CN1637411B - 目测检验显示基板的支承单元、检验方法和准备基板的方法 - Google Patents

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Abstract

公开了用于对诸如LCD装置的显示基板进行目测检验的支承单元，其通过将显示基板支承在单元区域之间的空区处，提高了检验的准确度。该支承单元包括：多个固定杆，被布置得彼此隔开并沿着第一方向；连接到固定杆的多个支承杆，该多个支承杆沿与第一方向相交叉的第二方向取向，并可沿第一方向移动；导杆，安装在所述多个支承杆中的至少一个上，该导杆沿第一方向取向并可沿第二方向移动；连接到导杆的第一和第二辅助支承杆，该辅助支承杆沿第二方向取向并可沿第一方向移动；以及多个支承装置，置于所述多个支承杆和辅助支承杆上。

Description

目测检验显示基板的支承单元、检验方法和准备基板的方法
技术领域
本发明总体上涉及用于显示基板的目测检验(visual inspection)的支承单元。更具体来说，本发明涉及可在目测检验中有效地支承具有各种尺寸单元区域的显示基板的支承单元。
背景技术
显示基板是指具有诸如玻璃的透明底板(base substrate)的显示器件。液晶显示(LCD)器件是典型显示器件的示例。
LCD器件包括：具有薄膜晶体管(TFT)的阵列基板，具有滤色器层的滤色器基板，以及置于阵列基板与滤色器基板之间的液晶层。LCD器件是通过多个工艺来形成的，这些工艺包括：阵列工艺，用于形成阵列基板；滤色器工艺，用于形成滤色器基板；单元(cell)工艺，用于将液晶层置于阵列基板与滤色器基板之间；以及模块(module)工艺，其包括将偏振器接合在阵列基板和滤色器基板的外侧的步骤。
在阵列工艺和滤色器工艺中通过淀积(或涂敷)、包括曝光和显影的光刻以及刻蚀过程形成薄膜图案。另外，单元工艺包括：在阵列基板和滤色器基板的每一个的内表面上形成配向层，对配向层进行摩擦，在阵列基板或滤色器基板上散布间隔物，接合阵列基板和滤色器基板，以及通过例如在阵列基板与滤色器基板之间注入液晶材料来插入液晶层。阵列基板、滤色器基板以及液晶层形成LCD板。而且，所述模块工艺包括一最终步骤，其中，通过检验来确定LCD板的制造质量，将偏振器接合到LCD板，将各种电路与LCD板集成起来，以及安装背光单元。
对LCD板的目测检验是在单元工艺之后并且在模块工艺之前执行的。通过目测检验工艺，可消除由于间隔物缺陷而发现的斑点或微粒。目测检验包括以下步骤：制备支承单元；将LCD板置于支承单元上；以及设置支承单元以支承LCD板。目测检验还包括以下步骤：将检验光照射到LCD板中，以及测量透射到LCD单元中的检验光的均匀性。具体来说，用于检验的LCD板可包括位于LCD板的外侧的偏振器。可以对独立的LCD板、或者对包括LCD板的显示基板执行目测检验。
图1是根据现有技术的用于目测检验显示基板的支承单元的示意立体图。该显示基板(未示出)包括诸如玻璃的透明底板。
在图1中，第一固定杆10和第二固定杆12被布置得相隔开来，并沿第一方向取向。多个支承杆14连接到第一固定杆10和第二固定杆12，并沿与第一方向相交的第二方向取向。该多个支承杆14可沿第一方向移动。另外，在所述多个支承杆14上安装有直接接触显示基板(未示出)的多个支承装置16、或目测检验的被检物体。
图2是示出图1中根据现有技术的用于支承多模型(multi-modeltype)显示基板的支承结构的示意平面图。多模型显示基板可被限定为其上布置有多个单元区域以提高空间效率的显示基板。
在图2中，显示基板20具有：多个第一单元22，具有第一有源区AA1；和多个第二单元24，具有比第一有源区AA1小的第二有源区AA2。第二单元24可被形成得减少多个第一单元22之间的空区(dummy region)DR。即，显示基板20包括第一单元22、第二单元24以及空区DR。
为在目测检验之前由支承单元18有效地支承显示基板20，应当将支承单元18的支承杆14移动得与显示基板20的空区DR相对应。
支承杆14或支承装置16对检验光的任何遮挡或阻挡都将降低目测检验的准确度。这通常发生在如图2的区域OP中所示支承杆14和支承装置16与第一单元22或第二单元24的有源区AA1和AA2相交叠的情况下。然而，由于根据现有技术的支承单元18的支承杆14按简单的直线运动来移动，所以诸如显示基板的第二有源区AA2的小尺寸有源区不可避免地与支承杆14的一部分相交叠。
因此，存在的问题是，由于检验光在支承杆14和支承装置16与有源区相交叠处被遮蔽，所以目测检验可能不准确。
发明内容
因此，本发明旨在提供一种用于显示基板的目测检验的支承单元，其基本上克服了由于现有技术的局限和缺点而导致的一个或更多个问题。
本发明的一个优点是提供了一种由于减少了检验过程中的遮光导致更准确的检验而具有改进质量的显示器件。
本发明的另一优点是提供了一种用于显示器件的目测检验的支承单元，其使得能够对显示器件的有源区进行更准确的检验。
本发明的附加特征和优点将在下面的说明中加以阐述，并且部分地根据所述说明即可显见，或者可以通过对本发明的实践来获知。通过文字说明及其权利要求以及附图中具体指出的结构，可以实现并获得本发明的目的和其它优点。
为实现这些和其它优点并根据本发明的目的，如所具体实现和广泛描述的，一种用于显示基板的支承单元包括：第一固定杆和第二固定杆，被布置得彼此隔开，并沿第一方向取向；多个支承杆，连接到第一固定杆和第二固定杆，该多个支承杆沿与第一方向相交叉的第二方向取向，并可沿第一方向移动；导杆，置于所述多个支承杆中的至少一个支承杆上，该导杆沿第一方向取向，并可沿第二方向移动；第一辅助支承杆和第二辅助支承杆，连接到导杆，该第一辅助支承杆和第二辅助支承杆沿第二方向取向，并可沿第一方向移动；以及多个支承装置，置于所述多个支承杆、第一辅助支承杆以及第二辅助支承杆上。
在本发明的另一方面中，提供了一种利用支承单元检验显示基板的方法，所述显示基板具有：具有第一有源区的多个第一单元、位于所述多个第一单元之间的至少一个第一空区、具有比第一有源区小的第二有源区的多个第二单元、位于第一单元与第二单元之间的第二空区、以及位于所述多个第二单元之间的多个第三空区，所述支承单元具有：支承杆、置于支承杆上的导杆、连接到导杆的第一辅助支承杆和第二辅助支承杆、以及置于支承杆以及第一辅助支承杆和第二辅助支承杆上的支承装置，所述方法包括以下步骤：将显示基板置于多个支承装置上，使支承杆对准所述至少一个第一空区中的一个空区，使导杆对准第二空区，以及使第一辅助支承杆和第二辅助支承杆对准所述多个第三空区中的两个空区。
在本发明的另一方面中，提供了一种将用于目测检验的显示基板布置在支承单元上的方法，所述显示基板具有：具有第一有源区的多个第一单元、位于所述多个第一单元之间的至少一个第一空区、具有比第一有源区小的第二有源区的多个第二单元、位于第一单元与第二单元之间的第二空区、以及位于所述多个第二单元之间的多个第三空区，所述支承单元具有：支承杆、置于支承杆上的导杆、连接到导杆的第一辅助支承杆和第二辅助支承杆、以及置于支承杆及第一辅助支承杆和第二辅助支承杆上的支承装置，所述方法包括以下步骤：将显示基板置于多个支承装置上，使支承杆对准所述至少一个第一空区中的一个空区，使导杆对准第二空区，以及使第一辅助支承杆和第二辅助支承杆对准所述多个第三空区中的两个空区。
应当明白，本发明的以上一般性描述和以下详细描述是示例性和说明性的，旨在提供对如权利要求所述的本发明的进一步说明。
附图说明
附图示出了本发明的实施例并与说明书一起用于阐述本发明的原理，其被包括以提供对本发明的进一步理解，并被并入且构成说明书的一部分。
图1是根据现有技术的用于目测检验显示基板的支承单元的示意立体图。
图2是示出支承多模型显示基板的根据现有技术的支承单元的示意平面图。
图3是根据本发明的用于目测检验多模型显示基板的支承单元的立体图。
图4是示出支承多模型显示基板的根据本发明的支承单元的平面图。
图5是示出支承多模型显示基板的根据本发明的支承单元的截面图。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，其示例示出在附图中。
图3、4及5示出了根据本发明的用于目测检验多模型显示基板200的支承单元128。图3是支承单元128的立体图，图4是示出支承有多模型显示基板200的支承单元128的平面图，而图5是示出支承有多模型显示基板200的支承单元128的截面图。
如图3中所示，第一固定杆110和第二固定杆112被布置得相隔开来，并沿第一方向取向。多个支承杆114连接到第一固定杆110和第二固定杆112，并沿与第一方向相交叉的第二方向取向。所述多个支承杆114中的每一个都可独立地沿第一方向移动。另外，导杆116安装在所述多个支承杆114中的至少一个上，并基本上沿第一方向取向。导杆116可沿第二方向移动。
第一辅助支承杆118和第二辅助支承杆120连接到导杆116，并沿第二方向取向。第一辅助支承杆118和第二辅助支承杆120可独立地沿第一方向移动一距离，该距离部分地因导杆116的长度而受限。而且，多个支承装置122安装在所述多个支承杆114以及第一辅助支承杆118和第二辅助支承杆120上。所述多个支承装置122可直接支承显示基板(未示出)。
如在区域EV中所示，其上具有导杆116的支承杆114具有槽124或滑动孔(sliding hole)，其充当用于接合槽124的导杆116的移动导槽(moving channel)。即，槽124沿第二方向取向，并且导杆116可以通过穿过槽124来沿该方向移动。另外，第一辅助支承杆118和第二辅助支承杆120中的每一个都可具有沿第二方向与导杆116的位置相对应的可变长度。第一辅助支承杆118和第二辅助支承杆120分别具有第一端部和第二端部。第一辅助支承杆118和第二辅助支承杆120的第一端部分别连接到导杆116，而第一辅助支承杆118和第二辅助支承杆120的第二端部分别连接到第二固定杆112。在一具体实施例中，如图3中所示，第一辅助支承杆118和第二辅助支承杆120具有可分离的结构，使得可由不同长度的基本上相似的支承杆来替换支承杆118和120。另选地，第一辅助支承杆118和第二辅助支承杆120中的每一个都可在它们各自的第二端部处由一支座(mount)来连接，该支座使得支承杆118和120可以相对于第二固定杆112沿第二方向平移。这种支座使得第一辅助支承杆118和第二辅助支承杆120可以沿第二方向根据导杆116的位置而改变长度。本领域的技术人员很容易认识到这种支座可有许多结构和变化，因此这些结构和变化落在本发明的范围之内。
而且，导杆116、以及第一辅助支承杆118和第二辅助支承杆120中的每一个都可以在导杆116具有形成在一侧的凹特征部(未示出)的位置处相连接，并且支承杆118和120具有形成在与导杆116相接合的端部上的互补的凸特征部(未示出)。所述凸特征部可呈键(tab)形，而所述凹特征部可呈凹槽形，其中，如在区域EV中所示，位于支承杆118和120中的每一个的所述端部处的键部可与导杆116中的槽相接合。根据这种布置，支承杆118和120可以独立地相对于导杆116沿第一方向平移。本领域的普通技术人员应该清楚这种特征部可有许多变化，因此这些变化落在本发明的范围之内。
在一具体实施例中，所述多个支承装置122中的每一个都具有可分离的结构。每个支承杆114以及第一辅助支承杆118和第二辅助支承杆120中的每一个都具有插入孔(未示出)，支承装置122在该插入孔处连接到每个支承杆114以及第一辅助支承杆118和第二辅助支承杆120中的每一个。另外，连接装置126位于每个支承装置122与所述插入孔之间，并可与所述插入孔分开。第一固定杆110和第二固定杆112、支承杆114、导杆116、第一辅助支承杆118和第二辅助支承杆120以及支承装置122组合起来形成支承单元128。
下面参照图4和5阐述根据本发明在LCD单元工艺中用于多模型显示基板(如LCD板)的支承单元128的示例性设置工艺。
在图4和5中，显示基板200包括：多个第一单元202，在第一行和第二行中具有第一有源区AA1；多个第二单元204，具有比第一有源区AA1小的第二有源区AA2，并位于第三区域；以及空区DR，限定在第一单元202与第二单元204之间。
为支承显示基板200，备有支承单元128。接着，将显示基板200置于支承单元128上。移动所述多个支承杆114和导杆116，以使它们对准所述多个第一单元202之间的空区DR的一部分。然后，移动第一辅助支承杆118和第二辅助支承杆120，以使它们对准所述多个第二单元204之间的空区DR的一部分。此时，如果由于需要对导杆116进行移位以对准所述空区而改变了导杆116与第一固定杆110之间的距离，那么可利用其它具有与所需距离相对应的长度的辅助支承杆来与第一辅助支承杆118和第二辅助支承杆120互换。
在检验显示基板200的步骤之前可将与有源区AA1和AA2交叠的支承装置122与支承单元128分开。这样分开后，其余的支承装置122位于与空区DR相对应的位置处。因此，可将支承装置122定位得使它们可以只接触空区DR。因此，可减少由支承杆114引起的对检验光的遮蔽。
如果任何一个支承杆114和/或第一辅助支承杆118和第二辅助支承杆120中的任何一个由于有源区AA1和AA2的对准结构而与较小有源区的一部分交叠，那么可从相应的支承杆移除与有源区AA1和AA2相交叠的支承装置122。
这样，就在显示基板200与辅助支承杆118(或120)之间或在显示基板200与支承杆114之间限定了间隔部分IP。由于存在间隔部分IP，所以可将检验光部分地照射到显示基板200上。结果，可以提高目测检验的准确度。
尽管未示出，但是目测检验工艺可以包括将检验光照射到显示基板的背面并对显示基板进行目测检验的步骤，尽管可以与根据本发明的支承单元128一起使用其它检验方法(光学或其它方法)。
如上所述，当根据本发明的支承单元128被用于具有各种尺寸单元的显示基板时，其可以通过其支承杆在空区DR中支承该显示基板。因此，通过使对检验光的遮蔽最小化，可以提高生产质量。
本领域的技术人员应该清楚，在不脱离本发明的精神或范围的前提下，可对本发明进行各种变型和修改。因此，本发明将覆盖落入所附权利要求及其等同物的范围内的对本发明的变型和修改。
本发明要求2003年12月30日在韩国提交的韩国专利申请No.2003-100326的优先权，通过引用将其并入于此，如同在此对其进行全面阐述一样。

Claims (16)

1.一种用于显示基板的支承单元，包括：
第一固定杆和第二固定杆，被布置得彼此隔开，并沿第一方向取向；
多个支承杆，连接到第一固定杆和第二固定杆，该多个支承杆沿与第一方向相交叉的第二方向取向，并可沿第一方向移动；
导杆，置于所述多个支承杆中的至少一个支承杆上，该导杆沿第一方向取向，并可沿第二方向移动；
第一辅助支承杆和第二辅助支承杆，连接到导杆，该第一辅助支承杆和第二辅助支承杆沿第二方向取向，并可沿第一方向移动；以及
多个支承装置，置于所述多个支承杆、第一辅助支承杆以及第二辅助支承杆上。
2.如权利要求1所述的支承单元，其中，第一辅助支承杆和第二辅助支承杆分别具有第一端部和第二端部，第一辅助支承杆和第二辅助支承杆的第一端部连接到导杆，而第一辅助支承杆和第二辅助支承杆的第二端部连接到第一固定杆和第二固定杆中的一个。
3.如权利要求2所述的支承单元，其中，所述导杆包括槽。
4.如权利要求3所述的支承单元，其中，第一端部包括可与所述槽接合的键部。
5.如权利要求1所述的支承单元，其中，第一辅助支承杆和第二辅助支承杆具有与从导杆到第一固定杆和第二固定杆中的一个的距离相对应的长度。
6.如权利要求1所述的支承单元，其中，所述多个支承装置包括可分离的结构。
7.如权利要求6所述的支承单元，其中，所述支承杆以及第一辅助支承杆和第二辅助支承杆包括支承装置连接到的插入孔。
8.如权利要求7所述的支承单元，还包括位于所述多个支承装置中的每一个与插入孔之间的连接装置，该连接装置可与插入孔分开。
9.如权利要求1所述的支承单元，其中，其上具有导杆的所述多个支承杆中的至少一个包括槽。
10.如权利要求9所述的支承单元，其中，所述导杆与支承杆中的槽相接合。
11.如权利要求1所述的支承单元，其中，所述显示基板具有：多个第一单元，具有第一有源区；多个第二单元，具有比第一有源区小的第二有源区；以及空区，位于第一单元与第二单元之间。
12.一种利用支承单元检验显示基板的方法，
所述显示基板具有：多个第一单元，具有第一有源区；至少一个第一空区，位于所述多个第一单元之间；多个第二单元，具有比第一有源区小的第二有源区；第二空区，位于第一单元与第二单元之间；以及多个第三空区，位于所述多个第二单元之间，
所述支承单元具有：支承杆；置于支承杆上的导杆；连接到导杆的第一辅助支承杆和第二辅助支承杆；以及支承装置，置于支承杆以及第一辅助支承杆和第二辅助支承杆上，
所述方法包括以下步骤：
将显示基板置于多个支承装置上；
使支承杆对准所述至少一个第一空区中的一个空区；
使导杆对准第二空区；
使第一辅助支承杆和第二辅助支承杆对准所述多个第三空区中的两个空区；以及
对所述显示基板进行目测检验。
13.如权利要求12所述的方法，还包括以下步骤：移除所述多个支承装置中的与所述多个第二单元中的一个单元相交叠的支承装置。
14.如权利要求13所述的方法，还包括以下步骤：将检验光照射到显示基板上。
15.一种将用于目测检验的显示基板布置在支承单元上的方法，
所述显示基板具有：多个第一单元，具有第一有源区；至少一个第一空区，位于所述多个第一单元之间；多个第二单元，具有比第一有源区小的第二有源区；第二空区，位于第一单元与第二单元之间；以及多个第三空区，位于所述多个第二单元之间，
所述支承单元具有：支承杆；置于支承杆上的导杆；连接到导杆的第一辅助支承杆和第二辅助支承杆；以及支承装置，置于支承杆以及第一辅助支承杆和第二辅助支承杆上，
所述方法包括以下步骤：
将显示基板置于多个支承装置上；
使支承杆对准所述至少一个第一空区中的一个空区；
使导杆对准第二空区；以及
使第一辅助支承杆和第二辅助支承杆对准所述多个第三空区中的两个空区。
16.如权利要求15所述的方法，还包括以下步骤：移除所述多个支承装置中的与所述多个第二单元中的一个单元相交叠的支承装置。
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