Schaltkreisstruktur, da für den normalen Betrieb Schaltglieder (quasi verschenkt werden, was für den
Aufwand insgesamt Nachteile mit sich bringt.
Der Erfindung liegt somit die Aufgabe zugrunde, für eine integrierte Großschaltung nach dem Oberbegriff
des Anspruchs 1 verbesserte Grundschaltungen anzugeben, die zu ihrem Aufbau weniger bistabile Schaltglieder
und Torschaltungen benötigen. Diese Aufgabe wird durch die im kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs
1 angegebenen Merkmale gelöst.
Technische Weiterbildungen und Ausgestaltungen des Gegenstandes der Erfindung sind den Unteransprüchen
zu entnehmen.
Die Elementarschaltungsanordnung gemäß der vorliegenden
Erfindung ist wegen ihrer modular aufgebauten und universell verwendbaren logischen Struktur und
wegen ihrem geringen Bedarf an Anschlußpiinkten mit besonderem Vorteil dort zu verwenden, wo arithmetisehe
und logische Schaltkreisstrukturen in integrierter Technik mit besonders hoher Dichte hergestellt werden
sollen.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird im folgenden anhand von Zeichnungen beschrieben. Es
zeigt
F i g. 1 die schematische Darstellung einer erfindungsgemäßen Elementarschaltungsanordnung,
F i g. 2 ein Taktsignaldiagramm,
Fig. 3 Einzelheiten der bistabilen Schaltglieder und b5
der Eingabeschaltungen einer Elementarschaltungsanordnung gemäß F i g. 1,
Fig.4 eine schematische Darstellung der Kombination
mehrerer Elementarschaltungsanordnungen gemäß F i g. 1 auf einem Halbleiterplättchen, die zum Einschieben
und Ausschieben von Daten geeignet ist
F i g. 1 zeigt das Blockschaltbild eines Schaltwerks-Elements gemäß vorliegender Erfindung. Durch die
Technik der integrierten Großschaltungen (Large Scale Integration, LSI) ist es möglich, für Datenverarbeitungsanlagen
Halbleiter-Schaltungsplättchen herzustellen, auf denen hunderte oder tausende der in Fig. 1
gezeigten Schaltwerks-Elemente zusammengefaßt sind. Das Schaltwerks-Element stellt eine Bitposition dar, und
besteht aus einem Verknüpfungsnetzwerk 10, einer ersten bistabilen Schaltung 11 und einer zweiten
bistabilen Schaltung 12. Die bistabilen Schaltungen 11
und 12 bilden miteinander eine Anordnung zur Speicherung und Darstellung eines einzelnen Datenbits.
Die beiden bistabilen Schaltungen werden unterschieden durch Verwendung der Bezeichnung »Speicherglied«
für die Schaltung 11 und »Kippglied« für die Schaltung il und »Kippglied« für die Schaltung !2.
Hierdurch wird angegeben, welches von zwei nicht phasengleichen Taktsignalen die betreffende Schaltung
zur Aufnahme von Daten steuert.
Das Verknüpfungsnetzwerk 10 kann eine beliebige Kombination parallel oder in Reihe verbundener
Verknüpfungsglieder sein, welchen Eingangssignale S auf Leitung 13 zugeführt werden. Leiter 13 kann eine
Einzel- oder eine Mehrfachleitung für Steuersignale, Eingabedaten, Zwischenergebnisse usw. sein. Das
Ergebnis (Rn) der im Verknüpfungs-Netzwerk 10 durchgeführten Funktion wird auf einem Ausgang 14
abgegeben, der mit einem UND-Glied 15 verbunden ist. Das Schaltwerks-Element nimmt ein Speicherglied-Taktsignal
(Lc) von Leitung 16 auf; dieses wirkt auf UND-Glied 15 so, daß Speicherglied 11 auf den Zustand
eingestellt wird, welcher durch das Signal auf dem Verknüpfungs-Netzwerksausgang 14 angegeben ist.
Das ins Speicherglied U eingegebene und am Ausgang 17 abgegebene Verknüpfungsergebnis wird über ein
UND-Glied 18 ins Kippglied 12 eingegeben oder eingespeichert. Das zweite Eingangssignal zum UND-Glied
18 ist ein Kippglied-Taktsignal (Tc)auf Leitung 19.
