DE2021345A1 - Verfahren zum Herstellen von sauerstoffarmen Galliumarsenid unter Verwendung von Silicium oder Germanium als Dotierstoff - Google Patents

Verfahren zum Herstellen von sauerstoffarmen Galliumarsenid unter Verwendung von Silicium oder Germanium als Dotierstoff

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DE2021345A1 DE19702021345 DE2021345A DE2021345A1 DE 2021345 A1 DE2021345 A1 DE 2021345A1 DE 19702021345 DE19702021345 DE 19702021345 DE 2021345 A DE2021345 A DE 2021345A DE 2021345 A1 DE2021345 A1 DE 2021345A1
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    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B11/00Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/10Inorganic compounds or compositions
    • C30B29/40AIIIBV compounds wherein A is B, Al, Ga, In or Tl and B is N, P, As, Sb or Bi
    • C30B29/42Gallium arsenide

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Description

SIEMENS AKTISHGESELLSCHAFT München 2, 30. APR. 1970
vVittelsbacherplatz
70/1 089
Verfahren zum Herstellen von sauerstoffarmem Galliumarsenid unter Verwendung von Silicium oder Germanium
als Dotierstoff.
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen von sauerstoffarmem, tiegel- oder bootgezogonem Galliumarsenid unter Verwendung von Silicium oder Germanium als Dotierstoff.
Bei der Dotierung von Galliumarsenidkristallen unter Verwendung von Silicium oder Germanium als Dotierstoff wurde festgestellt, daß Silicium bzw. Germanium sowohl eine p-Leitung als auch η-Leitung im Galliumarsenidkristall erzeugen kann. Zieht man beispielsweise den Galliumarsenidkristall bei einer Temperatur unterhalb von 92o C aus einer mit Gall: umarscnid versetzten Galliumschmelze, so wird das auskristallisierende Galliumarsenid p-Leitung aufweisen. Bei Temperaturen über 92o C hingegen tritt eine n-Leitfähigkeit im aus kristallisiert en Galliumarsenid, auf.
Die Dotierung mit Silicium bzw. Germanium weist aber den großen Nachteil auf, daß sich die Dotierverhältnisse sehr schwer reproduzierbar gestalten lassen, obgleich die Galliumarsenidschmelze in definierter Weise mit dem Dotierstoff Silicium bzw. Germanium versetzt ist.
Es wurde nun ,gefunden, daß diese Unstimmigkeiten auf vorhandene Sauerstoffspuren zurückzuführen sind, welche sich sehr leicht in Galliumarsenidsclimelzen befinden und bei der Galliumarsenidherstellung nicht zu vermeiden sind.
VPA 9/"Mo/0048 Edt/Au ■ .
17. April 197o
109883/U90 - 2 -
Diese Sauerstoffspuren bilden im Galliumarsenid tiefliegende Donatorenniveaus und nichtstrahlende Zentren und führen bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen wie Laserdioden oder Lumineszenzdioden zu erheblichen Ausfällen. Vermutlich lagert sich der im Galliumarsenidkristall vorhandene Sauerstoff an das Silicium- "bzw. Germaniumatom an und beeinträchtigt dadurch die elektrische Wirksamkeit dieser Dotierungsstoffe.
Die vorliegende Erfindung dient zur Lösung der Aufgabe, diese Schwierigkeiten zu vermeiden, und ist dadurch gekennzeichnet, daß der galliumarsenidhaltigen Schmelze vor dem Auskristallisieren des Galliumarsenids ein Element der III. Gruppe des Periodischen Systems, welches eine besonders hohe Affinität zu Sauerstoff hat, beigegeben wird.
Da der Sauerstoff bis zu einem Betrag vom 1o Atome/cm im Galliumarsenid gelöst sein kann, wird der Anteil des zugesetzten Elements zu der galliumarsenidhaltigen Schmelze auf 1o - 1o Atome/cm eingestellt.
Wegen seines dem Galliumatom ähnlichen Ionenradius ist das Aluminium für das erfindungsgemäße Verfahren am besten geeignet. Durch den Einbau von Aluminiumatoraen in das Galliumarsenidgitter wird der vorhandene Sauerstoff von dem Aluminium, welches eine höhere chemische Affinität zu diesem Element als das Silicium oder Germanium hat, gebunden. Dadurch wird der Sauerstoff elektrisch unwirksam gemacht und der aus Silicium bzw. Germanium bestehende Dotierstoff kommt voll zur Geltung.
Das Verfahren nach der Lehre der Erfindung ist deshalb besonders gut geeignet zur Herstellung von Galliumarsenid, welches zu Lumin^eszenzdioden weiterverarbeitet wird.
VPA 9/11o/oo48
109883/U90 " ? "
BAD ORIGINAL
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Die Durchführung des.erfindungsgemäßen ■ Verfahren? wird anhand eines Ausführungsbeisp.ie.ls und der Figur näher ■beschrieben.
Die Figur zeigt im oberen Teil eine graphische Darstellung des Temperaturverlaufes in einer im unteren Teil abgebildeten Einrichtung zur Herstellung von bootgezogenem Galliumarsenid. Diese Einrichtung besteht aus einer Quarzampulle 1, in welcher sich ein Quarzboot 2 befindet. Nach der horizontalen Bridgeman-Technik werden in dieses Quarzboot eine Mischung
To aus Gallium, Arsen, Aluminium und dem Dotierstoff Silicium oder einem anderen n-dotierenden Stoff eingewogen, das Quarzboot 2 in die Ampulle 1 eingeschmolzen, in v/elcher noch zusätzlich Arsen4 eingebracht wird. Um Reaktionen zwischen dem Arsen und den anderen Reaktiοnsteilnehmern zu vermeiden, wird die Quarzampulle 1 mit einer Trennwand versehen. Um einkristallin zu erstarren, muß an dem einen Ende des Bootes 2 ein Galliumars-enid.-Einkrist.alllce.im 6 angebracht weiten. Das Temperaturprofil wird in der mit dem Pfeil 7 angegebenen Richtung durch das Boot 2 gezogen, so daß der Temperaturgradient die Kristallwachstumsrichtung unterstützt.
1 Figur
3 Patentansprüche
VPA 9/iio/oo48 109883/U9Ö -4
BAD ORIGINAL

