DE19828176C2 - Leistungsverbrauchssteuerungsschaltung für CMOS-Schaltung - Google Patents
Leistungsverbrauchssteuerungsschaltung für CMOS-SchaltungInfo
- Publication number
- DE19828176C2 DE19828176C2 DE19828176A DE19828176A DE19828176C2 DE 19828176 C2 DE19828176 C2 DE 19828176C2 DE 19828176 A DE19828176 A DE 19828176A DE 19828176 A DE19828176 A DE 19828176A DE 19828176 C2 DE19828176 C2 DE 19828176C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- circuit
- cmos circuit
- cmos
- pulse
- leading edge
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/16—Constructional details or arrangements
- G06F1/20—Cooling means
- G06F1/206—Cooling means comprising thermal management
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/003—Modifications for increasing the reliability for protection
- H03K19/00323—Delay compensation
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/08—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
- H03K19/094—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
- H03K19/0944—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET
- H03K19/0948—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET using CMOS or complementary insulated gate field-effect transistors
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/13—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
- H03K5/135—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals by the use of time reference signals, e.g. clock signals
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02D—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
- Y02D10/00—Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Pulse Circuits (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Leistungsver
brauchssteuerungsschaltung zum Kompensieren von Unterschie
den im Leistungsverbrauch einer Logikschaltung und insbeson
dere eine Leistungsverbrauchssteuerungsschaltung für eine
CMOS-Schaltung zum Kompensieren von durch Änderungen einer
Impulsrate oder -frequenz eines durch die CMOS-Schaltung
übertragenen Eingangsimpulssignals hervorgerufenen Änderun
gen des Leistungsverbrauchs, wodurch in der CMOS-Schaltung
eine konstante Temperatur und eine konstante Signallaufzeit
oder Signalverzögerungszeit aufrechterhalten werden.
Es ist bekannt, daß in einer Logikschaltung, z. B. in
einer IC-Bausteinschaltung, in der CMOS-Schaltglieder oder
andere Arten von Schaltgliedern verwendet werden, die Höhe
des Wärmeverlusts sich mit der Anzahl der der Schaltung zu
geführten Impulse, d. h. mit der Frequenz eines Eingangsimpulssignal,
ändert. Dies ist der Fall, weil in einer solchen
IC-Bausteinschaltung Strom nur an den Signalübergangsflan
ken, d. h. an den ansteigenden (vorderen) und abfallenden
(hinteren) Flanken, fließt. Daher nimmt, wenn die Anzahl von
Impulsen oder die Frequenz des Eingangsimpulssignals hoch
ist, die Anzahl der Ereignisse, bei denen ein Stromfluß in
der CMOS-Schaltung veranlaßt wird, zu, was zu einer höheren
Wärmeabstrahlung bzw. einem höheren Wärmeverlust und zu ei
ner Temperaturerhöhung in der CMOS-Schaltung führt. Die vor
liegende Erfindung betrifft eine Leistungsverbrauchssteue
rungsschaltung, die die CMOS-Logikschaltung so steuert, daß
die Gesamtstromstärke (Leistungsverbrauch oder Wärmeverlust)
auch dann konstant bleibt, wenn die Anzahl der durch die
CMOS-Logikschaltung übertragenen Impulsen variiert.
Nachstehend wird der in einer CMOS-Schaltung auftreten
de Wärmeverlust unter Bezug auf die Fig. 4 und 5 ausführ
licher beschrieben. Fig. 4A zeigt ein Beispiel einer CMOS-
Komponente, wie beispielsweise einer durch CMOS-Transistoren
gebildeten Invertierschaltung. Die Schaltung weist einen p-
Kanal-MOS-Transistor MP und einen n-Kanal-MOS-Transistor NP
auf, die komplementär zueinander geschaltet sind. Ein Ein
gangsanschluß 1 ist gemeinsam mit Gate-Elektroden beider
Transistoren MP und NP verbunden, und ein Ausgangsanschluß 2
wird an einer Verbindungsstelle der Transistoren MP und NP
gebildet. Ein Beispiel von Fig. 4B zeigt zwei Paare von
Transistoren MP und NP, um eine größere Ausgangsstromkapazi
tät und eine höhere Fan-Out-Zahl (die Anzahl von Ausgangs
leitungen, die durch den Ausgangsanschluß versorgt werden
können) zu erhalten.
In den Fig. 4A und 4B bezeichnet VDD eine hohe Ver
sorgungsspannung (hohe Spannung H), z. B. 4 V, während VSS ei
ne niedrige Versorgungsspannung (niedrige Spannung L), z. B.
0 V oder Masse, bezeichnet. Wenn dem Eingangsanschluß 1 die
niedrige Spannung L zugeführt wird, ist der Transistor MP
eingeschaltet (leitend) und der Transistor NP ausgeschaltet
(nichtleitend), so daß am Ausgangsanschluß die hohe Spannung
H als Ausgangsspannung erhalten wird. Wenn dem Eingangsan
schluß 1 dagegen die hohe Spannung H zugeführt wird, ist der
Transistor MP ausgeschaltet (nichtleitend) und der Transi
stor NP eingeschaltet (leitend), so daß am Ausgangsanschluß
die niedrige Spannung L als Ausgangsspannung erhalten wird.
In der in Fig. 4 dargestellten CMOS-Schaltung werden
in Antwort auf die Signalübergangsflanken, d. h. in Antwort
auf die ansteigenden und die abfallenden Flanken eines in
Fig. 5A dargestellten Eingangsimpulssignals P, beide Tran
sistoren MP und NP vorübergehend aktiv. Dadurch fließt wäh
rend dieser Übergangsperiode ein Strom, wie in Fig. 5B dar
gestellt. Die Stromstärke während dieser Periode beträgt
mehrere zehn Mikroampere (µA) bis mehrere Milliampere (mA).
Durch den während dieser Periode auftretenden Stromfluß wer
den die Signalverzögerungszeit in der CMOS-Schaltung sowie
die Höhe von Versorgungsspannungen beeinflußt. Außerhalb der
vorstehend erwähnten Übergangsperiode ist nur einer der
Transistoren MP und NP aktiv, wobei die Höhe des im aktiven
Transistor fließenden Stroms sehr gering ist.
Fig. 6A zeigt ein Beispiel, in dem eine CMOS-Schaltung
durch solche änderungen der Versorgungsspannungen beeinflußt
wird. In diesem Beispiel sind eine große Anzahl von CMOS-
Komponenten, z. B. Invertierer oder Puffer, in Art einer Ma
trix auf einem IC-Substrat ausgerichtet. Außerdem sind auf
dem Substrat um die Matrix der CMOS-Komponenten Hauptspan
nungsleitungen für Versorgungsspannungen VDD und VSS vorge
sehen. Mehrere feine Leitungen verlaufen von den Hauptspan
nungsleitungen zu den CMOS-Komponenten. Daher werden jeder
CMOS-Komponente über mit den Hauptspannungsleitungen verbundene
feine Spannungsleitungen Versorgungsspannungen zuge
führt.
Fig. 6B zeigt ein Ersatzschaltbild der CMOS-Schaltung
von Fig. 6A, wobei das Bezugszeichen R einen durch jede der
mit den CMOS-Komponenten 10 verbundenen feinen Spannungslei
tungen gebildeten Widerstand bezeichnet. Weil die Kombina
tionen des Widerstandes R in Abhängigkeit von den physischen
Orten der CMOS-Komponenten 10 oder der Anzahl der gleichzei
tig angesteuerten CMOS-Komponenten 10 variieren, ändern sich
die tatsächlichen Werte der den CMOS-Komponenten 10 zuge
führten Versorgungsspannungen gemäß den über den Widerstand
R auftretenden Spannungsabfällen. Beispielsweise kann die
Spannung V der Quellenspannung VDD für eine bestimmte CMOS-
Komponente V = 4,0 - 2iR oder V = 4,0 - 8iR betragen, wobei i ein
durch die feine Spannungsleitung fließender Strom ist.
Nachstehend wird der Zusammenhang zwischen der Signal
verzögerungszeit in einer CMOS-Schaltung 11 und inneren
Stromwellenformen (Leistungsverbrauch) in der CMOS-Schaltung
11 unter Bezug auf Fig. 7 betrachtet. Im Beispiel von Fig.
7 und im Zusammenhang mit der vorliegenden Beschreibung ist
die CMOS-Schaltung 11 eine Schaltung mit einer großen Anzahl
von CMOS-Komponenten, z. B. mit mehreren zehn bis hundert
CMOS-Invertierern, Puffern, Torschaltungen oder ähnlichen,
die in Serie geschaltet sind.