Das Kippglied-Taktsignal auf Leitung 19 hat eine andere Phasenlage als das Speicherglied-Taktsignal auf
Leitung 16. Praktisch heißt dies, daß die Vorderflanken der Taktimpulse so weit auseinander liegen, daß das
Speicherglied 11 das Ausgangsiignal des Verknüpfungs-Netzwerks
10 richtig aufgenommen hat, bevor das Kippglied 12 zur Aufnahme der gleichen Information
aktiv gemacht wird.
Das Ausgangssignal des Kippgliedes 12, welches nun das Verknüpfungsergebnis Rn enthält, wird auf einer
Ausgangsleitung 20 abgegeben. Das Ausgangssignal vom Kippglied 12 auf Leitung 20 kann dann — wie im
Ausführungsbeispiel gezeigt — als Eingangssignal für ein nachfolgendes Verknüpfungs-Netzwerk 21 verwendet
werden, welches seinerseits ein Ergebnissignal R auf die Ausgangsleitung 22 abgibt. Das Ausgangssignal von
Leitung 20 vom Kippglied 12 kann außerdem über eine Leitung 23 zum Eingang des Verknüpfungs-Netzwerks
10 zurückgeführt werden, und kann dann — nach Maßgabe der Eingangssignale S — in nachfolgenden
Verknüpfungsoperationen mit verwendet werden.
vOr der weiteren Beschreibung von F i g. 1 werden nun anhand von F i g. 2 die nicht-phasengleichen
Taktsignal erläutert. Die Frequenz (Impulsfolgefrequenz)
der beiden Taktsignalzüge, die Impulsbreite der Taktimpulse, und der Phasenunterschied zwischen den
beiden Taktsignalen sind abhängig von der Zeit, die notwendig ist, um die bistabilen Schaltungen 11 und 12
zuverlässig umzuschalten, sowie auch von der maximalen Verzögerung, welche zwischen dem Auftreten der
Eingabesig.iale und dem Ergebnissignal Rn des Ver- r>
knüpfungs-Netrwerks 10 auftreten kann.
Beim Entwurf des Systems könnte man einerseits zwei separate, nicht-phasengleiche Taktsignale vorsehen, wie sie in F i g. 2 als Lc und Tc gezeigt sind. Die
Phasendifferenz der beiden Taktsignalzüge, welche durch die Anstiegsflanke 25 von L1-und die Anstiegsflanke 26 von Tc gegeben ist, hängt von der Geschwindigkeit
ab, mit der das Speicherglied 11 zuverlässig umgeschaltet werden kann. Die Impulsfolgefrequenz der Taktsignalzüge, welche dem Abstand der beiden Anstiegsflan-
ken 25 und 27 von Lc entspricht, hängt von der Verzögerung ab, welche im Verknüpfungs-Netzwerk 10
auftritt.
Andererseits könnte man beim Systementwurf eine Taktgabe vorsehen mit einem Grund-Taktsignal, z. B.
L0, welches außerdem invertiert wird, um ein nicht-phasengleiches zweites Taktsignal zu erhalten, wie es durch
die gestrichelte Linie 28 beim 7>Taktsignalzug dargestellt ist
Es folgt nun eine weitere Beschreibung der Fig. 1,
und zwar derjenigen Schaltglieder, die zu den bisher beschriebenen Teilen des Schaltwerks-Elements hinzugefügt werden müssen, um eine Schieberegister-Verbindung mehrerer solcher Schaltwerks-Elemente zu
ermöglichen. Zu diesem Zweck wird ein zusätzlicher jo Eingang zum Speicherglied 11 mittels eines UND-Gliedes 30 und eines Inverters 31 gebildet. Wenn es während
des Betriebs gewünscht wird, Daten aus anderen Quellen als dem Verknüpfungs-Netzwerk 10 in das
Speicherglied 11 und das Kippglied 12 einzugeben, wird ir>
ein Steuersignal SCHIEBEN auf Leitung 32 aktiviert, um dadurch eine Verschiedeoperation festzulegen. Die
einzugebenden Daten werden an die Leitungen 33 (SCHIEBEDATEN EIN) angelegt. Das aktivierte
Steuersignal SCHIEBEN auf Leitung 32 wirkt über den Inverter 31 auf das UND-Glied 15, um dieses zu sperren
und es wirkt auf das UND-Glied 30, um dieses freizugeben. Das Speicherglied-Taktsignal von Leitung
16 wirkt jetzt auf das UND-Glied 30 ein, so daß Speicherglied 11 auf den Wert eingestellt wird, den das
Signal SCHIEBEDATEN EIN auf Leitung 33 darstellt Auf diese Weise kann die Anlage auf Verschiebebetrieb
eingestellt werden, und es ist durch Steuersignale möglich, zu bestimmen, welche Daten als Anfangswerte
in das Speicherglied 11 gelangen, um diese dann im so Verknüpfungs-Netzwerk 10 weiter zu verarbeiten.
