DE1088619B - Flaechengleichrichter- bzw. Flaechentransistoranordnung und Verfahren und Einrichtung zu ihrer Herstellung - Google Patents

Flaechengleichrichter- bzw. Flaechentransistoranordnung und Verfahren und Einrichtung zu ihrer Herstellung

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DE1088619B
DE1088619B DES53214A DES0053214A DE1088619B DE 1088619 B DE1088619 B DE 1088619B DE S53214 A DES53214 A DE S53214A DE S0053214 A DES0053214 A DE S0053214A DE 1088619 B DE1088619 B DE 1088619B
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Germany
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housing parts
rectifier
semiconductor element
housing
electrode
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DES53214A
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English (en)
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August Meyer
Hans-Juergen Nixdorf
Heinz Vogel
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Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
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Publication date
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Description

  • Flächengleichrichter-bzw. Flächentransistoranordnung und Verfahren und Einrichtung zu ihrer Herstellung Die Erfindung bezieht sich auf eine Verbesserung in dem Aufbau einer Flächengleichrichter- bzw. Flächentransistoranordnung mit einem Halbleiterkörper unter Benutzung von zwei über sich gegenüberliegende Ränder gegenseitig dicht verbundenen Gehäuseteilen in Form von flachen Pfannen bzw. Tellern mit vertieften Teilen, bei dem im Boden mindestens eines der beiden Gehäuseteile eine isolierte Durchführung für einen elektrischen Anschlußleiter vorgesehen ist, welcher zu dem Halbleiterkörper führt, der mindestens von dem dieser isolierten Durchführung gegenüberliegenden Gehäuseteil getragen ist.
  • Bei solchen Anordnungen war es bisher bekannt, für die Anbringung bzw. Befestigung des eigentlichen Halbleiterelementes an einem der dieses einschließenden Gehäuseteile lediglich einen Lötprozeß zu benutzen. Die Erfindung geht von der Erkenntnis aus, daß ein solcher Lötprozeß insbesondere wegen der dabei gegebenenfalls entwickelten Dämpfe zur Entstehung von Mängeln in dem einwandfreien elektrischen Zustand bzw. dem einwandfreien betriebsmäßigen Verhalten der Halbleiteranordnung Anlaß geben kann.
  • Solche Mängel lassen sich jedoch an einer Halbleiteranordnung der eingangs angegebenen Art dadurch ausschließen, daß erfindungsgemäß der Halbleiterkörper auf einer Trägerplatte mittels eines Legierungsprozesses befestigt ist und daß die Trägerplatte an über den Umfang des Halbleiterkörpers heraustretenden Flächenteilen mit dem einen bzw. den beiden Gehäuseteilen verschweißt ist.
  • Die auf diese Weise geschaffenen mechanischen Verbindungsstellen, welche gegebenenfalls zugleich auch elektrische bzw. Wärmeübergangsstellen darstellen, sind gleichzeitig auch gegen betriebsmäßige Beanspruchungen bei höheren Temperaturen widerstandsfähig und sicher, falls solche in Rechnung gestellt werden müssen.
  • Für die Verschweißung der Trägerplatte der Halbleiteranordnung mit dem einen der Gehäuseteile eignet sich z. B. eine elektrische Widerstandsschweißung nach Art einer Punktschweißung. Die über den Umfang des Halbleiterelementes heraustretenden Flächenteile der Trägerplatte werden dann so bemessen, daß solche entsprechenden Flächenteile vorhanden sind, auf welche die eine Elektrode für den Schweißvorgang aufgesetzt werden kann. Infolge der Pfannen- oder Tellerform des Gehäuseteiles, an welchem das Halbleiterelement befestigt wird, läßt sich das Schweißwerkzeug leicht an den bzw. gegenüber den zu verschweißenden Stellen ansetzen.
  • Diese über den Umfang des Halbleiterelementes sich hinaus erstreckenden Teile der Trägerplatte können entweder an dem gesamten Umfang des Halbleiterelementes vorhanden sein, oder sie können sich, nur auf gewisse Teile des Umfanges des Halbleiterelementes beschränken. Halbleiterelement und Trägerplatte können hierbei entweder gleiche geometrische Flächenformen aufweisen oder auch verschiedene. So kann beispielsweise das Flächengleichrichterelement aus Silizium rechteckige bzw. quadratische Form aufweisen, während die mit ihm verbundene Trägerplatte, die meistens aus Molybdän besteht, z. B. die Form einer Kreisscheibe hat, deren Durchmesser beispielsweise der Länge der Diagonale der Rechteckform des Halbleiterelementes entsprechen kann. Es bleiben dann außerhalb des Umfanges des Halbleiterelementes entsprechende Kreissegmente bestehen, an welchen die Widerstands erschweißung zwischen der Trägerplatte des Halbleiterelementes und dem einen Gehäuseteil durchgeführt werden kann.
  • Die gegenseitige mechanische Verbindung der Trägerplatte des Halbleiterelementes mit dem einen Gehäuseteil kann in der Weise vorgenommen werden, daß eine starre Verbindung zwischen beiden entsteht. Es kann die Anordnung jedoch auch so gewählt werden, daß das Halbleiterelement seinerseits nachgiebig bzw. mit einer gewissen Federung gegenüber dem eigentlichen Gehäuseteil getragen wird. Im letzteren Fall kann dann zweckmäßig z. B. ein Zwischenträger benutzt werden, an welchem das Halbleiterelement mit seiner Trägerplatte befestigt wird, der seinerseits erst mit dem einen Gehäuseteil, vorzugsweise durch den Prozeß@ einer elektrischen Widerstandsschweißung, insbesondere durch Punktschweißung, verbunden wird. Die Anordnung kann aber auch derart gewählt werden, daß kein besonderer Zwischenträger benutzt wird, sondern vielmehr die Trägerplatte des Halbleiterelementes, welche mit dessen Halbleiterkörper durch den Legierungsprozeß verbunden worden ist, also z. B. die Molybdänplatte, unmittelbar derart ausgebildet ist, daß sie gleichzeitig die Funktion eines solchen an dem Gehäuseteil befestigten Trägers übernehmen kann, welcher eine federnde Halterung des Halbleiterelementes gewährleistet.
  • Bei der Anordnung des Halbleiterelementes mit seinem Träger an dem einen Gehäuseteil ist es für eine gute Wärmeabfuhr erwünscht, daß ein Übergang der an dem Halbleiterelement anfallenden elektrischen Verlustwärme an den Gehäuseteil über einen möglichst großen Wärmeübergangsquerschnitt erfolgen kann. Hierdurch empfiehlt sich eine solche Befestigung des Halbleiterelementes bzw. seines Trägers an dem einen Gehäuseteil, welche eine gute gegenseitige Anlage gewährleistet. Es wurde hierfür als vorteilhaft erkannt, den einen Gehäuseteil derart auszubilden, daß mindestens die Fläche, welche bei der Befestigung in gegenseitige Berührung mit der Trägerplatte des Halbleiterelementes gelangt, eine leichte Durchwölbung aufweist, so daß bei der Befestigung der Trägerplatte des Halbleiterelementes an ihren Umfangsteilen bzw. nahe ihrem Umfang eine Vorspannung zwischen den zur gegenseitigen Anlage kommenden Teilen von Trägerplatte des Halbleiterelementes und Gehäuseteil * stattfindet, durch welche eine gute gegenseitige Anlage gewährleistet wird und betriebsmäßig erhalten bleibt.
  • Diese federnde Anordnung des Halbleiterelementes gegenüber dem einen Gehäuseteil ist dann erwünscht, wenn sich der in der isolierten Durchführung an dem anderen Gehäuseteil angeordnete Gegenkontakt für die eine Elektrode vorzugsweise starr gegen diese Elektrode an dem Halbleiterelement legt. Die Federung gewährleistet dann, daß keine unzulässige mechanische Beanspruchung des Halbleiterelementes entstehen kann und für dieses ein gewisser Spielraum hzw. Weg vorhanden ist, welcher auf jeden Fall eine gute Kontaktgabe zwischen dem Anschlußleiter und der Elektrode des Halbleiterelementes ohne unzulässige mechanische Beanspruchung desselben gewährleistet.
  • Eine solche Federung für die Gewährleistung eines solchen gegenseitigen Kontaktes zwischen einem starr an der einen Elektrode anliegenden Kontakt und der Elektrode des Halbleiterelementes läßt sich aber auch z. B. dadurch erreichen, daß der zweite Gehäuseteil mit der isolierten Durchführung des einen Anschlußteiles unmittelbar für die Übernahme der Funktion eines federnden Trägers des Kontaktes ausgebildet ist. Der die isolierte Durchführung umschließende Gehäuseteil ist dann so bemessen und aufgebaut, daß er nach Art einer Glockenfeder wirkt, die an ihrem zentralen Teil den einen Anschlußkontakt für das Halbleiterelement in der elektrisch isolierenden Durchführung trägt.
  • Wenn keine starre gegenseitige Kontakgabe durch ein Gegeneinanderdrücken von Anschlußelektrode und Elektrode des Halbleiterelementes benutzt wird, sondern ein biegsamer Anschluß für die eine Elektrode des Gleichrichterelementes, so ist es naturgemäß nicht erforderlich, für eine besondere Federung mit Rücksicht auf die gegenseitige Kontaktgabe an der Anordnung Sorge zu tragen. - Ein solcher elektrischer Anschluß an die eine Elektrode des Halbleiterelementes kann beispielsweise durch einen Draht vorgenommen werden, der z. B. auf einem mittleren Teil seiner Länge mit der Elektrode durch eine Lötverbindung verbunden ist und wonach dann die von dieser Verbindungsstelle sich erstreckenden Drahtenden zu einer Wendel verdreht und mit der inneren metallischen Fassung der isolierten Durchführung für diesen Anschlußleiter in einem der Gehäuseteile verbunden werden. Die innere Fassung dieser isolierten Durchführung wird vorzugsweise unmittelbar als Pumpröhrchen für die Evakuierung des Innenraumes des Gehäuses ausgebildet. In diesem Fall wird dann der biegsame Anschlußleiter der einen Elektrode vorzugsweise so weit in den Innenraum des Pumpröhrchens hineingeführt, daß sein Ende an der Stelle liegt, wo nach dem Evakuierungs- bzw. Füllungsprozeß des Innenraumes des Gehäuses das Pumpröhrchen an seinem außerhalb des Gehäuses liegenden Teil für die Abdichtung des Innenraumes des Gehäuses gegen die Umgebung flachgedrückt und gegebenenfalls zusätzlich verschweißt oder verlötet wird.
  • Die Gehäuseteile zum Einschluß des Halbleiterelementes sind, wie angeführt, als pfannen- oder tellerartige Teile ausgebildet, die an ihren Randzonen vorzugsweise über entsprechende an ihnen vorgesehene Flanschteile mechanisch und gasdicht miteinander verbunden werden. In einem dieser Gehäuseteile kann dabei der z. B. aus Glas bestehende Isolierkörper der Durchführung für den einen bzw. einen Anschlußleiter des in das Gehäuse eingeschlossenen Halbleiterelementes, z. B. eines Gleichrichterelementes aus einem Halbleiterkörper aus Silizium oder Germanium mit pn-Übergang, vorgesehen sein. Der Isolierkörper der Durchführung kann entweder mit einer inneren und einer äußeren metallischen Fassung aus-. gestattet sein und mit seiner äußeren Fassung erst in dem einen pfannenartigen bzw. tellerartigen Teil des Gehäuses gasdicht befestigt werden, oder es kann der eine pfannenartige Gehäuseteil unmittelbar die eine äußere metallische Fassung an dem Isolierkörper der Durchführung bilden. Eine solche Anordnung zeichnet sich weiterhin dadurch aus, daß auf einfache Weise eine wirksame gegenseitige dichte Verbindung der beiden Gehäuseteile an den vorgesehenen aneinanderliegenden Rändern durchgeführt werden kann. Insbesondere hat es sich hierbei als geeignet erwiesen, diese Randzonen durch den genannten elektrischen Widerstandsschweißprozeß miteinander zu verbinden. Vorzugsweise wird für die Durchführung dieses Schweißprozesses eine Schweißung nach Art der sogenannten Warzenschweißung benutzt. Diese zeichnet sich bekanntermaßen dadurch aus, daß an mindestens einer der miteinander zu verschweißenden Flächen Erhöhungen vorgesehen sind, über welche bei der Einleitung des elektrischen Schweißvorganges zunächst der Schweißprozeß eingeleitet wird, wonach dann die eigentlichen Flächen., welche miteinander zu verschweißen sind, gegeneinandergeführt werden und auch an diesen noch der Schweißprozeß stattfindet. In Verbindung mit der Erfindung werden vorzugsweise als Warzen entsprechende herausgedrückte Vertiefungen an den einzelnen zu verschweißenden Flächen benutzt. Handelt es sich um Gehäuseteile, welche einen kreisförmigen Umfang haben, so können als geeignete Warzen für die Widerstandsschweißung entsprechende ringförmige, die Pfannenform bzw. den vertieft liegenden Teil der Tellerform als in sich geschlossene Kurvenzüge umgebende Erhöhungen an den miteinander zu verschweißenden Rändern bzw. mindestens an einem derselben benutzt werden. Statt eines einzigen solchen Warzenkörpers mit in sich geschlossenem Umfang, z. B. eines Ringes, können gegebenenfalls auch mehrere einander umschließende Warzenkörper bzw. Ringe benutzt werden. Diese ergeben dann bei der Verschweißung sinngemäß mehrere zueinander konzentrisch liegende Verbindungsstellen, welche unter dem Gesichtspunkt der Dichtung zwischen dem Innen- und dem Außenraum in Reihe geschaltete Dichtungsstellen darstellen, so daß also eine größere Sicherheit der Abdichtung des von den Gehäuseteilen eingeschlossenen Raumes gewährleistet ist. Diese ringförmigen, für die Warzenschweißung vorgesehenen Erhöhungen brauchen auch nicht an dem gleichen Rand bzw. Gehäuseteil vorgesehen zu sein, sondern sie können auf die Ränder beider Gehäuseteile verteilt sein und beim Zusammenbringen der miteinander zu verschweißenden Ränder sinngemäß einander umschließen. Zur Durchführung einer solchen Warzenschweißung brauchen auch die warzenartigen Teile nicht unmittelbar an einem oder beiden der Gehäuseteile erzeugt zu werden. Sie ist auch z. B. in der Form anwendbar bzw. durchführbar, daß zwischen die Ränder der beiden zu verbindenden Gehäuseteile ein entsprechender dünner Draht eingelegt wird. Dieser kann bereits vorher durch einen besonderen Bearbeitungsprozeß zu einem in sich geschlossenen Ring gestaltet worden sein. Es kann jedoch auch ein solches Einlegen des Drahtes zwischen die Ränder der zu verschweißenden Gehäuseteile stattfinden, daß sich die Enden des Drahtes um ein kurzes Stück überlappen, wofür sie gegebenenfalls etwas abgeflacht bzw. angepaßt sein können. Damit dieser Draht nach dem Einlegen zwischen die beiden Gehäuseteile unmittelbar in seiner Lage gehalten ist, kann entweder der Rand eines der Gehäuseteile oder können auch die Ränder beider Gehäuseteile mit einer entsprechenden leichten Sicke versehen sein, in welche der Draht eingelegt wird bzw. sich einlegt. Nach dem Einlegen des 'Drahtes zwischen die Ränder der beiden Gehäuseteile und deren Gegeneinanderführen wird dann sinngemäß der elektrische Schweißprozeß durch Widerstandsschweißung durchgeführt.
  • An Stelle einer gegenseitigen Verbindung von Randteilen, die lediglich aneinanderliegen und durch einen geeigneten Prozeß zu einer Haftverbindung miteinander gebracht werden, kann aber auch gegebenenfalls eine gegenseitige Falzverbindung zwischen den Rändern der Gehäuseteile benutzt werden. Damit auch in diesem Falle ein dichter Abschluß an der Falzverbindung gewährleistet ist für den Innenraum des Gehäuses, kann zwischen den miteinander verfalzten Rändern der Gehäuseteile eine entsprechende Dichtungseinlage benutzt werden, die den jeweilig zu beherrschenden Temperaturverhältnissen Rechnung trägt. Sind keine hohen anfallenden Temperaturen in Rechnung zu stellen, so genügt gegebenenfalls die Einlage einer entsprechenden Gummidichtung.
  • Es kann auch eine solche Ausführungsform für den Aufbau eines Gleichrichtergehäuses benutzt werden, bei welchem an dem Gleichrichtergehäuse kein besonderer Evakuierungsstutzen bzw. Füllungsstutzen vorgesehen ist. Die Lösung für einen solchen Aufbau läßt sich z. B. dadurch verwirklichen, daß die gegenseitige Verbindung der Ränder der beiden Gehäuseteile unter Anordnung der beiden Gehäuseteile in einem trogartigen Behälter vorgenommen wird; dabei wird dieser Behälter zunächst mit einem inerten Gas ausgespült, wodurch gleichzeitig auch der Raum zwischen den beiden einander bereits angenäherten Gehäuseteilen von Luft freigespült wird. Während der Vornahme der gegenseitigen Verbindung der gegeneinander geführten Gehäuseränderteile in dem trog artigen Behälter, z. B. durch einen Schweißprozeß, ist somit sinngemäß der von beiden Gehäuseteilen umschlossene Raum bereits mit dem Schutzgas gefüllt. Ein solcher Fertigungsprozeß eines Gleichrichtergehäuses läßt sich insbesondere dann in vorteilhafter Weise durchführen, wenn z. B. bei Anwendung einer Widerstandsschweißung zwischen den Rändern der Gehäuseteile unmittelbar die eine Elektrode bzw. ein diese fassender Körper nach Art eines solchen Troges ausgebildet ist. Damit die Ausspülung dieses trogartigen Raumes in möglichst vollkommener Weise durchgeführt wird und insbesondere am Boden der trogartigen Form keine schädlichen Gasreste vorhanden sein können, ist die Trogform in einer Seitenwand vorzugsweise mit Düsen versehen, die unmittelbar an der Bodenfläche der Trogform münden, durch die hindurch nach innen in die Trogform hinein das neutrale bzw. inerte Schutzgas geblasen wird und dann z. B. nach oben aus der Becherform entweicht, wobei es die schädlichen Gasreste hinausspült.
  • Die Durchführung des Spülprozesses mit dem Schutzgas kann in verschiedener Weise durchgeführt werden. So kann das Gehäuse mit vertikaler Lage der Achsen seiner Gehäuseteile in dem Trogbehälter angeordnet werden oder' auch mit horizontaler Lage dieser Achsen. Im letzteren Fall wird dann der Spülstrom des Schutzgases im wesentlichen nur von unten nach oben durch den Raum des trogartigen Behälters und zwischen den Gehäuseteilen hindurchgeführt.
  • Bei einer horizontalen Lage kann das Schutzgas entweder durch eine Vielzahl von Düsen nach der Mitte zu eingeblasen werden. Dabei sind aber diese Düsen gegebenenfalls derart steuerbar in ihrem Durchlaß, daß zu verschiedenen Zeiten nur eine Anzahl von ihnen mit Schutzgas beschickt wird, so daß nur ein einseitig gerichteter Spülstrom erzeugt wird, dessen Richtung aber während des Spülprozesses dadurch geändert werden kann, daß alsdann eine entsprechende Anzahl anderer Düsen für die Spülung des trogartigen Behälters benutzt bzw. freigegeben wird. Das läßt sich leicht durch entsprechende mit den Düsen zusammenwirkende Schieber z. B. verwirklichen.
  • Beispielsweise Ausführungen für die Anwendung der Erfindung veranschaulichen die Figuren der Zeichnung.
  • In Fig. 1 bezeichnen 1 und 2 zwei pfannenartige bzw. tellerartige Gehäuseteile, welche mit flanschartig ausgestalteten Rändern l a, und 2 a aneinanderliegen. An diesen aneinanderliegenden Flanschteilen kann eine entsprechende elektrische Widerstandsverschweißung vorgenommen werden. In einem vertieften Teil des pfannenartigen Teiles 1 ist das Gleichrichterelement 3, z. B. ein Halbleiterelement mit pn-Übergang aus Silicium oder Germanium, angeordnet. In dem Gehäuseteil 2 ist der z. B. durch eine Glasverschmelzung gebildete Isolierkörper 4 für die Durchführung eines elektrischen Anschlußleiters vorgesehen. Die äußere metallische Fassung- dieser isolierten Durchführung wird unmittelbar durch den tellerartigen Gehäuseteil 2 gebildet. Die innere metallische Fassung der isolierten Durchführung bildet ein Röhrchen-5, welches gleichzeitig für die Evakuierung des von den beiden Gehäuseteilen 1 und 2 umschlossenen Raumes benutzt wird. In den Hohlraum dieses Röhrchens 5 erstreckt sich von dem Halbleiterelement 3 ein zu einer Wendel verdrehter Draht 6, dessen unteres Ende an dem Halbleiterelement z. B. durch einen Löt-oder Schweißprozeß befestigt ist. Die Fig. 1 zeigt die Anordnung im Schnitt in einem Zustand während der Fertigung der Halbleiteranordnung, denn das Röhrchen 5, welches für die Evakuierung des von 1, 2 und 4 umschlossenen Gehäuseraumes und dessen eventueller Füllung mit Schutzgas dient, ist oben noch offen. Dieses Rohr wird nach der Evakuierung und eventuellen Füllung des Gehäuseraumes mit Schutzgas über eine Strecke, etwa von der Länge a, derart zusammengequetscht, daß dadurch der Innenraum des Gehäuses nach außen gasdicht abgeschlossen wird, was jedoch an der Anordnung noch nicht verwirklicht ist.
  • Fig. 2 zeigt eine Draufsicht auf den unteren Gehäuseteil 1 und die Befestigung des Halbleiterelementes 3 durch eine Punktschweißung an dem Gehäuseteil 1. Der eigentliche Halbleiterkörper, z. B. ein Siliziumkörper mit pn-Übergang, ist mit der einen Elektrode, die z. B. durch eine Aluminiumelektrode gebildet wird, zunächst auf der Trägerplatte 7 aus Molybdän unmittelbar durch den zur Herstellung des Halbleiterelementeaufbaues durchgeführten Legierungsprozeß befestigt worden. Wie aus der Darstellung zu erkennen ist, erstreckt sich diese Trägerplatte über den Umfang des Halbleiterelementes 3 hinaus. Diese Trägerplatte ist nun an den Punkten 7d bis 7d mittels einer Widerstandspunktschweißung mit dem Gehäuseteil 1 verbunden.
  • In den Fig.3 und 4 ist eine weitere Ausführung veranschaulicht, bei welcher in dem Gehäuseteil 2 mit dem Isolierkörper 4 ein starrer Kontakt 8 benutzt ist, welcher sich mit seinem unteren Ende gegen die obere Elektrode 3 ca des Halbleiterelementes 3 legt. Um trotz der Anwendung dieses starren Kontaktes 8 für das Zusammenwirken mit der oberen Elektrode 3 a am Halbleiterelement 3 eine gute gegenseitige Kontaktgabe ohne unzulässige mechanische Beanspruchung des Halbleiterelementes zu erreichen, ist in diesem Fall das Halbleiterelement über die Trägerplatte 7 aus Molybdän zunächst an einem segmentförmigen Teil 9 durch Punktschweißung (7a bis 7d) befestigt. Dieser segmentförmige bzw. kreissektorförmige Teil 9 ist seinerseits erst an bzw. nahe seinem äußeren Rand mit dem Gehäuseteil 1 an den Stellen 10a bis 10 c durch eine Punktschweißung mit dem Gehäuse 1 verbunden. 11 bezeichnet einen an dem Gehäuseteil l befestigten Anschlußdraht, wofür ebenfalls eine Schweißverbindung benutzt sein kann. Bei dieser zuletzt beschriebenen beispielsweisen Ausführung ist kein besonderes Evakuierungsröhrchen benutzt. Die entsprechende Vorbereitung des Innenraumes des Gehäuses in der Weise, daß keine nachteilige Luft vorhanden ist, erfolgt dadurch, daß unmittelbar vor der gegenseitigen Verbindung der Gehäuseteile eine Ausspülung des Hohlraumes dieses Gehäuses mittels eines Schnitzgases stattfindet.
  • An Hand der beiden einander entprechenden Risse nach den Fig.5 und 6 soll nunmehr eine Fertigung eines Gehäuses für eine Gleichrichteranordnung aus tellerartigen Gehäuseteilen 1 und 2 erläutert werden, wenn an den Gehäuseteilen kein besonderer Evakuierungsstutzen bzw. Füllstutzen benutzt ist. In diesen Figuren bezeichnet 12 die untere Elektrode der Schweißanordnung, welche an ihrem oberen Ende besonders gestaltet ist für das Einlegen des Gehäuseteiles 1. Sie weist einen Absatz 12a auf, auf welchen der Gehäuseteil 1 mit der Außenfläche seines Randteiles 1 d aufgelegt ist. Wie aus der Darstellung nach Fig. 5 zu erkennen ist, ist auf dem unteren Gehäuseteil 1 für die Durchführung der Warzen-Widerstandsverschweißung ein ringförmiger Draht 18 in eine leicht ringförmige Vertiefung am Rand 1 a des Gehäuseteiles 1 eingelegt. Dieser Gehäuseteil 1 kann dabei, wie es dargestellt ist, unmittelbar bereits mit dem Anschlußleiter 11 versehen sein. Es ist aus diesem Grund in der Elektrode 12 eine entsprechende Bohrung 12 b vorgesehen, in welche sich dieser Leiter 11 erstrecken kann. Die Elektrode 12 ist weiterhin an ihrem oberen Ende mit einem Randteil 12c versehen, so daß eine Becherform entsteht. In diesem Randteil 12 c sind Bohrungen 12 d vorgesehen. Diese bilden einen Düsenkranz, durch den hindurch aus dem Hohlraum 12e, der mittels des Anschlußstutzens 16 mit Schutzgas beschickt wird, das Schutzgas in den Innenraum der Becherform eingeblasen werden kann. Der Hohlraum 12 e wird gemeinsam gebildet durch den Elektrodenkörper 12 und den Ringkörper 17. 3 bezeichnet, wie bereits in den vorausgehenden Figuren erläutert, das über die Trägerplatte 7 an dem Gehäuseteil 1 befestigte Halbleiterelement. 13 bezeichnet die zweite Elektrode der Schweißvorrichtung. Diese ist ebenfalls mit einer Bohrung 13a versehen. In diese kann der an dem Gehäuseteil 2 befestigte Anschlußdraht 14 eingeführt werden, wobei er sich zwischen die Schenkel der in der Bohrung 13a vorgesehenen Feder 15 einschiebt. Durch dieses Festklemmen des Anschlußdrahtes 14 wird der zweite Gehäuseteil 2 mit seinem äußeren Randteil unmittelbar gegen das untere Ende der Elektrode 13 gehalten. Zum Beispiel in der dargestellten relativen Lage .der Elektroden 12 und 13 und der Gehäuseteile 1 und 2 wird nun zunächst ein Spülprozeß in der Becherform der Elektrode 12 durchgeführt. Nach einer ausreichenden Spülung der Becherform werden dann die beiden Elektroden 12 und 13 und damit die Ränder der Gehäuseteile 1 ca bzw. 2a gegeneinandergeführt und zwischen diesen Rändern dann die elektrische Widerstandsverschweißung der beiden Gehäuseteile durchgeführt. Nach Beendigung derselben wird dann durch das Emporheben der Elektrode 13 unmittelbar das verschweißte Gehäuse aus der Form herausgehoben.
  • Die Fig..7 und 8 zeigen ein Ausführungsbeispiel in zwei einander entsprechenden Rissen, wobei Fig.7 eine Schnittdarstellung ist, für die Anwendung der Erfindung im Fall einer Transistoranordnung. Das Transistorelement ist mit 19 bezeichnet. Es besteht aus dem Halbleiterkörper 19a mit den drei Elektroden 19 b, 19 c und 19 d. Die Basiselektrode 19 d umschließt ringförmig die scheibenförmige Emitterelektrode 19 c. Auf der anderen Seite des Halbleiterelementes ist die Kollektorelektrode 19 b angeordnet. An ihr ist der Anschlußdraht 20 befestigt, z. B. durch Lötung. Dieser Draht 20 erstreckt sich in das Röhrchen 21, welches die innere metallische Fassung am Isolierkörper 22 bildet. Die äußere metallische Fassung des Isolierkörpers 22 bildet unmittelbar der Gehäuseteil 2. 21, 22 und 2 bilden z. B. zusammen eine Druckglasverschmelzung. Der untere Gehäuseteil 1 ist wieder unmittelbar als die äußere metallische Fassung des Isolierkörpers 23 benutzt, der andererseits mit dem Körper 24 als Durchführungsleiter, ebenfalls in Form einer Druckglasverschmelzung, gasdicht verbunden ist. Dieser Durchführungsleiter 24 bildet an seinem inneren Ende den Kontaktkörper 24a für das Zusammenwirken mit der Emitterelektrode 19c des Halbleiterkörpers 19 nach dem Zusammenbau der Anordnung. Der Halbleiterkörper 19 ist weiterhin über seine Basiselektrode 19 d mit einem ringscheibenförmigen Tei125 mechanisch und elektrisch verbunden. Dieser Teil 25 ist mit einigen Bohrungen 25a versehen, damit die Räume der beiden Gehäusehälften miteinander in Verbindung stehen, wenn das Gehäuse nach dem gegenseitigen Verschweißen der Gehäuseteile durch das Röhrchen 21 hindurch evakuiert und gegebenenfalls mit Schutzgas und anschließend durch Abquetschen nach außen gasdicht abgeschlossen wird. Der ringscheibenförmige Teil25 ist derart bemessen, daß er sich mit seinem äußeren Rand zwischen die Randteile 1a und 2a der Gehäuseteile l und 2 erstreckt, wenn diese gegen.einandergeführt und anschließend miteinander verschweißt werden. An dem scheibenförmigen Teil ist noch eine Anschlußfahne 25b vorgesehen.

Claims (7)

  1. PATENTANSPRÜCHE: 1. Aufbau einer Flächengleichrichter- bzw. Flächentransistoranordnung mit einem Halbleiterkörper unter Benutzung von zwei über sich gegenüberliegende Ränder gegenseitig dicht verbundenen Gehäuseteilen in Form von flachen Pfannen bzw. Tellern mit vertieften Teilen, bei dem im Boden mindestens eines der beiden Gehäuseteile eine isolierte Durchführung für einen elektrischen Anschlußleiter vorgesehen ist, welcher zu dem Halbleiterkörper führt, der mindestens von dem dieser isolierten Durchführung gegenüberliegenden Gehäuseteil getragen ist, dadurch gekenmeichnet, daß der Halbleiterkörper auf einer Trägerplatte mittels eines Legierungsprozesses befestigt ist und daß die Trägerplatte an über den Umfang des Halbleiterkörpers heraustretenden Flächenteilen mit dem einen bzw. den beiden Gehäuseteilen verschweißt ist.
  2. 2. Aufbau einer Flächengleichrichter- bzw. Flächentransistoranordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das eingeschlossene Halbleiterelement an einer Elektrode mit einem biegsamen Anschlußleiter versehen ist, der sich bis in die innere metallische Fassung der isolierten Durchführung erstreckt, welche gleichzeitig als Pumpröhrchen für die Evakuierung und/oder Füllung des Innenraumes des Gehäuses mit einem Schutzgas ausgebildet ist, und zwar bis in denjenigen Teil dieses Röhrchens, an welchem nach Abschluß der Evakuierung bzw. Füllung dieses Röhrchen für eine Abdichtung flachgequetscht wird.
  3. 3. Aufbau einer Flächengleichrichter- bzw. Flächentransistoranordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der in der isolierten Durchführung vorgesehene eine Anschlußkontakt sich als starrer Kontakt gegen die eine Elektrode des Halbleiterelementes legt und daß gleichzeitig das Gleichrichterelement federnd gegenüber dem anderen Gehäuseteil getragen ist.
  4. 4. Aufbau einer Flächengleichrichter- bzw. Flächentransistoranordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der in der isolierten Durchführung vorgesehene eine Anschlußkontakt sich als starrer Kontakt gegen die eine Elektrode des Halbleiterelementes legt und daß der die isolierte Durchführung aufweisende eine Gehäuseteil unmittelbar derart ausgebildet ist, daß er eine Federung für die gegenseitige Anlage von Anschlußkontakt und Halbleiterelement gewährleistet.
  5. 5. Aufbau einer Flächengleichrichter- bzw. Flächentransistoranordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Trägerplatte des Halbleiterelementes über einen besonderen Zwischenträger an dem einen Gehäuseteil befestigt ist und daß dieser Zwischenträger eine federnde Halterung des Halbleiterelementes gegenüber dem starren Gegenkontakt gewährleistet.
  6. 6. Aufbau einer Flächengleichrichter- bzw. Flächentransistoranordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen den aneinanderliegenden Rändern der Gehäuseteile eine Falzverbindung vorgesehen ist.
  7. 7. Aufbau einer Flächengleichrichter- bzw. Flächentransistoranordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß in die Falzverbindung eine besondere Einlage aus Dichtungsmaterial eingelegt ist. B. Aufbau einer Flächentransistoranordnung nach Anspruch 1 oder einem der folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß die Trägerplatte als Zwischenwand ausgestaltet ist, die mit ihrer Randzone unmittelbar zwischen den miteinander dicht verschweißten Rändern der beiden Gehäuseteile eingespannt ist. 9. Verfahren zur Herstellung einer Flächengleichrichter- bzw. Flächentransistoranordnung nach Anspruch 1 oder einem der folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß- die Randzonen der beiden pfannen- bzw. tellerartigen Gehäuseteile durch eine Widerstandsschweißung verbunden werden. 10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch- gekennzeichnet, daß die gegenseitige Schweißverbindung mittels einer Warzenschweißung ausgeführt wird. 11. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß als Warzen für die Verschweißeng an mindestens einem der Gehäuseteile herausgedrückte Vertiefung, vorzugsweise in Form in sich geschlossener Kurvenzüge, benutzt werden. 12. Verfahren nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, daß für die Warzenschweißung zwischen die zu verschweißenden Ränder ein Draht in Form eines Körpers mit in sich geschlossener Umfangsform eingelegt wird. 13. Verfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß der Draht bereits vor seinem Einlegen zur Bildung der geschlossenen Umfangsform an seinen Enden verbunden wird. 14. Verfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß der Draht zur Bildung einer geschlossenen Umfangsform mit einander überlappenden Enden zwischen die Ränder der Gehäuseteile eingelegt wird. 15. Verfahren nach einem der Ansprüche 12 bis 14, dadurch gekennzeichnet, daß für das Einlegen des Drahtes als Körper in sich geschlossener Umfangsform in dem Rand einer oder beider Gehäuseteile eine leichte Sicke vorgesehen wird, in welche er für seine Lagesicherung eingelegt bzw. eingeführt werden kann. 16. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß mehrere einander umschließende Warzenkörper benutzt werden. 17. Verfahren zur Herstellung einer Flächengleichrichter- bzw. Flächentransistoranordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Trägerplatte des Halbleiterelementes durch eine Widerstandspunktschweißung mit dem einen oder beiden Gehäuseteilen verbunden wird. 18. Verfahren nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß die an der Trägerplatte des Halbleiterelementes zur Anlage kommende Fläche des Gehäuseteiles vor dem Anbringen des Halbleiterelementes derart durchgewölbt wird, daß bei dessen Anbringung Gehäuseteil und Trägerplatte des Halbleiterelementes sich mit einer gewissen Vorspannung gegeneinanderlegen. 19. Einrichtung zur Herstellung einer Flächengleichrichter- bzw. Flächentransistoranordnung nach einem der Ansprüche 1 und 3 bis Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß sie derart gestaltet ist, daß in ihr die beiden Gehäuseteile für den Prozeß der gegenseitigen mechanischen Verbindung ihrer Ränder zuerst einander in einem trogartigen Behälter mit gegenseitigem Abstand derart zugeordnet werden können, daß der Zwischenraum zwischen beiden Gehäuseteilen mit einem neutralen Gas durchspült und gefüllt werden kann, und daß danach in diesem trogartigen Behälter die beiden Gehäuseteile endgültig gegeneinandergeführt und miteinander durch eine Haftverbindung mechanisch verbunden werden können. 20. Einrichtung nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, daß die eine Wand des trogartigen Behälters gleichzeitig die Fassung für die eine Elektrode der elektrischen Widerstandsschweißeinrichtung bildet, gegen welche der eine Gehäuseteil der Gleichrichteranordnung gehalten ist und der zweite Gehäuseteil an der anderen Schweißelektrode oder deren Fassung gehalten ist, so daß beim Gegeneinanderführen der Schweißelektroden gleichzeitig unmittelbar auch die Gehäuseteile der Gleichrichteranordnung mit ihren Rändern gegeneinandergeführt und zur gegenseitigen. Anlage gebracht werden können. 21. Einrichtung nach Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet, daß die eine Elektrode der elektrischen Schweißeinrichtung unmittelbar als trogartiger Behälter ausgebildet ist. 22. Einrichtung nach einem der Ansprüche 19 bis 21, dadurch gekennzeichnet, daß der trogartige Behälter eine nach oben offene Becherform hat, daß in dessen Bodenteil die eine Elektrode der elektrischen Schweißeinrichtung sitzt und in der Mantelfläche der Becherform nahe dem Boden Düsen für das Einblasen des Spül- bzw. Schutzgases vorgesehen sind und der obere Schweißelektrodenkörper mit dem zweiten Gehäuseteil in die Becherform einführbar ist. 23. Einrichtung nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet, daß die Schweißelektroden bzw. deren Fassungskörper mit Bohrungen für das Einführen von an den Gehäuseteilen der Gleichrichteranordnung außen bereits befestigten elektrischen Anschlußleitern versehen sind und daß in diesen Bohrungen, vorzugsweise selbsttätig mit den Anschlußleitern zusammenwirkend, Klemmvorrichtungen, z. B. Federkörper, vorgesehen sind. In Betracht gezogene Druckschriften Deutsche Patentschrift Nr. 950 491; deutsche Auslegeschrift L 12998 VIII c/21 g (bekanntgemacht am 28. 6. 1956) ; USA.-Patentschrift Nr. 2 744 218; französische Patentschrift Nr. 1119 805.
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