CN211700197U - 一种自动芯片测试机 - Google Patents
一种自动芯片测试机 Download PDFInfo
- Publication number
- CN211700197U CN211700197U CN202020641166.2U CN202020641166U CN211700197U CN 211700197 U CN211700197 U CN 211700197U CN 202020641166 U CN202020641166 U CN 202020641166U CN 211700197 U CN211700197 U CN 211700197U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- chip
- shaping
- test
- fluting
- jack
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
本实用新型公开了一种自动芯片测试机，包括机架，机架上安装有测试座，测试座上成型开槽，开槽内间隙配合安装有芯片，开槽上成型有数个对应供芯片针脚插入的插孔，测试座采用绝缘塑料一体成型，插孔上端的开口处成型有方便芯片针脚插入的倒圆角，测试座的下侧成型有数个对应设置在插孔下方的圆槽，圆槽与插孔之间相互连通，圆槽内固定安装有导电柱，导电柱的下端通出圆槽设置，导电柱的上方间隔设置安装有导电片，芯片针脚的下端抵接在导电片上，导电片与导电柱之间还抵接安装有导电弹片，开槽上端的内侧设有防止芯片脱出开槽的卡扣；在导电弹片的弹性应力下使得芯片针脚的接触更加稳定，芯片针脚不会发生移位，从而方便对芯片的测试。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其是涉及一种自动芯片测试机。
背景技术
在芯片生产流程中，对芯片的检测是一个重要的步骤，在进行批量的芯片测试时，企业一般使用自动化的芯片测试机对芯片进行大批量的测试，现有的的芯片测试机在芯片测试时一般将一组芯片安装于测试座上，让芯片的针脚与测试座上的触点相接触，测试芯片是否工作正常，从而判断芯片的好坏，但是由于芯片质量较轻，芯片安装于测试座后容易出现移位的现象，导致芯片的针脚不能对应与测试座上的触点相接触，严重影响芯片的测试效率。
实用新型内容
本实用新型为克服上述情况不足，提供了一种能解决上述问题的技术方案。
一种自动芯片测试机，包括机架，机架上安装有测试座，测试座上成型开槽，开槽内间隙配合安装有芯片，开槽上成型有数个对应供芯片针脚插入的插孔，测试座采用绝缘塑料一体成型，插孔上端的开口处成型有方便芯片针脚插入的倒圆角，测试座的下侧成型有数个对应设置在插孔下方的圆槽，圆槽与插孔之间相互连通，圆槽内固定安装有导电柱，导电柱的下端通出圆槽设置，导电柱的上方间隔设置安装有导电片，芯片针脚的下端抵接在导电片上，导电片与导电柱之间还抵接安装有导电弹片，开槽上端的内侧设有防止芯片脱出开槽的卡扣。
作为本实用新型进一步的方案：卡扣包括弹簧和移动块，开槽的内侧成型有沉头槽，移动块滑动配合安装在沉头槽内，弹簧固定安装在沉头槽的内侧和移动块之间，移动块的另一端通出沉头槽并成型有方便芯片插入开槽的斜边，测试座在沉头槽的上侧成型有移动槽，移动槽与沉头槽相互连通，移动槽内左右滑动配合安装有调节块，调节块的上端通出移动槽，调节块的下端与移动块相互固定连接。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：通过插孔上端倒圆角的设置方便芯片的芯片针脚对应插入，芯片针脚的下端接触连接到导电片上，导电片通过导电弹片与导电柱相连接，在导电弹片的弹性应力下使得芯片针脚的接触更加稳定，同时通过卡扣的设置使得芯片能够扣在开槽内，不易脱落，在芯片测试途中芯片针脚不会发生移位，从而提高芯片测试的效率。
本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本实用新型的结构示意图。
图2是本实用新型测试座的结构示意图。
图3是图2的A处放大结构示意图。
图4是本实用新型测试台安装于机架上的结构示意图。
图中所示：1、机架；2、测试座；3、开槽；4、芯片；5、芯片针脚；6、插孔；7、倒圆角；8、圆槽；9、导电柱；10、导电片；11、导电弹片；12、卡扣；12-1、弹簧；12-2、移动块；13、沉头槽；14、斜边；15、移动槽；16、调节块；17、螺纹孔；18、通孔；19、螺杆；20、电机；21、测试台；22、导电槽；23、第一气缸；24、测试输出端；25、测试装置；26、第二气缸；27、印章。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-4，一种自动芯片测试机，包括机架1，机架1上安装有测试座2，测试座2上成型开槽3，开槽3内间隙配合安装有芯片4，开槽3上成型有数个对应供芯片针脚5插入的插孔6，测试座2采用绝缘塑料一体成型，插孔6上端的开口处成型有方便芯片针脚5插入的倒圆角7，测试座2的下侧成型有数个对应设置在插孔6下方的圆槽8，圆槽8与插孔6之间相互连通，圆槽8内固定安装有导电柱9，导电柱9的下端通出圆槽8设置，导电柱9的上方间隔设置安装有导电片10，芯片针脚5的下端抵接在导电片10上，导电片10与导电柱9之间还抵接安装有导电弹片11，开槽3上端的内侧设有防止芯片4脱出开槽3的卡扣12；卡扣12将芯片4扣在开槽3内，芯片4芯片针脚5的下端能够与导电片10相接触，导电片10在导电弹片11的弹性应力下向上运动，使得芯片针脚5的下端能够更紧密的接触在导电片10上，从而避免芯片4发生移位。