Um den Inhalt des Kippgliedes 12 separat untersuchen zu können, ist eine zusätzliche Ausgangsleitung 34
mit der Bezeichnung SCHIEBEDATEN AUS vorgeshen. Gewünschte Daten (Binärwerte) können durch das
UND-Glied 30 in das Speicherglied 11 und damit auch in
das Kippglied 12 eingesetzt werden. Die Anlage kann wieder in normale Betriebsart gebracht werden durch
Deaktivierung des Signals SCHIEBEN auf Leitung 32. Es können dann einige Arbeitszyklen mit Benutzung des w)
Verknüpfungs-Netzwerkes 10 durchgeführt werden; danach kann man wieder zur Verschiebebetriebsart
zurückkehren durch Aktivierung des Signals auf Leitung 32, um den Inhalt des Kippgliedes 12 auf der
Ausgangsleitung 34 zu untersuchen. ^
F i g. 3 zeigt genauere Einzelheiten des Speichergliedes 11, des Kippgliedes 12 und der taktgesteuerten
Eingangstorschaltungen. Als Verknüpfungsglieder werden NAND-Glieder (UND-Funktion mit Komplementierung) benutzt. Die kreuzweise Verbindung der
NAND-Glieder 35 und 36 ergibt das Speicherglied 11. Das Ausgangssignal vom Verknüpfungs-Netzwerk 10
auf Leitung 14 (Fig. I) gelangt an das NAND-Glied 37 sowie über den Inverter (NICHT-Glied) 39 an das
UND-Glied 38. Das Speicherglied-Taktsignal von Leitung 16 gelangt auf je einen weiteren Eingang der
NAND-Glieder 37 und 38, so daß Speicherglied 11 normalerweise jeweils auf den Binärwert eingestellt
wird, den das Ausgangssignal Rn des Verknüpfungs-Netzwerks 10 darstellt.
Der zusätzliche, unabhängige Eingang zum Speicherglied 11, der durch ein Signal SCHIEBENauf Leitung 32
freigegeben wird, wird durch zwei NAND-Glieder 40
Speicherglied-Taktsignal von Leitung 16 zugeführt wird. Ein weiterer Eingang von NAND-Glied 40 ist
schließlich mit der Leitung 33 (SCHIEBE-DATEN EIN)
verbunden, und ein weiterer Eingang des NAND-Gliedes 41 über den Inverter 42 mit der Schiebedaten-Eingangsleitung 33, so daß das Speicherglied U (bei
aktivem Signal SCHIEBEN) jeweils auf den Binärwert eingestellt wird, der auf der Schiebedaten-Eingangsleitung 33 vorliegt. Während der zusätzliche unabhängige
Eingang zum Speicherglied 11 durch das Signal SCHIEBEN auf Leitung 32 freigegeben ist, werden über
den Inverter 43 die NAND-Glieder 37 und 38 gesperrt bzw. außer Betrieb gesetzt
Das Kippglied 12 besteht aus den NAND-Glieder 44 und 45, welche durch die Ausgangssignale der
NAND-Glieder 46 und 47 angesteuert werden. Die Eingangssignale der NAND-Glieder 46 und 47 sind
einmal die Binärwert-Ausgangssignale des Speichergliedes 11, und außerdem das Kippglied-Taktsignal von
der Leitung 19. Auf der Ausgangsleitung 34 des Kippgliedes 12 erscheinen die SCHIEBEDATEN AUS,
und auf der Ausgangsleitung 20 Signale, welche den Ausgangswert Rn des Verknüpfungs-Netzwerks darstellen, der in der Gesamtschaltung mit dem Speicherglied
U und dem Kippglied 12 festgehalten und gespeichert wurde.
