DE103161C - - Google Patents

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DE103161C
DE103161C DE1898103161D DE103161DD DE103161C DE 103161 C DE103161 C DE 103161C DE 1898103161 D DE1898103161 D DE 1898103161D DE 103161D D DE103161D D DE 103161DD DE 103161 C DE103161 C DE 103161C
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DE1898103161D
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/48—Photometry, e.g. photographic exposure meter using chemical effects
    • G01J1/50—Photometry, e.g. photographic exposure meter using chemical effects using change in colour of an indicator, e.g. actinometer

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
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DE1898103161D 1898-08-31 1898-08-31 Expired DE103161C (cs)

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DE103161T 1898-08-31

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DE103161C true DE103161C (cs) 1899-05-23

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DE (1) DE103161C (cs)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE744162C (de) * 1939-01-14 1944-01-11 Zeiss Ikon Ag Verfahren zum Messen von Beleuchtungsstaerken, insbesondere fuer die Belichtungszeitmessung

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE744162C (de) * 1939-01-14 1944-01-11 Zeiss Ikon Ag Verfahren zum Messen von Beleuchtungsstaerken, insbesondere fuer die Belichtungszeitmessung

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