作为本实用新型进一步的方案：卡扣12包括弹簧12-1和移动块12-2，开槽3的内侧成型有沉头槽13，移动块12-2滑动配合安装在沉头槽13内，弹簧12-1固定安装在沉头槽13的内侧和移动块12-2之间，移动块12-2的另一端通出沉头槽13并成型有方便芯片4插入开槽3的斜边14，测试座2在沉头槽13的上侧成型有移动槽15，移动槽15与沉头槽13相互连通，移动槽15内左右滑动配合安装有调节块16，调节块16的上端通出移动槽15，调节块16的下端与移动块12-2相互固定连接；芯片4放入开槽3时，通过斜边14的设置，使得移动块12-2向移动槽15内移动，弹簧12-1处于压缩状态，芯片4放入开槽3后，弹簧12-1复位，移动块12-2扣住芯片4上方的侧边，使得芯片4安装后不会出现移位的现象，需要拆出芯片4时，手动将调节块16向外侧拨动，使得移动块12-2向移动槽15内移动，移动块12-2脱离芯片4，芯片4在导电弹片11的弹性应力下弹出。
作为本实用新型进一步的方案：测试座2的中部成型有横向贯穿的螺纹孔17，机架1的左右两侧均成型有通孔18，两个通孔18之间相互间隙转动配合安装有螺杆19，螺杆19与螺纹孔17相互螺旋配合，机架1上还固定安装有带动螺杆19旋转的电机20，螺杆19上设有阵列布置的多个测试座2；能够同时安装多个芯片进行自动化测试。
作为本实用新型进一步的方案：测试座2的下方设有测试台21，测试台21上成型有数个导电槽22，导电槽22一一对应与导电柱9相互接触连接，机架1上还固定安装有第一气缸23，第一气缸23带动测试台21上下运动使得导电槽22与导电柱9之间相互接触或分离。
作为本实用新型进一步的方案：测试台21的侧边设有测试输出端24，测试输出端24对应与数个导电槽22相连接。
作为本实用新型进一步的方案：测试输出端24通过数据线连接有测试装置25，测试装置25采用计算机；测试装置25能够对芯片4进行测试并得到其测试结果，从而判断该芯片4是否合格。
作为本实用新型进一步的方案：机架1上还固定安装有第二气缸26，第二气缸26设置在测试台21的上方，测试座2位于第二气缸26和测试台21之间，第二气缸26朝下设置，第二气缸26的伸缩杆处固定安装有印章27；当测试装置25测试到芯片4不合格时，会给第二气缸26发送信号，第二气缸26驱动印章27向下运动，印章27通过第二气缸26在不合格的芯片4上方印下不良品记号，从而方便作业人员得知芯片4中的不良品并进行剔除。
对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
Claims (7)
1.一种自动芯片测试机，包括机架，机架上安装有测试座，测试座上成型开槽，开槽内间隙配合安装有芯片，开槽上成型有数个对应供芯片针脚插入的插孔，其特征在于：测试座采用绝缘塑料一体成型，插孔上端的开口处成型有方便芯片针脚插入的倒圆角，测试座的下侧成型有数个对应设置在插孔下方的圆槽，圆槽与插孔之间相互连通，圆槽内固定安装有导电柱，导电柱的下端通出圆槽设置，导电柱的上方间隔设置安装有导电片，芯片针脚的下端抵接在导电片上，导电片与导电柱之间还抵接安装有导电弹片，开槽上端的内侧设有防止芯片脱出开槽的卡扣。
2.根据权利要求1所述的一种自动芯片测试机，其特征在于：卡扣包括弹簧和移动块，开槽的内侧成型有沉头槽，移动块滑动配合安装在沉头槽内，弹簧固定安装在沉头槽的内侧和移动块之间，移动块的另一端通出沉头槽并成型有方便芯片插入开槽的斜边，测试座在沉头槽的上侧成型有移动槽，移动槽与沉头槽相互连通，移动槽内左右滑动配合安装有调节块，调节块的上端通出移动槽，调节块的下端与移动块相互固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种自动芯片测试机，其特征在于：测试座的中部成型有横向贯穿的螺纹孔，机架的左右两侧均成型有通孔，两个通孔之间相互间隙转动配合安装有螺杆，螺杆与螺纹孔相互螺旋配合，机架上还固定安装有带动螺杆旋转的电机，螺杆上设有阵列布置的多个测试座。
4.根据权利要求3所述的一种自动芯片测试机，其特征在于：测试座的下方设有测试台，测试台上成型有数个导电槽，导电槽一一对应与导电柱相互接触连接，机架上还固定安装有第一气缸，第一气缸带动测试台上下运动使得导电槽与导电柱之间相互接触或分离。
5.根据权利要求4所述的一种自动芯片测试机，其特征在于：测试台的侧边设有测试输出端，测试输出端对应与数个导电槽相连接。
6.根据权利要求5所述的一种自动芯片测试机，其特征在于：测试输出端通过数据线连接有测试装置，测试装置采用计算机。
7.根据权利要求4-6任意一项所述的一种自动芯片测试机，其特征在于：机架上还固定安装有第二气缸，第二气缸设置在测试台的上方，测试座位于第二气缸和测试台之间，第二气缸朝下设置，第二气缸的伸缩杆处固定安装有印章，印章通过第二气缸在不合格的芯片上方印下不良品记号。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202020641166.2U CN211700197U (zh) | 2020-04-25 | 2020-04-25 | 一种自动芯片测试机 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202020641166.2U CN211700197U (zh) | 2020-04-25 | 2020-04-25 | 一种自动芯片测试机 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN211700197U true CN211700197U (zh) | 2020-10-16 |