Claims (2)

■ - 4 -
1. Verfahren zum Herstellen von sauerstoffarmem, tiegel- oder bootgezogenem Galliumarsenid unter Verwendung von Silicium oder Germanium als Dotierstoff, dadurch gekennzeichnet, daß der galliumarsciiiidhaltigen Schmelze vor dem Auskristallisieren des Galliumarsenids ein Element"der" III. Gruppe des Periodischen Systems, welches eine besonders hohe Affinität zu Sauerstoff hat, beigegeben v/ird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Anteil des zugesetzten Elements in der galliumarsenidhaltigen Schmelze auf Io - 1o ° Atome/cm eingestellt wird.
3· Verfahren nach Anspruch 1 und/oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß Aluminium beigegeben wird.
VPA 9/11o/oo48
109883/1490
ORIGINAL INSPECTED
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2414856A1 (de) * 1974-03-27 1975-10-16 Siemens Ag Vorrichtung zum herstellen einer halbleiterverbindung, insbesondere galliumphosphid

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4162293A (en) * 1974-03-27 1979-07-24 Siemens Aktiengesellschaft Apparatus for preparation of a compound or an alloy
DE2414776C2 (de) * 1974-03-27 1984-04-19 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Vorrichtung zum Herstellen einer Verbindung oder Legierung
FR2416729A1 (fr) * 1978-02-09 1979-09-07 Radiotechnique Compelec Perfectionnement au procede de fabrication d'un monocristal de compose iii-v''
JPS5914440B2 (ja) * 1981-09-18 1984-04-04 住友電気工業株式会社 CaAs単結晶への硼素のド−ピング方法
US4891091A (en) * 1986-07-14 1990-01-02 Gte Laboratories Incorporated Method of epitaxially growing compound semiconductor materials
US4699688A (en) * 1986-07-14 1987-10-13 Gte Laboratories Incorporated Method of epitaxially growing gallium arsenide on silicon
US5272373A (en) * 1991-02-14 1993-12-21 International Business Machines Corporation Internal gettering of oxygen in III-V compound semiconductors
US5183767A (en) * 1991-02-14 1993-02-02 International Business Machines Corporation Method for internal gettering of oxygen in iii-v compound semiconductors

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3278342A (en) * 1963-10-14 1966-10-11 Westinghouse Electric Corp Method of growing crystalline members completely within the solution melt
US3560275A (en) * 1968-11-08 1971-02-02 Rca Corp Fabricating semiconductor devices

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2414856A1 (de) * 1974-03-27 1975-10-16 Siemens Ag Vorrichtung zum herstellen einer halbleiterverbindung, insbesondere galliumphosphid

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