DE112016003690T5 - Band-Chip auf Anschluss unter Verwendung von Pasten-Die-Attach-Material - Google Patents
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Abstract
Gemäß verschiedenen Ausführungsformen werden Systeme und Verfahren zum Einbau einer Halbleitervorrichtung in ein Gehäuse bereitgestellt. Die Offenbarung erörtert ein Halbleiter-Die, das eine obere Seite und eine untere Seite aufweist, das auf einem Anschlussrahmen angeordnet ist. Eine Klebepaste wird dann aufgetragen, um das Halbleiter-Die auf einem Anschlussrahmen anzubringen, sodass die Klebepaste das Die auf einem Abschnitt des Anschlussrahmens fixiert. Die Klebepaste kann direkt zwischen dem Die und dem Anschlussrahmen aufgetragen werden oder kann in Verbindung mit einem Rahmenband aufgetragen werden.
Description
- STAND DER TECHNIK
- Priorität
- Diese Anmeldung ist eine internationale Anmeldung der
US-Anmeldung Nummer 14/970,872 US-Patentanmeldung Nr. 62/204,857 - Stand der Technik
- Auf dem Gebiet der Halbleitergehäuse wird Die-Klebefolie (Die Attach Film, DAF) manchmal verwendet, um ein fertiges Halbleiter-Die auf einem Substrat oder Anschlussrahmen zu fixieren. Während DAFs leicht zu verwenden und aufzutragen sind, können sie gewisse Nachteile aufweisen. DAFs können zum Beispiel nicht nicht hohen Drahtbondtemperaturen widerstehen und sind ferner für Delaminierungsabnormalitäten zwischen der DAF und der Anschlussrahmenschnittstellenschicht anfällig, wodurch Probleme im Endprodukt und/oder zusätzliche Produktionskosten verursacht werden können. Darüber hinaus sind DAFs selbst teuer und ihre Verwendung erhöht die Kosten der Halbleiterproduktion. Demgemäß sind Verbesserungen notwendig, die nicht von den gleichen Produktionsqualitäts- und Anomalitäts- oder Kostenproblemen beeinträchtigt werden.
- Figurenliste
- Die beiliegenden Figuren sind hierin eingeschlossen und bilden einen Teil der Patentschrift der Offenbarung.
-
1 ist eine beispielhafte Auslegung eines Halbleitergehäuses gemäß verschiedenen Ausführungsformen der Offenbarung. -
2 ist eine beispielhafte Querschnittsansicht eines Halbleitergehäuses gemäß verschiedenen Ausführungsformen der Offenbarung. -
3 ist eine beispielhafte Auslegung eines Halbleitergehäuses gemäß verschiedenen Ausführungsformen der Offenbarung. -
4 ist eine beispielhafte Querschnittsansicht eines Halbleitergehäuses gemäß verschiedenen Ausführungsformen der Offenbarung. -
5 ist eine beispielhafte Auslegung eines Halbleitergehäuses gemäß verschiedenen Ausführungsformen der Offenbarung. -
6 ist ein Flussdiagramm, das das Verfahren zum Produzieren eines Halbleitergehäuses gemäß verschiedenen Ausführungsformen der Offenbarung zeigt. - In den Figuren kennzeichnen gleiche Bezugszeichen generell identische oder ähnliche Elemente. Zusätzlich dazu identifiziert/identifizieren die Zahl/die Zahlen ganz links eines Bezugszeichens generell die Zeichnung, in denen das Bezugszeichen zuerst erscheint.
- DETAILLIERTE BESCHREIBUNG
- Es werden hierin Systeme, Verfahren und/oder Kombinationen und Teilkombinationen davon für die Produktion von Halbleitergehäusen unter Verwendung von Klebepaste, um ein Halbleiter-Die an einem Anschlussrahmen zu binden, bereitgestellt.
-
1 ist eine schematische Darstellung eines Halbleitergehäuses100 gemäß verschiedenen Ausführungsformen der Offenbarung. Das Halbleitergehäuse100 umfasst ein Halbleiter-Die102 , das mit der Die-Klebefolie (DAF)106 und einem Rahmenband108 am Anschlussrahmen104 fixiert ist. Der Anschlussrahmen104 kann verwendet werden, um Gehäuseanschlüsse110 mit den passenden Leitern des Halbleiter-Dies102 zu verbinden. Gemäß verschiedenen Ausführungsformen kann die DAF106 beispielsweise während eines vorgeschalteten Wafer-Ebenen-Laminierungsprozesses im Voraus aufgetragen werden.1 veranschaulicht die DAF106 als kleiner als das Die102 . Dies soll der Erläuterung der Figur dienen. In der Praxis kann die DAF106 das gesamte Die102 abdecken; die Ränder der DAF106 können mit dem Die102 koextensiv sein. Während1 mit insgesamt 48 Anschlusspins110 veranschaulicht wird, sollte verstanden werden, dass dies lediglich Erläuterungszwecken dient und dass eine beliebige Anzahl oder ein beliebiges Muster oder eine beliebige Form von Anschlusspins verwendet werden kann und noch im Schutzumfang und Geist dieser Offenbarung liegen kann. - Die in
1 gezeigte DAF106 kann eine Klebeschicht beinhalten, die während eines Vorlaminierungsprozesses auf der Waferunterseite (d. h. Rückseite) angeordnet wird. Der Vorlaminierungsprozess kann, gemäß einigen Ausführungsformen, vor einem Wafersägeprozess stattfinden. Die DAF kann einen Klebstoff aus Harz beinhalten, der auf einer Folie, wie etwa Polyvinylfolie, Polyolefinfolie oder Polyethylenterephthalatfolie (PET-Folie), angeordnet ist. In1 wird die DAF verwendet, um das Die102 an einem Pad eines Anschlussrahmens104 zu fixieren. Auf diese Weise kann die DAF106 verwendet werden, um ein Chip-on-Lead-Gehäuse (COL-Gehäuse)100 zu bilden. -
2 ist eine Querschnittsansicht von Aspekten eines Halbleitergehäuses200 .2 kann zum Beispiel eine Querschnittsansicht eines Halbleitergehäuses100 von1 entlang der Achse von einer der Längen des Bandes108 gemäß verschiedenen Ausführungsformen veranschaulichen. Wie in2 gezeigt, beinhaltet das Halbleitergehäuse200 ein Die202 und einen Anschlussrahmen208 . Das Die202 kann ein Halbleiter-Die sein, das eine Reihe von Logik-Gates und/oder analogen Halbleitervorrichtungen enthält. - Wie in
2 gezeigt, ist das Die202 am Anschlussrahmen208 mit einer DAF204 fixiert, die an der Unterseite des Dies202 und an einer Bandschicht206 fixiert ist. Gemäß verschiedenen Ausführungsformen kann die Bandschicht206 der Rahmenbandschicht108 ähnlich sein, die oben mit Bezug auf1 beschrieben wird. Die DAF204 kann einen Klebstoff aus Harz beinhalten und der auf einer Folie, wie etwa Polyvinylfolie, Polyolefinfolie oder Polyethylenterephthalatfolie (PET-Folie), angeordnet ist. - Während sie in einigen Aspekten effektiv sind, kann die Verwendung von Die-Klebefohlen, wie etwa DAF
204 , während des Prozesses des Einbaus eines Halbleiters in ein Gehäuse problematisch sein. Zum Beispiel kann es bei einigen Fertigungsprozessen wünschenswert sein, eine Hochtemperatur-Drahtbondtemperatur zu verwenden. Viele DAFs haben jedoch eine maximale Temperatur, die geringer als die erforderliche Drahtbondtemperatur ist. Darüber hinaus können DAFs während des Fertigungsprozesses Delaminierung erleiden, selbst wenn Hochtemperaturverfahren verwendet werden. Delaminierung findet statt, wenn während des Fertigungsprozesses Ausgasung stattfindet, wodurch eine Trennung zwischen beispielsweise DAF204 und Band206 verursacht wird. Dies ist für die Integrität der Bindungen zwischen dem Die202 und dem Anschlussrahmen208 problematisch. Darüber hinaus können Probleme während des Wafersägens auftreten. Während des Wafersägens müssen beide Schichten des laminierten Dies (z. B. Die202 ), das sprödes und hartes Material, wie Silizium, ist, und Schichten der DAF, die weich und elastisch ist, durchgesägt werden. Dies kann in DAF(z. B. DAF204 )-Graten resultieren. DAF-Grate sind Überreste oder Haarfäden von DAF-Klebstoff an der Unterseite und den Seiten von gesägten Die-Rändern. Diese Klebstoff DAF-Grate resultieren in verschiedenen Prozess- und mehreren Qualitätsproblemen und -herausforderungen. Die Grate können zum Beispiel verursachen, dass benachbarte Dies „zusammenkleben“, was darin resultieren kann, dass ein benachbartes Die während des Produktionsprozesses zusammen mit einem Ziel-Die aufgegriffen wird. Dieses Problem kann besonders ausgeprägt sein, wenn sehr kleine Dies (z. B. kleiner als 2 mm) bearbeitet werden, die kleine (z. B. 60 µm und kleinere) schmale Sägebahnen zwischen Reihen und Spalten des Dies im gesägten Wafer aufweisen. Dieses Problem kann auch in Die-Rissen, Brechen von Dies oder Splittern von Dies resultieren - speziell bei dünnen und großen (z. B. größer als 8 mm) Dies. Alle diese Probleme resultieren in erhöhten Produktionskosten. Ein besseres Verfahren wäre, die DAF204 mit einem Material zu ersetzen, das nicht den gleichen Nachteilen unterworfen ist, an denen Materialien der DAF204 leiden. -
3 ist eine schematische Darstellung eines Halbleitergehäuses300 gemäß verschiedenen Ausführungsformen der Offenbarung. Das Halbleitergehäuse300 umfasst ein Halbleiter-Die302 , das mit Klebepaste306 und einem Rahmenband308 am Anschlussrahmen304 fixiert ist. Der Anschlussrahmen304 kann einen geeigneten Anschlussrahmen für das Die302 oder ein Nicht-Anschluss-Gehäuse, wie etwa ein Dual-Flat-No-Lead(DFN)-Gehäuse oder Quad-Flat-No-Lead(QFN)-Gehäuse, gemäß verschiedenen Ausführungsformen beinhalten. - In einigen Ausführungsformen wird die Menge der Klebepaste
306 , die zum Verbinden des Dies302 mit dem Band308 verwendet wird, so kontrolliert, dass sie eine maximale Abdeckung des Rahmenbands308 , ohne Überlaufen der Ränder des Rahmenbands308 , bereitstellt. In anderen Ausführungsformen wird die Menge der Klebepaste306 , die verwendet wird, einfach so bestimmt, dass sie das Rahmenband308 nicht überläuft. Das Rahmenband308 kann auch verwendet werden, um in einigen Ausführungsformen ein Die-Attach-Paddel zum Zusammenfügen des Dies302 mit dem Anschlussrahmen304 zu erzeugen. - Während
3 ein Gehäuse300 mit drei Längen von Rahmenband308 veranschaulicht, dient dies einfach, um zu illustrieren, dass mehrere Längen oder Formen von Rahmenband308 verwendet werden können. Gemäß anderen Ausführungsformen können mehr oder weniger Längen oder Formen von Rahmenband308 verwendet werden. Zum Beispiel in einigen Ausführungsformen wird nur eine einzelne Länge und Form von Rahmenband308 eingesetzt. Dies wird unten mit Bezug auf5 ausführlicher erörtert. - Der Anschlussrahmen
304 kann verwendet werden, um Gehäuseanschlüsse310 mit den passenden Leitern des Halbleiter-Dies302 zu verbinden. Während3 mit insgesamt 48 Anschlusspins310 veranschaulicht wird, sollte verstanden werden, dass dies lediglich Erläuterungszwecken dient und dass eine beliebige Anzahl oder ein beliebiges Muster oder eine beliebige Form von Anschlusspins verwendet werden kann und noch im Schutzumfang und Geist dieser Offenbarung liegen kann. - Die in
3 gezeigte Klebepaste306 kann ein passendes Klebepasten- oder flüssiges Klebematerial beinhalten. Zum Beispiel, gemäß einigen Ausführungsformen, beinhaltet die Klebepaste306 einen Klebstoff aus Paste, der abhängig von der spezifischen Anwendung entweder elektrisch isolierend oder elektrisch oder thermisch leitend ist. Zum Beispiel kann eine vollständig polymerbasierte Klebepaste verwendet werden, falls ein elektrisch isolierender Klebstoff306 gewünscht wird. Gleichermaßen kann eine thermische oder thermisch leitende Klebepaste verwendet werden, wenn eine thermisch oder elektrisch leitende Klebepaste306 gewünscht wird. In3 wird die Klebepaste306 verwendet, um das Die302 an einem Pad eines Anschlussrahmens304 zu fixieren. Auf diese Weise kann die Klebepaste verwendet werden, um ein Chip-on-Lead-Gehäuse (COL-Gehäuse)300 zu bilden. -