In Fig. 7 durchläuft ein Impulssignal P die CMOS-
Schaltung 11, in der eine große Anzahl von CMOS-Komponenten
10 angeordnet ist. Das Impulssignal an einem Eingangsan
schluß 3 ist durch einen Eingangsimpuls PI dargestellt, und
das Impulssignal an einem Ausgangsanschluß 4 ist durch einen
Ausgangsimpuls PO dargestellt. Fig. 8 zeigt ein Zeitdia
gramm zum Darstellen der dem Beipiel von Fig. 7 zugeordne
ten Wellenformen. Der in Fig. 8A dargestellte Eingangsim
puls PI am Eingangsanschluß 3 durchläuft die CMOS-Schaltung
11, und der Ausgangsimpuls PO wird nach einer Signalverzöge
rungszeit Td der CMOS-Schaltung am Ausgangsanschluß 4 ausge
geben, wie in Fig. 8B dargestellt.
Typischerweise beträgt die Signalverzögerungszeit jeder
CMOS-Komponente etwa 10 ps (Picosekunden), obwohl sie in Ab
hängigkeit von der Versorgungsspannung, der Anzahl der Stu
fen oder der Temperatur variiert. Weil die große Anzahl von
CMOS-Komponenten, z. B. mehrere zehn bis hundert, in Serie
geschaltet sind, kann die Gesamtsignalverzögerungszeit zwi
schen dem Eingangsanschluß 3 und dem Ausgangsanschluß 4 der
CMOS-Schaltung 11 mehrere Nanosekunden betragen.
Die Stromwellenformen in der CMOS-Schaltung 11 sind in
Fig. 8C dargestellt. Jede der Stromwellenformen in Fig. 8C
wird bezüglich in Fig. 8D dargestellten Zeitabschnitten 1,
2 und 3 betrachtet. Die Stromwellenform im Zeitabschnitt 1
stellt einen in der CMOS-Schaltung 11 fließenden Strom dar,
der durch die ansteigende (vordere) Flanke des Impulssignals
verursacht wird. Die Stromwellenform im Zeitabschnitt 2
stellt einen in der CMOS-Schaltung 11 fließenden Strom 2i
dar, der sowohl durch die ansteigende (vordere) Flanke als
auch durch die abfallende (hintere) Flanke des Impulssignals
erzeugt wird. Die Stromwellenform im Zeitabschnitt 3 stellt
einen in der CMOS-Schaltung 11 fließenden Strom i dar, der
durch die abfallende (hintere) Flanke des Impulssignals er
zeugt wird.
Wie in Fig. 8C dargestellt, ist der in der CMOS-
Schaltung fließende Gesamtstrom, d. h. der darin vorliegende
Leistungsverbrauch, abhängig davon, ob der Schaltung ein Im
pulssignal zugeführt wird, und ist außerdem abhängig von der
Impulsrate (Frequenz) des Impulssignals. Daher hängt die
Temperatur der CMOS-Schaltung von dem ihr zugeführten Im
pulssignal und von seiner Impulsrate ab. Wie vorstehend er
wähnt, variieren die Versorgungsspannungen der CMOS-Komponenten
auch in Abhängigkeit von den über den Widerstand der
feinen Spannungsleitungen auftretenden Spannungsabfällen.
Es ist bekannt, daß in einer CMOS-Schaltung die Signal
verzögerungszeit Td für ein sie durchlaufendes Impulssignal
P von der Temperatur und den Versorgungsspannungen der CMOS-
Komponenten abhängt. Die Signalverzögerungszeit Td nimmt ge
mäß einer Kurve zweiter Ordnung mit zunehmender Temperatur
zu. Außerdem nimmt die Signalverzögerungszeit Td gemäß einer
Kurve zweiter Ordnung mit abnehmender Versorgungsspannung
zu. Daher wird in einer CMOS-Schaltung, in der eine hohe
Zeitauflösung und eine hohe Genauigkeit erforderlich sind,
z. B. in einer Verzögerungsschaltung, häufig eine Temperatur
kompensationsschaltung integriert. Typischerweise weist eine
solche Temperaturkompensationsschaltung in einer Verzöge
rungsschaltung eine oder mehrere Hilfsschaltungen oder Heiz
vorrichtungen auf.
Ein Beispiel solcher Temperaturkompensationsschaltungen
ist durch den Anmelder der vorliegenden Erfindung in der of
fengelegten Japanischen Patentveröffentlichung Nr. 8-330920
mit dem Titel "Temperature Balance Circuit" beschrieben, die
in Fig. 9 schematisch dargestellt ist. Im Beispiel von
Fig. 9 ist eine Hilfs-CMOS-Schaltung 12 in der Nähe der zu
kompensierenden CMOS-Schaltung 11 angeordnet. Die Hilfs-
CMOS-Schaltung 12 weist im wesentlichen die gleiche Anzahl
von CMOS-Komponenten auf wie die CMOS-Schaltung 11. Die
Hilfsschaltung 12 empfängt grundsätzlich Impulssignale auf
eine solche Weise, daß die Gesamtanzahl der die CMOS-
Schaltung 11 und die Hilfs-CMOS-Schaltung 12 durchlaufenden
Impulse konstant ist.
Fig. 10 zeigt ein Zeitdiagramm zum Darstellen einer
Arbeitsweise der Temperaturkompensationsschaltung von Fig.
9. Die CMOS-Schaltung 11 empfängt an einem Eingangsanschluß
3 ein Impulssignal PI, wie in Fig. 10A dargestellt, und
gibt an einem Ausgangsanschluß 4 ein Impulssignal PO aus,
wie in Fig. 10C dargestellt. Für eine Zeitdauer, in der der
Eingangsimpuls PI nicht vorhanden ist, wird einem Eingangs
anschluß 3n der Hilfsschaltung 12 ein Impulssignal zuge
führt, wie in Fig. 10B dargestellt, das an einem Ausgangs
anschluß 4n ausgegeben wird, wie in Fig. 10D dargestellt.
Daher ist die Gesamtanzahl der die CMOS-Schaltung 11 und die
Hilfsschaltung 12 durchlaufenden Impulse konstant.
D. h., die Gesamtanzahl von Impulsen wird auf den Maxi
malwert, d. h. die höchste mögliche Frequenz des Eingangsim
pulssignals, gesetzt. Wenn die Anzahl von der CMOS-Schaltung
11 zugeführten Eingangsimpulsen niedriger ist als die Maxi
malrate, wird die Differenz in der Hilfs-CMOS-Schaltung 12
ergänzt. Daher bleibt die Summe der in der CMOS-Schaltung 11
und in der Hilfsschaltung 12 fließenden Ströme permanent
konstant, wie in Fig. 8E dargestellt, wodurch auch dann ei
ne konstante Temperatur (Leistungsverbrauch) erhalten wird,
wenn die Impulsrate oder -frequenz des Eingangsimpulssignals
der CMOS-Schaltung 11 sich ändert.
Um zu erreichen, daß die Gesamtimpulsanzahl konstant
bleibt, wechselwirken im herkömmlichen Beispiel von Fig. 9
ein Impulszähler und eine Recheneinrichtung (nicht darge
stellt) miteinander, um die Anzahl der der CMOS-Schaltung 11
zugeführten Impulse zu zählen und eine Differenz zwischen
dem Zählwert und dem vorgegebenen Maximalwert zu bestimmen.
Daraufhin wird die der Differenz entsprechende Anzahl von
Hilfsimpulsen der Hilfs-CMOS-Schaltung 12 zugeführt, wodurch
die Gesamtimpulsanzahl bereitgestellt wird, die immer dem
Maximalwert gleich ist.
Diese vorstehend beschriebene herkömmliche temperatur
kompensierte Logikschaltung ist dazu geeignet, die Tempera
tur der CMOS-Logikschaltung unabhängig von der Impulsrate
oder -frequenz des sie durchlaufenden Impulssignals auf einen
konstanten Wert zu regeln. Bei diesem Beispiel besteht
jedoch der Nachteil, daß die Hilfsschaltung 12 eine große
Anzahl von Komponenten aufweisen muß, die vergleichbar ist
mit der Anzahl der Komponenten der zu kompensierenden CMOS-
Logikschaltung 11. Daher kann die Gesamtschaltungsgröße etwa
doppelt so groß sein wie die der CMOS-Schaltung 11.
Außerdem variieren, weil der die CMOS-Schaltung durch
laufende Eingangsimpuls PI und das in der Hilfsschaltung 12
ergänzte Impulssignal asynchron zueinander sind, die vorste
hend erwähnten Spannungsabfälle in den Versorgungsspannungs
leitungen der CMOS-Komponenten mit der Form der ihnen zuge
führten Eingangsimpulssignale oder mit Kombinationen von
CMOS-Komponenten, die die Eingangsimpulse empfangen. Durch
diese ungleichen Spannungsabfälle der Versorgungsspannungen
werden auch Signalverzögerungszeitschwankungen in der CMOS-
Schaltung verursacht.
Daher ist es eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung,
eine Leistungsverbrauchssteuerungsschaltung für eine CMOS-
Schaltung bereitzustellen, die in der Lage ist, durch Fre
quenzänderungen eines sie durchlaufenden Impulssignals ver
ursachte Wärmeverlustunterschiede zu kompensieren und die
Temperatur der CMOS-Schaltung konstant zu halten.
Es ist eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung,
eine Leistungsverbrauchssteuerungsschaltung für eine CMOS-
Schaltung bereitzustellen, die in der Lage ist, die durch
Frequenzänderungen eines sie durchlaufenden Impulssignals
verursachten Unterschiede der erzeugten Wärme mit höherer
Genauigkeit und Stabilität zu kompensieren, um eine konstan
te Signalverzögerungszeit in der CMOS-Schaltung aufrechtzu
erhalten.
Es ist eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung,
eine Leistungsverbrauchssteuerungsschaltung für eine CMOS-
Schaltung bereitzustellen, die in der Lage ist, die durch
Frequenzänderungen eines sie durchlaufenden Impulssignals
verursachten Unterschiede der erzeugten Wärme zu kompensie
ren, ohne daß Spannungsänderungen in den den inneren CMOS-
Komponenten zugeführten Versorgungsspannungen auftreten.
Erfindungsgemäß sind eine auf eine vordere Flanke an
sprechende bzw. einwirkende Heizeinrichtung und eine auf ei
ne hintere Flanke ansprechende bzw. einwirkende Heizeinrich
tung in unmittelbarer Nähe der CMOS-Schaltung angeordnet.
Während der Zeitdauer, in der eine vordere Flanke eines Ein
gangsimpulses die CMOS-Schaltung durchläuft, ist die auf ei
ne vordere Flanke ansprechende Heizeinrichtung ausgeschal
tet. Während der Zeitdauer, in der eine hintere Flanke des
Eingangsimpulses die CMOS-Schaltung durchläuft, ist die auf
eine hintere Flanke ansprechende Heizeinrichtung ausgeschal
tet. Dadurch bleibt der Gesamtstrom, der in der CMOS-
Schaltung in der auf eine vordere und in der auf eine hinte
re Flanke ansprechenden Heizeinrichtung fließt, unabhängig
von der Impulsrate oder -frequenz des Eingangsimpulses un
verändert oder konstant.
Die erfindungsgemäße Leistungsverbrauchssteuerungs
schaltung für eine CMOS-Schaltung zum Steuern der Temperatur
der CMOS-Schaltung für eine variierende Impulsrate oder -
frequenz eines zwischen einem Eingangsanschluß und einem
Ausgangsanschluß der CMOS-Schaltung übertragenen Impuls
signals auf einen konstanten Wert weist auf: eine in unmit
telbarer Nähe der CMOS-Schaltung angeordnete, auf eine vor
dere Flanke ansprechende Heizeinrichtung, die im eingeschal
teten Zustand durch einen darin fließenden Strom i Wärme er
zeugt, eine in unmittelbarer Nähe der CMOS-Schaltung ange
ordnete, auf eine hintere Flanke ansprechende Heizeinrich
tung, die im eingeschalteten Zustand durch einen darin flie
ßenden Strom i Wärme erzeugt, und eine Heizeinrichtungs
steuerungsschaltung zum Erfassen einer vorderen Flankenperiode
zwischen einer vorderen Flanke eines dem Eingangsan
schluß zugeführten Eingangsimpulses und einer vorderen Flan
ke eines vom Ausgangsanschluß ausgegebenen Ausgangsimpulses,
und zum Ausschalten der auf eine vordere Flanke ansprechen
den Heizeinrichtung während dieser vorderen Flankenperiode,
und zum Erfassen einer hinteren Flankenperiode zwischen ei
ner hinteren Flanke des Eingangsimpulses und einer hinteren
Flanke des Ausgangsimpulses, und zum Ausschalten der auf ei
ne hintere Flanke ansprechenden Heizeinrichtung während die
ser hinteren Flankenperiode, wobei durch jede der vorderen
und der hinteren Flanken des Eingangsimpulses veranlaßt
wird, daß ein Strom i in der CMOS-Schaltung fließt.
Nachstehend werden bevorzugte Ausführungsformen der
vorliegenden Erfindung unter Bezug auf die Zeichnungen be
schrieben. Es zeigen:
Fig. 1 ein Blockdiagramm zum Darstellen einer Schal
tungsstruktur einer erfindungsgemäßen Leistungsverbrauchs
steuerungsschaltung für eine CMOS-Schaltung;
Fig. 2A und 2B Schaltungsdiagramme zum Darstellen von
Beispielen der Schaltungsstruktur der in der Leistungsver
brauchssteuerungsschaltung von Fig. 1 verwendeten Heizein
richtung;
Fig. 3A-3I Zeitdiagramme zum Darstellen einer Ar
beitsweise der in Fig. 1 dargestellten erfindungsgemäßen
Leistungsverbrauchssteuerungsschaltung für eine CMOS-
Schaltung;
Fig. 4 Beispiele von CMOS-Komponenten, wobei Fig. 4A
ein Schaltungsdiagramm einer durch CMOS-Transistoren gebil
deten Invertierschaltung und Fig. 4B ein Schaltungsdiagramm
von zwei Paaren parallelgeschalteter CMOS-Transistoren dar
stellt;
Fig. 5A eine Wellenform eines die CMOS-Schaltung
durchlaufenden Eingangsimpulssignals und Fig. 5B eine durch
das Eingangsimpulssignal von Fig. 5A erhaltene Stromwellen
form in der CMOS-Schaltung;
Fig. 6A ein Beispiel der physikalischen Struktur der
CMOS-Schaltung auf einem IC-Substrat, wobei Reihen von CMOS-
Komponenten und Versorgungsspannungsleitungen dargestellt
sind, und Fig. 6B ein Ersatzschaltild von Fig. 6A mit
CMOS-Komponenten und Versorgungsspannungsleitungen mit einem
Widerstand;
Fig. 7 ein Beispiel einer CMOS-Schaltung mit einer
großen Anzahl von CMOS-Komponenten, durch die eine bestimmte
Signalverzögerungszeit erzeugt wird;
Fig. 8A-8D Zeitdiagramme zum Darstellen einer Ar
beitsweise der CMOS-Schaltung von Fig. 7;
Fig. 9 eine herkömmliche Verzögerungsschaltung mit ei
ner CMOS-Schaltung, die durch eine Temperaturkompensations
schaltung temperaturkompensiert wird;
Fig. 10A-10E Zeitdiagramme zum Darstellen einer Ar
beitsweise der CMOS-Schaltung und der zugeordneten Tempera
turkompensationsschaltung von Fig. 9;
Fig. 11 ein Blockdiagramm zum Darstellen einer Schal
tungsstruktur einer weiteren Ausführungsform einer erfin
dungsgemäßen Leistungsverbrauchssteuerungsschaltung;
Fig. 12 ein Blockdiagramm zum Darstellen einer Schal
tungsstruktur einer weiteren Ausführungsform einer erfin
dungsgemäßen Leistungsverbrauchssteuerungsschaltung;
Fig. 13 ein Schaltungsdiagramm der Ausführungsform von
Fig. 12;
Fig. 14 eine den Ausführungsformen von Fig. 12 und 13
zugeordnete Wahrheitstabelle; und
Fig. 15A-15C Zeitdiagramme zum Darstellen des Zusam
menhangs zwischen Impulsintervallen von Eingangsimpulssigna
len und Signalverzögerungszeiten von CMOS-Schaltungen.
Fig. 1 zeigt ein Blockdiagramm zum Darstellen einer
Schaltungsstruktur der erfindungsgemäßen Leistungsver
brauchssteuerungsschaltung für eine CMOS-Schaltung. Bei der
vorliegenden Erfindung sind in der Leitungsverbrauchssteue
rungsschaltung eine auf eine vordere Flanke ansprechende
Heizeinrichtung und eine auf eine hintere Flanke ansprechen
de Heizeinrichtung vorgesehen. Die Summe aus den Strömen,
die in der zu kompensierenden CMOS-Schaltung, in der auf ei
ne vordere Flanke ansprechenden Heizeinrichtung und in der
auf eine hintere Flanke ansprechenden Heizeinrichtung flie
ßen, wird so gesteuert, daß sie permanent konstant ist.
In Fig. 1 soll eine CMOS-Schaltung 11 temperaturkom
pensiert werden, so daß die Signalverzögerungszeit Td mit
der Änderung der Eingangsimpulsrate oder -frequenz konstant
bleibt. Ein Beispiel der CMOS-Schaltung 11 ist eine Präzisi
onsverzögerungsschaltung, die in einem Halbleiterprüfsystem
zum Erzeugen von Prüfsignalen mit verschiedenen Takten ver
wendet werden soll. Die erfindungsgemäße Leistungsver
brauchssteuerungsschaltung weist in unmittelbarer Nähe der
CMOS-Schaltung 11 auf: eine auf eine vordere Flanke anspre
chende Heizeinrichtung 16 und eine auf eine hintere Flanke
ansprechende Heizeinrichtung 16n und eine Heizeinrichtungs
steuerungsschaltung 14 zum Steuern der auf eine vordere und
der auf eine hintere Flanke ansprechenden Heizeinrichtungen
16 bzw. 16n. Im Beispiel von Fig. 1 weist die Heizeinrich
tungssteuerungsschaltung 14 ein SR-Flipflop 15, Auswahlein
richtungen SEL1 und SEL2 und UND-Gatter 17 und 18 auf.
Die Heizeinrichtungssteuerungsschaltung 14 gibt ein ein
vorderes Flankenintervall anzeigendes Signal an einem Aus
gangsanschluß 7 für die auf eine vordere Flanke ansprechende
Heizeinrichtung 16 und ein ein hinteres Flankenintervall an
zeigendes Signal für die auf eine hintere Flanke ansprechen
de Heizeinrichtung 16n an einem Ausgangsanschluß 7n aus. Die
CMOS-Schaltung 11 empfängt einen Eingangsimpuls PI an einem
Eingangsanschluß 3 und gibt einen Ausgangsimpuls PO an einem
Ausgangsanschluß 4 aus. Der Eingangsimpuls PI und der Aus
gangsimpuls PO werden außerdem dem SR-Flipflop 15 und den
UND-Gattern 17 und 18 der Heizeinrichtungssteuerungsschal
tung 14 auf die in Fig. 1 dargestellte Weise zugeführt.
Schaltungsbeispiele von Heizeinrichtungen 16 und 16n
sind in den Fig. 2A und 2B dargestellt. Die Heizeinrich
tungen 16 und 16n werden vorzugsweise aus CMOS-Komponenten
gebildet, so daß die CMOS-Schaltung 11 und die erfindungsge
mäße Leistungsverbrauchssteuerungsschaltung in einem IC-Chip
hergestellt werden können. In den Fig. 2A und 2B fließt
ein Strom in der Heizeinrichtung 16, wenn die Eingangsspan
nung am Anschluß 9 einen hohen Pegel aufweist (eingeschalte
ter Zustand). Die Heizeinrichtung 16 ist inaktiv, wenn die
Eingangsspannung einen niedrigen Pegel aufweist (ausgeschal
teter Zustand). Wenn die Heizeinrichtung 16 auf den einge
schalteten Zustand eingestellt ist, wird in Antwort auf eine
Flanke eines Eingangsimpulssignals veranlaßt, daß in der
Heizeinrichtung ein Strom i fließt, dessen Größe der Größe
des in der CMOS-Schaltung 11 fließenden Stroms entspricht.
Die Heizeinrichtung von Fig. 2A weist zwei komplemen
täre CMOS-Transistoren auf, was grundsätzlich der in Fig.
4B dargestellten CMOS-Komponente entspricht. Die Heizein
richtung von Fig. 2B wirkt als Oszilator, der oszilliert,
wenn ein Eingangssignal auf einen hohen Pegel gesetzt ist,
wobei in der Heizeinrichtung ein Strom i fließt, und die Os
zillation unterbricht, wenn das Eingangssignal auf einen
niedrigen Pegel gesetzt ist. Für die bei der vorliegenden
Erfindung vorgesehenen, auf eine vordere und auf eine hinte
re Flanke ansprechenden Heizeinrichtungen können auch andere
Schaltungstypen oder Komponenten von Heizeinrichtungen ver
wendet werden, z. B. Widerstände.
Nachstehend wird die Arbeitsweise der Leistungsver
brauchssteuerungsschaltung von Fig. 1 unter Bezug auf das
Zeitdiagramm von Fig. 3 beschrieben. Wenn vorausgesetzt
wird, daß der CMOS-Schaltung 11 kein Eingangsimpuls zuge
führt wird, erzeugt der Ausgangsanschluß 7 der Heizeinrich
tungssteuerungsschaltung 14 eine Spannung mit hohem Pegel,
so daß die auf eine vordere Flanke ansprechende Heizeinrich
tung 16 auf den eingeschalteten Zustand eingestellt ist.
Ähnlicherweise erzeugt, weil kein Ausgangsimpuls von der
CMOS-Schaltung 11 vorhanden ist, der Ausgangsanschluß 7n der
Heizeinrichtungssteuerungsschaltung 14 eine Spannung mit ho
hem Pegel, so daß die auf eine hintere Flanke ansprechende
Heizeinrichtung 16n auf den eingeschalteten Zustand einge
stellt ist. Daher sind in diesem Fall beide Heizeinrichtun
gen 16 und 16n auf den eingeschalteten Zustand eingestellt,
so daß darin vorgegebene Ströme fließen und Wärme erzeugt
wird.
Wenn dem Eingangsanschluß 3 der CMOS-Schaltung 11 ein
in Fig. 3A dargestellter Eingangsimpuls PI zugeführt wird,
wird der Zustand des SR-Flipflops 15 durch die vordere Flan
ke des Eingangsimpulses PI geändert. Durch die Spannungsän
derung des Flipflops 15 wird die Spannung am Ausgangsan
schluß 7 durch die Auswahleinrichtung SEL1 auf einen niedri
gen Pegel geändert, wie in Fig. 3C dargestellt. Dadurch
wird die auf eine vordere Flanke ansprechende Heizeinrich
tung 16 auf den ausgeschalteten Zustand geschaltet, so daß
sie keine Wärme erzeugt. Ähnlicherweise wird zum Zeitpunkt,
an dem die hintere Flanke des Eingangsimpulses PI zugeführt
wird, die Spannung am Ausgangsanschluß 7n durch die Auswahl
einrichtung SEL2 auf den niedrigen Pegel geschaltet, wie in
Fig. 3D dargestellt. Dadurch wird die auf eine hintere
Flanke ansprechende Heizeinrichtung 16 auf den ausgeschalte
ten Zustand geschaltet, so daß sie keine Wärme erzeugt.
Der Eingangsimpuls PI durchläuft die CMOS-Schaltung 11
mit der Signalverzögerungszeit Td, so daß nach Ablauf der
Zeitdauer Td ein Ausgangsimpuls PO am Ausgangsanschluß 4 er
scheint, wie in Fig. 3B dargestellt. In diesem Beispiel ist
die Signalverzögerungszeit Td länger als die Impulsbreite
des Eingangsimpulses PI, jedoch kürzer als die Periode des
Eingangsimpulses PI. Daher beginnt die Übertragung der hin
teren Flanke des Eingangsimpulses PI durch die CMOS-
Schaltung 11 während der Zeitdauer, während der die vordere
Flanke des Eingangsimpulses noch die CMOS-Schaltung durch
läuft.
Dadurch existiert, wie vorstehend unter Bezug auf Fig.
8 beschrieben wurde, ein Überlappungszeitabschnitt in der
CMOS-Schaltung 11, während dem in der CMOS-Schaltung 11 die
durch die vordere Flanke und die hintere Flanke des Ein
gangsimpulses PI verursachten Ströme fließen. Die in der
CMOS-Schaltung 11 erhaltene Stromwellenform ist in Fig. 3F
dargestellt. Während des Überlappungszeitabschnitts ver
braucht die CMOS-Schaltung 11 eine elektrische Leistung, die
doppelt so hoch ist wie in der anderen aktiven Periode, d. h.
es fließt ein Strom 2i.
Nach der Signalverzögerungszeit Td wird durch die vor
dere Flanke des in Fig. 3B dargestellten Ausgangsimpulses
PO am Ausgangsanschluß 4 der Zustand der Heizspannung von
Fig. 3C auf den hohen Pegel geändert. Ähnlicherweise wird
durch die hintere Flanke des Ausgangsimpulses PO der Zustand
der Heizspannung von Fig. 3D auf den hohen Pegel geändert.
Weil die Heizspannungen an den Ausgangsanschlüssen 7 und 7n
sich auf die in den Fig. 3C und 3D dargestellte Weise än
dern, werden die auf eine vordere Flanke ansprechende Heiz
einrichtung 16 und die auf eine hintere Flanke ansprechende
Heizeinrichtung 16n auf die in den Fig. 3G bzw. 3H darge
stellte Weise gesteuert.
D. h., die auf eine vordere Flanke ansprechende Heiz
einrichtung 16 wird so gesteuert, daß sie während der Zeit
dauer, in der die vordere Flanke des Eingangsimpulses PI
durch die CMOS-Schaltung 11 übertragen wird, auf den ausge
schalteten Zustand eingestellt ist. Ähnlicherweise wird die
auf eine hintere Flanke ansprechende Heizeinrichtung 16n so
gesteuert, daß sie während der Zeitdauer, in der die hintere
Flanke des Eingangsimpulses PI durch die CMOS-Schaltung 11
übertragen wird, auf den ausgeschalteten Zustand eingestellt
ist. Wie in den Fig. 3G und 3H verdeutlicht ist, sind
beide Heizeinrichtungen 16 und 16n während des Überlappungs
zeitabschnitts auf den ausgeschalteten Zustand eingestellt.
Fig. 3I zeigt den Gesamtstrom, d. h. den Leistungsverbrauch,
der CMOS-Schaltung 11 und der auf eine vordere Flanke und
auf eine hintere Flanke ansprechenden Heizeinrichtungen 16
und 16n.
Wie in Fig. 3I dargestellt, ist der Gesamtstrom erfin
dungsgemäß permanent im wesentlichen konstant und hat den
Wert 2i, wobei i der für die vordere oder für die hintere
Flanke des Eingangsimpulses in der CMOS-Schaltung 11 flie
ßende Strom ist. Wie vorstehend erwähnt, fließt in jeder der
Heizeinrichtungen 16 und 16n der Strom i, wenn sie auf den
eingeschalteten Zustand eingestellt ist. Erfindungsgemäß
wird, wie in Fig. 3I dargestellt, der Gesamtstrom, d. h. die
Summe aus dem in der CMOS-Schaltung 11 fließenden Strom, dem
in der auf eine vordere Flanke ansprechenden Heizeinrichtung
16 fließenden Strom und dem in der auf eine hintere Flanke
ansprechenden Heizeinrichtung 16n fließenden Strom, perma
nent auf dem Wert 2i gehalten.
Weil die Heizeinrichtungen 16 und 16n in unmittelbarer
Nähe der CMOS-Schaltung 11 angeordnet sind und der Ge
samtstrom (Leistungsverbrauch) konstant ist, wird auch die
Temperatur der CMOS-Schaltung 11 auf einen konstanten Wert
gesteuert. Außerdem wird, weil der Strom konstant ist, die
Versorgungsspannung der CMOS-Komponenten stabilisiert. Dar
über hinaus ist die Operation der Heizeinrichtungen mit dem
Eingangsimpuls synchronisiert, so daß in den Versorgungs
spannungen zu den CMOS-Komponenten keine Schwankungen auf
treten. Dadurch bleibt die Signalverzögerungszeit Td in der
CMOS-Schaltung 11 unabhängig von Frequenzänderungen des Ein
gangsimpulssignals konstant.
Nachstehend wird eine andere Ausführungsform der vor
liegenden Erfindung unter Bezug auf Fig. 11 beschrieben.
Das Beispiel von Fig. 11 weist eine Heizeinrichtungssteue
rungsschaltung 140 mit einer bezüglich der Konfiguration der
Heizeinrichtungssteuerungsschaltung 14 von Fig. 1 verschie
denen Konfiguration auf. Die Heizeinrichtungssteuerungs
schaltung 140 weist ein Flipflop 151, ein Flipflop 152 und
Auswahlschaltungen 153 und 154 auf. Das Flipflop 151 dient
zum Erfassen der Zeitdauer, die für den Durchgang der vorde
ren Flanke des Eingangsimpulses PI durch die CMOS-Schaltung
11 erforderlich ist. Das Flipflop 152 dient zum Erfassen der
Zeitdauer, die für den Durchgang der hinteren Flanke des
Eingangsimpulses PI durch die CMOS-Schaltung 11 erforderlich
ist.
Während des Betriebs wird die Heizeinrichtungssteue
rungsschaltung 140 durch ein einem Rücksetzanschluß RST zu
geführtes Rücksetzsignal auf einen Anfangszustand gesetzt.
Im Anfangszustand erzeugt der Ausgangsanschluß 7 der Heiz
einrichtungssteuerungsschaltung 140, wenn der CMOS-Schaltung
11 kein Eingangsimpuls zugeführt wird, eine Spannung mit ho
hem Pegel, wodurch die auf eine vordere Flanke ansprechende
Heizeinrichtung 16 auf den eingeschalteten Zustand einge
stellt wird. Ähnlicherweise erzeugt der Ausgangsanschluß 7n
der Heizeinrichtungssteuerungsschaltung 140, weil kein Aus
gangsimpuls von der CMOS-Schaltung 11 ausgegeben wird, eine
Spannung mit hohem Pegel, wodurch die auf eine hintere Flan
ke ansprechende Heizeinrichtung 16n auf den eingeschalteten
Zustand eingestellt wird.
Daher sind in diesem Fall beide Heizeinrichtungen 16
und 16n auf den eingeschalteten Zustand eingestellt, so daß
darin vorgegebene Ströme fließen und Wärme erzeugt wird. Je
de der Heizeinrichtungen 16 und 16n ist so angeordnet, daß
darin für jede Flanke des Eingangsimpulssignals ein Strom i
fließt, der dem in der CMOS-Schaltung fließenden Strom
gleich ist. Daher fließt, wenn der CMOS-Schaltung 11 kein
Impulssignal zugeführt wird, in den Heizeinrichtungen 16 und
16n ein Gesamtstrom 2i.
Wenn dem Eingangsanschluß 3 der CMOS-Schaltung 11 der
Eingangsimpuls PI zugeführt wird, wird durch die ansteigende
Flanke des Eingangsimpulses PI der Zustand des SR-Flipflops
151 geändert. Durch die Spannungsänderung des Flipflops 151
wird die Spannung des Ausgangsanschlusses 7 durch die Tor
schaltung 153 auf einen niedrigen Pegel geändert. Daher wird
die auf eine vordere Flanke ansprechende Heizeinrichtung 16
auf den ausgeschalteten Zustand eingestellt, so daß darin
kein Strom fließt. Ähnlicherweise wird durch die hintere
Flanke des Eingangsimpulses PI der Zustand des Flipflops 152
geändert, wodurch die Spannung des Ausgangsanschlusses 7n
durch die Torschaltung 154 auf den niedrigen Pegel geschal
tet wird. Dadurch wird die auf eine hintere Flanke anspre
chende Heizeinrichtung 16 auf den ausgeschalteten Zustand
eingestellt, in dem sie keine Wärme erzeugt.
Der Eingangsimpuls PI durchläuft die CMOS-Schaltung 11
mit der Signalverzögerungszeit Td, und am Ausgangsanschluß 4
wird ein Ausgangssignal PO erzeugt. Durch die vordere Flanke
des Ausgangsimpulses PO ändert das Flipflop 151 seinen Zu
stand, wodurch sich auch die Heizspannung am Anschluß 7 auf
einen hohen Pegel ändert. Ähnlicherweise ändert sich durch
die hintere Flanke des Ausgangsimpulses PO der Zustand des
Flipflops 152, wodurch sich auch die Heizspannung am An
schluß 7n auf einen hohen Zustand ändert. Wie vorstehend er
wähnt, fließt in jeder Heizeinrichtung 16 im eingeschalteten
Zustand für die vordere oder die hintere Flanke des Impuls
signals ein Strom i, der dem in der CMOS-Schaltung 11 flie
ßenden Strom gleich ist.
Daher ist die auf eine vordere Flanke ansprechende
Heizeinrichtung 16 während der Zeitdauer, in der die vordere
Flanke des Eingangsimpulses PI die CMOS-Schaltung 11 durch
läuft, auf den ausgeschalteten Zustand eingestellt. Die auf
eine hintere Flanke ansprechende Heizeinrichtung 16n ist
während der Zeitdauer, in der die hintere Flanke des Ein
gangsimpulses PI die CMOS-Schaltung 11 durchläuft, auf den
ausgeschalteten Zustand eingestellt. Daher wird der Ge
samtstrom (Leistungsverbrauch), d. h. die Summe aus den Strö
men, die in der CMOS-Schaltung 11, in der auf eine vordere
Flanke ansprechenden Heizeinrichtung 16 und in der auf eine
hintere Flanke ansprechenden Heizeinrichtung 16n fließen,
konstant auf dem Wert 2i gehalten.
Weil die Heizeinrichtungen 16 und 16n in unmittelbarer
Nähe der CMOS-Schaltung 11 angeordnet sind und der Ge
samtstrom (Leistungsverbrauch) konstant ist, wird die Tempe
ratur der CMOS-Schaltung 11 ebenfalls auf einen konstanten
Wert gesteuert. Außerdem wird, weil der Strom konstant ist,
die Versorgungsspannung zu den CMOS-Komponenten stabili
siert. Dadurch bleibt die Signalverzögerungszeit Td in der
CMOS-Schaltung 11 unabhängig von Frequenzänderungen des Ein
gangsimpulssignals konstant.
Außerdem kann sowohl die auf eine vordere Flanke an
sprechende Heizeinrichtung 16 als auch die auf eine hintere
Flanke ansprechende Heizeinrichtung 16n so kleinformatig
sein wie eine beispielsweise in Fig. 2A dargestellte CMOS-
Komponente, so daß eine sehr kleine Schaltungsgröße erhalten
wird. Dies ist der Fall, weil der in der CMOS-Schaltung 11
fließende Strom i einem Strom entspricht, der für die vorde
re oder für die hintere Flanke des Eingangsimpulses in einer
der in Serie geschalteten CMOS-Schaltungskomponenten fließt.
Außerdem stehen die Kompensationsströme in den Heizeinrich
tungen 16 und 16n in einer festen zeitlichen Beziehung mit
dem die CMOS-Schaltung 11 durchlaufenden Eingangsimpuls,
d. h. sie sind bezüglich des Eingangsimpulses nicht asyn
chron. Daher schwanken, anders als im in den Fig. 9 und
10 dargestellten herkömmlichen Beispiel, die Spannungsabfäl
le in den Versorgungsspannungen der CMOS-Komponenten nicht.
In den vorstehenden Beispielen wird vorausgesetzt, daß
die Signalverzögerungszeit Td in der CMOS-Schaltung 11 klei
ner ist als eine Periode des Eingangsimpulses. Wenn die Ein
gangsimpulsfrequenz hoch ist oder die Signalverzögerungszeit
in der CMOS-Schaltung 11 groß ist, tritt jedoch ein Fall
auf, in dem die Periode des Eingangsimpulses kürzer ist als
die Signalverzögerungszeit.
Fig. 15A bis 15C zeigen verschiedene solche Fälle
und die dabei vorliegenden Beziehungen zwischen einer zu
kompensierenden Signalverzögerungszeit der CMOS-Schaltung
und einer Periode des der CMOS-Schaltung zugeführten Ein
gangsimpulses. Das Beispiel von Fig. 15A zeigt einen Fall,
bei dem eine Signalverzögerungszeit TD1 kleiner ist als eine
Periode TR des Eingangsimpulses. Durch die vorstehenden, in
den Fig. 1 und 11 dargestellten Ausführungsformen der
vorliegenden Erfindung kann der gesamte Leistungsverbrauch
für die in Fig. 15A dargestellte Beziehung geeignet gesteu
ert werden. Wenn Signalverzögerungszeiten TD2 oder TD3 größer
sind als die Periode TR des Eingangsimpulses, wie beispiels
weise in Fig. 15B oder 15C dargestellt, sind die vorstehend
beschriebenen Ausführungsformen jedoch nicht ausreichend, um
einen konstanten Strom oder Leistungsverbrauch aufrechtzuer
halten.
Fig. 12-14 zeigen eine weitere Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung, wobei ein Gesamtstrom auf einen kon
stanten Wert gesteuert wird, wenn die Signalverzögerungszeit
der CMOS-Schaltung länger ist als die Periode des Ein
gangsimpulses, wie beispielsweise in Fig. 15B und 15C dar
gestellt. Das Beispiel der Fig. 12-14 ist so gestaltet,
daß der konstante Leistungsverbrauch aufrechterhalten wird,
wenn die Signalverzögerungszeit Td länger ist als zwei Peri
oden (jedoch kürzer als drei Perioden) des Eingangsimpuls
signals. Diese Zeitbeziehung ist in Fig. 15C dargestellt,
wobei drei vordere Flanken des Eingangsimpulses gleichzeitig
durch die CMOS-Schaltung übertragen werden.
Im Fall von Fig. 15C kann der Strom in der CMOS-
Schaltung 11 vier Werte aufweisen: 0, i, 2i und 3i. Die
Fig. 12 und 13 zeigen ein Beispiel einer Schaltungskonfigu
ration, durch die der konstante Strom 3i als Summe der in
der CMOS-Schaltung 11 und in Heizeinrichtungen L1, L2, T1
und T2 fließenden Ströme aufrechterhalten wird. In Fig. 12
sind die auf eine vordere Flanke ansprechenden Heizeinrich
tungen L1 und L2 und die auf eine hintere Flanke ansprechen
den Heizeinrichtungen T1 und T2 in unmittelbarer Nähe der
CMOS-Schaltung 11 angeordnet, deren Signalverzögerungszeit
Td kompensiert werden soll. Jede der auf eine vordere Flanke
ansprechenden Heizeinrichtungen L1 und L2 und der auf eine
hintere Flanke ansprechenden Heizeinrichtungen T1 und T2 ist
so konstruiert, daß darin ein Strom i fließt, der den glei
chen Wert hat wie der in Antwort auf eine der Flanken des
Eingangsimpulses in der CMOS-Schaltung 11 fließende Strom.
Die Eingangs- und Ausgangsanschlüsse der CMOS-Schaltung 11
sind außerdem mit Zählern 201-204 verbunden. Das Ausgangs
signal der Zähler 201-204 wird einer Torschaltung 300 von
Fig. 13 zugeführt, die an Anschlüssen L1, L2, T1 und T2
Treiberspannungen für die Heizeinrichtungen bereitstellt.
Im Beispiel von Fig. 12 ist der Zähler 201 ein 2-Bit-
Zähler, der die Anzahl vorderer Flanken des der CMOS-
Schaltung 11 zugeführten Eingangsimpulses PI zählt. Der Zäh
ler 202 ist ein 2-Bit-Zähler, der die Anzahl vorderer Flan
ken des von der CMOS-Schaltung 11 erhaltenen Ausgangsimpul
ses PO zählt. Der Zähler 203 ist ein 2-Bit-Zähler, der die
Anzahl hinterer Flanken des der CMOS-Schaltung 11 zugeführ
ten Eingangsimpulses PI zählt. Der Zähler 204 ist ein 2-Bit-
Zähler, der die Anzahl hinterer Flanken des von der CMOS-
Schaltung 11 erhaltenen Ausgangsimpulses PO zählt.
Basierend auf den Zählwerten der Zähler 201-204 wer
den geeignete Heizeinrichtungen ausgewählt und auf den aus
geschalteten Zustand eingestellt. Beispielsweise ist gemäß
der Differenz zwischen der Anzahl vorderer Flanken des Ein
gangsimpulses PI und des Ausgangsimpulses PO die Anzahl vor
derer Flanken bekannt, die gegenwärtig durch die CMOS-
Schaltung 11 übertragen werden. Ähnlicherweise ist durch die
Differenz zwischen der Anzahl hinterer Flanken des Ein
gangsimpulses PI und des Ausgangsimpulses PO die Anzahl hin
terer Flanken bekannt, die gegenwärtig durch die CMOS-
Schaltung 11 übertragen werden. In Abhängigkeit von der auf
diese Weise gezählten Anzahl der in der CMOS-Schaltung 11
übertragenen Flanken, werden die entsprechenden Heizeinrich
tungen ausgewählt und durch die Ausgangspannungen der Tor
schaltung 300 ausgeschaltet.
Fig. 14 zeigt eine Wahrheitstabelle zum Darstellen der
Zählwerte und der Ein/Aus-Steuerlogik für die auf eine vor
dere bzw. auf eine hintere Flanke ansprechenden Heizeinrich
tungen L1, L2, T1 und T2. Die Torschaltung 300 von Fig. 13
dient zum Aktualisieren der Logik in der Wahrheitstabelle
von Fig. 14 durch die Hardwareschaltung. In der Wahrheitstabelle
von Fig. 14 bezeichnen "VD IN" den Zählwert der
vorderen Flanken am Eingangsanschluß 3, und "VD OUT" den
Zählwert der vorderen Flanken am Ausgangsanschluß 4. "CNT"
bezeichnet Differenzen des Zählwertes, und "Heizeinrich
tungssteuerung" bezeichnet die Ein/Aus-Steuerlogik für die
auf eine vordere und die auf eine hintere Flanke ansprechen
den Heizeinrichtungen L1, L2, T1 und T2.
Im vorstehenden Beispiel der Fig. 12-14 ist der
Strom in jeder der Heizeinrichtungen L1, L2, T1 und T2 auf
den Wert i festgelegt, in den Heizeinrichtungen kann jedoch
auch ein anderer Stromwert festgelegt werden. Obwohl im Bei
spiel von Fig. 12 vier Heizeinrichtungen vorgesehen sind,
kann die Anzahl von Heizeinrichtungen in Abhängigkeit von
der tatsächlichen Form des Eingangssignals bzw. der Struktur
der CMOS-Schaltung reduziert werden. Wenn beispielsweise die
Überlappungsperiode, in der in der CMOS-Schaltung der Strom
3i fließt, sehr kurz ist, sind in der Praxis möglicherweise
zwei Heizeinrichtungen ausreichend, um anstelle eines Ge
samtstroms 3i einen Gesamtstrom 2i aufrechtzuerhalten.
Erfindungsgemäß wird, weil die auf eine vordere und auf
eine hintere Flanke ansprechenden Heizeinrichtungen in un
mittelbarer Nähe der CMOS-Schaltung angeordnet sind und der
Gesamtstrom (Leistungsverbrauch) konstant ist, die Tempera
tur der CMOS-Schaltung ebenfalls auf einen konstanten Wert
gesteuert. Außerdem wird, weil der Strom konstant ist, die
Versorgungsspannung der CMOS-Komponenten ebenfalls stabili
siert. Dadurch bleibt die Signalverzögerungszeit Td in der
CMOS-Schaltung 11 unabhängig von Frequenzänderungen des Ein
gangsimpulssignals konstant.
Außerdem nimmt die Schaltungsgröße nicht wesentlich zu,
weil jede der auf eine vordere bzw. auf eine hintere Flanke
ansprechenden Heizeinrichtungen sehr klein ist. Außerdem
stehen die Kompensationsströme in den auf eine vordere bzw.
auf eine hintere Flanke ansprechenden Heizeinrichtungen in
fester zeitlicher Beziehung mit dem die CMOS-Schaltung 11
durchlaufenden Eingangsimpuls. Daher werden durch den in den
Heizeinrichtungen fließenden Strom keine Schwankungen in den
Versorgungsspannungen der CMOS-Komponenten verursacht.
Claims (6)
1. Leistungsverbrauchssteuerungsschaltung für eine CMOS-
Schaltung zum Steuern der Temperatur der CMOS-Schaltung
für eine variierende Impulsrate eines zwischen einem
Eingangsanschluß und einem Ausgangsanschluß der CMOS-
Schaltung übertragenen Impulssignals auf einen konstan
ten Wert, mit:
einer in unmittelbarer Nähe der CMOS-Schaltung an geordneten, auf eine vordere Flanke ansprechenden Heiz einrichtung, die im eingeschalteten Zustand durch einen darin fließenden Strom i Wärme erzeugt;
einer in unmittelbarer Nähe der CMOS-Schaltung an geordneten, auf eine hintere Flanke ansprechenden Heiz einrichtung, die im eingeschalteten Zustand durch einen darin fließenden Strom i Wärme erzeugt;
einer Heizeinrichtungssteuerungsschaltung zum Er fassen einer vorderen Flankenperiode zwischen einer vorderen Flanke eines dem Eingangsanschluß zugeführten Eingangsimpulses und einer vorderen Flanke eines vom Ausgangsanschluß ausgegebenen Ausgangsimpulses und zum Ausschalten der auf eine vordere Flanke ansprechenden Heizeinrichtung während dieser vorderen Flankenperiode und zum Erfassen einer hinteren Flankenperiode zwischen einer hinteren Flanke des dem Eingangsanschluß zuge führten Eingangsimpulses und einer hinteren Flanke des vom Ausgangsanschluß ausgegebenen Ausgangsimpulses und zum Ausschalten der auf eine hintere Flanke ansprechen den Heizeinrichtung während dieser hinteren Flankenpe riode;
wobei durch die vordere Flanke und durch die hin tere Flanke des Eingangsimpulses ein Strom i in der CMOS-Schaltung erzeugt wird.
einer in unmittelbarer Nähe der CMOS-Schaltung an geordneten, auf eine vordere Flanke ansprechenden Heiz einrichtung, die im eingeschalteten Zustand durch einen darin fließenden Strom i Wärme erzeugt;
einer in unmittelbarer Nähe der CMOS-Schaltung an geordneten, auf eine hintere Flanke ansprechenden Heiz einrichtung, die im eingeschalteten Zustand durch einen darin fließenden Strom i Wärme erzeugt;
einer Heizeinrichtungssteuerungsschaltung zum Er fassen einer vorderen Flankenperiode zwischen einer vorderen Flanke eines dem Eingangsanschluß zugeführten Eingangsimpulses und einer vorderen Flanke eines vom Ausgangsanschluß ausgegebenen Ausgangsimpulses und zum Ausschalten der auf eine vordere Flanke ansprechenden Heizeinrichtung während dieser vorderen Flankenperiode und zum Erfassen einer hinteren Flankenperiode zwischen einer hinteren Flanke des dem Eingangsanschluß zuge führten Eingangsimpulses und einer hinteren Flanke des vom Ausgangsanschluß ausgegebenen Ausgangsimpulses und zum Ausschalten der auf eine hintere Flanke ansprechen den Heizeinrichtung während dieser hinteren Flankenpe riode;
wobei durch die vordere Flanke und durch die hin tere Flanke des Eingangsimpulses ein Strom i in der CMOS-Schaltung erzeugt wird.
2. Schaltung nach Anspruch 1, wobei die Heizeinrichtungs
steuerungsschaltung eine Flipflop-Schaltung aufweist,
die ein Signal erzeugt, um die auf eine vordere Flanke
ansprechende Heizeinrichtung während eines Zeitab
schnitts zu deaktivieren, in dem die vordere Flanke des
Eingangsimpulses die CMOS-Schaltung durchläuft, und ei
ne Logikschaltung, die ein Signal erzeugt, um die auf
eine hintere Flanke ansprechende Heizeinrichtung wäh
rend eines Zeitabschnitts zu deaktivieren, in der die
hintere Flanke des Eingangsimpulses die CMOS-Schaltung
durchläuft.
3. Schaltung nach Anspruch 1 oder 2, wobei die auf eine
vordere Flanke ansprechende Heizeinrichtung und die auf
eine hintere Flanke ansprechende Heizeinrichtung aus
CMOS-Transistoren bestehen.
4. Schaltung nach Anspruch 1, wobei die Heizeinrichtungs
steuerungsschaltung aufweist:
ein erstes Flipflop zum Erfassen der vorderen Flankenperiode zwischen der vorderen Flanke des dem Eingangsanschluß zugeführten Eingangsimpulses und der vorderen Flanke des vom Ausgangsanschluß erhaltenen Ausgangsimpulses;
eine mit dem ersten Flipflop verbundene erste Tor schaltung zum Übertragen eines ersten Heizeinrichtungs steuersignals, um die auf eine vordere Flanke anspre chende Heizeinrichtung während der vorderen Flankenpe riode zu deaktivieren;
ein zweites Flipflop zum Erfassen der hinteren Flankenperiode zwischen der hinteren Flanke des dem Eingangsanschluß zugeführten Eingangsimpulses und der hinteren Flanke des vom Ausgangsanschluß erhaltenen Ausgangsimpulses; und
eine mit dem zweiten Flipflop verbundene zweite Torschaltung zum Übertragen eines zweiten Heizeinrich tungssteuersignals, um die auf eine hintere Flanke an sprechende Heizeinrichtung während der hinteren Flan kenperiode zu deaktivieren.
ein erstes Flipflop zum Erfassen der vorderen Flankenperiode zwischen der vorderen Flanke des dem Eingangsanschluß zugeführten Eingangsimpulses und der vorderen Flanke des vom Ausgangsanschluß erhaltenen Ausgangsimpulses;
eine mit dem ersten Flipflop verbundene erste Tor schaltung zum Übertragen eines ersten Heizeinrichtungs steuersignals, um die auf eine vordere Flanke anspre chende Heizeinrichtung während der vorderen Flankenpe riode zu deaktivieren;
ein zweites Flipflop zum Erfassen der hinteren Flankenperiode zwischen der hinteren Flanke des dem Eingangsanschluß zugeführten Eingangsimpulses und der hinteren Flanke des vom Ausgangsanschluß erhaltenen Ausgangsimpulses; und
eine mit dem zweiten Flipflop verbundene zweite Torschaltung zum Übertragen eines zweiten Heizeinrich tungssteuersignals, um die auf eine hintere Flanke an sprechende Heizeinrichtung während der hinteren Flan kenperiode zu deaktivieren.
5. Leistungsverbrauchssteuerungsschaltung für eine CMOS-
Schaltung zum Steuern der Temperatur der CMOS-Schaltung
für variierende Impulsraten eines zwischen einem Ein
gangsanschluß und einem Ausgangsanschluß der CMOS-
Schaltung übertragenen Impulssignals auf einen konstan
ten Wert; mit:
mehreren in unmittelbarer Nähe der CMOS-Schaltung angeordneten, auf eine vordere Flanke ansprechenden Heizeinrichtungen, wobei jede der auf eine vordere Flanke ansprechenden Heizeinrichtungen im eingeschalte ten Zustand durch einen darin fließenden Strom i Wärme erzeugt;
mehreren in unmittelbarer Nähe der CMOS-Schaltung angeordneten, auf eine hintere Flanke ansprechenden Heizeinrichtungen, wobei jede der auf eine hintere Flanke ansprechenden Heizeinrichtungen im eingeschalte ten Zustand durch einen darin fließenden Strom i Wärme erzeugt;
einem ersten Zähler zum Zählen der Anzahl vorderer Flanken eines dem Eingangsanschluß der CMOS-Schaltung zugeführten Eingangsimpulses;
einem zweiten Zähler zum Zählen der Anzahl vorde rer Flanken eines vom Ausgangsanschluß der CMOS- Schaltung erhaltenen Ausgangsimpulses;
einem dritten Zähler zum Zählen der Anzahl hinte rer Flanken des der CMOS-Schaltung zugeführten Ein gangsimpulses;
einem vierten Zähler zum Zählen der Anzahl hinte rer Flanken des von der CMOS-Schaltung ausgegebenen Ausgangsimpulses: und
einer Torschaltung zum selektiven Steuern der meh reren auf eine vordere Flanke ansprechenden Heizein richtungen basierend auf einer Differenz zwischen den Zählwerten des ersten und des zweiten Zählers und zum selektiven Steuern der mehreren auf eine hintere Flanke ansprechenden Heizeinrichtungen basierend auf einer Differenz zwischen den Zählwerten des dritten und des vierten Zählers;
wobei durch jede der vorderen Flanken und der hin teren Flanken des Eingangsimpulses ein Strom i in der CMOS-Schaltung erzeugt wird.
