CN1825619A - 电光装置 - Google Patents

电光装置 Download PDF

Info

Publication number
CN1825619A
CN1825619A CNA2006100042512A CN200610004251A CN1825619A CN 1825619 A CN1825619 A CN 1825619A CN A2006100042512 A CNA2006100042512 A CN A2006100042512A CN 200610004251 A CN200610004251 A CN 200610004251A CN 1825619 A CN1825619 A CN 1825619A
Authority
CN
China
Prior art keywords
signal
data
electro
optical device
check circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CNA2006100042512A
Other languages
English (en)
Other versions
CN100433360C (zh
Inventor
林孝明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Publication of CN1825619A publication Critical patent/CN1825619A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN100433360C publication Critical patent/CN100433360C/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B33/00—Electroluminescent light sources
    • H05B33/10—Apparatus or processes specially adapted to the manufacture of electroluminescent light sources
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/12—Test circuits or failure detection circuits included in a display system, as permanent part thereof
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Control Of El Displays (AREA)
  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)

Abstract

本发明提供一种电光装置，能够保护基板上形成的用于检查的检查电路，不受周围环境的影响。透明基板(2)的显示区域(3)内形成有多个像素(4)。密封基板(21)被贴合在透明基板(2)所设置的粘合区域(Z1)上。在显示区域(3)与粘合区域(Z1)之间的透明基板(2)上，形成有上侧和下侧的数据线控制用检查电路部(8a、8b)，以及左侧和右侧的扫描线控制用检查电路部(9a、9b)。此外，在透明基板(2)的四角上，形成有与检查电路部(8a、8b、9a、9b)电连接的检查用的各外部端子(10～13、15～20)。

Description

电光装置
技术领域
本发明涉及电光装置。
背景技术
近年来，随着显示图像的高精细化、画面的大型化等，电光装置、例如有机电致发光显示器，越来越要求像素电路的增大、以及构成像素电路的布线图形和电极图形的细微化。因此，有机电致发光显示器(有机EL显示器)的各制造工序，都要求复杂且高难度的技术。同时，为了保证这些有机EL显示器的性能·可靠性，在出场前的各制造工序中，各种(例如全灯检查等)检查也变得更为重要。而且，进行这些各种检查的检查电路，与多个像素电路一起设在基板上(例如，专利文献1、2)。
在专利文献1中，基板上的保护电光元件的密封部件，是以密封部件的安装部与形成在基板上的检查电路交迭起来的方式安装的，实现了装置的小型化。此外，专利文献2中，构成检查电路的晶体管元件被配置在使用密封材料的密封区域(密封材料与基板粘合的区域)上，使得密封区域这一死角(dead space)得到有效利用。
【专利文献1】特开2004-200034号公报
【专利文献2】特开平10-214065号公报
然而，由于上述两个检查电路都形成在与密封部件重合的部分上，所以无法受到密封部件的充分保护。而且，由于两个检查电路均与密封部件的粘合面对峙，所以，当某种力施加在密封部件上时，该力会直接施加在检查电路上，这样就有可能损伤到该检查电路。
发明内容
本发明正是为解决上述问题点而提出的，其目的在于：提供一种电光装置，能够保护基板上形成的用于检查的检查电路，避开周围环境的侵害。
本发明的电光装置，在基板的显示区域上，形成多个单位电路，该单位电路包括多条扫描线、多条数据线、以及对应这些扫描线和数据线的交叉部设置的电光元件，同时，将密封所述显示区域上形成的多个像素电路的电光元件的密封部件与所述基板粘合，其中，在将所述基板和所述密封部件粘合的粘合区域与所述显示区域之间，形成检查电路。
根据本发明的电光装置，形成在基板上的检查电路完全被密封部件内包，所以可以避开外部湿气、氧等得到完全的保护。此外，由于检查电路形成在不与密封部件的粘合面直接对峙的、显示区域与粘合区域之间，所以，施加在密封部件上的力，例如，在将密封部件粘合在基板上时，使密封部件抵接在基板上的力，不会通过粘合面而直接加在检查电路上。因此，检查电路因由于某些原因被施加在密封部件上的力而受到损伤的可能性较小。此外，例如，如果密封部件选择不锈钢等金属性的密封部件，那么外部的电磁噪声就会被密封部件完全屏蔽，检查电路就不会由于电磁噪声而发生误动作。
在上述的电光装置中，所述检查电路，可至少具备向所述多条数据线的每一条供给检查数据信号的数据线控制用检查电路部、以及用来向所述多条扫描线的每一条有选择地供给检查用选择信号的扫描线控制用检查电路部的其中一个。
根据本电光装置，对至少具备数据线控制用检查电路部和扫描线控制用检查电路部的其中一方的电光装置而言，其具有的检查电路部会得到保护，不受周围环境的侵害(湿气、氧、外力)。
在本电光装置中，所述数据线控制用检查电路部可包括：供给检查模式信号的检查模式信号供给线；供给检查数据信号的检查数据信号供给线；以及晶体管，设于所述检查数据信号供给线与所述多条数据线的每一条之间，根据所述检查模式信号将所述检查数据信号分别提供给对应的所述数据线。
根据本电光装置，由于上述数据线控制用检查电路部，是由检查模式信号供给线、检查数据信号供给线、以及晶体管这种最小限度的电路结构形成，因此在显示区域和粘合区域之间能够形成该检查电路部。
在本电光装置中，所述检查模式信号供给线和所述检查数据信号供给线，可分别与所述基板的四个角中的任意一个角部上形成的检查用外部端子电连接。
根据本电光装置，检查用外部端子，在与各数据线的延长线上的基板的一边上形成的数据线的外部端子分离的、上述基板的角部上形成。因此，不用加大基板的尺寸，就可以使该检查用外部端子的尺寸变大。
根据本电光装置，可以检查各种颜色的电光元件。
在本电光装置中，所述扫描线控制用检查电路部可包括：供给检查用选择信号的选择信号供给线；供给检查用时钟信号的时钟信号供给线；供给检查模式信号的检查模式信号供给线；以及，移位寄存器，其对应所述多条数据线的每一条设置，响应所述时钟信号来将所述选择信号从一方向另一方移位，并向对应的扫描线输出，还包括：根据所述检查模式信号，将所述选择信号提供给扫描线的晶体管。
根据本电光装置，由于扫描线控制用检查电路部，是由选择信号供给线、时钟信号供给线、检查模式信号供给线、移位寄存器以及晶体管这种最小限度的电路结构形成，所以在显示区域和粘合区域之间能够形成该检查电路部。
在本电光装置中，所述选择信号供给线、所述时钟信号供给线以及所述检查模式信号供给线，分别与所述基板的四个角中的任意一个角部上形成的检查用外部端子电连接。
根据本电光装置，选择信号供给线、时钟信号供给线和检查模式信号供给线的检查用外部端子，在与各扫描线的延长线上的基板的一边上形成的扫描线的外部端子分离的、上述基板的角部上形成。因此，不用加大基板的尺寸，就可以使检查用外部端子的尺寸变大。
本发明的电光装置，在基板的显示区域上形成多个单位电路，该单位电路包括分别被供给选择信号的多条扫描线、分别被供给数据信号的多条数据线、以及对应这些扫描线和数据线的交叉部设置的电光元件，在与所述显示区域邻接的位置上形成检查电路，同时，将密封所述显示区域上形成的多个单位电路的密封部件与所述基板粘合，其中，将用于所述检查电路的检查用外部端子，形成在比粘合所述密封部件和所述基板的粘合区域更靠外侧的、所述基板的拐角部上。
根据本电光装置，检查用外部端子，在与各扫描线和各数据线的延长线上的基板的一边分离的、上述基板的拐角部上形成。因此，不用加大基板的尺寸，就可以使该检查用外部端子的尺寸变大。而且，由于它们形成在比密封区域更靠外的外侧，所以即使是在粘合上密封部件之后也可以实行检查。
在本电光装置中，包括：多个选择信号输入端子，其与所述多条扫描线的每一条电连接，并供给所述选择信号；以及，多个数据信号输入端子，其与所述多条数据线的每一条电连接，并供给所述数据信号，所述多个选择信号输入端子，设于所述基板的第1边，所述多个数据信号输入端子，设于不同于所述基板的所述第1边的第2边，所述检查用外部端子，形成在所述基板的所述第1边和所述第2边交叉的拐角部上。
根据本电光装置，第1边与第2边交叉的基板拐角部上，不形成第1边上形成的选择信号输入端子和第2边上形成的数据信号输入端子。所以，对于检查用外部端子而言，不用加大基板的尺寸，就可以使该检查用外部端子的尺寸变大。
本发明的电光装置，在基板的显示区域上形成多个单位电路，该单位电路包括分别被供给选择信号的多条扫描线、分别被供给数据信号的多条数据线、以及对应这些扫描线和数据线的交叉部设置的电光元件，在与所述显示区域邻接的位置上形成检查电路，其中，具有将密封所述显示区域上形成的多个单位电路的密封部件与所述基板粘合的粘合区域，将兼作为对准标记的所述检查电路用的多个检查用外部端子，形成在比所述粘合区域更靠外的外侧。
根据本发明的电光装置，由于在将检查用外部端子形成在基板上时，可以将该检查用外部端子作为对准标记使用，所以例如，在制造多个电光元件的工序中，可以应用到定位作业中。另外，由于检查用外部端子，形成在比密封部件密封的区域更靠外的外侧，所以在将密封部件贴合到基板上时，也可以将其应用到定位作业中。
在本电光装置中，所述多个检查用外部端子，可形成在所述基板的拐角部上。
根据本电光装置，由于检查用外部端子形成在拐角部上，所以，可以加大作为外部端子的尺寸，这样与探针的连接会变得容易，同时，即便是作为对准标记，由于尺寸变大了，将密封部件贴合到基板上时，可以比较容易地进行高精度的定位作业。
在本电光装置中，所述多个检查用外部端子，可形成在所述基板的各拐角部上，并沿着各拐角部的边配置形成。
根据本电光装置，由于多个检查用外部端子是沿拐角部的边配置形成的，所以，通过多个相邻的检查用外部端子的配置关系，可以进行精度更高的定位。
根据本电光装置，可以检查各种颜色的电光元件，同时，在制造电光元件的工序中，检查用外部端子可以作为定位标记加以利用。
在本电光装置中，上述电光元件可以是电致发光元件。
根据本电光装置，可以检查电致发光元件，同时，在制造电致发光元件的工序中，检查用外部端子可以作为定位标记加以利用。
根据本电光装置，可以检查有机电致发光元件，同时，在制造有机电致发光元件的工序中，例如，在利用液滴喷出装置进行制造的情况下，检查用外部端子可以作为定位标记加以利用。
在本电光装置中，上述显示区域中形成有发射红光的多个电光元件、发射绿光的多个电光元件、发射蓝光的多个电光元件，上述检查电路的信号供给线可以包括：供给发射红光的电光元件用的检查数据信号的红光用检查数据信号供给线、供给发射绿光的电光元件用的检查数据信号的绿光用检查数据信号供给线、以及供给发射蓝光的电光元件用的检查数据信号的蓝光用检查数据信号供给线。
在本电光装置中，上述电光元件可以是电致发光元件。
根据本电光装置，可以对电致发光元件进行检查。
在本电光装置中，上述电致发光元件的发光层，可以由有机发光材料构成。
根据本电光装置，可以对有机电致发光元件进行检查。
附图说明
图1是本发明的有机EL显示器的立体图。
图2是有机EL显示器的主要部分的截面图。
图3是用于说明有机EL显示器的电结构的电路图。
图4是用于说明像素电路的电路图。
图5是用于说明扫描线控制用检查电路部的电路图。
图6是用于说明数据线控制用检查电路部的另一个例子的电路图。
图中：1-作为电光装置的有机EL显示器，2-作为基板的透明基板，3-显示区域，4-像素，4R-红光用像素电路，4G-绿光用像素电路，4B-蓝光用像素电路，5-数据线外部端子，6-扫描线外部端子，7-作为电光元件的有机电致发光元件，8a-上侧数据线控制用检查电路部，8b-下侧数据线控制用检查电路部，9a-左侧扫描线控制用检查电路部，9b-右侧扫描线控制用检查电路部，10-检查模式信号外部端子，11-红光用检查数据外部端子，12-绿光用检查数据外部端子，13-蓝光用检查数据外部端子，15-选择信号外部端子，16-时钟信号外部端子，17-红光用检查电源线外部端子，18-绿光用检查电源线外部端子，19-蓝光用检查电源线外部端子，20-接地用外部端子，21-密封基板，33R、33G、33B-发光层，L0-检查模式信号供给线，L1-红光用检查数据信号供给线，L2-绿光用检查数据信号供给线，L3-蓝光用检查数据信号供给线，L4-检查模式信号供给线，L5-选择信号供给线，L6-时钟信号供给线，Lr、Lg、Lb-数据线，Ly-扫描线，Sm、Sy-选择信号，SR-移位寄存器，Zl-粘合区域，Dr、Dg、Db-数据信号，Dmr-红光用检查数据信号，Dmg-绿光用检查数据信号，Dmb-蓝光用检查数据信号，MD-检查模式信号，Q3、Q4-栅极晶体管。
具体实施方式
以下，按照附图，对将本发明的电光装置具体化的一个实施方式进行说明。图1是有机EL显示器的立体图，图2是该有机EL显示器的主要部分的截面图。
如图1所示，作为电光装置的有机EL显示器1，具有四边形的透明基板2。在本实施方式中，透明基板2由无碱玻璃基板形成。
透明基板2的表面(元件形成面)2a上，形成有由二点虚线包围的近似四边形的显示区域3。如图1所示，m×n个像素4在显示区域3中形成矩阵状。详细地讲就是，在显示区域3中形成有n行、每行m个的像素4群，或m列、每列n个的像素4群。
如图3所示，各像素4由以下3种像素电路构成，即，具有发射红光的红光用有机EL元件7(参照图4)的红光用像素电路4R、具有发射绿光的绿光用有机EL元件7(参照图4)的绿光用像素电路4G、以及具有发射蓝光的蓝光用有机EL元件7(参照图4)的蓝光用像素电路4B。作为单位电路的红光用、绿光用和蓝光用像素电路4R、4G、4B，沿着行方向按照红光用像素电路4R、绿光用像素电路4G、蓝光用像素电路4B的顺序配置。也就是说，各像素电路4R、4G、4B，沿着行方向按照红光用像素电路4R、绿光用像素电路4G、蓝光用像素电路4B、红光用像素电路4R、绿光用像素电路4G、…的顺序反复配置。此外，同色的像素电路4R、4G、4B，被沿列方向配置。
在显示区域3中，数据线Lr、Lg、Lb对应各列方向上配置的各色像素电路4R、4G、4B，分别沿列方向形成，各自向其列方向上的同色像素电路4R、4G、4B供给数据信号Dr、Dg、Db。此外，多条扫描线Ly，分别对应各行方向上反复配置的各色像素电路4R、4G、4B，沿行方向形成，并分别向行方向上的各像素电路4R、4G、4B供给选择信号Sy(参照图4)。也就是说，各像素电路4R、4G、4B，形成在各自对应的各数据线Lr、Lg、Lb和各扫描线Ly的交叉部上。
列方向上形成的各数据线Lr、Lg、Lb的上下两端部，延伸形成到透明基板2的上下两端部，与数据线外部端子5电连接，该数据线外部端子5形成在透明基板2上下两侧边的除去左右角部(拐角部)的端缘上。作为对应各数据线Lr、Lg、Lb形成的数据信号输入端子的数据线外部端子5，是用铜箔等形成的端子，它沿着作为透明基板2的第2侧边的上侧边和下侧边，在表面(元件形成面)2a上等间距地排列形成。
而且，各上下两侧的各数据线外部端子5，通过所谓各向异性导电膜(ACF)方式，与多个连接端子(未图示)电连接。上述多个连接端子，形成在没有图示出的数据线用柔性基板上，该基板的本体由聚酰亚胺树脂形成。柔性基板上安装有数据线驱动用IC芯片，从该数据线驱动用IC芯片输出提供给各像素电路4R、4G、4B的数据信号Dr、Dg、Db。而且，在本实施方式中，各数据线Lr、Lg、Lb，从上下两侧部经过对应的数据线外部端子5，同步供给内容相同的数据信号Dr、Dg、Db。
另一方面，行方向上形成的多条扫描线Ly的左右两端部，延伸形成到透明基板2的左右两端部，与扫描线外部端子6电连接，该扫描线外部端子6形成在透明基板2的左右两侧边的除去上下角部(拐角部)的端缘上。作为对应各扫描线Ly形成的选择信号输入端子的扫描线外部端子6，是用铜箔等形成的端子，它沿着作为透明基板2的第1侧边的左侧边和右侧边，在表面(元件形成面)2a上等间距地排列形成。
而且，各左右两侧的各扫描线外部端子6，通过各向异性导电膜(ACF)方式，与多个连接端子电连接。所述多个连接端子形成在扫描线用柔性基板上，该基板本体由聚酰亚胺树脂形成。柔性基板上安装有扫描线驱动用IC芯片，从该扫描线驱动用IC芯片向各扫描线Ly输出选择信号Sy。而且，在本实施方式中，各扫描线Ly是从左右两端部侧经由对应的扫描线外部端子6，同步供给选择信号Sy。
另外，在显示区域3中，多条电源线Lvr、Lvg、Lvb分别对应各列方向上配置的各色像素电路4R、4G、4B，沿着列方向形成，供给与列方向上的同色像素电路4R、4G、4B相对应的驱动电压Vr、Vg、Vb(参照图4)。另外，多条电源线Lvr、Lvg、Lvb的上下两端，与分别沿着行方向形成的对应的共用电源线Lcr、Lcg、Lcb电连接。
在上侧形成的共用电源线Lcr、Lcg、Lcb的左侧部，分别延伸形成到透明基板2的左端部，与透明基板2的左上角部(拐角部)上形成的红光用、绿光用、蓝光用的检查用电源线外部端子17、18、19电连接。此外，在下侧形成的共用电源线Lcr、Lcg、Lcb的右侧部，分别延伸形成到透明基板2的右端部，与透明基板2右下角部(拐角部)形成的红光用、绿光用、蓝光用的检查用电源线外部端子17、18、19电连接。红光用、绿光用、蓝光用的检查用电源线外部端子17、18、19，是检查用外部端子，出厂前进行检查时，被检查装置(未图示)供应驱动电压Vr、Vg、Vb。此外，红光用、绿光用、蓝光用的检查用电源线外部端子17、18、19，是铜箔等形成的端子。这些检查用的外部端子17～19分别设在角部，由于数量较少，所以用大于上述数据线外部端子5、上述扫描线外部端子6等的尺寸形成。
另一方面，在上侧形成的共用电源线Lcr、Lcg、Lcb的左侧部，和在下侧形成的共用电源线Lcr、Lcg、Lcb的右侧部，与未图示的共用电源线外部端子电连接，该共用电源线外部端子与数据线外部端子5邻接而形成。未图示的共用电源线外部端子，采用与数据线外部端子5相同的方法来形成，与数据线用柔性基板上形成的电源供给用连接端子电连接。另外，本实施方式中，从数据线用柔性基板上形成的连接端子中，输出提供给各个电源线Lvr、Lvg、Lvb的驱动电压Vr、Vg、Vb。所以，电源线Lvr、Lvg、Lvb，是从上下两端部侧经由对应的共用电源线Lcr、Lcg、Lcb供给驱动电压Vr、Vg、Vb。
图4表示构成像素4的红光用像素电路4R、绿光用像素电路4G和蓝光用像素电路4B的电路结构。为方便说明，以下对红光用像素电路4R进行说明，省略有关其他像素电路4G、4B的说明。
红光用像素电路4R分别具备：驱动晶体管Q1、开关晶体管Q2、以及保持电容C1。驱动晶体管Q1和开关晶体管Q2，由导电型为N沟道的薄膜晶体管(TFT)构成。驱动晶体管Q1中，源极与作为发射红光的电光元件的有机EL元件7的阳极连接，漏极与对应的电源线Lvr连接。驱动晶体管Q1的栅极与保持电容C1连接。该保持电容C1的另一端，与电源线Lvr连接。
开关晶体管Q2的栅极，与扫描线Ly连接。此外，开关晶体管Q2中，漏极与数据线Lr连接，源极与驱动晶体管Q1的栅极和保持电容C1的一端连接。
另外，在绿光用像素电路4G中，驱动晶体管Q1的漏极与电源线Lvg连接，同时，开关晶体管Q2的漏极与数据线Lg连接。此外，绿光用像素电路4G的有机EL元件7，是发射绿光的有机EL元件。同样，在蓝光用像素电路4B中，驱动晶体管Q1的漏极与电源线Lvb连接，同时，开关晶体管Q2的漏极与数据线Lb连接。此外，蓝光用像素电路4B的有机EL元件7，是发射蓝光的有机EL元件。
而且，当选择信号Sy被以规定期间输出到扫描线Ly后，红光用像素电路4R、绿光用像素电路4G和蓝光用像素电路4B的开关晶体管Q2在规定期间内导通，数据信号Dr、Dg、Db分别通过数据线Lr、Lg、Lb供给。于是，数据信号Dr、Dg、Db被通过开关晶体管Q2分别供给到保持电容C1。各像素电路4R、4G、4B的保持电容C1，储存并保持与数据信号Dr、Dg、Db相应的电荷量。此外，各像素电路4R、4G、4B的驱动晶体管Q1的栅极端子的电位，会被数据信号Dr、Dg、Db抬高，在驱动晶体管Q1的漏极/源极上，将与数据信号Dr、Dg、Db相应的驱动电流Ir、Ig、Ib分别提供给有机EL元件7。该驱动电流Ir、Ig、Ib，是保持电容C1储存的数据信号Dr、Dg、Db所对应的电荷量的相对值。
也就是说，驱动晶体管Q1会响应数据信号Dr、Dg、Db而导通，并保持该导通状态，来将驱动电流Ir、Ig、Ib提供给有机EL元件7。这样，各像素电路4R、4G、4B的有机EL元件7就会在这一时刻，分别以相对于数据信号Dr、Dg、Db的亮度发光。
这样，如图3所示，选择信号Sy被以规定期间，从上侧的扫描线Ly向下侧的扫描线Ly，依次输出给由显示区域3中以矩阵状配置形成的各像素电路4R、4G、4B构成的各个像素4。而且，数据信号Dr、Dg、Db，被通过数据线Lr、Lg、Lb，一齐提供给输出选择信号Sy的扫描线Ly上的被选中的各像素4(像素电路4R、4G、4B)，且该被选中的扫描线Ly上的被选中的各像素4(像素电路4R、4G、4B)中的有机EL元件7发光。也就是说，从最上侧的扫描线Ly上的各像素4起、到最下侧的扫描线Ly上，各像素4被依次实施发光控制，一帧图像按所谓的线顺序显示在显示区域3中。
图2是表示像素电路4R、4G、4B的各有机EL元件7的结构的有机EL显示器1的主要部分截面图。另外，为方便说明，图2中，将发射红光的有机EL元件7记为红光用有机EL元件7R，将发射绿光的有机EL元件7记为绿光用有机EL元件7G，将发射蓝光的有机EL元件7记为蓝光用有机EL元件7B。
如图2所示，各有机EL元件7R、7G、7B形成在电路形成层2b上，电路形成层2b形成在透明基板2的元件形成面2a上。该电路形成层2b，是形成以下电路元件的一部分或全部的层，这些元件是：显示区域3上形成的驱动上述各像素电路4R、4G、4B的驱动晶体管Q1等的电路元件；以及，构成在显示区域3外侧形成的后述的数据线控制用检查电路部8a、8b和扫描线控制用检查电路部9a、9b的电路元件。
此外，在电路形成层2b上的对应显示区域3的区域中，形成有堤岸(bank)B，它将各有机EL元件7R、7G、7B划分成矩阵状。在由各堤岸B划分的凹状区域的各底部，形成有阳极31(像素电极或个别电极)。本实施方式中，阳极31是透明电极，由具有光透过性的导电性材料即铟锡化合物(ITO)构成。
各阳极31通过触孔H与对应的驱动晶体管Q1电连接。在本实施方式中，各阳极31上，形成有按照空穴输送层32、发光层33R、33G、33B的顺序叠层构成的功能层34。发光层33R是由发射红光的有机发光材料构成的发光层，发光层33G是由发射绿光的有机发光材料构成的发光层，发光层33B是由发射蓝光的有机发光材料构成的发光层。
作为共用电极的阴极35，在功能层34的整个面上形成。阴极35由铝膜形成。保护膜36，形成为覆盖阴极35的整个面。然后，上述阳极31、功能层34和阴极35被叠层，构成各有机EL元件7(7R、7G、7B)。
而且，由于从各有机EL元件7(7R、7G、7B)发出的光，通过透明电极的阳极31照射到图2的下侧。另外，向阴极35发射的光被铝膜构成的阴极35反射，经由阳极31照射到下侧。因此，本实施方式的有机EL显示器1是底部发射型的显示器。
在图1中，与上述显示区域3邻接的上下两侧的透明基板2的元件形成面2a上，在行方向上形成有作为数据线用检查电路的数据线控制用检查电路部8a、8b。如图3所示，上侧和下侧的数据线控制用检查电路部8a、8b，分别对应各数据线Lr、Lg、Lb设置有栅极晶体管Q3。栅极晶体管Q3，由导电型为N沟道的薄膜晶体管(TFT)构成。各栅极晶体管Q3的栅极，分别与沿着行方向形成的检查模式信号供给线L0电连接。而且，当用于检查的高电位(H电平)的检查模式信号MD供给到检查模式信号供给线L0时，各栅极晶体管Q3一齐导通。
各栅极晶体管Q3的源极，分别与对应的数据线Lr、Lg、Lb连接。各栅极晶体管Q3中、源极与红光用数据线Lr连接的各栅极晶体管Q3，其漏极分别与沿着行方向形成的红光用检查数据信号供给线L1电连接。此外，各栅极晶体管Q3中、源极与绿光用数据线Lg连接的各栅极晶体管Q3，其漏极分别与沿着行方向形成的绿光用检查数据信号供给线L2电连接。另外，各栅极晶体管Q3中、源极与蓝光用数据线Lb连接的各栅极晶体管Q3，其漏极分别与沿着行方向形成的蓝光用检查数据信号供给线L3电连接。
上侧数据线控制用检查电路部8a的各供给线L0、L1、L2、L3，一起相邻形成，其右侧部延伸形成到透明基板2的四角中的右上角部。而且，检查模式信号供给线L0与透明基板2的右上角部(拐角部)形成的检查模式信号外部端子10电连接。红光用检查数据信号供给线L1与透明基板2的右上角部(拐角部)形成的红光用检查数据外部端子11电连接。绿光用检查数据信号供给线L2与透明基板2的右上角部(拐角部)形成的绿光用检查数据外部端子12电连接。蓝光用检查数据信号供给线L3与透明基板2的右上角部(拐角部)形成的蓝光用检查数据外部端子13电连接。
下侧数据线控制用检查电路部8b的各供给线L0、L1、L2、L3也是同样，一起相邻形成，其左侧部延伸形成到透明基板2的四角中的左下角部。而且，与上侧数据线控制用检查电路部8a同样，检查模式信号供给线L0与检查模式信号外部端子10电连接。红光用检查数据信号供给线L1与红光用检查数据外部端子11电连接。绿光用检查数据信号供给线L2与绿光用检查数据外部端子12电连接。蓝光用检查数据信号供给线L3与蓝光用检查数据外部端子13电连接。
分别与上侧和下侧的数据线控制用检查电路部8a、8b的各供给线L0、L1、L2、L3相连接的外部端子10～13，是由铜箔等形成的端子。此外，由于这些外部端子10～13被分别设于角部，且数量也较少，所以它们以大于上述数据线外部端子5、上述扫描线外部端子6等的尺寸来形成。
这些外部端子10～13是检查用外部端子，出厂前进行检查时，被检查装置供给检查模式信号MD、检查数据信号Dmr、Dmg、Dmb。而且，在被从检查模式信号外部端子10供给检查用的检查模式信号MD的状态下，各检查数据外部端子11～13上分别被供给各个检查数据信号Dmr、Dmg、Dmb时，各个检查数据信号Dmr、Dmg、Dmb被通过栅极晶体管Q3分别提供给对应的各数据线Lr、Lg、Lb。
在图1中，上述显示区域3中邻接的左右两侧的透明基板2的元件形成面2a上，在列方向上形成有作为扫描线用检查电路的扫描线控制用检查电路部9a、9b。如图5所示，左侧和右侧的扫描线控制用检查电路部9a、9b，对应各扫描线Ly分别设置有栅极晶体管Q4和移位寄存器SR。
栅极晶体管Q4由导电型为N沟道的薄膜晶体管(TFT)构成。各栅极晶体管Q4的栅极，分别与沿着列方向形成的检查模式信号供给线L4电连接。检查模式信号供给线L4的一端与上述检查模式信号供给线L0连接。因此，当用于检查的H电平的检查模式信号MD被供给到检查模式信号供给线L4时，各栅极晶体管Q4一齐导通。各栅极晶体管Q4中，源极分别与对应的扫描线Ly连接，漏极分别与对应的移位寄存器SR连接。
各移位寄存器SR被串联连接，最上侧的扫描线Ly所对应的移位寄存器SR被与选择信号供给线L5连接。而且，由选择信号供给线L5供给的检查用的H电平的选择信号Sm，被输入到与最上侧的扫描线Ly对应的移位寄存器SR中。各移位寄存器SR，分别与沿着列方向形成的时钟信号供给线L6电连接，输入由时钟信号供给线L6供给的时钟信号CL。
而且，输入到最上侧的移位寄存器SR的H电平的选择信号Sm，响应时钟信号CL，从上侧的移位寄存器SR起向下侧的移位寄存器SR移位。因而，被移位输入选择信号Sm的移位寄存器SR，将该H电平的选择信号Sm通过栅极晶体管Q4输出到对应的扫描线Ly上，直到下个时钟信号CL发生为止。因此，通过与时钟信号CL同步移位的选择信号Sm，扫描线Ly被从上侧扫描线Ly到下侧扫描线Ly依次选择。
左侧扫描线控制用检查电路部9a的供给线L5的端部，延伸形成到透明基板2的四角中的左上角部。而且，选择信号供给线L5与透明基板2的左上角部(拐角部)上形成的选择信号外部端子15电连接。时钟信号供给线L6与透明基板2的四角中的左下角部(拐角部)上形成的时钟信号外部端子16电连接。
右侧扫描线控制用检查电路部9b的供给线L5的端部，延伸形成到透明基板2的四角中的右上角部。而且，选择信号供给线L5与透明基板2的右上角部(拐角部)上形成的选择信号外部端子15电连接。时钟信号供给线L6与透明基板2的四角中的右下角部(拐角部)上形成的时钟信号外部端子16电连接。
左侧和右侧的扫描线控制用检查电路部9a、9b的选择信号外部端子15和时钟信号外部端子16，是由铜箔等形成的端子。此外，由于选择信号外部端子15和时钟信号外部端子16被分别设于角部，且数量也较少，所以它们以大于上述数据线外部端子5、上述扫描线外部端子6等的尺寸形成。
这些外部端子15、16，是检查用外部端子，出厂前进行检查时，它们分别被检查装置供给选择信号Sm、时钟信号CL。而且，在各个栅极晶体管Q4导通，且选择信号Sm被从选择信号外部端子15供给的状态下，时钟信号CL被提供给时钟信号外部端子16，并将选择信号Sm依次供给到各扫描线Ly上。
在图1中，包围数据线控制用检查电路部8a、8b和扫描线控制用检查电路部9a、9b的区域的外侧，在检查用的上述各外部端子5、6、10～13、15、16、17～19、20的内侧的透明基板2的元件形成面2a上，设有作为密封部件的密封基板21的粘合区域Z1。密封基板21是不锈钢制的，在该透明基板2一侧的面上凹陷设置有收容凹部22，其形成为四边形环状的外周边23为粘合面，在粘合区域Z1上借助粘合剂贴合到透明基板2上。这时，如图2所示，粘合区域Z1与显示区域3之间，形成了扫描线控制用检查电路部9a、9b(数据线控制用检查电路部8a、8b也是同样)。因此，透明基板2除去外部端子5、6、10～13、15、16、17～19、20以外，在各检查电路部8a、8b、9a、9b和显示区域3上形成的各像素电路4R、4G、4B，被内包并密封在密封基板21的收容凹部22中。其结果，各像素电路4R、4G、4B、各检查电路部8a、8b、9a、9b，被密封基板21所保护，不受湿度和氧等的影响。
上述检查用的各外部端子10～13、15～19、20，在比密封基板21(由密封基板21密封的密封区域)更靠外侧的透明基板2的四角(拐角部)上分开形成。也就是说，如图1所示，分别是在左上角部配置选择信号外部端子15和各检查用电源线外部端子17、18、19，在左下角配置检查模式信号外部端子10、时钟信号外部端子16和各检查数据外部端子11～13。此外，在右下角部配置时钟信号外部端子16和各检查用电源线外部端子17、18、19，在右上角配置检查模式信号外部端子10、选择信号外部端子15和各检查数据外部端子11～13。此外，左上角部和右下角部，分别形成接地外部端子20来作为与检查装置的接地用探针(probe)相连接的检查用外部端子，该接地外部端子20与各像素电路4R、4G、4B的有机EL元件7的阴极电连接。而且，在本实施方式中，各角都分别沿着拐角将5个检查用外部端子排列形成为直角，并作为在将上述的密封基板21粘合在透明基板2上时的对准标记。
下面，对如上构成的有机EL显示器1的检查方法进行说明。有机EL显示器1在出厂前，要使用检查装置进行亮点检查、暗点检查。
首先，透明基板2的各角部上形成的各外部端子10～13、15～20，分别与对应的检查装置的探针连接。也就是说，检查模式信号外部端子10与供给检查模式信号MD的探针连接。红光用检查数据外部端子11与供给红光用检查数据信号Dmr的探针连接。绿光用检查数据外部端子12与供给绿光用检查数据信号Dmg的探针连接。蓝光用检查数据外部端子13与供给蓝光用检查数据信号Dmb的探针连接。此外，选择信号外部端子15与供给选择信号Sm的探针连接。时钟信号外部端子16与供给时钟信号CL的探针连接。另外，红光用、绿光用、蓝光用的各检查用电源线外部端子17、18、19，分别与供给驱动电压Vr、Vg、Vb的探针连接。接地外部端子20，与接地(地)探针连接。
然后，检查装置在将各驱动电压Vr、Vg、Vb分别供给到红光用、绿光用、蓝光用的各检查用电源线外部端子17、18、19的状态下，向检查模式信号外部端子10输出H电平的检查模式信号MD。这样一来，上侧和下侧的数据线控制用检查电路部8a、8b的栅极晶体管Q3以及左侧和右侧的扫描线控制用检查电路部9a、9b的栅极晶体管Q4一齐导通。这种状态下，向选择信号外部端子15输出H电平的选择信号Sm，同时，向红光用、绿光用、蓝光用的检查数据外部端子11、12、13输出红、绿、蓝光用的检查数据信号Dmr、Dmg、Dmb。
其结果，最上侧的扫描线Ly被选择，该被选择的扫描线Ly上的各像素电路4R、4G、4B，分别被通过数据线Lr、Lg、Lb供给红、绿、蓝光用的检查数据信号Dmr、Dmg、Dmb并保持，有机EL元件7基于红、绿、蓝光用的检查数据信号Dmr、Dmg、Dmb发光。
而且之后，每当向时钟信号外部端子16供给时钟信号CL，就会使上述选择信号Sm在移位寄存器SR中移位，使各扫描线Ly上的各像素电路4R、4G、4B的有机EL元件7同样发光。而且，当选择最下侧的扫描线Ly，并使该扫描线Ly上的各像素电路4R、4G、4B的有机EL元件7发光时，显示区域3的所有像素电路4R、4G、4B都以基于红、绿、蓝光用的检查数据信号Dmr、Dmg、Dmb的亮度来发光。
然后，观察该显示区域3的显示状态，检查有缺陷的像素4。例如，在检查暗点的情况下，检查装置对各像素电路4R、4G、4B供给使各有机EL以最亮的亮度发光的红、绿、蓝光用的检查数据信号Dmr、Dmg、Dmb，使各像素4以最亮的亮度发光。在该状态下，检查显示区域3内不发光的有缺陷的像素4。
在检查亮点的情况下，检查装置对各像素电路4R、4G、4B分别供给不让各有机EL发光的红、绿、蓝光用的检查数据信号Dmr、Dmg、Dmb，使显示区域3中的各像素4不发光。在该状态下，检查显示区域3内发光的有缺陷的像素4。
如上所述，根据本实施方式，会有以下效果。
(1)根据本实施方式，仅通过将检查装置的探针接触到透明基板2的四角上形成的检查用的各外部端子10～13、15～20，就可以进行暗点检查、亮点检查等缺陷像素的检查。而且，由于各外部端子形成在比密封基板21(由密封基板21密封的密封区域)更靠外侧的拐角部，因此，即使在将密封基板21贴合之后，也可以实行检查。
(2)根据本实施方式，将检查用的各外部端子10～13、15～20形成在透明基板2的四角上。也就是说，外部端子10～13、15～20，形成在空间上充裕的透明基板2的角部上，离开了各数据线Lr、Lg、Lb和各扫描线Ly的延长线上的透明基板2的一边上形成的各数据线Lr、Lg、Lb和各扫描线Ly的外部端子5、6。因此，不用加大透明基板2的尺寸(边框部分)，就可以使检查用的各外部端子10～13、15～20的尺寸大于外部端子5、6的尺寸。而且，由于能够加大检查用的各外部端子10～13、15～20的尺寸，因此可以容易且短时间地将检查装置的探针高精度地与各外部端子10～13、15～20连接。
(3)根据本实施方式，将检查用的外部端子10～13、15～20形成在密封基板21的外侧，并在将该密封基板21贴合到透明基板2上时作为对准标记。因此，无需确保仅用作将密封基板21贴合到透明基板2上时的对准标记的区域，同时，也可以省略相应的制造工序。而且，由于将检查用的外部端子10～13、15～20分别沿着四个角(拐角部)排列形成为直角，因此可以将密封基板21高精度地贴合到透明基板2上。
另外，由于检查用的外部端子10～13、15～20，能够在形成有机EL元件7R、7G、7B的功能层34之前就已然形成，因此，在用喷墨方式形成有机EL元件7R、7G、7B的功能层34时，可以将其作为对准标记来利用。总之，检查用的外部端子10～13、15～20，可以在其形成后所进行的各种制造工序中，被作为对准标记来利用。
(4)根据本实施方式，将检查电路，也就是上侧和下侧的数据线控制用检查电路部8a、8b，以及左侧和右侧的扫描线控制用检查电路部9a、9b，形成在密封基板21的收容凹部22所内包的位置上。因此，各检查电路部8a、8b、9a、9b能得到完全的保护，不受外部湿气和氧等的影响。此外，由于各检查电路部8a、8b、9a、9b，形成在粘合区域Z1的内侧(显示区域3和粘合区域Z1之间)，不直接与密封基板21的粘合面对峙，所以，施加在密封基板21上的力，例如，在将密封基板21粘合在基板2上时，使密封基板21抵接在透明基板2上的力，不会通过粘合面直接施加在各检查电路部8a、8b、9a、9b上。因此，各检查电路部8a、8b、9a、9b，因由于某些原因被施加在密封基板21上的力导致损伤的可能性就可以减小。
(5)根据本实施方式，密封基板21由不锈钢形成。所以，借助密封基板21，外部的电磁噪声会被密封部件完全屏蔽，因而各检查电路部8a、8b、9a、9b不会由于电磁噪声而发生误动作。
(6)根据本实施方式，由于上侧和下侧的数据线控制用检查电路部8a、8b，仅由对各数据线Lr、Lg、Lb设置的栅极晶体管Q3构成，因此，电路规模就可以缩小，并用这部分空间增加显示区域3。此外，由于电路规模缩小了，所以将上侧和下侧的数据线控制用检查电路部8a、8b内包在密封基板21的收容凹部22中就会变得容易。
(7)根据本实施方式，由于左侧和右侧的扫描线控制用检查电路部9a、9b，仅由对扫描线Ly设置的栅极晶体管Q4和移位寄存器SR构成，因此，电路规模就可以缩小，并用这部分空间增加显示区域3。此外，由于电路规模缩小了，所以将左侧和右侧的扫描线控制用检查电路部9a、9b内包在密封基板21的收容凹部22中就会变得容易。
另外，本发明的实施方式并不限于上述实施方式，也可以如下实施。
○在上述实施方式中，检查电路虽然是使各有机EL元件7R、7G、7B发光，但也不限于此，也可以应用于驱动晶体管Q1、布线等其他检查对象的检查电路。
○在上述实施方式中，检查用的外部端子10～13、15～20，虽然全都是用于输入来自检查装置的信号的输入端子，但也可以是向检查装置输出信号的输出端子。
○在上述实施方式中，上侧和下侧的数据线控制用检查电路部8a、8b，构成为：当一条扫描线Ly被选择时，红光用、绿光用、蓝光用的各检查数据信号Dmr、Dmg、Dmb，分别被一齐输出给所有的数据线Lr、Lg、Lb。可将其变为图6所示的上侧和下侧的数据线控制用检查电路部8a、8b来实施。
在图6中，上侧和下侧的数据线控制用检查电路部8a、8b，对应各数据线Lr、Lg、Lb设置有移位寄存器SR1。各栅极晶体管Q3的栅极，分别与对应的移位寄存器SR1相连接。
各移位寄存器SR1被串联连接，对应最左侧的数据线Lr的移位寄存器SR与选择信号供给线L41连接。而且，选择信号供给线L41所供给的检查用的H电平的选择信号Sm1，被输入到最左侧的移位寄存器SR1中。各移位寄存器SR1，分别与沿着行方向形成的时钟信号供给线L42电连接，并输入由时钟信号供给线L42所供给的时钟信号CL1。另外，选择信号供给线L41和时钟信号供给线L42，与透明基板2的角部上形成的检查用外部端子41、42电连接。
另外，输入到最左侧的移位寄存器SR1中的H电平的选择信号Sm1，响应时钟信号CL1，从左侧的移位寄存器SR1起向右侧的移位寄存器SR1移位。因此，被移位输入选择信号Sm1的移位寄存器SR1，通过该H电平的选择信号Sm1仅使对应的栅极晶体管Q3为导通状态，直到下个时钟信号CL1发生为止。因此，通过适当控制时钟信号CL1，可以选择数据线Lr、Lg、Lb中的一个，并将检查数据信号只供给到该被选择的数据线上，进行检查。
○虽然在上述实施方式中，作为密封部件的密封基板21是由不锈钢(金属)形成的，但只要是能在玻璃基板上形成收容凹部等、具有密封部件本身的功能的材料即可。
○虽然在上述实施方式中，检查模式信号外部端子10以及检查模式信号供给线L0，被对上侧和下侧的数据线控制用检查电路部8a、8b以及左侧和右侧的扫描线控制用检查电路部9a、9b共用设置，但也可以独立地设置。
○虽然在上述实施方式中，在左侧和右侧的扫描线控制用检查电路部9a、9b中设置有栅极晶体管Q4，但也可以将其省略。
○虽然在上述实施方式中，设置了上侧和下侧的数据线控制用检查电路部8a、8b这两个检查电路，但也可以只设置其中的一方来应用。
○虽然在上述实施方式中，设置了左侧和右侧的扫描线控制用检查电路部9a、9b这两个检查电路，但也可以只设置其中的一方来应用。
○在上述实施方式中，上侧和下侧的数据线控制用检查电路部8a、8b，分别从两侧向共用的数据线Lr、Lg、Lb供给检查数据信号Dmr、Dmg、Dmb。也可以如下实施：例如，上侧数据线控制用检查电路部8a向第奇数条数据线输出数据信号，下侧数据线控制用检查电路部8b向第偶数条数据线输出数据信号。
○在上述实施方式中，左侧和右侧的扫描线控制用检查电路部9a、9b，分别从两侧选择共用的扫描线Ly。也可以如下实施：例如，左侧的扫描线控制用检查电路部9a选择第奇数条扫描线Ly，右侧的扫描线控制用检查电路部9b选择第偶数条扫描线Ly。在上述实施方式中，虽然设置了数据线控制用检查电路部8a、8b和扫描线控制用检查电路部9a、9b，但例如也可以只设置数据线控制用检查电路部8a、8b，相反，也可以只设置扫描线控制用检查电路部9a、9b来应用。
○虽然在上述实施方式中，检查用外部端子被具体化为全部的四角的拐角部，但也可以是在任意一个拐角部。
○虽然在上述实施方式中，检查电路使各有机EL元件7R、7G、7B发光，但也不限于此，可以应用于驱动晶体管Q1、布线等其他检查对象的检查电路中。
○虽然在上述实施方式中，检查用的外部端子10～13、15～20全都是用于输入来自检查装置的信号的输入端子，但也可以是向检查装置输出信号的输出端子。
○虽然在上述实施方式中，电光装置被具体化为有机EL显示器1中的底部发射型，但也可以是顶部发射型。
○扫描线控制用检查电路部9a、9b(数据线控制用检查电路部8a、8b也是同样)，也可以形成在粘合区域Z1和形成阴极35(电光元件的共用电极)的区域之间。这样，各检查电路部8a、8b、9a、9b和作为电光元件的有机电致发光元件7，会得到完全的保护，不受外部湿气和氧等的影响。此外，还可以覆盖扫描线控制用检查电路部9a、9b(数据线控制用检查电路部8a、8b也是同样)地形成阴极(电光元件的共用电极)。这样，外部的电磁噪声会被密封部件完全屏蔽，因而各检查电路部8a、8b、9a、9b不会由于电磁噪声而发生误动作。
○此外，虽然在图2中，保护膜36覆盖在阴极35(电光元件的共用电极)上形成，但也可以覆盖各检查电路部8a、8b、9a、9b来形成保护膜36。从而，各检查电路部8a、8b、9a、9b和作为电光元件的有机电致发光元件7以及阴极35，会得到完全的保护，不受外部湿气和氧等的影响，同时，可以减小各检查电路部8a、8b、9a、9b因由于某些原因被加在密封基板21上的力而受到损伤的可能性。此外，优选覆盖住各检查电路部8a、8b、9a、9b来形成保护膜，同时，以使粘合区域Z1和保护膜36连在一起的方式形成保护膜。从而，各检查电路部8a、8b、9a、9b和作为电光元件的有机电致发光元件7以及阴极35，会得到完全的保护，不受外部湿气和氧等的影响。
○虽然在上述实施方式中，电光装置被具体化为有机EL显示器1，但也不限于此，例如，也可以是液晶显示器等，或者，也可以是具备平面状的电子发射元件、且利用由从该元件发射的电子实现的荧光物质的发光的场效应型显示装置(FED和SED等)。同样，作为电光元件，可以是有机电致发光元件、液晶、电子发射元件。

Claims (11)

1.一种电光装置，在基板的显示区域上，形成多个单位电路，该单位电路包括多条扫描线、多条数据线、以及对应这些扫描线和数据线的交叉部设置的电光元件，同时，将密封所述显示区域上形成的多个像素电路的电光元件的密封部件与所述基板粘合，其特征在于，
在将所述基板和所述密封部件粘合的粘合区域与所述显示区域之间，形成检查电路。
2.根据权利要求1所述的电光装置，其特征在于，
所述检查电路，至少具备向所述多条数据线的每一条供给检查数据信号的数据线控制用检查电路部、以及用来向所述多条扫描线的每一条有选择地供给检查用选择信号的扫描线控制用检查电路部的其中一个。
3.根据权利要求2所述的电光装置，其特征在于，
所述数据线控制用检查电路部包括：
供给检查模式信号的检查模式信号供给线；
供给检查数据信号的检查数据信号供给线；以及，
晶体管，设于所述检查数据信号供给线与所述多条数据线的每一条之间，根据所述检查模式信号将所述检查数据信号分别提供给对应的所述数据线。
4.根据权利要求3所述的电光装置，其特征在于，
所述检查模式信号供给线和所述检查数据信号供给线，分别与所述基板的四个角中的任意一个角部上形成的检查用外部端子电连接。
5.根据权利要求2所述的电光装置，其特征在于，
所述扫描线控制用检查电路部包括：
供给检查用选择信号的选择信号供给线；
供给检查用时钟信号的时钟信号供给线；
供给检查模式信号的检查模式信号供给线；以及，
移位寄存器，其对应所述多条数据线的每一条设置，响应所述时钟信号来将所述选择信号从一方向另一方移位，并向对应的扫描线输出，
还包括：根据所述检查模式信号，将所述选择信号提供给扫描线的晶体管。
6.根据权利要求5所述的电光装置，其特征在于，
所述选择信号供给线、所述时钟信号供给线以及所述检查模式信号供给线，分别与所述基板的四个角中的任意一个角部上形成的检查用外部端子电连接。
7.一种电光装置，在基板的显示区域上形成多个单位电路，该单位电路包括分别被供给选择信号的多条扫描线、分别被供给数据信号的多条数据线、以及对应这些扫描线和数据线的交叉部设置的电光元件，在与所述显示区域邻接的位置上形成检查电路，同时，将密封所述显示区域上形成的多个单位电路的密封部件与所述基板粘合，其特征在于，
将用于所述检查电路的检查用外部端子，形成在比粘合所述密封部件和所述基板的粘合区域更靠外侧的、所述基板的拐角部上。
8.根据权利要求7所述的电光装置，其特征在于，
包括：多个选择信号输入端子，其与所述多条扫描线的每一条电连接，并供给所述选择信号；以及，
多个数据信号输入端子，其与所述多条数据线的每一条电连接，并供给所述数据信号，
所述多个选择信号输入端子，设于所述基板的第1边，
所述多个数据信号输入端子，设于不同于所述基板的所述第1边的第2边，
所述检查用外部端子，形成在所述基板的所述第1边和所述第2边交叉的拐角部上。
9.一种电光装置，在基板的显示区域上形成多个单位电路，该单位电路包括分别被供给选择信号的多条扫描线、分别被供给数据信号的多条数据线、以及对应这些扫描线和数据线的交叉部设置的电光元件，在与所述显示区域邻接的位置上形成检查电路，其特征在于，
具有将密封所述显示区域上形成的多个单位电路的密封部件与所述基板粘合的粘合区域，
将兼作为对准标记的所述检查电路用的多个检查用外部端子，形成在比所述粘合区域更靠外的外侧。
10.根据权利要求9所述的电光装置，其特征在于，
所述多个检查用外部端子，形成在所述基板的拐角部上。
11.根据权利要求10所述的电光装置，其特征在于，
所述多个检查用外部端子，形成在所述基板的各拐角部上，并沿着各拐角部的边配置形成。
CNB2006100042512A 2005-02-14 2006-02-13 电光装置 Active CN100433360C (zh)

Applications Claiming Priority (12)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005-035645 2005-02-14
JP2005035644 2005-02-14
JP2005035643 2005-02-14
JP2005-035643 2005-02-14
JP2005035645 2005-02-14
JP2005035643 2005-02-14
JP2005-035644 2005-02-14
JP2005035645 2005-02-14
JP2005035644 2005-02-14
JP2005377150A JP4345743B2 (ja) 2005-02-14 2005-12-28 電気光学装置
JP2005-377150 2005-12-28
JP2005377150 2005-12-28

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN1825619A true CN1825619A (zh) 2006-08-30
CN100433360C CN100433360C (zh) 2008-11-12

Family

ID=36933171

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNB2006100042512A Active CN100433360C (zh) 2005-02-14 2006-02-13 电光装置

Country Status (5)

Country Link
US (2) US7994810B2 (zh)
JP (1) JP4345743B2 (zh)
KR (1) KR100751848B1 (zh)
CN (1) CN100433360C (zh)
TW (1) TWI327446B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117612465A (zh) * 2024-01-22 2024-02-27 南京国兆光电科技有限公司 一种显示亮点缺陷的修复电路

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4345743B2 (ja) * 2005-02-14 2009-10-14 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置
JP2009123618A (ja) * 2007-11-16 2009-06-04 Toppan Printing Co Ltd 有機ｅｌ表示装置及びその製造方法
JP5428299B2 (ja) * 2008-03-18 2014-02-26 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置及び電子機器
KR100924142B1 (ko) * 2008-04-01 2009-10-28 삼성모바일디스플레이주식회사 평판표시장치, 이의 에이징 방법 및 점등 테스트 방법
JP2009288276A (ja) * 2008-05-27 2009-12-10 Seiko Epson Corp 実装構造体、電気光学装置および電子機器
US8358256B2 (en) * 2008-11-17 2013-01-22 Global Oled Technology Llc Compensated drive signal for electroluminescent display
US8436635B2 (en) * 2009-09-01 2013-05-07 Texas Instruments Incorporated Semiconductor wafer having test modules including pin matrix selectable test devices
US9805641B2 (en) 2009-09-04 2017-10-31 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and electronic device including the same
JP5687117B2 (ja) * 2011-04-12 2015-03-18 パナソニック株式会社 アクティブマトリクス基板、アクティブマトリクス基板の検査方法、表示パネル、および表示パネルの製造方法
KR102059943B1 (ko) * 2013-10-16 2019-12-30 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치
JP6302683B2 (ja) * 2014-01-29 2018-03-28 パイオニア株式会社 発光装置
CN109166504B (zh) * 2018-10-17 2021-10-01 惠科股份有限公司 测试电路及显示装置
KR20210014263A (ko) 2019-07-29 2021-02-09 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR20210083804A (ko) 2019-12-27 2021-07-07 엘지디스플레이 주식회사 투명 표시 장치
KR20210085135A (ko) * 2019-12-30 2021-07-08 엘지디스플레이 주식회사 투명 표시 장치
CN112310317B (zh) * 2020-10-30 2024-03-15 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板测试用组件及其制备方法

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01130132A (ja) 1987-11-16 1989-05-23 Seiko Epson Corp アクティブマトリクス基板
JPH07248479A (ja) 1994-03-08 1995-09-26 Casio Comput Co Ltd 液晶表示装置検査方法およびその装置
JP3783693B2 (ja) * 1995-02-01 2006-06-07 セイコーエプソン株式会社 液晶表示装置及び液晶表示装置の検査方法
JP4147594B2 (ja) 1997-01-29 2008-09-10 セイコーエプソン株式会社 アクティブマトリクス基板、液晶表示装置および電子機器
JPH10260391A (ja) * 1997-03-19 1998-09-29 Fujitsu Ltd 検査回路を有する液晶表示装置
WO1999023530A1 (fr) * 1997-10-31 1999-05-14 Seiko Epson Corporation Dispositif electro-optique et appareil electronique
JP2001265248A (ja) 2000-03-14 2001-09-28 Internatl Business Mach Corp <Ibm> アクティブ・マトリックス表示装置、及び、その検査方法
JP3797174B2 (ja) * 2000-09-29 2006-07-12 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置及びその駆動方法、並びに電子機器
TW591971B (en) * 2001-12-11 2004-06-11 Seiko Epson Corp Display apparatus and electronic machine
JP3901127B2 (ja) * 2002-06-07 2007-04-04 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置及び電子機器
JP2004192925A (ja) 2002-12-10 2004-07-08 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 有機ｅｌ表示パネル及びその検査方法
JP2004200034A (ja) * 2002-12-19 2004-07-15 Seiko Epson Corp 電気光学装置及びその製造方法並びに電子機器
JP3783707B2 (ja) * 2003-03-19 2006-06-07 セイコーエプソン株式会社 検査素子付基板並びに電気光学装置用基板及び電気光学装置及び電子機器
JP2003307739A (ja) 2003-03-24 2003-10-31 Seiko Epson Corp 液晶装置
JP4138672B2 (ja) 2003-03-27 2008-08-27 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置の製造方法
JP3603902B2 (ja) 2003-09-16 2004-12-22 セイコーエプソン株式会社 液晶装置
JP3994994B2 (ja) * 2003-10-23 2007-10-24 セイコーエプソン株式会社 有機ｅｌ装置の製造方法、有機ｅｌ装置、電子機器
KR100828294B1 (ko) * 2004-04-29 2008-05-07 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치용 기판 및 이를 이용한 액정표시장치 제조방법
JP4345743B2 (ja) * 2005-02-14 2009-10-14 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置
JP4876415B2 (ja) * 2005-03-29 2012-02-15 セイコーエプソン株式会社 有機ｅｌ装置の製造方法、デバイスの製造方法
JP5024110B2 (ja) * 2008-02-22 2012-09-12 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置及び電子機器

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117612465A (zh) * 2024-01-22 2024-02-27 南京国兆光电科技有限公司 一种显示亮点缺陷的修复电路
CN117612465B (zh) * 2024-01-22 2024-05-21 南京国兆光电科技有限公司 一种显示亮点缺陷的修复电路

Also Published As

Publication number Publication date
CN100433360C (zh) 2008-11-12
US7994810B2 (en) 2011-08-09
US8324916B2 (en) 2012-12-04
JP2006251774A (ja) 2006-09-21
TWI327446B (en) 2010-07-11
KR20060091236A (ko) 2006-08-18
KR100751848B1 (ko) 2007-08-23
JP4345743B2 (ja) 2009-10-14
TW200633573A (en) 2006-09-16
US20110254555A1 (en) 2011-10-20
US20060195736A1 (en) 2006-08-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1825619A (zh) 电光装置
CN2621383Y (zh) 发光装置和电子仪器
TWI313568B (zh)
CN1147134C (zh) 显示装置兼容型图象传感器装置
CN101030354B (zh) 有机el显示装置
CN1750720A (zh) 有机电致发光器件及其制造方法
CN1892322A (zh) 显示基板、显示装置、及其方法
EP3128505A1 (en) Mounting substrate and electronic device
CN1388505A (zh) 显示器中的扫描结构,驱动显示器的方法,及其制造方法
CN1503921A (zh) 液晶显示器
CN1773357A (zh) 改善了与测试线的连接的薄膜晶体管阵列面板
CN1769989A (zh) 液晶显示器及其驱动装置
CN1892364A (zh) 发光二极管模块、背光组件和显示装置
US20210028156A1 (en) Display module having led packages and manufacturing method thereof
US10529701B2 (en) MicroLED display panel
CN101080134A (zh) 用于平板显示器的印刷电路板、具有所述印刷电路板的平板显示器及其方法
CN1826029A (zh) 显示面板、显示装置、及移动体的显示模块
CN1886012A (zh) 自发光面板
CN1886015A (zh) 使用有机电致发光元件的发光器件
CN1841720A (zh) 用于封装驱动集成电路的显示器件的基板
CN1822077A (zh) 移动体的显示模块、其所使用的面板单元及图像控制单元
CN1844980A (zh) 显示屏板、具有该显示屏板的显示装置,及其制造方法
CN101055888A (zh) 有机el显示装置
CN1901285A (zh) 连接器、液晶显示装置及使用连接器的连接方法
CN1734542A (zh) 有机发光显示装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
ASS Succession or assignment of patent right

Owner name: ZHIJI SHIDUN TECHNOLOGY CO., LTD.

Free format text: FORMER OWNER: SEIKO EPSON CORP.

Effective date: 20130910

C41 Transfer of patent application or patent right or utility model
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20130910

Address after: Delaware, Newcastle, USA

Patentee after: Seiko Epson Corp.

Address before: Tokyo, Japan

Patentee before: Seiko Epson Corp.