Family
ID=72783142
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202020641166.2U Active CN211700197U (zh) | 2020-04-25 | 2020-04-25 | 一种自动芯片测试机 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN211700197U (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115332886A (zh) * | 2022-08-25 | 2022-11-11 | 东莞市郡仁司电子科技有限公司 | 一种带有防错组件的集成电路电子测试插座 |
| CN116718887A (zh) * | 2023-06-15 | 2023-09-08 | 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司广州局 | 一种具有多环境模拟功能的半导体晶闸管导电检测设备 |
-
2020
- 2020-04-25 CN CN202020641166.2U patent/CN211700197U/zh active Active
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115332886A (zh) * | 2022-08-25 | 2022-11-11 | 东莞市郡仁司电子科技有限公司 | 一种带有防错组件的集成电路电子测试插座 |
| CN116718887A (zh) * | 2023-06-15 | 2023-09-08 | 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司广州局 | 一种具有多环境模拟功能的半导体晶闸管导电检测设备 |
| CN116718887B (zh) * | 2023-06-15 | 2024-04-19 | 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司广州局 | 一种具有多环境模拟功能的半导体晶闸管导电检测设备 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN211700197U (zh) | 一种自动芯片测试机 | |
| CN214201560U (zh) | 一种压接治具及压接测试装置 | |
| CN206057384U (zh) | 一种灯具驱动板测试夹具 | |
| CN219758437U (zh) | 一种调节探针接触位置的测试座 | |
| CN215180387U (zh) | 一种集成电路板检测装置 | |
| CN216209316U (zh) | 一种自动测试工装夹具 | |
| CN116505116A (zh) | 适用新能源汽车电池拆解及再生利用的电池分容柜 | |
| CN213149157U (zh) | 一种高精度微型芯片测试治具 | |
| CN209570658U (zh) | 一种电容引脚极性检测装置 | |
| CN212622725U (zh) | 一种浮动探针机构 | |
| CN216083056U (zh) | 线束类产品电导通测试工装 | |
| CN214315203U (zh) | 一种太阳电池测试装置 | |
| CN218917459U (zh) | 一种网络连接器测试治具 | |
| CN211207004U (zh) | 一种液晶显示模组电测连接机构及治具 | |
| CN213069141U (zh) | 一种便携式汽车线束检测装置 | |
| CN217112595U (zh) | 一种防电弧式半导体测试治具 | |
| CN216622454U (zh) | 一种内置端子的导通测试治具 | |
| CN216900853U (zh) | 一种ate检测装置用产品承载台 | |
| CN217587295U (zh) | 一种半导体芯片测试座 | |
| CN217741908U (zh) | 一种紧凑型的扬声器老化测试工装 | |
| CN220120840U (zh) | 一种半导体器件用接触器 | |
| CN211786017U (zh) | 一种多层堆叠式Mini/MicroLED测试治具 | |
| CN211554271U (zh) | 一种汽车闪光器闪光频率检测台 | |
| CN220584349U (zh) | 一种电路板的电测装置 | |
| CN216622580U (zh) | 半导体产品的测试组件 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |