CN117612465A - 一种显示亮点缺陷的修复电路 - Google Patents
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Abstract
一种显示亮点缺陷的修复电路，包括行寻址电路、列寻址电路和像素电路。本发明提出的一种显示亮点缺陷的修复电路可以根据显示亮点缺陷所在行/列的坐标，通过行、列寻址电路，配合像素电路，关断异常像素中漏电的驱动管的电源，从而修复显示亮点缺陷。当像素中互为备份的两个驱动管中的一个被关断电源，该像素仍能正常显示。当像素中互为备份的两个驱动管都被关断电源，该显示亮点缺陷则被修复为暗点。
Description
技术领域
本发明涉及微电子及显示的技术领域，具体涉及一种显示亮点缺陷的修复电路。
背景技术
硅基OLED（Organic Light Emitting Diode）微显示器是一种基于硅晶片的显示器技术，它结合了有机发光二极管（OLED）的优异特性和硅基集成电路（IC）的制造技术。硅基OLED微显示器具有高分辨率、高对比度、低功耗、快速响应和小尺寸等优势，是广泛应用于可穿戴设备、便携式娱乐设备、头戴式显示器、无人机、夜视仪等领域的重要技术。
但是由于驱动芯片存在制造良率限制，像素电路中的驱动管有一定概率出现漏电较大的情况，从而导致硅基OLED微显示器出现显示亮点缺陷。一旦出现该问题，如不能修复，整台硅基OLED微显示器都将报废，严重影响产品良率。
正常显示下，显示暗点的影响比亮点的影响小得多。目前业内普遍采用激光修复的方法对亮点缺陷进行修复，将亮点变为暗点。但该方法需要昂贵的激光修复设备，修复效率低，而且存在修复失败的可能。
如何以低成本快速高效地修复显示亮点缺陷成为一个亟待解决的问题。
发明内容
本发明提出一种显示亮点缺陷的修复电路，可以根据显示亮点缺陷所在行/列的坐标，通过行、列寻址电路，配合像素电路，关断异常像素中漏电的驱动管的电源，从而修复显示亮点缺陷。
为实现上述技术目的，本发明采用以下技术方案：
一种显示亮点缺陷的修复电路，包括分别与行寻址电路、列寻址电路连接的像素电路，还包括与像素电路连接的列电源开关；所述列电源开关用于控制每一列的列电源线是否连接到电源；当锁存器输出信号为0时，列电源开关打开，对应的列电源线连接到电源；当锁存器输出信号为1时，列电源开关关断，对应的列电源线断开与电源的连接。
优选的是，本发明的像素电路包括第一驱动管MN1、第二驱动管MN2、第五开关管MN5、第一开关管MP1、第二开关管MP2、第三开关管MP3、第四开关管MP4和电容器CST，第五开关管MN5的漏极接数据信号VDATA，栅极接行扫描信号SEL，源极与电容器CST的上极板以及第一驱动管MN1、第二驱动管MN2的栅极相连；第一驱动管MN1的漏极与第一开关管MP1、第二开关管MP2的漏极相连；第二驱动管MN2的漏极与第三开关管MP3、第四开关管MP4的漏极相连；第一驱动管MN1、第二驱动管MN2的源极相连，并连接到OLED发光器件的阳极；第一开关管MP1、第二开关管MP2、第三开关管MP3、第四开关管MP4的源极连接到像素电源VDD，第一开关管MP1、第三开关管MP3的栅极相连，由行寻址电路控制；第二开关管MP2、第四开关管MP4的栅极由列寻址电路控制；电容器CST的上极板与第一驱动管MN1、第二驱动管MN2的栅极相连，电容器CST的下极板接地。
优选的是，本发明的行寻址电路和列寻址电路的结构相同，包括：D触发器、计数器、数字比较器0、数字比较器1~M、与非门、RS触发器、移位寄存器、锁存器，D触发器的Q端与计数器的输入端连接，计数器的输出端分别与数字比较器的输入端连接，数字比较器0的输出端连接RS触发器的输入端，数字比较器1~M的输出端均与与非门的输入端连接，与非门的输出信号Y连接到移位寄存器的输入端，移位寄存器的输出信号Q<0>~Q<N-1>输入到锁存器。
优选的是，本发明的D触发器利用时钟信号CLK对外部输入的使能信号EN采样后，产生使能信号EN1。
优选的是，本发明计数器的输入信号为使能信号EN1、时钟信号CLK、RS触发器的输出信号CTR，输出计数信号CNT连接到所有数字比较器；在使能EN1为0时，计数信号CNT为0；当使能EN1为1，且RS触发器的输出信号CTR为1时，计数器在时钟信号CLK的作用下开始计数；当使能EN1为1，且RS触发器的输出信号CTR为0时，计数器停止计数，计数信号CNT保持当前状态。
优选的是，本发明数字比较器0的输入信号为使能信号EN1、计数信号CNT、预设值N，输出信号连接到RS触发器；在使能EN1为0时，数字比较器0的输出为1；当使能EN1为1时，数字比较器0比较预设值N与计数信号，当计数信号不等于预设值N时，输出信号为1；当计数信号等于预设值N时，输出信号为0；如果数字比较器0用于行寻址电路，则预设值N为总行数；如果数字比较器0用于列寻址电路，则预设值N为总列数的2倍。
优选的是，本发明数字比较器1~M的输入信号为使能信号EN1、计数信号CNT、地址信号ADDR_1~ADDR_M，输出信号连接到与非门的输入端，其中1≤M≤N，N为预设值；在使能EN1为0时，数字比较器1~M的输出为1；当使能EN1为1时，数字比较器1~M比较地址信号与计数信号，当计数信号不等于地址信号时，输出信号为1；当计数信号等于地址信号时，输出信号为0；地址信号ADDR根据显示亮点缺陷的所在行/列的坐标计算得到。
优选的是，本发明移位寄存器的输入信号为使能信号EN1、与非门的输出信号Y、时钟信号的反信号CLK_和RS触发器的输出信号CTR，输出信号Q<0>~Q<N-1>输入到锁存器，N为预设值；当使能信号EN1为0时，移位寄存器的输出信号Q<0>~Q<N-1>都为0；当使能EN1为1，且RS触发器的输出信号CTR为1时，移位寄存器在在时钟信号的反信号CLK_的作用下将接收到的与非门的输出信号Y往后移位；当使能EN1为1，RS触发器的输出信号CTR为0时，移位寄存器停止移位，输出信号Q<0>~Q<N-1>保持当前状态，N为预设值。
优选的是，本发明的RS触发器包括第一与非门NAND1和第二与非门NAND2，第一与非门NAND1的一个输入端接行使能信号EN1，另一个输入端接第二与非门NAND2的输出；第二与非门NAND2的一个输入端接数字比较器0的输出信号，另一个输入端接第一与非门NAND1的输出；第一与非门NAND1的输出信号为RS触发器的输出信号CTR。
优选的是，本发明锁存器的输入信号为RS触发器的输出信号CTR和移位寄存器的输出信号Q<0>~Q<N-1>，输出信号为S<0>~S<N-1>；当CTR信号为1时，输出信号都为0；当CTR信号为0时，锁存器将移位寄存器的输出信号Q<0>~Q<N-1>保存到输出信号S<0>~S<N-1>；对于行寻址电路，锁存器输出信号S<0>~S<N-1>连接到像素电路中第一开关管MP1和第三开关管MP3的栅极；对于列寻址电路，锁存器输出信号S<0>~S<N-1>分别连接到像素电路中第二开关管MP2、第四开关管MP4的栅极，N为预设值。
本发明提出的一种显示亮点缺陷的修复电路可以根据显示亮点缺陷所在行/列的坐标，通过行、列寻址电路，配合像素电路，关断异常像素中漏电的驱动管的电源，从而修复显示亮点缺陷。当像素中互为备份的两个驱动管中的一个被关断电源，该像素仍能正常显示。当像素中互为备份的两个驱动管都被关断电源，该显示亮点缺陷则被修复为暗点。
附图说明
图1是本发明的显示亮点缺陷的修复电路的原理图；
图2是本发明的显示亮点缺陷的修复电路的像素电路原理图；
图3是本发明的显示亮点缺陷的修复电路的寻址电路原理图；
图4是本发明的寻址电路的信号时序图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明进行详细说明。
如图1所示，一种显示亮点缺陷的修复电路，包括行寻址电路、列寻址电路和像素电路。
如图2所示，本发明的像素电路包括第一驱动管MN1、第二驱动管MN2、第五开关管MN5、第一开关管MP1、第二开关管MP2、第三开关管MP3、第四开关管MP4和电容器CST，第五开关管MN5的漏极接数据信号VDATA，栅极接行扫描信号SEL，源极与电容器CST的上极板以及第一驱动管MN1、第二驱动管MN2的栅极相连；第一驱动管MN1的漏极与第一开关管MP1、第二开关管MP2的漏极相连；第二驱动管MN2的漏极与第三开关管MP3、第四开关管MP4的漏极相连；第一驱动管MN1、第二驱动管MN2的源极相连，并连接到OLED发光器件的阳极；第一开关管MP1、第二开关管MP2、第三开关管MP3、第四开关管MP4的源极连接到像素电源VDD，第一开关管MP1、第三开关管MP3的栅极相连，由行寻址电路控制；第二开关管MP2、第四开关管MP4的栅极由列寻址电路控制；电容器CST的上极板与第一驱动管MN1、第二驱动管MN2的栅极相连，电容器CST的下极板接地。
如图3所示，本发明的行寻址电路和列寻址电路的结构相同，包括：D触发器、计数器、数字比较器0、数字比较器1~M、与非门、RS触发器、移位寄存器、锁存器，D触发器的Q端与计数器的输入端连接，计数器的输出端分别与数字比较器的输入端连接，数字比较器0的输出端连接RS触发器的输入端，数字比较器1~M的输出端均与与非门的输入端连接，与非门的输出信号Y连接到移位寄存器的输入端，移位寄存器的输出信号Q<0>~Q<N-1>输入到锁存器。
如图3所示，本发明的D触发器利用时钟信号CLK对外部输入的使能信号EN采样后，产生使能信号EN1。
如图3所示，本发明计数器的输入信号为使能信号EN1、时钟信号CLK、RS触发器的输出信号CTR，输出计数信号CNT连接到所有数字比较器；在使能EN1为0时，计数信号CNT为0；当使能EN1为1，且RS触发器的输出信号CTR为1时，计数器在时钟信号CLK的作用下开始计数；当使能EN1为1，且RS触发器的输出信号CTR为0时，计数器停止计数，计数信号CNT保持当前状态。
如图3所示，本发明数字比较器0的输入信号为使能信号EN1、计数信号CNT、预设值N，输出信号连接到RS触发器；在使能EN1为0时，数字比较器0的输出为1；当使能EN1为1时，数字比较器0比较预设值N与计数信号，当计数信号不等于预设值N时，输出信号为1；当计数信号等于预设值N时，输出信号为0；如果数字比较器0用于行寻址电路，则预设值N为总行数；如果数字比较器0用于列寻址电路，则预设值N为总列数的2倍。
如图3所示，本发明数字比较器1~M的输入信号为使能信号EN1、计数信号CNT、地址信号ADDR_1~ADDR_M，输出信号连接到与非门的输入端，其中1≤M≤N，N为预设值；在使能EN1为0时，数字比较器1~M的输出为1；当使能EN1为1时，数字比较器1~M比较地址信号与计数信号，当计数信号不等于地址信号时，输出信号为1；当计数信号等于地址信号时，输出信号为0；地址信号ADDR根据显示亮点缺陷的所在行/列的坐标计算得到。
如图3所示，本发明移位寄存器的输入信号为使能信号EN1、与非门的输出信号Y、时钟信号的反信号CLK_和RS触发器的输出信号CTR，输出信号Q<0>~Q<N-1>输入到锁存器，N为预设值；当使能信号EN1为0时，移位寄存器的输出信号Q<0>~Q<N-1>都为0；当使能EN1为1，且RS触发器的输出信号CTR为1时，移位寄存器在在时钟信号的反信号CLK_的作用下将接收到的与非门的输出信号Y往后移位；当使能EN1为1，RS触发器的输出信号CTR为0时，移位寄存器停止移位，输出信号Q<0>~Q<N-1>保持当前状态，N为预设值。
如图3所示，本发明的RS触发器包括第一与非门NAND1和第二与非门NAND2，第一与非门NAND1的一个输入端接行使能信号EN1，另一个输入端接第二与非门NAND2的输出；第二与非门NAND2的一个输入端接数字比较器0的输出信号，另一个输入端接第一与非门NAND1的输出；第一与非门NAND1的输出信号为RS触发器的输出信号CTR。
如图3所示，本发明锁存器的输入信号为RS触发器的输出信号CTR和移位寄存器的输出信号Q<0>~Q<N-1>，输出信号为S<0>~S<N-1>；当CTR信号为1时，输出信号都为0；当CTR信号为0时，锁存器将移位寄存器的输出信号Q<0>~Q<N-1>保存到输出信号S<0>~S<N-1>；对于行寻址电路，锁存器输出信号S<0>~S<N-1>连接到像素电路中第一开关管MP1和第三开关管MP3的栅极；对于列寻址电路，锁存器输出信号S<0>~S<N-1>分别连接到像素电路中第二开关管MP2、第四开关管MP4的栅极，N为预设值。
图1是本发明的显示亮点缺陷的修复电路的原理图。行寻址电路输出行寻址信号H_S<0>~H_S<N-1>，控制每一行像素的A点电位。如果某一行像素存在显示亮点缺陷，则该行的行寻址信号为高电平，该行所有像素电路中的第一开关管MP1、第三开关管MP3被关断。列寻址电路输出列寻址信号COL_S<0>~COL_S<N-1>，控制像素电路中的第二开关管MP2、第四开关管MP4是否打开。如果某个像素中的驱动管漏电较大引起显示亮点缺陷，则对应的列寻址信号为高电平，关断对应的第二开关管MP2或第四开关管MP4。
当像素中驱动管对应的行寻址信号和列寻址信号都为1时，该驱动管被关断电源。该驱动管所在行的其它驱动管，因为第二开关管MP2或第四开关管MP4导通，所以仍正常工作。该驱动管所在列的其它驱动管，因为第一开关管MP1或第三开关管MP3导通，所以仍正常工作。
图2是本发明的显示亮点缺陷的修复电路的像素电路原理图。图中第一驱动管MN1和第二驱动管MN2为互为备份的两个驱动管。第一开关管MP1导通，或者第二开关管MP2导通，都能给第一驱动管MN1提供电源，使其正常工作。当第一开关管MP1、第二开关管MP2都被关断，则第一驱动管MN1电源被关断。同样，当第三开关管MP3、第四开关管MP4都被关断，则第二驱动管MN2电源被关断。
如果像素电路中第一驱动管MN1是引起显示亮点缺陷的漏电较大的异常MOS管，则行寻址电路将A点电压置1，关断第一开关管MP1，并且列寻址电路将B点电压置1，关断第二开关管MP2，则第一驱动管MN1电源被关断，相应的漏电流也消失。此时，第二驱动管MN2上方的第三开关管MP3也因A点电压置1而关断，但第四开关管MP4仍导通，所以驱动管MN2仍能正常工作。OLED阳极电压等于数据电平VDATA与驱动管阈值电压VTH的差值。由于第一驱动管MN1与第二驱动管MN2尺寸相同，阈值电压也相同，所以尽管只有第二驱动管MN2正常工作，OLED阳极电压也不会出现大幅改变，像素仍能正常工作。
如果像素电路中第一驱动管MN1、第二驱动管MN2都是漏电较大的异常MOS管，则行寻址电路将A点电压置1，关断第一开关管MP1、第三开关管MP3，并且列寻址电路将B、C两点电压都置1，关断第二开关管MP2、第四开关管MP4，则第一驱动管MN1、第二驱动管MN2电源都被关断，对应的显示亮点缺陷被修复为暗点。
图3是本发明的显示亮点缺陷的修复电路的寻址电路原理图。行寻址电路和列寻址电路的结构相同，包括：D触发器、计数器、数字比较器0、数字比较器1~M、与非门、移位寄存器、RS触发器和锁存器。
D触发器利用时钟信号CLK对外部输入的使能信号EN采样后，产生使能信号EN1。从而令使能信号EN1与时钟信号CLK具有固定的相位关系，以保证移位寄存器的输出不会错位。
计数器在使能EN1为0时，计数信号CNT为0。当使能EN1为1，且RS触发器的输出信号CTR为1时，计数器在时钟信号CLK的作用下开始计数。当使能EN1为1，且RS触发器的输出信号CTR为0时，计数器停止计数，计数信号CNT保持当前状态。
数字比较器0在使能EN1为0时，数字比较器0的输出为1。当使能EN1为1时，数字比较器0比较预设值N与计数信号，当计数信号不等于预设值N时，输出信号为1。当计数信号等于预设值N时，输出信号为0。如果数字比较器0用于行寻址电路，则预设值N为总行数。如果数字比较器0用于列寻址电路，则预设值N为总列数的2倍。
数字比较器1~M在使能EN1为0时，数字比较器1~M的输出为1。当使能EN1为1时，数字比较器1~M比较地址信号与计数信号，当计数信号不等于地址信号时，输出信号为1。当计数信号等于地址信号时，输出信号为0。地址信号ADDR根据显示亮点缺陷的所在行/列的坐标计算得到。例如，第K行存在亮点缺陷，则ADDR=总行数-K。第K条列电源线对应的像素驱动管存在漏电，则ADDR=总列数×2-K。数字比较器1~M的数量决定最大可修复亮点的数量，可根据实际需要进行配置。
与非门的输入端连接数字比较器1~M的输出信号，与非门的输出信号Y连接到移位寄存器的输入端。
移位寄存器当使能信号EN1为0时，移位寄存器的输出信号Q<0>~Q<N-1>都为0。当使能EN1为1，且RS触发器的输出信号CTR为1时，移位寄存器在在时钟信号的反信号CLK_的作用下将接收到的与非门的输出信号Y往后移位。当使能EN1为1，RS触发器的输出信号CTR为0时，移位寄存器停止移位，输出信号Q<0>~Q<N-1>保持当前状态。
RS触发器为基于与非门的RS触发器。当使能信号EN1为0时，RS触发器输出为1。当使能信号EN1为1，数字比较器输出信号为1时，RS触发器保持前一刻的输出状态不变。当使能信号EN1为1，数字比较器输出信号为0时，RS触发器输出为0。
锁存器在CTR信号为1时，输出信号都为0。当CTR信号为0时，锁存器将移位寄存器的输出信号Q<0>~Q<N-1>保存到输出信号S<0>~S<N-1>。对于行寻址电路，锁存器输出信号S<0>~S<N-1>连接到像素电路中开关管MP1的栅极。对于列寻址电路，锁存器输出信号S<0>~S<N-1>用于控制列电源开关T0~TN-1。
图4是本发明的寻址电路的信号时序图。图中假设需要关断电源的像素在第K1条线和第K2条线（K1<K2），则寻址电路需要将S<K1-1>和S<K2-1>置1。则设置地址信号ADDR_1=N-K1，ADDR_2=N-K2，分别输入到数字比较器1和数字比较器2。
起始阶段，外部输入的使能信号EN为0，使能信号EN1也为0，数字比较器0为1，RS触发器输出信号CTR为1。外部输入的使能信号EN由0变为1后，经时钟信号采样后，产生使能信号EN1。此时计数信号小于预设值，数字比较器0输出信号为1，RS触发器输出信号CTR保持为1。此时，计数器在时钟信号CLK的作用下从0开始计数，移位寄存器在时钟信号反信号CLK_的作用下开始移位。
当计数信号达到N-K2时，数字比较器2输出信号由1变为0，与非门输出信号Y变为1。当计数信号达到N-K1时，数字比较器1输出信号由1变为0，与非门输出信号Y变为1。移位寄存器利用时钟信号反信号CLK_对Y信号进行采样。可得Y信号以及移位寄存器的输出信号Q<0>、Q<K1-1>、Q<K2-1>的波形如图4中所示。
当计数信号达到预设值N时，数字比较器0输出信号由1变为0，RS触发器输出信号CTR也由1变为0。于是，计数器停止计数，保持当前状态；移位寄存器停止移位，也保持当前状态；锁存器将移位寄存器的输出信号Q<0>~Q<N-1>保存到输出信号S<0>~S<N-1>。此时，除S<K1-1>和S<K2-1>为1，锁存器其余输出信号都为0，从而达到将S<K1-1>和S<K2-1>置1的目的。
本发明的显示亮点缺陷的修复电路通过行、列寻址电路，配合像素电路，可以根据显示亮点缺陷的位置，关断异常像素中漏电的驱动管的电源，从而修复显示亮点缺陷。当像素中互为备份的两个驱动管中的一个被关断电源，该像素仍能正常显示。当像素中互为备份的两个驱动管都被关断电源，该显示亮点缺陷则被修复为暗点。
本发明未涉及部分与现有技术相同或可采用现有技术加以实现。
本发明的特点和内容已揭示如上，然而本领域的技术人员可能基于本发明的说明做出若干替换和修改。因此，本发明的保护范围应不局限于上述实施方案，而应包含基于本发明的变形和修改，并为权利要求书所涵盖。
Claims (10)
1.一种显示亮点缺陷的修复电路，其特征在于：包括分别与行寻址电路、列寻址电路连接的像素电路，还包括与像素电路连接的列电源开关；
所述列电源开关用于控制每一列的列电源线是否连接到电源；当锁存器输出信号为0时，列电源开关打开，对应的列电源线连接到电源；当锁存器输出信号为1时，列电源开关关断，对应的列电源线断开与电源的连接。
2.根据权利要求1所述的显示亮点缺陷的修复电路，其特征在于所述像素电路包括第一驱动管MN1、第二驱动管MN2、第五开关管MN5、第一开关管MP1、第二开关管MP2、第三开关管MP3、第四开关管MP4和电容器CST，第五开关管MN5的漏极接数据信号VDATA，栅极接行扫描信号SEL，源极与电容器CST的上极板以及第一驱动管MN1、第二驱动管MN2的栅极相连；第一驱动管MN1的漏极与第一开关管MP1、第二开关管MP2的漏极相连；第二驱动管MN2的漏极与第三开关管MP3、第四开关管MP4的漏极相连；第一驱动管MN1、第二驱动管MN2的源极相连，并连接到OLED发光器件的阳极；第一开关管MP1、第二开关管MP2、第三开关管MP3、第四开关管MP4的源极连接到像素电源VDD，第一开关管MP1、第三开关管MP3的栅极相连，由行寻址电路控制；第二开关管MP2、第四开关管MP4的栅极由列寻址电路控制；电容器CST的上极板与第一驱动管MN1、第二驱动管MN2的栅极相连，电容器CST的下极板接地。
3.根据权利要求1所述的显示亮点缺陷的修复电路，其特征在于所述行寻址电路和列寻址电路的结构相同，包括：D触发器、计数器、数字比较器0、数字比较器1~M、与非门、RS触发器、移位寄存器、锁存器，D触发器的Q端与计数器的输入端连接，计数器的输出端分别与数字比较器的输入端连接，数字比较器0的输出端连接RS触发器的输入端，数字比较器1~M的输出端均与与非门的输入端连接，与非门的输出信号Y连接到移位寄存器的输入端，移位寄存器的输出信号Q<0>~Q<N-1>输入到锁存器。
4.根据权利要求3所述的显示亮点缺陷的修复电路，其特征在于所述D触发器利用时钟信号CLK对外部输入的使能信号EN采样后，产生使能信号EN1。
5.根据权利要求3所述的显示亮点缺陷的修复电路，其特征在于所述计数器的输入信号为使能信号EN1、时钟信号CLK、RS触发器的输出信号CTR，输出计数信号CNT连接到所有数字比较器；在使能EN1为0时，计数信号CNT为0；当使能EN1为1，且RS触发器的输出信号CTR为1时，计数器在时钟信号CLK的作用下开始计数；当使能EN1为1，且RS触发器的输出信号CTR为0时，计数器停止计数，计数信号CNT保持当前状态。
6.根据权利要求3所述的显示亮点缺陷的修复电路，其特征在于所述数字比较器0的输入信号为使能信号EN1、计数信号CNT、预设值N，输出信号连接到RS触发器；在使能EN1为0时，数字比较器0的输出为1；当使能EN1为1时，数字比较器0比较预设值N与计数信号，当计数信号不等于预设值N时，输出信号为1；当计数信号等于预设值N时，输出信号为0；如果数字比较器0用于行寻址电路，则预设值N为总行数；如果数字比较器0用于列寻址电路，则预设值N为总列数的2倍。
7.根据权利要求3所述的显示亮点缺陷的修复电路，其特征在于所述数字比较器1~M的输入信号为使能信号EN1、计数信号CNT、地址信号ADDR_1~ADDR_M，输出信号连接到与非门的输入端，其中1≤M≤N，N为预设值；在使能EN1为0时，数字比较器1~M的输出为1；当使能EN1为1时，数字比较器1~M比较地址信号与计数信号，当计数信号不等于地址信号时，输出信号为1；当计数信号等于地址信号时，输出信号为0；地址信号ADDR根据显示亮点缺陷的所在行/列的坐标计算得到。
8.根据权利要求3所述的显示亮点缺陷的修复电路，其特征在于所述移位寄存器的输入信号为使能信号EN1、与非门的输出信号Y、时钟信号的反信号CLK_和RS触发器的输出信号CTR，输出信号Q<0>~Q<N-1>输入到锁存器；当使能信号EN1为0时，移位寄存器的输出信号Q<0>~Q<N-1>都为0；当使能EN1为1，且RS触发器的输出信号CTR为1时，移位寄存器在在时钟信号的反信号CLK_的作用下将接收到的与非门的输出信号Y往后移位；当使能EN1为1，RS触发器的输出信号CTR为0时，移位寄存器停止移位，输出信号Q<0>~Q<N-1>保持当前状态，N为预设值。
9.根据权利要求3所述的显示亮点缺陷的修复电路，其特征在于所述RS触发器包括第一与非门NAND1和第二与非门NAND2，第一与非门NAND1的一个输入端接行使能信号EN1，另一个输入端接第二与非门NAND2的输出；第二与非门NAND2的一个输入端接数字比较器0的输出信号，另一个输入端接第一与非门NAND1的输出；第一与非门NAND1的输出信号为RS触发器的输出信号CTR。
10.根据权利要求3所述的显示亮点缺陷的修复电路，其特征在于所述锁存器的输入信号为RS触发器的输出信号CTR和移位寄存器的输出信号Q<0>~Q<N-1>，输出信号为S<0>~S<N-1>；当CTR信号为1时，输出信号都为0；当CTR信号为0时，锁存器将移位寄存器的输出信号Q<0>~Q<N-1>保存到输出信号S<0>~S<N-1>；对于行寻址电路，锁存器输出信号S<0>~S<N-1>连接到像素电路中第一开关管MP1和第三开关管MP3的栅极；对于列寻址电路，锁存器输出信号S<0>~S<N-1>分别连接到像素电路中第二开关管MP2、第四开关管MP4的栅极，N为预设值。
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