4 ist eine Querschnittsansicht von Aspekten eines Halbleitergehäuses400 .4 kann zum Beispiel ein Halbleitergehäuse300 von3 mit dem Querschnitt entlang einer Länge des Bands308 veranschaulichen. Wie in4 gezeigt, beinhaltet das Halbleitergehäuse400 ein Die402 und einen Anschlussrahmen408 . Das Die402 kann ein Halbleiter-Die sein, das eine Reihe von Logik-Gates und/oder analogen Halbleitervorrichtungen enthält. Der Anschlussrahmen408 kann ein geeignetes Halbleitergehäusesubstrat, wie etwa ein Anschlussrahmenpad oder dergleichen, beinhalten. - Wie in
4 gezeigt, ist das Die402 am Anschlussrahmen408 mit einer Klebepaste404 fixiert, die an einer Seite des Dies402 und an einer Bandschicht406 fixiert ist. Gemäß verschiedenen Ausführungsformen kann die Bandschicht406 der Rahmenbandschicht308 ähnlich sein, die oben mit Bezug auf3 beschrieben wird. Die Klebepaste404 kann einen Klebstoff aus Harz beinhalten und der auf einer Folie, wie etwa Polyvinylfolie, Polyolefinfolie oder Polyethylenterephthalatfolie (PET-Folie), angeordnet ist. Eine Einkapselung oder Dichtung410 kann angewandt werden, um das Halbleitergehäuse abzudichten, das das Die402 , die Pastenschicht404 , das Band406 und den Anschlussrahmen408 beinhaltet. - Während
3 ein Gehäuse300 mit drei Längen von Rahmenband308 beschreibt veranschaulicht, dient dies einfach, um zu illustrieren, dass mehrere Längen von Rahmenband308 verwendet werden können. Gemäß anderen Ausführungsformen können mehr oder weniger Längen oder Formen von Rahmenband308 verwendet werden. Es können in der Tat vollkommen unterschiedliche Anschlussrahmenformen und -größen in Verbindung mit dem offenbarten Gegenstand verwendet werden.5 veranschaulicht eine solche Alternative. -
5 ist eine schematische Darstellung eines Halbleitergehäuses500 gemäß verschiedenen Ausführungsformen der Offenbarung. Das Halbleitergehäuse500 umfasst ein Halbleiter-Die502 , das mit Klebepaste506 und einem Rahmenband508 am Anschlussrahmen504 fixiert ist. In einigen Ausführungsformen wird die Menge der Klebepaste506 , die zum Verbinden des Dies502 mit dem Band508 verwendet wird, so kontrolliert, dass sie eine maximale Abdeckung des Rahmenbands508 , ohne Überlaufen der Ränder des Rahmenbands508 , bereitstellt. In anderen Ausführungsformen wird die Menge der Klebepaste506 , die verwendet wird, einfach so bestimmt, dass sie das Rahmenband308 nicht überläuft. - In Gegensatz zu
3 veranschaulicht5 ein Gehäuse500 mit nur einer einzelnen Länge von Rahmenband508 . Der Anschlussrahmen504 kann verwendet werden, um Gehäuseanschlüsse510 mit den passenden Leitern des Halbleiter-Dies502 zu verbinden. Während5 mit insgesamt 48 Anschlusspins510 veranschaulicht wird, sollte verstanden werden, dass dies lediglich Erläuterungszwecken dient und dass eine beliebige Anzahl oder ein beliebiges Muster oder eine beliebige Form von Anschlusspins verwendet werden kann und noch im Schutzumfang und Geist dieser Offenbarung liegen kann. - Die in
5 gezeigte Klebepaste506 kann ein passendes Klebepastenmaterial beinhalten. Zum Beispiel, gemäß einigen Ausführungsformen, beinhaltet die Klebepaste506 einen Klebstoff aus Paste, der abhängig von der spezifischen Anwendung entweder elektrisch isolierend oder elektrisch oder thermisch leitend ist. Zum Beispiel kann eine vollständig polymerbasierte Klebepaste verwendet werden, falls ein elektrisch isolierender Klebstoff506 gewünscht wird. Gleichermaßen kann eine thermische oder thermisch leitende Klebepaste verwendet werden, wenn eine thermisch oder elektrisch leitende Klebepaste506 gewünscht wird. In5 wird die Klebepaste506 verwendet, um das Die502 an einem Pad eines Anschlussrahmens504 zu fixieren. Auf diese Weise kann die Klebepaste verwendet werden, um ein COL-Gehäuse500 zu bilden. -
6 ist ein Flussdiagramm, das ein Verfahren600 zum Einbau eines Dies (z. B. Die302 ) in ein Gehäuse gemäß verschiedenen Ausführungsformen der Offenbarung veranschaulicht. Zur Unterstützung der Erläuterung wird das Verfahren600 ebenfalls mit Bezug auf3 beschrieben, es sollte jedoch verstanden werden, dass das Verfahren600 nicht auf die spezifische Ausführungsform beschränkt ist, die in3 veranschaulicht wird. Gemäß Verfahren600 wird ein Die302 passend positioniert, um zu ermöglichen, bei Stufe602 auf diesem Klebepaste306 aufzutragen. - Bei Stufe
604 wird die passende Menge von Klebepaste306 , die auf das Die302 aufgetragen werden soll, bestimmt. Gemäß einigen Ausführungsformen kann es wünschenswert sein, die Menge der Klebepaste306 abhängig von verschiedenen Faktoren zu variieren. Zum Beispiel kann die Art der Klebepaste306 (z. B. polymerbasiert oder silbergefüllt) die Menge und das Muster (Form) der Klebepaste306 beeinflussen, die auf das Die302 aufzutragen ist. Gleichermaßen kann auch die spezifische Geometrie eines Dies302 die erforderliche Menge der Klebepaste306 beeinflussen. In einigen Ausführungsformen kann die Menge der Klebepaste306 , die auf das Die302 aufgetragen werden soll, als eine Menge bestimmt werden, die maximale Abdeckung bereitstellen wird, ohne Überlaufen von beispielsweise den Rändern des Rahmenbands308 . - Bei Stufe
606 wird die bestimmte Menge der Klebepaste306 auf das Die302 aufgetragen. Gemäß einigen Ausführungsformen kann die Klebepaste306 an mehreren Stellen auf dem Die302 aufgetragen werden. Beispielsweise kann die Klebepaste306 an den Punkten auf dem Die302 aufgetragen werden, an denen das Rahmenband308 angeordnet werden soll. In solchen Ausführungsformen kann die Klebepaste306 so aufgetragen werden, dass sie nicht die Ränder des Bands308 überläuft. Es ist, in einigen Ausführungsformen, auch möglich, dass die Klebepaste306 nur an einer einzelnen Stelle aufgetragen wird. - Bei Stufe
608 wird das Die302 unter Verwendung der Klebepaste306 am Anschlussrahmen304 fixiert. Das Die302 kam zum Beispiel am Anschlussrahmenpad fixiert werden. In einigen Ausführungsformen kann das Fixieren des Dies302 am Anschlussrahmen304 das Anordnen eines Rahmenbands308 zwischen der Klebepaste306 und dem Anschlussrahmen304 umfassen. Bei Stufe610 wird die Klebepaste306 ausgehärtet (z. B. durch Anwenden einer jeweiligen Wellenlänge von Licht an der Klebepaste), in Übereinstimmung mit der jeweiligen Art der eingesetzten Klebepaste. Bei Stufe612 kann der Prozess des Einbaus des Dies302 in ein Gehäuse gemäß geeigneten Verfahren ausgeführt werden. - Es ist offensichtlich, dass der Teilabschnitt der detaillierten Beschreibung und nicht die Teilabschnitte der Übersicht und der Zusammenfassung (falls vorhanden) zur Interpretation der Patentansprüche zu verwenden ist. Die Teilabschnitte Übersicht und Zusammenfassung (falls vorhanden) können eine oder mehrere, aber nicht alle beispielhaften Ausführungsformen der Erfindung darlegen, wie von dem/den Erfinder(n) vorgesehen, und es ist somit nicht beabsichtigt, die Erfindung oder die angefügten Ansprüche auf irgendeine Weise zu beschränken.
- Während die Erfindung hierin mit Bezug auf bevorzugte Ausführungsformen für beispielhafte Gebiete und Anwendungen beschrieben worden ist, versteht es sich, dass die Erfindung nicht darauf beschränkt ist. Andere Ausführungsformen und Modifikationen an diesen sind möglich und liegen im Schutzumfang und Geist der Erfindung. Ausführungsformen sind zum Beispiel, und ohne die Allgemeingültigkeit dieses Absatzes zu beschränken, nicht auf Software, Hardware, Firmware und/oder in den Figuren illustrierte und/oder hierin beschriebene Einheiten beschränkt. Weiterhin haben Ausführungsformen (ob hierin ausdrücklich beschrieben oder nicht) einen wesentlichen Nutzen für Gebiete und Anwendungen, die über die hierin beschriebenen Beispiele hinausgehen.
- Ausführungsformen sind hierin mit Hilfe funktionaler Basiskomponenten, die die Implementierung spezifischer Funktionen und Beziehungen davon darstellen, beschrieben worden. Die Grenzen dieser Funktionsblöcke wurden hier für die Zweckmäßigkeit der Beschreibung willkürlich definiert. Es können alternative Grenzen definiert werden, solange die spezifizierten Funktionen und Beziehungen (oder Äquivalente davon) angemessen durchgeführt werden. Alternative Ausführungsformen können auch Funktionsblöcke, Schritte, Vorgänge, Verfahren etc. unter Verwendung von Ordnungen durchführen, die sich von den hierin beschriebenen unterscheiden.
- Bezugnahmen hierin auf „eine einzelne Ausführungsform“, „eine Ausführungsform“, „ein Ausführungsbeispiel“ oder ähnliche Ausdrücke weisen darauf hin, dass die beschriebene Ausführungsform ein bestimmtes Merkmal, eine bestimmte Struktur oder eine bestimmte Charakteristik umfasst, aber nicht jede Ausführungsform umfasst notwendigerweise das bestimmte Merkmal, die bestimmte Struktur oder die bestimmte Charakteristik. Zudem beziehen sich solche Ausdrücke nicht notwendigerweise auf die gleiche Ausführungsform. Des Weiteren versteht sich, dass, wenn in Verbindung mit einer Ausführungsform ein bestimmtes Merkmal, eine bestimmte Struktur oder eine bestimmte Charakteristik beschrieben wird, es im Rahmen des Wissens eines Fachmanns des relevanten Gebiets/der relevanten Gebiete liegen würde, ein derartiges Merkmal, eine derartige Struktur oder eine derartige Charakteristik in anderen Ausführungsformen einzuschließen, ob hierin ausdrücklich erwähnt oder beschriebenoder nicht.
- Die Breite und der Schutzbereich der Erfindung sollten durch die oben beschriebenen beispielhaften Ausführungsformen in keiner Weise beschränkt werden, sondern sollten nur gemäß den folgenden Ansprüchen und ihren Äquivalenten definiert werden.
- ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
- Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
- Zitierte Patentliteratur
-
- US 14970872 [0001]
- US 62204857 [0001]
Claims (20)
- Ein Halbleitergehäuse, das Folgendes beinhaltet: ein Halbleiter-Die, das eine obere Seite und eine untere Seite aufweist; einen Anschlussrahmen, der unter dem Halbleiter-Die angeordnet ist; eine Pastenschicht, die an einem Abschnitt der unteren Seite des Halbleiter-Dies angeordnet ist, sodass die Pastenschicht das Halbleiter-Die an einem Abschnitt des Anschlussrahmens fixiert; und eine Einkapselung, die das Halbleiter-Die, den Anschlussrahmen und die Pastenschicht umschließt.
- Halbleitergehäuse gemäß
Anspruch 1 , wobei die Pastenschicht diskontinuierlich ist, sodass die Pastenschicht Abschnitte des Halbleiter-Dies von der Pastenschicht unbedeckt lässt. - Halbleitergehäuse gemäß
Anspruch 1 , das ferner Folgendes beinhaltet: ein Die-Attach-Paddel, das eine Bandschicht beinhaltet, die zwischen dem Halbleiter-Die und dem Anschlussrahmen angeordnet ist. - Halbleitergehäuse gemäß
Anspruch 3 , wobei die Bandschicht eine Vielzahl von Bandstreifen beinhaltet, die zwischen dem Halbleiter-Die und dem Anschlussrahmen angeordnet sind. - Halbleitergehäuse gemäß
Anspruch 3 , wobei die Pastenschicht zwischen dem Haltbleiter-Die und der Bandschicht angeordnet ist. - Halbleitergehäuse gemäß
Anspruch 5 , wobei die Pastenschicht nur über einem Abschnitt der Bandschicht angeordnet ist. - Halbleitergehäuse gemäß
Anspruch 1 , wobei die Pastenschicht eine nicht leitfähige Paste beinhaltet. - Halbleitergehäuse gemäß
Anspruch 1 , das ferner ein Pad beinhaltet, das zwischen dem Halbleiter-Die und dem Anschlussrahmen angeordnet ist. - Halbleitergehäuse gemäß
Anspruch 8 , wobei mindestens ein Abschnitt der Pastenschicht zwischen dem Halbleiter-Die und dem Pad angeordnet ist. - Halbleitergehäuse gemäß
Anspruch 1 , wobei die Pastenschicht konfiguriert ist, um einer Drahtbondtemperatur ohne Delaminierung zu widerstehen. - Ein Verfahren zum Einbau einer Halbleitervorrichtung in ein Gehäuse, das Folgendes beinhaltet: Bereitstellen eines Halbleiter-Dies, das eine obere Seite und eine untere Seite aufweist; Bereitstellen eines Anschlussrahmens, der unter dem Halbleiter-Die angeordnet ist; Auftragen einer Pastenschicht auf einen Abschnitt der unteren Seite des Halbleiter-Dies; Positionieren des Halbleiter-Dies auf dem Anschlussrahmen unter Verwendung der Pastenschicht; und Aushärten der Pastenschicht, um das Halbleiter-Die mit dem Anschlussrahmen zusammenzufügen.
- Verfahren gemäß
Anspruch 11 , wobei das Auftragen der Pastenschicht das Anordnen der Pastenschicht beinhaltet, sodass sie diskontinuierlich ist und Abschnitte des Halbleiter-Dies von der Pastenschicht unbedeckt lässt. - Verfahren gemäß
Anspruch 11 , das ferner Folgendes beinhaltet: Ausbilden eines Die-Attach-Paddels durch Anordnen einer Bandschicht zwischen dem Halbleiter-Die und dem Anschlussrahmen. - Verfahren gemäß
Anspruch 13 , wobei die Bandschicht eine Vielzahl von Bandstreifen beinhaltet, die zwischen dem Halbleiter-Die und dem Anschlussrahmen angeordnet sind. - Verfahren gemäß
Anspruch 13 , wobei die Pastenschicht zwischen dem Halbleiter-Die und der Bandschicht angeordnet ist. - Verfahren gemäß
Anspruch 15 , wobei die Pastenschicht nur über einem Abschnitt der Bandschicht angeordnet ist. - Verfahren gemäß
Anspruch 11 , wobei die Pastenschicht eine nicht leitfähige Paste beinhaltet. - Verfahren gemäß
Anspruch 11 , das ferner Folgendes beinhaltet: Anordnen eines Pads zwischen dem Halbleiter-Die und dem Anschlussrahmen. - Verfahren gemäß
Anspruch 18 , wobei mindestens ein Abschnitt der Pastenschicht zwischen dem Halbleiter-Die und dem Pad angeordnet ist. - Verfahren gemäß
Anspruch 11 , wobei die Pastenschicht konfiguriert ist, um einer Drahtbondtemperatur ohne Delaminierung zu widerstehen.
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Family Cites Families (42)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2708191B2 (ja) | 1988-09-20 | 1998-02-04 | 株式会社日立製作所 | 半導体装置 |
US5173766A (en) | 1990-06-25 | 1992-12-22 | Lsi Logic Corporation | Semiconductor device package and method of making such a package |
US5177032A (en) * | 1990-10-24 | 1993-01-05 | Micron Technology, Inc. | Method for attaching a semiconductor die to a leadframe using a thermoplastic covered carrier tape |
JP2994510B2 (ja) * | 1992-02-10 | 1999-12-27 | ローム株式会社 | 半導体装置およびその製法 |
SG83154A1 (en) * | 1993-03-29 | 2001-09-18 | Hitachi Chemical Co Ltd | Heat-resistant adhesive |
JP2546195B2 (ja) * | 1994-10-06 | 1996-10-23 | 日本電気株式会社 | 樹脂封止型半導体装置 |
KR0167297B1 (ko) * | 1995-12-18 | 1998-12-15 | 문정환 | 엘.오.씨 패키지 및 그 제조방법 |
JP2928223B2 (ja) | 1997-04-04 | 1999-08-03 | オクシデンタル ケミカル コーポレイション | 集積回路チップのサーキットリーへの結合方法 |
SG93192A1 (en) | 1999-01-28 | 2002-12-17 | United Microelectronics Corp | Face-to-face multi chip package |
US6512286B1 (en) * | 2001-10-09 | 2003-01-28 | Siliconware Precision Industries Co., Ltd. | Semiconductor package with no void in encapsulant and method for fabricating the same |
US8129222B2 (en) | 2002-11-27 | 2012-03-06 | United Test And Assembly Test Center Ltd. | High density chip scale leadframe package and method of manufacturing the package |
TWI249832B (en) * | 2003-11-10 | 2006-02-21 | Siliconware Precision Industries Co Ltd | Lead frame and semiconductor package with the lead frame |
US7880313B2 (en) * | 2004-11-17 | 2011-02-01 | Chippac, Inc. | Semiconductor flip chip package having substantially non-collapsible spacer |
TWI280653B (en) * | 2004-12-01 | 2007-05-01 | Macronix Int Co Ltd | Package |
JP2007129182A (ja) | 2005-05-11 | 2007-05-24 | Toshiba Corp | 半導体装置 |
US7365417B2 (en) * | 2006-01-06 | 2008-04-29 | Stats Chippac Ltd. | Overhang integrated circuit package system |
US7598122B1 (en) * | 2006-03-08 | 2009-10-06 | National Semiconductor Corporation | Die attach method and microarray leadframe structure |
TWI305407B (en) * | 2006-05-22 | 2009-01-11 | Advanced Semiconductor Eng | Package structure and lead frame using the same |
US8022554B2 (en) | 2006-06-15 | 2011-09-20 | Sitime Corporation | Stacked die package for MEMS resonator system |
JP5390064B2 (ja) * | 2006-08-30 | 2014-01-15 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
US7662672B2 (en) | 2006-10-13 | 2010-02-16 | Chipmos Technologies (Bermuda) Ltd. | Manufacturing process of leadframe-based BGA packages |
KR101489325B1 (ko) * | 2007-03-12 | 2015-02-06 | 페어차일드코리아반도체 주식회사 | 플립-칩 방식의 적층형 파워 모듈 및 그 파워 모듈의제조방법 |
MY154596A (en) * | 2007-07-25 | 2015-06-30 | Carsem M Sdn Bhd | Thin plastic leadless package with exposed metal die paddle |
TW200933851A (en) * | 2008-01-30 | 2009-08-01 | Powertech Technology Inc | COL semiconductor package |
US20110278638A1 (en) * | 2008-03-25 | 2011-11-17 | Lin Charles W C | Semiconductor chip assembly with post/dielectric/post heat spreader |
US8525214B2 (en) * | 2008-03-25 | 2013-09-03 | Bridge Semiconductor Corporation | Semiconductor chip assembly with post/base heat spreader with thermal via |
US20110156090A1 (en) * | 2008-03-25 | 2011-06-30 | Lin Charles W C | Semiconductor chip assembly with post/base/post heat spreader and asymmetric posts |
US7821113B2 (en) * | 2008-06-03 | 2010-10-26 | Texas Instruments Incorporated | Leadframe having delamination resistant die pad |
JPWO2010052856A1 (ja) * | 2008-11-06 | 2012-04-05 | パナソニック株式会社 | リード、配線部材、パッケージ部品、樹脂付金属部品及び樹脂封止半導体装置、並びにこれらの製造方法 |
CN102143952A (zh) * | 2008-12-25 | 2011-08-03 | 松下电器产业株式会社 | 引线、配线构件、封装元件、附有树脂的金属元件、树脂密封的半导体器件、及它们的制造方法 |
CN101853790A (zh) | 2009-03-30 | 2010-10-06 | 飞思卡尔半导体公司 | Col封装的新工艺流 |
KR101033044B1 (ko) | 2009-12-30 | 2011-05-09 | 제일모직주식회사 | 반도체용 접착 조성물 및 이를 포함하는 다이 접착 필름 |
US8329509B2 (en) * | 2010-04-01 | 2012-12-11 | Freescale Semiconductor, Inc. | Packaging process to create wettable lead flank during board assembly |
JP5689462B2 (ja) * | 2010-05-12 | 2015-03-25 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置およびその製造方法 |
JP5613463B2 (ja) * | 2010-06-03 | 2014-10-22 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置及びその製造方法 |
US8361899B2 (en) * | 2010-12-16 | 2013-01-29 | Monolithic Power Systems, Inc. | Microelectronic flip chip packages with solder wetting pads and associated methods of manufacturing |
WO2012108469A1 (ja) * | 2011-02-08 | 2012-08-16 | ローム株式会社 | 半導体装置および半導体装置の製造方法 |
US8647966B2 (en) | 2011-06-09 | 2014-02-11 | National Semiconductor Corporation | Method and apparatus for dicing die attach film on a semiconductor wafer |
US8871572B2 (en) * | 2012-12-20 | 2014-10-28 | Intersil Americas LLC | Lead frame having a perimeter recess within periphery of component terminal |
US9012268B2 (en) * | 2013-06-28 | 2015-04-21 | Stmicroelectronics, Inc. | Leadless packages and method of manufacturing same |
US9735112B2 (en) * | 2014-01-10 | 2017-08-15 | Fairchild Semiconductor Corporation | Isolation between semiconductor components |
US9847279B2 (en) * | 2014-08-08 | 2017-12-19 | Chang Wah Technology Co., Ltd. | Composite lead frame structure |
-
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