mehreren in unmittelbarer Nähe der CMOS-Schaltung angeordneten, auf eine vordere Flanke ansprechenden Heizeinrichtungen, wobei jede der auf eine vordere Flanke ansprechenden Heizeinrichtungen im eingeschalte ten Zustand durch einen darin fließenden Strom i Wärme erzeugt;
mehreren in unmittelbarer Nähe der CMOS-Schaltung angeordneten, auf eine hintere Flanke ansprechenden Heizeinrichtungen, wobei jede der auf eine hintere Flanke ansprechenden Heizeinrichtungen im eingeschalte ten Zustand durch einen darin fließenden Strom i Wärme erzeugt;
einem ersten Zähler zum Zählen der Anzahl vorderer Flanken eines dem Eingangsanschluß der CMOS-Schaltung zugeführten Eingangsimpulses;
einem zweiten Zähler zum Zählen der Anzahl vorde rer Flanken eines vom Ausgangsanschluß der CMOS- Schaltung erhaltenen Ausgangsimpulses;
einem dritten Zähler zum Zählen der Anzahl hinte rer Flanken des der CMOS-Schaltung zugeführten Ein gangsimpulses;
einem vierten Zähler zum Zählen der Anzahl hinte rer Flanken des von der CMOS-Schaltung ausgegebenen Ausgangsimpulses: und
einer Torschaltung zum selektiven Steuern der meh reren auf eine vordere Flanke ansprechenden Heizein richtungen basierend auf einer Differenz zwischen den Zählwerten des ersten und des zweiten Zählers und zum selektiven Steuern der mehreren auf eine hintere Flanke ansprechenden Heizeinrichtungen basierend auf einer Differenz zwischen den Zählwerten des dritten und des vierten Zählers;
wobei durch jede der vorderen Flanken und der hin teren Flanken des Eingangsimpulses ein Strom i in der CMOS-Schaltung erzeugt wird.
6. Schaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, wobei jede
der mehreren auf eine vordere Flanke ansprechenden Hei
zeinrichtungen und jede der mehreren auf eine hintere
Flanke ansprechenden Heizeinrichtungen aus CMOS-
Transistoren besteht.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16674997 | 1997-06-24 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19828176A1 DE19828176A1 (de) | 1999-01-07 |
DE19828176C2 true DE19828176C2 (de) | 2002-11-07 |
Family
ID=15837040
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19828176A Expired - Fee Related DE19828176C2 (de) | 1997-06-24 | 1998-06-24 | Leistungsverbrauchssteuerungsschaltung für CMOS-Schaltung |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6008686A (de) |
KR (1) | KR100297055B1 (de) |
DE (1) | DE19828176C2 (de) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19924343A1 (de) * | 1999-05-27 | 2000-11-23 | Siemens Ag | Programmgesteuerte Einheit |
DE19963813A1 (de) | 1999-12-30 | 2001-07-19 | Infineon Technologies Ag | Schaltungsanordnung zur Regelung des Leistungsverbrauchs eines integrierten Schaltkreises |
AU2003269496A1 (en) * | 2002-12-20 | 2004-07-14 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Gate driver, motor driving device including the gate driver, and apparatus equipped with the motor driving device |
KR100484278B1 (ko) * | 2003-02-07 | 2005-04-20 | (주)실리콘화일 | 넓은 동작 범위를 갖는 광 화상 수신용 디바이스 |
JP4241459B2 (ja) * | 2004-03-24 | 2009-03-18 | 株式会社デンソー | 物理量センサの電源回路 |
JP4178279B2 (ja) * | 2005-01-11 | 2008-11-12 | 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 | 信号検出方法、消費電力制御方法、信号検出装置及び消費電力制御装置 |
JP2009130715A (ja) * | 2007-11-26 | 2009-06-11 | Toshiba Corp | クロック生成回路 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4980586A (en) * | 1987-10-07 | 1990-12-25 | Tektronix, Inc. | Digital integrated circuit propagation delay regulator |
US5081380A (en) * | 1989-10-16 | 1992-01-14 | Advanced Micro Devices, Inc. | Temperature self-compensated time delay circuits |
US5523711A (en) * | 1993-12-16 | 1996-06-04 | Nec Corporation | Signal delaying outputting circuit |
JPH08330920A (ja) * | 1995-06-02 | 1996-12-13 | Advantest Corp | 熱バランス回路 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5586564A (en) * | 1994-02-04 | 1996-12-24 | Instratek, Inc. | Instrumentation and surgical procedure for decompression for Morton's neuroma |
US5836691A (en) * | 1996-07-17 | 1998-11-17 | Techno Togo Limited Company | Method of thermometry and apparatus for the thermometry |
-
1998
- 1998-06-16 US US09/098,223 patent/US6008686A/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-06-22 KR KR1019980023334A patent/KR100297055B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1998-06-24 DE DE19828176A patent/DE19828176C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4980586A (en) * | 1987-10-07 | 1990-12-25 | Tektronix, Inc. | Digital integrated circuit propagation delay regulator |
US5081380A (en) * | 1989-10-16 | 1992-01-14 | Advanced Micro Devices, Inc. | Temperature self-compensated time delay circuits |
US5523711A (en) * | 1993-12-16 | 1996-06-04 | Nec Corporation | Signal delaying outputting circuit |
JPH08330920A (ja) * | 1995-06-02 | 1996-12-13 | Advantest Corp | 熱バランス回路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100297055B1 (ko) | 2001-08-07 |
DE19828176A1 (de) | 1999-01-07 |
KR19990007190A (ko) | 1999-01-25 |
US6008686A (en) | 1999-12-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE10242886B4 (de) | Interpolationsschaltung, DLL-Schaltung und integrierte Halbleiterschaltung | |
DE4037206C2 (de) | Versorgungsspannungs-Steuerschaltkreis mit der Möglichkeit des testweisen Einbrennens ("burn-in") einer internen Schaltung | |
DE4445311C2 (de) | Zeitsignal-Erzeugungsschaltung | |
EP0591750B1 (de) | Verfahren zur Stromeinstellung eines monolithisch integrierten Padtreibers | |
DE2541131C2 (de) | Schaltungsanordnung zum Konstanthalten der Schaltverzögerung von FET-Inverterstufen in einer integrierten Schaltung | |
DE69833595T2 (de) | Synchrones Verzögerungsschaltkreissystem | |
DE19825986C2 (de) | Takterzeugungsschaltung mit hoher Auflösung der Verzögerungszeit zwischen externem und internem Taktsignal | |
DE4326134B4 (de) | Eingangswechseldetektorschaltung | |
DE3924593A1 (de) | Verzoegerungseinrichtung | |
DE19531962A1 (de) | Taktsignalverteilerschaltung | |
DE19712840A1 (de) | Schnittstellenschaltung und Verfahren zum Übertragen binärer logischer Signale mit reduzierter Verlustleistung | |
DE102008006301A1 (de) | Schaltungsanordnung zum Detektieren von Spannungsänderungen und Verfahren zum Detektieren einer Spannungsänderung | |
DE2625007A1 (de) | Adressenpufferschaltung in einem halbleiterspeicher | |
DE19815878A1 (de) | Verfahren zur Signalübertragung zwischen integrierten Halbleiterschaltungen und Ausgangstreiberschaltung für ein derartiges Verfahren | |
DE69633652T2 (de) | Pegelschieber für kleine Speisespannungen mit geringem Verbrauch | |
DE102004027183B4 (de) | Pegelumwandlungsschaltung, die effizient eine Amplitude eines Signals kleiner Amplitude erhöht | |
DE19934795B4 (de) | Integrationsverfahren und Integrationsschaltung, die ein verbessertes Signal-Rausch-Verhältnis bieten, und spannungsgesteuerter Oszillator und Frequenz-Spannungswandler, der eine Integrationsschaltung verwendet | |
DE4140564A1 (de) | Pulssignalgenerator und zugeordnete kaskodeschaltung | |
DE19828176C2 (de) | Leistungsverbrauchssteuerungsschaltung für CMOS-Schaltung | |
DE10149585C2 (de) | Integrierbare, steuerbare Verzögerungseinrichtung, Verwendung einer Verzögerungseinrichtung sowie Verfahren zum Betrieb einer Verzögerungseinrichtung | |
DE102004009505A1 (de) | Integrierte Halbleiterschaltung mit einfach aufgebauter Temperaturerfassungsschaltung | |
DE10130123B4 (de) | Verzögerungsregelkreis zur Erzeugung komplementärer Taktsignale | |
DE19738556A1 (de) | PLL-Schaltung | |
DE69735659T2 (de) | Differenzsignal-Generatorschaltung mit einer Schaltung zur Stromspitzenunterdrückung | |
EP0057351B1 (de) | Schaltung zum Angleichen der Signalverzögerungszeiten von miteinander verbundenen Halbleiterschaltungen |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: H03K 3/011 |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |