CN116718887A - 一种具有多环境模拟功能的半导体晶闸管导电检测设备 - Google Patents

Abstract

本发明涉及晶闸管检测技术领域，具体为一种具有多环境模拟功能的半导体晶闸管导电检测设备，所述半导体晶闸管导电检测设备包括机身、上料输送带和下料输送带，所述上料输送带和下料输送带相对水平设置在机身的两端，本发明相比于目前的半导体晶闸管导电检测设备设置有分隔机构和模拟座，当分隔机构将密封箱内部环境与外界环境分隔开后，通过模拟座内部设置的模拟组件能够改变密封箱内的环境，例如将密封箱内的环境从室温环境变为真空环境、干燥环境、潮湿环境、高温环境和低温环境等，通过分隔机构和模拟组件的配合使得工作人员能够判断出半导体晶闸管在不同环境下的导电性能，以此方便后续对半导体晶闸管的参数进行标定。

Description

一种具有多环境模拟功能的半导体晶闸管导电检测设备

技术领域

本发明涉及晶闸管检测技术领域，具体为一种具有多环境模拟功能的半导体晶闸管导电检测设备。

背景技术

半导体晶闸管是晶体闸流管的简称，又被称做可控硅整流器，晶闸管具有很高的阻断能力,很高的稳定性,以及很强的绝缘能力和非常快的响应时间，晶闸管在电路中的主要作用是实现可控整流，为了保证晶闸管的质量，通常在生产结束之后需要对晶闸管进行导电性检测。

目前的晶闸管导电检测设备，通常采用万用表或者人工送料的方式对晶闸管进行导电性检测，例如专利“CN210294460U一种晶闸管检测装置(公开日2020.04.10)”、“CN213091804U一种半导体晶闸管性能测试装置(公开日2021.04.30)”，在实际工作过程中，上述的几种晶闸管导电检测设备基本上都具有以下几处不足：第一，无法模拟不同环境下半导体晶闸管的导电性能，进而使得工作人员难以对半导体晶闸管的参数进行标定；第二，目前的晶闸管导电检测设备在检测半导体晶闸管时，检测精度极易受到外界环境的影响，尤其是在遇到机身振动时，半导体晶闸管的引脚极易与检测器的夹持部位脱落，进而影响工作效率；第三，目前的晶闸管导电检测设备通常不具有空气净化功能，长时间工作结束后，检测部位容易出现灰尘堆积现象。

发明内容

本发明的目的在于提供一种具有多环境模拟功能的半导体晶闸管导电检测设备，以解决上述背景技术中提出的问题。

为了解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：一种具有多环境模拟功能的半导体晶闸管导电检测设备，所述半导体晶闸管导电检测设备包括机身、上料输送带和下料输送带，所述上料输送带和下料输送带相对水平设置在机身的两端，所述机身的内部设置有直线导轨、伸缩夹爪、密封箱和模拟座，所述直线导轨设置在密封箱的上方，所述模拟座设置在密封箱的下方，所述直线导轨上设置有伸缩夹爪，所述模拟座的内部设置有模拟组件，所述密封箱的内部设置有分隔机构和检测机构，所述模拟组件通过第一排气管和第二排气管与分隔机构相连接，通过所述分隔机构控制密封箱的密封性，通过所述检测机构检测半导体晶闸管的导电性。

检测机构为本发明的工作基础，通过上料输送带将半导体晶闸管连续不断的运输到机身内，通过伸缩夹爪将上料输送带上的半导体晶闸管夹取放置到检测机构上，通过检测机构检测半导体晶闸管的导电性，检测结束后，通过伸缩夹爪将检测完成的半导体晶闸管取出并移动到下料输送带上，通过下料输送带将半导体晶闸管输送到下一道工序，本发明设置有分隔机构和模拟座，分隔机构具有控温和净化功能，同时通过分隔机构能够根据需要控制密封箱的密封性，当分隔机构将密封箱内部环境与外界环境分隔开后，通过模拟座内部设置的模拟组件能够改变密封箱内的环境，例如将密封箱内的环境从室温环境变为真空环境、干燥环境、潮湿环境、高温环境和低温环境等，通过分隔机构和模拟组件的配合使得工作人员能够判断出半导体晶闸管在不同环境下的导电性能，以此方便后续对半导体晶闸管的参数进行标定。

进一步的，所述检测机构包括固定座和检测座，所述检测座通过减振弹簧活动安装在固定座的内部，所述检测座的下端设置有若干组感应线圈，所述固定座的内部下端设置有若干组磁块，所述检测座的内部设置有检测器和导电座，所述导电座的上方设置有定位孔，所述导电座与检测器相连接。

本发明中设置的感应线圈平时与外界的电流表相连接，当机身因为外界环境而发生振动时，感应线圈会切割磁感线而产生感应电流，通过电流表能够检测感应线圈上的感应电流大小，以此判断机身的振动幅度，进而方便工作人员及时停止检测半导体晶闸管，以避免误判现象的发生，另外，通过感应线圈产生的感应电流能够起到阻碍振动的目的，进而减少机身由振动到平稳所用的时间，最后，当工作人员需要模拟半导体晶闸管在振动环境下的导电性时，只需将感应线圈与外界电源相连接，然后按照一定的频率改变输入到感应线圈上的电流方向，便能使得感应线圈间隙性的靠近或者远离磁块，本发明中输入感应线圈上的电流方向具有改变频率根据工作人员的实际需要进行设定。

进一步的，所述导电座的内部设置有第一导电槽、第二导电槽和第三导电槽，所述第一导电槽、第二导电槽和第三导电槽的外侧均设置有两组相连通的凹槽，每组凹槽的内部均设置有一组导电片，所述检测座的内部还设置有第三气泵，所述第三气泵通过第一气槽、第二气槽和第三气槽向第一导电槽、第二导电槽和第三导电槽外侧设置的凹槽内输送气体，所述第一气槽、第二气槽和第三气槽上均设置有电动阀门。

本发明中的定位孔设置有三个，定位孔起到导向的作用，本发明主要检测三极晶闸管，同时在将半导体晶闸管放置到上料输送带上时，应确保半导体晶闸管的阴极、阳极和门极位置始终固定统一，以方便与检测器的正负极相配合，在检测时，通过伸缩夹爪将半导体晶闸管的三个引脚先分别插入三个定位孔内，然后再插入到第一导电槽、第二导电槽和第三导电槽内，接着根据需要开启第三气泵和相应的电动阀门，例如，在检测第一导电槽和第二导电槽内部的半导体晶闸管引脚导电性时，需开启第三气泵、第一气槽上的电动阀门和第二气槽上的电动阀门，此时第三气泵会向第一导电槽外侧的凹槽和第二导电槽外侧的凹槽内输送气体，在气压的作用下，第一导电槽外侧的两组导电片和第二导电槽外侧的两组导电片会发生弯曲并与半导体晶闸管引脚相接触，此时通过检测器即可判断出第一导电槽和第二导电槽内部的半导体晶闸管引脚导电性，同理，若需要检测第一导电槽和第三导电槽内部的半导体晶闸管引脚导电性时，只需开启第三气泵、第一气槽上的电动阀门和第三导电槽上的电动阀门，通过上述技术方案，一方面起到便于检测的目的，另一方面工作人员在模拟振动环境中半导体晶闸管的导电性时，通过提高第三气泵输送到导电座内的气体量能够夹紧半导体晶闸管，避免半导体晶闸管发生脱落现象。

进一步的，所述分隔机构包括第一支撑架、第二支撑架和启闭架，所述启闭架的中间位置处设置有通孔，所述启闭架内设置有活动板，所述活动板上设置有输料孔，所述第一支撑架内设置有传动室和变温室，所述传动室内设置有电机和转盘，所述变温室内设置有制冷片和制热片，所述第二支撑架内设置有循环室和第一净化槽，所述循环室内设置有活塞板和复位弹簧杆，所述第一净化槽内设置有净化板，所述活动板的一端与转盘相连接，所述活动板的另一端与活塞板相连接，所述模拟组件通过第一排气管和第二排气管分别与变温室和第一净化槽相连接。

当不需要模拟各种环境进行检测时，通过电机和转盘使得活动板向靠近第一支撑架的方向移动，直至输料孔与启闭架中间位置处的通孔相对齐，此时通过伸缩夹爪能够很轻易的将上料输送带上的半导体晶闸管放置到检测机构上，或者将检测机构上的半导体晶闸管取出放置到下料输送带上，当需要模拟不同环境下，半导体晶闸管的导电性能时，通过电机和转盘释放活动板，使得活动板向远离第一支撑架的方向移动，此时密封箱会与外界环境相隔开，通过模拟组件能够控制密封箱内的环境，如将密封箱内的气体排出，使得密封箱为真空环境，或者向密封箱内输送潮湿气体以及干燥气体，进而模拟真空环境、潮湿环境、干燥环境下半导体晶闸管的导电性，最后通过温室内设置的制冷片和制热片能够改变密封箱内的温度，以此检测不同温度下的半导体晶闸管的导电性。

进一步的，所述模拟组件包括第一空腔、第二空腔、第一气泵和第二气泵，所述第一气泵的进气端通过三通槽与第一空腔和第二空腔相连接，所述第一气泵的出气端通过第一排气管与变温室相连接，所述第二气泵的进气端第二排气管与第一净化槽相连接，所述第二气泵的出气端通过四通槽与第一空腔、第二空腔和外界环境相连接。

本发明中第一空腔和第二空腔内的气体均为经过处理的洁净气体，每次在改变密封箱内环境时，第二气泵均会先将密封箱内的气体吸出并排到外界环境中，接着第一气泵会根据工作人员的需要选择性的将第一空腔和第二空腔内的洁净气体输送到密封箱内，当工作结束之后，若密封箱内的气体为洁净的湿空气，则通过第二气泵将密封箱内气体输送到第二空腔内，若密封箱内的气体为洁净的干空气，则通过第二气泵将密封箱内气体输送到第一空腔内，通过上述技术方案，避免了外界空气质量影响最终的检测精度。

进一步的，所述活动板上还设置有密封孔，所述密封孔的内部设置有密封板，所述密封板通过感应弹簧杆活动安装在密封孔的内部，所述密封板的下方设置有两组导电块，其中一组所述导电块活动安装在感应弹簧杆的上端，另外一组所述导电块固定安装在感应弹簧杆的下端。

通过上述技术方案，第二气泵在将密封箱内的气体吸出并排到外界环境中时，密封箱内的压强会随着减小，此时外界大气压会对密封板施加一组向下的作用力，当两组导电块与外界电源和电流表相连接时，通过检测电流表上的电流变化能够判断出密封箱内的压强，避免密封箱内的压强过小而导致密封箱内的零部件损坏，同时，当第一气泵向密封箱内输送气体时，通过检测电流表上的电流变化能够判断第一气泵向密封箱内输送气体是否足够，以此保证模拟检测时的准确度。

进一步的，所述第二支撑架的内部还设置有第二净化槽和换向马达，所述净化板的一端设置在第一净化槽内，所述净化板的另一端设置在第二净化槽内，通过所述换向马达驱动净化板旋转。

本发明设置有净化板，模拟检测之前，第二气泵在将密封箱内的气体吸出并排到外界环境中时，通过净化板能够对该组气体进行净化，避免该组气体中的杂质沾附到第二气泵内部的叶片以及四通槽的内壁上，进而污染第一空腔和第二空腔内的气体，另外本发明每隔一段时间，换向马达便会驱动净化板旋转半周，进而使得净化板位于第一净化槽内的区域与净化板位于第二净化槽内的区域相交换，通过上述技术方案，避免净化板长时间使用后，净化板上堆积过多的杂质，以至于影响气体在第一净化槽内流通的效率。

进一步的，所述循环架的内部设置有出气室和进气室，所述第二支撑架的内部还设置有第一循环通道和第二循环通道，所述第二净化槽的一端通过第一循环通道和第一循环管与出气室相连接，所述第二净化槽的另一端通过第二循环通道与进气室相连接，所述循环室靠近循环架的一端设置有循环孔，所述循环孔通过第二循环管与进气室相连接，所述第一循环管和第二循环管上均设置有单向阀。

通过上述技术方案，半导体晶闸管在模拟环境中检测结束后，电机和转盘会驱动活动板向靠近第一支撑架的方向移动，以使得输料孔与启闭架中间位置处的通孔相对齐，进而方便伸缩夹爪将检测机构上的半导体晶闸管取走，本发明设置有活塞板，活动板在移动时，活塞板会随之移动，进而使得循环室内的气体沿着第二循环通道、第二净化槽、第一循环通道和出气室流动，通过该组流动的气体对净化板位于第二净化槽内的区域进行清理，以此方便后续使用，当电机和转盘释放活动板，使得活动板向远离第一支撑架的方向移动，活塞板在复位弹簧杆的作用下会复位，此时循环室内为负压，外界环境中的气体会沿着进气室、过滤板、第二循环管、循环孔进入到循环室内，以此方便下次工作。

与现有技术相比，本发明所达到的有益效果是：本发明相比于目前的半导体晶闸管导电检测设备设置有分隔机构和模拟座，分隔机构具有控温和净化功能，同时通过分隔机构能够根据需要控制密封箱的密封性，当分隔机构将密封箱内部环境与外界环境分隔开后，通过模拟座内部设置的模拟组件能够改变密封箱内的环境，例如将密封箱内的环境从室温环境变为真空环境、干燥环境、潮湿环境、高温环境和低温环境等，通过分隔机构和模拟组件的配合使得工作人员能够判断出半导体晶闸管在不同环境下的导电性能，以此方便后续对半导体晶闸管的参数进行标定，另外模拟组件内的气体为经过处理的洁净气体，避免了外界空气质量的干扰，而分隔机构每次工作时均会对模拟组件内的气体进行处理，以避免模拟组件内气体受到污染，本发明在检测座的下端设置有感应线圈，在固定座的内部下端设置有磁块，当机身因为外界环境而发生振动时，通过感应线圈和磁块能够起到阻碍振动的目的，进而减少机身由振动到平稳所用的时间，同时方便工作人员判断机身的振动幅度以及时停止检测半导体晶闸管，避免误判现象的发生，当工作人员需要模拟半导体晶闸管在振动环境下的导电性时，只需将感应线圈与外界电源相连接，然后按照一定的频率改变输入到感应线圈上的电流方向，便能使得感应线圈间隙性的靠近或者远离磁块，本发明中输入感应线圈上的电流方向具有改变频率根据工作人员的实际需要进行设定，最后本发明中模拟组件中的气体均为经过处理的洁净气体。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1是本发明的整体结构示意图；

图2是本发明的机身内部结构示意图；

图3是本发明的检测机构结构示意图；

图4是本发明的图3中A部结构示意图；

图5是本发明的导电座内部结构示意图；

图6是本发明的图5中B-B部结构示意图；

图7是本发明的分隔机构结构示意图；

图8是本发明的活动板内部结构示意图；

图9是本发明的模拟座内部结构示意图；

图10是本发明的循环架内部结构示意图；

图中：1-机身、11-直线导轨、12-循环架、121-出气室、122-进气室、13-第一循环管、14-第二循环管、15-伸缩夹爪、16-密封箱、17-分隔机构、171-第一支撑架、1711-传动室、1712-变温室、1713-第一排气管、172-第二支撑架、1721-循环室、1722-净化板、1723-第一净化槽、1724-第二排气管、1725-第二净化槽、1726-第一循环通道、1727-第二循环通道、173-启闭架、1731-活动板、17311-输料孔、17312-密封孔、17313-密封板、18-模拟座、181-第一空腔、182-第二空腔、183-第一气泵、1831-三通槽、184-第二气泵、1841-四通槽、19-检测机构、191-固定座、1911-磁块、192-检测座、1921-检测器、1922-感应线圈、1923-第三气泵、1924-定位孔、1925-导电座、19251-第一气槽、19252-第二气槽、19253-第三气槽、19254-第一导电槽、19255-第二导电槽、19256-第三导电槽、2-上料输送带、3-下料输送带。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

如图1-图2、图8-图9所示，一种具有多环境模拟功能的半导体晶闸管导电检测设备，半导体晶闸管导电检测设备包括机身1、上料输送带2和下料输送带3，上料输送带2和下料输送带3相对水平设置在机身1的两端，机身1的内部设置有直线导轨11、伸缩夹爪15、密封箱16和模拟座18，直线导轨11设置在密封箱16的上方，模拟座18设置在密封箱16的下方，直线导轨11上设置有伸缩夹爪15，模拟座18的内部设置有模拟组件，密封箱16的内部设置有分隔机构17和检测机构19，模拟组件通过第一排气管1713和第二排气管1724与分隔机构17相连接。

检测机构19为本发明的工作基础，通过上料输送带2将半导体晶闸管连续不断的运输到机身1内，通过伸缩夹爪15将上料输送带2上的半导体晶闸管夹取放置到检测机构19上，通过检测机构19检测半导体晶闸管的导电性，检测结束后，通过伸缩夹爪15将检测完成的半导体晶闸管取出并移动到下料输送带3上，通过下料输送带3将半导体晶闸管输送到下一道工序，本发明设置有分隔机构17和模拟座18，分隔机构17具有控温和净化功能，同时通过分隔机构17能够根据需要控制密封箱16的密封性，当分隔机构17将密封箱16内部环境与外界环境分隔开后，通过模拟座18内部设置的模拟组件能够改变密封箱16内的环境，例如将密封箱16内的环境从室温环境变为真空环境、干燥环境、潮湿环境、高温环境和低温环境等，通过分隔机构17和模拟组件的配合使得工作人员能够判断出半导体晶闸管在不同环境下的导电性能，以此方便后续对半导体晶闸管的参数进行标定。

如图2-图3所示，检测机构19包括固定座191和检测座192，检测座192通过减振弹簧活动安装在固定座191的内部，检测座192的下端设置有若干组感应线圈1922，固定座191的内部下端设置有若干组磁块1911，每组磁块1911均与一组感应线圈1922相对齐，检测座192的内部设置有检测器1921和导电座1925，导电座1925的上方设置有定位孔1924，导电座1925与检测器1921相连接。

本发明中设置的感应线圈1922平时与外界的电流表相连接，当机身1因为外界环境而发生振动时，感应线圈1922会切割磁感线而产生感应电流，通过电流表能够检测感应线圈1922上的感应电流大小，以此判断机身1的振动幅度，进而方便工作人员及时停止检测半导体晶闸管，以避免误判现象的发生，另外，通过感应线圈1922产生的感应电流能够起到阻碍振动的目的，进而减少机身1由振动到平稳所用的时间，最后，当工作人员需要模拟半导体晶闸管在振动环境下的导电性时，只需将感应线圈1922与外界电源相连接，然后按照一定的频率改变输入到感应线圈1922上的电流方向，便能使得感应线圈1922间隙性的靠近或者远离磁块1911，本发明中输入感应线圈1922上的电流方向具有改变频率根据工作人员的实际需要进行设定。

如图3-图6所示，导电座1925的内部设置有第一导电槽19254、第二导电槽19255和第三导电槽19256，第一导电槽19254、第二导电槽19255和第三导电槽19256的外侧均设置有两组相连通的凹槽，每组凹槽的内部均设置有一组导电片，检测座192的内部还设置有第三气泵1923，第三气泵1923通过第一气槽19251与第一导电槽19254外侧的凹槽相连通，第三气泵1923通过第二气槽19252与第二导电槽19255外侧的凹槽相连通，第三气泵1923通过第三气槽19253与第三导电槽19256外侧的凹槽相连通，第一气槽19251、第二气槽19252和第三气槽19253上均设置有电动阀门。

本发明中的定位孔1924设置有三个，定位孔1924起到导向的作用，本发明主要检测三极晶闸管，同时在将半导体晶闸管放置到上料输送带2上时，应确保半导体晶闸管的阴极、阳极和门极位置始终固定统一，以方便与检测器1921的正负极相配合，在检测时，通过伸缩夹爪15将半导体晶闸管的三个引脚先分别插入三个定位孔1924内，然后再插入到第一导电槽19254、第二导电槽19255和第三导电槽19256内，接着根据需要开启第三气泵1923和相应的电动阀门，例如，在检测第一导电槽19254和第二导电槽19255内部的半导体晶闸管引脚导电性时，需开启第三气泵1923、第一气槽19251上的电动阀门和第二气槽19252上的电动阀门，此时第三气泵1923会向第一导电槽19254外侧的凹槽和第二导电槽19255外侧的凹槽内输送气体，在气压的作用下，第一导电槽19254外侧的两组导电片和第二导电槽19255外侧的两组导电片会发生弯曲并与半导体晶闸管引脚相接触，此时通过检测器1921即可判断出第一导电槽19254和第二导电槽19255内部的半导体晶闸管引脚导电性，同理，若需要检测第一导电槽19254和第三导电槽19256内部的半导体晶闸管引脚导电性时，只需开启第三气泵1923、第一气槽19251上的电动阀门和第三导电槽19256上的电动阀门，通过上述技术方案，一方面起到便于检测的目的，另一方面工作人员在模拟振动环境中半导体晶闸管的导电性时，通过提高第三气泵1923输送到导电座1925内的气体量能够夹紧半导体晶闸管，避免半导体晶闸管发生脱落现象。

如图2、图7、图9所示，分隔机构17包括第一支撑架171、第二支撑架172和启闭架173，启闭架173设置在第一支撑架171与第二支撑架172之间，启闭架173的中间位置处设置有通孔，启闭架173内设置有活动板1731，活动板1731上设置有输料孔17311，第一支撑架171内设置有传动室1711和变温室1712，传动室1711内设置有电机和转盘，变温室1712内设置有制冷片和制热片，第二支撑架172内设置有循环室1721和第一净化槽1723，循环室1721内设置有活塞板和复位弹簧杆，第一净化槽1723内设置有净化板1722，活动板1731的一端通过滑轮和连接绳与转盘相连接，活动板1731的另一端通过滑轮和连接绳与活塞板相连接，模拟组件通过第一排气管1713和第二排气管1724分别与变温室1712和第一净化槽1723相连接。

当不需要模拟各种环境进行检测时，通过电机和转盘使得活动板1731向靠近第一支撑架171的方向移动，直至输料孔17311与启闭架173中间位置处的通孔相对齐，此时通过伸缩夹爪15能够很轻易的将上料输送带2上的半导体晶闸管放置到检测机构19上，或者将检测机构19上的半导体晶闸管取出放置到下料输送带3上，当需要模拟不同环境下，半导体晶闸管的导电性能时，通过电机和转盘释放活动板1731，使得活动板1731向远离第一支撑架171的方向移动，此时密封箱16会与外界环境相隔开，通过模拟组件能够控制密封箱16内的环境，如将密封箱16内的气体排出，使得密封箱16为真空环境，或者向密封箱16内输送潮湿气体以及干燥气体，进而模拟真空环境、潮湿环境、干燥环境下半导体晶闸管的导电性，最后通过变温室1712内设置的制冷片和制热片能够改变密封箱16内的温度，以此检测不同温度下的半导体晶闸管的导电性。

如图2、图7、图9所示，模拟组件包括第一空腔181、第二空腔182、第一气泵183和第二气泵184，第一空腔181内设置有除湿器，第二空腔182内设置有增湿器，第一气泵183的进气端通过三通槽1831与第一空腔181和第二空腔182相连接，第一气泵183的出气端通过第一排气管1713与变温室1712相连接，第二气泵184的进气端第二排气管1724与第一净化槽1723相连接，第二气泵184的出气端通过四通槽1841与第一空腔181、第二空腔182和外界环境相连接。

本发明中第一空腔181和第二空腔182内的气体均为经过处理的洁净气体，每次在改变密封箱16内环境时，第二气泵184均会先将密封箱16内的气体吸出并排到外界环境中，接着第一气泵183会根据工作人员的需要选择性的将第一空腔181和第二空腔182内的洁净气体输送到密封箱16内，当工作结束之后，若密封箱16内的气体为洁净的湿空气，则通过第二气泵184将密封箱16内气体输送到第二空腔182内，若密封箱16内的气体为洁净的干空气，则通过第二气泵184将密封箱16内气体输送到第一空腔181内，通过上述技术方案，避免了外界空气质量影响最终的检测精度。

如图2-图9所示，活动板1731上还设置有密封孔17312，密封孔17312的内部设置有密封板17313，密封板17313通过感应弹簧杆活动安装在密封孔17312的内部，密封板17313的下方设置有两组导电块，其中一组导电块活动安装在感应弹簧杆的上端，另外一组导电块固定安装在感应弹簧杆的下端。

通过上述技术方案，第二气泵184在将密封箱16内的气体吸出并排到外界环境中时，密封箱16内的压强会随着减小，此时外界大气压会对密封板17313施加一组向下的作用力，当两组导电块与外界电源和电流表相连接时，通过检测电流表上的电流变化能够判断出密封箱16内的压强，避免密封箱16内的压强过小而导致密封箱16内的零部件损坏，同时，当第一气泵183向密封箱16内输送气体时，通过检测电流表上的电流变化能够判断第一气泵183向密封箱16内输送气体是否足够，以此保证模拟检测时的准确度。

如图2-图9所示，第二支撑架172的内部还设置有第二净化槽1725和换向马达，净化板1722为圆形结构，净化板1722的一端设置在第一净化槽1723内，净化板1722的另一端设置在第二净化槽1725内，通过换向马达驱动净化板1722旋转。

本发明设置有净化板1722，模拟检测之前，第二气泵184在将密封箱16内的气体吸出并排到外界环境中时，通过净化板1722能够对该组气体进行净化，避免该组气体中的杂质沾附到第二气泵184内部的叶片以及四通槽1841的内壁上，进而污染第一空腔181和第二空腔182内的气体，另外本发明每隔一段时间，换向马达便会驱动净化板1722旋转半周，进而使得净化板1722位于第一净化槽1723内的区域与净化板1722位于第二净化槽1725内的区域相交换，通过上述技术方案，避免净化板1722长时间使用后，净化板1722上堆积过多的杂质，以至于影响气体在第一净化槽1723内流通的效率。

如图2-图10所示，循环架12的内部设置有出气室121和进气室122，出气室121和进气室122均与外界环境相连通且进气室122内设置有过滤板，第二支撑架172的内部还设置有第一循环通道1726和第二循环通道1727，第一循环通道1726的一端通过第一循环管13与出气室121相连接，第一循环通道1726的另一端与第二净化槽1725相连通，第二循环通道1727的一端与循环室1721相连通，第二循环通道1727的另一端与第二净化槽1725相连通，循环室1721靠近循环架12的一端设置有循环孔，循环孔通过第二循环管14与进气室122相连接，第一循环管13上设置有单向出气阀，第二循环管14上均设置有单向进气阀。

通过上述技术方案，半导体晶闸管在模拟环境中检测结束后，电机和转盘会驱动活动板1731向靠近第一支撑架171的方向移动，以使得输料孔17311与启闭架173中间位置处的通孔相对齐，进而方便伸缩夹爪15将检测机构19上的半导体晶闸管取走，本发明设置有活塞板，活动板1731在移动时，活塞板会随之移动，进而使得循环室1721内的气体沿着第二循环通道1727、第二净化槽1725、第一循环通道1726和出气室121流动，通过该组流动的气体对净化板1722位于第二净化槽1725内的区域进行清理，以此方便后续使用，当电机和转盘释放活动板1731，使得活动板1731向远离第一支撑架171的方向移动，活塞板在复位弹簧杆的作用下会复位，此时循环室1721内为负压，外界环境中的气体会沿着进气室122、过滤板、第二循环管14、循环孔进入到循环室1721内，以此方便下次工作。

本发明的工作原理：工作之前，将半导体晶闸管放置到上料输送带2，通过上料输送带2将半导体晶闸管连续不断的运输到机身1内，通过伸缩夹爪15将上料输送带2上的半导体晶闸管夹取放置到检测机构19上，通过检测机构19检测半导体晶闸管的导电性，检测结束后，通过伸缩夹爪15将检测完成的半导体晶闸管取出并移动到下料输送带3上，通过下料输送带3将半导体晶闸管输送到下一道工序，本发明设置有分隔机构17和模拟座18，分隔机构17具有控温和净化功能，同时通过分隔机构17能够根据需要控制密封箱16的密封性，当分隔机构17将密封箱16内部环境与外界环境分隔开后，通过模拟座18内部设置的模拟组件能够改变密封箱16内的环境，例如将密封箱16内的环境从室温环境变为真空环境、干燥环境、潮湿环境、高温环境和低温环境等，通过分隔机构17和模拟组件的配合使得工作人员能够判断出半导体晶闸管在不同环境下的导电性能，以此方便后续对半导体晶闸管的参数进行标定。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

最后应说明的是：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种具有多环境模拟功能的半导体晶闸管导电检测设备，其特征在于：所述半导体晶闸管导电检测设备包括机身(1)、上料输送带(2)和下料输送带(3)，所述上料输送带(2)和下料输送带(3)相对水平设置在机身(1)的两端，所述机身(1)的内部设置有直线导轨(11)、伸缩夹爪(15)、密封箱(16)和模拟座(18)，所述直线导轨(11)设置在密封箱(16)的上方，所述模拟座(18)设置在密封箱(16)的下方，所述直线导轨(11)上设置有伸缩夹爪(15)，所述模拟座(18)的内部设置有模拟组件，所述密封箱(16)的内部设置有分隔机构(17)和检测机构(19)，所述模拟组件通过第一排气管(1713)和第二排气管(1724)与分隔机构(17)相连接，通过所述分隔机构(17)控制密封箱(16)的密封性，通过所述检测机构(19)检测半导体晶闸管的导电性。

2.根据权利要求1所述的一种具有多环境模拟功能的半导体晶闸管导电检测设备，其特征在于：所述检测机构(19)包括固定座(191)和检测座(192)，所述检测座(192)通过减振弹簧活动安装在固定座(191)的内部，所述检测座(192)的下端设置有若干组感应线圈(1922)，所述固定座(191)的内部下端设置有若干组磁块(1911)，所述检测座(192)的内部设置有检测器(1921)和导电座(1925)，所述导电座(1925)的上方设置有定位孔(1924)，所述导电座(1925)与检测器(1921)相连接。

3.根据权利要求2所述的一种具有多环境模拟功能的半导体晶闸管导电检测设备，其特征在于：所述导电座(1925)的内部设置有第一导电槽(19254)、第二导电槽(19255)和第三导电槽(19256)，所述第一导电槽(19254)、第二导电槽(19255)和第三导电槽(19256)的外侧均设置有两组相连通的凹槽，每组凹槽的内部均设置有一组导电片，所述检测座(192)的内部还设置有第三气泵(1923)，所述第三气泵(1923)通过第一气槽(19251)、第二气槽(19252)和第三气槽(19253)向第一导电槽(19254)、第二导电槽(19255)和第三导电槽(19256)外侧设置的凹槽内输送气体，所述第一气槽(19251)、第二气槽(19252)和第三气槽(19253)上均设置有电动阀门。

4.根据权利要求3所述的一种具有多环境模拟功能的半导体晶闸管导电检测设备，其特征在于：所述分隔机构(17)包括第一支撑架(171)、第二支撑架(172)和启闭架(173)，所述启闭架(173)的中间位置处设置有通孔，所述启闭架(173)内设置有活动板(1731)，所述活动板(1731)上设置有输料孔(17311)，所述第一支撑架(171)内设置有传动室(1711)和变温室(1712)，所述传动室(1711)内设置有电机和转盘，所述变温室(1712)内设置有制冷片和制热片，所述第二支撑架(172)内设置有循环室(1721)和第一净化槽(1723)，所述循环室(1721)内设置有活塞板和复位弹簧杆，所述第一净化槽(1723)内设置有净化板(1722)，所述活动板(1731)的一端与转盘相连接，所述活动板(1731)的另一端与活塞板相连接，所述模拟组件通过第一排气管(1713)和第二排气管(1724)分别与变温室(1712)和第一净化槽(1723)相连接。

5.根据权利要求4所述的一种具有多环境模拟功能的半导体晶闸管导电检测设备，其特征在于：所述模拟组件包括第一空腔(181)、第二空腔(182)、第一气泵(183)和第二气泵(184)，所述第一气泵(183)的进气端通过三通槽(1831)与第一空腔(181)和第二空腔(182)相连接，所述第一气泵(183)的出气端通过第一排气管(1713)与变温室(1712)相连接，所述第二气泵(184)的进气端第二排气管(1724)与第一净化槽(1723)相连接，所述第二气泵(184)的出气端通过四通槽(1841)与第一空腔(181)、第二空腔(182)和外界环境相连接。

6.根据权利要求5所述的一种具有多环境模拟功能的半导体晶闸管导电检测设备，其特征在于：所述活动板(1731)上还设置有密封孔(17312)，所述密封孔(17312)的内部设置有密封板(17313)，所述密封板(17313)通过感应弹簧杆活动安装在密封孔(17312)的内部，所述密封板(17313)的下方设置有两组导电块，其中一组所述导电块活动安装在感应弹簧杆的上端，另外一组所述导电块固定安装在感应弹簧杆的下端。

7.根据权利要求6所述的一种具有多环境模拟功能的半导体晶闸管导电检测设备，其特征在于：所述第二支撑架(172)的内部还设置有第二净化槽(1725)和换向马达，所述净化板(1722)的一端设置在第一净化槽(1723)内，所述净化板(1722)的另一端设置在第二净化槽(1725)内，通过所述换向马达驱动净化板(1722)旋转。

8.根据权利要求7所述的一种具有多环境模拟功能的半导体晶闸管导电检测设备，其特征在于：所述循环架(12)的内部设置有出气室(121)和进气室(122)，所述第二支撑架(172)的内部还设置有第一循环通道(1726)和第二循环通道(1727)，所述第二净化槽(1725)的一端通过第一循环通道(1726)和第一循环管(13)与出气室(121)相连接，所述第二净化槽(1725)的另一端通过第二循环通道(1727)与进气室(122)相连接，所述循环室(1721)靠近循环架(12)的一端设置有循环孔，所述循环孔通过第二循环管(14)与进气室(122)相连接，所述第一循环管(13)和第二循环管(14)上均设置有单向阀。