DE1746232U - Einrichtung zur objektiven ermittlung der lage eines mit teilungsmarkierungen versehenen massstabes. - Google Patents
Einrichtung zur objektiven ermittlung der lage eines mit teilungsmarkierungen versehenen massstabes.Info
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- DE1746232U DE1746232U DE1957A0009845 DEA0009845U DE1746232U DE 1746232 U DE1746232 U DE 1746232U DE 1957A0009845 DE1957A0009845 DE 1957A0009845 DE A0009845 U DEA0009845 U DE A0009845U DE 1746232 U DE1746232 U DE 1746232U
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oder l\mgsBiarkieruj'. ! geB. versehenem Mcstabss Gegenstandder-Neuerung isteineEinri htungsurobjektiven z g dDr r7 e es mS < ; t w*t ! 3,,,, n,,, ^) evs. en der laer-e-Ii. lie2, versehenen Tra3tiC, t : ten ex 5S Pr tS-. & q, 7, ßs', Jw es ; r 33o ; zE ;. Qll t. 7n, ; g hew be- sta. besm, insbesondege sur Bestimmung der Lage von Teiluns- Um die durch stib ; jektive stimmte vorgegebene Lage.. Um die durch subjektive UnsuläRglichkeiten bedingten fehler bei der Ablesung eines Maßstabes mit Hilfe enes Ablesemikros- kops su vermeiden sind in der Vergangenheit bereits Versuche unternommen worden ;, um die Lage des MaBsta-bes unabhängig von den Ermüdungserscheinungen des Beobachters objektiv su bestim- men. Zur Erstellung der dsu notwendigen Einrichtungen sind swei grundsätzliche verschiedene Wege beschritten orden Zu- nächst sind Mittel vorgeschlagen orden die eine ziffernmäßi- ge Anzeige durch einfaches Abzählen von Teilungsmarieragen her, gestatten wobei sich jedoch herausstel te, daß die notwendige Interpolation swi'sohen zei aneinandergrens&Rden Teilungsmar- kierungen praktisch nicht mit vertretbarem Aufwand durchführ- bar :st. Andererseits Tvurdon Vorschläge gemachte deren Ziel es gerade war eine objektive Interpolation zwischen TeiluBgsmar- kierungen nach Art der bekannten Mikrometer auf elektrisches beiherbeizuführen. Hierbei handlts es sieh zumeist um Tor- richtungen bei denen ein optisches Bil des mit Teilumgsmar- m eines h :' ;. : des AbbildugsatxhlerTng periodisch versetseB. den Mit- ein Maß f'Ur Slaichsmaßstr. ben etlageführt ? rd.-. Der I'-otsstrom eines hinter jenen Terglaichsmaßstäbes abgeordneten lichtempfindli- chen Ele. entes K., B< einer Fotoselle ; ar'dann ein Maß für X e. tt e. s., c} FJ c i e-, cZ ; rar eS S tia. 3$4 r ese rom onj en fçeniSigeni as ch - Gemäß der Neuerung wird eine Einrichtung zur objektiven Ermittlung der Lage eines mit Teilungsmarkierungen versehenen Maßstabes, insbesondere zur Bestimmung der Lage von Teilungsmarkierungen eines Präzisiensmaßstabes in Bezug auf eine bestimmte vorgegebene Lage, vorgeschlagen, die sich dadurch kennzeichnet, daß ein Ausschnitt des Maßstabes, der vorzugsweise eine Teilungsmarkierung und deren nähere Umgebung umfaßt, auf eine Vergleichseinrichtung derart einwirkte daß aus dem Vergleich von Strahlungsstromen, die Teilen des Maßstabausschnitts zuzuordnen sind, mittelbar oder unmittelbar die Lage des Maßstabes bzw. seiner Teilungsmarkierungen hervorgeht.
- Die Neuerung soll an Hand einer Einrichtung, die es-obgleich der Vorschlag nicht an diese Mittel gebenden ist-auf lichtelektrischem Wege gestattet, die Koinzidenz einer Teilungsmarkierung mit einem Ableseindex objektiv zu kontrollieren, näher erläutert werden. Diesem Ausführungsbeispiel sind gleichzeitig
weitere Merkmale der Neuerung zu entnehmen. zu entnehmen. Es werde unterstellti daß die Aufgabe vorliegt, die Lage einer Fräzisionskreisteilung, z. B<, in einem HoheiMTinkelmeßinstrument objektiv zu bestimmen, und es bezeichnet 1 den von unten her beleuchteten Maßstab, dessen Teilungsmrkierung 2 mit Hilfe - Die Vergleichsvorrichtung 12 besteht aus dem bildaufteilenden Element 13, das sich aus den beiden Glasprismen 13' und 13" zuscnmensetst. Als Bildtrennungskante dient im Element 13 die Begrenzung einer reflektierenden Schicht 14, die auf einer der beiden Prismenflächen aufgebracht ist. Durch 15 und 16 sind zwei lichtempfindliche Elemente, z.B. Fotodioden, gekennzeichnet, die zum Nachweis derjenigen Lichtströme dienen, die den beiden Bildhälften des unter Verwendung von 13 zerlegten Bil-
des dienen. Die Funktion der besagten Einrichtung ist die fol- gende : Zur Ablesung des Maßstabes 1 wird in üblicher Weise vor- gegangen,d<. h<- unter Einschaltung von 11 in den Abbildungsstrah- lengangwird die Teilung 1 im Ablesemikroskop beobachtet und zurInterpolation zvdschen zwei Teilungsmarkierusgen die Mar- kierung 2 mit dem AbleseindeXy den beiden Dcppelstrichen 10y eingefangen. Um subjektiv bedingte durch Ermüdungserscheinung unddurch Vergleich der Fotoströme beider lichtempfindlichen Elemente die Koinzidenz der Teilungsmarkierung mit dem Ablese- index objektiv kontrolliert werden kam, hat es etwa durch Beobachtung eines elektrischen Anzeigeinstrumentes). das di§ Gleichheitbeider Lichtströme anzeigt, in der Hand, die Mikro- metereinstellung zu korrigieren. Es ist ersichtliche daß es auf diesem ege in präsiser \7eise möglich ist, gegebenenfalls bei geeigneter Ausbildung der Tei- lungsmarkierungen jene Fehler auszuschnlten, die auf menschli- ehe BgSkzuführen sindy Darüber hinaus hat Der Vorschlag ist selbstverständlich nicht an das im obigen Aus- führunsbeispiel dargestellte Vorgehen gebunden. Vielmehr läßt beiAbleseeinrichtungen s. B. an geodätischen Winkelmeßinstru- derenengere Umgebung der Vergleichsvorrichtung derart zugeführt daß die Bilder der Teilungamarkierungen die sich in an sich bekannter Weise an einer Bildtrennungskante gegenüberstehen, - Weiterhin ist ersichtliche daß eine dem Vorschlag entsprechende Einrichtung auch über den Anwendungsfall der Koinzidenzkontrolle hinaus zur Bestimmung der Lageabweichung einer Teilungsmarkierung von einer vorgegebenen Lage benutzt werden kann. Bei zweckentsprechender Ausbildung der Einrichtung und der Vergleichs vorrichtung kann man z.B. indem man ein Bild der Teilungsmarkierung auf zwei eng nebeneinanderliegende lichtempfindliche
Elemente ; vorzugsweise zwei Sperrschichtfotozellen,, abbildete objektiv die Abweichung der Max'kieyungslage von der Symmetrie- CD achse der beiden lichtempfindlicheR Elemente bestimmen. In die- sem Fall wären die Fotoströme der lichtempfindlichen Elemente unmittelbar ein Maß für die Lage der Teilungsmarkierungo In Einrichtungent die mit einem bildaufteilenden Element ausge- rüstetsind hat sich-wie bereits an anderer Stelle vorge- schlagen-zum Nachweis der Lichtströme beider Bildhälften die Verwendung lichtempfindlicher Elemente vom Einkristalltyp nach Art der Germanium-Fotodioden als vorteilhaft erwiesen ; l wobei es weiterhin zweckmäßig ist,, zur Vermeidung thermischer Einflüs- se die beiden lichtempfindliches Elemente, etwa durch Einbau in einen einzigen metallischen Körper immer auf gleichem Tempera- turniveau zu. halten. Andererseits kann jedoch auf die Verwen- dung zweier lichtempfindlicher Elemente in bekannter Weise ver- zichtet werden,, indem nur ein einziges benutzt wird auf das abwechselnd der eine und der andere der beiden Lichtstro e ge- leitet wird. : Weiterhin kann daran gedacht werden ? die Lfaßstäbe, die mit Eil- Te der vorgeschlagenen Einrichtung abge3ss<3B. werden so auezu- bilde11 daß die Beleuchtung des Maßstabes mit reflektiertem oderdurchscheinendem Licht vermieden wird indem die ei. lun. gs- markierungen selbstärahlend bzw selbstleuchtesd ausgebildet sind. SchutjEanaprüahe :
Claims (1)
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SchutzansDrH. ohe l)Einrichtung zur objektiven Ermit lung der Lage eines mit Tclusgsmarkierungen versehenen Naßstabes insbesondere der Lage vöD Teilungsiaarkieruagen eines. Präzisionsmaßstabes wie Kr&iatilung oddgl in Bezug auf eine bestimmte vorgegebene Lagedadurch gekennzeichnete daß ein Ausschnitt des Maßsta- bes. der vorzugsweise eine Teilungsmarkierung und deren nähe- reUmgebung umfaßte auf eine Vergleichsvorrichtusg derart einwirkte daß aus dem Vergleich von StrahlungsstrSBena die Teilen des MaßstabausschD-itta zuzuordnen sindg mittelbar oder unmittelbar die Lage des Maßstabes hervorgeht. 2)Einrichtung nach Anspruch 1 ; gekennzeichnet durch eine licht- elektrische Vergleichsvorrichtung zum Vergleich zweier vom Maßstabsaussclnitt ausgehender Lichtströme bei der das Bild des Ausschnittes unter Verwendung eines strahlenteilenden pbysikalischen Elementes in zwei Hälften zerlegt lxnd die von ihnenausgehenden Lichtatröme in an sich bekannter Weise ; z. B. fotoelektrisch verglichen werden 3)Einrichtung nach Anspruch 1 vorzugsweise sur Ermittlung der Abweichung der Lage einer Teilungsmarkierung von einer vorgegebenenLage : dadurch gekennzeichnet, daß das Bild ei- nerTeilungsmarkierung auf eng nebeneinanderliegende licht- empfindliche Elemente,, vorzugsweise Sperrschichifetozellen projiziert wird sodaß aus dem Vergleich der Fotoströme die- ser Elemente die Lage der Teilungsmarkierung in Besug auf die Symmetrieachse der Elemente hervorgeht. 4) Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3 gekennzeichaet durch die Verwendung sur objektiven Kontrolle der Koinzidenz vonTeilungsmarkierungen mit einer Indexlage Ei.Einrichtung nach Anspruch 4 gekennseichB. et durch Kombination einerlichtelektrischen Vergleiehsvorrichtung Eit einem op- tischenMikrometer. 6) Einrichtung nach Anspruch 4 und/oder 5y vorzugsweise zur 6 7E h. MS h f, m&AGer-5 y To wezze zw Kontrolle der Koinzidenz von Teilungsmarkierungen in geodä- tischen WinkelmGßinstruenten odcdgle mit Koinzidenzablesung 7i gegeneinander V9rsetster Ablesestellen). da&rnh ekesioh- . meter. 9, ein schon zu-- Überprüfung der Koinsidenlage mit-Hilfe der Vergleichs Ver- richtung erfolgt. : richttm, g eX'folbt net daß aus dem optischen AbbildungsstrahleRgang des Mikro- meters ein Teillichtstrom unter Verwendung eis. s physikali- schen strahlenteilenden Elementes abgeseigt nd sur Sontr -1- le der Koinzidenz des Bilde ? einer Teilungsmarkierug it dem -.. whlweises Einschalten eines reflektierenden optischen Ele- mentes in den Mikrometerstrahlengang sugeführt wird. bnelteg3 in den X s4ral SLzs-DÇ} zageL s N 4. 8)Einrichtung nach Anspruch 6 dadurch gekennseichnete. daß die Bilder der an einer Bildtrennungskante koinzidierenden Teil-unge- markierungen in gleicher Richtung verschiebbar sind, 9) Einrichtung nach einem der Ansprüche l bis 8 gekennzeichnet durch einen Maßstab mit selbatstrahlenden bzw selbstleuch- tenden Teilungsma ? kierungen geeigneter Formgebungo 10)Einrichtung nach einem der Ansprüche l bis 9 ? dadurch gekens- seichne daß zum Vergleich von LidhtstrSme lichtempfindli- che Elemente vom Einkristalltyp ? vorzussweise Germanium-Foto- diodenVerwendung finden.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE1957A0009845 DE1746232U (de) | 1957-03-22 | 1957-03-22 | Einrichtung zur objektiven ermittlung der lage eines mit teilungsmarkierungen versehenen massstabes. |
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DE1957A0009845 DE1746232U (de) | 1957-03-22 | 1957-03-22 | Einrichtung zur objektiven ermittlung der lage eines mit teilungsmarkierungen versehenen massstabes. |
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Publication Number | Publication Date |
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DE1746232U true DE1746232U (de) | 1957-06-06 |
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ID=32739843
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE1957A0009845 Expired DE1746232U (de) | 1957-03-22 | 1957-03-22 | Einrichtung zur objektiven ermittlung der lage eines mit teilungsmarkierungen versehenen massstabes. |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE1746232U (de) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1197237B (de) * | 1961-07-19 | 1965-07-22 | Zuse K G | Anordnung zum optischen Bestimmen der Lage von Hell-Dunkel-Markierungen aus einer Folge von Markierungen einer Markierungsflaeche |
DE1216554B (de) * | 1960-08-02 | 1966-05-12 | Continental Elektro Ind Ag | Einrichtung zur mikrometrischen Ablesung einer Kreisteilung |
DE1260803B (de) * | 1961-07-05 | 1968-02-08 | Hensoldt & Soehne M | Geraet zum Einstellen und Ablesen des Drehwinkels einer eine Skala tragenden Kreisscheibe |
DE1274361B (de) * | 1961-05-16 | 1968-08-01 | Oerlikon Buehrle Holding A G | Einrichtung zum visuellen und lichtelektrischen Bestimmen der relativen Verschiebungzweier Objekte |
-
1957
- 1957-03-22 DE DE1957A0009845 patent/DE1746232U/de not_active Expired
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1216554B (de) * | 1960-08-02 | 1966-05-12 | Continental Elektro Ind Ag | Einrichtung zur mikrometrischen Ablesung einer Kreisteilung |
DE1274361B (de) * | 1961-05-16 | 1968-08-01 | Oerlikon Buehrle Holding A G | Einrichtung zum visuellen und lichtelektrischen Bestimmen der relativen Verschiebungzweier Objekte |
DE1260803B (de) * | 1961-07-05 | 1968-02-08 | Hensoldt & Soehne M | Geraet zum Einstellen und Ablesen des Drehwinkels einer eine Skala tragenden Kreisscheibe |
DE1197237B (de) * | 1961-07-19 | 1965-07-22 | Zuse K G | Anordnung zum optischen Bestimmen der Lage von Hell-Dunkel-Markierungen aus einer Folge von Markierungen einer Markierungsflaeche |
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