F i g. 4 zeigt schematisch, wie mehrere Schaltwerks-Elemente gemäß Fig. 1, die auf einem Halbleiterplättchen 50 kombiniert sind, während der Herteilung
miteinander verbunden werden. Die einzigen zusätzlichen Signalleitungen, die auf dem Plättchen nebst den
normalen Eingabeleitungen und Taktanschlußleitungen vorgesehen werden müssen, sind Leitung 33 (SCHIEBEDATEN EIN). Steuerleitung 32 (SCHIEBEN) und
Leitung 34 (SCHIEBEDATEN AUS). Bei der Herstellung des Plättchens 50 werden die verschiedenen
Speicherglieder 11 und Kippglieder 12 in Kaskadenform hintereinander geschaltet Die Schiebedatenausgangsleitung 34 vom Kippglied 12 ist mit der Schiebedateneingangsleitung 33 zum Speicherglied 11 eines nachfolgenden Schaltwerks-Elementes verbunden. Die Schiebedatenausgangsleitung 34 des letzten Kippgliedes der
auf einem Plättchen befindlichen Kaskade von Speichergliedern 11 und Kippgliedern 12 bildet einen
Ausgangsanschluß des Plättchens. Dieser Ausgangsanschluß kann mit der Schiebedateneingangsleitung 33
eines anderen Plättchens verbunden werden, das sich auf der gleichen Modulplatte befindet Der zusätzliche
unabhängige Eingang zum Speicherglied 11 des ersten Schaltwerk-Elements wird mit der Schiebedateneingangsleitung 33 verbunden, über welche die einzuschiebenden Daten an alle auf dem Plättchen 50 befindlichen
Schaltwerks-Elemente gelangen.
Im Zusammenhang mit F i g. 4 wird jetzt anhand der Bitfolge 101 beschrieben, wie die Kippglieder 12 der
Schaltwerks-Elemente auf dem Plättchen 50 in einer Schiebeoperation auf die Bitkombination 101 eingestellt
werden können, bevor die normale Betriebsweise eingeleitet wird, für die dann diese Binärwerte die
Anfangswerte darstellen. Die Bitfolge 101 wird sequentiell über die Leitung 33 (SCHIEBEDATEN EIN)
eingegeben, und zwar synchron mit dem Speicherglied-Taktsignal und dem Kippglied-Taktsignal; im Laufe von
drei Opprationszyklen wird das eingegebene Bitmutster
durch die Schaltungen 51,52 und 53 verschoben. Danach kann zur normalen Betriebsweise übergegangen werden
durch Beendigung des SCn/ESc-Steuersignals auf
der Leitung 32.
Nachdem das System eine zeitlang in normaler Betriebsweise gearbeitet hat, wird das Signal SCHIE
BEN auf der Steuerleitung 32 wieder erregt, und man kann uann feststeilen, in welchem Zustand sich jedes der
Speicherglieder 11 und Halteglieder 12 befindet. Wenn nach Aktivierung des SCH/Eßf-Steuersignals auf
Leitung 32 auch das Speicherglied-Taktsignal und das Kippglied-Taktsignai zugeführt werden, dann wird der
Inhalt der Schaltungen 53,52 und 51 sequentiell auf der Leitung 34 (SCHIEBEDA TEN A US) ausgegeben.
In F i g. 1 ist noch eine Modifikation gezeigt bei welcher das im Prinzip gleiche Schaltwerks-Element mit
anderen Taktsignalen benutzt werden kann. In F i g. 1 sind als gestrichelte Linien die geänderten Ausgangsleitungen
55 und 56 am Speicherglied 11 gezeigt. Bei dieser Änderung gibt im normalen Betrieb nur das Speicherglied
11 Ausgangssignale an das zusätzliche Verknüpfungs-Netzwerk 21 ab, sowie über die Leitung 23
Rückführungsignale an den Eingang des Verknüpfungs-Netzwerks 10. Bei dieser Ausführungsart wird nur ein
Taktsignal benutzt, z. B. das in F i g. 2 gezeigte Signal L0.
Es muß dann allerdings bei der Konstruktion genauer auf die Verzögerung durch das Verknüpfungs-Netzwerk
10 geachtet werden, welche für die Impulsfolgefrequenz des Taktsignals wichtig ist, sowie auf die Zeitdifferenz
zwischen der Anstiegsflanke 25 und der Abfallflanke 57 der Taktimpulse, weiche zum Eingeben der Daten in die
Speicherglieder 11 benutzt werden. Bei guter Einhaltung der Frequenz des Speicherglied-Taktsignals läuft
der normale Systembetrieb wie vorher beschrieben ab. Wenn es gewünscht wird, daß das Schaltwerks-Element
wie die Stufe eines Schieberegisters arbeitet, damit Daten eingeschoben und ausgeschoben werden können,
wird das UND-Glied 30 freigegeben und das UND-Glied 15 gesperrt. Außerdem wird aber ein zusätzliches
Taktsignal benötigt, wie z. B. das Kippglied-Taktsignal auf Leitung 19, um das Kippglied 12 in jedem der
Schaltwerkselemente anzusteuern, damit eine Verschiebeoperation möglich wird.
Es wurde also ein Schaitwerks-Eiement dargestellt,
das ein Verknüpfungs-Netzwerk enthält, welches eine Speicherschaltung ansteuert, die eine erste bistabile
Vorrichtung in Form eines Speichergliedes und eine zweite bistabile Vorrichtung in Form eines Kippgliedes
enthält, und welches durch Hinzufügung eines zusätzlichen, unabhängigen Eingangs zur ersten bistabilen
Vorrichtung so eingerichtet ist, daß es mit mehreren anderen Schaltwerks-Elementen in Kaskadenform
verbunden werden kann, so daß eine Schieberegister-Betriebsweise möglich ist. Bei dieser Schieberegister-Betriebsweise
können vorbestimmte Bitmuster in die Speicherschaltungen der Schaltwerks-Elemente eingegeben
werden, welche dann als Anfangswerte für die normale Betriebsweise zur Verfügung stehen. Die
Schieberegister-Betriebsweise ermöglicht es schließlich auch, den Inhalt der Speicherschaltungen aller Schaltwerks-Elemente
an einem Ausgang des Schieberegisterpfades sequentiell abzugeben.
Die beschriebenen Schaltwerks-Elemente brauchen keine anderen als die normalen Systemtaktsignale,
wenn sie als Schieberegisterstufen betrieben werden. Bei integrierten Großschaltungen brauchen also keine
zusätzlichen Anschlußstifte für Taktsignale vorgesehen zu werden. Für jeden Schaltungsblock (wie in F i g. 4
gezeigt) braucht man nur je drei zusätzliche Anschlußstifte, um den Schieberegisterbetrieb zu ermöglichen.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (2)
1. Integrierte Großschaltung zur Durchführung von Datenverarbeiningsoperationen und Prüfoperationen mit mehreren, aus Verknüpningsnetzwerken
mit nachgeschalteten Master-/Slave-Flipflops bestehenden Grundschaltungen, bei der in allen Grundschaltungen ein auf ein Schiebe-Steuersignal ansprechender, die Schaltung von der Datenverarbeitungs- ι ο
betriebsart in den Prüfbetrieb schaltender Umschalter vorgesehen ist, der in der Prüfbetriebsstellung die
Master-/Slave-Flipflops zu Schieberegistern zur Ein- bzw. Ausgabe von Prüfinformation in die bzw.
aus den Grundschaltungen zusammengeschaltet und die Master-/Slave-Flipflops von den Verknüpfungsnetzwerken abtrennt und an eine Schiebedatenleitung anschaltet, dadurch gekennzeichnet,
daß jede Grundschaltung nur ein Master-/Slave-Flipflop (11,15; 12,18) als Zwischenspeicher sowohl
für den Datenverarbeitungs- als auch für den Prüfbetrieb aufweist und der Umschalter (30,31) nur mit
dem ersten bistabilen Schaltglied (11, IS) des Master-/Slace-Flipflops (11,15; 12, 18) verbunden ist
2. Integrierte Großschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in jeder Grundschaltung das erste bistabile Schaltglied (U) des
Master'/Slave-Flip-Flops ein Eingabetor (15) aufweist, das mit dem Ausgang eines ersten Verknüpfungsnetzwerkes (10), mit einem steuerbaren Um-
schalter (30, 31) sowie mit einem (16) von zwei Taktsignaleingängen verbunden ist, so daß nach
Maßgabe des Steuersignals (SCHIEBEN) entweder die Ergebnisdaten des ersten Verknüpfungsnetzwerkes oder die Eingabedaten (Prüfdaten) über den
steuerbaren Umschalter jeweils zur Taktzeit (Lc) in
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US00318344A US3806891A (en) | 1972-12-26 | 1972-12-26 | Logic circuit for scan-in/scan-out |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2360762A1 DE2360762A1 (de) | 1974-07-11 |
DE2360762B2 true DE2360762B2 (de) | 1981-01-22 |
DE2360762C3 DE2360762C3 (de) | 1981-11-05 |
Family
ID=23237781
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2360762A Expired DE2360762C3 (de) | 1972-12-26 | 1973-12-06 | Integrierte Großschaltung zur Durchführung von Datenverarbeitungsoperationen und Prüfoperationen |
Country Status (11)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3806891A (de) |
JP (2) | JPS5230337B2 (de) |
AR (1) | AR213825A1 (de) |
BR (1) | BR7308091D0 (de) |
CA (1) | CA1001237A (de) |
CH (1) | CH556544A (de) |
DE (1) | DE2360762C3 (de) |
FR (1) | FR2211819B2 (de) |
GB (1) | GB1452077A (de) |
IT (1) | IT1045395B (de) |
NL (1) | NL7316988A (de) |
Families Citing this family (41)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4051353A (en) * | 1976-06-30 | 1977-09-27 | International Business Machines Corporation | Accordion shift register and its application in the implementation of level sensitive logic system |
JPS5373043A (en) * | 1976-12-13 | 1978-06-29 | Fujitsu Ltd | Logical circuit device |
GB2030807B (en) * | 1978-10-02 | 1982-11-10 | Ibm | Latch circuit |
JPS55132278A (en) * | 1979-04-02 | 1980-10-14 | Canon Inc | Liquid-drip jet recording device |
JPS55132277A (en) * | 1979-04-02 | 1980-10-14 | Canon Inc | Liquid-drip jet recording device |
US4293919A (en) * | 1979-08-13 | 1981-10-06 | International Business Machines Corporation | Level sensitive scan design (LSSD) system |
US4358826A (en) * | 1980-06-30 | 1982-11-09 | International Business Machines Corporation | Apparatus for enabling byte or word addressing of storage organized on a word basis |
DE3029883A1 (de) * | 1980-08-07 | 1982-03-11 | Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart | Schieberegister fuer pruef- und test-zwecke |
US4441075A (en) * | 1981-07-02 | 1984-04-03 | International Business Machines Corporation | Circuit arrangement which permits the testing of each individual chip and interchip connection in a high density packaging structure having a plurality of interconnected chips, without any physical disconnection |
JPS58121458A (ja) * | 1981-12-09 | 1983-07-19 | Fujitsu Ltd | スキヤンアウト方式 |
US4503386A (en) * | 1982-04-20 | 1985-03-05 | International Business Machines Corporation | Chip partitioning aid (CPA)-A structure for test pattern generation for large logic networks |
US4513283A (en) * | 1982-11-30 | 1985-04-23 | International Business Machines Corporation | Latch circuits with differential cascode current switch logic |
US4692633A (en) * | 1984-07-02 | 1987-09-08 | International Business Machines Corporation | Edge sensitive single clock latch apparatus with a skew compensated scan function |
JPH0535498Y2 (de) * | 1986-02-05 | 1993-09-08 | ||
US4749947A (en) * | 1986-03-10 | 1988-06-07 | Cross-Check Systems, Inc. | Grid-based, "cross-check" test structure for testing integrated circuits |
DE3750926T2 (de) * | 1986-10-16 | 1995-08-03 | Fairchild Semiconductor | Synchrone Array-Logikschaltung. |
JPH0682146B2 (ja) * | 1986-12-22 | 1994-10-19 | 日本電気株式会社 | スキヤンパス方式の論理集積回路 |
US5065090A (en) * | 1988-07-13 | 1991-11-12 | Cross-Check Technology, Inc. | Method for testing integrated circuits having a grid-based, "cross-check" te |
US5198705A (en) * | 1990-05-11 | 1993-03-30 | Actel Corporation | Logic module with configurable combinational and sequential blocks |
US5157627A (en) * | 1990-07-17 | 1992-10-20 | Crosscheck Technology, Inc. | Method and apparatus for setting desired signal level on storage element |
US5202624A (en) * | 1990-08-31 | 1993-04-13 | Cross-Check Technology, Inc. | Interface between ic operational circuitry for coupling test signal from internal test matrix |
US5179534A (en) * | 1990-10-23 | 1993-01-12 | Crosscheck Technology, Inc. | Method and apparatus for setting desired logic state at internal point of a select storage element |
US5206862A (en) * | 1991-03-08 | 1993-04-27 | Crosscheck Technology, Inc. | Method and apparatus for locally deriving test signals from previous response signals |
US5230001A (en) * | 1991-03-08 | 1993-07-20 | Crosscheck Technology, Inc. | Method for testing a sequential circuit by splicing test vectors into sequential test pattern |
US5389556A (en) * | 1992-07-02 | 1995-02-14 | Lsi Logic Corporation | Individually powering-up unsingulated dies on a wafer |
US5442282A (en) * | 1992-07-02 | 1995-08-15 | Lsi Logic Corporation | Testing and exercising individual, unsingulated dies on a wafer |
US5648661A (en) * | 1992-07-02 | 1997-07-15 | Lsi Logic Corporation | Integrated circuit wafer comprising unsingulated dies, and decoder arrangement for individually testing the dies |
US5495486A (en) * | 1992-08-11 | 1996-02-27 | Crosscheck Technology, Inc. | Method and apparatus for testing integrated circuits |
US5532174A (en) * | 1994-04-22 | 1996-07-02 | Lsi Logic Corporation | Wafer level integrated circuit testing with a sacrificial metal layer |
TW307927B (de) * | 1994-08-29 | 1997-06-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | |
US5729553A (en) * | 1994-08-29 | 1998-03-17 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Semiconductor integrated circuit with a testable block |
US5821773A (en) * | 1995-09-06 | 1998-10-13 | Altera Corporation | Look-up table based logic element with complete permutability of the inputs to the secondary signals |
US5869979A (en) * | 1996-04-05 | 1999-02-09 | Altera Corporation | Technique for preconditioning I/Os during reconfiguration |
US5936426A (en) * | 1997-02-03 | 1999-08-10 | Actel Corporation | Logic function module for field programmable array |
US6421812B1 (en) | 1997-06-10 | 2002-07-16 | Altera Corporation | Programming mode selection with JTAG circuits |
US6691267B1 (en) | 1997-06-10 | 2004-02-10 | Altera Corporation | Technique to test an integrated circuit using fewer pins |
US6184707B1 (en) | 1998-10-07 | 2001-02-06 | Altera Corporation | Look-up table based logic element with complete permutability of the inputs to the secondary signals |
JP2000162277A (ja) * | 1998-11-25 | 2000-06-16 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路 |
JP2000214220A (ja) * | 1999-01-19 | 2000-08-04 | Texas Instr Inc <Ti> | オンチップモジュ―ルおよびオンチップモジュ―ル間の相互接続をテストするシステムおよび方法 |
US7805648B2 (en) * | 2008-04-07 | 2010-09-28 | Open-Silicon Inc. | Shift-frequency scaling |
JP6667257B2 (ja) | 2015-10-28 | 2020-03-18 | アンデン株式会社 | 電磁継電器 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3582902A (en) * | 1968-12-30 | 1971-06-01 | Honeywell Inc | Data processing system having auxiliary register storage |
US3651472A (en) * | 1970-03-04 | 1972-03-21 | Honeywell Inc | Multistate flip-flop element including a local memory for use in constructing a data processing system |
US3631402A (en) * | 1970-03-19 | 1971-12-28 | Ncr Co | Input and output circuitry |
-
1972
- 1972-12-26 US US00318344A patent/US3806891A/en not_active Expired - Lifetime
-
1973
- 1973-09-25 IT IT29343/73A patent/IT1045395B/it active
- 1973-10-16 BR BR8091/73A patent/BR7308091D0/pt unknown
- 1973-10-17 CA CA183,584A patent/CA1001237A/en not_active Expired
- 1973-11-06 FR FR7340564A patent/FR2211819B2/fr not_active Expired
- 1973-11-13 JP JP48126853A patent/JPS5230337B2/ja not_active Expired
- 1973-11-30 CH CH1684073A patent/CH556544A/de not_active IP Right Cessation
- 1973-12-06 DE DE2360762A patent/DE2360762C3/de not_active Expired
- 1973-12-10 GB GB5714073A patent/GB1452077A/en not_active Expired
- 1973-12-12 NL NL7316988A patent/NL7316988A/xx active Search and Examination
-
1976
- 1976-05-13 AR AR258770A patent/AR213825A1/es active
-
1978
- 1978-08-04 JP JP9470178A patent/JPS5439537A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5439537A (en) | 1979-03-27 |
US3806891A (en) | 1974-04-23 |
BR7308091D0 (pt) | 1974-08-15 |
DE2360762A1 (de) | 1974-07-11 |
DE2360762C3 (de) | 1981-11-05 |
JPS564942B2 (de) | 1981-02-02 |
AR213825A1 (es) | 1979-03-30 |
FR2211819B2 (de) | 1976-06-25 |
CA1001237A (en) | 1976-12-07 |
NL7316988A (de) | 1974-06-28 |
IT1045395B (it) | 1980-05-10 |
GB1452077A (en) | 1976-10-06 |
JPS5230337B2 (de) | 1977-08-08 |
JPS4991559A (de) | 1974-09-02 |
CH556544A (de) | 1974-11-29 |
FR2211819A2 (de) | 1974-07-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2360762C3 (de) | Integrierte Großschaltung zur Durchführung von Datenverarbeitungsoperationen und Prüfoperationen | |
DE2349377C2 (de) | Schaltwerk zur Durchführung von Datenverarbeitungsoperationen | |
DE60202749T2 (de) | Schnittstelle von synchron zu asynchron zu synchron | |
EP0146645B1 (de) | Prüf- und Diagnoseeinrichtung für Digitalrechner | |
EP0012186B1 (de) | Einrichtung zur Erzeugung von Taktsteuersignalen | |
DE2457553C2 (de) | Asynchrone Taktgebereinrichtung | |
DE2723707C2 (de) | Schaltung zur Erzeugung nicht-überlappender Taktimpuls-Züge | |
DE2728676A1 (de) | Stufenempfindliches, als monolithisch hochintegrierte schaltung ausgefuehrtes system aus logischen schaltungen mit darin eingebetteter matrixanordnung | |
EP0046500B1 (de) | Schieberegister für Prüf- und Test-Zwecke | |
DE2719531B2 (de) | Digitale Logikschaltung zur Synchronisierung der Datenübertragung zwischen asynchrongesteuerten Datensystemen | |
DE3727035C2 (de) | ||
EP0628832A2 (de) | Integrierte Schaltung mit Registerstufen | |
DE19741915A1 (de) | Zwischenspeicheroptimierung in Hardware-Logikemulations-Systemen | |
DE60125442T2 (de) | Dreifachredundante selbstschrubbende integrierte Schaltung | |
DE69128439T2 (de) | Flip-Flop-Schaltung | |
DE69910942T2 (de) | Typ D Master-Slave Kippschaltung | |
DE69129728T2 (de) | Operationsanalyseeinrichtung vom Abtastpfadtyp mit nur einem Abtasttaktgeber und nur einer Ausgangsphase für eine integrierte Schaltung | |
DE69123725T2 (de) | Elektrischer Schaltkreis zum Generieren von Impulsreihen | |
DE69524837T2 (de) | Asynchrone Speicheranordnung mit seriellem Zugriff und entsprechendes Speicher- und Leseverfahren | |
WO2005086408A1 (de) | Schnittstellenvorrichtung und verfahren zur synchronisation von daten | |
DE68924876T2 (de) | Integrierte Halbleiterschaltungen. | |
DE19637167C2 (de) | Integrierte Schaltung und Verfahren zum Betreiben derselben | |
DE3221819A1 (de) | Vorrichtung zur simulation eines schaltwerks mit hilfe eines rechners | |
EP0012794B1 (de) | Verfahren und Einrichtung für eine elektronische Datenverarbeitungsanlage zur Prüfung der aus einer Instruktion abgeleiteten Steuersignale | |
DE19535007A1 (de) | Zählschaltung mit Ladefunktion |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |