DE10024236A1 - Keramikkondensator und Verfahren zu seiner Herstellung - Google Patents
Keramikkondensator und Verfahren zu seiner HerstellungInfo
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Abstract
Ein keramischer Kondensator weist eine dielektrische Keramiklage (2a) und wenigstens ein Elektrodenpaar (5, 6) auf, von dem ein Glied des Paars auf jeder Seite der dielektrischen Keramiklage (2a, 2b) liegt. Letztere weist eine Primärphase und Sekundärphasen auf, und die Abmessung der Sekundärphasen in Dickenrichtung der dielektrischen Keramiklage ist nicht größer als ein Drittel der Dicke der dielektrischen Keramiklage. Zur Herstellung dieses keramischen Kondensators werden Sekundärphasen bildende Verbindungen in einer Primärphase einer dielektrischen Keramik vermischt, die Mischung zur Bereitung eines Rohstoffs für die Sekundärphasen geglüht und anschließend pulverisiert, der Rohstoff für die Sekundärphasen mit anderen Materialien der dielektrischen Keramik gemischt, die nicht vollständig oder ausreichend im Rohstoff für die Sekundärphasen enthalten sind, diese Mischung unter Bildung einer dielektrischen Keramik geformt und gesintert, und auf dieser werden Elektroden gebildet. Der keramische Kondensator hat einen hohen Isolationswiderstand, hervorragende Belastungsfähigkeit bei hohen Temperaturen oder hoher Feuchte und hohe Wetterfestigkeit, auch wenn er in einer reduzierenden Atmosphäre gesintert worden ist.
Description
Diese Erfindung betrifft Keramikkondensatoren und
insbesondere monolitische Keramikkondensatoren, die dünne
dielektrische Keramiklagen haben, und betrifft ferner
Verfahren zu ihrer Herstellung.
Keramikkondensatoren und besonders monolitische Keramik
kondensatoren werden üblicherweise wie folgt hergestellt.
Dielektrische Blätter, die zum Beispiel jeweils
hauptsächlich aus BaTiO3 bestehen, werden vorbereitet. Auf
einer Oberfläche jedes dielektrischen Blatts wird ein
Elektrodenmaterial für eine Elektrode aufgebracht. Die mit
dem Elektrodenmaterial vorbereiteten dielektrischen Blätter
werden laminiert, thermisch komprimiert und bei 1250 bis
1350°C in einer Umgebungsatmosphäre gesintert, so dass sie
eine dielektrische Keramik mit den Innenelektroden bilden.
Außenelektroden, die die Innenelektroden verbinden, werden
auf beiden Seiten der dielektrischen Keramik aufgebrannt,
um auf diese Weise einen monolitischen Keramikkondensator
zu bilden.
Das für die Innenelektroden verwendete Material muss
folgende Bedingungen erfüllen.
- A) Da die dielektrischen Blätter und das Material der Innenelektrode gleichzeitig gesintert werden, muss das Material für die Innenelektrode einen Schmelzpunkt haben, der höher ist als die Temperatur, mit der das dielektrische Blattmaterial gesintert wird.
- B) Das Material der Innenelektrode darf nicht oxidieren und nicht mit dem Material der dielektrischen Blätter in einer oxidierenden Atmosphäre bei hoher Temperatur reagieren.
Materialien, die diese für die Innenelektroden geforderten
Bedingungen erfüllen, sind Edelmetalle, wie Platin, Gold,
Palladium und Silber-Palladium-Legierungen. Derartige
Materialien wurden verwendet, da die Edelmetalle, wenn sie
als Innenelektroden verwendet werden, überragende
Eigenschaften zeigen. Derartige Edelmetalle sind jedoch
teuer und bilden einen Hauptfaktor bei der Erhöhung der
Herstellungskosten monolitischer Keramikkondensatoren.
Andere Metalle als Edelmetalle, die hohe Schmelzpunkte
haben, sind unedle Metalle, wie zum Beispiel Ni, Fe, Co, W
und Mo. Derartige unedle Metalle oxidieren jedoch in
oxidierenden Atmosphären bei hohen Temperaturen sehr leicht
und sind deshalb als Elektrodenmaterialien nicht geeignet.
Wenn solche unedlen Metalle für Innenelektroden
monolitischer keramischer Kondensatoren verwendet werden,
muss die Zusammensetzung in neutralen oder reduzierenden
Atmosphären gesintert werden. Allerdings werden
herkömmliche dielektrische Keramikmaterialien, während sie
in neutralen oder reduzierenden Atmosphären sintern,
beträchtlich reduziert und auf diese Weise in
Halbleitermaterialien umgewandelt.
Zur Lösung dieses Problems beschreibt die japanische
geprüfte Patentanmeldung mit der Veröffentlichungsnummer
57-42588 ein dielektrisches Material, das aus einer Barium-
Titanat-Feststofflösung besteht, in der das Verhältnis der
Bariumstellung zur Titanstellung stöchiometrisch
überschüssig ist. Zusätzlich beschreibt die ungeprüfte
japanische Patentanmeldung mit der Veröffentlichungsnummer
61-101459 ein dielektrisches Material, das aus einer
Barium-Titanat-Feststofflösung besteht, die ein Oxid eines
Seltenerdelements wie zum Beispiel La, Nd, Sm, Dy oder Y
enthält.
Bekannte dielektrische Stoffe, deren Dielektrizitäts
konstante sich mit der Temperatur nur gering ändert,
enthalten zum Beispiel eine auf BaTiO3-CaZrO3-MnO-MgO
beruhende Zusammensetzung, wie sie in der ungeprüften
japanischen Patentanmeldung mit der Publikationsnummer 62-
256422 beschrieben ist, und eine auf BaTiO3-(Mg,Zn,Sr,Ca)O-
B2O3-SiO2 beruhende Zusammensetzung, die in der geprüften
japanischen Patentanmeldung mit der Publikationsnummer 61-
14611 beschrieben ist. Da sich derartige dielektrische
Stoffe beim Sintern in einer reduzierenden Atmosphäre nicht
in Halbleitermaterialien umwandeln, können unedle Metalle
wie zum Beispiel Nickel bei der Herstellung monolitischer
Keramikkondensatoren für die Innenelektroden verwendet
werden.
In den letzten Jahren machte die Verkleinerung
elektronischer Bauteile mit der Entwicklung elektronischer
Technologien rasche Fortschritte und bei den monolitischen
Keramikkondensatoren wurde eine weitere Miniaturisierung
bei gleichzeitig höheren Kapazitäten notwendig. Somit
schritt die Entwicklung dielektrischer Materialien mit
hoher Dielektrizitätskonstante und gleichzeitig
verringerter Dicke der dielektrischen Keramiklagen schnell
fort. Deshalb müssen derzeit verwendete dielektrische
Stoffe hohe Dielektrizitätskonstanten, eine geringfügige
Änderung der Dielektrizitätskonstanten mit der Temperatur
und hohe Zuverlässigkeit haben.
Obwohl die in der japanischen geprüften Patentanmeldung mit
der Veröffentlichungsnummer 57-42588 und der in der
ungeprüften japanischen Patentanmeldung mit der
Veröffentlichungsnummer 61-101459 beschriebenen
dielektrischen Stoffe große Dielektrizitätskonstanten
haben, tritt in dielektrischen Keramikgrundmassen leicht
eine Abscheidung von Seltenerdelementen auf. Derartige
Abscheidungen von Seltenerdelementen bewirken eine
beträchtliche Verringerung der Zuverlässigkeit dünner
dielektrischer Keramikschichten, die eine Dicke von 10 µm
oder weniger haben.
Der in der ungeprüften japanischen Patentanmeldung mit der
Publikationsnummer 62-256422 beschriebene dielektrische
Stoff hat eine verhältnismäßig große Dielektrizitäts
konstante und zeigt nur geringfügige temperaturbedingte
Veränderungen derselben. In diesem Stoff bilden jedoch
CaZrO3 und CaTiO3 während des Sinterprozesses leicht
sekundäre Phasen zusammen mit Mn. Deshalb ist die
Zuverlässigkeit dieser dielektrischen Stoffe bei hohen
Temperaturen verringert.
Wenn sekundäre Phasen durch die Abscheidung eines oder
mehrerer Elemente in der primären Phase einer
dielektrischen Keramiklage gebildet werden, verringert sich
die Zuverlässigkeit eines monolitischen Keramik
kondensators, der derartige dielektrische Keramiklagen in
einer Dicke von 10 µm oder darunter hat, beträchtlich. Wenn
die sekundären Phasen der Reduktion nur einen geringen
Widerstand entgegen bringen, verursacht der Sinterprozess
in einer reduzierenden Atmosphäre eine weitere Absenkung
der Zuverlässigkeit des monolitischen Keramikkondensators.
Demgemäß ist es eine Aufgabe dieser Erfindung, einen
Keramikkondensator zu ermöglichen, der einen hohen
Isolationswiderstand, überragende Belastungskennwerte bei
hohen Temperaturen oder hoher Feuchte und hohe
Wetterfestigkeit hat, auch wenn er in einer reduzierenden
Atmosphäre gesintert wird.
Eine weitere Aufgabe dieser Erfindung besteht darin, einen
monolitischen Keramikkondensator mit einer hohen Kapazität
zu ermöglichen.
Eine weitere Aufgabe der Erfindung besteht darin, ein
Verfahren zur Herstellung dieses Keramikkondensators zu
ermöglichen.
Ein erfindungsgemäßer Keramikkondensator weist eine
dielektrische Keramiklage und wenigstens ein Elektrodenpaar
auf, wobei eine Elektrode des Elektrodenpaars auf einer
jeweiligen Seite liegt und wobei die dielektrische Keramik
lage eine Primärphase und Sekundärphasen aufweist und die
Größe der Sekundärphasen in Dickenrichtung der
dielektrischen Keramiklage ein Drittel der Dicke der
dielektrischen Keramiklage nicht übersteigt.
Bevorzugt weist die dielektrische Keramiklage eine nicht
reduzierte dielektrische Keramik auf, die durch Sinterung
in einer neutralen oder reduzierenden Atmosphäre gebildet
ist und die eine durch die Formel ABO3 dargestellte
Hauptkomponente, wobei A wenigstens ein aus Ba, Sr, Ca und
Mg gewähltes Element und B wenigstens ein aus Ti, Zr und Hf
gewähltes Element sind; wenigstens ein Seltenerdoxid und
einen Glasbestandteil aufweist, der hauptsächlich aus SiO2
oder B2O3 besteht.
Bevorzugt weisen die sekundären Phasen das Seltenerdoxid
auf.
Ein Verfahren zur Herstellung eines erfindungsgemäßen
Keramikkondensators weist folgende Schritte auf: Vermischen
von Verbindungen, die sekundäre Phasen bilden, in einer
primären Phase einer dielektrischen Keramik, Glühen und
anschließendes Pulverisieren der Mischung zur Vorbereitung
eines Rohmaterials für die Sekundärphasen, Mischen des
Rohmaterials für die Sekundärphasen mit anderen Stoffen für
die dielektrische Keramik, die nicht vollständig oder nicht
ausreichend im Rohmaterial für die Sekundärphasen enthalten
sind, Formen und Sintern der Mischung zur Bildung einer
dielektrischen Keramik und Bildung von Elektroden auf
derselben.
Bevorzugt ist der keramische Kondensator ein monolitischer
keramischer Kondensator, der mehrere dielektrische
Keramiklagen, zwischen diesen gebildete Innenelektroden und
mit den Innenelektroden elektrisch verbundene Außen
elektroden aufweist.
Die Sekundärphasen geben in dieser Erfindung Bereiche an,
an denen Unterkomponenten, wie die Seltenerdoxide und Glas,
abgeschieden sind und darin im Vergleich mit der Primär
phase in hohen Konzentrationen vorliegen, und mindestens
eine Unterkomponente liegt in einer Konzentration vor, die
wenigstens zehnmal so hoch ist, wie die Konzentration in
der Primärphase.
Da die Sekundärphasen in der dielektrischen Keramiklage des
erfindungsgemäßen Keramikkondensators aus feinen Teilchen
bestehen, kann sich das elektrische Feld in diesen
Sekundärphasen nicht konzentrieren und somit den
Isolationswiderstand nicht verringern. Darüber hinaus
zeigen die Sekundärphasen eine hohe Widerstandsfähigkeit
gegen Reduktion.
Deshalb hat der so entstandene Keramikkondensator einen
hohen Isolationswiderstand, hervorragende Kennwerte während
seiner Lebensdauer, insbesondere gegen hohe Temperatur
belastung und hohe Feuchtigkeitsbelastung und außerdem eine
große Wetterfestigkeit. Im besonderen lässt sich ein
monolitischer Keramikkondensator mit einer hohen Kapazität
herstellen.
Fig. 1 zeigt einen Querschnitt durch einen erfindungs
gemäßen monolitischen Keramikkondensator;
Fig. 2 ist eine perspektivische Explosionsdarstellung
von Keramiklagen des in Fig. 1 gezeigten monolitischen
Keramikkondensators;
Fig. 3 ist eine mit einem Elektronensonden-
Mikroanalysator (EPMA) aufgenommene Fotografie, die eine
Verteilung von Yttrium in einer Keramik mit der
Probennummer 1 unter den erfindungsgemäßen Beispielen
zeigt, und
Fig. 4 ist eine mit einem Elektronensonden-
Mikroanalysator (EPMA) aufgenommene Fotografie, die die
Verteilung von Yttrium in einer Keramik mit der
Probennummer 9 unter den Vergleichsbeispielen zeigt.
Nachstehend wird eine Grundstruktur eines ein Ausführungs
beispiel der Erfindung bildenden monolitischen Keramik
kondensators bezogen auf die Fig. 1 und 2 beschrieben.
Fig. 1 ist eine Querschnittsdarstellung des monolitischen
Keramikkondensators und Fig. 2 eine perspektivische
Explosionsansicht von Keramiklagen des in Fig. 1
dargestellten monolitischen Keramikkondensators.
Bezogen auf Fig. 1 enthält der monolitische Keramik
kondensator 1 in dieser Ausführungsform einen prismatischen
keramischen Verbund 4, der aus mehreren dielektrischen
Keramiklagen 2a und 2b und dazwischen liegenden
Innenelektroden 5 gebildet ist. Die prismatische
Keramikverbund 4 weist an seinen beiden Seiten
Außenelektroden 6 auf. Die Außenelektroden 6 sind
elektrisch mit den Innenelektroden 5 verbunden. Jede
Außenelektrode 6 ist mit einer ersten Plattierlage 7, die
aus Nickel oder Kupfer besteht, und einer zweiten
Plattierlage 8 beschichtet, die aus Lot oder Zinn besteht.
Jede dielektrische Keramiklage 2b des monolitischen
Keramikkondensators 1 besteht aus einer Primärphase und
Sekundärphasen 3. Die Sekundärphasen 3 sind nicht größer
als ein Drittel der Dicke der dielektrischen Keramiklage 2b
in ihrer Dickenrichtung, um auf diese Weise eine
Verringerung der Zuverlässigkeit durch Konzentration des
angelegten elektrischen Felds in den Sekundärphasen 3 und
eine Verschlechterung des Isolationswiderstandes zu
vermeiden. In einem monolitischen Keramikkondensator hoher
Kapazität, der durch Laminieren von wenigstens 100
dielektrischen Keramiklagen gebildet wird, die jeweils eine
Dicke von 10 µm oder darunter haben, ist eine höhere
Zuverlässigkeit erforderlich. Darum ist die Abmessung der
Sekundärphasen 3 in Dickenrichtung der dielektrischen
Keramiklagen bevorzugt nicht größer als ein Viertel der
Dicke der dielektrischen Keramiklage.
Die dielektrische Keramiklage weist bevorzugt eine nicht
reduzierte dielektrische Keramik auf, die eine durch die
Formel ABO3 dargestellte Hauptkomponente, wobei A
wenigstens ein aus Ba, Sr, Ca und Mg gewähltes Element und
B wenigstens ein aus Ti, Zr und Hf gewähltes Element sind;
wenigstens ein Seltenerdoxid und einen Glasbestandteil
aufweist, der hauptsächlich aus SiO2 oder B2O3 besteht. Die
dielektrische Keramik wird während des Sintervorgangs in
einer neutralen oder reduzierenden Atmosphäre nicht
reduziert und gestattet für die Elektronenmaterialien die
Verwendung unedler Metalle wie zum Beispiel Nickel und
Kupfer.
Beispiele von Seltenerdoxide enthalten Oxide von Y, Sm, Eu,
Gd, Tb, Dy, Ho, Er, Tm und Yb. Diese Seltenerdoxide können
allein oder in Kombination verwendet werden. Der Gehalt von
Seltenerdoxid ist bevorzugt 1 bis 6 Mol%. Bevorzugt weist
die erfindungsgemäße dielektrische Keramik weiterhin
wenigstens ein sich vom Seltenerdoxid unterscheidendes
Metalloxid zur Steigerung der Antireduktionseigenschaften
auf. Beispiele von Metalloxiden sind Oxide von Mg, Mn, Ni,
Al, Co, Zn und Nb.
Die hauptsächlich aus SiO2 oder B2O3 bestehende Glas
komponente gestattet einen Sintervorgang bei niedrigen
Temperaturen. Auf diese Weise ist die Bildung und
Ausscheidung der Sekundärphasen unterdrückt, und der
monolitische Keramikkondensator weist eine hohe
Zuverlässigkeit auf. Die Glaskomponente kann zum Beispiel
aus einem SiO2-B2O3-Glas, einem SiO2-Li2O-Glas, einem SiO2-
BaO-MgO-Glas und einem SiO2-CaO-Glas bestehen. Das Material
der Glaskomponente kann feinkörniges SiO2 oder Kieselsäure
sol sein.
Nachstehend wird ein Verfahren zur Herstellung des
monolitischen Keramikkondensators 1 beschrieben.
Eine pulverisierte Mischung eines primären Rohstoffs, eines
Sekundärphasenstoffs und anderer Unterkomponenten wird für
die dielektrischen Keramiklagen 2a und 2b vorbereitet. Die
Zusammensetzung des Sekundärphasenmaterials wird beruhend
auf analytischen Ergebnissen der Zusammensetzung der
Sekundärphasen ermittelt, die sich bei einer gewünschten
dielektrischen Keramik bilden. Das bedeutet, dass
Verbindungen aus die Sekundärphasen bildenden Elementen
gemischt werden und die Mischung dann auf eine Temperatur
erhitzt wird, die mit der die Sekundärphasen bildenden
Temperatur übereinstimmt. Dann wird das erhaltene Produkt
pulverisiert zur Bildung feiner Körnchen des Sekundär
phasenmaterials, deren Korngröße geringer ist als die des
primären Rohmaterials. Das Sekudärphasenmaterial reagiert
während des Sintervorgangs nicht vollständig mit den
anderen Komponenten, und die in der dielektrischen Keramik
gebildeten Sekundärphasen sind stabil und fein. Als
Ergebnis ist der keramische Kondensator sehr zuverlässig.
Dem pulverförmigen Rohmaterial wird ein organischer Binder
zugegeben und ein Brei gebildet. Rohblätter der
dielektrischen Keramiklagen 2a und 2b werden aus dem Brei
geformt. Eine aus Nickel oder einer Nickellegierung
bestehende Innenelektrode 5 wird auf einer Hauptfläche
jedes Rohblatts für die dielektrische Keramiklage 2b durch
Siebdruck, Dampfabscheidung oder Plattieren gebildet. Eine
für die dielektrischen Keramiklagen 2b benötigte Anzahl von
die Innenelektroden 5 tragenden Rohblättern wird laminiert.
Bezogen auf Fig. 2 wird das Laminat sandwichartig zwischen
die dielektrischen Keramiklagen 2a bildende Rohblätter
geschichtet, die keine Innenelektroden haben, und diese
Anordnung dann unter Bildung eines Rohblocks komprimiert.
Der Rohblock wird in einer reduzierenden Atmosphäre bei
einer vorbestimmten Temperatur unter Bildung des
prismatischen Keramikverbunds 4 gesintert.
Dann werden auf beiden Seiten des prismatischen
Keramikverbunds 4 Außenelektroden 6 gebildet und mit den
Innenelektroden 5 verbunden. Die Außenelektroden 6 können
aus den selben Materialien gebildet sein, wie sie für die
Innenelektroden 5 verwendet wurden. Alternativ können die
Außenelektroden 6 aus Silber, Palladium, einer Silber-
Palladium-Legierung, aus Kupfer oder einer Kupferlegierung
bestehen. Alternativ kann das Material der Außenelektroden
eine Mischung aus Pulvern der obigen Metalle und Glasfritte
sein, wie zum Beispiel einem aus B2O3-SiO2-BaO-Glas oder
Li2O-SiO2-BaO-Glas. Ein bevorzugtes Material wird
hinsichtlich des Zwecks und der Umgebung, in der der
monolitische keramische Kondensator verwendet wird,
gewählt. Die Außenelektroden 6 werden durch Auftragen und
Brennen einer pulverisierten Metallpaste auf dem
gesinterten prismatischen Keramikverbund 4 gebildet. Die
Außenelektroden 6 können durch Auftragen der Paste auf dem
keramischen Rohverbund 4 und anschließendes gemeinsames
Sintern der Paste und des keramischen Rohverbunds 4
gebildet werden.
Jede Außenelektrode 6 wird mit einer ersten aus Kupfer oder
dergleichen bestehenden Plattierlage 7 beschichtet. Zur
Vervollständigung des monolitischen Keramikkondensators 1
wird die erste Plattierlage 7 mit einer zweiten
Plattierlage 8 beschichtet, die aus Lot oder Zinn besteht.
Allerdings können in bestimmten Anwendungen die erste und
zweite Plattierlage an monolitischen Keramikkondensatoren
weggelassen werden.
Oxalsäure wurde einer wässrigen Lösung von TiCl4 und
Ba(NO3)2 zugegeben, jeweils mit einer Reinheit von
mindestens 99%, um Bariumtitanyloxalat (BaTiO)C2O4)2 . 4H2O
zu fällen. Die Fällung wurde der Pyrolyse bei einer
Temperatur von wenigstens 1000°C unterworfen und bildete
als primären Rohstoff Bariumtitanat (BaTiO3) mit einem
Ba/Ti-Verhältnis von 0,998 und einem mittleren Durchmesser
von 0,4 µm. Als ein weiterer Rohstoff wurde
Ba0,99Ca0,01Ti0,98Zr0,02O3 mit einem (Ba + Ca)/(Ti + Zr)-Verhältnis
von 0,999 und einem mittleren Durchmesser von 0,4 µm unter
Verwendung einer wässrigen Lösung von TiCl4, ZrOCl2,
Ba(NO3)2 und Ca(NO3)2 durch das selbe Verfahren zubereitet.
Y2O3, BaCO3, CaCO3, SiO2, MgO, MnCO3, NiO und Co2O3 wurden als
Rohstoffe für die Unterkomponenten bereit gestellt. Dann
wurde unter Verwendung des synthetisierten BaTiO3 oder
Ba0,99Ca0,01Ti0,98Zr0,02O3 als Primärkomponenten und der
Rohstoffe der Unterkomponenten eine dielektrische Keramik
wie folgt bereitet.
Eine BaTiO2 oder Ba0,99Ca0,01Ti0,98Zr0,02O3 als Hauptkomponente
und vorgegebene Mengen der Rohstoffe für die Unter
komponenten enthaltende Mischung wurde zur Herstellung
einer dielektrischen Keramik geschmolzen und gesintert.
Sekundärphasen, die sich in der dielektrischen Keramik
bildeten, wurden durch eine Fluoreszenzröntgenstrahl
mikroananlyse beobachtet. Die Sekundärphasen enthielten Y,
Ba, Ca und Si in einem Molverhältnis von Y : Ba : Ca : Si =
annähernd 2 : 1 : 2 : 1. Y2O3, BaCO3, CaCO3 und Si2 wurden derart
abgewogen, dass das Molverhältnis Y : Ba : Ca : Si 2 : 1 : 2 : 1 betrug
und gemischt und auf eine Temperatur erhitzt, bei der sich
die Sekundärphasen bildeten. Das Produkt wurde
pulverisiert, so dass die Partikelgröße unter der Partikel
größe von pulverisiertem BaTiO3 lag, um einen Rohstoff für
die Sekundärphasen zu bereiten.
Der Hauptrohstoff (BaTiO3 oder Ba0,99Ca0,01Ti0,98Zr0,02O3), der
Sekundärphasenstoff, die Unterkomponenten (Y2O3, BaCO3, MgO,
MnCO3, NiO und Co2O3) und eine B2O3-SiO2-BaO-Glaskomponente
wurden so abgewogen, dass man die in Tabelle 1 angegebenen
wurden so abgewogen, dass man die in Tabelle 1 angegebenen
Zusammensetzungen erhielt.
In Tabelle 1 sind die Gehalte des Sekundärphasenstoffs und
der Unterkomponenten in Molverhältnissen bezogen auf 100
Molanteile des Hauptrohstoffs und der Gehalt der
Glaskomponente in Gewichtsanteilen bezogen auf 100
Gewichtsanteile des Hauptrohstoffs angegeben. Wie Tabelle 1
zeigt, haben Probe 1 und Probe 6 die selbe Zusammensetzung
in Größen des Sekundärphasenmaterials, der Unterkomponenten
und der Glaskomponente.
Der gewogenen Mischung wurde ein Polyvinylbutyralbinder und
ein organisches Lösungsmittel, zum Beispiel Ethanol,
zugegeben, die Mischung dann mit einer Kugelmühle nass
vermischt und daraus ein Keramikbrei bereitet. Aus dem
Keramikbrei wurden Keramikrohblätter mittels einer Rakel
bereitet.
Auf jedes Keramikrohblatt wurde eine auf Nickel beruhende
leitende Paste aufgedruckt, um so eine Innenelektrode in
Form einer Schicht einer leitenden Paste zu bilden. Dann
wurden mehrere Keramikrohblätter laminiert, so dass die
frei liegenden Stellen der Schichten der leitenden Paste
abwechselnd an beiden Seiten lagen. Das Laminat wurde auf
270°C erhitzt, um den Binder zu verdampfen und dann zwei
Stunden lang in einer reduzierenden aus H2-N2-H2O-Gas bei
einer der in Tabelle 2 gezeigten Temperaturen gesintert, so
dass sich ein monolitischer keramischer Sinterblock ergab.
Eine Silberpaste, die B2O3-Li2O-SiO2-BaO-Glasfritte
enthielt, wurde auf die beiden Seiten des gesinterten
Blocks aufgetragen und bei 800°C gebrannt, um so
Außenelektroden zu bilden, die elektrisch mit den
Innenelektroden verbunden waren.
Der so entstandene monolitische Keramikkondensator hatte
die Breite 1,6 mm, die Länge 3,2 mm und die Dicke 1,2 mm.
Die Dicke der zwischen den Innenelektroden liegenden
dielektrischen Keramiklagen betrug 4 µm. Die Anzahl der
wirksamen dielektrischen Keramiklagen betrug 50 und die
Fläche der einander gegenüber liegenden Elektroden pro
Keramiklage betrug 2,1 mm2.
Die elektrischen Eigenschaften des hergestellten
monolitischen Keramikkondensators wurden gemessen. Die
elektrostatische Kapazität (C) und der dielektrische
Verlust (tanδ) wurden mit einer automatischen Testbrücke
bei einer Frequenz von 1 kHz, 1 V (eff) und bei einer
Temperatur von 25°C gemessen, und die spezifische
Dielektrizitätskonstante (ε) wurde aus der elektro
statischen Kapazität berechnet. Ein Gleichstrom von 16 Volt
wurde 2 Minuten lang an den monolitischen
Keramikkondensator angelegt und dessen Isolationswiderstand
(R) bei 25°C mittels eines Isolationswiderstandsmessers
gemessen, und das Produkt C . R der elektrostatischen
Kapazität (C) mit dem Isolationswiderstand (R) wurde
berechnet.
Für einen Lebensdauer-Belastungstest bei hoher Temperatur
wurde ein Gleichstrom von 40 Volt an 36 monolitische
Keramikkondensatoren jeder Probe bei 150°C angelegt, um
Veränderungen ihrer Isolationswiderstände mit der Zeit zu
messen. Bei dem Hochtemperatur-Belastungs-Lebensdauertest
war die Lebensdauer definiert als die Zeitdauer, bis der
Isolationswiderstand (R) jedes Kondensators 106 Ω oder
weniger wurde, und die mittlere Lebensdauer wurde für 36
Kondensatoren berechnet. Für einen Hochfeuchte-
Belastungstest wurde Gleichstrom von 16 Volt an 72
monolitische Keramikkondensatoren jeder Probe bei einem
Druck von 2 atü und einer relativen Feuchte von 100% bei
121°C angelegt. Der Kondensator, dessen
Isolationswiderstand (R) 106 Ω oder weniger hatte, bevor
250 Stunden vergangen waren, wurde als schadhaft definiert.
Darauf hin wurde die Anzahl der schadhaften Einheiten
ermittelt.
Die Änderungsrate der elektrostatischen Kapazität mit der
Temperatur (ΔC/C25°C), bezogen auf die elektrostatische
Kapazität bei 25°C, wurde bei -55°C und bei +125°C gemessen.
Die Größe der in der dielektrischen Keramik gebildeten
Sekundärphasen wurde wie folgt ermittelt. Der monolitische
Keramikkondensator wurde senkrecht zur Oberfläche seiner
Innenelektroden poliert, um die dielektrischen Keramiklagen
frei zu legen. Der polierte Querschnitt wurde mit einem
Rasterelektronenmikroskop (SEM) und einem Wellenlängen
streuungs-Elektronensonden-Mikroanalysator (EPMA) unter
sucht. Die Größe der Sekundärphasen wurden durch folgende
Gleichung bestimmt:
Relative Größe der Sekundärphasen = (Größe der
Sekundärphasen in Dickenrichtung der dielektrischen
Keramikschicht)/(Dicke der dielektrischen
Keramikschicht)
Die Ergebnisse sind in Tabelle 2 gezeigt.
Wie Tabelle 2 zeigt, haben die monolitischen Keramik
kondensatoren, die mit den Beispielen dieser Erfindung
übereinstimmen, eine verlängerte mittlere Lebensdauer und
fallen nicht während des Hochfeuchte-Belastungstests aus.
Deshalb sind diese monolitischen Keramikkondensatoren sehr
zuverlässig. Ihre spezifische Dielektrizitätskonstante (ε)
lag über 3500 und die Änderungsrate der Kapazität mit der
Temperatur erfüllte die in der Electronic Industries
Association (EIA)-Norm definierte X7R-Spezifikation in
einem Temperaturbereich von -55°C bis +125°C.
Fig. 3 zeigt eine Fotografie der Verteilung von Yttrium
(Y) als Unterkomponente, die durch die EPMA-Untersuchung in
Probe Nr. 1 beobachtet wurde. Zwei oder drei Sekundärphasen
von annähernd 0,5 µm, was die Grenze der Auflösung
darstellt, sind in einem Untersuchungsfeld von 50 × 50 µm
enthalten, wie dies die weißen Inselgruppen in Fig. 3
zeigen. Diese Sekundärphasen bestehen hauptsächlich aus Y,
Ca, Si, Ba und O. In der Probe Nummer 1 beträgt die Größe
der Sekundärphasen, die in der dielektrischen
Keramikschicht in deren Dickenrichtung vorliegen, annähernd
ein Achtel der Dicke der dielektrischen Keramikschicht.
Derart feine Sekundärphasen tragen zur hohen
Zuverlässigkeit des derart hergestellten Kondensators bei.
Es wurden monolitische Keramikkondensatoren hergestellt und
hinsichtlich ihrer elektrischen Eigenschaften wie in den
erfindungsgemäßen Beispielen gemessen bzw. ausgewertet,
jedoch wurden sämtliche Rohstoffe der Unterkomponenten und
BaTiO3 oder Ba0,99Ca0,01Ti0,98Zr0,02O3 als Hauptkomponente
gleichzeitig gemischt, anstatt der bei den erfindungs
gemäßen Beispielen erfolgten Zubereitung mit anschließender
Zugabe des Sekundärphasenmaterials. Die Ergebnisse sind in
Tabelle 3 gezeigt.
Tabelle 3 zeigt, dass die monolitischen Keramik
kondensatoren der Vergleichsbeispiele kürzere Lebensdauern
haben und während des Hochfeuchte-Belastungstests
ausfallen. Deshalb sind die monolitischen Keramik
kondensatoren der Vergleichsbeispiele nicht so zuverlässig
wie die erfindungsgemäßen monolitischen Keramik
kondensatoren.
Fig. 4 zeigt eine Fotografie der Verteilung von Yttrium
(Y) als Unterkomponente, die mit der EPMA-Analyse in Probe
Nr. 9 beobachtet wurde. Darin haben sich Sekundärphasen von
annähernd 2 bis 3 µm gebildet, wie die weißen Inselgruppen
in Fig. 4 zeigen. Diese Sekundärphasen bestehen
hauptsächlich aus Y, Ca, Si, Ba und O, wie bei den
erfindungsgemäßen Beispielen. Darüber hinaus wurden einige
hauptsächlich aus Y und O bestehende Sekundärphasen
ermittelt. Diese groben Sekundärphasen werden durch
Kristallwachstum von Reaktionsprodukten der Seltenerd
elemente mit anderen Unterkomponenten oder mit den Glas
komponenten oder durch Kristallwachstum der Seltenerd
elemente gebildet.
In Probe Nr. 9 ist die Größe der in der dielektrischen
Keramikschicht vorliegenden Sekundärphasen in deren
Dickenrichtung annähernd die Hälfte bis ein Viertel der
Dicke der dielektrischen Keramiklage. Derart grobe
Sekundärphasen verringern die Lebensdauer des hergestellten
Kondensators. Abgesehen davon, dass sich diese groben
Sekundärphasen bilden, sind im BaTiO3 auch die
Unterkomponenten aufgelöst. Deshalb sind bei den
monolitischen Keramikkondensatoren der Vergleichsbeispiele
geringere ε-Werte und größere Änderungsraten der Kapazität
mit der Temperatur im Vergleich mit den monolitischen
Keramikkondensatoren der erfindungsgemäßen Beispiele zu
verzeichnen.
Die obigen erfindungsgemäßen Beispiele zeigen im Vergleich
mit den Vergleichsbeispielen, dass die erfindungsgemäßen
monolitischen Keramikkondensatoren keine groben Sekundär
phasen enthalten, eine mittlere Lebensdauer von mindestens
200 Stunden haben, während des Hochfeuchte-Belastungstests
nicht ausfallen, eine spezifische Dielektrizitätskonstante
(ε) von wenigsten 3500 und eine Änderungsrate der
elektrostatischen Kapazität mit der Temperatur aufweisen,
die die in der EIA-Norm niedergelegte X7R-Spezifikation
erfüllt.
Diese Erfindung läßt sich auch bei keramischen
Kondensatoren verschiedener Formen und Typen außer bei den
in den obigen Ausführungsbeispielen beschriebenen
monolitischen Keramikkondensatoren anwenden.
Claims (6)
1. Keramikkondensator, der eine dielektrische Keramiklage
(2a, 2b) und wenigstens ein Elektrodenpaar (5) aufweist, von
dem ein Glied des Elektrodenpaars auf jeder Seite der
Keramiklage liegt, dadurch gekennzeichnet, dass die
dielektrische Keramiklage (2a, 2b) eine Primärphase und
Sekundärphasen (3) aufweist und die Abmessung der Sekundär
phasen (3) in Dickenrichtung der dielektrischen Keramiklage
(2a, 2b) nicht größer als ein Drittel der Dicke der
dielektrischen Keramiklage ist.
2. Keramikkondensator nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, dass die dielektrische Keramiklage eine
nicht reduzierte dielektrische Keramik aufweist, die durch
Sinterung in einer neutralen oder reduzierenden Atmosphäre
gebildet ist und die eine durch die Formel ABO3
dargestellte Hauptkomponente, wobei A wenigstens ein
Element gewählt aus Ba, Sr, Ca und Mg und B wenigstens ein
Element gewählt aus Ti, Zr und Hf sind; wenigstens ein
Seltenerdoxid; und eine Glaskomponente aufweist, die
hauptsächlich aus SiO2 oder B2O3 besteht.
3. Keramikkondensator nach Anspruch 2, dadurch gekenn
zeichnet, dass die Sekundärphasen (3) das Seltenerdoxid
aufweisen.
4. Keramikkondensator nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß der Keramikkondensator ein
monolitischer Keramikkondensator ist, der mehrere
dielektrische Keramiklagen (2a, 2b), Innenelektroden (5),
die zwischen den dielektrischen Keramiklagen liegen, und
Außenelektroden (6) aufweist, die elektrisch mit den
Innenelektroden (5) verbunden sind.
5. Verfahren zur Herstellung eines Keramikkondensators,
dadurch gekennzeichnet, dass das Verfahren folgende
Schritte aufweist:
Vermischen von Bestandteilen, die Sekundärphasen bilden in einer Primärphase einer dielektrischen Keramik;
Glühen und dann Pulverisieren der Mischung, um einen Rohstoff für die Sekundärphasen zu bereiten;
Vermischen des Rohstoffs für die Sekundärphasen mit anderen Materialien der dielektrischen Keramik, die nicht vollständig oder ausreichend im Rohmaterial für die Sekundärphasen enthalten sind;
Formen und Sintern der Mischung zur Bildung einer dielektrischen Keramik;
Bildung von Elektroden auf der dielektrischen Keramik.
Vermischen von Bestandteilen, die Sekundärphasen bilden in einer Primärphase einer dielektrischen Keramik;
Glühen und dann Pulverisieren der Mischung, um einen Rohstoff für die Sekundärphasen zu bereiten;
Vermischen des Rohstoffs für die Sekundärphasen mit anderen Materialien der dielektrischen Keramik, die nicht vollständig oder ausreichend im Rohmaterial für die Sekundärphasen enthalten sind;
Formen und Sintern der Mischung zur Bildung einer dielektrischen Keramik;
Bildung von Elektroden auf der dielektrischen Keramik.
6. Verfahren zur Herstellung eines Keramikkondensators
nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass der
Keramikkondensator ein monolitischer Keramikkondensator
ist, der mehrere dielektrische Keramiklagen (2a, 2b),
zwischen den dielektrischen Keramiklagen liegende
Innenelektroden (5) und elektrisch mit den Innenelektroden
verbundene Außenelektroden (6) aufweist.
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